Empowerソフトウエアデータ取り込み解析...おことわり本書の内容は、将来予告なしに変更される場合があり、また、Waters Corporation および

Empowerソフトウエアデータ取り込み /解析

理論ガイド

34 Maple StreetMilford, MA 01757

715090312KI, Revision B

おことわり

本書の内容は、将来予告なしに変更される場合があり、また、Waters Corporation および

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目次

はじめに ........................................................................................ 14

第 1 章データ取り込み ........................................................................................ 19

1.1 概要......................................................................................................... 19

1.1.1 データ取り込みとは ? .............................................................. 191.1.2 解析とは ? ................................................................................ 19

1.2 波形解析メソッド ................................................................................... 20

1.2.1 ApexTrack と従来法の波形解析の共通性 ................................. 201.3 アナログからデジタルへの変換.............................................................. 21

1.3.1 データの変換............................................................................ 211.3.2 データの転送 / 保管.................................................................. 22

1.4 サンプリングレートの検出..................................................................... 23

1.4.1 適なサンプリングレートの決定 ........................................... 231.4.2 データポイントの表示 ............................................................. 23

1.5 ディスクスペースに対するデータ取り込みレートの影響 ...................... 24

1.6 参考文献.................................................................................................. 24

第 2 章 ApexTrack 波形解析 .................................................................................. 25

2.1 特徴と機能 .............................................................................................. 25

2.1.1 ApexTrack の特徴 ..................................................................... 252.1.2 ApexTrack による波形解析の方法 ............................................ 26

2.1.3 解析メソッドパラメータの概要 ............................................... 27

2.1.4 時間イベントの概要 ................................................................. 29

2.1.5 ApexTrack の波形解析ピークラベル ........................................ 31

2.2 頂点の検出 .............................................................................................. 32

2.2.1 頂点の検出 ............................................................................... 322.2.2 頂点の検出パラメータ ............................................................. 33

目次 3

2.2.3 2 次微分プロットの取得 .......................................................... 34

2.2.4 ピークの検出............................................................................ 34

2.2.5 分離ピークとショルダーピーク ............................................... 35

2.2.6 ラウンドピーク ........................................................................ 36

2.2.7 ピークテーブル内の 2 次微分頂点と変曲点............................. 37

2.3 ベースラインの位置................................................................................ 37

2.3.1 ApexTrack が傾き差の感度を決定する方法 ............................. 382.3.2 ApexTrack が分離ピークのベースラインを見つける手順 ........ 39

2.3.3 ApexTrack がクラスタの仮想ベースラインを見つける手順 .... 41

2.3.4 ApexTrack が終クラスタベースラインを決定する方法 ........ 42

2.3.5 立ち上がり % と立ち下がり % のベースライン位置での

影響 .......................................................................................... 42

2.3.6 クラスタピークに対して立ち上がり % と立ち下がり % を

変更した場合の影響 ................................................................. 44

2.4 ピーク境界の決定 ................................................................................... 45

2.4.1 動作のシークエンス ................................................................. 462.5 波形解析結果の計算................................................................................ 46

2.5.1 ピーク面積 ............................................................................... 472.5.2 ピーク高さ ............................................................................... 47

2.5.3 保持時間 ................................................................................... 47

2.5.4 手動で調整したピークの保持時間と高さの値 ......................... 49

2.6 ピーク幅パラメータ................................................................................ 49

2.6.1 ApexTrack でのピーク幅 .......................................................... 492.6.2 自動ピーク幅............................................................................ 50

2.6.3 自動ピーク幅の使用方法.......................................................... 51

2.6.4 ピーク幅パラメータの変動の影響 ........................................... 51

2.7 検出感度パラメータ................................................................................ 52

2.7.1 ApexTrack でのベースラインノイズ ........................................ 522.7.2 自動感度 ................................................................................... 53

2.7.3 自動感度の使用 ........................................................................ 54

目次 4

2.8 ピーク検出イベント................................................................................ 55

2.8.1 積分禁止イベント..................................................................... 552.8.2 ショルダーを検出イベント ...................................................... 56

2.8.3 負ピーク検出可イベント.......................................................... 58

2.8.4 イベント設定............................................................................ 59

2.9 ピーク解析イベント................................................................................ 66

2.9.1 谷渡り....................................................................................... 662.9.2 ガウシャンスキムイベント ...................................................... 70

2.9.3 GPC、GPCV、GPC-LS、GPCV-LS のピークの

統合イベント............................................................................ 78

2.9.4 立ち上がり感度 % 設定イベント.............................................. 79

2.9.5 立ち下がり感度 % 設定イベント.............................................. 81

2.10 ApexTrack と両立しないイベント ........................................................ 81

2.11 時間イベントが起動するタイミング .................................................... 82

2.12 参考文献................................................................................................ 83

第 3 章従来法の波形解析 ..................................................................................... 84

3.1 ピークの検出 .......................................................................................... 84

3.1.1 データバンチングの実行.......................................................... 853.1.2 ピーク開始の決定..................................................................... 86

3.1.3 仮想ピーク頂点の決定 ............................................................. 87

3.1.4 ピーク終了の決定..................................................................... 88

3.1.5 ピーク幅および検出感度の決定 ............................................... 89

3.1.6 積分禁止イベント..................................................................... 93

3.2 ピークの波形解析 ................................................................................... 94

3.2.1 未分離ピークの判定 ................................................................. 943.2.2 ベースラインの作成 ................................................................. 96

3.2.3 ピーク保持時間、高さ、面積の計算........................................ 98

3.2.4 ピーク除外の基準................................................................... 100

目次 5

3.3 ピーク検出イベント.............................................................................. 101

3.3.1 負ピークを検出イベント........................................................ 1023.3.2 立ち上がり感度設定イベント................................................. 103

3.3.3 立ち下がり感度設定イベント................................................. 104

3.3.4 ピーク幅設定イベント ........................................................... 105

3.4 ピーク解析イベント.............................................................................. 105

3.4.1 波形解析のピークラベル........................................................ 1063.4.2 強制ベースラインイベント .................................................... 107

3.4.3 水平ベースラインイベント .................................................... 111

3.4.4 逆水平ベースラインイベント................................................. 114

3.4.5 谷渡り..................................................................................... 118

3.4.6 強制垂直分割イベント ........................................................... 119

3.4.7 強制ピーク検出イベント........................................................ 121

3.4.8 スキムイベント ...................................................................... 122

3.4.9 小高さ設定イベント ........................................................... 128

3.4.10 小面積設定イベント ........................................................... 129

3.5 両立しないイベント.............................................................................. 129

3.6 参考文献................................................................................................ 132

第 4 章サンプル成分のピークの同定および定量 ............................................... 133

4.1 ピークの同定 ........................................................................................ 133

4.1.1 一致の程度の計算................................................................... 134

4.1.2 適な同定ピークの選択........................................................ 134

4.1.3 保持時間および保持時間幅のシフト...................................... 135

4.2 定量....................................................................................................... 137

4.2.1 検量線による定量................................................................... 1384.2.2 検量線を用いない定量 ........................................................... 139

4.2.3 サンプル重量と希釈率を使った定量...................................... 139

4.2.4 注入量を使用する定量 ........................................................... 141

4.2.5 ピーク面積および高さ以外のレスポンスを使用する定量 ..... 142

目次 6

4.2.6 絶対検量線法および内部標準法による定量 ........................... 142

4.2.7 絶対検量線法による定量........................................................ 142

4.2.8 単独の標準試料と未知試料を用いた内部標準法による

定量 ........................................................................................ 146

4.2.9 単独の標準試料や未知試料を用いない内部標準法による

定量（RF 内部標準法）........................................................... 151

4.3 検量線の種類 ........................................................................................ 154

4.3.1 一点検量線 ............................................................................. 1544.3.2 多点検量線作成の行列演算 .................................................... 157

4.3.3 多点検量線 ............................................................................. 160

4.3.4 原点通過多点検量線 ............................................................... 171

4.3.5 重み付け ................................................................................. 172

4.3.6 統計 ........................................................................................ 173

4.4 参考文献................................................................................................ 177

付録 5 解析コード ............................................................................................. 178

付録 6 データ解析システムポリシー.................................................................. 205

6.1 v3.0X のピーク幅と検出感度計算方法を使用する ..................... 205

6.2 v2.XX の保持時間の計算方法を使用する ................................... 207

6.3 レビュー画面での変更内容の保存を要求する ............................ 207

6.4 検量線のポイントの％偏差を計算する ...................................... 207

付録 7 入門：ApexTrack による解析 .................................................................. 209

7.1 Empower ソフトウェアを起動する ............................................ 209

7.2 ピーク波形解析を設定する ........................................................ 210

7.3 Empower データベースの ApexTrack 波形解析 ......................... 210

目次 7

7.4 プロジェクトの ApexTrack 解析法 ............................................. 212

7.4.1 新規プロジェクトで ApexTrack 解析法を有効にする ..................................................................... 212

7.4.2 既存のプロジェクトで ApexTrack 解析法を有効にする...................................................................... 213

7.5 解析メソッドの ApexTrack 解析法 ............................................. 215

7.5.1 ApexTrack で解析メソッドを新規作成する .................. 215

7.5.2 既存の解析メソッドで ApexTrack を有効にする ........... 216

7.5.3 解析メソッドの解析方法を変更する .............................. 217

7.6 解析イベントのまとめ ................................................................ 219

7.7 結果のピークラベル ................................................................... 220

7.8 マニュアル解析のガイドライン ................................................. 222

7.8.1 ピークを追加 / 削除する ................................................ 222

7.8.2 ピーク開始 / 終了を移動する.......................................... 222

7.8.3 垂線を移動する .............................................................. 223

索引 ............................................................................................... 224

目次 8

図目次

1-1 データ取り込みプロセス ............................................................... 211-2 取り込まれたデータポイント ........................................................ 22

2-1 ApexTrack の初期設定の解析メソッド .................................. 272-2 ApexTrack 時間イベント................................................................ 292-3 ガウシャンピークとその 2 次微分................................................. 342-4 ベースライン分離ピーク、谷境界、ショルダー境界、

ラウンド境界 ................................................................................. 352-5 谷を持つ未分離（左）ピークと未分離の

ラウンドピーク（右）..................................................................... 362-6 ベースラインパラメータの設定 .................................................... 382-7 変曲点ベースライン ...................................................................... 382-8 傾きの差の計算.............................................................................. 392-9 終ベースラインの計算 ............................................................... 402-10 テーリングピークでのベースラインの検索例............................... 412-11 クラスタピークの仮想ベースライン ............................................. 412-12 クラスタベースライン................................................................... 422-13 大ピークの立ち下がり ............................................................... 432-14 1/10 ピークの立ち下がり .............................................................. 442-15 1/100 ピークの立ち下がり ............................................................ 442-16 ガウシャンピークでのピーク幅定義 ............................................. 502-17 ベースラインノイズを示す 2 次微分 ............................................. 522-18 ピーク間ベースラインノイズの例................................................. 532-19 ベースラインノイズの自動測定 .................................................... 542-20 ベースラインノイズの手動測定 .................................................... 542-21 積分禁止イベント .......................................................................... 562-22 ショルダーを検出イベント（例）................................................... 572-23 負ピークの検出例 .......................................................................... 582-24 検出感度設定イベント................................................................... 61

図目次 9

2-25 小面積設定イベント................................................................... 632-26 小高さ設定イベント................................................................... 652-27 ApexTrack で谷渡りなし................................................................ 672-28 ApexTrack で谷渡りあり................................................................ 672-29 ApexTrack での谷渡りの例 ............................................................ 692-30 ガウシャンスキムイベント（例）................................................... 712-31 単純なクロマトグラムでガウシャンスキムを設定しない場合...... 732-32 単純なクロマトグラムでガウシャンスキムを設定した場合 ......... 742-33 複雑なクロマトグラムでガウシャンスキムを設定しない場合...... 742-34 単純なクロマトグラムでガウシャンスキムを設定する場合 ......... 752-35 例 3: 開始ポイントを変更したガウシャンスキム .......................... 752-36 ピークを手動で削除した後のガウシャンスキム境界 .................... 762-37 ピークの統合イベント（GPC、GPCV、GPC-LS、GPCV-LS）.... 792-38 立ち上がり感度 % 設定イベントと立ち下がり感度 % 設定

イベント ........................................................................................ 80

3-1 データのバンチングの例 ....................................................... 853-2 有望なピーク開始の判定 ............................................................... 873-3 仮想ピーク頂点の決定................................................................... 883-4 ピーク終了の決定 .......................................................................... 893-5 積分禁止イベント .......................................................................... 933-6 隣接するピーク幅の比較 ............................................................... 943-7 分離ピークおよび未分離ピークの判定.......................................... 963-8 ベースライン作成 .......................................................................... 973-9 ベースライン調整 .......................................................................... 983-10 ピーク保持時間とピーク高さの計算 ............................................. 993-11 ピーク面積の計算 ........................................................................ 1003-12 負ピーク検出可イベント ............................................................. 1033-13 立ち上がり感度設定イベント ...................................................... 1043-14 立ち下がり感度設定イベント ...................................................... 1053-15 強制ベースライン（時間）と強制ベースライン（ピーク）

イベント ...................................................................................... 108

図目次 10

3-16 ベースライン平均化による強制ベースライン（時間）イベント ...................................................................................... 109

3-17 強制ベースラインイベントと負ピークを検出イベント .............. 1103-18 水平ベースライン（時間）および水平ベースライン（ピーク）

イベント ...................................................................................... 1123-19 水平ベースライン（時間）（ベースラインの平均化あり）........... 1133-20 水平ベースライン（時間）と負ピークを検出イベント .............. 1143-21 逆水平ベースライン（時間）と逆水平ベースライン（ピーク）

イベント ...................................................................................... 1163-22 逆水平ベースライン（時間）（ベースラインの平均化あり）....... 1173-23 逆水平ベースライン（時間）と負ピークを検出イベント........... 1183-24 谷渡り .......................................................................................... 1193-25 強制垂直分割イベント（イベント開始時間のみを

指定した場合）............................................................................. 1203-26 強制垂直分割イベントの（単一ピーク）...................................... 1203-27 強制垂直分割イベント（未分離ピークグループ）....................... 1213-28 強制ピーク検出イベント ............................................................. 1223-29 強制ピーク検出イベント（複数の分離していないピーク）......... 1223-30 高さの比のテスト ........................................................................ 1243-31 接線スキムイベント .................................................................... 1253-32 指数スキムイベント .................................................................... 1273-33 小高さ設定イベント................................................................. 1283-34 小面積設定イベント................................................................. 129

4-1 絶対検量線標準試料のクロマトグラム ............................... 1444-2 絶対検量線の標準成分の検量線（一点検量線、溶液濃度）......... 1454-3 従来のレスポンス比 / 濃度（または溶液濃度）比のプロット .... 1464-4 レスポンス比に内部標準試料の濃度（または溶液濃度）

を掛けたプロット ........................................................................ 1474-5 内部標準試料のクロマトグラム .................................................. 1484-6 内部標準試料を用いた検量線（一点検量線、濃度）.................... 1504-7 RF 内部標準試料のクロマトグラム............................................. 152

図目次 11

4-8 一点検量線................................................................................... 1554-9 レスポンスファクタの検量線 ...................................................... 1574-10 折れ線の検量線............................................................................ 1614-11 3 次スプラインによる検量線....................................................... 1634-12 小二乗法の直線の検量線.......................................................... 1644-13 2 次曲線の検量線......................................................................... 1664-14 3 次曲線の検量線......................................................................... 1684-15 4 次曲線の検量線......................................................................... 1694-16 5 次曲線の検量線......................................................................... 170

G-1 ［Empower ログイン］ダイアログボックス ............................... 209G-2 ［プロジェクト新規作成ポリシー］タブ ..................................... 211G-3 ［システム管理］メッセージボックス ........................................ 212G-4 [ プロジェクト新規作成ウィザード – テーブルスペース］

ページ ......................................................................................... 213G-5 ［プロジェクトのプロパティ］ダイアログボックスの

［全般］タブ ................................................................................ 214G-6 ［解析メソッド新規作成］ダイアログボックス .......................... 215G-7 デフォルトに設定された ApexTrack 解析メソッド .................... 216G-8 ［波形解析］タブに表示された従来法のパラメータ ................... 217G-9 ［波形解析］タブに表示された ApexTrack のパラメータ ........... 218G-10 ApexTrack のピークラベル ........................................................ 221G-11 ApexTrack のクロスオーバーピーク .......................................... 221

図目次 12

表目次 13

1-1 ハードディスクスペースに対するサンプリングレートと

分析時間の影響 ........................................................................... 24

2-1 クロマトグラムの波形解析ピークラベル ..................................... 31

2-2 谷渡りの規則........................................................................... 68

3-1 波形解析のピークラベル .............................................................. 97

3-2 クロマトグラムの波形解析ピークラベル.................................106

3-3 接線スキムによって求められたピークのピークラベル ............126

3-4 指数スキムによって求められたピークのピークラベル ............128

3-5 従来法の波形解析で両立しないイベント.................................130

4-1 標準試料のピーク値、絶対検量線............................................... 144

4-2 標準試料のピーク値、内部標準試料の検量線作成

（単独の標準試料と未知試料を使用） .....................................148

4-3 標準試料成分の値、RF 内部標準試料の検量線作成

（単独の標準試料と未知試料を使用しない） ...........................153

4-4 未知成分の値、RF 内部標準試料の検量線作成

（単独の標準試料と未知試料を使用しない） ...........................153

4-5 標準的な式と原点通過の式の比較 ...........................................171

4-6 重み付け適用の結果 ...............................................................173

E-1 解析コード........................................................................... 179

G-1 ApexTrack波形解析のピークラベル .................................... 220

表目次

はじめに

『Empower ソフトウェアデータ取り込み / 解析理論ガイド』は、ソフトウェアが計算を行

うために使用する、データ取り込み、ピーク検出および波形解析、サンプル成分のピーク

一致および定量に関する Empower™ 理論の概要を説明しています。

クロマトグラムの原理を理解し、Empower ソフトウェアによるデータの取得、解析、レ

ポートに習熟しておく必要があります。

注記：解析パラメータの設定および限界値に関する詳細については、『Empower ヘルプ』を参照し

てください。

注記：このガイドでは、Empower プロフェッショナルインターフェースを使用しています。このイ

ンターフェースにアクセスできない場合は、システム管理者に問い合わせてください。

構成

本ガイドは、以下の章から構成されます。

第 1 章データ取り込みは、アナログ－デジタル変換正しいサンプリングレートの設

定について説明します。これらのプロセスは、ピーク検出 / 波形解析およびデータ分

析の前に行われます。

第 2 章 ApexTrack 波形解析は、 ApexTrack 解析法の理論を説明します。ピーク検出の

プロセス、アルゴリズム、イベント、ピーク解析のプロセス、イベント、パラメータ、

特定のイベントを組み合わせた場合の制限事項について説明します。

第 3 章従来法の波形解析は、ピーク検出のプロセス、アルゴリズム、イベント、ピー

ク解析のプロセス、イベント、パラメータ、特定のイベントを組み合わせた場合の制

限事項について説明します。

第 4 章サンプル成分のピークの同定および定量は、 Empower ソフトウェアを使用し

て、ピークを同定し、特定の成分量を計算するプロセスについて説明します。

付録 5 解析コードは、データ解析で生じた問題に関する解析コードの一覧が掲載され

います。

付録 6 データ解析システムポリシーは、データ解析のさまざまな側面を制御する 4 種

類のシステムポリシーについて説明します。

付録 7 入門：ApexTrack による解析は、ApexTrack 解析法を使用したピーク検出、波

形解析のプロセス、イベント、パラメータについて説明します。

はじめに 14

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『Empower ツールキットプログラマーズレファレンスガイド』：共通オブジェクトモデ

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はじめに 16

『インテグリティシステム入門ガイド』：Waters Integrity® System の特長を説明し、

Empower Mass Spectrometry（MS）オプションを使用するチュートリアルを掲載し

ています。

『Empower 自動アーカイブソフトウェアインストール / 構成ガイド』：Empower 自動

アーカイブオプションのインストールと設定手順を説明しています。

Web で提供される資料

関連製品情報および資料は、Web 上で参照することができます。弊社の Web アドレ

スは、http://www.waters.com です。

本ガイドの表記方法

本ガイドでは、次の表記規則を採用しています。

表記方法説明

紫色紫色の文字は、クリックするボタンやメニューの選択、コマンドなどユー

ザの動作を示します。例えば、「［次へ］をクリックして、次のページに進

みます」と表記しています。

イタリック（斜体）イタリック（斜体）は、変数などの入力する情報を示します。また、強調

部分や文書のタイトルを示します。例えば、「file_name を実際のファイル

名に置き換えてください」と表記しています。

Courier Courier は、ソースコードやシステム出力の例を示します。例えば、

「SVRMGR>プロンプトが現れます」と表記しています。

Courier Bold Courier のボールド体は、ソースコードの例で入力する文字や押すキーを示

します。例えば、「LSNRCTL> プロンプトに set password oracle を入力し、Oracle にアクセスします」と表記しています。

下線付き青色指定の章、節、小節、見出しへのハイパーテキスト（相互参照）を示して

います。手のマークでトピックをクリックするとドキュメント内のこのト

ピックに移動します。右クリックをして、ショートカットメニューから［戻

る］を選択すると、元のトピックに戻ります。例えば電気の接続について

は、セクション 1.5 の「Making Electrical Power Connections（電気の接続

を行う）」で説明されています。

キーキーとはキーパッドやキーボード上のキーを指します。スクリーンキーと

は、画面のすぐ下にあるキーを指します。例えば、「2414 検出器の A/B ス

クリーンキーは、選択されたチャンネルを表示します」と表記しています。

… 3 つのピリオドは、同じ種類の項目がオプションで続けられることを示し

ます。例えば、「filename1、filename2 を各フォルダに格納できます」と表

記しています。

はじめに 17

http://www.waters.com

注記

注記は、実行者にとって重要な情報を知らせます。例えば次のようなものです。

注記：次のステップに進む前に、結果を記録して下さい。

注意

「注意」は、システムまたは機器に損傷を与えることを防止するための情報を提供します。

例えば次のようなものです。

警告

「警告」は、実行者の安全にとって不可欠の情報を提供します。例えば次のようなものです。

> メニューオプション間にある右矢印は、各オプションを続けて選択する必

要があることを示します。例えば、「［ファイル］>［終了］」と表記してい

ます。これは、メニューバーの［ファイル］を選択し、［ファイル］メニュー

の［終了］をクリックすることを意味します。

STOP注意 : 検出器フローセルの損傷を避けるために、フローセルウィンドウには触れな

いで下さい。

警告 : 火傷を防ぐために、装置の入れ替えや調整を行う 30 分以上前にランプを消

してください。

警告 : 電気ショック、予想される事故を避けるために、メンテナンスを実行する前

には、検出器の電源を切り、装置背面から電源コードをはずしてください。

警告 : 化学的または電気的危険を避けるために、実験室安全基準（safe laboratory practices）を順守してください。

表記方法説明

はじめに 18

1
第 1 章データ取り込み
1.1 概要

1.1.1 データ取り込みとは ?クロマトグラムは、時間の経過に伴って一律にサンプリングされた一連の検出器レスポン

スのことをいいます。成分の溶出により、独特なクロマトグラムピークプロファイルが生

じます。

波形解析は、部分的または全体的に曲線で囲まれた面積を計算する計算プロセスです。ク

ロマトグラムピークの波形解析の目標は、これらのピークの保持時間、高さ、および面積

を求めることです。

ピーク波形解析では 2 つの鍵となるアルゴリズムを使用します。1 つはピークを検出し、

もう 1 つはそのベースラインを判定します。ピーク頂点とベースラインが既知である場

合、保持時間（RT）、高さ、面積を計算することができます。

1.1.2 解析とは ?解析とは、分離された成分の識別や量を判定するデータ操作のことをいいます。解析に

は、多くの場合、クロマトグラムのピークを調べ、標準試料から検量線を生成し、成分を

定量することが含まれます。

解析メソッドは、Empower ソフトウェアが、2D チャンネルまたは 2D 生成チャンネルか

らの未解析の生データを検出、波形解析、検量線作成、および定量する方法を定義しま

す。解析メソッドウィザードを使用すると、解析メソッドの作成が容易になり、レビュー

画面で解析メソッドを対話形式で作成することもできます。

未知試料（チャンネル）から取り込んだ未解析のデータで解析を開始します。異なる濃度

の標準試料を用い、多点検量線を作成することができます。解析メソッドをメソッドセッ

トに追加することで、ソフトウェアは生データを取り込んでいる間にその生データを処理

することができます。

概要 19

1

1.2 波形解析メソッド

Empower ソフトウェアは、ピーク検出とベースラインの決定の 2 つのメソッドを提供し

ます。

• ApexTrack 波形解析 – クロマトグラムの 2 次微分を使用してピーク頂点を検出しま

す。ピーク検出パラメータは、ベースラインのロケーションパラメータから独立し

ています。各ピークのベースラインは、立ち上がり % と立ち下がり % パラメータを

使用して決定されます。検索アルゴリズムは各ピークの頂点から開始して、下側お

よび外側に向かってベースラインを引きます。拡張しているベースラインが一致し、

分離しないときにクラスタとして識別されます。

注記：解析メソッドで ApexTrack 解析法の使用を選択するには、初にシステムとプロジェ

クトのポリシーを有効にする必要があります（セクション 7.2 ピーク波形解析を設定するを

参照）。

• 従来法の波形解析 – 傾きを一定の感度と比較し、ピークの立ち上がりを識別します

（第 3 章従来法の波形解析を参照）。ピークの立ち下がりは、適切な傾きの検出感度

に一致するまでクロマトグラムを続行し、形状、谷、頂点などを見つけるアルゴリ

ズムによって決定されます。

1.2.1 ApexTrack と従来法の波形解析の共通性

ApexTrack がピークの検出とベースラインの決定に使用するアルゴリズムは、従来法の解

析で使用されるアルゴリズムとは異なりますが、従来法と ApexTrack ではかなりの機能が

同じです。

• 自動ピーク幅と自動感度がサポートされています。

• ベースラインは実際のサンプリングされたデータポイントで開始および終了しま

す。

• 積分禁止、ピーク幅の設定、検出感度設定、小高さの設定、小面積の設定など

の時間イベントがサポートされています。

• ピークは手動で追加または削除できます。

• ピークの開始および停止マーカーは手動で変更できます。

データ取り込み 20

1

1.3 アナログからデジタルへの変換

Empower ソフトウェアがデータを取り込み、解析する前に、検出器のアナログ出力信号

をデジタル信号に変換しなければなりません。本節では、次の連続的プロセスについて説

明します。

• データの変換

• データの転送および保存

1.3.1 データの変換

アナログからデジタルへ（A/D）のデータ変換は、次の 2 とおりの方法で行われます（図

1-1 を参照）。

• IEEE-488 バスで制御される検出器（例えば、Waters® 996/2996 または 2487 検出器）

の場合は、アナログからデジタルへの変換は、検出器の内部で行われます。

• IEEE-488 でない検出器の場合、検出器はアナログ出力信号をクロマトグラフのイン

ターフェース（Waters busSAT/IN™ モジュール）に送信します。この信号の強さ

（µV）は、検出されたサンプルの濃度に対応しています。

入力可能なアナログ信号の電圧範囲は、–0.25 ～ +2.25 V です。信号の 1 mV が、

1,000 カウントに相当します（ここで、1 ハイトカウントは 1 µV と同等です）。例え

ば、1 AU が 1 V に等しくなるように設定されている検出器の場合、1 AU のピークは

ピーク高さ 1,000,000 ハイトカウントに等しくなります（ベースラインは 0 V）。

busSAT/IN モジュールは、両方とも、毎秒ごとに指定された回数だけ（これをサン

プリングレートと呼びます）アナログ信号をデジタル信号に変換します。

図 1-1 データ取り込みプロセス

busSAT/INモジュール

IEEE-488検出器

busLAC/Eカード

Empowerデータベース

Empower ソフトウェア

非 IEEE-488検出器

デジタル信号

（取り込みデータ）

デジタル信号

（ファイル）

アナログ信号

アナログからデジタルへの変換 21

1

1.3.2 データの転送 / 保管

ソフトウェアによるデータの転送と保管は、次のようにして行われます。

1. 変換されたデジタル信号は、busLAC/E™ カードや Equinox シリアルカード（両カー

ドとも、Empower ワークステーション、LAC/E32取り込みサーバ、または取り込み

クライアントにインストールすることができます）、あるいはコンピュータの COMポートに送信されます。

注記：2 つの異なる busLAC/E カードが使用可能です。つまり、（コンピュータの ISA カード

スロットで使用される）ISA busLAC/E カードおよび（コンピュータの PCI カードスロット

で使用される）PCI busLAC/E カードです。

2. 取り込まれたデータは、busLAC/E カード、Equinox シリアルカード、あるいは COMポートからコンピュータのハードディスクドライブに送信されます。

