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○製品構造:シリコンモノリシック集積回路 ○耐放射線設計はしておりません 1/29 © 2018 ROHM Co., Ltd. All rights reserved. TSZ22111 14 001 2018.05.18 Rev.001 TSZ02201-0252AA800120-1-1 www.rohm.co.jp Bootstrap Diode 内蔵 600V 耐圧 3 相ブリッジドライバ BS2132F 概要 BS2132F はブートストラップ方式を用いた外付け Nch- FET 及び IGBT 駆動可能な 600V 高耐圧 3 相ブリッジド ライバです。VCC-VB 間に 600V 高耐圧の Bootstrap Diode を内蔵しています。 入力ロジック電源電圧に 3.3V 及び 5.0V が使用可能です。 保護機能として VCC-COM 間及び VB-VS 間に低入力誤 動作防止回路(UVLO)、過電流保護回路(OCP)を搭載して います。 さらに保護検出信号を出力するために/FAULT 端子を設 けており、RCIN 端子に接続される外付け RC の時定数 により OCP 検出保持時間の調整が可能です。 特長 ハイサイドフローティング端子耐圧 600V ゲートドライバ電圧範囲 11.5V ~ 20V VCC-VB 間に 600V 耐圧 Bootstrap Diode を内蔵 両チャネルに低入力誤動作防止回路(UVLO)搭載 高精度(0.46V±5)な過電流保護回路(OCP)搭載 I/O 信号としてイネーブル端子(EN)搭載 保護(UVLO,OCP)検出信号出力端子(/FAULT)を搭載 RCIN 端子の外付け RC OCP 保持時間の調整可能 3.3V 及び 5.0V のロジック電圧入力可能 入力信号に対して同相出力 用途 MOSFET /IGBT 駆動用アプリケーション 重要特性 ハイサイドフローティング電圧: 600V 入力電圧範囲: 11.5V ~ 20V 出力電流 IO+/IO-: 200mA/350mA(Typ) Bootstrap Diode 電流制限抵抗: 28(Typ) OCP 検出電圧: 0.46V(Typ) OCP 不反応時間: 150ns(Typ) Turn-on/Turn-off 時間: 630ns/580ns(Typ) オフセット電圧端子リーク電流: 50μA(Max) 動作温度範囲: -40°C ~ +125°C パッケージ W(Typ) x D(Typ) x H(Max) SOP28 18.50mm x 9.90mm x 2.41mm 基本アプリケーション回路 Up to 600V VCC HIN1 LIN2 HIN3 VCC HIN1 HIN2 LIN3 LIN1 LIN2 VB1 HO1 VS1 HO2 VB2 LO3 /FAULT ITRIP EN RCIN VSS COM VS2 HO3 VB3 VS3 LO2 LO1 EN HIN2 HIN3 LIN1 LIN3 /FAULT M Figure 1. Typical Application Circuit Datasheet

Boot Di HIN1 HO1 VB2 相ブリッジドライバ VCC …...Low-side Supply Voltage (VCC vs VSS) V CC 11.5 15 20 V Low-side Supply Voltage (VCC vs COM) V CCCOM 11.5 15 20 V Low-side

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製品構造:シリコンモノリシック集積回路 耐放射線設計はしておりません

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Bootstrap Diode内蔵 600V 耐圧

3相ブリッジドライバ BS2132F

概要

BS2132F はブートストラップ方式を用いた外付け Nch-

FET 及び IGBT 駆動可能な 600V 高耐圧 3 相ブリッジド

ライバです。VCC-VB 間に 600V 高耐圧の Bootstrap

Diodeを内蔵しています。

入力ロジック電源電圧に3.3V及び5.0Vが使用可能です。

保護機能として VCC-COM 間及び VB-VS 間に低入力誤

動作防止回路(UVLO)、過電流保護回路(OCP)を搭載して

います。

さらに保護検出信号を出力するために/FAULT 端子を設

けており、RCIN 端子に接続される外付け RC の時定数

により OCP検出保持時間の調整が可能です。

特長

ハイサイドフローティング端子耐圧 600V

ゲートドライバ電圧範囲 11.5V ~ 20V

VCC-VB間に 600V耐圧 Bootstrap Diodeを内蔵

両チャネルに低入力誤動作防止回路(UVLO)搭載

高精度(0.46V±5%)な過電流保護回路(OCP)搭載

I/O信号としてイネーブル端子(EN)搭載

保護(UVLO,OCP)検出信号出力端子(/FAULT)を搭載

RCIN端子の外付け RCで OCP保持時間の調整可能

3.3V及び 5.0Vのロジック電圧入力可能

入力信号に対して同相出力

用途

MOSFET /IGBT駆動用アプリケーション

重要特性

ハイサイドフローティング電圧: 600V

入力電圧範囲: 11.5V ~ 20V

出力電流 IO+/IO-: 200mA/350mA(Typ)

Bootstrap Diode 電流制限抵抗: 28Ω(Typ)

OCP検出電圧: 0.46V(Typ)

OCP不反応時間: 150ns(Typ)

Turn-on/Turn-off時間: 630ns/580ns(Typ)

オフセット電圧端子リーク電流: 50µA(Max)

動作温度範囲: -40°C ~ +125°C

パッケージ W(Typ) x D(Typ) x H(Max) SOP28 18.50mm x 9.90mm x 2.41mm

基本アプリケーション回路

Up to 600V

VCC

HIN1

LIN2

HIN3

VCC

HIN1

HIN2

LIN3

LIN1

LIN2

VB1

HO1

VS1

HO2

VB2

LO3

/FAULT

ITRIP

EN

RCIN

VSS

COM

VS2

HO3

VB3

VS3

LO2

LO1

EN

HIN2

HIN3

LIN1

LIN3

/FAULT M

Figure 1. Typical Application Circuit

Datasheet

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端子配置図

Figure 2. Pin Configuration

(TOP VIEW)

HIN3

VCC

HIN1

HIN2

LIN3

LIN1

LIN2

VB1

HO1

VS1

NC

HO2

VB2

LO3

/FAULT

ITRIP

EN

RCIN

VSS

COM

VS2

NC

HO3

VB3

VS3

NC

LO2

LO1

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

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端子説明

Pin No. Pin Name Function

1 VCC Low-side supply voltage

2 HIN1 Logic input for high-side gate driver output (HO1), in phase

3 HIN2 Logic input for high-side gate driver output (HO2), in phase

4 HIN3 Logic input for high-side gate driver output (HO3), in phase

5 LIN1 Logic input for low-side gate driver output (LO1), in phase

6 LIN2 Logic input for low-side gate driver output (LO2), in phase

7 LIN3 Logic input for low-side gate driver output (LO3), in phase

8 /FAULT OCP or low-side UVLO(VCC-COM) detect signal output (negative logic, open-drain output)

