Upload
ayla
View
251
Download
9
Embed Size (px)
DESCRIPTION
איכות התהליך ובקרת תהליך סטטיסטית ( SPC ). אתר מומלץ: http://www.sqconline.com/six-sigma-control-charts.html. תוכן עניניים. מבוא בקרת תהליך שיטות SPC למשתנים שיטות SPC לתכונות כושר תהליך. I .מבוא. שתי בעיות עיקריות של דיוק התהליך: אי-יציבות ואי-דייקנות - PowerPoint PPT Presentation
Citation preview
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
1
איכות התהליך ובקרת (SPCתהליך סטטיסטית )
:אתר מומלץhttp://www.sqconline.com/six-sigma-
control-charts.html
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
2
תוכן עניניים
.Iמבוא
.IIבקרת תהליך
.III שיטותSPCלמשתנים
.IV שיטותSPCלתכונות
.Vכושר תהליך
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
3
Iמבוא.
בעיות עיקריות של דיוק התהליך: שתי•אי-יציבות ואי-דייקנות
לטווח ארוך ולטווח סוגי השתנות: שני•קצר
כלליות סוגי הפרעות בתהליך: שני•ומיוחדות
שלבי שיפור התהליךשני•
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
4
יציבות התהליך התהליך זה יכולתו לבצע פעולה יציבות
באופן חזוי לאורך זמן ,ז.א. לכל מאפייני ממוצע, שונות וצורת ההתפלגותהתהליך
.נשמרים לאורך זמן–
תהליך יציב תהליך לא יציב
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
5
כושר )יכולת( תהליך
כושר )יכולת( התהליך מאפיין את יכולתו של התהליך לבצע מוצרים תקנים ,ז.א. מוצרים
אשר עומדים בדרישות המפרט.
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
6
short term andהשתנות התהליך )long term variability(
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
7
:הפרעות לתהליך מסיבות
כלליות•
מיוחדות•
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
8
: הפרעות כלליות ומיוחדותסיבה כללית:
משפיעות ,במידה מסוימת •על כל מוצרי התהליך
לתהליך( טבועי )אינהרנטי•משפיע על יכולת אבל לא על •
אפשרות החיזוידוגמאות:
שונות בח''ג•שונות בתנאי סביבת התהליך•אי-דייקנות )הדירות( של •
תהליך או מפעיל"משחק" במכונה•
סיבה מיוחדת:משפיעות רק על כמה מוצרי •
התהליך לתהליך ארעית )ספונטאנית(• משפיע גם על אפשרות החיזוי•
וגם על היכולתדוגמאות:
מפעיל לא מאומן•ח''ג פגום•שינוי פתאומי בתנאי ייצור•המכונה ליקוי בתפקוד•
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
9
אסור להחליף שלבי שיפור התהליך )(סדר ! :
– ייצוב שלב ראשוןהתהליך ע''י הפחתת השפעה של הפרעות
מיוחדות:זיהוי ההפרעה•בידוד ההפרעה•תיקון & פעולה מתקנת•אמות טיפול שבוצע•מעקב•מעבר לשלב שני•
– שיפור כושר שלב שניהתהליך ע''י כיול והפחתת
השפעה של הפרעות כלליות:
כיול )כוונון( התהליך•מיון גורמי השפעה אפשריים•ANOVAניתוח שונות - •זיהוי גורמי שונות דומיננטיים•פתרון הנדסי או ניהולי•מעקב•
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
10
IIבקרת תהליך .
שינוי אקטיבי של התהליך על בסיס בקרת התהליך-תוצאות של ניטור התהליך.פעם אחת , שכלי
בקרה מגלים מצב לא מבוקר, גורם אשר אחרי לתהליך מתערב בו כדי להחזיר אותו למצב מבוקר.