3. デジタル電圧値は、取り込まれ、解析されていないデータとしてコンピュータに保

存されます。保存されたデジタル値は、クロマトグラムの生データポイントです。

生データは、取り込み時にサンプルの分析画面で表示することができます。プロ

ジェクト画面のサンプルセット、インジェクション、およびチャンネルビューは、

現在のプロジェクトに存在する生データを表わしています。

図 1-2 は、一般的な分析成分の分析時間に関連して、取り込まれたデータポイント

がどのように表示されるかを示しています。

図 1-2 取り込まれたデータポイント

DetectorOutput

Signal (mV)

Time

Raw Data Points生データポイント

検出器アウトプット信号

(mV)

時間


1

1.4 サンプリングレートの検出

Empower ソフトウェアは、装置メソッド編集の関連する装置タブでユーザーが指定した

サンプリングレートに対してデータ取り込みポイントを指定します。取り込まれる生デー

タポイントが適切なクロマトグラムを表すためにはサンプリングレートを十分大きくす

る必要があります。しかし、必要以上のデータを取り込むほど高くする必要はありません。

液体クロマトグラフィ、ガスクロマトグラフィ、およびイオンクロマトグラフィでは、検

出対象となるも狭いピークのピーク開始から終了までの間に低 15 のデータポイント

を生成する適なサンプリングレートを設定することが必要です。このデータポイントの

適数 15 という値は、典型的な信号対ノイズ比と指数的に変換したガウシャンピークに

含まれるポイントによって決定された値です。

データ取り込み中に必要なハードディスクスペースの量は、サンプリングレートと分析時

間によって異なります（データ取り込み理論の詳細は、セクション 1.6 参考文献を参照し

てください）。

1.4.1 適なサンプリングレートの決定

適サンプリングレートは、次の式から決定することができます。

この場合、

SR = サンプリングレート（ポイント /秒）

15 = ピーク開始からピーク終了までのデータポイントの適値

W = 検出したいも狭いピーク幅（単位、秒）

例えば、測定されたピーク幅が 3 秒の場合、サンプリングレートを 5 に設定すれば、15の生データポイントのデータ取り込みが保証されます（15/3 = 5）。

注記：対象となるも狭いピークのデータポイントの数が 15 より少ない場合は、もっと大きいサ

ンプリングレートを指定してください。サンプリングレートを高くすると、データポイントが多く

生成されるため、データ保存用に大量のディスクスペースが必要となります（セクション 1.5 を参

照）。（上述の方法で）計算したサンプリングレートが使用できない場合には、使用可能なできるだ

け小さいサンプリングレートを設定してください。

1.4.2 データポイントの表示

レビュー画面の［ピーク］タブには、クロマトグラムの各成分の開始時間、終了時間、お

よびピーク内のポイント数が表示されます。これらは、どのレポートグループにも表示で

きるレポート可能なフィールドです。

SR 15W------=

サンプリングレートの検出 23

1

1.5 ディスクスペースに対するデータ取り込みレートの影響

データ取り込み中に必要なハードディスクスペースの量は、サンプリングレートと分析時

間によって異なります。表 1-1 に、種々のサンプリングレートと実行時間で取り込みされ

た単一チャネルのデータを格納するのに必要なハードディスクスペースの量を示します。

サンプルの分析でデータの取り込みを開始すると、Empower ソフトウェアは、使用可能

なディスクスペースの現在の量を判定します。十分なディスクスペースが存在しない場合

には、ソフトウェアは警告を表示し、取り込みは開始されません。分析と解析または分析

とレポートモード中にスペースが限られてきた場合には、すべての残りのディスクスペー

スを使いきるまで解析は停止され、取り込みが継続されます。

1.6 参考文献

データ取り込み理論の詳細については、以下の文献を参考にしてください。

『Chromatographic Integration Methods』、Dyson, Norman 著、The Royal Society ofChemistry, Thomas Graham House, Cambridge、1990 年

表 1-1 ハードディスクスペースに対するサンプリングレートと分析時間の影響

サンプリングレート

（ポイント / 秒）

取り込まれるデータポイント数

（毎分）

キロバイト数分析時間（分）（1024 バイト）

分析時間（分）

概算での使用使用される容量（キロバイト）

1 60 0.23 10 2.3

5 300 1.17 10 12.0

20 1200 4.69 10 47.0


2

第 2 章ApexTrack 波形解析

本章では、ApexTrack ピーク検出および波形解析の理論の概要を説明します。ステップご

との手順については、付録 7, 入門：ApexTrack による解析を参照してください。

2.1 特徴と機能

Empower ソフトウェアによる ApexTrack ピーク検出と波形解析には、下記の機能があり

ます。

1. 解析メソッドで既に設定されていない限り、クロマトグラムの適切なピーク幅と検

出感度の値を自動的に決定します。

2. クロマトグラムの中のピーク頂点を検出し、ピークとショルダーの位置を決定しま

す。

3. ピークを波形解析し、保持時間、面積、および高さを決定します。

解析メソッドは、Empower ソフトウェアが生データのファイル内でピークを検出して波

形解析するために使用するパラメータを定義します（検出 / 波形解析イベントも含まれま

す）。

注記：従来法の機能と同じ機能の詳細については、20 ページの「ApexTrack と従来法の波形解析の

共通性」を参照してください。

2.1.1 ApexTrack の特徴

Empower は従来法の波形解析と ApexTrack 解析の両方をサポートしています。「従来法の

波形解析」とは、Empower ソフトウェアによるデータの解析方法（ピークの検出とベー

スラインの決定）のことをいいます（第 3 章従来法の波形解析を参照）。ApexTrack の

データ解析方法は、従来法の波形解析とは異なります。

• ApexTrack は、ピークの立ち上がり点ではなく頂点でピークを検出します。

ApexTrack は曲率（2 次微分）によって頂点を検出します。対照的に、従来法の波形

解析では傾きの立ちあがりでピークを検出します（1 次微分）。

特徴と機能 25

2

• ApexTrack では曲率基準を使用するので、ショルダーピークを確実に検出できます。

• ApexTrack アルゴリズムは、試行ベースラインを下側および外側に向かって拡張し、

各ピークの頂点から開始してベースラインを見つけます。

• ApexTrack は、内部の傾きを比較することで、ピークの終点とクラスタベースライン

を決定します。その結果、ベースラインの場所は検出器のドリフトとは無関係にな

り、ApexTrack により、ベースラインが傾いても小さなピークを確実に波形解析でき

るようになります。

主要な特徴には、次の項目が挙げられます。

• ショルダーを検出 – ショルダーとラウンドピークの対を検出します。

• ガウシャンスキム – ガウスプロファイルを含むクラスタ内の複数のピークをスキム

処理します。

• 負のピークの検出と波形解析 – 負のピークおよび負（および正）ピークを含むクラス

タを波形解析します。ショルダー検出および負のピークのガウシャンスキム処理を

サポートしています。

2.1.2 ApexTrack による波形解析の方法

ApexTrack 解析法は 3 つの主要なプロセスで構成されています。

1. ピーク検出 – クロマトグラムの 2 次微分を使って頂点でピークを検出します。ベー

スラインの傾きはピーク検出に影響しません。（ApexTrack は曲率感度を使ってピー

ク頂点を検出します。従来法の波形解析はピークの立ち上がり点でピークを検出し

ます）。（詳細については、セクション 2.2 頂点の検出を参照してください）。

2. ベースラインの決定–立ち上がり%および立ち下がり%パラメータを使って各ピー

クのベースラインを決定します（詳細については、セクション 2.3 ベースラインの

位置とセクション 2.4 ピーク境界の決定を参照してください）。

ピーク検出とベースラインの決定は相互に独立した関係です。

3. ピーク面積、高さ、および保持時間（RT）の計算 – ピークを波形解析し、2 次曲線

への適合方法（5 点 2 次適合または 3 点 2 次適合）、あるいは、2 次微分頂点の時間

や高点の時間によってピークの高さと保持時間を決定します（詳細については、

セクション 2.5 波形解析結果の計算を参照してください）。

ApexTrack 波形解析 26

2

2.1.3 解析メソッドパラメータの概要

図 2-1 に、ApexTrack の初期設定の解析メソッドを示します。

図 2-1 ApexTrack の初期設定の解析メソッド

ApexTrack で使用可能な解析パラメータは次のとおりです。

• 波形解析アルゴリズム–ApexTrackを使用するか、従来法を使用するかを決定します。

システムポリシーとプロジェクトポリシーにより、ApexTrack を使用できるようにし

ます。この設定を有効にすると、従来法と ApexTrack 法の間で解析メソッドを切り

替えることができます（セクション 7.4.2 既存のプロジェクトでApexTrack解析法を

有効にするを参照）。

• 開始（分）および終了（分）– ApexTrack は開始時間と終了時間の間に位置する頂点

のみを検出します。［開始］および［終了］時間を設定すると、積分禁止と同様の効

果が得られます。これらの値は手動で入力するか、空白のまま（初期設定）にする

ことができます。［開始］が空白の場合、データの開始時間を意味し、［終了］が空

特徴と機能 27

2

白の場合はデータの終了時間を意味します。値を入力する場合、その範囲は 0 ～ 655分です。［開始］および［終了］に値が入っていない場合、［開始］の値は［終了］

の値よりも小さくなります。

下記の 2 つのパラメータでピークの検出を制御します

• ピーク幅（秒）– ピーク幅の値は、5% ピーク高さでのピークの幅（秒）を表わしま

す。この値は手動で入力するか、空白のまま（初期設定）にすることができます。そ

の範囲は、0.01 ～ 9999.9 秒です。ピーク幅のフィールドが空白である場合、ソフト

ウェアは解析メソッドの開始時間と終了時間の間のクロマトグラムの領域にピーク

幅の自動設定アルゴリズムを適用します。クロマトグラムの開始または終了時に積

分禁止イベントがある場合、ソフトウェアは積分禁止イベントが設定されていない

区間の初の良好なデータポイントから後の良好なデーターポイントにピーク幅

の自動設定アルゴリズムを適用します。ピーク幅の値はデータのスムージングのみ

を制御します。スムージングの効果は、ピーク間の小間隔を設定することです。一

般には、ピーク幅の値を小さくすることで、検出できるピーク数が増加します（セ

クション 2.6 ピーク幅パラメータを参照）。

• 検出感度 – 検出感度の値は、ピーク高さ（μV）と同じ単位に合わせたレスポンス単

位でのピーク間ベースラインノイズです。この値は手動で入力するか、空白のまま

（初期設定）にすることができます。その範囲は、0.000 ～ 1.000e+090μV です。検

出感度のフィールドが空白である場合、ソフトウェアは解析メソッドの開始時間と

終了時間の間のクロマトグラムの領域に自動感度アルゴリズムを適用します。クロ

マトグラムの開始または終了時に積分禁止イベントがある場合、ソフトウェアは積

分禁止イベントが設定されていない区間の初の良好なデータポイントから後の

良好なデータポイントに自動感度アルゴリズムを適用します。検出感度の値を少な

くすると、検出できるピーク数が増加します（セクション 2.7 検出感度パラメータ

を参照）。

注記：一般的に、積分禁止イベント、および開始時間と終了時間をクロマトグラムのベース

ライン範囲内に設定することをお勧めします。

下記の 2 つのパラメータでベースラインの位置を制御します

• 立ち上がり % と立ち下がり %– これらのパラメータは、ApexTrack がピークの開始と

終了、およびピーククラスタを識別するために、傾き差の感度を決定するときに使

用する値を定義します。立ち上がり % はピークの開始に使用され、立ち下がり % は

ピークの終了に使用されます。立ち上がり % の初期設定値は 0.0、立ち下がり % の

初期設定値は 0.5 で、値の範囲は 0 ～ 100％です。値を増やすと、立ち上がりまたは

立ち下がりが発生するピークのポイント数が増加します（セクション 2.3.1ApexTrack が傾き差の感度を決定する方法を参照）。


2

注記：GPC 解析メソッドでの立ち上がり % と立ち下がり % の大値は 5 です。 GPC での立

ち上がり % と立ち下がり % の初期設定値は 0.000 です。

2 つのパラメータでは、下記の指定値よりも小さいピークは除外されます。

• 小面積および小高さ – 波形解析結果に基づいてピークを除外します。

2.1.4 時間イベントの概要

ApexTrack ピーク検出と波形解析イベントは、［波形解析］テーブルの［種類］列で使用

することができます（図 2-2 を参照）。ApexTrack イベントは、すべての種類の解析メソッ

ドで使用することができます。ピークの統合イベントも GPC 解析メソッドで使用できま

す。

図 2-2 ApexTrack 時間イベント

特徴と機能 29

2

テーブルエントリで指定した時間範囲内で、下記の 4 つの ApexTrack 時間イベントを設

定することができます。

• ショルダーを検出 –ショルダーおよびラウンドピークの検出を設定します。ピークの

境界と波形解析結果は、ショルダーピークやラウンドピークの検出に影響します（セ

クション 2.8.2 ショルダーを検出イベントを参照）。

• 谷渡り – クラスタ全体に対するベースラインを各ピークごとの個別のベースライン

に変更する設定を有効にします（セクション 2.9.1 谷渡りを参照）。

• ガウシャンスキム処理 – 選択した垂直分割線をガウシャンスキムに変更する設定を

有効にします（セクション 2.9.2 ガウシャンスキムイベントを参照）。

• 負ピークを検出 – 負ピークの検出を可能にします（セクション 2.8.3 負ピーク検出可

イベントを参照）。

初期設定ではこれらの 4 つのイベントは設定されていません。これらのイベントは、任意

の組み合わせおよび任意の時間範囲で設定することができます。ただし、これらのイベン

トを重複して使用することはできません。

また、下記のイベントを設定し、解析メソッドに既に入力されている値を変更することが

できます。

• 積分禁止 – ピークを検出できる時間範囲を制限します（セクション 2.8.1 積分禁止イ

ベントを参照）。

• ピーク幅設定（秒）および検出感度設定 – メソッド内の立ち下がり感度 % の値を変

更します（セクション 2.8.4 イベント設定を参照）。

• 立ち上がり感度%設定および立ち下がり感度%設定 –対応するメソッドの立ち下が

り感度 % の値を変更します（セクション 2.8.4 イベント設定を参照）。

• 小面積設定および小高さ設定 – メソッド内の小面積の値を変更します（セク

ション 2.8.4 イベント設定を参照）。

ピークの統合イベントも GPC 解析メソッドで使用できます（セクション 2.9.3 GPC、

GPCV、GPC-LS、GPCV-LS のピークの統合イベントを参照）。

すべてのイベントは開始時間を必要とします。初期設定値は 0.000 分です。終了時間（分）

を持つイベントは、空白のままにしてこのイベントが分析の終了まで設定されていること

を示すか、または分単位で時間を入力することができます。開始および終了時間には、初

期設定で 3 桁の有効桁数を使用し、各パラメータの有効範囲は 0 ～ 655 分です。終了時

間が空白である場合を除き、開始時間は終了時間未満でなければなりません。


2

2.1.5 ApexTrack の波形解析ピークラベル

クロマトグラムの各識別されたピークには、ピークの開始および終了境界を説明する 2 文

字のラベルが付けられます。ピークの境界は文字のペアによって説明することができま

す。これらの文字は、レビューの結果画面およびメイン画面のピークタブの種類列に表示

されます。

波形解析イベントが何も設定されていない場合、各ピークはベースライン（B）または

ベースラインより上の谷（V）で開始または終了します。各ピークは以下のようにラベル

付けされます。

• BB はベースラインを分離しているピークを示しています。

• BV はクラスタを開始するピークを示しています。

• VB はクラスタを終了するピークを示しています。

• VV はクラスタ内のピークを示しています。

ApexTrack 解析法に固有な以下の 4 つ［分割の種類］文字が使用されます（図 2-1）。ショ

ルダー、ラウンド、ガウシャンスキム、クロスオーバー（セクション 7.7 結果のピークラ

ベルを参照）。

図 2-1 クロマトグラムの波形解析ピークラベル

ピーク名、開始または終了文字内容

ベースライン B ピークの境界はベースラインです。

谷 V ピークの境界は谷です。

ショルダーa S ピークの境界はショルダー位置にあります。

ラウンドa R ピークの境界はラウンド頂点です（セクショ

ン 2.2.6 ラウンドピークを参照）。

ガウシャンスキムa G ピークの境界のプロファイルはガウシャンスキム

です（セクション 2.9.2 ガウシャンスキムイベント

を参照）。

クロスオーバーa

a. 時間イベントを適切に設定する必要があります。

X ピークの境界線は、クロマトグラム信号がベースラ

インと交差する場所に発生します。このポイントを

はさむ両側のピークは、それぞれ反対の符号を持ち

ます（一方が正ならば、もう一方は負になります）。

詳細については、セクション 2.8.3 負ピーク検出可

イベントを参照してください。

特徴と機能 31

2

各文字の大文字と小文字は以下のことを示します。

• 大文字 –ApexTrack 波形解析が自動的に実行されました。

• 小文字 – ユーザーが手動で波形解析を実行しました。

例えばベースラインレベルが Bb なら、ピーク開始も終了もベースライン分離しており、

開始は自動で、終了は手動で調整されたことを示します。ApexTrack 手動波形解析の詳細

については、セクション 7.7 結果のピークラベルを参照してください。

2.2 頂点の検出

ApexTrack処理が起動された場合、データに適用される初の処理は頂点の検出です。ピー

クの頂点は大変曲点です。頂点の検出は曲率（傾きの変化率または 2 次微分）の測定に

基づいています。ApexTrack はピーク頂点での曲率を使用して、ピークおよび検出された

各頂点を含むピークに関連するアルゴリズムを検出します。ピーク頂点を検出してから、

ApexTrack はベースラインを見つけます（セクション 2.3 ベースラインの位置を参照）。

注記：2 次微分クロマトグラムでは、各ポイントでのクロマトグラムの曲率を測定し、プロットす

る前にその曲率に –1 を掛けてスケーリングしています。この規則では、正のピークの頂点正が曲率

を持ち、負のピークの頂点が負の曲率を持っています。

2.2.1 頂点の検出

ApexTrack ソフトウェアは以下の手順でピークを検出します。

1. ピーク幅パラメータを取得します。

2. ピーク幅を使用して 2 次微分スムージングフィルタを取得します。

3. 2 次微分フィルタを使用してクロマトグラムの 2 次微分（曲率）プロットを取得し

ます。

4. 2 次微分プロット内で、ピークの大（正のピーク）または小（負のピーク検出

が設定されている場合は負のピーク）時間の両方を探し、大値（正のピーク）ま

たは小値（負のピーク）での 2 次微分の値を記録します。

5. 検出感度パラメータを取得します。

6. 大値（正のピーク）または小値（負のピーク）に 2 次微分感度を適用し、検出

感度を超える曲率（正のピーク）を含む頂点のみ、または検出感度を下まわる曲率

（負のピーク）を含む頂点のみを残します。


2

2.2.2 頂点の検出パラメータ

下記の 2 つのパラメータで頂点の検出を制御します。

• ピーク幅

• 検出感度

ApexTrack は両方のパラメータの値を必要とします。ピーク幅および検出感度の値を手動

で解析メソッドに入力するか、自動ピーク幅と自動感度により、自動的に値を決定するこ

ともできます。自動ピーク幅の操作の概要については、セクション 2.6 ピーク幅パラメー

タを参照してください。自動感度の操作の概要については、セクション 2.7 検出感度パラ

メータを参照してください。

自動ピーク幅

自動ピーク幅はピーク幅の自動決定のことをいいます。解析メソッドでピーク幅のフィー

ルドが空白である場合、ソフトウェアは解析メソッドの開始時間と終了時間の間のクロマ

トグラムの領域に自動ピーク幅アルゴリズムを適用します。クロマトグラムの開始または

終了時に積分禁止イベントがある場合、ソフトウェアは積分禁止イベントが設定されてい

ない区間の初の良好なデータポイントから後の良好なデーターポイントにピーク幅

の自動設定アルゴリズムを適用します。

自動ピーク幅では、2 次微分の大ピークの 5% ピーク高さでピーク幅（秒）を測定しま

す。この値はクロマトグラムの波形解析で使用され、解析の結果に含められます。この値

を解析メソッドに入力し、以降の処理のために保存します。

自動感度

自動感度とは感度を自動的に決定することをいいます。解析メソッドで検出感度が空白で

ある場合、ソフトウェアは解析メソッドの開始時間と終了時間の間のクロマトグラムの領

域に自動感度アルゴリズムを適用します。クロマトグラムの開始または終了時に積分禁止

イベントがある場合、ソフトウェアは積分禁止イベントが設定されていない区間の初の

良好なデータポイントから後の良好なデーターポイントに自動感度アルゴリズムを適

用します。

自動感度では、ピーク間のベースラインセグメントにおけるピーク間ノイズを測定しま

す。自動感度では、ピーク間ノイズの値をマイクロボルト単位でレポートします。

ApexTrack では、この値をクロマトグラムの波形解析で使用し、解析の結果に含めます。

この値を解析メソッドに入力し、以降の処理のために保存します。

注記：ピーク検出理論の詳細については、セクション 2.12 参考文献に示した参考書を参照してくだ

さい。

頂点の検出 33

2

2.2.3 2 次微分プロットの取得

ApexTrack は、クロマトグラムの 2 次微分を計算することで、ピークを検出します。( 図2-3). 上のプロットは理想的なガウシャンピークを示しています。下部ピークはその 2 次