9 ITRIP Analog input for over current shutdown, activates /FAULT and RCIN to VSS

10 EN Logic input to enable I/O functionality (positive logic)

11 RCIN External RC-network to define /FAULT clear delay after the /FAULT signal

12 VSS Logic ground

13 COM Power ground

14 LO3 Low-side gate drive output

15 LO2 Low-side gate drive output

16 LO1 Low-side gate drive output

17 NC Non-Connection

18 VS3 High-side negative power supply

19 HO3 High-side gate drive output

20 VB3 High-side positive power supply

21 NC Non-Connection

22 VS2 High-side negative power supply

23 HO2 High-side gate drive output

24 VB2 High-side positive power supply

25 NC Non-Connection

26 VS1 High-side negative power supply

27 HO1 High-side gate drive output

28 VB1 High-side positive power supply

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ブロック図

Figure 3. Functional Block Diagram

Latch

RCIN

COM

HIN1 UVDETECT

VB1

HO1

VS1

DELAY

VCC

LO1

LIN1

EN

VSS

ITRIP +

-

/FAULT

S

R

Q

DRV

PULSEFILTERSET

RESET

VSS/COMLEVEL

SHIFTER HVLEVEL

SHIFTER

PULSEGENERATOR

INPUTNOISEFILTER

R

S

QR

DEAD TIME &SHOOT-

THROUGHPREVENTION VSS/COM

LEVELSHIFTER

INPUTNOISEFILTER

UVDETECT

DRV

PULSEFILTERSET

RESET

VSS/COMLEVEL

SHIFTER HVLEVEL

SHIFTER

PULSEGENERATOR

INPUTNOISEFILTER

R

S

QR

DEAD TIME &SHOOT-

THROUGHPREVENTION VSS/COM

LEVELSHIFTER

INPUTNOISEFILTER

UVDETECT

DRV

PULSEFILTERSET

RESET

VSS/COMLEVEL

SHIFTER HVLEVEL

SHIFTER

PULSEGENERATOR

INPUTNOISEFILTER

R

S

QR

VSS/COMLEVEL

SHIFTER

INPUTNOISEFILTER

DRV

DRV

DELAY DRV

DELAY

INPUTNOISEFILTER

DEAD TIME &SHOOT-

THROUGHPREVENTION

INPUTNOISEFILTER

UVDETECT

HIN2

HIN3

LIN2

LIN3

VB2

HO2

VS2

VB3

HO3

VS3

LO2

LO3

0.46V

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絶対最大定格

(特に指定のない限り Ta=25°C, VSSを基準の 0Vとする)

Parameter Symbol Rating Unit

High-side Offset Voltage VS VB - 25 ~ VB + 0.3 V

High-side Floating Supply Voltage VB VCOM - 0.3 ~ VCOM + 625 V

High-side Floating Output Voltage HOx(Note 1) VHO VS - 0.3 ~ VB + 0.3 V

Low-side and Logic Fixed Supply Voltage (VCC vs VSS) VCC - 0.3 ~ + 25 V

Low-side and Logic Fixed Supply Voltage (VCC vs COM) VCCCOM - 0.3 ~ + 25 V

Low-side Output Voltage LOx (LOx vs COM) (Note 1) VLO - 0.3 ~ VCCCOM + 0.3 V

Logic Input Voltage HINx, LINx(Note 1), EN VIN - 0.3 ~ VCC + 0.3 V

/FAULT Output Voltage VFLT - 0.3 ~ VCC + 0.3 V

RCIN Input Voltage VRCIN - 0.3 ~ VCC + 0.3 V

ITRIP Input Voltage VITRIP - 0.3 ~ VCC + 0.3 V

Power Ground VCOM - 5.5 ~ + 5.5 V

Allowable Offset Voltage Slew Rate dVS/dt 50 V/ns

Storage Temperature Range Tstg - 55 ~ + 150 °C

Maximum Junction Temperature Tjmax 150 °C

(Note 1) x=1, 2, 3

注意 1:印加電圧及び動作温度範囲などの絶対最大定格を超えた場合は、劣化または破壊に至る可能性があります。また、ショートモードもしくはオープンモ

ードなど、破壊状態を想定できません。絶対最大定格を超えるような特殊モードが想定される場合、ヒューズなど物理的な安全対策を施して頂ける

ようご検討お願いします。

注意 2:最高接合部温度を超えるようなご使用をされますと、チップ温度上昇により、IC 本来の性質を悪化させることにつながります。最高接合部温度を超

える場合は基板サイズを大きくする、放熱用銅箔面積を大きくする、放熱板を使用するなど、最高接合部温度を越えないよう熱抵抗にご配慮くださ

い。

熱抵抗(Note 2)

Parameter Symbol Thermal Resistance (Typ)

Unit 1s(Note 4) 2s2p(Note 5)

SOP28

Junction to Ambient θJA 136.9 88.6 °C/W

Junction to Top Characterization Parameter(Note 3) ΨJT 19 15 °C/W

(Note 2) JESD51-2A(Still-Air) に準拠。

(Note 3) ジャンクションからパッケージ(モールド部分)上面中心までの熱特性パラメータ。

(Note 4) JESD51-3 に準拠した基板を使用。

(Note 5) JESD51-7 に準拠した基板を使用。

Layer Number of Measurement Board

Material Board Size

Single FR-4 114.3mm x 76.2mm x 1.57mmt

Top

Copper Pattern Thickness

Footprints and Traces 70μm

Layer Number of Measurement Board

Material Board Size

4 Layers FR-4 114.3mm x 76.2mm x 1.6mmt

Top 2 Internal Layers Bottom

Copper Pattern Thickness Copper Pattern Thickness Copper Pattern Thickness

Footprints and Traces 70μm 74.2mm x 74.2mm 35μm 74.2mm x 74.2mm 70μm

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推奨動作条件

(特に指定のない限り VSSを基準の 0Vとする)

Parameter Symbol Min Typ Max Unit

High-side Floating Supply Offset Voltage (VSx vs COM) (Note 6) VS - - 600 V

High-side Floating Supply Voltage (VBx vs VSx) (Note 6) VBS 11.5 15 20 V

High-side Floating Output Voltage (HOx vs VSx) (Note 6) VHO 0 15 VBS V

Low-side Supply Voltage (VCC vs VSS) VCC 11.5 15 20 V

Low-side Supply Voltage (VCC vs COM) VCCCOM 11.5 15 20 V

Low-side Output Voltage LOx (LOx vs COM) (Note 6) VLO 0 - VCCCOM V

Logic Input Voltage HINx, LINx (Note 6), EN VIN 0 - VCC V

/FAULT Output Voltage VFLT 0 - VCC V

RCIN Input Voltage VRCIN 0 - VCC V

ITRIP Input Voltage VITRIP 0 - VCC V

Power Ground VCOM -2.5 - +2.5 V

Operating Temperature Topr -40 - +125 °C

(Note 6) x=1, 2, 3

機能表

VCC VB-VS RCIN ITRIP EN /FAULT HO1, HO2, HO3 LO1, LO2, LO3

<VCCUV- X(Note 7) X(Note 7) X(Note 7) X(Note 7) 0V 0V 0V

15V <VBSUV- X(Note 7) 0V 5V High-Z 0V LIN1, LIN2, LIN3

15V 15V X(Note 7) >VIT_TH+ 5V 0V 0V 0V

15V 15V <VRCIN+ 0V 5V 0V(Note 8) 0V(Note 8) 0V(Note 8)