:שלושה סוגי בקרה(100%מקיפה )•מדגמית•ללא בקרה•
בקרה
ללא בקרהמדגמית
( (SPCמקיפה
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
11
בקרת התהליך
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
12
בקרת תהליך סטטיסטית
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
13
SPCיתרונות וחסרונות -
חסרונות לקבלת החלטות סיכונים יש•
:על מוטעותקיום הפרעה מיוחדת ,כאשר –
alpha)בפועל היא לא קיימת risk)
העדר הפרעה מיוחדת ,כאשר –(beta risk)בפועל היא קיימת
בהכשרת נדרשת השקעה•כ''א
יתרונות מזהה הפרעות מיוחדות : חסכון•
בפחות משאבים מאשר בבקרה מקיפה
, כאשר בדיקה אין פתרון אחר•היא הרסנית
אפקט פסיכולוגי •
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
14
SPC? מה לבקר -
A Key Characteristic )KC( is a feature of a material, process, or part )includes assemblies( whose variation within the specified tolerance has a significant influence on quality and whose value indicates this quality in the best way.
A Key Characteristic may be: continuous variable )ex. strength( or discrete attribute )ex. proportion of defectives(
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
15
SPCתוכנית דגימה -
הינו פונקציה של: גודל המדגם
רמת סיכון קביל - גבול תחתון•עלות וזמינות משאבים •
הנדרשים לבדיקה - גבול עליון
קצב התהליך•
הינו פונקציה של: קצב דגימה
יציבות התהליך )לפחות פי •שתיים מקצב שינויים
בתהליך( – גבול תחתוןעלות וזמינות משאבים •
הנדרשים לבדיקה – גבול עליון
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
16
SPC בחירת אומדן סטטיסטי עבור -הפרמטר המבוקר
:תכונותרק אומדן אחד, כיוון שפיזור - פונקציה של
מיקום.
:משתנים
אומדן מיקום • אומדן פיזור•
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
17
SPC בחירת גבולות בקרה עבור -האומדן הנבחר
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
18
SPC בחירת גבולות בקרה עבור -האומדן הנבחר על פי שיוהרט
(α=0.27%)• Upper control limit )UCL( = Mean process
value + )3x Standard Deviation of the estimate(• Lower control limit )LCL( = Mean process
value - )3x Standard Deviation of the estimate(
UCL אומדן = CL 3+ אומדן •s אומדן
LCL אומדן = CL 3 - אומדן •s אומדן
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
19
SPC בחירת גבולות בקרה עבור -האומדן הנבחר
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
20
SPC בחירת גבולות בקרה עבור -האומדן הנבחר
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
21
III שיטות .SPC – למשתנים : תרשים בקרה ממוצע (standard no givenטווח )
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
22
(standard no givenתרשים בקרה ממוצע – טווח )
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
23
(standard no givenתרשים בקרה ממוצע – טווח )
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
24
(standard no givenתרשים בקרה ממוצע – טווח )
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
25
(standard no givenתרשים בקרה ממוצע – טווח )
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
26
(standard no givenתרשים בקרה ממוצע – טווח )
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
27
תצפיות בודדות וטווח נע
• What if you could not get a sample size greater than 1 )n =1(? Examples include :– Automated inspection and measurement technology
is used, and every unit manufactured is analyzed.– The production rate is very slow, and it is
inconvenient to allow samples sizes of n > 1 to accumulate before analysis
• The individual control charts are useful for samples of sizes n = 1.
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
28
תצפיות בודדות וטווח נע
• The moving range )MR( is defined as the absolute difference between two successive observations:
MRi = |xi - xi-1| which will indicate possible shifts or
changes in the process from one observation to the next.