微分プロファイルを示しています。

図 2-3 ガウシャンピークとその 2 次微分

注記：本書のすべての 2 次微分プロットには –1 を掛けます。このため、正のピークは正の 2 次微

分として表されます。

2.2.4 ピークの検出

正のピークには単一の大曲率点があります。その大曲率点の時間はピークの頂点と

して識別されます（図 2-3 の 1 を参照）。

頂点の次のポイントが変曲点です（図 2-3 の 2 を参照）。これは頂点をまたいで位置して

おり、曲率は 0 です（2 次微分プロット上で 0 を通過します）。

ピークを下がっていくと、立ち上がり傾き点があります（図 2-3 の 3 を参照）。この点の

曲率は小になります。

ガウシャンピーク

ガウシャンピークの 2 次微分プロット

1

2

34

1

2

3

4

キー 1: 2 次微分の大値は両方のプロットでも高い点です。

2: 下のプロットで、変曲点は 2 次微分が 0 と交差する場所です。これらの点の時間は上のプロットまで転送されます。

3: 上のプロットの立ち上がり傾き点は、下のプロットの曲率小解です。

4: クロマトグラムのベースラインの 2 次微分は 0です。

2

3

2

3

0


2

後に、ベースラインに到達します（図 2-3 の 4 を参照）。この点での曲率は 0 です。ベー

スラインにかなりのドリフトがある場合でも、直線の曲率は 0 であるため、この時のベー

スラインの曲率は 0 になります。

2.2.5 分離ピークとショルダーピーク

図 2-4 には、シュミレーションされたピーク 4 種類の 2 次微分を示しています。も左に

は完全に分離したピークを示し、残りの三つは未分離ピークを含むクロマトグラムです。

ApexTrack はクロマトグラム信号の 2 次微分を取得し、その大を探し、ピークを検出し

ます。この処理では、ショルダーピークとラウンドピークを含む 7 つのすべてのピークを

識別します。

図 2-4 ベースライン分離ピーク、谷境界、ショルダー境界、ラウンド境界

注記：本書のすべての 2 次微分プロットには –1 を掛けます。このため、正のピークは正の 2 次微

分として表されます。

2 次微分プロット内の矢印は、「2 次微分頂点」と呼ばれる大値を指しています。すべ

ての未分離ピークは、それらの 2 次微分頂点により検出されます。

未解析のクロマトグラム

2 次微分

ベースライン分離ピーク

未分離ピーク（谷）

未分離ピーク（ショルダー）

波形解析されたクロマトグラム

未分離ピーク（ラウンド）

頂点の検出 35

2

2 つの 2 次微分頂点間のクロマトグラム信号内に小解がある場合は、未分離ピーク間に

谷垂線が追加されます。

2 つの 2 次微分頂点間のクロマトグラム信号内に小解がない場合は、未分離ピーク間に

ショルダー垂線が追加されます。

2 つの 2 次微分頂点間のクロマトグラム信号内に小解がなく、2 次微分プロット（頂点

間）の小値が 0 を超える場合は、未分離ピーク間にラウンド垂線が追加されます。

2.2.6 ラウンドピーク

ラウンドピークは、ほとんど同じ高さのピークが低分離度（0 ではない）で分離している

ときに発生します。2 つのピークが完全に分離していない場合、2 つのピークの間に谷が

形成される場合があります。分離度が低い場合には、その境界はショルダー（2 つのピー

クの高さが異なる場合）またはラウンド（2 つのピークの高さが同じ場合）になります。

注記：時間イベントのショルダーを検出が設定されている場合、ショルダーピークとラウンドピー

クが検出されます。ショルダー境界は（S）のラベルが付けられ、ラウンド境界は（R）のラベルが

付けられます。

図 2-5 は、2 種類の未分離ラウンドピークについて解説しています。左側のピークは谷境

界になっています。右側のピークはラウンドピークになっています。分離度が低いときに

は、谷が消失して、頂点が丸みを帯びるか平坦化されたラウンドピークとして現れます。

谷（およびショルダー）境界では、各頂点に対の（ひし形で示された）変曲点がまたがり

ます。ラウンド境界の特徴は、2 つの頂点が、同じ１対の変曲点を共有することです。

図 2-5 谷を持つ未分離（左）ピークと未分離のラウンドピーク（右）

谷

2 次微分

ラウンド

シュミレーションされた

クロマトグラム

負の曲率正の曲率


2

2.2.7 ピークテーブル内の 2 次微分頂点と変曲点

2 次微分頂点

各ピークの 2 次微分頂点の時間は、ピークテーブルの 2 次微分頂点というラベルの付い

た列に表示されます。一般に、この時間はピーク保持時間とは異なります。2 次微分頂点

の時間を保持時間に使用する場合、ピークコード I20 が表示されます。テーリングピーク

の場合、2 次微分頂点の時間は一般に保持時間より前になります。

一部の時間イベントでは、時間イベントが設定されているかどうかを判定するのに 2 次微

分頂点の時間が使用されます（セクション 2.8 ピーク検出イベントおよびセクション 2.9ピーク解析イベントを参照）。

解析メソッドを変更しても、ピーク幅パラメータを変更しなければ、特定のピークの 2 次

微分頂点に対して表示される値は変更されません。ただし、ショルダーを検出イベントが

設定されていないために、ピークからショルダー境界またはラウンド境界が削除されてい

る場合は唯一例外になります。ピークに「隠れた」ラウンドまたはショルダー境界がある

場合、解析メソッドを変更することによって、このピークに対して表示される 2 次微分頂

点が変更されることがあります。

変曲点

変曲点は頂点をまたいで位置しており、曲率は 0 です（2 次微分プロット上で 0 を通過し

ます）。ピーク変曲点間の時間は、ピークテーブルの変曲点幅（秒）というラベルの付い

た列に表示されます。

2.3 ベースラインの位置

有効な頂点が見つかると、ApexTrack はこれらのピークに関連するベースラインを決定し

ます。正のピークでは、ベースラインの位置にかかわる手順は次のとおりです。

1. 初に、各ピークの変曲点の間にベースラインを引きます。

2. 各変曲点に対して接線を引きます。

3. 変曲点ベースラインと各変曲点の接線（立ち上がり傾きと立ち下がり傾き）で勾配

差を比較します。

4. 傾き差の感度を決定します。ピーク開始の傾き差の感度は、（立ち上がり% x 勾配差）

/100 として定義されます。ピーク終了の傾き差の感度は、（立ち下がり % x 勾配差）

/100 として定義されます。

変曲点のある場所では、立ち上がり % または立ち下がり % は 100% です。

立ち上がり%または立ち下がり%が0の時は、ベースラインノイズに吸収されます。

ベースラインの位置 37

2

5. 傾き差の感度がそれぞれピーク開始およびピーク終了の基準に一致するまでベー

スラインを拡張します。

2.3.1 ApexTrack が傾き差の感度を決定する方法

解析メソッドは以下のピーク波形解析パラメータの値を必要とします（図 2-6 を参照）。

• 立ち上がり %（初期設定値は 0.000）

• 立ち下がり %（初期設定値は 0.500、ただし、GPC の初期設定値は 0.0）

図 2-6 ベースラインパラメータの設定

アルゴリズムは、立ち上がり % と立ち下がり % を基に各ピークの傾き差の感度を計算し

ます。ApexTrack は、これらの傾き差の感度を次のように計算します。

1. ピーク頂点をまたいで位置する変曲点を識別します。

2. 各変曲点で接線を引き、変曲点を結ぶベースラインを引きます（図 2-7 を参照）。

図 2-7 変曲点ベースライン

変曲点ベースライン

下がり傾き接線上がり傾き

接線


2

3. 2 つの傾きの差を計算します。 ∆m1 および ∆m2 （図 2-8 を参照）。

a. 上がり傾きの変曲点に引いた接線と変曲点ベースラインの傾き ∆m1。

b. 下がり傾きの変曲点に引いた接線と変曲点ベースラインの傾き ∆m2。

図 2-8 傾きの差の計算

4. メソッドからのベースライン % 感度を使用し、2 つの傾き差の感度（Tstart および

Tend）を計算します。

• Tstart = ∆m1 x（立ち上がり %）/100

• Tend = ∆m2 x（立ち下がり %）/100

2.3.2 ApexTrack が分離ピークのベースラインを見つける手順

ApexTrack は、各ピークで傾き差の感度基準に一致するまでベースラインを下側および外

側に向かって拡張します（図 2-9）。拡張される各ポイントで、傾き差の感度基準がテス

トされます。

∆m1 ∆m2∆m1 ∆m2∆m1 ∆m2


2

図 2-9 終ベースラインの計算

図 2-10 は、テーリングピークのシミュレーションと、シミュレーションを使用してベー

スライン分離したピークのベースラインをApexTrackがどのように見つけるかを示してい

ます。初期ベースラインは変曲点ベースラインです。ピークを下に移動するに従ってベー

スラインは拡張され、傾き差の感度がテストされます。各ステップごとに、ベースライン

の終端は、よりピークに接するようになります。ピークの開始、終了の両方で傾き差の感

度が満たされるとベースラインはそれ以上拡張されません。

矢印線の間の角度矢印線の間の角度開始終了


2

図 2-10 テーリングピークでのベースラインの検索例

2.3.3 ApexTrack がクラスタの仮想ベースラインを見つける手順

1. ApexTrack は、各ピークの終端が傾き差の感度基準に一致するまで、そのベースラ

インを拡張します。ピークが分離されていない場合、ベースラインを拡張していく

ことによりピークは重なります。図 2-11 は、ピークが 2 つあるクラスタの仮想ベー

スラインが重なるところを示しています。

図 2-11 クラスタピークの仮想ベースライン

変曲点ベースライン

終ベースライン

仮想ベースライン

仮想ベースライン


2

2. 拡張ベースラインが合流する場所を見つけることで谷を識別します。

3. この 2 つのベースラインを、1 つのベースラインに置き換えます。この新しいベー

スラインは、クラスタ内で初の仮想ベースラインの先頭を開始点とし、2 つめの

仮想ベースラインの後を終了点とします（図 2-12 を参照）。

図 2-12 クラスタベースライン

2.3.4 ApexTrack が終クラスタベースラインを決定する方法

ベースラインが 1 つにまとめられると、クラスタベースラインの先頭と終わりで傾き差の

感度がテストされます（図 2-12 を参照）。傾き差の感度が満たされない場合、ApexTrackは下記の操作を行います。

1. 前述のようにクラスタベースラインを拡張します。

2. 傾き差の感度が一致すると、ベースラインの拡張を停止します。

• 傾き差の感度 Tstart = （∆m1 x 立ち上がり %）/100

• 傾き差の感度 Tend = （∆m2 x 立ち下がり %）/100

3. 終ベースラインの真上でも高さの低いポイントから谷垂線をおろします。

2.3.5 立ち上がり % と立ち下がり % のベースライン位置での影響

ベースラインの位置は立ち上がり % と立ち下がり % によって制御されます。両方を 0%に設定すると、結果的にベースラインは検出器ベースラインに接します。両方を 1% に設

定すると、傾き差の感度は変曲点の勾配差の 1% になります（∆m1 と ∆m2）。結果のベー

仮想未分離ベースライン

拡張後の終ベースライン

谷垂線


2

スラインはピークの高さの約 1% で終わります。両方を 100% に設定すると、各ピークに

使用されるベースラインはそのピークの変曲点ベースラインになります。

ApexTrack は傾き差の感度の計算に割合を使用するため、一連のピークについて計算され

た傾き差の感度はピーク高さに比例します。したがって、大きなピークは大きな傾き差の

感度を持ち、小さなピークは小さな傾き差の感度を持ちます。これにより、単一のメソッ

ドで、同じ立ち上がり % 値と立ち下がり % 値を使用して、異なるサイズのピークを正常

に解析できます。

図 2-13 は、高さ比 1、1/10、1/100 を持つピークの例を示しています。この例では、初期

設定値の立ち上がり % ＝ 0 および立ち下がり % ＝ 0.5 を使用しています。

• 立ち上がりは各ピークで同じ時間です。

• 立ち下がりは各ピークで同じ時間です。

• 立ち下がりは各ピークで適切に配置されています。

図 2-13 大ピークの立ち下がり

中サイズ（1/10）のピークを拡大して表示すると、立ち下がりはうまく配置されています

が、傾きが異なることがわかります（図 2-14 を参照）。中サイズのピークの終了点はピー

クのテール部分に相対する点で発生します。

大ピークの立ち下がり

元のピークを1 とする

1/100 ピーク

1/10 ピーク


2
図 2-14 1/10 ピークの立ち下がり
小（1/100）ピークについて見てみると、立ち下がりはうまく配置されていますが、傾

きが異なります（図 2-15 を参照）。第 3 のピークの終了点はピークテーリングの同じ相対

する点で発生します。大ピークの傾き差の感度は小ピークの傾き差の感度の 100 倍

です。

図 2-15 1/100 ピークの立ち下がり

2.3.6 クラスタピークに対して立ち上がり % と立ち下がり % を変更した場合の影響

立ち上がり % と立ち下がり % を変更すると、ベースライン位置が変わり、これにより、

谷垂線の時間が変わる場合があります。これは、垂線が現在のベースラインから相対的に

も低いポイントに設定されるためです。

1/10 ピーク

1/100 ピーク

1/100 ピーク

1/10 ピーク


2

立ち上がり % と立ち下がり % を変更すると、ショルダー垂線が谷垂線になったり、反対

に谷垂線がショルダー垂線になることがあります。垂線がショルダーになるか、または谷

になるかは、ベースラインの傾きによって決まります。現在のベースラインに対する 2 つ

の隣接するピーク頂点の間に小解がある場合、垂線は谷境界（V）になります。小解

がなければ、垂線はショルダー境界（S）になります。立ち上がり % と立ち下がり % の

変更によってベースラインの傾きが変わったとき、ショルダー垂線は谷垂線に（または、

谷垂線はショルダー垂線に）なります。

ショルダーを検出が設定されていない場合、立ち上がり % と立ち下がり % の変更時に

ピークを追加または削除できます。ピークがショルダーかどうかは、現在のベースライン

を使用して決定されます。ショルダーを検出が設定されていない場合、ショルダーピーク

は現れません。ただし、立ち上がり % と立ち下がり % を変更すると、ベースラインの傾

きが変わります。そのピークの境界は、新しいベースラインに対して谷となるため、ピー

クが現れます。一般に、ショルダー境界をなくすと、2 つの隣接するピークを 1 つに結合

させるという効果があります。

2.4 ピーク境界の決定

頂点の検出とベースラインの決定の後、ApexTrack は各ピークの開始および終了を識別し

ます。初期設定の境界はベースラインと谷です。ピークがベースライン分離している場

合、開始および終了はベースラインの両端であり、B というラベルが付けられます。ピー

クがクラスタ内にある場合、ピーク間の境界は、谷の点に配置された垂直分割線であり、

V というラベルが付けられます（セクション 2.1.5 ApexTrack の波形解析ピークラベルを

参照）。

時間イベントは下記の追加の境界の種類を可能にします。

ショルダーを検出 – ショルダーを検出が設定されている領域では、ショルダーピークやラ

ウンドピーク間の境界は垂直分割線になり、それぞれ S と R のラベルが付けられます（セ

クション 2.8.2 ショルダーを検出イベントを参照）。

ガウシャンスキム – ガウシャンスキム処理が設定されている領域では、ガウスプロファイ

ルは垂直分割線に置き換えられ、新しいピークの境界には G のラベルが付けられます（セ

クション 2.9.2 ガウシャンスキムイベントを参照）。

負ピーク検出可 – ピーククラスタが負のピークのみで構成され、負ピーク検出可が設定さ

れている場合、ピーク開始および終了境界には B や V のラベルが付けられます。これら

の領域で、ショルダーを検出またはガウシャンスキムが設定されている場合は、S、R、G境界も表示されます（セクション 2.8.3 負ピーク検出可イベントを参照）。

ピーク境界の決定 45

2

クロスオーバー– クラスタが正および負のピークの両方を含む場合、クロマトグラム信号

はこれらの隣接するピーク間でベースラインをはさみ取ります。この場合、境界は交点で

あり、X のラベルが付けられます（セクション 2.1.5 ApexTrack の波形解析ピークラベル

を参照）。

2.4.1 動作のシークエンス

ピーク、ベースライン、境界の決定には、3 つの処理（頂点検出、ベースラインの位置決

め、境界の決定）に 4 つの時間イベント（負ピーク検出可、ショルダーを検出、谷渡り、

ガウシャンスキム）が組み込まれます。これらの処理の動作順序は以下のとおりです。

1. 頂点の検出

2. 負ピーク検出可イベントの処理

3. ベースラインの位置確定

4. ピーク境界の位置確定

5. 谷渡りの処理

6. ショルダーを検出イベントの処理

7. ガウシャンスキムイベントの処理

2.5 波形解析結果の計算

頂点が検出されると、ベースラインの位置が確定され、境界が識別されます。次に、

ApexTrack は各ピークの波形解析結果を取得します。すべてのピーク面積、保持時間、高

さは、ベースライン補正された信号を使用して計算されます。

注記：ApexTrack 解析では、ベースライン補正された信号を使って保持時間を決定します。これに

対して、従来の解析法では補正されていない信号を使って保持時間を決定します。相対的に平らな

ベースラインでは、保持時間の値は一致するか、有意でない程度の差が生じます。ピークがかなり

傾きの大きなベースライン上に位置する場合、ベースライン補正された信号に基づく ApexTrack の

計算のほうがより正確です。

ピークの境界の片方または両方がガウシャンスキムである場合は、ピークプロファイルや

ベースラインの部分はベースライン補正の前にスキムに置き換えられます。例えば、ピー

クがスキムを生成する場合、このスキムプロファイルは大きい方の（親）ピークのスキム

開始から終了時間の間のレスポンスを変更します。この同じプロファイルは、スキム処理

された小さなほうの（子）隣接ピークのベースラインになります。


2

2.5.1 ピーク面積

ピーク面積はシンプソンの公式によって得られます。隣接するサンプルポイントの対の

ピーク面積に対する影響度は、サンプルポイント（隣接するサンプルポイント間の時間で

あるサンプル期間を乗算した値）でのベースライン補正されたレスポンスの平均になりま

す。

2.5.2 ピーク高さ

ピーク高さは、保持時間でのベースライン補正されたレスポンスの値です。

2.5.3 保持時間

ピーク保持時間の取得

ApexTrack は、ピーク境界とピーク形状のプロパティに応じて、4 とおりの方法のいずれ

かによって保持時間と高さを決定します。ピークを検出すると、次の方法で保持時間と高

さが求められます。

• ピーク頂点のポイントに対する 2 次曲線の 5 点検量

• ピーク頂点のポイントに対する 2 次曲線の 3 点検量

• 2 次微分頂点の時間

• も高い点の時間

注記：ほとんどの条件下では、5 点 2 次適合を使用して、ピークの高さと保持時間が決定されます。

解析コードは報告されません。

注記：3点検量と2次微分の時間はApexTrackに固有であり、従来法による解析では使用できません。

注記：ApexTrack では、ベースライン補正された信号に 3 点および 5 点検量が使用されます。従来

法では、未補正の信号に対して、5 点検量のみが使用できます。

どの保持時間メソッドを使用するかを決定する規則

保持時間メソッドを決定するには、各ピークでテストの階層が実行されます。テストおよ

びテストの順序は以下のとおりです。

1. 2 次微分頂点の保持時間は以下のいずれかの場合に使用されます。

• ピークの境界がラウンド（R）ピークである場合。

• ベースライン補正された信号の高点がピーク境界にある場合。通常、これによ

り、2 次微分頂点からショルダーピークの保持時間が取得されます。

ピークの解析結果に報告された保持時間と高さが 2次微分頂点で計算されている場

合はいつでも、解析結果には解析コードの I20 が追加されます。

波形解析結果の計算 47

2

ピークの境界から外れているために 2 次微分頂点の保持時間を使用できない場合

は、代わりにも高いポイントにある保持時間が使用されます。ピークの解析結果

には、2 次微分頂点の保持時間を使用した試みが失敗したことを示す解析コードの

I23 が追加されます。

2. ピークが初のテストの基準に適合しないときは、次のいずれかの場合に 3 点検量

が使用されます。

• ピークの変曲点範囲のサンプルポイントが 4 ポイント未満の場合。

ピークの解析結果に報告された保持時間と高さが 3点検量から計算されている場合

はいつでも、解析コードの I19 が追加されます。

保持時間が検量に使用される 3 ポイントから外れている場合、2 次微分頂点値が使

用されます。ピークの解析結果には 3 点検量が試みられたが失敗したことを示す解

析コードの I22 が追加されます。ピークの解析結果に報告された保持時間と高さが

2 次微分頂点で計算されている場合はいつでも、解析コードの I20 が追加されます。

2 次微分頂点の保持時間がピークの境界から外れている場合は、代わりにも高い

ポイントにある保持時間が使用されます。ピークの解析結果には、2 次微分頂点の

保持時間を使用した試みが失敗したことを示す解析コードの I23 が追加されます。

3. ピークがいずれかのテストの基準に適合しないときは、5 点検量が使用されます。

• 解析コードは報告されません。

次のいずれかの場合、5 点検量が失敗することがあります。

• 検量に使用される 5 ポイントの初と後の点が、ピークの開始および終了時間

から外れて存在する場合。

• 検量から得られた保持時間が、検量に使用される5ポイントから外れている場合。

ピークの解析結果には、5 点検量が試みられたが失敗したことを示す解析コードの

I21 が追加されます。上記のいずれの場合も、次に 3 点検量が試みられます。ピー

クの解析結果に報告された保持時間と高さが 3点検量から計算されている場合はい

つでも、ピークの解析結果には解析コードの I19 が追加されます。

3点検量から得られた保持時間が検量に使用される3ポイントから外れている場合、

ピークの解析結果には、3 点検量が試みられたが失敗したことを示す解析コードの

I22 が追加されます。この場合、2 次微分値が試みられます。ピークの解析結果に

報告された保持時間と高さが 2 次微分頂点で計算されている場合はいつでも、ピー

クの解析結果には解析コードの I20 が追加されます。

2 次微分頂点の保持時間がピークの境界から外れている場合は、代わりにも高い

ポイントにある保持時間が使用されます。ピークの解析結果には、2 次微分頂点の

保持時間を使用した試みが失敗したことを示す解析コードの I23 が追加されます。


2

2.5.4 手動で調整したピークの保持時間と高さの値

ピークの保持時間、高さ、および面積を決定するには、ベースライン位置とピーク境界が

必要です。手動で決定したベースライン位置とピーク境界が自動で決定される時の値に一

致する場合、手動で決定した保持時間、高さ、および面積の各値は自動で決定される時の

値に一致します。

注記：保持時間と高さを 2 次微分頂点を使って計算する場合、I20 解析イベントが報告されます。

I20 ピークを手動で調整する場合、2 次微分値が使用できなくなるため、ソフトウェアは保持時間と

高さの計算方法を決定するのに別の規則を使用します。その結果、保持時間と高さは 5 点検量また

は 3 点検量、あるいはも高いポイントにある時間によって決定されます。

ショルダーを検出が設定されている場合は、ピークがショルダーまたはラウンドのピークに対して

I20 が報告されます。ショルダーを検出が設定されていない場合は、幅が狭く低いレベルのピーク

に対して I20 が報告されます。

2.6 ピーク幅パラメータ

2.6.1 ApexTrack でのピーク幅

数秒から数分にかけて広い範囲で幅が変動するピークでは別のシナリオが使用されます。

ApexTrack は解析メソッドへの入力としてピーク幅を必要とします。ピーク幅はデジタル

フィルタの幅を設定します。このデジタルフィルタは内部的に使用され、スムーズな、1次および 2 次微分クロマトグラムを得ることができます。ApexTrack では、ピーク幅の唯

一の役割はこれらのフィルタの幅を決定することです。

注記：フィルタをかけられたクロマトグラムの点数は、元のクロマトグラムと同じです。従来法に

よる解析とは異なり、データ点は ApexTrack でバンチングされません。ApexTrack 解析では、元の

またはフィルタをかけられたクロマトグラムを使用します。

フィルタの幅は追加されるスムージングの大きさを決定します。幅が広いフィルタでは、

スムーズ化された 1 次または 2 次微分クロマトグラムでのスムージングの程度が大きく

なります。スムージングにより高周波数成分（ノイズ）が削除され、クロマトグラムの特

性に対応する周波数（ピーク）が残されます。

クロマトグラムピークの幅を表すために、種々の規則を採用することができます。

ApexTrack 解析メソッドは、高さの 5% で測定されたピークの幅（秒単位）を入力として

予測しています（図 2-16 を参照）。

注記：分布の幅を測定するも一般的な方法は標準偏差です（SD）。ガウスピークでは、クロマト

グラムピーク幅は 4.0 × SD として定義されています。

ピーク幅パラメータ 49

2

ApexTrack では、5% 高さにおけるピーク幅を目視検査で測定し、その値をメソッドに入

力するか、または自動ピーク幅を使用してピーク幅を決定することができます。

図 2-16 ガウシャンピークでのピーク幅定義

2.6.2 自動ピーク幅

自動ピーク幅機能によりピーク幅が自動的に測定されます。クロマトグラムの領域は、1つまたは複数のピークを含んでいる必要があります。自動ピーク幅は、その領域にある

大の標準偏差を含むピークを選択し、ピーク幅を決定します。そのピークの幅は、変曲点

間の時間を実際に測定することで決定されます。この時間には係数の 4.89549/2 が掛けら

れます。これにより、ガウシャンピークの 5% における幅が与えられます。

下記の 2 通りの方法を使って、自動ピーク幅を計算する領域を選択します。

• クロマトグラムの領域を拡大表示し、（解析メソッドのピーク幅の設定）をク

リックします。ピーク幅は解析メソッドに入力されます。ユーザーがデータを解析

するときに、ApexTrack はこの値を報告および使用します。

• 解析メソッドのピーク幅フィールドは空白のままにします。ユーザーがデータを解

析するときに、自動ピーク幅は開始および終了時間の間の領域と、クロマトグラム

の開始および終了での積分禁止イベント間の領域を使用し、ピーク幅を決定します。

ApexTrack はこの値を報告および使用します。

変曲点での幅、2.0 x SD

ピーク高さの半分、2.4 x SD

クロマトグラムピーク幅、4.0 x SD

5% 高さ、4.9 x SD 1% 高さ、

6.1 x SD


2

2.6.3 自動ピーク幅の使用方法

ピーク幅フィールドが空白である場合、自動ピーク幅は開始および終了の間のデータと、

クロマトグラムの開始と終了での積分禁止イベント間のデータを使用し、ピーク幅を決定

します。開始および終了時間を選択し、インジェクションショックや初期条件に戻ること

に起因する変動を除外します。例えば、ボイドボリュームが含まれる場合、ApexTrack は

インジェクションショックを高ピーク（通常、非常に狭いピーク幅）として選択する可

能性があります。

開始および終了時間を適切に選択した場合であっても、自動ピーク幅は次のような状況下

で不正確な結果を提供する可能性があります。

• 大ピークが飽和している場合、ピーク幅の値は大きくなりすぎる可能性がありま

す。

• 大ピークが別のピークと共溶出している場合、ピーク幅の値は大きくなりすぎる

可能性があります。

• 大ピークがノイズを含む場合、自動ピーク幅はノイズアーティファクトの幅を測

定し、小さすぎる幅を生成する可能性があります。

これらの問題に対処するには、適切な幅を持つ適切なピークを含むクロマトグラムを拡大

表示し、（解析メソッドのピーク幅の設定）をクリックします。ピーク幅は解析メソッ

ドに入力されます。ユーザーがこのメソッドでデータを解析するときに、ApexTrack はこ

の値を報告および使用します。一般に、参照とする分離から得たピーク幅は以降の分離に

関連しています。

積分禁止イベントを設定すると（セクション 2.8.1 積分禁止イベントを参照）、自動ピー

ク幅は、積分禁止イベント外の初と後の良好なデータ点にあるデータを使用します。

例えば、積分禁止の開始時間が 0 分、終了時間が 1 分であり、別の積分禁止イベントが

開始時間 5 分から終了までの範囲である場合、自動ピーク幅は 1 分後の初の良好なデー

タ点と 5 分前の後の良好なデータ点を使用して計算されます。

2.6.4 ピーク幅パラメータの変動の影響

ベースライン分離されたピークでは、自動ピーク幅の値に関する幅の変動が、係数で 1.5までである場合、ピーク検出やベースラインの位置確定への影響は少ししかありません。

