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Diseño de planes simples tablas Dodge RomingEstos métodos minimiza el número promedio de piezas inspeccionadas
( ATI) si se tiene una buena estimación del proceso promedio y la política del muestreo es que todos los lotes inicialmente rechazados son inspeccionados y las piezas defectivas se reemplazan por no defectivas.
• a.- Diseño de planes simples tablas Dodge Roming con LTPD Límite Tolerado de defectivas Es el porcentaje mínimo de defectivas a partir de donde un lote se considera “tolerado” ( Malo )
a.1.-.-Muestreo Simple.- Un procedimiento de muestreo simple puede caracterizarse por lo siguiente: Se toma una muestra de n artículos de un lote de N artículos; el lote se acepta si el número de defectuosos d en la muestra no excede c. Aquí c se conoce como el número de aceptación.
PREPARACIÓN PARA EXAMEN DE CQE
.33Ing. Rigoberto Arvizo A
PREPARACIÓN PARA EXAMEN DE CQE
Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A.41
a.2.-Muestreo doble
b.- Diseño de planes simples tablas Dodge Roming con AOQL Límite de calidad promedio de Salida AOQL.- Es el porcentaje máximo de defectivas que en promedio da los lotes sometidos a un plan
•b.1.- Planes Simples
B.2.-Plan Doble.-
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Muestreo Secuencial• muestreo secuencial autoriza tomar una decisión cada vez que un
nuevo elemento es inspeccionado, o lo que se llama muestreo secuencial elemento por elemento.
Ecuaciónes para límites en Muestreo secuencial.- La ecuación para las dos líneas límites que son paralelas y darán los p1’ = AQL,
p2’=LTPD, , y deseado son:
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.Ing. Rigoberto Arvizo A 44
X h sn
X h sn
1
2
PREPARACIÓN PARA EXAMEN DE CQE
.
hp p
p p
hp p
p p
s
p
p
p p
p p
12 1
1 2
22 1
1 2
1
2
2 1
1 2
1 1
1
1 1
1
1
1
1
1
log log' '
' '
log log' '
' '
log'
'
log' '
' '
Formula de Parámetros en Muestreo secuencial
hp p
p p
hp p
p p
s
p
p
p p
p p
12 1
1 2
22 1
1 2
1
2
2 1
1 2
1 1
1
1 1
1
1
1
1
1
log log' '
' '
log log' '
' '
log'
'
log' '
' '
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DISEÑOS CON DOS PUNTOS DE LA CCO.
• Se puede desear un proceso de tal índole, que la probabilidad de acepta-ción sea 1- para un material de calidad AQL y para un material de calidad LTPD.
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DISEÑOS CON DOS PUNTOS DE LA CCO.
0
0.5
1
.01 .03 .05 .07 .09
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DISEÑOS DE PLANES SIMPLES CON DOS
PUNTOS DE LA CCO.• Tabla para diseñar un proceso de muestreo
sencillo con dos puntos, con =0.05 y =0.10• c n*p1 n*p2n*p2/np1• 0 0.051 2.30 45.10• 1 0.355 3.89 10.96• 2 0.818 5.32 6.50• 3 1.366 6.68 4.89• 4 1.970 7.99 4.06• 5 2.613 9.28 3.55• 6 3.285 10.53 3.21
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DISEÑOS GRAFICO DE PLANES SIMPLES CON
DOS PUNTOS DE LA CCO.• Un procedimiento gráfico para deducir un proceso
de muestreo para unos p1’, p2’, y determinados, nos lo da el nomograma de la figura 7.5. Se trazan dos líneas, una uniendo p1’ con y la otra p2’ con . Su intersección señala el área del proceso deseado. Si se desea conservar , la primera línea se continúa ya sea hasta la línea c, justamente arriba del punto de intersección, o hasta la línea c precisamente abajo del mismo, (suponiendo que el punto de intersección no coincida exactamente con una línea c), y las n alternativas se obtienen en el nomograma. La línea que une p2’ y puede ser utilizada de manera semejante. El resultado final es, otra vez, de 4 posibilidades que tienen aproximadamente los criterios que se desean.
• Donde p1’ = AQL y p2’= LTPD
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DISEÑOS ANALITICOS DE PLANES DOBLES CON
DOS PUNTOS DE LA CCO.
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DISEÑOS ANALITICOS DE PLANES MULTIPLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO.
Quimicos
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DISEÑOS ANALITICOS DE PLANES MULTIPLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO.
Barnard
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Criterio de diseño de Muestreo secuencial
• Las curvas CO tipo B y AL para el procedimiento SPR (Razón de Probabilidad Secuencial) pueden ser diseñadas apartir de tres puntos. El proceso se proyecta de tal manera que la probabilidad de aceptación para p’ igual a p1’ es de 1-, y la probabilidad de aceptación para p’ igual a p2’ es . Esto origina dos puntos de la curva. Puede también demostrarse que s siempre se localiza entre p1’ y p2’, y la probabilidad de aceptación para una fracción defectuosa de un lote igual a s es (h2)/(h1+h2). Esto proporciona un tercer punto de la curva, cerca de su parte media. Nuevos puntos podrán obtenerse usando las ecuaciones paramétricas:
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