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CERN-SPS 重粒子照射に よる CALET 電荷検出装置の性能テスト. 小澤俊介,赤池 陽水 A , 植山良貴,笠原克昌,金子翔伍,齋藤優,田村忠 久 B , 鳥居祥二 , 仁井田 多絵 , 村田 彬 , 他 CALET チーム 早大理工,東大宇宙線研 A , 神奈川 大 B. 450 m m. m m. m m. 320 mm. CALET 検出器構成. X 軸、 y 軸方向にそれぞれ 14 本. IMC : Imaging Calorimeter シャワー 初期発達 、 到来 方向の 測定 - PowerPoint PPT Presentation
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CERN-SPS 重粒子照射によるCALET 電荷検出装置の性能テスト
小澤俊介,赤池陽水 A,植山良貴,笠原克昌,金子翔伍,齋藤優,田村忠久 B,鳥居祥二,仁井田多絵,村
田彬,他 CALETチーム
早大理工,東大宇宙線研 A,神奈川大 B
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 113/09/22
450 mm
mm
mm
320 mm
CALET 検出器構成CHD : Charge Detector入射粒子の電荷測定-Plastic Scintillator 32mm×10mm×450mm14 本 ×2 層( X,Y )
IMC : Imaging Calorimeterシャワー初期発達、到来方向の測定- Scintillating Fiber (SciFi) 1mm×1mm×448mm 448 本 × (X,Y) × 8 層- W plate 0.2X0 × 5 枚 + 1X0 × 2 枚 ( 合計3X0)
TASC : Total Absorption Calorimeter粒子識別、エネルギー測定- PWO (20mm×19mm×326mm) 16 本 ×12 層 ( 計 27X0)
CALET 検出器
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 213/09/22
450
側面
450
上面
X 軸、 y 軸方向にそれぞれ 14 本
ELJEN 社製プラスチックシンチレータEJ-200
Size 450×32×10 mm3
Light emission peak 425 nmRise Time 0.9 nsDecay Time 2.1 nsScintillation Efficiency ~10000 photons/MeV
Attenuation length ~4 mDensity 1.023 g/cm2
浜松ホトニクス社製光電子増倍管R11823(R7400 ベース )
Photo cathode Φ8 mm,BialkaliSensitivity peak(wavelength) 420 nm
Rise Time 0.78 nsGain @ -400 V 5000Q.E.@420nm 30%
• プラスチックシンチレータ( EJ-200 )と光電子増倍管(R11823) をアクリル製ライトガイドで接続
• 全体を反射材( 3M 社製 ESR フィルム)で覆う
カタログ値 (BC404 相当 )
82mm450mm
32mm
CALET-CHD 概要
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 313/09/22
CERN SPS 重粒子照射実験• 実施期間
– Jan.24th-Feb.4th 2013
• 検証項目– 測定ダイナミックレンジ– 相対論的エネルギー粒子入射時の電
荷分解能• 照射ビーム
– Pb ( 82,208 ) 30GeV/n の破砕核( Be ターゲット)
– A/Z~2 で選別• 読み出し回路
– TASC-FEC BBM(PMT 用 )
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学
413/09/22
46cm
実験セットアップ
Beam
182cm 8cm
TriggerDetector
Beam tracker
48cm
CHD-0CHD-1
HV 取得イベント数
(V)Beam
Tracker あり
Beam Tracker な
しCHD-0 -450 2.5 x 105 1.0 x 106
CHD-1-410 7.3 x 105 -
-360 1.7 x 106 1.0 x 106
Beam
• Beam tracker– Upper tracker : シリコンストリップ 2 層 + シリコンピクセルアレイ 4 層– Bottom tracker : シリコンストリップ 6 層
Beam tracker による核種の選別
13/09/22 日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 5
シリコンピクセルアレイの出力相関による選別• 各層の最大出力のピクセルの代表値とする.• 1,2 層目の平均と 4 層目の出力の相関をとる• 相関中央から外れるイベントをカット ⇒ Beam Tracker 中で相互作用したイベントを排除• 相関を 45° の直線に射影し分布を作成• この分布に対し,各領域において四重 Gauss 分布 に当てはめ, ±1σ の範囲でイベントを選択
B NC O
X
Y