ピーク高さの範囲に広がる同時溶出ピークを含む複雑なクロマトグラムでは、係数 1.5 ま

での幅の変化（および自動感度による感度の再判定）により、どの低レベルピークが検出

されるかが変わる可能性があります。

ピーク幅パラメータ 51

2

係数で 2 まで幅を増加させる（および自動感度で感度を再決定する）と、ベースライン近

くのピークの検出が失われる可能性があります。ただし、このレベルを増加させると、検

出されるショルダーの数が減ります。

2.7 検出感度パラメータ

2.7.1 ApexTrack でのベースラインノイズ

以下の2つのノイズ源により、クロマトグラム信号に変動が追加される可能性があります。

• あらゆる検出プロセスにおいて避けられない統計的な変動

• 溶媒の流れに対する検出器のレスポンス

クロマトグラムピークからノイズピークを区別するために、ApexTrack は解析メソッドへ

の入力として検出感度を必要とします。ソフトウェアは、この値をベースラインノイズの

ピーク間ノイズとして解釈します（マイクロボルト単位）。

ApexTrack では、2 次微分されたクロマトグラムのベースラインノイズはベースライン自

体とピークを区別することに関連しています。図 2-17 は、2 つのクロマトグラムピーク

とベースラインノイズを示すクロマトグラムの 2 次微分です。

図 2-17 ベースラインノイズを示す 2 次微分

2次微分クロマトグラムのベースラインにあるノイズは元のクロマトグラムのベースライ

ンにあるノイズに比例します。したがって、ソフトウェアは元のクロマトグラムのベース

ライン内のピーク間ノイズから 2 次微分感度を獲得します。

内部的には、その感度が解析メソッドに入力され、曲率の値に変換されます（マイクロボ

ルト / 秒 / 秒）。この変換された値は 2 次微分クロマトグラムに適用されます。曲率感度

よりも上にくる2次微分を持つピークのみがピーク頂点の有効な検出点として受け入れら

初のピークベースラインノイズ

2 番目のピーク

ゼロ曲率

検出感度値


2

れます。正しく感度を選択することで、検出器ノイズによるすべてのアーティファクトを

除外し、有効なピークのみを受け入れることができます。

ApexTrack では、ベースラインのピーク間ノイズを目視検査で測定し、その値をメソッド

に入力するか（図 2-18 を参照）、または自動感度を使用して自動的にピーク間のノイズを

測定することができます。

図 2-18 ピーク間ベースラインノイズの例

2.7.2 自動感度

自動感度は自動的にベースラインノイズ振幅を判定します。自動感度はクロマトグラムの

領域とピーク幅の値を入力として必要とします。自動感度はピークのないクロマトグラム

内の領域を識別し、これらの領域でのピーク間ノイズを評価します。選択した領域は 1 つ

または複数のピークを含むか、またはピークがない場合もあります。正確な測定のために

は、ピークのないベースラインのセグメントを含む領域を選択し、その範囲が少なくとも

1 ピークの幅があることが必要です。

自動ピーク幅と同様に、自動感度への入力となる領域の選択には、下記の 2 とおりの方法

があります。

• クロマトグラムの領域を拡大表示し、（解析メソッドの感度設定）をクリックし

ます。（このボタンは、解析メソッドにピーク幅が入力されている場合のみ有効で

す）。感度は解析メソッドに入力されます。ユーザーがデータを解析するときに、

ApexTrack はこの値を報告および使用します。

• 解析メソッドの感度フィールドは空白のままにします。データを解析するときに、自

動感度は開始および終了時間の間の領域と、積分禁止イベントの開始から終了まで

の間を使用し、検出感度を決定します。ApexTrack はこの値を報告および使用します。

自動感度は、2 次微分クロマトグラムのノイズ領域を検証して感度を決定します。自動感

度は、2 次微分クロマトグラムのノイズを、元のベースラインで見られた同等のピーク間

ノイズ感度に変換し、この値を報告します。

4 x SD = ピーク間ノイズ

1 x SD

検出感度パラメータ 53

2

図 2-19 は、サンプルクロマトグラム（図 2-20 にそのベースラインを示します）の波形解

析を示しています。自動感度は感度を 23.00µV として報告します。

図 2-19 ベースラインノイズの自動測定

ベースラインを手動で拡大表示し、ピーク間ノイズを視覚的に評価することもできます

（図 2-20 を参照）。正および負の傾きを持つ直線はドリフトを示しており、ピーク間高さ

を評価できます。この例でのピーク間ノイズの大きさは、約25µVです。この値をApexTrackメソッドに入力できます。

図 2-20 ベースラインノイズの手動測定

2.7.3 自動感度の使用

検出感度フィールドが空白である場合、自動感度は開始時間と終了時間の間のデータ、お

よび積分禁止イベントの設定されていない区間のデータを使用して検出感度を決定しま

す。開始および終了時間を選択し、別の領域のノイズとは異なるベースラインノイズを含

む領域を除外します。

クロマトグラムの開始部分または終了部分で積分禁止イベントを設定すると（セクショ

ン 2.8.1 積分禁止イベントを参照）、自動感度は、積分禁止イベント外の初と後の良


2

好なデータ点の間にあるデータを使用します。例えば、積分禁止の開始時間が 0 分、終了

時間が 1 分であり、別の積分禁止イベントが開始時間 5 分から終了までの範囲である場

合、自動感度は 1 分後の初の良好なデータ点と 5 分前の後の良好なデータ点を使用

して計算されます。

解析メソッドパラメータを適切に選択した場合であっても、自動感度が正確でない数値を

算出する状況が存在します。多くの成分を含むクロマトグラムでは、ピークがない領域が

存在しない場合もあります。このようなケースでは、自動感度は高すぎる値を提供する場

合があり、したがって有効なピークは検出されません。この問題に対処するには、ベース

ライン領域を拡大表示し、検出感度を小ピークの高さに設定してください。一時的に検

出感度を 0.0 に設定すれば、これまで検出されなかったすべてのピークを確認できます。

2.8 ピーク検出イベント

ApexTrack では、時間イベントを設定することによりピークの検出を変更することができ

ます。ApexTrack ピーク検出のイベントは、［波形解析］テーブルの［種類］列で使用す

ることができます（29 ページの図 2-2 を参照）。

注記：66 ページのセクション 2.9に、ピーク解析に影響するApexTrackイベントを一覧表示します。

注記：81 ページのセクション 2.10 に、重複することができないイベントを一覧表示しています。

ピーク検出に影響を与える ApexTrack のイベントは次のとおりです。

• セクション 2.8.1 積分禁止イベント

• セクション 2.8.2 ショルダーを検出イベント

• セクション 2.8.3 負ピーク検出可イベント

• セクション 2.8.4 イベント設定ApexTrack解析では、次の設定イベントを有効にする

ことができます。

– ピーク幅の設定（秒）

– 検出感度設定

– 小面積設定

– 小高さ設定

2.8.1 積分禁止イベント

波形解析の禁止イベントは頂点検出を禁止します。したがって、積分禁止イベントの設定

されている区間に 2 次微分頂点が入る場合は、ピークの正負の向きにかかわらず

ApexTrack はピークの検出を行いません。（図 2-21 を参照）。このイベントがピークと重

ピーク検出イベント 55

2

なっている場合、重複しているピークの検出に影響を与えます。そのピークがクラスタ内

にある場合は、クラスタ内のベースラインの位置確定に影響を与えます。

注記：一般に、積分禁止イベント、開始および終了時間をクロマトグラムのベースライン部分に設

定することをお勧めします。

図 2-21 積分禁止イベント

このイベントは開始時間を必要とします。初期設定値は 0.000 分です。終了時間はオプ

ションで、初期設定値は空白（クロマトグラムの終了を意味します）です。イベントは値

を持ちません。このイベントは、谷渡りまたは別の積分禁止イベントを除く他のすべての

イベントと障害なく重複することができます。

自動ピーク幅および自動感度は、開始時間と終了時間および分析の初と後のすべての

積分禁止イベント内の初と後のデータ点を使用します。例えば、積分禁止の開始時間

が 0 分、終了時間が 1 分であり、別の積分禁止イベントが開始時間 5 分から終了までの

範囲である場合、自動ピーク幅と自動感度は 1 分後の初の良好なデータ点と 5 分前の

後の良好なデータ点を使用して計算されます。

2.8.2 ショルダーを検出イベント

注記：ガウシャンスキムイベントが設定されている領域で、ショルダーを検出イベントを設定して

おくことをお勧めします。大きなほうのピークから隣接するショルダーピークをスキム分離するた

めには、ショルダーの検出を設定しておく必要があるからです。

ショルダーを検出イベントは、ショルダーピークとラウンドピークを検出します（セク

ション 2.2.5 分離ピークとショルダーピーク、およびセクション 2.2.6 ラウンドピークを

積分禁止イベントが設定されていない 0 から 5 分の間に積分禁止イベントが設定されている


2

参照）。ショルダーおよびラウンドは、2 つの隣接するピークが、それらの間に谷がない

十分低い分離度で溶出するときに発生します。分解度が十分である場合、ApexTrack は、

曲率のみによって判別できる場合であっても各ピークを検出します（図 2-22）。

図 2-22 ショルダーを検出イベント（例）

ショルダーを検出イベントは停止時間を持ちますが、値はありません。このイベントは、

他のピークの統合イベントや別のショルダーを検出イベントと重複することはできませ

んが、他のすべてのイベントと重複することができます。

このイベントは、次のように機能します。

• ApexTrack アルゴリズムは、クロマトグラムの 2 次微分を使用し、曲率の大値とし

て正のピークを検出します。したがって、ショルダーとラウンドピークはその他の

ピークとともに検出されます。

• ショルダーを検出解析イベントを追加すると、ApexTrack は、イベントが設定されて

いる時間間隔内のすべてのショルダーおよびラウンド垂直分割線を保持します。

• ショルダー垂線には S のラベルが付けられ、ラウンド垂線には R のラベルが付けら

れます。

• このイベントを追加しない場合、個別のアルゴリズムがショルダーまたはラウンド

である頂点を判定し、これらを隣接するピークの中に折り込みます。

• 面積または高さが小さすぎるためにショルダーまたはラウンドピークが除外された

場合、ピークはピークのリストから削除されます。

検出されたショルダーピーク

親ピークと子ピークの間の

垂線

親ピーク

検出されたショルダーピーク


2

• 負ピーク検出可に設定すると、負のピーク内の負のショルダーとラウンドは残りま

す。

2.8.3 負ピーク検出可イベント

ApexTrack は、正のピークの符号と反対の符号を持つ曲率を含む頂点として負のピークを

検出します。負のピークは分離しているか、クラスタの一部である可能性があります（図

2-23 を参照）。クラスタでは、隣接するピークは高さに対して同じ符号または反対の符号

を持つことがあります。負ピーク検出可時間イベントを入力することで、負のピーク検出

を起動する必要があります。

注記：このイベントは、2 次微分頂点がイベント時間中に発生するピークに影響を与えます。

注記：クロマトグラムの正負が入れ替わる位置（交点）には、クロマトグラム内で「x」のマークが

付けられます。

図 2-23 負ピークの検出例

注記：適な結果を得るには、この時間イベントを控えめに使用してください。このイベントでは、

ピークまたはクラスタの前後に、安定した期間を持つ明瞭なベースラインが必要です（おおよそ 1ピーク幅の間）。ピークのないベースラインの領域にイベントの開始時間や終了時間を設定するよう

にしてください。

負ピークを検出イベントは終了時間（分）を持つことができますが、値を持ちません。こ

のイベントは、別の負ピークを検出イベントを除き、他のすべてのイベントと障害なく重

複することができます。

自動ピーク幅と自動感度は負のピークに対応します。したがって、両方の操作に負のピー

クを含めることができます。自動ピーク幅では、ピークの符号にかかわりなく、大ピー

交点

正ピークと負ピークを含むクラスタ

負ピークのみを含むクラスタ


2

クを使用してピーク幅パラメータの値を決定します。自動感度では、感度の決定に使用す

るベースライン領域の識別で、負および正のピークを除外します。

このイベントは、次のように機能します。

• 負ピークを検出イベントを設定した場合、ApexTrack は正および負のピークの頂点を

検出します。

• 負ピークを検出イベントを設定しなかった場合、ApexTrack は正のピークの頂点のみ

を検出します。

• クラスタに正と負のピークが含まれる場合に、負ピークを検出イベントを設定しな

いと、ApexTrack は多くの場合正のピーク間の谷として負のピークを検出します。

• ショルダーを検出とガウシャンスキムイベントは負ピーク検出可機能に対応してい

ます。これらのイベントを設定した場合、負側のショルダーピークおよびラウンド

ピークが検出され、垂直の境界をスキムベースラインに置き換えることができます。

2.8.4 イベント設定

イベントを設定すると、設定した位置から分析終了までの間、または次の近似するイベン

トが発生するまで、解析パラメータは元（イベントなし）の値からイベント設定値に変更

されてしまいます。全てを必要とする設定イベントは時間と値を必要とします。設定イベ

ントでは終了時間は使用できません。全てを必要とする設定イベントは、（同じ設定イベ

ントを含む）他のすべてのイベントと障害なく重複することができます。

ApexTrack 解析では、次の設定イベントを設定することができます。

• ピーク幅の設定（秒）

• 検出感度設定

• 小面積設定

• 小高さ設定

注記：立ち上がり感度 % 設定および立ち下がり感度 % 設定イベントについては、セクション 2.9

ピーク解析イベントを参照してください。

ピーク幅設定（秒）イベント

このイベントは、スムージングフィルタの幅を計算するのに使用されるピーク幅を変更し

ます。スムージングフィルタは 1 次および 2 次微分クロマトグラムを得るために使用さ

れます。このイベントは、イベント時間に対応するサンプルポイントから新しいフィルタ

セットを使用してすぐに機能します。


2

注記：ピーク幅設定（秒）イベントにより、残りの分析の間または別のピーク幅設定イベントが発

生するまで、元のピーク幅（秒）パラメータは無効になります。元の値に戻すには、その値を指定

する別のピーク幅設定イベントを設定する必要があります。

このイベントは開始時間を必要とします。初期設定値は 0.000 分です。終了時間は使用で

きません。このイベントは値を必要とし、初期設定では空白です。使用可能な値は 0.01～ 9999.99 秒です。

検出感度設定イベント

検出感度設定イベントにより、ピークリストにピーク頂点を追加するのに必要な検出感度

を再定義します（図 2-24 を参照）。値を大きくすると、小さいピークが除外されます。こ

のイベントは、イベント時間中に発生する 2 次微分頂点を含むピークに影響を与えます。

注記：検出感度設定イベントにより、残りの分析の間または別の検出感度設定イベントが発生する

まで、元の検出感度パラメータは無効になります。元の値に戻すには、その値を指定する別の検出

感度設定イベントを設定する必要があります。


きません。このイベントは値を必要とし、初期設定では空白です。使用可能な値は 0.0 ～

1.000e+090 です。このイベントは、ピークの 2 次微分頂点の時間に適用されます。


2

図 2-24 検出感度設定イベント

検出感度設定イベントなし

検出感度設定イベントを 500 に設定


2

小面積設定イベント

このイベントは、ピークリストに積分ピークを追加するのに必要な小面積を再定義しま

す（図 2-25 を参照）。このイベントは、イベントの期間中に発生する保持時間を含むピー

クに影響を与えます。

注記：小面積設定イベントにより、残りの分析に対してまたは別の小面積設定イベントが行わ

れるまで、元の小面積パラメータは無視されます。元の値に戻すには、その値を指定する別の

小面積設定イベントを設定する必要があります。



1.000e+90 µV • 秒です。


2

図 2-25 小面積設定イベント

小面積設定イベントなし

26.3 分での小面積設定イベントが20000


2

小高さ設定イベント

このイベントは、ピークリストに積分ピークを追加するのに必要な小高さを再定義しま

す（図 2-26 を参照）。高さは 106のスケールで調整されます。このため、検出器レスポン

スの単位が吸光度（AU）である場合、マイクロボルト単位の値を入力してください。こ

のイベントは、イベントの期間中に発生する保持時間を含むピークに影響を与えます。

注記：小高さ設定イベントにより、残りの分析に対して、あるいは別の小高さ設定イベントが

行われるまで、元の小高さのパラメータが無視されます。元の値に戻すには、その値を指定する

別の小高さ設定イベントを設定する必要があります。



1.000e+90 です。


2

図 2-26 小高さ設定イベント

小高さ設定イベントなし

26.3 分での小高さ設定イベントが 20000


2

2.9 ピーク解析イベント

検出されたピークに関連する解析結果を変更できる 5 つのイベントがあります。これらの

ApexTrack ピーク解析イベントは［波形解析］テーブルの［種類］列にあります（29 ペー

ジの図 2-2 を参照）。ピークの統合イベントも GPC 解析メソッドで使用できます。

注記：55 ページのセクション 2.8に、ピーク検出に影響するApexTrackイベントを一覧表示します。

注記：81 ページのセクション 2.10 に、重複することができないイベントを一覧表示しています。

すべてのイベントは開始時間を必要とします。初期設定値は、0.000 分です。終了時間を

持つイベントでは、終了時間（分）列を空白のままにして、このイベントが分析の終了ま

で設定されていることを示すか、または分単位で時間を入力することができます。開始お

よび終了時間には、初期設定で 3 桁の有効桁数を使用し、各パラメータの有効範囲は 0 ～

655 分です。終了時間が空白である場合を除き、開始時間は終了時間未満でなければなり

ません。

ピーク解析に影響を与える ApexTrack のイベントは次のとおりです。

• セクション 2.9.1 谷渡り

• セクション 2.9.2 ガウシャンスキムイベント

• セクション 2.9.3 GPC、GPCV、GPC-LS、GPCV-LS のピークの統合イベント

• セクション 2.9.4 立ち上がり感度 % 設定イベント

• セクション 2.9.5 立ち下がり感度 % 設定イベント

2.9.1 谷渡り

谷渡りイベントでは、谷境界（V）と交点（X）をベースライン境界（B）に置き換えるよ

うに ApexTrack に指定します。これにより、ピーククラスタに V 境界しか含まれていな

い場合、このイベントはそのピーククラスタを個々のベースライン分離されたピークに変

換します。B の時間は、置き換えられた V の時間と同じになります。谷渡りは、すべての

ピーク、ベースライン、境界が確立された後にのみ適用されます。一般に、ショルダー境

界とラウンド境界が谷渡りにより変更されることはありません。


2

図 2-28 は、谷渡りの結果として生じる新しいベースライン境界を示しています。ショル

ダーおよびラウンド境界は変更されないので注意してください。

図 2-27 ApexTrack で谷渡りなし

図 2-28 ApexTrack で谷渡りあり

谷渡りイベントなしショルダーを検出イベントを

オンにする

ショルダー垂線

谷垂線

谷垂線

ラウンド垂線

ラウンド垂線

谷渡りをオンにするショルダーを検出イベントを

オンにする

新しいベースラインポイント


新しいベースラインポイント

ラウンド垂線

ラウンド垂線

ピーク解析イベント 67

2

谷渡りイベントは負のピーク検出でもサポートされています。谷渡りは、すべての負の

ピークを含むクラスタと、負および正のピークを含むクラスタに適用することができま

す。


ションです。初期設定値は空白です。イベントに値を設定しません。このイベントは、

ピークを統合イベントや別の谷渡りイベントと重複設定することはできませんが、他のす

べてのイベントと重複することができます。

谷渡りの動作

谷渡りを設定すると、イベント領域内の V および X 境界は B 境界に変更されます。X ポ

イントは、リセット時に直近のサンプルポイントに移動されます。さらに、クラスタ内の

谷または交点が一つでもこのイベントによって B に変更された場合は、そのクラスタ内

にあるすべての X 境界は B 境界に変更されます（また、X 点は直近のサンプルポイント

に移動されます）。これにより、イベントを設定した領域外であるが、イベントによって

変更されたベースラインを含むクラスタ内にあるピークが影響を受けます。

B が確定された後に、新しいベースラインが引かれます。新しいベースラインがクロマト

グラム信号を貫通する場合、クラスタ内にあるがイベント設定されていない領域にある谷

またはショルダー境界は B に変更される可能性があります。ラウンド境界は変更されま

せん。

注記：ガウシャンスキムイベント（G）は、谷渡りが適用された後にのみ境界に適用されます。ガ

ウシャンスキム処理は、谷渡りが適用された後に残っている V および S 境界のみを対象としていま

す。

解析結果は、終ベースラインと境界が決定されたときに得られます。

表 2-2 谷渡りの規則

ラベル

境界上での谷渡りの効果

イベントを設定した領域にある場合イベントを設定していない領域にあるが、イ

ベントによって変更されたベースラインを含むクラスタ内にある場合

V B V または B（貫通を防止する場合）

X B B

S S または B（貫通を防止する場合） S または B（貫通を防止する場合）

R R（変更なし） R（変更なし）


2

クラスタ内に谷が 1 つある場合の谷渡りイベントの適用

図 2-29 では、短い時間間隔で 1 つの境界に対して谷渡りイベントを適用すると、ベース

ライン位置が変更されます。

図 2-29 ApexTrack での谷渡りの例

ピークを貫通しているベースライン

いずれピークを貫通する

ベースライン


2

ApexTrack の波形解析では、ほかに谷があればそれも B に設定します。この場所にイベン

トが設定されていない場合も、谷渡りアルゴリズムはイベントの開始前に Vを Bにリセッ

トします。こういった仕組みでないと、21.2 ～ 22.7 分の間に描かれる 22.4 分でピークを

貫通してしまいます。一般に、谷渡りイベントの結果としてベースラインが信号を貫通す

る可能性のある場合、１つまたは複数の V は B に変更され、貫通が防止されます。

注記：このイベントが機能するには、少なくとも 1 つの V 境界を含む必要があります。1 つのピー

ク頂点のみを含むイベントを設定しても、クロマトグラムで効果はありません。

谷渡りイベントは、すべてのピーク、ベースライン、境界が確立された後にのみ適用され

ます。

2.9.2 ガウシャンスキムイベント

隣接するピークが低分離度で溶出するときに、親ピークは子ピークのベースラインに影響

します。ApexTrack は親ピークのプロファイルのガウス外挿法を実行して、親子両方の

ピークの面積と高さをより適切に評価します（図 2-30 を参照）。変曲点での親ピークのプ

ロパティにより、ガウス曲線を表現するパラメータが決定されます。

谷またはショルダー境界の初期設定の境界は垂直分割線です。ガウシャンスキムイベント

が設定されていないときに、ピーククラスタで垂直分割線が発生します。ガウシャンスキ

ム処理が時間イベントによって起動されると、S または V 垂直分割線をガウシャンスキム

に置き換えるかどうかがアルゴリズムによって判定されます。

注記：ガウシャンスキムイベントが設定されている領域では、ショルダーを検出イベントを設定す

ることをお勧めします。隣接する大きい方のピークによってスキム処理されるショルダーピークに

対して、ショルダーを検出を設定する必要があります。

ApexTrack アルゴリズムはガウス曲線を引き、親ピークからの子ピークをスキム処理しま

す（図 2-30 を参照）。


2

図 2-30 ガウシャンスキムイベント（例）

ガウシャンスキム処理に使用される曲線は、単純なガウシャンピークの形状の一部です。

親ピークの面積は、新しいガウシャンプロファイルを考慮して計算されます。子ピークの

面積と高さは、このプロファイルを利用して子ピークのベースラインを基に計算されま

す。

谷垂線


谷垂線をガウシャンスキム

に置き換えるショルダー垂線をガウシャン

スキムに置き換える


2

ピークと同様に、面積や高さが小さすぎる場合、スキム処理されたピークは除外されま

す。スキム処理された小さい方のピークが除外された場合でも、親ピークのプロファイル

はスキムによって決定され、削除された小さい方のピークの面積はスキムによって除外さ

れたままになります。

注記：スキム処理されたピークが削除または除外されても、従来法の解析のようにそのピークの面

積が親ピークに戻されることはありません。

ApexTrack は前方スキムと後方スキムの両方をサポートします。ガウシャンスキムが設定

されている場合、スキム処理を行うかどうか決定するために、隣接クラスタ内のピークに

規則が適用されます。時間イベントは垂直分割線の時間に適用されます。

ショルダーを検出とガウシャンスキムは負ピーク検出可機能に対応しています。正のピー

クは正のピークのみにスキム処理されることが可能であり、負のピークは負のピークのみ

にスキム処理されることができます。手動によるスキム処理を実行することはできませ

ん。


ションです。初期設定値は空白です。イベントに値を設定しません。このイベントは、

ピークを統合イベントや別の谷渡りイベントと重複設定することはできませんが、他のす

べてのイベントと重複することができます。

ガウシャンスキム処理の動作

注記：GPC 解析メソッドでは、ガウシャンスキム規則が異なります。GPC 解析メソッドを使用す

る場合、親ピークが子ピークより小さくなることがあります。

スキム処理に使用される曲線は、単純なガウシャンピークの形の一部であり、このガウ

シャンピークの形は親ピークの変曲点で始まり、次のピークのベースラインの終端点で終

了するか（後方スキム）、または前のピークのベースラインの開始点から始まります（前

方スキム）。

親ピークの変曲点により、特定のスキム処理に対するパラメータが決定されます。

変曲点のプロパティには、次のものがあります。

• 溶出時間

• ベースラインより上の高さ

• ベースラインに対する傾き

ガウシャンスキムイベントのロジックは、どのピークをスキム処理するかと、これらが前

方スキムであるか、後方スキムであるかを決定し、スキムプロファイルを決定します。ガ

ウシャンスキムアルゴリズムには 3 つの部分があり、これらはイベントを設定している領

域に適用されます。


2

1. 第 1 のアルゴリズムでは、垂直分割線をガウシャンスキムに置き換えることができ

るかどうかを判定します。

2. 第 2 のアルゴリズムはスキムプロファイルを計算します。

3. 第 3 のアルゴリズムはスキムが有効がどうかを判定します。有効でない場合は、垂

直分割線が残されます。

注記：V（谷）および S（ショルダー）ラベルの付いたピークだけがスキム処理用としてみなされ

ます。R（ラウンド）ラベルの付いたピークはスキム処理されません。

これらのアルゴリズムに基づく規則により、スキムの開始点は、その位置、傾き、曲率に

ついてピークプロファイルと一致し、スキムがクラスタベースラインに漸近的に接近する

ようになります。

大きい方のピークがガウスプロファイルに類似するプロファイルを持っており、その変曲

点は小さい方のピークの存在によって影響を受けない場合、変曲点のプロパティは大きい

方のピークのスキムプロファイルを正確に推定するのに十分です。

注記：ガウシャンスキムイベントが設定されている領域では、ショルダーを検出イベントを設定す

ることをお勧めします。隣接する大きい方のピークによってスキム処理されるショルダーピークに

対して、ショルダーを検出を設定する必要があります。

例 1: 単純なガウシャンスキム

図 2-31 は、ガウシャンスキムを設定していないクロマトグラムを示しています。垂直分

割線は、小さい方のピークの開始を示します。

図 2-31 単純なクロマトグラムでガウシャンスキムを設定しない場合

図 2-32 は、同じクロマトグラムでガウシャンスキムを設定した場合を示しています。大

きい方のピークは、小さい方のピークのベースラインを形成するスキムプロファイルを生

成します。大きい方のピークの変曲点は、スキム開始ポイントとして使用されます。


2
図 2-32 単純なクロマトグラムでガウシャンスキムを設定した場合
例 2: 複雑なガウシャンスキム

図 2-33 は、より複雑なクロマトグラムでガウシャンスキムを設定しない場合を示してい

ます。

図 2-33 複雑なクロマトグラムでガウシャンスキムを設定しない場合

図 2-34 は、ガウシャンスキムを設定した図 2-33 の場合と同じ範囲のクロマトグラムを示

しています。規則に基づいて、どの垂直分割線をガウシャンプロファイルに置き換えるか

が決定されます。規則については 77 ページの「ガウシャンスキムピークの手動による削

除および修正の規則」を参照してください。ピークは、外側や大きい方のピークからスキ

ム処理されます。

親および子のピーク終了点

子ピークのスキム開始ポイント


2
図 2-34 単純なクロマトグラムでガウシャンスキムを設定する場合
例 3: 開始ポイントを変更したガウシャンスキム

ApexTrack の波形解析では、スキムベースラインがクロマトグラムを貫通することはでき

ません。大きい方のピークの変曲点からスキムが起動されるときに貫通が発生する場合、

スキムは再度位置を変えて開始されるか、削除されます。大きい方のピークのの近くに

ある小さい方のピークの変曲点の前に貫通が発生する場合、図 2-35 に示すように、ソフ

トウェアはスキム開始ポイントの位置を修正して、貫通しないようにします。ソフトウェ

アは小変曲点を使ってスキムを開始します（34 ページの図 2-3 を参照）。大きい方の

ピークのも近くにある小さい方のピークの変曲点の後に貫通が発生する場合、スキムは

削除されます。

図 2-35 例 3: 開始ポイントを変更したガウシャンスキム

変曲点は大傾き点として定義され、2 次微分は 0 です。ガウシャンピークでは、この点

はピーク高さの約 60% です。ApexTrack では、変曲点は 2 次微分の測定によって決定さ

れます（34 ページの図 2-3 を参照）。図 2-35 では、ピーク頂点をまたいで位置する変曲

点はひし形で示されています。

スキム開始ポイント




変曲点変曲点


2

例 4: 境界が削除されたガウシャンピーク

ガウシャンプロファイル境界を持つピークは、隣接するピークを変更せずに、小領域お

よび小高さ設定を使って手動で削除または除外することができます（図 2-36 を参照し

てください）。

注記：従来法と同様に、削除または除外されたピークの面積は隣接するピークに追加されません。

図 2-36 ピークを手動で削除した後のガウシャンスキム境界

ApexTrack がスキムパラメータを計算するタイミング

ガウシャンスキムアルゴリズムには 3 つの部分があり、これらはイベントを設定している

領域に適用されます。

1. 第 1 のアルゴリズムでは、垂直分割線をガウシャンスキムに置き換えることができ

るかどうかを判定します。

2. 第 2 のアルゴリズムはスキムプロファイルを計算します。

3. 第 3 のアルゴリズムはスキムが有効がどうかを判定します。有効でない場合は、垂

直分割線が残されます。

第 1 のアルゴリズムでは、垂直分割線をガウシャンスキムに置き換えることができるかど

うかを判定します。スキムは下記の条件が満たされたときに計算されます。

• 大きい方のピークと小さい方のピークの間の境界が谷またはショルダーである。

• 小さい方のピークの頂点が、大きい方のピーク変曲点の下側にある。各ピークが同

じ高さであるか、またはほとんど同じ高さである場合、ピーク境界は垂直分割線の

まま維持されます。

• 境界が谷である場合、谷の高さは小さい方のピークの10%高さよりも高くなります。

小さい方のピークが変曲点高さよりも低いが、谷高さが低すぎる場合、ピークは適切に分

離され、ピーク境界は垂直分割線のまま維持されます。

スキムプロファイルが維持されている状態


2

ガウス曲線の高さパラメータと幅パラメータ

第 2 のアルゴリズムはガウシャンスキムプロファイルを計算します。ガウシャンプロファ

イルの形状によって、小さい方のピークのベースラインが決まります。

ガウシャンプロファイルは、推定されるガウシャンピークの一部です。高さと幅の 2 つの

パラメータがこの推定ガウシャンピークの形状を制御します。アルゴリズムはこれらのパ

ラメータを調整します。これにより、変曲点にある大きい方の（親）ピークの高さは変曲

点にある推定ガウシャンピークの高さに一致し、変曲点にある大きい方の（親）ピークの

傾きは変曲点にある推定ガウシャンピークの傾きに一致します。

ApexTrack が垂直分割線を保持する場合

3 番目のアルゴリズムは、下記の条件下で垂直分割線を保持します。

• スキムの終了時に、スキムプロファイルの高さが大きい方のピークの 1% 高さより

も高い場合。

• スキムプロファイルがクロマトグラム信号を貫通する場合。

ピークのスキム処理が適当でないとスキムロジックが判定した場合、2 つのピークを区別

する垂直分割線は維持されます。

ガウシャンスキムピークの手動による削除および修正の規則

注記：ApexTrack でのマニュアル解析のガイドラインについては、7.8, マニュアル解析のガイドラ

インを参照してください。

• スキム処理された小さい方のピークまたはスキムを生成した大きい方のピークは手

動で削除することができます。いずれのケースでも、隣接するピークは影響を受け

ません。したがって、小さい方のスキム処理されたピークが除外または削除された

場合、大きい方の親ピークのプロファイルはスキムによって決定され、小さい方の

削除されたピークの面積はスキムによって除外されます。大きい方のスキム処理さ

れたピークが削除された場合、小さい方のスキム処理されたピークのベースライン

はスキムによって決定されます。

• 手動でスキム処理を実行したり、スキム処理された（子）ピークを手動で追加した

り、また、開始点または終了点を移動、あるいは垂直分割線を追加することによっ

て、スキム処理された（子または親）ピークを手動で変更することはできません。

初のピークの開始、またはクラスタ内の後のピークの終了でマーカーを移動する


2

ことで、スキム処理されたピークを含むクラスタのベースラインを手動で調整する

ことはできません。

• ［分割の種類］リストに G が記載されていないピークの垂線を手動で追加、削除、移

動する。

• スキム処理されたピークの開始と終了に一致する分割線を移動することはできませ

ん。

2.9.3 GPC、GPCV、GPC-LS、GPCV-LS のピークの統合イベント

ピークの統合イベントは、GPC 解析メソッド（GPCV、GPC-LS、GPCV-LS データ）で

のみ使用できます。このイベントは開始時間を必要とします。初期設定値は 0.000 分で

す。終了時間はオプションです。初期設定値は空白です。イベントには値を使用しません。

同じ符号（両方正または両方負の符号）を持ち、連続する n 個のピークが、垂直分割線に

よって区別されている場所にピークの統合イベントが設定されると、 n 個のピーク間の垂

直分割線は削除され、n 個のピークは 1 つのピークに統合されます図 2-37 を参照）。結果

のピークは、大の絶対値を含む高さのピークと同じ保持時間を持ちます。

ピークの統合イベントは、ショルダーを検出、ガウシャンスキム、谷渡り、または、別の

範囲に設定されたピークの統合イベントと重複設定することはできませんが、他のすべて

のイベントと重複することができます。


2

図 2-37 ピークの統合イベント（GPC、GPCV、GPC-LS、GPCV-LS）

2.9.4 立ち上がり感度 % 設定イベント

このイベントは、ApexTrack がピークの開始を識別するために、傾き差の感度を決定する

ときに使用する値を再定義します（図 2-38）。このイベントは、2 次微分頂点がイベント

時間中に発生するピークに影響を与えます。

注記：立ち上がり感度 % 設定イベントにより、別の立ち上がり感度 % 設定イベントが発生するま

で、残りの分析に対する元の立ち上がり感度 % パラメータは無効になります。元の値に戻すには、

その値を指定する別の立ち上がり感度設定イベントを設定する必要があります。

図 2-38 の上のクロマトグラムは、初期設定値の立ち上がり % ＝ 0.0 および立ち下がり %＝ 0.5 によるピークの波形解析を示しています。下のクロマトグラムは、2.5 分で立ち上