15V 15V >VRCIN+ 0V 5V High-Z HIN1, HIN2, HIN3 LIN1, LIN2, LIN3

15V 15V >VRCIN+ 0V 0V High-Z 0V 0V

(Note 7) Xは値によらないという意味

(Note 8) 過電流検出後の状態。ラッチ回路がリセットされていないため過電流検出状態を保持。

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DC電気的特性

(特に指定のない限り Ta=25°C, VCC=VBS=15V, VSS=VCOM=VS1=VS2=VS3, CL=1000pF)

Parameter Symbol Limit

Unit Conditions Min Typ Max

VCC and VBS Supply Undervoltage Positive Going Threshold

VCCUV+

VBSUV+ 9.6 10.4 11.2

V

VCC and VBS Supply Undervoltage Negative Going Threshold

VCCUV- VBSUV-

8.6 9.4 10.2

VCC Supply Undervoltage Lockout Hysteresis

VCCUVH VBSUVH

- 1.0 -

Offset Supply Leakage Current ILK - - 50

µA

VB = VS = 600V

Quiescent VBS Supply Current IQBS - 60 120 VIN = 0V or 5V

Quiescent VCC Supply Current IQCC - 0.7 1.3 mA VIN = 0V or 5V

Logic “1” Input Voltage VIH 2.6 - -

V

Logic “0” Input Voltage VIL - - 0.8

EN Positive Going Threshold VEN+ - - 2.6

EN Negative Going Threshold VEN- 0.8 - -

RCIN Positive Going Threshold VRCIN+ - 8 -

V

RCIN Hysteresis VRCIN_HYS - 3 -

ITRIP Positive Going Threshold VIT_TH+ 0.437 0.46 0.483

V

ITRIP Hysteresis VIT_HYS - 0.07 -

High Level Output Voltage, VCC (VBS) - VLO (VHO)

VOH - - 1.4

V IO = 20mA

Low Level Output Voltage, VLO (VHO) VOL - - 0.6

Logic “1” Input Bias Current IIN+ - 100 150

µA

VIN = 3.3V

Logic “0” Input Bias Current IIN- - - 1.0 VIN = 0V

ITRIP Input Bias Current IITRIP - 1 2 VITRIP = 0V or 3.3V

Output High Short Circuit Pulsed Current

IO+ 120 200 -

mA

VO = 0V Pulse Width ≤ 10µs

Output Low Short Circuit Pulsed Current

IO- 250 350 - VO = 15V Pulse Width ≤ 10µs

RCIN Input Bias Current IRCIN - - 1 µA

RCIN Low ON Resistance RON_RCIN - 50 100

Ω

VRCIN = 0.5V

/FAULT Low ON Resistance RON_FLT - 50 100 VFLT = 0.5V

Bootstrap Diode Resistance RBOOT 16 28 40 IF1 = 10mA, IF2 = 20mA

Bootstrap Diode Forward Voltage VFBOOT 0.4 0.7 1.0 V IF = 0.5mA, VFBOOT = VCC - VB

Bootstrap Diode Leakage Current ILKBOOT - - 50 µA VB = VS = 600V, VCC = VSS

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AC電気的特性

(特に指定のない限り Ta=25°C, VCC=VBS=15V, VSS=VCOM=VS1=VS2=VS3, CL=1000pF)

Parameter Symbol Limit

Unit Conditions Min Typ Max

Turn-on Propagation Delay tON 480 630 780

ns

VS = 0V, VIN = 0V to 5V

Turn-off Propagation Delay tOFF 430 580 730 VS = 0V or 600V, VIN = 5V to 0V

Turn-on Rise Time tR - 125 190 VIN = 0V to 5V

Turn-off Fall Time tF - 50 75 VIN = 5V to 0V

EN Low to Output Shutdown Propagation Delay

tEN 430 580 730 VIN = 5V, VEN = 5V to 0V

ITRIP to Output Shutdown Propagation Delay

tITRIP 500 750 1000 VITRIP = 5V

ITRIP Blanking Time tBL 100 150 - VITRIP = 5V

ITRIP to /FAULT Propagation Delay tFLT 400 600 800 VITRIP = 5V

Input Filter Time (HINx, LINx)(Note 9) tFILIN 100 200 - VIN = 0V to 5V, 5V to 0V

Enable Input Filter Time tFLTEN 100 200 - VEN = 0V to 5V, 5V to 0V

Dead Time tDT 200 300 450 VIN = 0V to 5V, 5V to 0V

Delay Matching, High-side & Low-side Turn-on/off

tMT - - 150

/FAULT Clear Time tFLTCLR 1.3 1.65 2.0 ms RCIN : R = 2MΩ, C = 1nF

(Note 9) x=1, 2, 3。

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0.0

3.0

6.0

9.0

12.0

15.0

-50 -25 0 25 50 75 100 125

VC

CS

up

ply

Un

de

rvo

lta

ge

Th

res

ho

ld

: V

CC

UV

+/V

CC

UV

-[V

]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0.0

3.0

6.0

9.0

12.0

15.0

-50 -25 0 25 50 75 100 125V

BS

Su

pp

ly U

nd

erv

olt

ag

e

Th

res

ho

ld :

V

BS

UV

+/V

BS

UV

-[V

]Ambient Temperature : Ta[ºC]

0.0

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

0 100 200 300 400 500 600 700

Off

se

t S

up

ply

Le

ak

ag

e C

urr

en

t :

I LK[µ

A]

Input Supply Voltage : VB[V]

0.0

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

-40 0 40 80 120 160

Off

se

t S

up

ply

Le

ak

ag

e C

urr

en

t :

I LK[µ

A]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

特性データ

(特に指定のない限り Ta=25°C, VCC=VBS=15V, VSS=VCOM=VS1=VS2=VS3, CL=1000pF)

Figure 4. VCC Supply Undervoltage Threshold vs Ambient Temperature

Figure 5. VBS Supply Undervoltage Threshold vs Ambient Temperature

Figure 6. Offset Supply Leakage Current vs Input Supply Voltage VB

Figure 7. Offset Supply Leakage Current vs Ambient Temperature

VCCUV+

VCCUV-

VBSUV+

VBSUV-

VB = VS = 600V

VB = VS

Tj = 150°C

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0.0

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20

Qu

ies

ce

nt

VC

CS

up

ply

C

urr

en

t :

I QC

C[m

A]

Input Supply Voltage : VCC[V]

0.0

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

-50 -25 0 25 50 75 100 125Q

uie

sc

en

t V

CC

Su

pp

ly C

urr

en

t :