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
29
תצפיות בודדות וטווח נע
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
30
תצפיות בודדות וטווח נע
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
31
זיהוי צורות בתרשימי בקרה
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
32
זיהוי צורות בתרשימי בקרה
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
33
זיהוי צורות בתרשימי בקרה
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
34
IV . שיטותSPC: תרשימי בקרה - לתכונותphttp://www.sqconline.com/control-chart-attributes-enter.html
1.P Chart )Control Chart for Proportions of defectives(
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
35
1.P Chart )Control Chart for Proportions of defectives(
pתרשימי בקרה -
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
36
pתרשימי בקרה -
1.P Chart )Control Chart for Proportions of defectives(
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
37
npתרשים בקרה -
2. nP Chart )Control Chart for no.of defectives(
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
38
uתרשימי בקרה -
3. U Chart )Control Chart for Number of Defects per Unit(
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
39
uתרשימי בקרה -
3. U Chart )Control Chart for Number of Defects per Unit(
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
40
uתרשימי בקרה -
3. U Chart )Control Chart for Number of Defects per Unit(
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
41
cתרשימי בקרה - http://www.sqconline.com/control-chart-attributes-enter.html
4. C Chart )Control Chart for Number of Defects (
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
42
בחירת תרשים בקרה מתאיםQuality Characteristic
variable attribute
n>1?
n>=10 or computer?
x and MRno
yes
x and s
x and Rno
yes
defective defect
constant sample size?
p-chart withvariable samplesize
no
p ornp
yes constantsampling unit?
c u
yes no
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
43
VV . . תהליך תהליך כושר יציב יציבכושר
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
44
תהליך כושר תהליך יציב : כושרממורכז
הגדרות••Cpכושר תהליך ממורכז - .•LSL.גבול מפרט תחתון - •USL.גבול מפרט עליון - •T=Δ 2 סבולת התהליך –•μ - ממוצע התהליך• m( ערך המטרה -LSL+ USL/)2 ) m(=
.סטיית התקן של התהליך -
366
T
תהליךרוחב
LSLUSLמפרטרוחבC p
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
45
ערכי ערכי משמעות CCpp משמעות
Cp מליון מתוך פגומים מספר
• Cp=1 2,700 ) המיושנת 3גישת סיגמה (
• Cp=1.33 64 )סיגמה 4(
• Cp=1.67 1 ) סיגמה 5ל 4בין (
• Cp=2 0.002 ) שש של הערך)סיגמה
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
46
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
47
ממורכז לא תהליך כושר
3
,3
minLSLUSL
cPK
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
48
דוגמהדוגמההתהליך ערכי נתונים כלשהו ייצור שבתהליך נניח
הבאים:LSL = 0, USL = 14, = 10, = 2
מכאן:
נראה הממורכז התהליך כושר סבירמדד
ממורכז !!! לא התהליך אבל
17.112
14
26
014
6
LSLUSL
C p
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
49
המשך - המשך - דוגמה דוגמההכושר אינדקס Cpkלפי
: לחלוטין אחרת ניראה המצב
מרכז התהליך נימצא קרוב מדי לגבול עליון סטיות תקן בלבד(2)מרחק
32
23
010,
23
1014min
3,
3min
LSLUSLpkC
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
50
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
51
Cpk ו- Cpהקשר בין מדדי כושר http://elsmar.com/Cp_vs_Cpk.html
יש לדאוג לכיול התהליך ,ז.א. ראשית כל•כושר ( על מנת לקרב biasלצמצום ההטיה )
– לכושר פוטנציאלי התהליך של Cpk – אמיתיCp במילים( אחרות לקרב μ -לm)
333
m
Cp
CbiasmCpkCpCCpCpk
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
52
, כושר תהליך FTYתנובה בפעם הראשונה- וצוואר בקבוק
עבור שרשרת טורית של תהליכים: FTY1* FTY2*… *FTYn = FTYtotal:
עבור תהליך ממורכז
(63)NORMSDIST(3)NORMSDIST
(63)(3)
CpCpkCpk
CpCpkFCpkFFTY
(3)NORMSDIST(3)NORMSDIST
(3)(3)
CpCp
CpFCpFFTY
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
53
דיוק ודייק
מידת קירבה בין תוצאת התהליך – (accuracyדיוק ))מצב מצוי( לבין ערך נומינלי )מצב רצוי(
הוא מושפע מעצמה של שגיאת התהליך.•הממוצע של השגיאה עבור סידרה ארוכה של •
(bias - )הטייהביצועים חוזרים נקראת מידת קירבה בין תוצאות ביצועים - (precisionדייק )
חוזרים.נמדדת ע''י שונות או סטיית תקן.לדייק יש שני מרכיבים: ( – מידת קירבה באותם repeatability )הדירות•
תנאים( – בתנאים שוניםreproducibility )שיחזוריות•
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
54
: מה נתן לומר על כל התהליך1תרגיל ?Cpk-Cp plane
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
0 1 2 3 4
Cp
Cp
k
Cpk
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
55
:איזה מן התהליכים טוב יותר2תרגיל ?
