Charge identificationin Dec. 2004 chamber

歳藤利行

2005.8.8

40℃ 38℃親粒子 Z=6

pl100

pl98

pl97

pl96

gain(パルスハイトのピーク値 )がばらついている

要補正

プレートごと、エリアごと

pl plPl83より上流は constant Pl90より上流は constant

補正前

補正後

10→20プレートの平均

f(pl)=0.041*pl2-8.2*pl+const vph40+vph38-f(pl)

pos=pl*10+n

570 680 750 800HeLi Be B C

vph40+vph38-f(pl) pl>60

深さ依存性

40℃ 38℃

vph40-f(pl)/2 vph38-f(pl)/2

40℃ 38℃

C

B

Be

Li

He

Plate>70

Likelihood function

Po(パルスハイト分布の平均 )σ(パルスハイト分布の拡がり )

20 )(

),(PP

eTZLパルスハイト

)40,()38,()( CZLCZLZL oo

)6()5()4()3()2(

)6(6)5(5)4(4)3(3)2(2

LLLLL

LLLLLZ

電荷 (Z)の期待値

ビーム

2次粒子0.01<Θ<0.1

2次粒子Θ<0.4

反応に関するトラックすべて