I QC

C[m

A]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

25

50

75

100

125

-50 -25 0 25 50 75 100 125

Qu

ies

ce

nt

VB

SS

up

ply

Cu

rre

nt

: I Q

BS[u

A]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

特性データ ― 続き

(特に指定のない限り Ta=25°C, VCC=VBS=15V, VSS=VCOM=VS1=VS2=VS3, CL=1000pF)

Figure 8. Quiescent VCC Supply Current vs Input Supply Voltage VCC

Figure 9. Quiescent VCC Supply Current vs Ambient Temperature

Figure 10. Quiescent VBS Supply Current vs Input Supply Voltage VBS

Figure 11. Quiescent VBS Supply Current vs Ambient Temperature

0

25

50

75

100

125

0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20

Qu

ies

ce

nt

VB

SS

up

ply

Cu

rre

nt

: I Q

BS[µ

A]

Input Supply Voltage : VBS[V]

VCC = 15V

VBS = 15V

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0.0

0.5

1.0

1.5

2.0

2.5

-50 -25 0 25 50 75 100 125

Lo

gic

"1

"/"

0" In

pu

t V

olt

ag

e H

IN :

VIH

/VIL

[V]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0.0

0.5

1.0

1.5

2.0

2.5

-50 -25 0 25 50 75 100 125L

og

ic "

1"/"

0" In

pu

t V

olt

ag

e L

IN :

VIH

/VIL

[V]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

0.2

0.4

0.6

0.8

-50 -25 0 25 50 75 100 125

ITR

IP T

hre

sh

old

Vo

lta

ge

: V

IT_T

H+

[V

]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

特性データ ― 続き

(特に指定のない限り Ta=25°C, VCC=VBS=15V, VSS=VCOM=VS1=VS2=VS3, CL=1000pF)

Figure 12. Logic “1”/”0” Input Voltage HIN vs Ambient Temperature

Figure 13. Logic “1”/”0” Input Voltage LIN vs Ambient Temperature

Figure 14. Logic “1” Input Bias Current vs Logic Input Voltage VIN

Figure 15. ITRIP Threshold Voltage vs Ambient Temperature

VIT_TH+

VIT_TH-

VIL

VIH VIH

VIL

0

200

400

600

800

1000

0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20

Lo

gic

"1

" In

pu

t B

ias

Cu

rre

nt

: I IN

+[µ

A]

Logic Input Voltage : VIN[V]

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0.0

0.5

1.0

1.5

2.0

-50 -25 0 25 50 75 100 125

Hig

h L

eve

l O

utp

ut

Vo

lta

ge

VC

C(V

BS)

-V

O:

VO

H[V

]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

20

40

60

80

100

-50 -25 0 25 50 75 100 125

RC

IN L

ow

ON

Re

sis

tan

ce

:

RO

N_R

CIN

[Ω]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

20

40

60

80

100

-50 -25 0 25 50 75 100 125

/FA

UL

T

Lo

w O

N R

es

ista

nc

e :

RO

N_F

LT[Ω

]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0.0

0.5

1.0

1.5

2.0

-50 -25 0 25 50 75 100 125L

ow

Le

ve

l O

utp

ut

Vo

lta

ge

:

VO

L[V

]Ambient Temperature : Ta[ºC]

特性データ ― 続き

(特に指定のない限り Ta=25°C, VCC=VBS=15V, VSS=VCOM=VS1=VS2=VS3, CL=1000pF)

Figure 16. High Level Output Voltage vs Ambient Temperature

Figure 17. Low Level Output Voltage vs Ambient Temperature

Io = 20mA Io = 20mA

Figure 18. RCIN Low ON Resistance vs Ambient Temperature

Figure 19. /FAULT Low ON Resistance vs Ambient Temperature

VRCIN = 0.5V VFLT = 0.5V

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0

20

40

60

80

100

-50 -25 0 25 50 75 100 125

Bo

ots

tra

p D

iod

e R

es

ista

nc

e : R

BO

OT[Ω

]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0.0

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

1.2

1.4

1.6

1.8

2.0

-50 -25 0 25 50 75 100 125B

oo

tstr

ap

Dio

de

Fo

rwa

rd V

olt

ag

e :

VF

BO

OT[V

]Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

200

400

600

800

1000

-50 -25 0 25 50 75 100 125

Tu

rn-o

n/o

ff P

rop

ag

ati

on

De

lay H

igh

-sid

e :

t O

N/t

OF

F[n

s]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

0.4

0.8

1.2

1.6

2

0 2500 5000 7500 10000

Tu

rn-o

n/o

ff R

ise

/Fa

ll T

ime

Hig

h-s

ide

:

t R/t

F[µ

s]

Load Capacitance : CL[pF]

特性データ ― 続き

(特に指定のない限り Ta=25°C, VCC=VBS=15V, VSS=VCOM=VS1=VS2=VS3, CL=1000pF)

Figure 22. Turn-on/off Propagation Delay High-side vs Ambient Temperature

Figure 23. Turn-on/off Rise/Fall Time High-side vs Load Capacitance

Fall

Rise Turn-off

Turn-on

Figure 20. Bootstrap Diode Resistance vs Ambient Temperature

Figure 21. Bootstrap Diode Forward voltage vs Ambient Temperature

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200

400

600

800

1000

-50 -25 0 25 50 75 100 125

Tu

rn-o

n/o

ff P

rop

ag

ati

on

De

lay

Lo

w-s

ide

:

t ON/t

OF

F[n

s]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

0.4

0.8

1.2

1.6

2

0 2500 5000 7500 10000T

urn

-on

/off

R

ise

/Fa

ll T

ime

Lo

w-s

ide

:

t R/t

F[µ

s]

Load Capacitance : CL[pF]

0

100

200

300

400

500

-50 -25 0 25 50 75 100 125

De

ad

Tim

e H

O→

LO

: t

DT[n

s]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

100

200

300

400

500

-50 -25 0 25 50 75 100 125

De

ad

Tim

e L

O→

HO

: t

DT[n

s]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

特性データ ― 続き

(特に指定のない限り Ta=25°C, VCC=VBS=15V, VSS=VCOM=VS1=VS2=VS3, CL=1000pF)

Figure 26. Dead Time HO→LO vs

Ambient Temperature

Figure 24. Turn-on/off Propagation Delay Low-side vs Ambient Temperature

Figure 25. Turn-on/off Rise/Fall Time Low-side vs Load Capacitance

Turn-off

Turn-on

Rise

Fall

Figure 27. Dead Time LO→HO vs Ambient Temperature

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0

20

40

60

80

100

-50 -25 0 25 50 75 100 125

De

lay M

atc

hin

g,

HS

& L

S T

urn

-on

/off

:

t MT[n

s]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

1

2

3

4

5

-50 -25 0 25 50 75 100 125

/FA

UL

T

Cle

ar

Tim

e :

tF

LT

CL

R[m

s]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

200

400

600

800

1000

-50 -25 0 25 50 75 100 125IT

RIP

to

Ou

tpu

t S

hu

tdo

wn

Pro

pa

ga

tio

n D

ela

y

: t I

TR

IP[n

s]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

0

200

400

600

800

1000

-50 -25 0 25 50 75 100 125

ITR

IP t

o /

FA

UL

T

Pro

pa

ga

tio

n D

ela

y :

tF

LT[n

s]