¡ ±¦�
¡ ±¦�
¡ ±¦�
¡ ±¦�
. �
. �
.�
. �
ª¡ ´�1 ª¡ ´�2 ª¡ ´�3
ª¡ ´�1 ª¡ ´�2 ª¡ ´�3
ª¡ ´�1 ª¡ ´�2 ª¡ ´�3
17.11 Cpk 67.12 Cpk 00.23 Cpk
17.11 Cpk 17.12 Cpk
33.12 Cpk 33.11 Cpk
00.23 Cpk
66.13 Cpk
ª¡ ´�1 ª¡ ´�2 ª¡ ´�3
00.12 Cpk00.21 Cpk 00.23 Cpk
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
56
מדדי כושר עבור תהליכים שאינם מתפלגים נורמלית
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
57
הערכה מדגמית של מדדי כושרThe process capability ratios are usually calculated with an estimate of by and
sigma by /c4 or /d2 and the estimated values are denoted by p, pk
The standard errors for the estimated indices may be calculated using the following formulae given in Kushler and Hurley )1992(:
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
58
d2 ו- c4מקדמי • n A2 D3 D4 d2 A3 B3 B4 c4
• 2 1.880 0.000 3.267 1.128 2.659 0.000 3.267 0.7979• 3 1.023 0.000 2.574 1.693 1.954 0.000 2.568 0.8862• 4 0.729 0.000 2.282 2.059 1.628 0.000 2.266 0.9213• 5 0.577 0.000 2.114 2.326 1.427 0.000 2.089 0.9400• 6 0.483 0.000 2.004 2.534 1.287 0.030 1.970 0.9515• 7 0.419 0.076 1.924 2.704 1.182 0.118 1.882 0.9594• 8 0.373 0.136 1.864 2.847 1.099 0.185 1.815 0.9650• 9 0.337 0.184 1.816 2.970 1.032 0.239 1.751 0.9693• 10 0.308 0.223 1.777 3 .078 0.975 0.284 1.716 0.9727• 11 0.285 0.256 1.744 3.173 0.927 0.321 1.679 0.9754• 12 0.266 0.284 1.716 3.258 0.886 0.354 1.646 0.9776• 13 0.249 0.308 1.692 3.336 0.850 0.382 1.618 0.9794• 14 0.235 0.329 1.671 3.407 0.817 0.406 1.594 0.9810• 15 0.223 0.348 1.652 3.472 0.789 0.428 1.572 0.9823• 16 0.212 0.364 1.636 3.532 0.763 0.448 1.552 0.9835• 17 0.203 0.379 1.621 3.588 0.739 0.466 1.534 0.9845• 18 0.194 0.392 1.608 3.640 0.718 0.482 1.518 0.9854• 19 0.187 0.404 1.596 3.689 0.698 0.497 1.503 0.9862• 20 0.180 0.414 1.586 3.735 0.680 0.510 1.490 0.9869• 21 0.173 0.425 1.575 3.778 0.663 0.523 1.477 0.9876• 22 0.167 0.434 1.566 3.819 0.647 0.534 1.466 0.9882• 23 0.162 0.443 1.557 3.858 0.633 0.545 1.455 0.9887• 24 0.157 0.452 1.548 3.895 0.619 0.555 1.445 0.9892• 25 0.153 0.459 1.541 3.931 0.606 0.565 1.435 0.9896
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
59
n A2 D3 D4 d2 A3 B3 B4 c4