Correlation map of Si Pixel( Ave. 1st & 2nd layer vs 4th layer )
The distribution of the correlation map ( 45°projected , B~O )
Beam tracker Structure
±σ ±σ ±σ ±σ
Beam tracker で選別した各電荷(Z=1~26) についてCHD の出力信号分布にガウス関数をあてはめ
を算出
CHD 電荷分解能
- 電荷 Z における中心値 μZ
- 電荷 Z における出力分布の分散 σZ
B C
B μ5 : 27.3 σ5 : 1.81C μ6 : 38.0 σ6 : 2.19
Mn Fe
Mn μ25 : 392.8 σ25 : 9.81Fe μ26 : 418.6 σ26 : 9.86
B NC O
Before selection
CHD 0 Signal distribution(B,C)
CHD 0 Signal distribution(before / after selection by Beam tracker)
MIPS MIPS
MIPS
Num
ber o
f eve
nts
Num
ber o
f eve
nts
Num
ber o
f eve
nts
CHD 0 Signal distribution(Mn,Fe)
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学13/09/22 6
• Beam Tracker で選別した各電荷 (Z=1~26) について, CHD の出力信号の分布から求めた μZ , σZ から,電荷分解能を以下のように定義
13/09/22 日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 7
CHD 電荷分解能
1
ZZ
ZR
R: 電荷分解能σZ: 電荷 Z における出力分布の分散μZ: 電荷 Z における中心値
CHD0 (ビーム上流側)の電荷分解能 B,C : ~0.2e Fe : 0.38e
Z[e]
R [e
]
Charge resolution(CHD0)
Preliminary
B C
4.8σ6
B C
4.8σ6B,C の電荷分解能から 観測可能エネルギー領域を推定
B/C 比観測感度
B/C エネルギー依存性
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学
813/09/22
平均値μ[MIPs]
分散σ[MIPs]
B 27.3 1.81 C 38.0 2.19
B の平均値に対しC の平均値が4.8σ6
分離
5 年間の観測でTeV 領域までの B/C の測定が可能
B/C ratio ∝ E-δ
→ δ を ±0.05 程度で推定可能
C による分布の漏れ込みが σB の範囲に入る割合は C のイベント数に対して 7.24×10-5
Distribution of B and C(800~1600GeV/n)
δ=0.6
δ=0.3
観測ダイナミックレンジ
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学
913/09/22
MIP(z=1) Fe (z=26) 最大出力値 Z 上限PMT (R11823) (gain: 7000)
0.17pC 53pC 375 pC (linearity<2%) 〜 72
ADC (15bits) ~40 counts ~14,000 counts 32,768 counts 〜 40
Fh : 0.41±0.003Bs : 7.70±0.07 ×10-3
• SPS での照射実験の鉄核測定に基づいてADC の上限値で限定されるZ=26 → ~14,000 ADUクエンチングの式( Tarle’s formula)
にて概算 ⇒ Z ~ 40 までの測定が可能
dx
dEAf
dxdEfB
dxdEfA
dx
dLh
hS
h
/)1(1
/)1(
*Tarle et.al, The Astrophysical Journal 230 (1979) 607
まとめ• CERN SPS Heavy Ion Run データ解析
(シリコン検出器を用いたイベント選別)– 電荷分解能( Preliminary )
• B,C 領域 → ~ 0.2e– 4.8σC(NB への漏れ込みは ~Nc×10-4)– B/C Retio ∝ E-δ , δ± 0.05 程度で推定可能
• High Z → 〜 0.35e– ダイナミックレンジは超重核 (Z~40) の観測が可能
• 観測に向けて– 電荷検出性能のエネルギー依存性について– 実験データのより詳細な解析&シミュレーションスタディ
• 前方物質の影響について– 解析手法の改良
• CHD を 2 層用いる方法• SciFi を用いる方法
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学
1013/09/22
END
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学
1113/09/22
CALET-CHD の観測目的
宇宙線エネルギースペクトルの Knee 領域:1015 〜 1016eV
→衝撃波加速モデル:加速限界が電荷に依存 Emax 〜 100×Z [TeV]*
エネルギースペクトルは電荷増大と共に冪が小さくなる →電荷増大で断面積が大きくなり、磁場からの 漏れ出し前に相互作用