ピークの統合イベントの設定なし

ピークの統合イベントを分析全体に設定する


2

がり感度 % 設定イベントおよび立ち下がり感度 % 設定イベントを使用したクロマトグラ

ムの波形解析を示しています。

図 2-38 立ち上がり感度 % 設定イベントと立ち下がり感度 % 設定イベント

立ち上がり感度 % 設定イベントの有効値は、0.0 ～ 100% です（GPC 解析メソッドでは

0 ～ 5% です）。このイベントは開始時間を必要とし、初期設定では 0.000 分です。使用

可能な値は 0.0 ～ 655.0 分です。このイベントは、2 次微分頂点がイベント時間中に発生

するピークに影響を与えます。

立ち上がり検出感度 % イベントおよび立ち下がり検出感度 % イベントは、互いに独立し

て使用することができます。

立ち上がり %=0立ち下がり %=0.5

2.5 分での立ち上がり感度 % 設定 =202.5 分での立ち下がり感度 % 設定 =20


2

2.9.5 立ち下がり感度 % 設定イベント

このイベントは、ApexTrack がピークの終了を識別するために、傾き差の感度を決定する

ときに使用する値を再定義します（図 2-38 を参照）。このイベントは、2 次微分頂点がイ

ベント時間中に発生するピークに影響を与えます。

注記：立ち下がり感度 % 設定イベントにより、別の立ち下がり感度 % 設定イベントが発生するま

で、残りの分析に対する元の立ち下がり感度 % パラメータは無効になります。元の値に戻すには、

その値を指定する別の立ち下がり感度設定イベントを設定する必要があります。

図 2-38 の上のクロマトグラムは、初期設定値の立ち上がり % ＝ 0.0 および立ち下がり %＝ 0.5 によるピークの波形解析を示しています。下のクロマトグラムは、2.5 分で立ち上

がり感度 % 設定イベントおよび立ち下がり感度 % 設定イベントを使用したクロマトグラ

ムの波形解析を示しています。

立ち下がり感度 % 設定イベントの有効値は、0.0 ～ 100% です（GPC 解析メソッドでは

0 ～ 5% です）。このイベントは開始時間を必要とし、初期設定では 0.000 分です。使用

可能な値は 0.0 ～ 655.0 分です。

立ち上がり検出感度 % イベントおよび立ち下がり検出感度 % イベントは、互いに独立し

て使用することができます。

2.10 ApexTrack と両立しないイベント

注記：すべての設定イベントは、同じ設定イベントを含め、他のすべてのイベントと障害なく重複


下記の ApexTrack 時間イベントは、以下に定義するように同時に設定することはできませ

ん。

• 負ピークを検出イベント – このイベントは別の負ピークを検出イベントと同時間内

に設定できませんが、他のすべてのイベントと重複できます。

• ショルダーを検出イベント – このイベントはピークの統合イベントや別のショル

ダーを検出イベントと重複することはできませんが、他のすべてのイベントと重複


• ガウシャンスキムイベント – このイベントはピークの統合イベントや別のガウシャ

ンスキムイベントと他のすべてのイベントと重複することができます。

• 積分禁止イベント – このイベントは別の積分禁止イベントと重複することはできま

せんが、他のすべてのイベントと重複することができます。

ApexTrack と両立しないイベント 81

2

• ピークの統合イベント – このイベントは、ショルダーを検出、ガウシャンスキム、谷

渡り、または別のピークの統合イベントと重複することはできませんが、他のすべ

てのイベントと重複することができます。

• 谷渡り – このイベントはピークの統合イベントや別の谷渡りと重複することはでき

ませんが、他のすべてのイベントと重複することができます。

2.11 時間イベントが起動するタイミング

下記のイベントは、ピークの 2 次微分頂点がイベント時間中に発生する場合に影響を与え

ます。

• 積分禁止

• 負ピークを検出

• 検出感度設定

• 立ち上がり感度 % 設定

• 立ち下がり感度 % 設定

下記のイベントは、ピークの保持時間がイベント時間中に発生する場合に影響を与えま

す。

• 小面積設定

• 小高さ設定

下記のイベントは、垂直分割線がイベント時間中に発生する場合に影響を与えます。

• ショルダーを検出

• ガウシャンスキム

• 谷渡り

• ピークの統合（GPC のみ）

下記のイベントは、時間イベントを設定した直後のデータポイントに影響を与えます。

• ピーク幅の設定（秒）


2

2.12 参考文献

ApexTrack ピーク検出および波形解析の理論の詳細については、以下の参考書をご参照く

ださい。

『ApexTrack Intergration：Theory and Application』、Waters Corp., Milford, MA, 2002年（www.waters.com）

参考文献 83

3

第 3 章従来法の波形解析

Empower ソフトウェアによる従来法のピーク検出および解析には、次のような機能が含

まれます。

• 解析メソッドですでに設定されている場合を除き、クロマトグラムの適切なピーク

幅および検出感度の値を自動的に決定する。

• クロマトグラムの中のピークを検出し、それらの位置を決定する。

• ピークを波形解析し、保持時間、面積、および高さを決定する。

解析メソッドは、ソフトウェアが生データのファイル（チャネル）内でピークを検出して

波形解析するために使用するパラメータを定義します（検出 / 波形解析イベントも含まれ

ます）。

3.1 ピークの検出

ピークの検出は、次のプロセスで構成されます。

1. データバンチングの実行

2. ピーク開始ポイントの決定

3. 仮想ピーク頂点の決定

4. ピーク終了ポイントの決定

5. 解析メソッドのピーク幅および検出感度の決定

6. 積分禁止

検出アルゴリズムは、まずシグナルの変化率を設定した受け入れ基準と比較して、取り込

まれた生データファイルのピークの開始と終了を決定し、ピークの存在を確認します。こ

れらピークの検出テストはピークを波形解析する前に必ず行います。

ピーク検出テストの基準を決定するにはいくつかの方法があります。

• レビューの解析メソッド画面の［波形解析］タブにあるピーク幅と検出感度の選択

項目

• レビューのメイン画面の解析ツールバーまたは［解析メソッド編集］

• レビューの解析メソッド作成ウィザード

ピークの検出 84

3


さい。

3.1.1 データバンチングの実行

検出アルゴリズムが、データをテストしてピークの存在を調べる際には、個々の生データ

ポイントを個別のグループ、すなわちバンチ（群）にまとめて平均し、1 つのポイントを

生成します。バンチにまとめられるデータポイントの数は、ピーク幅パラメータによって

設定されます。

ほとんどの場合、サンプリングレートが適化されていれば、データの各バンチは 1 つの

ポイントになります。データバンチングは、取り込まれた生データに影響を与えません。

データバンチングは、ピークの開始と終了を判別するプロセスを強化するために使用され

る内部計算機能です。ピークが必要以上のデータポイントを含む場合、バンチングされた

データはピークを検出するためだけに使用されます。即ち、全ての生データポイントが波

形解析に使用されます。

図 3-1 に、ノイズの多いデータでのバンチング効果を示します。この例では、ピーク幅は

60 で、サンプリングレートは 1 に設定されており、検出アルゴリズムは 4 つの生データ

ポイントを 1 つにバンチングしてデータポイントを生成しています。その結果、まとめら

れたデータの数は（60 秒のピーク内で 60 個のデータポイントがある）15 に適化され、

データを効果的にスムージングします。

図 3-1 データのバンチングの例

��

��

��

生データ

1 つに平均化した4 つのデータポイント

バンチングされたデータ

従来法の波形解析 85

3

検出には、ソフトウェアは次の式を用いたバンチでポイント数を計算します。

この場合、

PB =バンチでのポイント

PW = ピーク幅（秒単位）

SR =サンプリングレート（データポイント /秒、取り込みに使用した装置メソッ

ドでユーザーが指定した値）

注記：このピーク検出アルゴリズムは各ピークの開始から終了までのデータポイントが 15 のとき、

もっとも効果的に機能します。理由は、ピーク幅を前述の式のように設定すれば、ソフトウェアは

生データを 15 の独立したバンチに編成するからです。ピーク幅を 15、サンプリングレートを 1 に

設定すると、データポイントはバンチングされません。全てのデータポイントがピーク開始と終了

を検出するために使用されます。

3.1.2 ピーク開始の決定

解析メソッドで設定される立ち上がりの検出感度は検出されたピークの開始またはそれ

を超えた箇所でのシグナルの小傾き（µV/ 秒）と定義されます。

注記：デフォルトでは、負のピークの検出は行いません。負ピーク検出可イベントを設定する方法

については、セクション 3.3 ピーク検出イベントをご参照ください。

ピーク開始を決定するために、ソフトウェアの検出アルゴリズムは以下のことを行いま

す。

1. シグナルに対して検出感度テストを行います。

a. ソフトウェアは 2 つのデータバンチ間のシグナルの傾きを平均化し、立ち上が

りの検出感度と比較します（図 3-2 を参照）。

b. バンチ B1 とバンチ B3 間のシグナルの平均傾きが立ち上がりの検出感度値の場

合、ソフトウェアは B1 を有望なピークの開始点としてフラグを立てます。

2. 実際の開始を決定するために B1 バンチの個々のポイントを調べます。正のピーク

の場合、これは小 Y 値をもつデータポイントになります。負のピークの場合、こ

れは大 Y 値をもつデータポイントになります。

PB PWxSR( )15

--------------------------=


3

図 3-2 有望なピーク開始の判定

3.1.3 仮想ピーク頂点の決定

ピーク開始点が確認された後、仮想ピーク頂点（ピーク大値）を決定するために、ソフ

トウェアは次のことを行います。

1. 傾きの符号が正から負へ変わるまでシグナルをモニタします。負のピークの場合、

傾きの符号は負から正に変わります。

2. 傾きの符号が変化した個所のバンチ（図 3-3 のバンチ B12）を解析し、理論的ベー

スラインからも離れたバンチ内のデータポイントを仮のピーク頂点に指定しま

す。

注記：これは仮想ピーク頂点です。なぜなら、ソフトウェアは波形解析が行われベースライ

ンが指定されるまで実際のピーク頂点を決定しないからです。

��

��

��

��

��

!��"��#��$��%

��

��

�� &��

'�&��&&�!��

� �

�� (

��

��

�� (

�� )��

�� (

有望なピーク開始

傾き 2

立ち上がり検出感度の傾き

理論的ベースライン（波形解析により変化する）

平均の傾き

傾き１

傾き 1

平均の傾き

傾き 2

傾き 2傾き 1


3
図 3-3 仮想ピーク頂点の決定
3.1.4 ピーク終了の決定

ピーク終了を決定するために、ソフトウェアは以下のことを行います。

1. シグナルの傾きを立ち下がり検出感度と比較します。2 つの連続する傾きが検出感

度の値より小さければ、アルゴリズムは後方のバンチングされた後のデータポイ

ントを有望なピーク終了点とします。

2. 現バンチおよび次のバンチの中の個々のデータポイントを調べて、実際のピーク終

了点を決定します。正のピークの場合、これは小 Y 値をもつデータポイントにな

ります。負のピークの場合、これは大 Y 値をもつデータポイントになります。

3. ピーク終了のテスト中に、傾きの符号の変化をチェックします。立ち下がりが決定

される前の符号の変化は、仮想ピークの谷（現ピークの終了および次ピークの開始）

を示しています。

注記：これは仮想ピークの終了 / 開始です。なぜなら、ソフトウェアは、解析処理が行われ

ベースラインが割り当てられるまでは、ピークの実際の終了点を決定しないからです。

4. このピークの開始から、ピーク頂点テストを行い、ピークの立ち下がりの判定に成

功するまでこれを続けます（図 3-4 を参照）。

B1

B5

B10

B12

B13

B14

B17

B20

B24

Peak Start Point

Positive Slope

Peak Apex Point

Negative Slope

Theoretical Baseline

ピーク頂点ポイント

負のポイント

ピーク開始ポイント

理論的ベースライン

正のポイント


3

図 3-4 ピーク終了の決定

3.1.5 ピーク幅および検出感度の決定

ソフトウェアは、ピーク幅と検出感度を自動的に設定するためにピークの 2 次微分値を使

用しています。

注記：［システム管理］>［表示］>［システムポリシー］を選択し、［その他のポリシー］で［V3.0xのピーク幅と検出感度の計算方法の使用］を選択することによってミレニアム 32 の前のバージョン

で使用されたピーク幅および検出感度を使用することが可能です（付録 6, データ解析システムポリ

シーを参照）。このシステムポリシーが有効な場合、［ピーク幅］ボタンと［検出感度］ボタン、解

析メソッドウィザード、解析メソッド、および結果はすべてミレニアム 32 の前回のバージョンと同

じように機能します。

ピーク幅の値

ソフトウェアは、クロマトグラム領域でも高い 2 次微分値をもつピークの 2 次微分の

変曲点を用いて、自動的にピーク幅値（自動ピーク幅）を決定します。

ソフトウェアはピークの検出時に、ピーク幅値を使用してバンチング係数を（セクショ

ン 3.1.1 データバンチングの実行を参照）決定するため、ピーク幅はピーク検出工程の感

度に影響を与えます。指針では、ソフトウェアが設定するピーク幅値の± 2 倍の範囲内で

ピーク幅値を使用します。

信号対ノイズ（S/N）比が許容可能であれば、この範囲の高い方のピーク幅値が感度を増

加させることができ、比較的小さなピークでも正しく波形解析することができます。ただ

し、大きなピークにショルダーがあるような場合には、ショルダーピークが検出されない

かもしれません。この範囲以上にピーク幅を大きくすると、感度が低下します。

��*

��

��

�� +

�� &!�� !��

��, �-��

立ち下がり検出感度の傾き

この領域内でのピーク終了


3

ピーク幅を設定する妥当な範囲は0.01から9999.99です。ピーク幅の初期値は空欄になっ

ています。

レビューでピーク幅を設定する方法はいくつかあります。

• レビューの解析メソッド作成ウィザードを使用し、新規の解析メソッドを作成する

か、既存の解析メソッドを編集する際、ソフトウェアは［波形解析］- 波形解析領域

ウィザード画面でズームアップした領域に含まれるデータを用いて自動的に適切な

ピーク幅を決定します。

• レビューのメイン画面でデータを表示する際に、波形解析ツールバーで［ピーク幅］

ボタンをクリックすると、現在の拡大領域内でもっとも高い 2 次微分値を有するピー

クに対してピーク幅を自動的に設定します。

• 有効な解析メソッドで設定されるピーク幅がない場合、［解析］>［波形解析］を選

択して（またはツールバーの［波形解析］ボタンをクリックして）データを波形解析

します。ピーク幅は（もしクロマトグラムの開始および / または積分解析の禁止イベ

ントがなければ）全クロマトグラムの中でこのデータに従って自動的に設定されま

す。

クロマトグラムの領域はクロマトグラムの初またはクロマトグラムの初に開始

する積分禁止イベントの終了時内においてピーク幅を設定するのに使用されます。

クロマトグラムの領域はクロマトグラムの後またはクロマトグラムの後に終了

する積分禁止イベントの開始時間においてピーク幅の終了を設定するのに使用され

ます。

ピーク幅を設定する際、クロマトグラムの初と後に重複しない積分禁止イベン

トは無視されます。

注記：この方法を使用した場合、ピーク幅は［結果のピーク幅］フィールドにのみ表示され

ます。解析メソッドのピーク幅は空欄のままです。ショートカットメニューから［解析メソッ

ドへのコピー］を選択することによって、［結果のピーク幅］値を［メソッドのピーク幅］

フィールドにコピーすることができます。

• レビューのメイン画面の波形解析ツールバーまたは解析メソッド画面の［波形解析］

タブで値を入力することによってピーク幅を設定します。

注記：も高い 2 次微分値を有するピークが未分離の場合、決定されたピーク幅は適では

ない可能性があります。このような場合にピーク幅パラメータを設定するときは、未分離の

ピーク以外のピークを拡大してください。


3

検出感度の値

ソフトウェアは、まずクロマトデータの 2 次微分値にメジアンフィルタを適用してノイズ

を求めることによって、自動的に検出感度値（自動検出感度）を決定します。次に、2 次

微分されたノイズに現在のピーク幅値を掛けることによって検出感度値を推論します。

検出感度値は、ピークの検出時に（セクション 3.1.2 ピーク開始の決定およびセクショ

ン 3.1.4 ピーク終了の決定で説明したように）ソフトウェアがピークの開始点と終了点を

決定するために使用するスロープの測定値です。比較的小さな検出感度で感度は上昇し、

かなり小さなピークでも適切に波形解析することが可能です。あまりにも多くのピークが

ベースラインノイズのピークとして波形解析されるようであれば、検出感度を大きくする

と、このような小さなピークを解析しないようにすることができます。

注記：解析メソッドで使用される一般的な検出感度は通常ピークの開始（立ち上がり）と終了（立

ち下がり）に使用します。クロマトグラムにテーリングピークやベースラインのドリフトがあり、

ピーク開始点や終了点を設定するために異なる検出感度値を使用する必要があれば、立ち上がり感

度設定または立ち下がり感度設定の波形解析イベントを使用してください（セクション 3.3.2 立ち

上がり感度設定イベントおよびセクション 3.3.3 立ち下がり感度設定イベントを参照）。

検出感度設定に有効な範囲は 0.0 以上になります。検出感度の初期設定は空欄です。

レビューで検出感度を設定するにはいくつかの方法があります。

• レビューの解析メソッド作成ウィザードを使用し、新規の解析メソッドを作成する

か、既存の解析メソッドを編集する際、ソフトウェアは［波形解析］- 波形解析領域

ウィザード画面でズームアップした領域に含まれるデータを用いて自動的に適切な

検出感度を決定します。

• レビューのメイン画面のデータを表示する時は、波形解析ツールバーの［検出感度］

ボタンをクリックして、現在の拡大領域内のデータ（クロマトグラフ領域全体にな

るかもしれませんが）を使用して自動的に検出感度値を設定するようにします。

注記：解析メソッドの［ピーク幅］フィールドを空欄にしておくとメソッドの検出感度ボタ

ンは無効になります。

• 有効な解析メソッドで設定される検出感度がない場合、［解析］>［波形解析］を選

択して（またはツールバーの［波形解析］ボタンをクリックして）データを波形解析

します。検出感度は（クロマトグラムの開始から終了までの間に積分禁止イベント

がなければ）クロマトグラム全体のデータに従って自動的に設定されます。

クロマトグラムの領域はクロマトグラムの初またはクロマトグラムの初に開始

する積分禁止イベントの終了時内において検出感度を設定するのに使用されます。

クロマトグラムの領域はクロマトグラムの後またはクロマトグラムの後に終了

する積分禁止イベントの開始時間において検出感度の終了を設定するのに使用され

ます。


3

クロマトグラムの初と終了に重複していない積分禁止イベントは検出感度を設定

する際には無視されます。

注記：この方法を使用した場合、検出感度は［結果の検出感度］フィールドにのみ表示され

ます。［解析メソッドの検出感度］フィールドは空欄のままです。ショートカットメニューか

ら［解析メソッドへのコピー］を選択することによって、この値を［メソッドの検出感度］

フィールドにコピーすることができます。

ピーク幅の値は必ず検出感度の値を決める前に設定します。ピーク幅の値が解析メソッドの

中にない場合は、検出感度のボタンは使用できません。ピーク幅の値が有効でない間にこの

方法を用いて解析を行うと、ソフトウェアはまず、ピーク幅の値を決め、次に検出感度値を

決定します。両値は、自動的にそれぞれのツールバーのフィールドに表示されます。

• レビューのメイン画面の波形解析ツールバーまたは解析メソッド画面の［波形解析］

タブで値を入力することによって検出感度値を設定します。

ピーク幅と検出感度のフィールド

ピーク幅および検出感度の値は［メソッド］フィールドおよび［結果］フィールドに表示

されます。これらのフィールドはレビューのメイン画面の波形解析ツールバーにあり、［結

果］フィールドに結果が報告されます。このメソッドのフィールドには解析メソッド内の

ピーク幅および検出感度が示されます。［結果］フィールドには、生データが処理される

時に使われたピーク幅および検出感度が表示されます。

データの解析時、ソフトウェアは［解析メソッドのピーク幅］フィールドと［解析メソッ

ドの検出感度］フィールドの値を使用し、これらの値をそれぞれ［結果のピーク幅］フィー

ルドと［結果の検出感度］フィールドに保存します。この場合、［結果のピーク幅］と［結

果の検出感度］フィールドは［解析メソッドのピーク幅］と［解析メソッドの検出感度］

フィールドと同じです。［解析メソッドのピーク幅］および / または［解析メソッドの検

出感度］が空欄の場合、ソフトウェアはデータ解析時に［結果のピーク幅］および / また

は［結果の検出感度］フィールドを決定します。

［解析メソッドのピーク幅］および / または［解析メソッドの検出感度］が空欄であるよ

うな解析メソッドを用いてデータを解析するときは、結果は異なる結果のピーク幅および

結果の検出感度を用いて生成される可能性があります。

注記：［システム管理］>［表示］>［システムポリシー］を選択し、［その他のポリシー］タブの

［V3.0x のピーク幅と検出感度の計算方法を使用］を選択すれば、自動ピーク幅および自動検出感度

を無効にすることができます（付録 6, データ解析システムポリシーを参照）。このシステムポリシー

が有効な場合、［ピーク幅］ボタンと［検出感度］ボタン、解析メソッド作成ウィザード、解析メ

ソッド、および結果はすべてミレニアム 32 の前回のバージョンと同じように機能します。


3

3.1.6 積分禁止イベント

積分禁止イベントは、ユーザーが指定する開始と終了時間の間、ピークの検出を行わない

ようにします。積分禁止に設定すると、設定区間のピークの存在を無視します。

ソフトウェアは積分禁止イベント中はデータポイントのバンチングを行わないため、ピー

ク頂点のバンチングポイントが 1 より大きい場合、積分禁止イベントはピーク検出に影響

を与えます。ポイントのバンチングはイベント終了より後のポイントから始まり、このバ

ンチングされた開始ポイントは、積分禁止イベントの終了時間が変わると変化します。積

分禁止イベントの後にバンチングされたデータポイントは、どこでイベントが終了したか

によって異なる値になる可能性があります。

積分禁止イベント時間内にピーク頂点が入る場合は、ピーク全体が排除されます。つま

り、積分禁止イベントの終了をピーク頂点の発生より前に指定し、ピーク頂点のバンチン

グの発生を除外すると、ソフトウェアはそのピークを波形解析します。イベントの終了

を、ピーク頂点のバンチングポイントの発生の後に指定すると、そのバンチングポイント

を含むピークは解析されません。同じように、ピーク頂点のバンチングの発生後に積分禁

止イベントの開始を指定すると、ソフトウェアはそのピークを解析します。ピーク頂点の

バンチングの前に積分禁止イベントの開始を指定しても、ソフトウェアはそのピークを解

析しません。

注記：積分禁止イベントは、負のピークの許可イベントとは競合しません。ただし、積分禁止イベ

ントは、同様の時間範囲で設定されている他のイベントと競合する場合がありますイベントの開始

時間と終了時間が 1 つの積分禁止イベント内になければ、積分禁止イベントは谷渡り（VV）イベン

トや 6 つの強制ベースラインイベント（強制ベースライン（ピーク）、強制ベースライン（時間）、

水平ベースライン（ピーク）、水平ベースライン（時間）、逆水平ベースライン（ピーク）、および逆

水平ベースライン（時間））と競合することはありません。これらのイベントが重複する場合は、積

分禁止イベントが優先されます。

図 3-5 で、積分禁止イベントについて説明します。

図 3-5 積分禁止イベント

Event Start Event End

Start Peak Detection

Not Integrated Integrated

ピーク開始の検出

イベントの終了

積分禁止イベント積分イベント

イベントの開始


3

3.2 ピークの波形解析

本節では、以下のピーク波形解析プロセスについて説明します。

• 未分離ピークの判定

• ベースラインの作成

• ピーク保持時間、高さ、および面積の計算

波形解析では、ピーク検出中に識別されたピーク開始およびピーク終了の値を使用して

ベースラインを決定し、分離されたピークと未分離ピークを波形解析します。

クロマトグラムが複雑な場合には、時間による解析イベントを使用してピークの波形解析

を実行することができます。


さい。

3.2.1 未分離ピークの判定

隣接するピーク間の距離の確認

波形解析の初のプロセスは、クロマトグラムの中の未分離ピークと分離したピークを区

別することです（図 3-6）。

図 3-6 隣接するピーク幅の比較

開始終了開始終了

W1 W2

W3

ピークの波形解析 94

3

未分離ピークの場合、従来法の波形解析アルゴリズムは以下のことを行います。

1. 隣接するピークの開始と終了の間の距離（W3）を、隣接するピークの幅の広い方

（W1 または W2）と比較します。

2. 広い方のピークを決定します（W2 > W1）。

3. 広い方の隣接ピークの、2 つのピーク間のスペース（W3）に対する比率を、式

W2/W3 によって計算します。この比率が 3.0 以上である場合は、これらのピーク

は未分離であるとみなされます。この比率が 3.0 未満である場合は、これらのピー

クは分離しているとみなされます。

注記：ソフトウェアが 3.0 の比率を使用する理由は、これによってピークが重なっているこ

とを検出する確率が高まるからです。

未分離ピークの分割点の設定

未分離ピークを分割するために、ソフトウェアは以下のことを行います。

1. 初のピークの開始ポイントから、後のピークの終了ポイントまで想定ベースラ

インを引きます。

2. 隣接する未分離ピークの間の谷のポイントを探し、想定ベースラインにも近い生

データポイントを谷ポイントとして選択します。谷の前のピークの終了を、谷の時

間に調整します。同様に、谷の後のピークの開始時間を谷の時間に調整します。

3. 谷ポイントから想定ベースラインに垂線を引き、それによってピークを分割しま

す。

図 3-7 に、波形解析アルゴリズムがクロマトグラムの中の 2 つの未分離ピークグループを

分割し、全部で 6 つのピークを分割する例を示します。


3

図 3-7 分離ピークおよび未分離ピークの判定

3.2.2 ベースラインの作成

ベースライン作成

クロマトグラムの中に個々のピークと未分離ピークが識別されると、波形解析アルゴリズ

ムは各ピーク（または未分離ピークのグループ）の開始から終了までベースラインを引き

ます（図 3-8）。

このフィールドの開始時間と終了時間はピークの波形解析をする間に計算されたピーク

の開始時間と終了時間を表示します。このフィールドのベースライン開始とベースライン

終了はピークを波形解析するために使用されたベースラインの開始時間および終了時間

を示しています。ベースライン開始値とベースライン終了値は、次のようになります。

• ベースライン分離されたピーク（ベースライン - ベースライン）について波形解析が

行われる場合、ピーク開始時間および終了時間と同じになります。

ピーク1 垂直分割

想定ベースライン

ピーク 2

終了 1開始 2

谷ポイント

未分離ピークグループ 1

終了 2開始 3

終了 1開始 2

終了 1開始 1 開始 1 終了 1

想定ベースライン開始 1 終了 3

未分離ピークグループ 2ピーク 1

ピーク 1 ピーク 2ピーク 3 ピーク 1ピーク 2


3

• 未分離ピーク（ベースライン分離されていないピーク）について波形解析が行われ

る場合、ピーク開始時間および終了時間と異なります。

図 3-8 ベースライン作成

波形解析の初期設定では、識別された各ピークに 2 文字からなるラベルが付けられます。

これは各ピークが、ベースライン上のポイント（B）またはベースラインより上の谷（V）で開始または終了したことを表しています（図 3-1 を参照）。ピークは 4 タイプのベース