Ambient Temperature : Ta[ºC]

特性データ ― 続き

(特に指定のない限り Ta=25°C, VCC=VBS=15V, VSS=VCOM=VS1=VS2=VS3, CL=1000pF)

Figure 28. Delay Matching, HS & LS Turn-on/off vs Ambient Temperature

Figure 29. ITRIP to Output Shutdown Propagation Delay vs Ambient Temperature

Figure 30. ITRIP to /FAULT Propagation Delay vs Ambient Temperature

Figure 31. /FAULT Clear Time vs Ambient Temperature

RCIN:R=2MΩ,C=1nF

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タイミングチャート

Figure 32. Detail Timing Chart

(a) Propagation Delay

(b) Dead time

HINx

LINx

50%

10%

90%

10%

LOx

HOx

90%

tDT tDT

50%

~ ~~ ~

~ ~~ ~

50% 50%

HINxLINx

HOxLOx

tON

tR

tOFFtF

90%

10%

90%

10%

x=1, 2, 3

x=1, 2, 3

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タイミングチャート ― 続き

Figure 33. Input-Output Logic

Figure 34. UVLO of VCC Timing Chart

Internal Deadtime

HINx

LINx

HOx

LOx

Shoot-Through

Prevention

EN

Shutdown

LOx

LINx

VCCUVHVVCCUV+

VCCUV-

/FAULT

x=1, 2, 3

x=1, 2, 3

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過電流保護について

ITRIP端子電圧がスレッショルド電圧 VIT_TH+=0.46V(Typ)を超えると、ディスチャージ SW がオンし RCIN端子が”H”→”L”

及び/FAULT端子が”High-Z”→”L”となります。

ノイズによる OCP誤検出を防ぐため、IC内部に不反応時間 tBL=150ns(Typ)を設けておりますが、ITRIP端子の直近にセラ

ミック・コンデンサを配置することを推奨いたします。

RCIN端子電圧は外付け RCの時定数により上昇し、VRCIN+=8V(Typ)を越えると/FAULT端子は”L” →”High-Z”となります。

また、RCIN端子電圧は VRCIN+以下の電圧でも通常動作しますが、一度 ITRIP端子電圧がスレッショルド電圧 VIT_TH+を越

えてしまうと停止したまま復帰しません。通常動作時の RCIN端子は VRCIN+以上に設定してください。

過電流検出値は R1、R2、RSで決定され、Figure 36のように ITRIP端子に接続されます。このときの過電流検出値は次式

によって決まります。

S

THIT

OCPR

V

R

RRI

_

2

21

OCPI :過電流検出値

THITV _ :過電流検出スレッショルド電圧 0.46V(Typ)

SR :電流検出抵抗

また、過電流保護が解除されてから/FAULT端子が”L”→”High-Z”となるリセット時間は次式によって決定されます。

CC

RCINRCINRCINFLTCLR

V

VCRt 1ln

RCINV :RCINスレッショルド電圧 8V(Typ)

Figure 35. OCP Detection Timing Chart

Figure 36. OCP Detection Schematic

x=1, 2, 3

ITRIP

RCIN

VIT_TH+

tFLT

High-Z High-Z

VRCIN+

/FAULT

tFLTCLR

VIT_TH-

tITRIP

HOx/LOx

HINx/LINx

VRCIN_HYS

Up to 600V

TO LOAD

VCC

LINx

VSS

EN

VBx

HOx

VSx

LOx

COMITRIP

RCIN

HINx

/FAULT

R1

R2

RS

RRCIN

CRCIN

x=1, 2, 3

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Figure 38. Gate Charge Transfer Characteristics

VDS

VGS

ID

dVs/dt

tSW

アプリケーション部品選定方法

(1) 出力ゲート抵抗

ゲート抵抗はパワーデバイスのスイッチング速度に合

わせて選択してください。ターンオン時間(tSW)は水平に

なっている電圧が終わるまでの時間とされるので、ター

ンオンのゲート抵抗(RG(on))は次式で計算されます。

SW

gdgs

gt

QQI

(1)

g

thgsBS

onGpononTOTALI

VVRRR

)(

)()(

(2)

)(

))((

)(

)(

thgsBS

onGpongdgs

g

gdgs

swVV

RRQQ

I

QQt

(3)

gI :パワーデバイスのゲートに流れる電流

gsQ :パワーデバイスのゲート-ソース間電荷

gdQ :パワーデバイスのゲート-ドレイン間電荷

)(thgsV :パワーデバイスのスレッショルド電圧

ターンオンのゲート抵抗値により出力のスルーレート

dVs/dtを決定できます。パワーデバイスのスルーレート

は次式になります。

rss

g

C

I

dt

dVs (4)

rssC :帰還容量

(4)式を(2)式に代入することでゲート抵抗値は次式にな

ります。

dt

dVsC

VVRRR

rss

thgsBS

onGpononTOTAL

)(

)()( (5)

pon

rss

thgsBS

onG R

dt

dVsC

VVR

)(

)( (6)

また、パワーデバイスがオフ時は他のパワーデバイスがオンしたときに Cgdを介して電流が流れます。このとき、ゲー

ト電圧が閾値を超えてセルフターンオンしないようにゲート抵抗値(RG(off))を設定してください。

dt

dVsCRRIRRV gdoffGnoffgoffGnoffthgs )()( )()()( (7)

noff

gd

thgs

offG R

dt

dVsC

VR

)(

)( (8)

Figure 37. Gate Driver Equivalent Circuit

VSx

VBx

HOx

RG(off)

RG(on)Rpon

Rnoff Cgs

Cgd

BS2132Fx=1, 2, 3

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アプリケーション部品選定方法 ― 続き

(2) ブートストラップコンデンサ CBS

ブートストラップに使用するコンデンサはリップル電圧を軽減するため、ESR の低いセラミック・コンデンサを推奨

いたします。

ブートストラップコンデンサのサイズは電圧ドロップ値と供給する総電荷量より決定します。

ハイサイドのパワーデバイスを ONできる最大電圧ドロップは次式より求まります。

RSOLGSMINCCBS VVVVFVV (9)

CCV :ゲートドライバの電源電圧

VF :ブートストラップダイオードの順方向電圧ドロップ

GSMINV :上側パワー素子をオンすることが可能な最小ゲート・ソース間電圧

OLV :下側パワー素子のオン電圧

RSV :電流検出抵抗間の電圧

また、ブートストラップコンデンサからハイサイドの回路に供給される総電荷量 QTotalは、次式より求まります。

HONQBSLKDIOLKLKGSGTotal tIIIIQQ )( (10)

GQ :パワーデバイスの総電荷量

LKGSI :パワーデバイスのゲート・ソース間リーク電流

LKDIOI :ブートストラップダイオードのリーク電流

LKI :レベルシフト回路のリーク電流

QBSI :VB-VS間の回路電流

HONt :ハイサイドの ON時間

よって、ブートストラップコンデンサのサイズは次式を満たすように設定してください。

BS

TotalBS

V

QC

(11)