核種ごとのエネルギースペクトル観測 →電荷に依存した折れ曲がりの有無の検証
HIMAC (放医研), SPS ( CERN )において,重粒子照射実験を行い, CHD の電荷測定性能を検証
日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 1213/09/22
*Cesarsky & Lagage(1981)
電荷選別手法①1. MTX の PIXEL での通過位
置によってイベントを選別
2. ( MTX0+MTX1)/2(=T) とMTX3(=B) が
|(T-B) /(T+B)|<0.15 となるイベントを選別3. T, B の ScatterPlot を 45°
の直線に射影しヒストグラムを作成し、ガウス関数を Fit して Peak±1σ の範囲で電荷を識別
13/09/22 日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 13
解析条件 total 1 2 3
イベント数 961802 712380 484455 212105
電荷選別手法①1. MTX の PIXEL での通過位
置によってイベントを選別
2. ( MTX0+MTX1)/2(=T) とMTX3(=B) が
|(T-B) /(T+B)|<0.15
となるイベントを選別3. T, B の ScatterPlot を 45°
の直線に射影しヒストグラムを作成し、ガウス関数を Fit して Peak±1σ の範囲で電荷を識別
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Charge resolution of MTX
13/09/22日本物理学会第 68回秋季大会@高知大
学 15
16
CHD 電荷分解能 (@ICRC2013)
13/09/22 日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学
• CHD0
Chi2/ndf:1.39976Peak:27.3289±0.038716Sigma:1.78952 ±0.0477753
Chi2/ndf:1.93863Peak:38.0419 ±0.0338135Sigma2.18663 ±0.0437589
Chi2/ndf:1.32947Peak:392.848±0.720586Sigma: 9.93667 ± 0.762094
Chi2/ndf: 0.85334Peak: 418.922±0.770675 Sigma:9.57006±0.744359
13/09/22 日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 17
σZ /(μZ-μZ-1) σZ /(μZ+1-μZ)
• CHD1
Chi2/ndf:1.67212Peak:28.588±0.0622729Sigma:2.56922 ± 0.0862599
Chi2/ndf: 1.99129Peak: 39.8833±0.0447144 Sigma2.79925± 0.0594555
Chi2/ndf:0.767813Peak:429.592±0.925554Sigma: 12.7488 ± 0.938563
Chi2/ndf: 1.09997Peak: 461.646 ±1.46345 Sigma: 15.3955 ±1.63027
13/09/22 日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 18
σZ /(μZ-μZ-1) σZ /(μZ+1-μZ)
• 選別後の CHD0 と CHD1 のScatterplot
• 45° に射影したヒストグラム(黒線 : 解析条件 1 )
B C N O
13/09/22 日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 19
• CHD0&CHD1
Chi2/ndf:1.26659Peak: 39.5354±0.0534949 Sigma: 2.32779±0.0688625
Chi2/ndf:0.928851Peak: 55.1892 ± 0.043887 Sigma 2.8639 ± 0.0555972
Chi2/ndf:1.03567Peak: 582.227 ± 0.946103 Sigma: 12.2782 ± 0.944408
Chi2/ndf:0.887022Peak: 619.344±2.03379 Sigma: 17.0124±2.45911
13/09/22 日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 20
σZ /(μZ-μZ-1) σZ /(μZ+1-μZ)
Beam Tracker による核種同定
シリコンピクセル 1 , 2 層目の出力平均と 3層目の出力との相関から,入射核種を同定
13/09/22 日本物理学会第 68回秋季大会@高知大学 21
• Beam Tracker– Upper tracker : シリコンストリップ 2 層 + シリコンピクセルアレイ 4 層– Bottom tracker : シリコンストリップ 6 層
Beam Tracker 構造シリコンストリップの間隔は 0.721mm で,粒子飛跡のトラッキングが可能
ピクセルアレイは 1cm x 1cm の PIN-PD を用いたシリコン検出器で 8 x 8 で並べられている
X
Y