ラインの作成を行います。このラベルは、レビューの結果画面およびメイン画面の［ピー

ク］タブの［分割の種類］欄に表示されます。

注記：指数関数スキムイベントまたは接線スキムイベントを使用する場合は、ベースライン作成で

の追加のタイプが表示される場合があります（セクション 3.4.1 波形解析のピークラベルおよびセ

クション 3.4.8 スキムイベントを参照）。

ラベルの大文字と小文字は以下のことを示します。

• 大文字 – 波形解析がソフトウェアによって自動的に実行されたことを示します。

• 小文字 – 波形解析が手動で実行されたことを示します。

図 3-1 波形解析のピークラベル

ピークの開始点と終了点ラベル

ベースラインからベースライン BB

ベースラインから谷 BV

谷からベースライン VB

谷渡り VV

B B B B

1 2 3

V

V

Peak 1 = BV (Baseline-to-Valley)Peak 2 = VV (Valley-to-Valley)Peak 3 = VB (Valley-to-Baseline)

BB = Baseline-to-BaselineBB = ベースラインからベースラインピーク 1 = BV( ベースラインから谷 )ピーク 2 = VV( 谷から谷 )ピーク 3 = VB( 谷からベースライン )


3

例えばベースラインレベルが Bb なら、ピーク開始も終了もベースライン分離しており、

開始は自動で、終了は手動で調整されたことを示します。

ベースライン調整

ベースラインがクロマトグラムの信号と交差する場合には、ソフトウェアは未分離ピーク

グループの中のも低い点に向けてベースラインの調整を行い（図 3-9）、ピークグルー

プを分離および / または未分離ピークに区分します。それからソフトウェアは新しいベー

スラインを再チェックし、ピーク開始とピーク終了以外でベースラインとクロマトグラ

フィシグナルが交差しないことを確認し、ベースラインを必要に応じて再調整します。

図 3-9 ベースライン調整

3.2.3 ピーク保持時間、高さ、面積の計算

実際のベースラインが作成されたら、波形解析アルゴリズムは以下のことを行います。

1. 各ピークの保持時間、高さ、面積を計算します。

2. 波形解析された各ピークを、ユーザーが指定した小面積および小高さをピーク

除外基準と比較します。

保持時間と高さ

保持時間と高さを決定するために、ソフトウェアは以下のことを行います。

1. ピークの中の、作成されたベースラインからもっとも高い位置にあるデータポイン

トの時間を、ピークの保持時間の場所として見つけます。

2. ピーク頂点と、ピーク頂点の 5 つのデータポイント（も高いポイントおよびその

ポイントの前後 2 点ずつ）に、4 次曲線をあてはめます。

��

��.��ベースライン交差シグナル

調整前のベースライン調整後のベースライン


3

3. あてはめた曲線の変曲点をピーク頂点に設定します。ピーク頂点の X 座標の値が保

持時間です。

4. 作成されたベースラインからピーク頂点までの Y 座標の距離（単位、µV）として、

ピーク高さを計算します。

注記：ソフトウェアがピーク頂点に曲線をあてはめられない場合は、ミレニアム V2.15 以前のよう

にピーク頂点（ベースラインからも遠いデータポイント）が保持時間および高さを計算するため

に使用されます。ソフトウェアにより、レビューの［ピーク］タブの［コード］欄に処理コード

（105、106、107、または 108）が追加されます。このコードは、ピーク頂点にうまく曲線をあては

められなかった理由を示します。

図 3-10 に、ピーク保持時間およびピーク高さの計算の説明を示します。

図 3-10 ピーク保持時間とピーク高さの計算

注記：［システム管理］>［表示］>［システムポリシー］を選択し、［その他のポリシー］タブで

［V2.XX の保持時間の計算方法を使用］を有効にすれば、ピーク頂点に 4 次曲線を適合させないよう

にすることもできます（付録 6, データ解析システムポリシーを参照してください）。このシステム

ポリシーを有効にして結果を解析する際には、結果の［コード］フィールドに解析コード I09 が追

加されます。このフィールドは、レビューの結果画面またはプロジェクト画面の［結果］タブの中

のクロマトグラム［結果］テーブルで見ることができます。

面積

アルゴリズムは、ピーク開始からピーク終了までの各生データポイントごとの間隔での面

積を加算していくことによって総ピーク面積を計算します（図 3-11）。作成されたベース

高点計算されたピーク頂点（データポイント上ではない）

クロマトグラムの開始ピーク

開始

作成されたベースライン

計算されたピーク頂点

ピーク高さ

ピーク終了

保持時間

P1

P2

P3P4

P5


3

ラインより下の領域（Ab）はピークの総面積（At）から差し引かれます。これによって作

成されたベースラインより上のピーク面積（Ap）が求められます。

図 3-11 ピーク面積の計算

3.2.4 ピーク除外の基準

ソフトウェアがピークを波形解析する際には、波形解析アルゴリズムは、ピークをユー

ザーが指定した波形解析のピーク除外基準と比較します。波形解析のピーク除外基準は、

ユーザーが、レビューの解析メソッド画面の［波形解析］タブの中で、またはレビューの

メイン画面または解析メソッド作成ウィザードの［小面積］ボタンおよび［小高さ］

��,

��

��,

��

�

�

��

��

/��

/��

�0�1��2�2��

�0�1��2�2��

��"��%�

��(��3��

��"��%

��"��%�

ベースラインより下の差し引かれる面積（Ab）

ピーク開始


ピーク面積（At）

ピーク終了

A/D 小シグナル

ベースライン面積（Ab）

ピーク面積（Ap）

ピーク総面積（At）

ピーク開始


ピーク終了

A/D 小シグナル


3

ボタンによって指定します。この比較に基づいて、アルゴリズムはピークを認識するか、

または除外します。波形解析の許容基準には、以下が含まれます。

• 小面積

• 小高さ

• 小 5 ポイントのピーク

小面積

小面積は、ピークリストに載せるピークに必要な小面積（単位、µV/ 秒）を定めたも

のです。解析されたピークの面積が設定された値より小さい場合は、そのピークはピーク

リストから削除されます。設定された値以上の面積があれば、そのピークは認識されます。

小高さ

小高さは、ピークリストに載せるピークに必要な小高さ（単位、µV）を定めたもの

です。解析されたピークの高さが設定された値より小さい場合は、そのピークはピークリ

ストから削除されます。設定された値以上の高さがあれば、そのピークは受け入れられま

す。

注記：小面積および小高さは、小さいピークをクロマトグラムから除外する場合に有効です。

値を大きくすると、小さなピークをノイズとして除外することになる可能性があり、値を小さくす

ると、ベースラインノイズを解析する可能性があります。

5 ポイントピーク除外

5ポイントピーク除外はソフトウェアが 4つ以下のデータポイントしか含まないピークを

ピークリストから削除する方法です。

注記：5 ポイントピーク除外の基準はソフトウェアに組み込まれており、自動的に実行されます。

これは、解析メソッドのパラメータではありません。

3.3 ピーク検出イベント

ソフトウェアは、正確にピークを検出するために次のような時間による検出イベントをサ

ポートしています。

• 負ピークを検出

• 立ち上がり感度設定

• 立ち下がり感度設定

• ピーク幅設定


3

注記：立ち上がり感度設定（SL）、立ち下がり感度設定（ST）、ピーク幅設定（SPW）イ

ベントは、検出された単一ピークや未分離ピーク以外のベースライン領域でのみ有効になります。

このイベントが単一分離ピークまたは未分離ピーク内で開始される場合、このイベントは単一分離

ピークまたは未分離ピークの終了から有効になります。

3.3.1 負ピークを検出イベント

負ピークを検出イベントでは、検出アルゴリズムが、負の方向に進む傾きの変化をピーク

の開始とみなすように設定します。このイベントが設定されていると、ソフトウェアは、

負の平均傾きが、立ち上がり検出感度以上になれば有効なピーク開始として取り扱いま

す。

ピーク頂点より前に負ピークを検出イベント内に指定すると、イベントはそのピークに対

して自動的に有効になります。負ピークの中でピーク頂点より前にイベントをオフにする

と、負ピークは波形解析されません。

負ピークの開始が認められると（かつ、シグナルがピーク立ち上がりテストに合格する

と）、ソフトウェアは正ピークの場合と同じように働きます。負ピークを検出イベントが

設定されていて、負ピークが解析されると、そのピーク高さは負の数として報告されま

す。他のすべての計算（面積を含む）においては、高さの絶対値が使用されます。

負ピークを波形解析の間、アルゴリズムは検出された開始点および終了点に基づいてベー

スラインを作成します。ピーク保持時間と高さは、正ピークの場合と同じように、ベース

ラインからも離れた点（も負の点）を用いて計算されます。

注記：負ピークを検出イベントの中では、正ピークの前にベースラインが沈むと、正ピーク（およ

びその後の他のピーク）が負ピークとして誤って解析される可能性があります。この可能性を避け

るためにはベースラインが沈んだ後に負ピークを検出イベントの開始時間を設定するか、適切な

ベースラインを設定するために別の波形解析イベントを追加するなどの方法が考えられます（セク

ション 3.4 ピーク解析イベント）。次の 6 つの強制ベースラインイベントを使用できます。強制ベー

スライン（ピーク）、強制ベースライン（時間）、水平ベースライン（ピーク）、水平ベースライン

（時間）、逆水平ベースライン（ピーク）、逆水平ベースライン（時間）。


3

図 3-12 に、負ピークを検出イベントの説明を示します。

図 3-12 負ピーク検出可イベント

3.3.2 立ち上がり感度設定イベント

立ち上がり感度設定イベントでは、ピーク開始を判定するためにシグナルの傾きを比較す

る検出感度を設定時間以降変更します。ピーク終了の検出に使用される検出感度には影響

を与えません。

注記：立ち上がり感度設定イベントで設定した時間以降は、（または別に立ち上がり設定イベントに

設定するまで）元の検出感度パラメータは無効になります。元の値に戻すには、別に立ち上がり感

度設定イベントを設定しなければなりません。

立ち上がり感度設定イベントの有効値は 0.0 以上です。

立ち上がり感度設定イベントおよび立ち下がり感度設定イベントは、互いに独立に使用す

ることができます。

イベントの開始

ピークの開始

ピークの終了

ピークの開始

ピークの終了

イベントの終了

検出中に適用された可能性のあるベースライン

検出中に適用された可能性のあるベースライン

も負のポイント

負ピーク検出可イベントがオン

負ピークを検出イベントがオフ


3

図 3-13 に、立ち上がり感度設定イベントの説明を示します。

図 3-13 立ち上がり感度設定イベント

3.3.3 立ち下がり感度設定イベント

立ち下がり感度設定イベントでは、ピーク終了を判定するためにシグナルの傾きを比較す

る検出感度を設定時間以降変更します。これはピーク開始の検出に使用される検出感度に

は影響を与えません。

注記：立ち下がり検出感度設定イベントで設定した時間以降は、（または別に立ち下がり設定イベン

トに設定するまで）元の検出感度パラメータは無効になります。元の値に戻すには、別に立ち下が

り感度設定イベントを設定しなければなりません。

立ち下がり検出感度設定イベントの有効値は 0.0 以上です。

立ち上がり感度設定イベントおよび立ち下がり感度設定イベントは、互いに独立に使用す

ることができます。

500μV/sec の検出感度パラメータによるピーク開始検出予想ポイント

イベントなし

50μV/sec の立ち上がり感度設定によるピーク開始検出予想ポイント

イベント開始

立ち上がり感度設定


3

図 3-14 に、立ち下がり感度設定イベントの説明を示します。

図 3-14 立ち下がり感度設定イベント

3.3.4 ピーク幅設定イベント

ピーク幅設定イベントでは、ピーク検出に際してバンチされるデータポイントの数を計算

するために使用されるピーク幅を変更します。

注記：ピーク幅設定イベントで設定した時間以降は、（または別にピーク幅設定イベントに設定する

まで）元のピーク幅検出パラメータは無効になります。元の値に戻すには、別にピーク幅設定イベ

ントを設定しなければなりません。

ピーク幅設定イベントの有効値は 0.01 から 9999.99 です。

3.4 ピーク解析イベント

ソフトウェアは、ピークの波形解析を正確にするために次のような時間ベースの解析イベ

ントをサポートしています。

• 強制ベースライン（時間）

• 強制ベースライン（ピーク）

• 水平ベースライン（時間）

• 水平ベースライン（ピーク）

• 逆水平ベースライン（時間）

• 逆水平ベースライン（ピーク）

イベントなし

500μV/sec の検出感度

パラメータによるピーク終了

検出予想ポイントイベント開始

立ち下がり感度設定

50μV/sec立ち下がり

感度設定によるピーク終了検出予想ポイント


3

• 谷渡り

• 強制垂直分割

• 強制ピーク検出

• 指数スキム

• 接線スキム

• 小高さ設定

• 小面積設定

3.4.1 波形解析のピークラベル

波形解析の初期設定では、クロマトグラムで識別された各ピークに 2 文字からなるラベル

が付けられます。これは各ピークが、ベースライン上のポイント（B）またはベースライ

ンより上の谷（V）で開始または終了したことを表しています（図 3-2 を参照）。このラ

ベルは、レビューの結果画面およびメイン画面の［ピーク］タブの［分割の種類］欄に表

示されます。

ラベルの大文字と小文字は以下のことを示します。

• 大文字 – 波形解析がソフトウェアによって自動的に実行されたことを示します。

• 小文字 – 波形解析が手動で実行されたことを示します。

初期設定の波形解析ピークラベルに加えて、レビューの［ピーク］テーブルの［分割の種

類］欄には他のラベルが表示されることがあります。

• 接線（T）スキムイベントが設定されている場合は、接線スキムを含むピークを示す

2 文字のピークラベルが表示されます。

表 3-2 クロマトグラムの波形解析ピークラベル


ベースラインからベースライン BB

ベースラインから谷 BV

指数から指数 EE

指数から谷 EV

接線から接線 TT

接線から谷 TV

谷からベースライン VB

谷から指数 VE

谷から接線 VT

谷渡り VV


3

• 指数（E）スキムイベントが設定されている場合は、指数スキムを含むピークを示す

2 文字のピークラベルが表示されます。

3.4.2 強制ベースラインイベント

強制ベースラインイベントを使用すると、波形解析アルゴリズムは、以下のどちらかに基

づいてベースラインを想定します。

• イベントの開始時間と終了時間強制ベースライン（時間）

• 開始時間と終了時間のシグナルの平均強制ベースライン（時間と値）

• ピークの開始時間と終了時間強制ベースライン（ピーク）

ベースラインは、指定したイベント開始時間からイベント終了時間まで、またはピーク開

始点からピーク終了点まで作成されます。水平とは限りません。終了時間を入力しない

と、クロマトグラムの分析時間がイベント終了時間となります。強制ベースラインイベン

トの効果は、以下のとおりです。

• 値を入力しないで強制ベースライン（時間）を使用した場合 – イベント開始時のシ

グナル値からイベント終了時のシグナル値までベースラインが描かれます。

• ［解析イベント］テーブルの［値］の欄に入力した値を使用して強制ベースライン

（時間）イベントを使用した場合 – ソフトウェアはイベントの開始時間 +/– イベント

（分）の値の範囲でシグナルを平均化し、ベースライン開始の値を決定します。もう

一方のベースラインの平均値はイベントの終了時間 +/– イベントの値（分）の範囲内

で計算されます。その後、ピークのベースラインはイベント開始時間のシグナルの

平均値からイベント終了時間のシグナルの平均値によって作成されます。

• 強制ベースライン（ピーク）を使用した場合 – 指定された時間間隔内で初に検出

されたピーク開始点から後のピークの終了点までベースラインが描かれます。

ピークの面積と高さは、強制ベースラインイベントによって引かれた新しいベースライン

に従って調整されます。

注記：強制ベースラインがデータポイント間のシグナルと交差する場合、ピークの開始点と終了点

は交点にも近いデータポイントに調整されます。


3

図 3-15 に、強制ベースライン（時間）（ベースライン平均化なし）と強制ベースライン

（ピーク）イベントの説明を示します。

図 3-15 強制ベースライン（時間）と強制ベースライン（ピーク）イベント

イベントなし

イベント開始

イベント終了

4 つのピークの面積の追加

強制ベースライン（時間）

ピーク開始

ピーク終了

強制ベースライン ( ピーク )