ただし、VB-VS 間の電圧は内部のブートストラップダイオードの VF 分ドロップした電圧になります。VB-VS 間に

UVLO を設けておりますので、UVLO が動作しないように VCC の電圧値と ΔVBSに十分マージンを持たせて CBSを設

定してください。ノイズ対策として 1μF程度のセラミック・コンデンサを VB-VS間の直近に追加することを推奨いた

します。

Figure 39. Bootstrap Power Supply Circuit

Up to 600V

TO LOAD

VCC

LINx

VSS

EN

VBx

HOx

VSx

LOx

COMITRIP

RCIN

HINx

/FAULT

VF

VGS

VOL

VRS

x=1, 2, 3

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(2) ブートストラップコンデンサ CBS ― 続き

また、動作時に VCC から CBSへチャージする平均電流は次式となり、VCC-VB 間の電圧 VBOOTは Figure 40 となりま

す。

LVGCCHARGE III

OSCOSCBSISS ffVC 9

0 105.2・・ (12)

GCI :パワーデバイスの平均ゲートチャージ電流

LVI :レベルシフト回路の平均消費電流

0BSV :VS=0、定常状態の VB-VS間電圧( VFVV CCBS 0)

ISSC :パワーデバイスの入力容量

OSCf :ハイサイドの動作周波数

VB-VS間の UVLOが動作しないようにするためには次式を満たす必要があります。

BSMINBSBOOTCC VVVV 2

1 (13)

BSMINV :VB-VS間の最小動作電圧

(13)式を満たすことができない場合、UVLO検出によって正常に動作しない可能性があります。その場合は外付けに低

VFのブートストラップダイオードを追加するなどの対策が必要になりますので、実機にて十分にご確認ください。

(3) 入力コンデンサ

入力リップル電圧を低減するため、VCC端子付近に ESRの低いセラミック・コンデンサを使用してください。

VCC コンデンサはハイサイド及びローサイドに電荷を供給するため、(11)式で計算したブートストラップコンデンサ

CBSの最小値の 4倍以上のセラミック・コンデンサを推奨いたします。

Figure 40. ICHARGE vs VBOOT (VCC-VB voltage)

0

10

20

30

40

50

0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0

I CH

AR

GE[m

A]

VBOOT[V]

VCC=15V

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アプリケーション部品選定方法 ― 続き

(4) 入力信号差 ΔtIN

ハイサイドとローサイドのパワーデバイスを貫通

させないために必要な最小入力信号差(ΔtIN(Min))は

次式より求まります。

)()( FOFFINONDEAD ttttt (14)

)9.0ln1.0(ln Ft (15)

LGNON CRR )( (16)

ONt :オン側伝播遅延

OFFt :オフ側伝播遅延

Ft :立下り時間

NONR :最終段 Nch-FETオン抵抗

GR :ゲート抵抗

LC :負荷容量

貫通させないためには、次式を満たすようにタイミ

ング設計を行ってください。

0DEADt (17)

0)()( FOFFINON tttt (18)

FONOFFIN tttt )( (19)

)9.0ln1.0(ln)()( )()()()( LGMaxNONMinONMaxOFFMinIN CRRttt (20)

Figure 41. Shoot-Through Prevention Timing Chart

LINx(HINx)

HINx(LINx)

LOx(HOx)

HOx(LOx)

90%

10%

10%

∆tIN

tF

tOFF

tON

tDEAD

50%

50%

x=1, 2, 3

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VBx

HOx

VSx

Vgp

Vgn

VBx

HOx

VSxOFF

ON→OFFVBx

HOx

VSx

Vgp

Vgn

OFF

OFF

スイッチング時出力端子オーバーシュート/アンダーシュートについて

IC内部のボンディングワイヤ及び PCB上の寄生インダクタンスの影響を受けて、出力にオーバーシュート/アンダー

シュートが発生する可能性があります。

スイッチングオフ時のオーバーシュート発生メカニズムは Figure 43のようになります。

(1) Pch-FETをオフするとゲート-ソース間、ゲート-ドレイン間容量を介して HOから VBへ電流が流れる。

(2) 寄生インダクタンスにより電流が Pch-FETの寄生ダイオードを介して HOから VBへ電流が流れ、寄生ダイオー

ドの順方向電圧 VF分電圧が持ち上がり、HO電圧が VB+VFとなる。その後 Nch-FETがオンし、VSまでディス

チャージされる。

同様のメカニズムでスイッチングオン時のアンダーシュートも発生する可能性があります。

また、回路構成が同じであるため、ハイサイドに限らずローサイド出力 LOでも発生する可能性があります。

オーバーシュート/アンダーシュート電圧は寄生ダイオードに流れる電流によって変化します。オーバーシュート/

アンダーシュート電圧が大きい場合はゲート抵抗を調節してスイッチングスピードを遅くするなど、PCB上の寄生インダ

クタンスが小さくなるように配線してください。

Figure 42. Schematic with Parasitic Inductance

Figure 43. Mechanism of Overshoot

HO-VB 500mV/div

オーバーシュート

Figure 44. Overshoot Wave

(1) (2)

IC 内部のボンディングワイヤ及び

PCB上の寄生インダクタンス

ゲート-ソース間、ゲート-ドレイン間容量及び寄生ダイオード

x=1, 2, 3

x=1, 2, 3 x=1, 2, 3

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PCBレイアウト設計について

1. パワーGNDとロジック GND

パワーGND に流れる大電流と配線の寄生インダクタンスによってサージが発生します。サージがロジック GND に伝

搬してロジック GND レベルが変動し、ロジック GND を基準としている入力端子に誤信号が入力される可能性があり

ます。

パワーGND とロジック GND の配線を共通のベタパターンで形成せず、パワーGND とロジック GND は 1 点接続で配

線してください。

2. OCP検出シャント抵抗部

外付けのローサイドパワーデバイスとシャント抵抗の配線をなるべく短く配線してください。

配線が長いと寄生インダクタンスによりサージが発生し、OCPが誤検出する可能性があります。

また、シャント抵抗から分岐させる COMの配線はシャント抵抗の直近から分岐させてください。

3. ITRIPフィルタのコンデンサ

OCP誤動作防止のため ITRIP端子の直近にフィルタのセラミック・コンデンサを配置することを推奨いたします。

ITRIP直近のコンデンサの GNDはロジック GNDと接続してください。

4. 入力コンデンサ、ツェナーダイオード

入力部に配置する入力コンデンサやツェナーダイオード、ブートストラップコンデンサは IC の直近に配置してくださ

い。

また、ICの直近に配置するコンデンサは低 ESRのセラミック・コンデンサを推奨いたします。

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入出力等価回路図

Pin No. Pin

Name Pin Equivalent Circuit Pin No.