2 1.880 0.000 3.267 1.128 2.659 0.000 3.267 0.79793 1.023 0.000 2.574 1.693 1.954 0.000 2.568 0.88624 0.729 0.000 2.282 2.059 1.628 0.000 2.266 0.92135 0.577 0.000 2.114 2.326 1.427 0.000 2.089 0.94006 0.483 0.000 2.004 2.534 1.287 0.030 1.970 0.95157 0.419 0.076 1.924 2.704 1.182 0.118 1.882 0.95948 0.373 0.136 1.864 2.847 1.099 0.185 1.815 0.96509 0.337 0.184 1.816 2.970 1.032 0.239 1.751 0.969310 0.308 0.223 1.777 3 .078 0.975 0.284 1.716 0.972711 0.285 0.256 1.744 3.173 0.927 0.321 1.679 0.975412 0.266 0.284 1.716 3.258 0.886 0.354 1.646 0.977613 0.249 0.308 1.692 3.336 0.850 0.382 1.618 0.979414 0.235 0.329 1.671 3.407 0.817 0.406 1.594 0.981015 0.223 0.348 1.652 3.472 0.789 0.428 1.572 0.982316 0.212 0.364 1.636 3.532 0.763 0.448 1.552 0.983517 0.203 0.379 1.621 3.588 0.739 0.466 1.534 0.984518 0.194 0.392 1.608 3.640 0.718 0.482 1.518 0.985419 0.187 0.404 1.596 3.689 0.698 0.497 1.503 0.986220 0.180 0.414 1.586 3.735 0.680 0.510 1.490 0.986921 0.173 0.425 1.575 3.778 0.663 0.523 1.477 0.987622 0.167 0.434 1.566 3.819 0.647 0.534 1.466 0.988223 0.162 0.443 1.557 3.858 0.633 0.545 1.455 0.988724 0.157 0.452 1.548 3.895 0.619 0.555 1.445 0.9892
25 0.153 0.459 1.541 3.931 0.606 0.565 1.435 0.9896
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
60
האיכות הפסד האיכות פונקצית הפסד פונקציתUCT=Upper Customer Tolerance
LCT=Lower Customer Tolerance
עלות$
MeasurementValue
22
() mxk
Loss
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
61
והפיזור המרכוז של והפיזור חשיבותם המרכוז של חשיבותם
פיזור שווה והפרש מרכוז
פיזור שונה והפרש מרכוז
$$
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
62
תוחלת הפסד ע''פ טגוצ'י
להפסד שני תורמים:
הטיה –
שונות –
]([) 222
mk
EL
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
63
כושר תהליך ע''פ טגוצ'י
בעזרת מדד טגוצ'י ניתן לבטא הפסד •התהליך :
2222 ([)3([)6
2
mm
ToleranceCpm
29 pmC
kEL
קורס לסטטיסטיקה יישומית - נושא שלי שי:איכות התהליך
64
תרגיל בית.מצא קשר בין כל מדדי כושר תהליך1
2. :´ ª ¥̈ £́ ³ ¨´¡ £ £¦¬²° £̈ ²° ¨� � � � � � � �B� �A .
¤²¬ .´ ª ¥̈ £́ ³ ² ¬§£ § ³ ¬ £¤� � � � � � � � � � ,§£¬ £ ¦¢²®̈ ´ ¦� � � � � � � �¦ ³ ²¢¨� � � � �– 1 .) ¡� � (
:´ ª ¥̈ ¨´¡ ¦¥ ²° ¨ ´ ¥£ £ª ´ª©¦ ¦� � � � � � � � � � �
©±́ ´££¢« ´¦¡ ´�
0.1 1.2 A ª ¥̈� �
0.2 1.1 B ª ¥̈� �
�«¡£ ´ ³ ¡� � � .B
ACpm
Cpm .
�.' £¬« §´¦ ±³ ° ´ ´ ¬̈ ³ ¨£ ¨� � � � � � � � � .