4 つのピークの面積の追加

イベント開始

イベント終了


3

図 3-16 にベースラインの平均を用いた強制ベースライン（時間）イベントの説明を示し

ます。

図 3-16 ベースライン平均化による強制ベースライン（時間）イベント

どちらかの強制ベースラインイベントが設定されているときにクロマトグラム内に負

ピークが存在していて、負ピークを検出イベントが次の状態の場合：

• オフ – ベースラインは延長され、負ピークは波形解析されません。

• オン – ベースラインは負ピークを横切って延長されます。波形解析された負ピークは

ピークのリストに加えられます。

��

��

��

��

��

��

��

��

イベント開始

イベント終了

ベースラインの平均化されない強制ベースライン（時間）イベント

ベースライン平均化領域


ベースライン平均化による強制ベースライン（時間）イベント

イベント開始

イベント終了


3

図 3-17 に、強制ベースライン（時間）イベントと負ピークを検出イベントが同時に使用

された場合の説明を示します。

図 3-17 強制ベースラインイベントと負ピークを検出イベント

ピーク 1

イベント開始

イベント終了

3 つのピークの波形解析

負ピーク検出イベントなしの強制ベースライン（時間）

強制ベースラインイベント開始

負ピーク検出イベント開始

強制ベースラインイベント終了

4 つのピークの波形解析

負ピーク検出イベント終了

負ピーク検出イベントによる強制ベースライン（時間）イベント

ピーク 1

ピーク 2

ピーク 2

ピーク 3

ピーク 3

ピーク 4


3

3.4.3 水平ベースラインイベント

水平ベースラインイベントを設定すると、波形解析アルゴリズムは水平方向に（右方向あ

るいは時間が増加する方向に傾きがゼロになるように）ベースラインを作成します。この

水平ベースラインの開始と終了点は、以下のいずれかに基づきます。

• イベントの開始時間水平ベースライン（時間）

• 開始時間におけるシグナルの平均値水平ベースライン（時間と値）

• ピークの開始点水平ベースライン（ピーク）

ソフトウェアは、指定されたイベント開始時間またはピーク開始点から右へ水平ベースラ

インを強制的に作成します。終了時間を入力しないと、クロマトグラムの分析時間がイベ

ント終了時間となります。

各種の水平ベースラインイベント間の違いは、以下のとおりです。

• 値を入力しないで水平ベースライン（時間）を使用した場合 – ベースラインはイベ

ント開始時のシグナル値から水平に作成され、イベント時間内のすべてのピークの

ベースラインが変更されます。

• ［解析イベント］テーブルの［値］の欄に入力した値を使用して水平ベースライン

（時間）イベントを使用した場合 – ソフトウェアはイベントの開始時間＋ /– イベント

（分）の値の範囲でシグナルを平均化し、ベースライン開始の値を割り出します。こ

のイベントの開始でのシグナル値から水平にベースラインが作成され、このイベン

ト内のすべてのピークのベースラインが変更されます。

• 水平ベースライン（ピーク）を使用した場合 – ベースラインは、イベント開始後の

初に検出されたピークの開始点におけるシグナル値から水平にベースラインが作

成され、イベント内のすべてのピークのベースラインが変更されます。

ピーク面積および高さは、水平ベースラインイベントに応じて引かれた新しいベースライ

ンに基づいて調整されます。イベント内の初のピークはそのピーク開始点からベースラ

インに垂線を引くことによって波形解析される場合があります。

注記：ベースラインがデータポイント間のシグナルと交差する場合、ピークの開始点や終了点は交

点にも近いデータポイントに調整されます。


3

図 3-18 に、水平ベースライン（時間）（ベースライン平均化なし）と水平ベースライン

（ピーク）イベントの説明を示します。

図 3-18 水平ベースライン（時間）および水平ベースライン（ピーク）イベント

イベントなし

イベント開始

イベント開始

イベント終了

イベント終了

水平ベースライン（時間）

水平ベースライン（ピーク）

イベント開始によるベースライン設定

ピーク開始によるベースライン設定


3

図 3-19 に、ベースラインの平均化を用いた水平ベースライン（時間）イベントの説明を

示します。

図 3-19 水平ベースライン（時間）（ベースラインの平均化あり）

どちらかの水平ベースラインイベントが設定されているときにクロマトグラム内に負


• オフ – ベースラインは水平に延長され、負ピークは波形解析されません。

• オン – ベースラインは負ピークにまたがって水平に延長され、負ピークは波形解析

されて、ピークリストに追加されます。

イベント開始

イベント終了

ベースラインの平均化されない水平ベースライン（時間）イベント


ベースライン平均化による水平ベースライン（時間）イベント

イベント開始

イベント終了


3

図 3-20 に、水平ベースライン（時間）と負ピークを検出イベントが同時に指定された場

合の説明を示します。

図 3-20 水平ベースライン（時間）と負ピークを検出イベント

3.4.4 逆水平ベースラインイベント

逆水平ベースラインイベントを設定すると、波形解析アルゴリズムは水平逆方向に（左方

向あるいは時間が小さくなる方向に傾きがゼロになるように）ベースラインを作成しま

す。ソフトウェアは、指定されたイベント開始時間またはピーク開始ポイントから左へ水

ピーク 1、2、3 の波形解析

ピーク 1

イベント開始

イベント終了

負ピーク検出イベントなしの水平ベースライン（時間）イベント

ピーク 1、2、3、4 の波形解析

水平ベースライン（時間）

イベント開始

ピーク 1水平ベースライン

（時間）イベント終了

負ピーク検出イベント開始負ピーク検出イベント終了

負ピーク検出イベントによる水平ベースライン（時間）イベント

ピーク 2

ピーク 2

ピーク 3

ピーク 3

ピーク 4


3

平ベースラインを強制的に作成します。終了時間を入力しないと、クロマトグラムの分析

時間がイベント終了時間となります。

この逆水平ベースラインの開始と終了点は、以下のいずれかに基づきます。

• 値を入力しないで逆水平ベースライン（時間）を使用した場合 – イベント終了時間

に基づきます。このイベントの終了でのシグナル値から水平にベースラインが作成

され、このイベント内のすべてのピークのベースラインが変更されます。

• ［解析イベント］テーブルの値の欄に入力した値を使用して逆水平ベースライン（時

間と値）イベントを使用した場合 – イベントの終了時間でのシグナルの平均に基づ

きます。ソフトウェアはイベントの終了時間 +/– イベント（分）の値の範囲でシグ

ナルを平均化し、ベースライン開始の値を決定します。このイベントの終了でのシ

グナル値から水平にベースラインが作成され、このイベント内のすべてのピークの

ベースラインが変更されます。

• 逆水平ベースライン（ピーク）を使用した場合 – ピーク終了点と開始点に基づきます。

ベースラインは、イベント開始後の後に検出されたピークの終了点におけるシグナ

ル値から水平にベースラインが作成され、イベント内のすべてのピークのベースラ

インが変更されます。

ピーク面積および高さは、逆水平ベースラインイベントに応じて引かれた新しいベースラ

インに基づいて調整されます。イベント内の初のピークはそのピーク開始点からベース

ラインに垂線を引くことによって波形解析される場合があります。

注記：ベースラインがデータポイント間のシグナルと交差する場合、ピークの開始点や終了点は交

点にも近いデータポイントに調整されます。


3

図 3-21 に、逆水平ベースライン（時間）（ベースライン平均化なし）と逆水平ベースライ

ン（ピーク）イベントの説明を示します。

図 3-21 逆水平ベースライン（時間）と逆水平ベースライン（ピーク）イベント

��

��

��

��

��

��

��

��

��

イベントなしイベント

開始

イベント終了

逆水平ベースライン（時間）イベントイベント終了によるベースライン設定

逆水平ベースライン（ピーク）イベントピーク終了によるベースライン設定

イベント開始

イベント終了


3

図 3-22 に、逆水平ベースライン（時間）（ベースラインの平均化あり）イベントの説明を

示します。

図 3-22 逆水平ベースライン（時間）（ベースラインの平均化あり）

どちらかの逆水平ベースラインイベントが設定されているときにクロマトグラム内に負


• オフ – ベースラインは水平に延長され、負ピークは波形解析されません。

• オン – ベースラインは負ピークを横切って水平に延長されます。波形解析された負

ピークはピークのリストに加えられます。

��

��

��

��

��

��

��

イベント開始

イベント開始

イベント終了

イベント終了

ベースライン平均化なしの逆水平ベースライン（時間）イベント

ベースライン平均化による逆水平ベースライン（時間）イベント



3

図 3-23 に、逆水平ベースライン（時間）と負ピークを検出イベントを同時に使用する場

合の説明を示します。

図 3-23 逆水平ベースライン（時間）と負ピークを検出イベント

3.4.5 谷渡り

谷渡りを設定すると、未分離ピークの各ピークの谷から谷へベースラインを作成します。

このイベントが設定されていない場合、すべての未分離ピークは 1 つの共通ベースライン

が引かれ、各ピークは垂直分割されます。谷渡りが設定されている場合、各ピークの開始

ピーク 1、2、3 の波形解析

ピーク 1

イベント開始

イベント終了

負ピーク検出イベントなしの逆水平ベースライン（時間）イベント

ピーク 1、2、3、4 の波形解析

逆水平ベースライン（時間）イベント開始

逆水平ベースライン（時間）イベント終了

負ピーク検出イベント開始

負ピーク検出イベント終了

負ピーク検出イベントによる逆水平ベースライン（時間）イベント

ピーク 2

ピーク 2

ピーク 3

ピーク 3

ピーク 4ピーク 1


3

点から終了点にベースラインが指定し直されます。すべてのピークはベースライン分離さ

れ、レビューの結果画面とメイン画面の［ピーク］タブに BB とラベルが表示されます。

谷渡りは、開始時間後の初のピークに対して設定されます。（谷渡り開始時間と終了時

間の間の）後のピークの後にイベントは無効になります。

注記：新しいベースラインがデータポイント間のシグナルと交差する場合、ピークの開始点と終了

点は交点にも近いデータポイントに調整されます。

図 3-24 に、谷渡りの説明を示します。

図 3-24 谷渡り

3.4.6 強制垂直分割イベント

強制垂直分割イベントは、指定した開始時間と終了時間の間でピークの波形解析を行いま

す。強制垂直分割イベントを設定すると、Empower ソフトウェアは指定した時間に垂線

を引き、直前の解析されたピークに垂線を引くか、2 つの垂線を単一ピークまたは未分離

ピークに追加します。

強制垂直分割イベントは以下のように使用できます。

• 開始時間のみを指定した場合は、（指定された開始時間に）検出されたピークの内側

で強制的に垂直分割することができます。指定された開始時間が検出ピーク内にな

い場合、イベントは無視されます。

• 開始時間と終了時間の両方を指定した場合は、検出された単一ピークや未分離クラ

スタの内部で 2 本の垂線を強制的に引くことができます。開始時間と終了時間の間

の全面積は、単一ピークとして報告されます。開始点の垂線の前と終了点の垂線の

後のピーク面積は別々のピークになります。イベントの開始時間と終了時間が未分

離ピークの外側にある場合には、未分離ピークのすべてのピークはともに単一ピー

クに加えられます。

（波形解析タイプ（BV、VV、VB）別ピークラベル表示）

イベントなし

イベント開始

初のピーク開始

後のピーク終了イベント

終了

各谷ポイントに引かれるベースライン（3 ピークとも BB 波形解析タイプラベル表

B B B B

B BV V

谷渡り


3

図 3-25 に、開始時間のみ設定し、既存のベースラインを使用した場合の強制垂直分割イ

ベントの説明を示します。図 3-26 に、単一ピークの場合の強制垂直分割時間イベントの

説明を示します。図 3-27 に、未分離ピークのグループの説明を示します。

図 3-25 強制垂直分割イベント（イベント開始時間のみを指定した場合）

図 3-26 強制垂直分割イベントの（単一ピーク）

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ピーク開始

ピーク終了

イベントなし

イベント開始

単一ピークを 2 つの未分離ピークにする垂直分割

強制垂直分割イベント

ピーク開始

ピーク終了

PeakEnd

PeakStart

New PeakArea

EventEnd

EventStart

PeakArea

No Event With Force Drop Line

PeakEnd

PeakStart

Peak Endand Peak

Start

Peak Startand Peak

End

ピーク面積

新ピーク面積

ピーク終了とピーク開始

ピーク開始とピーク終了

強制垂直分割イベントイベントなし

ピーク開始

ピーク開始

ピーク終了

ピーク終了

イベント開始

イベント終了


3

図 3-27 強制垂直分割イベント（未分離ピークグループ）

3.4.7 強制ピーク検出イベント

強制ピーク検出イベントは、指定した開始時間と終了時間に基づいてピークの波形解析を

行います。強制ピーク検出に設定されている場合、イベントの開始時間と終了時間が新し

いピーク開始点とピーク終了点として扱われ、これらの 2 つの点の間に新しいベースライ

ンが引かれます。単一ピーク、あるいは未分離ピークグループの内部に対して強制ピーク

検出を使用できます。強制ピーク検出はたとえイベント内にピークがなくてもピークを強

制的に作成します（解析禁止イベント内の強制ピーク検出も含みます）。強制ピーク検出

イベントを用いて作成されたピークに複数のピークがある場合、ピークは一つになりま

す。

注記：強制ピーク検出イベントの開始時間と終了時間の設定には注意が必要です。時間の指定が正

しくないと、クロマトグラムの中でベースラインが信号と交差する可能性があります。

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未分離ピークグループに分割する垂直分割

ピーク開始

ピーク終了

イベントなし

強制垂直分割イベントによる新ピーク面積

イベント開始

イベント終了

強制垂直分割イベント

ピーク開始

ピーク終了


3

図 3-28 に、ベースライン分離ピークの場合の強制ピーク検出（時間）イベントの説明を

示します。

図 3-28 強制ピーク検出イベント

図 3-29 に、複数の分離していないピークの場合の強制ピーク検出（時間）イベントの説

明を示します。

図 3-29 強制ピーク検出イベント（複数の分離していないピーク）

3.4.8 スキムイベント

スキムイベントを使用して、ライダまたはショルダピークを親ピークから分離することが

できます。スキム処理は、指定する開始と終了時間の範囲に基づいて行われます。ソフト

ウェアは直線（スキムが接線の場合）または曲線（スキムが指数関数の場合）を引いて、

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ピーク開始

ピーク終了波形解析で

認識されないピーク

波形解析ピークの下に引かれるベースライン

イベントなし

イベント開始 /ピーク 2開始

イベント終了 /ピーク 2終了

ピーク 1開始

ピーク 1終了

ピーク 2 開始からピーク 2 終了に引かれるベース

強制ピーク検出イベント

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未分離ピークグループに分割する垂直分割

ピーク開始

ピーク終了

イベントなし

強制ピーク検出イベントによる新ピーク面積

ピーク /イベント

開始

ピーク /イベント終了

強制ピーク検出イベント


3

親ピークからライダピークをスキム処理します。スキムは、さらに、クラシックスキム、

非クラシックスキム、前方スキム、および後方スキムに分類されます。

クラシックスキムと非クラシックスキム

各スキムタイプは、まず、親ピークの高さに基づいて従来法と新しい方法に分類できます。

• クラシック – 親ピークが未分離ピーク内のも高いピークで、かつスキム処理された

ピークが高さ比にあっている場合（図 3-30）。このイベントは未分離ピークの外側で

開始し、終了させてください。

• 非クラシック – 親ピークが未分離ピーク内のも高いピークでなく、かつスキム処

理されたピークが高さ比にあっている場合。このイベントは親ピークの内側で開始

（後方スキムをする場合）または終了（前方スキムをする場合）させなければなりま

せん。

前方スキムと後方スキム

スキムイベント値によって、前方スキムまたは後方スキムのどちらかの処理が行われま

す。

• 前方 – スキムイベント値が 0 より小さいとき、未分離ピークの前方ピークをスキム

処理します。

• 後方 – スキムイベント値が 0 以上の場合、未分離ピークの後方ピークをスキム処理し

ます。

接線スキムイベント

接線スキムイベントは、開始時間と終了時間を設定することによって、親ピークの前方ま

たは後方からライダまたはショルダピークを分離するために接線を引きます。

接線スキムを設定すると、波形解析アルゴリズムは、そのピークを未分離ピークではなく

ライダピークとして扱うかどうかを判定します。アルゴリズムは親ピークとライダピーク

の高さの比率が、このイベントに関してユーザーが入力した高さの比率以上であるかどう

かをチェックします。


3

高さ比の計算に使用されるピーク高さは、ピーク頂点から谷のポイントまでのピークの高

さです（図 3-30 を参照）。

図 3-30 高さの比のテスト

高さ比の結果により、ライダピークと親ピークは次のように扱われます。

• 高さ比が設定内であった場合 – ライダピークを親ピークから接線スキム処理します。

• 高さ比が設定から外れた場合 – ソフトウェアは谷ポイントでピークを垂線分割しま

す。

親ピーク

ライダピーク比

谷ポイント

H1

H2


3

図 3-31 に、接線スキムイベントの 4 つのタイプを示します。

図 3-31 接線スキムイベント

注記：指定された接線スキム値がゼロである場合には、結果は高さ比をチェックせずに後方スキム

となります。

接線スキムがシグナルと交差する場合には、シグナルのも低いポイントに合わせてスキ

ム処理されます。このポイントが新しい開始点となります。

接線スキムが設定されている場合は、図 3-3 に示した 2 文字のピークラベルがレビューの

［ピーク］テーブルの［分割の種類］欄に表示されます。これらのラベルを、初期設定の

波形解析ピークラベル（セクション 3.2.2 ベースラインの作成を参照）に付加することが

できます。

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イベント開始

イベント終了

0 より下に設定された接線スキム値

クラシック前方接線スキムイベント

0 以上に設定された接線スキム値

非クラシック前方接線スキムイベント

0 より下に設定された接線スキム値

クラシック後方接線スキムイベント非クラシック後方接線スキムイベント

0 以上に設定された接線スキム値

イベント開始

イベント終了

イベント開始

イベント開始

イベント終了

イベント終了


3

指数スキムイベント

指数スキムイベントは、開始時間と終了時間を設定することによって、親ピークの前方ま

たは後方からライダまたはショルダピークを分離するために指数曲線を引きます。

指数スキムを設定すると、波形解析アルゴリズムは、ピークをライダピークとみなすべ

きか、未分離ピークとみなすべきかを決定します。アルゴリズムは親ピークとライダピー

クの高さ比が、このイベントに関してユーザーが入力した高さ比以上であるかどうかを

チェックします。高さ比の計算に使用されるピーク高さは、ピーク頂点から谷のポイント

までのピークの高さです（図 3-30 を参照）。

注記：高さ比の基準は、接線スキムイベントの場合と同じです。

高さ比の結果により、ライダピークと親ピークは次のように扱われます。

• 高さ比が設定内であった場合 – ソフトウェアは未分離ピークグループと親ピークの

側面上のポイントの間に指数曲線をあてはめることを試みます。指数曲線が当ては

まらない場合は、波形解析アルゴリズムは指数スキムを実行せず、接線スキム処理

を行います。

• 高さ比が設定から外れた場合 – ソフトウェアは谷のポイントでベースラインに垂線

を引いて、垂直にピークを分割します。

表 3-3 接線スキムによって求められたピークのピークラベル


接線から谷 TV

谷から接線 VT

接線から接線 TT


3

図 3-32 に、指数スキムイベントの説明を示します。

図 3-32 指数スキムイベント

注記：指定された指数スキム値がゼロである場合には、結果は高さ比はチェックせずに後方スキム

となります。

指数スキムが設定されている場合は、図 3-4 に示した 2 文字のピークラベルがレビューの

［ピーク］テーブルの［分割の種類］欄に表示されます。これらのラベルを、初期設定の

波形解析ピークラベル（セクション 3.2.2 ベースラインの作成を参照）に付加することが

できます。

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イベント開始

イベント終了

0 より下に設定された指数スキム値

クラシック前方指数スキムイベント

0 未満、-1 超に設定された指数スキム値

非クラシック前方指数スキムイベント

0 以上に設定された指数スキムイベント

クラシック後方指数スキムイベント

0 以上、1 未満に設定された指数スキム値

非クラシック後方指数スキムイベント

イベント開始

イベント開始

イベント開始

イベント終了

イベント終了

イベント終了


3

3.4.9 小高さ設定イベント

小高さ設定イベントは、ピークを新たに認識させるために小高さを再設定するための

イベントです。

注記：小高さ設定イベントを設定した時間以降は（または別の小高さ値を設定するまで）、全体

の小高さ値を無視し、その値が適用されます。

図 3-33 に、小高さ設定イベントの説明を示します。

図 3-33 小高さ設定イベント

表 3-4 指数スキムによって求められたピークのピークラベル

ピークの開始点と終了点ピークラベル

指数から指数 EE

指数から谷 EV

谷から指数 VE

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小高さを 350 に設定

高さと時間に基づくアルゴリズムによるピーク 1、2、3、4 の認識

100（ピーク 1）

イベント開始

イベント外のため、アルゴリズムピーク 1 を検出（デフォルト小

高さを 100 未満と仮定）

アルゴリズムによる低いピークの否認

500（ピーク 2） 400

（ピーク 3）400

（ピーク 4）

50 60

250


3

3.4.10 小面積設定イベント

小面積設定イベントは、ピークを新たに認識させるために小面積を再設定するための

イベントです。

注記：小面積設定イベントを設定した時間以降は（または別の小面積を設定するまで）、全体の

小面積を無視し、その値が解析に適用されます。

図 3-34 に、小面積設定イベントの説明を示します。

図 3-34 小面積設定イベント

3.5 両立しないイベント

このソフトウェアでは、特定の波形解析イベントの組み合わせの同時使用が制限されま

す。図 3-5 に、各波形解析イベントと、初のイベントが設定されている場合に両立しな

い他の波形解析イベントの一覧を示します。波形解析イベント欄に示したイベントが設定

されている場合は、相反するイベントを入力することはできません。

注記：そのイベントが既に設定されている範囲では同じイベントを2回適用することはできません。

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小面積を 2000 に設定

面積と時間に基づくアルゴリズムによるピーク 1、2、3、4 の認識

イベント外のため、アルゴリズム2 つのピークを検出（デフォルト

小面積を 400 未満と仮定）

アルゴリズム 2 つのピークを否認

400（ピーク 1）

400（ピーク 2）

5000（ピーク 3）

2500（ピーク 4）

300

500

イベント開始


3

表 3-5 従来法の波形解析で両立しないイベント

波形解析イベント両立しないイベント

負ピークを検出負ピークを検出

立ち上がり感度設定なし

立ち下がり感度設定なし

小高さ設定なし

小面積設定なし

ピーク幅設定なし

指数スキム • 指数スキム

• 接線スキム

• 谷渡り（VV）

接線スキム • 接線スキム

• 指数スキム

• 谷渡り

強制ピーク検出強制ピーク検出

強制垂直分割強制垂直分割

積分禁止a • 積分禁止








強制ベースライン（ピーク） • 強制ベースライン（ピーク）







強制ベースライン（時間） • 強制ベースライン（時間）







両立しないイベント 130

3

谷渡り（VV） • 谷渡り

• 指数スキム

• 接線スキム







水平ベースライン（ピーク） • 水平ベースライン（ピーク）







水平ベースライン（時間） • 水平ベースライン（時間）






• 谷渡り

逆水平ベースライン（ピーク） • 逆水平ベースライン（ピーク）






• 谷渡り

逆水平ベースライン（時間） • 逆水平ベースライン（時間）






• 谷渡り

表 3-5 従来法の波形解析で両立しないイベント（続き）

波形解析イベント両立しないイベント


3

3.6 参考文献

ピーク検出および波形解析の理論の詳細については、以下の参考書をご参照ください。

• 『Chromatographic Integration Methods』、Dyson, Norman 著、The Royal Society of Chemistry, Thomas Graham House, Cambridge、1990 年

• 『Chemometrics: A Textbook』、 Massart, D.L., 他著、Elsevier Science Publishers,Amsterdam、1988 年