Pin Name

Pin Equivalent Circuit

1

12

13

VCC

VSS

COM

2,3,4

5,6,7

10

HIN1 HIN2 HIN3

LIN1 LIN2 LIN3

EN

x=1, 2, 3

8

11

/FAULT

RCIN

9 ITRIP

14,15,16 LO1 LO2 LO3

x=1, 2, 3

18,22,26

19,23,27

20,24,28

VS1 VS2 VS3

HO1 HO2 HO3

VB1 VB2 VB3

x=1, 2, 3

VSS

VCC

COM

LINxHINxEN

VCC

VSS

VCC

VSS

RCIN/FAULT ITRIP

VCC

VSS

LOx

VCC

COM

HOx

VBx

VSx

VCC COM

Figure 45. I/O Equivalent Circuits

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使用上の注意

1. 電源の逆接続について

電源コネクタの逆接続により LSIが破壊する恐れがあります。逆接続破壊保護用として外部に電源と LSIの電源端子

間にダイオードを入れるなどの対策を施してください。

2. 電源ラインについて

基板パターンの設計においては、電源ラインの配線は、低インピーダンスになるようにしてください。グラウンドラ

インについても、同様のパターン設計を考慮してください。また、LSI のすべての電源端子について電源-グラウン

ド端子間にコンデンサを挿入するとともに、電解コンデンサ使用の際は、低温で容量低下が起こることなど使用する

コンデンサの諸特性に問題ないことを十分ご確認のうえ、定数を決定してください。

3. グラウンド電位について

グラウンド端子の電位はいかなる動作状態においても、最低電位になるようにしてください。また実際に過渡現象を

含め、グラウンド端子以外のすべての端子がグラウンド以下の電圧にならないようにしてください。

4. グラウンド配線パターンについて

小信号グラウンドと大電流グラウンドがある場合、大電流グラウンドパターンと小信号グラウンドパターンは分離し、

パターン配線の抵抗分と大電流による電圧変化が小信号グラウンドの電圧を変化させないように、セットの基準点で

1 点アースすることを推奨します。外付け部品のグラウンドの配線パターンも変動しないよう注意してください。グ

ラウンドラインの配線は、低インピーダンスになるようにしてください。

5. 推奨動作条件について

推奨動作条件で規定される範囲で ICの機能・動作を保証します。また、特性値は電気的特性で規定される各項目の条

件下においてのみ保証されます。

6. ラッシュカレントについて

IC内部論理回路は、電源投入時に論理不定状態で、瞬間的にラッシュカレントが流れる場合がありますので、電源カ

ップリング容量や電源、グラウンドパターン配線の幅、引き回しに注意してください。

7. 強電磁界中の動作について

強電磁界中でのご使用では、まれに誤動作する可能性がありますのでご注意ください。

8. セット基板での検査について

セット基板での検査時に、インピーダンスの低いピンにコンデンサを接続する場合は、ICにストレスがかかる恐れが

あるので、1 工程ごとに必ず放電を行ってください。静電気対策として、組立工程にはアースを施し、運搬や保存の

際には十分ご注意ください。また、検査工程での治具への接続をする際には必ず電源を OFF にしてから接続し、電源

を OFFにしてから取り外してください。

9. 端子間ショートと誤装着について

プリント基板に取り付ける際、ICの向きや位置ずれに十分注意してください。誤って取り付けた場合、ICが破壊する

恐れがあります。また、出力と電源及びグラウンド間、出力間に異物が入るなどしてショートした場合についても破

壊の恐れがあります。

10. 未使用の入力端子の処理について

CMOSトランジスタの入力は非常にインピーダンスが高く、入力端子をオープンにすることで論理不定の状態になり

ます。これにより内部の論理ゲートの p チャネル、n チャネルトランジスタが導通状態となり、不要な電源電流が流

れます。また 論理不定により、想定外の動作をすることがあります。よって、未使用の端子は特に仕様書上でうたわ

れていない限り、適切な電源、もしくはグラウンドに接続するようにしてください。

11. セラミック・コンデンサの特性変動について

外付けコンデンサに、セラミック・コンデンサを使用する場合、直流バイアスによる公称容量の低下、及び温度など

による容量の変化を考慮のうえ定数を決定してください。

12. 安全動作領域について

本製品を使用する際には、出力トランジスタが絶対最大定格及び ASOを超えないよう設定してください。

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発注形名情報

B S 2 1 3 2 F - E 2

ローム形名

パッケージ

F : SOP28 包装、フォーミング仕様

E2 : リール状エンボステーピング

標印図

SOP28(TOP VIEW)

B S 2 1 3 2 F

Part Number Marking

LOT Number

Pin 1 Mark

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外形寸法図と包装・フォーミング仕様

Package Name SOP28

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改訂履歴

日付 版 変更内容

2018.05.18 001 新規作成

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ご注意

ローム製品取扱い上の注意事項

1. 本製品は一般的な電子機器(AV 機器、OA 機器、通信機器、家電製品、アミューズメント機器等)への使用を

意図して設計・製造されております。したがいまして、極めて高度な信頼性が要求され、その故障や誤動作が人の生命、

身体への危険もしくは損害、又はその他の重大な損害の発生に関わるような機器又は装置(医療機器(Note 1)

、輸送機器、

交通機器、航空宇宙機器、原子力制御装置、燃料制御、カーアクセサリを含む車載機器、各種安全装置等)(以下「特

定用途」という)への本製品のご使用を検討される際は事前にローム営業窓口までご相談くださいますようお願い致し

ます。ロームの文書による事前の承諾を得ることなく、特定用途に本製品を使用したことによりお客様又は第三者に生

じた損害等に関し、ロームは一切その責任を負いません。

(Note 1) 特定用途となる医療機器分類

日本 USA EU 中国

CLASSⅢ CLASSⅢ

CLASSⅡb Ⅲ類

CLASSⅣ CLASSⅢ

2. 半導体製品は一定の確率で誤動作や故障が生じる場合があります。万が一、かかる誤動作や故障が生じた場合で

あっても、本製品の不具合により、人の生命、身体、財産への危険又は損害が生じないように、お客様の責任において

次の例に示すようなフェールセーフ設計など安全対策をお願い致します。

①保護回路及び保護装置を設けてシステムとしての安全性を確保する。

②冗長回路等を設けて単一故障では危険が生じないようにシステムとしての安全を確保する。

3. 本製品は、一般的な電子機器に標準的な用途で使用されることを意図して設計・製造されており、下記に例示するよう

な特殊環境での使用を配慮した設計はなされておりません。したがいまして、下記のような特殊環境での本製品のご使

用に関し、ロームは一切その責任を負いません。本製品を下記のような特殊環境でご使用される際は、お客様におかれ

まして十分に性能、信頼性等をご確認ください。

①水・油・薬液・有機溶剤等の液体中でのご使用

②直射日光・屋外暴露、塵埃中でのご使用

③潮風、Cl2、H2S、NH3、SO2、NO2 等の腐食性ガスの多い場所でのご使用

④静電気や電磁波の強い環境でのご使用

⑤発熱部品に近接した取付け及び当製品に近接してビニール配線等、可燃物を配置する場合。

⑥本製品を樹脂等で封止、コーティングしてのご使用。

⑦はんだ付けの後に洗浄を行わない場合(無洗浄タイプのフラックスを使用された場合も、残渣の洗浄は確実に

行うことをお薦め致します)、又ははんだ付け後のフラックス洗浄に水又は水溶性洗浄剤をご使用の場合。

⑧本製品が結露するような場所でのご使用。

4. 本製品は耐放射線設計はなされておりません。

5. 本製品単体品の評価では予測できない症状・事態を確認するためにも、本製品のご使用にあたってはお客様製品に

実装された状態での評価及び確認をお願い致します。

6. パルス等の過渡的な負荷(短時間での大きな負荷)が加わる場合は、お客様製品に本製品を実装した状態で必ず

その評価及び確認の実施をお願い致します。また、定常時での負荷条件において定格電力以上の負荷を印加されますと、

本製品の性能又は信頼性が損なわれるおそれがあるため必ず定格電力以下でご使用ください。

7. 電力損失は周囲温度に合わせてディレーティングしてください。また、密閉された環境下でご使用の場合は、必ず温度

測定を行い、最高接合部温度を超えていない範囲であることをご確認ください。

8. 使用温度は納入仕様書に記載の温度範囲内であることをご確認ください。

9. 本資料の記載内容を逸脱して本製品をご使用されたことによって生じた不具合、故障及び事故に関し、ロームは

一切その責任を負いません。

実装及び基板設計上の注意事項

1. ハロゲン系(塩素系、臭素系等)の活性度の高いフラックスを使用する場合、フラックスの残渣により本製品の性能

又は信頼性への影響が考えられますので、事前にお客様にてご確認ください。

2. はんだ付けは、表面実装製品の場合リフロー方式、挿入実装製品の場合フロー方式を原則とさせて頂きます。なお、表

面実装製品をフロー方式での使用をご検討の際は別途ロームまでお問い合わせください。

その他、詳細な実装条件及び手はんだによる実装、基板設計上の注意事項につきましては別途、ロームの実装仕様書を

ご確認ください。

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応用回路、外付け回路等に関する注意事項

1. 本製品の外付け回路定数を変更してご使用になる際は静特性のみならず、過渡特性も含め外付け部品及び本製品の

バラツキ等を考慮して十分なマージンをみて決定してください。

2. 本資料に記載された応用回路例やその定数などの情報は、本製品の標準的な動作や使い方を説明するためのもので、

実際に使用する機器での動作を保証するものではありません。したがいまして、お客様の機器の設計において、回路や

その定数及びこれらに関連する情報を使用する場合には、外部諸条件を考慮し、お客様の判断と責任において行って

ください。これらの使用に起因しお客様又は第三者に生じた損害に関し、ロームは一切その責任を負いません。

静電気に対する注意事項

本製品は静電気に対して敏感な製品であり、静電放電等により破壊することがあります。取り扱い時や工程での実装時、

保管時において静電気対策を実施のうえ、絶対最大定格以上の過電圧等が印加されないようにご使用ください。特に乾

燥環境下では静電気が発生しやすくなるため、十分な静電対策を実施ください。(人体及び設備のアース、帯電物から

の隔離、イオナイザの設置、摩擦防止、温湿度管理、はんだごてのこて先のアース等)

保管・運搬上の注意事項

1. 本製品を下記の環境又は条件で保管されますと性能劣化やはんだ付け性等の性能に影響を与えるおそれがあります

のでこのような環境及び条件での保管は避けてください。

①潮風、Cl2、H2S、NH3、SO2、NO2等の腐食性ガスの多い場所での保管

②推奨温度、湿度以外での保管

③直射日光や結露する場所での保管

④強い静電気が発生している場所での保管

2. ロームの推奨保管条件下におきましても、推奨保管期限を経過した製品は、はんだ付け性に影響を与える可能性が

あります。推奨保管期限を経過した製品は、はんだ付け性を確認したうえでご使用頂くことを推奨します。

3. 本製品の運搬、保管の際は梱包箱を正しい向き(梱包箱に表示されている天面方向)で取り扱いください。天面方向が

遵守されずに梱包箱を落下させた場合、製品端子に過度なストレスが印加され、端子曲がり等の不具合が発生する

危険があります。

4. 防湿梱包を開封した後は、規定時間内にご使用ください。規定時間を経過した場合はベーク処置を行ったうえでご使用

ください。

製品ラベルに関する注意事項

本製品に貼付されている製品ラベルに2次元バーコードが印字されていますが、2次元バーコードはロームの社内管理

のみを目的としたものです。

製品廃棄上の注意事項

本製品を廃棄する際は、専門の産業廃棄物処理業者にて、適切な処置をしてください。

外国為替及び外国貿易法に関する注意事項

本製品は外国為替及び外国貿易法に定める規制貨物等に該当するおそれがありますので輸出する場合には、ロームに

お問い合わせください。

知的財産権に関する注意事項

1. 本資料に記載された本製品に関する応用回路例、情報及び諸データは、あくまでも一例を示すものであり、これらに関

する第三者の知的財産権及びその他の権利について権利侵害がないことを保証するものではありません。

2. ロームは、本製品とその他の外部素子、外部回路あるいは外部装置等(ソフトウェア含む)との組み合わせに起因して

生じた紛争に関して、何ら義務を負うものではありません。

3. ロームは、本製品又は本資料に記載された情報について、ロームもしくは第三者が所有又は管理している知的財産権 そ

の他の権利の実施又は利用を、明示的にも黙示的にも、お客様に許諾するものではありません。 ただし、本製品を通

常の用法にて使用される限りにおいて、ロームが所有又は管理する知的財産権を利用されることを妨げません。

その他の注意事項

1. 本資料の全部又は一部をロームの文書による事前の承諾を得ることなく転載又は複製することを固くお断り致します。

2. 本製品をロームの文書による事前の承諾を得ることなく、分解、改造、改変、複製等しないでください。

3. 本製品又は本資料に記載された技術情報を、大量破壊兵器の開発等の目的、軍事利用、あるいはその他軍事用途目的で

使用しないでください。

4. 本資料に記載されている社名及び製品名等の固有名詞は、ローム、ローム関係会社もしくは第三者の商標又は登録商標

です。

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DatasheetDatasheet

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一般的な注意事項

1. 本製品をご使用になる前に、本資料をよく読み、その内容を十分に理解されるようお願い致します。本資料に記載

される注意事項に反して本製品をご使用されたことによって生じた不具合、故障及び事故に関し、ロームは一切

その責任を負いませんのでご注意願います。

2. 本資料に記載の内容は、本資料発行時点のものであり、予告なく変更することがあります。本製品のご購入及び

ご使用に際しては、事前にローム営業窓口で最新の情報をご確認ください。

3. ロームは本資料に記載されている情報は誤りがないことを保証するものではありません。万が一、本資料に記載された

情報の誤りによりお客様又は第三者に損害が生じた場合においても、ロームは一切その責任を負いません。