• 『Signal Analysis』、Papoulis, Athanasios 著、McGraw-Hill, New York、1977 年

• 『Introduction to Modern Liquid Chromatography 第 2 版』、Snyder, L.R. および

J.J. Kirkland 著、Wiley-Interscience、New York、1979 年

a. 積分禁止イベントは、谷渡りおよび 6 つの強制ベースラインイベント（強制ベースライン

（ピーク）、強制ベースライン（時間）、水平ベースライン（ピーク）、水平ベースライン

（時間）、逆水平ベースライン（ピーク）、および逆水平ベースライン（時間））を両立させ

ることができます。但し、各イベントの開始時間および終了時間は積分禁止イベント内に

はならないように設定してください。

参考文献 132

4

第 4 章サンプル成分のピークの同定および定量

Empower ソフトウェアは、ピークを照合および定量することにより、未知の成分の同定

と濃度測定を行います。

• ピークの同定 – 未知成分の保持時間（RT）と既知の標準ピークの保持時間に対する

一致度を調べるプロセスです。

• 定量 – 目的ピークの波形解析結果と既知のピーク（標準）による検量線を使用して、

目的ピークの濃度を計算するプロセスです。

4.1 ピークの同定

ピークの同定を行う際、ソフトウェアは未知のピークにも良く一致する成分を、解析メ

ソッドの［成分］テーブルから選択します。このために、ソフトウェアは以下のことを行

います。

1. 成分の検量線±保持時間幅で定義された保持時間（RT）幅とピーク同定基準を用い

てピークの同定を行います。

2. 解析メソッドに定義された成分の保持時間（RT）と各未知のピークの差を計算する

ことによって、成分の保持時間（RT）画面内にあるピークを探します。

3. この差を用いて、成分ピークにも一致する未知のピークを選択します。

同定の順位

未知のピークを成分と一致させる時、ソフトウェアはピーク同定タイプの階層体系を使用

します。ソフトウェアは、各成分を保持時間画面の未知のピークと一致させます。未知の

ピークが複数の成分と一致する場合、ソフトウェアはまず溶出位置、次にピークサイズ、

3 番目に保持時間によってそのピークにも適合する成分を決定します。

ピークの同定 133

4

4.1.1 一致の程度の計算

ピーク同定のタイプが近接ピークや負の近接ピークの場合、ソフトウェアは「成分の保持

時間－未知のピークの保持時間」の絶対値として差を計算します。それ以外のピーク同

定タイプの場合は一致の程度は 0（完全に一致）または一致しないと計算されます。

次の条件のうちの1つでも当てはまる場合、ピークは完全に一致していると見なされます。

• 保持時間幅の中でピークの溶出位置が、1 番目、2 番目、3 番目、4 番目、5 番目ま

たは後に対応する場合

• 保持時間幅の他のピークに対してピークの大きさが次のいずれかと一致する場合

– 大面積または大高さ

– 小面積または小高さ

– 大幅（GPCV データのみ）

• 対象ピークと成分の保持時間の差が 0.0 である場合

4.1.2 適な同定ピークの選択

同定工程の中の次のステップでは、複数の未知のピークと一致する成分があるかどうか

や、複数の成分と一致する未知のピークがあるかどうかを確認します。初の成分同定工

程から次の 3 つの結果が得られます。

• 単一成分に一致したピークが一個ある

• 単一成分に一致したピークが複数ある

• 複数成分に一致したピークが複数ある

単一成分に対して単一ピーク

成分の保持時間幅が重なり合わず、各保持時間幅に未知のピークが 1 つしかない場合、

ピークを一致させる工程は単純です。この状況では、ピーク同定のタイプや一致の程度

（差の計算）は必要ありません。

注記：保持時間幅のピークがいつもそのピーク数よりも少ない場合、ピーク同定タイプの 2 番目、

3 番目、4 番目、または 5 番目は使用しないでください。

サンプル成分のピークの同定および定量 134

4

単一成分に対して複数ピーク

成分の保持時間幅の中に複数のピークが存在する場合には、ソフトウェアは一致の差を計

算してピーク同定の種類にも良く適合するピークを選択します。

• 2 つのピークが単一の成分と一致する場合、ソフトウェアはもっとも差の小さいピー

クを選択します。その後もう一方のピークは次に近い成分として同定されます。

• 2 つのピークが単一の成分に対して一致の程度が同じ場合（一致の差が同じ場合）、ソ

フトウェアは初のピークを選択します。2 番目のピークは次にも近い成分と同定

されます。

複数成分に対して単一ピーク

同じピークが 2 つ以上の成分と一致する場合、ソフトウェアは一致しているピークのうち

一致の差が小さい方の成分を選択します。2 つの成分とピークとの保持時間の差が全く同

じ場合には、選択は行われず、未知のピークは同定されません。ソフトウェアは、レビュー

のメイン画面と結果画面の［ピーク］タブにその成分のピークタイプを「未検出」として

表示します。また、未同定ピークについて［解析コード］フィールドに Q04 コードがコ

ピーされ、成分が未検出である理由が示されます（付録 5, 解析コードを参照）。

4.1.3 保持時間および保持時間幅のシフト

ピークが保持時間幅の外にシフトしてしまうために同定が困難になるようであれば保持

時間幅を拡大して下さい。保持時間幅を拡大するのが困難で、拡大することによって誤同

定をするようであれば、RT レファレンスピークを使用するか、保持時間の更新パラメー

タを使用して下さい。

RT レファレンス

［RT レファレンス］フィールドを使用すると、RT レファレンスとして定義されたピーク

がクロマトグラムで検出される場所をベースにして成分の保持時間を仮に調整すること

ができます。成分の保持時間は、RT レファレンスとして定義されたピークのシフトと同

じ方向に同じパーセント（検量線に示された RT レファレンスピークの保持時間を、クロ

マトグラムのレファレンスピークの実際の保持時間と比較することによって決められま

す）だけ一時的にシフトされます。ソフトウェアはこの調整された保持時間を使用して、

クロマトグラムの未知のピークを同定し、次の式を用いて成分の調整保持時間を計算しま

す。

RT 調整された =RT 検量線中の成分 •RT 調整されたレファレンスピーク

RT 検量線中の成分レファレンスピーク

ピークの同定 135

4

次のようなピークがある場合は、RT レファレンスピークを使用します。

• クロマトグラムの中で必ず検出される

• 他のピークから十分に分離している

• 他の成分とともに保持時間がシフトしてしまう

これにより、特定のクロマトグラムに影響を与える保持時間シフトが補償されます。

保持時間の更新

［保持時間の更新］フィールドは検量線の保持時間を調整するため、ソフトウェアが未知

のピークを同定するために使用する保持時間に影響を与えます。これは、保持時間のシフ

トやドリフトが問題になる場合に、クロマトグラムのピークの実際の保持時間をより正確

に反映したい場合に行われます。

通常、ピークの同定時、ソフトウェアは解析されたピークの保持時間を検量線の保持時間

と比較し、また解析メソッドの成分タブの成分にリストされた保持時間幅とも比較しま

す。［保持時間の更新］を選択すると、ソフトウェアは前回のクロマトグラムの解析時に

実際に成分が検出された場合の保持時間を使用します。クロマトグラムを引き続き解析す

る場合、（選択されている保持時間の更新オプションによって）クロマトグラムを処理す

るたびに、ピークの同定に使用する新しい保持時間を保存することができます。更新され

た保持時間は、その成分の検量線に保存され、検量線画面の［時間］フィールドに表示さ

れます。保持時間の更新機能は、レビュー画面の［成分］タブにリストする保持時間には

影響を与えません。

保持時間の更新オプションには、次のものがあります。

• ［しない］ – 検量線の保持時間は更新されません。

• ［置換］ – 検量線の保持時間は、サンプルの種類にかかわらずクロマトグラムの検量

線作成や定量が行なわれるたびに更新されます。クロマトグラムの検量線作成や定

量が行なわれる場合、保持時間幅でピークが同定されると、ソフトウェアは（成分

テーブルではなく）検量線の保持時間を、新しく求めた保持時間で置き換えます。

• ［標準の置換］ – 検量線の保持時間は、標準試料の検量線作成が行なわれる場合にの

み更新されます。クロマトグラムの検量線作成が行なわれる場合、保持時間幅で標

準ピークが同定されると、ソフトウェアは（成分テーブルではなく）検量線の保持

時間を、新しく求めた保持時間で置き換えます。

• ［平均］ – 検量線の保持時間は、サンプルの種類にかかわらずクロマトグラムの検量

線作成や定量が行なわれるたびに更新されます。クロマトグラムの検量線作成や定

量が行なわれる場合、保持時間幅でピークが同定されると、ソフトウェアは（成分

テーブルではなく）検量線の保持時間を、新しく求めた保持時間で平均化します。


4

• ［標準の平均］ – 検量線の保持時間は、標準試料の検量線作成が行なわれる場合にの

み更新されます。クロマトグラムの検量線作成が行なわれる場合、保持時間幅で標

準ピークが同定されると、ソフトウェアは（成分テーブルではなく）検量線の保持

時間を、新しく求めた保持時間で平均化します。

平均化オプションを使用して保持時間を更新する場合、ソフトウェアは以下の式を使用し

ます。

この場合、

RTc= 検量線の保持時間

n = 値が前回平均化された回数

保持時間のアップデートは粗調整であり、以下の場合にのみ使用してください。

• ピークの保持時間が一方向にシフトしている場合

• 成分ピークの保持時間幅を大きくしても、あるいは保持時間レファレンスピークを

使用しても、シフト全体を処理することができない場合

注記：［置換］と［平均］オプションは、誤って同定する可能性があるようなピークが未知試料にな

い場合にのみ使用してください。

4.2 定量

以下の方法によって定量を行うことができます。

• 検量線の使用

• 検量線の非使用

• サンプル重量と希釈率の使用

• 注入量の使用

• ピーク面積および高さ以外のレスポンスの使用

注記：定量に際してソフトウェアが使用するプロセスの詳細については、セクション 4.4 参考文献

を参照してください。

RTc=（検量線からの平均時間 × n + 新しい保持時

n+1

定量 137

4

4.2.1 検量線による定量

Empower ソフトウェアは、クロマトグラフィシステムが取り込んだ解析済みの標準試料

を使用して検量線を作成します。標準試料の分析をする際には、以下を入力してください。

• サンプルの分析、サンプルセットメソッド編集、またはサンプルの変更画面のサン

プルテーブルに注入量を入力する。

• 解析メソッド画面の［スロースピーク濃度］タブまたはサンプルの分析やサンプル

の変更画面の［成分の編集］に成分名および濃度または溶液濃度を入力する。

クロマトグラムの解析時には、ソフトウェアは検出器信号に基づいて各ピークのレスポン

スを計算します。このレスポンスは、以下のとおりです。

• ピーク面積

• ピーク高さ

• 別のピーク値（カスタムピーク値を含む）

検量線用標準試料が解析されると、ソフトウェアは成分テーブルに示されている各成分の

検量線を作成します。検量線には、以下が示されます。

• 絶対検量線法の場合は、レスポンス（［Y 値］フィールド）対濃度または溶液濃度

（［X 値］フィールド）

• 内部標準法の場合は、内部標準試料の濃度または溶液濃度を乗じたレスポンス比対

濃度または溶液濃度（［X 値］フィールド）

検量線の形状は、ユーザーが選択した適合タイプに基づきます（セクション 4.3 検量線の

種類を参照）。検量線タイプは、以下のとおりです。

• 一点検量線 – 必ず、原点を通る直線になります。

• 多点検量線 – 多点検量線への種々の適合の仕方を選択することができます。適合法

には、3 次スプライン、折れ線、直線、2 次曲線、3 次曲線、4 次曲線、および 5 次

曲線があります。

• 原点通過多点検量線 – 原点通過を選択することができます。直線、2 次曲線、3 次曲

線、4 次曲線、および 5 次曲線のオプションがあります。

ソフトウェアは、解析メソッド画面の［成分］タブでユーザーが指定した平均ボックスの

設定に基づいて、個々のまたは平均化された点を使用して検量線を作成し更新します。

サンプルの解析時には、ソフトウェアは以下を行います。

1. クロマトグラム中で波形解析されたピークの保持時間と、検量線の成分の保持時間

を照合します。

2. 一致したピークのレスポンスを、対応する成分の検量線に適用します。


4

定量をする際には、ソフトウェアは未知試料の濃度や溶液濃度を検量線から計算します。

サンプルのレスポンスを用いて、濃度や溶液濃度に対応した X 値を見つけます。その後、

レビューのメイン画面および結果画面のピークタブに終的な成分の濃度を表示します。

4.2.2 検量線を用いない定量

検量線を作成しないで定量したい場合には、％面積および％高さを基にサンプル中の各

ピークの相対濃度が計算されます。ピークの面積パーセントと高さパーセントは、波形解

析した全ピークの総面積や全高さに対する各波形解析ピークの相対パーセントとして計

算されます。

4.2.3 サンプル重量と希釈率を使った定量

サンプル重量と希釈率は、標準および未知成分の濃度と溶液濃度を調整するために使用さ

れます。これらの 2 つの値を使用して、以下のような要因のために生じる差を補正します。

• 希釈率が変更された

• 初期サンプル重量または容量が異なる

サンプル重量と希釈率を、サンプルの分析、サンプルセットメソッドの編集、またはサン

プルの変更画面のサンプルテーブルに、標準試料ごと、または未知試料ごとに数値を入力

します。通常、サンプル重量および / または希釈率は標準試料または未知試料の両方では

なく、いずれかのために使用されます。

サンプル重量

一般的に、サンプル重量はシステムに注入された成分の量の元のサンプル全量に対する比

を計算するためにサンプルで使用されます。

• 検量線作成する際、ソフトウェアは、入力された標準試料の成分の濃度または溶液

濃度に、ユーザーが入力したサンプル重量値を乗じて、標準試料の濃度および溶液

濃度を計算します。

• 定量をする際には、ソフトウェアは検量線から読み取った濃度や溶液濃度（［濃度の

種類］フィールド）をサンプル重量値で割り、未知試料の濃度および溶液濃度を計

算します。

例えば、秤量値が 0.5mg のサンプルで全サンプル重量と比較した成分の濃度をソフトで

決定し報告書にしたい場合、未知試料のサンプル重量を 0.5 と入力してください。ソフト

ウェアは検量線から成分濃度を定量し、サンプル重量でこの値を割り、全サンプル濃度に

対する成分の濃度の終比を算出します。この濃度は希釈率 100 を使うか、カスタム

フィールドの濃度 *100 を使用するかのいずれかを行うことによってパーセンテージに変

換できます。

定量 139

4

サンプル重量を使用する際は、この値が報告書にある成分の濃度または溶液濃度と単位が

同じであることを確認してください。例えば、サンプルが 1.44mg と秤量され、標準試料

濃度の単位が µg なら、サンプル重量は 1440（µg）を使用しなければなりません。

希釈率

［希釈率］フィールドは、通常、注入する前にサンプル（標準試料、未知試料またはコン

トロール試料）を希釈する場合に使用されます。このとき、元になる希釈前のサンプル中

の分析対象物の濃度が報告書に明記されます。直接カラムに注入される希釈前のサンプル

が検量線の範囲から外れるような場合使用されます。サンプルの希釈率をサンプルの分析

の［サンプル］テーブルに入力し、通常の注入量でサンプルを注入する必要があります。

• 検量線作成する際に、ソフトウェアは入力された標準試料の成分の濃度または溶液

濃度にユーザーが入力した希釈率で割り、標準試料の濃度および溶液濃度を計算し

ます。

• 定量をする際には、ソフトウェアは検量線から読み取った濃度や溶液濃度（X 値）に

希釈率を掛けて、未知試料の濃度および溶液濃度を計算します。

例えば、単一成分 100 µg を含む標準サンプルで 1:10 の希釈を行う場合、成分の濃度を成

分の編集、または解析メソッド画面の［スロースピーク濃度］タブで 100µg（元の濃度、

希釈されていない量）と入力するか、希釈率に 10 を入力します。ソフトウェアがこの標

準試料の検量線作成をする際、設定した濃度 100 µg を用い、指定された希釈率 10 でそ

れを割ります。そして、結果の濃度を 10 µg（カラムに注入された濃度）と表示します。

この値も検量線にプロットされます。

同じサンプルが未知試料だった場合、成分の量は入力できませんが、希釈率は 10 のまま

になります。ソフトウェアが未知試料を定量するとき、検量線からは 10 µg の濃度が読み

取られ、結果である濃度 100 µg（希釈前の濃度）に 10（希釈率の値）をかけた数値にな

ります。希釈するサンプルによって入力する値は次のように異なります。

• 標準試料 – 希釈率および元になる希釈されていない標準試料の成分の濃度を入力し

ます。

• 未知試料 – ソフトウェアで報告される濃度および溶液濃度は希釈率を入力していれ

ば、元になる希釈されていない試料の濃度になります。希釈率のフィールドを使用

すれば、注入量を調整することによって希釈率を補正する必要がなくなります。

注記：注入量を調整することによってサンプルの希釈率を補正することができます。間違えてサン

プルや標準試料を 10 倍に希釈した場合は、［希釈率］フィールドに 10 を入力する代わりに通常の

注入量の 10 倍の量を注入することによってサンプルや標準試料を希釈することができます。サン

プルが標準試料の場合は、希釈していない濃度を標準試料成分に入力することも必要です。サンプ

ルが未知である場合は、希釈率を入力せず、注入量を 10 倍に調整します。ソフトウェアは、希釈

していない成分の量を決定します。この量は、設定した注入量以上であれば、通常使用される注入


4

量より 10 倍以上高くなります。標準サンプルでも未知試料でも、注入量によって希釈率を補正す

る場合、［希釈率］フィールドで値を調整しないでください。

4.2.4 注入量を使用する定量

ソフトウェアは、標準試料と未知試料の濃度および溶液濃度を計算します。その値は報告

書に印刷されます。

ソフトウェアでは、解析メソッド画面の［成分］タブの［サンプル濃度の種類］ドロップ

ダウンリストで選択した項目、濃度または溶液濃度によって成分の量を決定します。選択

した項目によってソフトウェアは以下の処理を行います。

• ［濃度］ – ソフトウェアは（サンプルの変更画面の［成分の編集］、サンプルの分析画

面の［成分の編集］、または解析メソッド画面の［スロースピーク濃度］タブで）入

力する成分の量を濃度と解釈します。ソフトウェアは注入量 µL で濃度を割ることに

よって対応する溶液濃度を算出します。

• ［溶液濃度］ – ソフトウェアは（サンプルの変更画面の［成分の編集］、サンプルの分

析画面の［成分の編集］、または解析メソッド画面の［スロースピーク濃度］タブで）

入力する成分の量を溶液濃度と解釈します。ソフトウェアは注入量 µL で溶液濃度を

掛けることによって対応する濃度を算出します。

成分の量を濃度または溶液濃度と定義するしないにかかわらず、標準試料の濃度または溶

液濃度を用いて検量線を作成できます。解析メソッド画面の［成分］タブで入力する濃度

の種類によって検量線はレスポンス対濃度かレスポンス対溶液濃度かが決定されます。

検量線がレスポンス対濃度のプロットなら（［濃度の種類］を［濃度］に設定した場合）、

ソフトウェアは成分のレスポンスを用いて検量線から直接濃度を求めることによって未

知試料を定量します。その後、ソフトウェアは計算された濃度を注入量 µL で割ることに

よって対応する成分の溶液濃度を求めます。

注記：［濃度の種類］フィールドを［濃度］に設定した場合、計算された未知試料溶液濃度はサンプ

ルの注入量に影響されますが、計算された濃度はサンプルの注入量に影響されません。

同様に、検量線がレスポンス対溶液濃度のプロットなら（［濃度の種類］を［溶液濃度］

に設定した場合）、ソフトウェアは成分のレスポンスを用いて検量線から直接溶液濃度を

求めることによって未知試料を定量します。その後、ソフトウェアは計算された溶液濃度

を注入量 µL で掛けることによって対応する成分の濃度を求めます。

注記：［濃度の種類］フィールドを［溶液濃度］に設定した場合、計算された未知試料濃度はサンプ

ルの注入量に影響されますが、計算された溶液濃度はサンプルの注入量に影響されません。

定量 141

4

成分の単位（µg、µg/µL など）を入力するとき、入力した単位がそのまま表示されるので

注意してください。成分の定量値が注入量に影響される場合は単位が適切であることを確

認してください。ソフトウェアは、注入量の単位として必ず μL を使用します。

4.2.5 ピーク面積および高さ以外のレスポンスを使用する定量

このソフトウェアでは、ピークの面積、高さ、および以下の中のどれでもないその他の実

数フィールドのレスポンスを使用することができます。

• 時間フィールド

• ベースラインフィールド

• レスポンス

• 濃度

• 溶液濃度

• ％濃度

解析メソッド画面の［成分］タブの［定量の基準］フィールドで適切な選択を行ないます。

4.2.6 絶対検量線法および内部標準法による定量

成分濃度の計算では、以下の 1 つを使用します。

• 絶対検量線法による定量

• 単独の標準試料と未知試料を用いた内部標準法による定量

• 単独の標準試料と未知試料を用いない内部標準法による定量（一般的に、ガスクロ

マトグラフィで使用されます）

本節では、これらの 2 つの定量方法について簡単に説明します。

注記：ソフトウェアが計算する濃度と溶液濃度の算出方法については、セクション 4.3 検量線の種

類を参照してください。

4.2.7 絶対検量線法による定量

絶対検量線法による定量は、成分ピークの検出器レスポンスを検量線に適用することによ

り、成分の濃度と溶液濃度を決定します。検量線は、別々に解析された標準試料のセット

から作成されます。

注記：標準試料のセットには、標準が 1 つしか含まれていない場合もあります（一点検量線法を参

照）。


4

以下の基準も当てはまります。

• サンプルローディング時にサンプルの分析で［標準試料注入］機能を使用すること

によって、あるいは（サンプル取り込み後に）［サンプルの変更］で［標準試料］と

［サンプルの種類］を定義することによって標準サンプルを標準試料として定義しな

ければなりません。

• サンプルローディング時にサンプルの分析で［未知試料の注入］機能を使用するこ

とによって、あるいは（サンプル取り込み後に）［サンプルの変更］で［未知試料］

と「サンプルの種類］を定義することによって未知試料を未知として定義しなけれ

ばなりません。

• 解析メソッド画面の［スロースピーク濃度］タブで、あるいはサンプルの分析やサ

ンプルの変更画面の［成分の編集］で各標準試料成分の成分名と濃度または溶液濃

度を定義しなければなりません。

• レスポンスは検量線の Y 値です。解析メソッド画面の［成分］タブの［定量の基準］

フィールドを選ぶことによって、Y 軸として使用するパラメータを選択します。

• 検量線の X 値は、濃度または溶液濃度です。解析メソッド画面の［成分］タブの［濃

度の種類］フィールドで X 軸として濃度または溶液濃度を選択し使用します。

• 絶対検量線法による定量では、標準試料成分の検出器レスポンス対標準試料成分の

濃度や溶液濃度をプロットすることによって各検量線を作成することができます。

• 解析メソッド画面の［成分］テーブルの中で、検量線に使用される検量線次数を定

義します。

一点の絶対検量線法による定量を行う際には、ソフトウェアは以下を行います。

1. ピーク同定を使用して、標準試料の注入で成分ピークを同定します。

2. それぞれの標準試料ピークのレスポンスおよび濃度または溶液濃度を決定し、その

成分の検量線の検量線ポイントとしてこれらの 2 つの値をプロットします。

図 4-1 のような標準試料クロマトグラムが与えられた場合、図 4-1 の溶液濃度およ

びレスポンス値を使用して検量線を決定します。

定量 143

4

図 4-1 絶対検量線標準試料のクロマトグラム

注記：図 4-1 で、［濃度の種類］は、溶液濃度に設定されます。

3. ［成分］テーブルの名前欄に示されている各成分の検量線（レスポンス対濃度）を

作成します。

4. 以下の手順をとって、作成された検量線を基にして未知試料を定量します。

a. 成分テーブルの成分と試料の保持時間を照合し、各未知ピークを識別します。

b. サンプルピークのレスポンスと注入量を使用して、成分の検量線から各未知

ピークの濃度および溶液濃度を計算します。

c. その後、濃度および溶液濃度はサンプルの読み込みテーブルで入力された［サ

ンプル重量］および［希釈率］フィールドで調整されます。計算された濃度と

溶液濃度は、レビューのメイン画面および結果画面の［ピーク］タブに表示さ

れます。

図 4-2 に、ピーク成分 A、B、および D の定量の説明を示します。各検量線は、一

点検量線（ゼロを通る直線）を使用しています。

図 4-1 標準試料のピーク値、絶対検量線

成分名

定量の基となるレスポンス

（ユーザー設定のY 値）

標準試料の中の濃度または溶液濃度（ユーザー設定の

X 値）

成分面積成分高さレスポンス

A 面積 20 µg/µL 10000 900 10000

B 高さ 100 µg/µL 12000 1100 1100

D 高さ 5 µg/µL 8000 700 700

Peak A

Peak B

Peak Dピーク A

ピーク B

ピーク D


4

図 4-2 絶対検量線の標準成分の検量線（一点検量線、溶液濃度）

注記：多点検量線を使用する場合も、ソフトウェアは同様な工程を使用します。

レスポンス

10000μV Std

サンプルレスポンス

サンプル溶液濃度

20μg/μL Std

ピーク A

レスポンス

1100μV Std



100μg/μL Std

ピーク B

レスポンス

700μV Std



5μg/μL Std

ピーク D

0

0

0

定量 145

4

4.2.8 単独の標準試料と未知試料を用いた内部標準法による定量

この方法は、回収標準試料として標準試料と未知試料の両方に加えられる内部標準試料を

使用します。この方法は、サンプル調製時のロスを補償するために一般的に使用されます。

この方法は、内部標準試料を含む標準試料のセットに対するレスポンス比を計算すること

によって、初に作成された検量線にレスポンス比を適用して成分の濃度と溶液濃度を決

定します。レスポンス比は、成分ピークと内部標準試料ピークのレスポンスから計算され

ます。レスポンスのタイプは、解析メソッド画面の［成分］テーブルの［定量の基準］

フィールドで選択します。

従来の内部標準法では、成分と内部標準試料のレスポンス比 vs 成分と内部標準試料の濃

度または溶液濃度をプロットし（図 4-3）検量線を作成しました。このソフトウェアは、

レスポンス比に内部標準試料の X 値を掛けたものに対して成分量をプロットすることに

よって作成された検量線の X 値を使用します。この場合、X 値は解析メソッド画面の［成

分］テーブルの濃度または溶液濃度になります（図 4-4）。

図 4-3 従来のレスポンス比 / 濃度（または溶液濃度）比のプロット

0

レスポンス標準試料

レスポンス内部標準試料

濃度標準試料

濃度内部標準試料


4

図 4-4 レスポンス比に内部標準試料の濃度（または溶液濃度）を掛けたプロット


• サンプルローディング時にサンプルの分析で［標準試料注入］機能を使用すること

によって、あるいは（サンプル取り込み後に）［サンプルの変更］で［標準試料］と

［サンプルの種類］を定義することによって標準サンプルを標準試料として定義しな


• サンプルローディング時にサンプルの分析で［未知試料の注入］機能を使用するこ

とによって、あるいは（サンプル取り込み後に）［サンプルの変更］で［未知試料］

と「サンプルの種類］を定義することによって未知試料を未知として定義しなけれ

ばなりません。

• 解析メソッド画面の［スロースピーク濃度］タブで、あるいはサンプルの分析やサ

ンプルの変更画面の［成分の編集］で各標準試料成分の成分名と濃度または溶液濃

度を定義しなければなりません。

• 検量線の X 値は、濃度か溶液濃度のどちらかです。解析メソッド画面の［成分］タ

ブの［濃度の種類］フィールドでX軸として濃度または溶液濃度を選択し使用します。

• 解析メソッド画面の［成分］テーブルの中で、検量線に使用される検量線次数を定

義します。

内部標準法による定量（単独の標準試料と未知試料を使用）を行うためには、ソフトウェ

アは次のことを行います。

1. ピーク同定を使用して、クロマトグラムの中の成分ピークを同定します。

2. 標準試料および内部標準試料のピークのレスポンスおよび濃度または溶液濃度を

決定します。ソフトウェアは、各標準試料のピークのレスポンス比を計算し、内部

標準試料の濃度または溶液濃度を掛けます。得られたレスポンス値がこの成分の検

量線に標準試料のピークの濃度または溶液濃度に対してプロットされます。

図4-5に示したような標準サンプルからのクロマトグラムが与えられた場合、図 4-2に示す濃度およびレスポンス比の値を使用して検量線ポイントを決定します。

0

濃度標準試料

レスポンス標準試料

レスポンス内部標準試料濃度内部標準試料•

定量 147

4

図 4-5 内部標準試料のクロマトグラム

注記：図 4-2 では、［濃度の種類］は濃度に設定されます。

3. 解析メソッド画面の［成分］テーブルの［名前］フィールドの中に示されている各

成分の検量線（レスポンス比に内部標準サンプルの濃度を乗じたもの（Y）、濃度ま

たは溶液濃度（X））を計算します。

表 4-2 標準試料のピーク値、内部標準試料の検量線作成（単独の標準試料と未知試料を使用）

成分名

定量の基となるレスポンス（ユーザー設定の Y 値）

標準試料の中の濃度または溶液濃度（ユーザー設定の

X 値）

成分面積レスポンス

A 面積 20 µg 10000

B 面積 100 µg 12000

C

（内部標準試料）

面積 10 µg 6000 該当しない

D 面積 5 µg 8000

Peak A

Peak B

Peak CPeak D

InternalStandard Peak

ピーク A

ピーク B

ピーク Dピーク C

内部標準試料ピーク

面積 C面積 A

= 100006000 ×10 = 16.67

面積 C面積 B = 12000

6000 ×10 = 20.0

面積 C面積 D = 8000

6000 ×10 = 13.33


4

4. 以下の手順をとって、作成された検量線を基にして未知試料を定量します。

a. 成分テーブルの成分と試料の保持時間を照合し、各未知ピークを識別します。

b. ピークレスポンスを内部標準試料のレスポンスで割り、同定されたピークとの

レスポンス比を計算します。

c. このレスポンス比に内部標準試料の濃度または溶液濃度を掛けたレスポンスを

計算します。

d. サンプルのピークレスポンスおよび注入量を用いて成分の検量線から各サンプ

ルピークの濃度または溶液濃度を計算します。

e. サンプルの分析やサンプルの変更画面の［サンプル］タブで入力する［サンプ

ル重量］と［希釈率］フィールドによって、濃度および溶液濃度を調整します。

計算された濃度と溶液濃度は、レビューのメイン画面および結果画面の［ピー

ク］タブに表示されます。

定量 149

4

図 4-6 に、ピーク成分 A、B、および D（内部標準試料 C は示しません）の定量の

説明を示します。各検量線は、一点検量線を使用しています。

図 4-6 内部標準試料を用いた検量線（一点検量線、濃度）

注記：多点検量線を使用する場合も、ソフトウェアは同様な工程を使用します。

レスポンス


レスポンスサンプル

サンプル 20μg Std

ピーク A

0

レスポンス

レスポンス








16.67 Std

20.0Std

13.38Std

（成分の読み込みテーブルから）



サンプル

サンプル

100μg Std

5μg Std

濃度

濃度

濃度

ピーク B

ピーク D

0

0


4

4.2.9 単独の標準試料や未知試料を用いない内部標準法による定量（RF 内部標準法）

この方法は、ガスクロマトグラフィでよく使用されます。すべてのサンプルは、定量する

未知成分とは異なる時間に溶離する標準試料成分でスパイク波形を示します。各クロマト

グラムが解析されると、未知のサンプルタイプとして扱われます。ソフトウェアは標準試

料成分のレスポンスファクタ（RF）を計算し、そして検量線の係数を使用するのではな

く、標準試料成分のレスポンスファクタを使用して未知成分を定量します。


• サンプルローディング時にサンプルの分析で［RF 内部標準試料の注入］機能を使用

することによって、あるいは（サンプル取り込み後に）［サンプルの変更］で［RF内部標準試料］と［サンプルの種類］を定義することによってすべてのサンプルを

RF 内部標準試料として定義しなければなりません。

• 検量線の X 値は（解析メソッドの［成分］タブの［濃度の種類］フィールドに定義

された）濃度または溶液濃度のどちらかです。

• 解析メソッドの［成分］タブに、標準試料成分の成分名を入力する必要があります。

• 解析メソッドの［スロースピーク濃度］タブで、あるいはサンプルの分析やサンプ

ルの変更画面の［成分の編集］で各標準試料成分の濃度または溶液濃度を入力しな


• 解析メソッドの［成分］タブに、未知成分の成分名を入力することができます（オプ

ション）。

• 解析メソッドの［成分］タブで名前を定義された未知成分は、一般的に、［検量線レ

ファレンス］ピークを使用して定義した標準試料成分のレスポンスファクタ（RF）を使用して定量しますが、［スロースピーク］を使用して定量することもできます。

• 解析メソッドの［成分］タブで名前を定義していない未知成分は、［スロースピーク］

を使用して定量します。

注記：名前を付けた、あるいは名前を付けていない成分の定量する際に、どの標準試料成分

のレスポンスファクタを使用するかを定義するには、［スロースピーク定量］フィールドを使

用します。標準試料ピークをスロースピークとして使用するには、解析メソッドの［成分］

タブのスロースピークがある列で、［スロースピーク定量］フィールドをチェックします。こ

のスロースピークを使用する場合のクロマトグラムの領域を［スロースピーク開始］フィー

ルドと［スロースピーク終了］フィールドで定義します。これらのフィールドを使用すると、

必要に応じて、クロマトグラムの別の領域に別のスロースピークを使用することができます。

スロースピークの開始とスロースピークの終了の間で検出されるピークは、その濃度や溶液

濃度を決定する際に、このスロースピークのレスポンスファクタを使用します。

名前付き成分の定量時に使用する標準試料成分のレスポンスファクタを定義するには、［検

量線レファレンス］フィールドを使用します。検量線レファレンスを使用するには、解析メ

定量 151

4

ソッドの［成分］タブの名前付きの未知成分の列で、［検量線レファレンス］フィールドに

適切な標準試料成分の名前を入力します。

• レスポンスファクタは、解析メソッドの［成分］タブに定義する［定量の基準］と

［濃度の種類］（濃度または溶液濃度）を使用して計算されます。

内部標準法による定量（単独の標準試料と未知試料を使用しない）を行なうためには、ソ

フトウェアは以下を行ないます。

1. ピーク同定を使用して、標準試料の注入で成分ピークを同定します。

2. 次式を使用して、各標準試料成分のレスポンスファクタを決定します。

この場合、

RF = レスポンスファクタ

Y 値= ソフトウェアによって計算される標準試料成分のレスポンス

X値 = 標準試料成分の濃度または溶液濃度

図 4-7 のような RF 内部標準試料のクロマトグラムを想定すると、レスポンスファ

クタを決定するために使用する値は図 4-3 からの濃度とレスポンスの値です。

注記：このタイプの内部標準法を使用すると、検量線は作成されません。

図 4-7 RF 内部標準試料のクロマトグラム

RF = Y 値X 値

ピーク A

ピーク B

ピーク Cピーク D

未知成分

未知成分未知成分

標準試料成分


4

注記：図 4-3 では、［濃度の種類］は濃度に設定されます。

3. 次の式を使用して未知成分の濃度（または溶液濃度）を決定するには、各未知成分

のレスポンスと適切なレスポンスファクタを使用します。

この場合、

RF = 標準試料ピークのために計算されるレスポンスファクタ値

Y 値 = ソフトウェアによって計算される未知成分のレスポンス

X 値 = 成分の濃度または溶液濃度

図 4-4 の未知成分の濃度を決定するために使用する値は、図 4-3 で決定するレスポ

ンスファクタと、図 4-4 の未知成分の値です。

注記：図 4-4 では、ソフトウェアが決定する［濃度の種類］は濃度です。

表 4-3 標準試料成分の値、RF 内部標準試料の検量線作成（単独の標準試料と未知試料を使用しない）

成分名定量の基となるレスポンス

標準試料成分の濃度または溶液濃度

（ユーザー設定のX 値）

成分面積（レスポンスまたは Y 値）

レスポンスファクタ

C

（標準試料成分）

面積 10 µg 6000

表 4-4 未知成分の値、RF 内部標準試料の検量線作成（単独の標準試料と未知試料を使用しない）

成分名定量の基となるレスポンス

成分面積（レスポンスま

たは Y 値）

未知成分の濃度または溶液濃度

（ソフトウェアによって設定される X 値）

A（未知成分）面積 10000 µg

B（未知成分）面積 12000 µg

D（未知成分）面積 8000 µg

600010

------------- 600=

X 値 = Y 値RF

10000600

---------------- 16.667=

12000600

---------------- 20=

8000600

------------- 13.333=

定量 153

4

4.3 検量線の種類

このソフトウェアは、多点の標準試料を使用する場合の絶対検量線法および内部標準法の

検量線に適合する種々の検量線をサポートします。検量線の適合は、複雑さの程度によっ

て 3 つのグループに分類できます。

• 一点検量線（原点通過直線、レスポンスファクタ）

• 多点検量線行列演算

– 多点検量線（直線、1/X の直線、両対数直線、二次曲線、三次曲線、四次曲線、五

次曲線）

– 原点通過多点検量線（直線、二次曲線、三次曲線、四次曲線、五次曲線、レスポン

スファクタ）

• 多点検量線（折れ線、3 次スプライン）

注記：重み付けは、直線、2 次曲線、3 次曲線、4 次曲線、および 5 次曲線にのみ適用できます。

本節では、検量線タイプについて次のように扱います。

• ソフトウェアは、行列演算を使用して多点検量線作成を行います（セクション 4.3.2多点検量線作成の行列演算を参照）。

• ソフトウェアが検量線を作成する際に使用している解析のバックグランドについて

は、セクション 4.4 参考文献を参照してください。

• 以下の例に示した式では、サンプル重量と希釈率に関する調整は行われていません

（セクション 4.2 定量を参照）。

4.3.1 一点検量線

一点検量線の場合には、検量線は原点を通る直線です。ソフトウェアは次の一点検量線を

サポートします。

• 原点通過直線

• レスポンスファクタ


4

図 4-8 に、一点検量線を示します。

図 4-8 一点検量線

原点通過直線

原点通過直線は、次の式で表されます。

この場合、

y = ソフトウェアによって計算される標準試料成分のレスポンス

B = 検量線の傾き

x = 成分の濃度または溶液濃度

サンプル中の成分濃度または溶液濃度は、次式から求めることができます。

この場合、


y Bx=

x yB----=

検量線の種類 155

4

y = ソフトウェアが計算したサンプルピークのレスポンス


レスポンスファクタ

レスポンスファクタ（RF）適合タイプによって、レスポンスファクタ（RF）カスタム

フィールドを作成する必要がなくなります。レスポンスファクタ適合タイプを使用する場

合は、原点通過直線への適合を使用する場合のように、解析メソッド画面の成分タブに適

切な X 値と Y 値を指定してください。

ソフトウェアは、検量線に標準試料成分のレスポンス対濃度（または溶液濃度）をプロッ

トします。レスポンスファクタは検量線の傾きです。検量線に複数のデータポイントをプ

ロットすると、各ポイントのレスポンスファクタが決定され、平均レスポンスファクタが

検量線の傾きとして使用されます。

レスポンスファクタは、次式によって表わされます。

この場合、

RF = レスポンスファクタ（検量線の傾き）

y = ソフトウェアによって計算される標準試料成分のレスポンス

x = 標準試料成分の濃度または溶液濃度

レスポンスファクタに原点通過直線を適合させるとその検量線の式になります。

図 4-9 に、レスポンスファクタ検量線を示します。

RF = Y 値X 値


4

図 4-9 レスポンスファクタの検量線

4.3.2 多点検量線作成の行列演算

多点検量線（直線、1/x の直線、両対数直線、2 次曲線、3 次曲線、4 次曲線、5 次曲線、

原点通過）の場合は、ソフトウェアは行列演算を使用して必要な係数を取得します。

すべての多項式適合について、ソフトウェアは、x-y のポイントのセットまたは x、y およ

び重み付きポイントを、小二乗法によって重みなしまたは重み付き検量線に適合させま

す。この手法は LU（Lower and Upper triangular matrix：上下三角行列）分解と呼ばれる

重みつきまたは重みなし検量線用の定型の計算手順です。

• 成分テーブルで重み付けがなしになっている場合、ソフトウェアは、x-y の各ポイン

トに対して重みなし小二乗法を用いて検量線を適合させます。

• 成分テーブルで重み付けが設定されている場合、ソフトウェアは、x-y の各ポイント

に対して重み付き小二乗法を用いて検量線を適合させます。


4

行列演算

検量線の係数を計算するために小二乗法を使用します。

この場合、

[Y] = レスポンスベクトル

[A] = 計画行列

[C] = 係数ベクトル

これを行うためには、小二乗法で次の直線の通常式を解きます。

([A]T • [W] • [A]) • [C] = [A]T • [W] • [Y]

[W] が対角重み行列である場合、重みなし検量線に対して単一に（全ての対角要素が 1 に

等しく）なります。

[C] = ([A]T • [W] • [A]) -1 • ([A]T • [W] • [Y])

小二乗法については、『Numerical Recipes in C』（William H. Press 他著（第 2 版））の

セクション 15.4「General Linear Least Squares」に説明されています。

行列演算の例

以下の行列演算は、分析された標準サンプルの数に基づいて係数を計算するために使用し

ます。以下の演算は、重みなしの 5 次曲線の適合を説明したものです。

一例として、7 個の標準試料を各濃度 1 点ずつで分析したとします。ソフトウェアは、検

量線ポイントに対して 5 次曲線の適合させようとします。検量線の式の係数は次に示す手

順で計算します。

1. 7 個の標準試料が次の濃度、レスポンスのセット（検量線上にプロットされた x-yプロットされたポイント）だったとします。

(x1, y1), (x2, y2), (x3, y3), (x4, y4), (x5, y5), (x6, y6), (x7, y7)

2. 以下の 7 つの式は、ステップ 1 で示したデータを使用しており、6 個の未知の係数

（ c0 ～ c5）と 7 個のポイントのセットを含んでいます。

y1 = c5(x1)5 + c4(x1)

4 + c3(x1)

3 +c2(x1)

2 + c1(x1)

1 + c0(x1)0

y2 = c5(x2)5 + c4(x2)

4 + c3(x2)

3 + c2(x2)

2+ c1(x2)

1 + c0(x2)0

y3 = c5(x3)5 + c4(x3)

4 + c3(x3)

3 +c2(x3)

2+ c1(x3)

1 + c0(x3)0

y4 = c5(x4)5 + c4(x4)

4 + c3(x4)

3 + c2(x4)

2 + c1(x4)

1 + c0(x4)0

y5 = c5(x5)5 + c4(x5)

4 + c3(x5)

3 + c2(x5)

2 + c1(x5)

1 + c0(x5)0

y6 = c5(x6)5 + c4(x6)

4 + c3(x6)

3 + c2(x6)

2 + c1(x6)

1 + c0(x6)0

Y[ ] A[ ] C[ ]•=


4

y7 = c5(x7)5 + c4(x7)

4 + c3(x7)

3 + c2(x7)

2 + c1(x7)

1 + c0(x7)0

3. 上の式は、行列の形で次のように書くことができます。

あるいは

この場合、

[Y] = レスポンスベクトル

[A] = 計画行列

[C] = 計算して求める係数のベクトル

計画行列 A は、n+1 列と i 行で構成されています（この場合、n は多項式の次数、iはレベルの数）。5 次式の適合のための目的行列 A の構造は上記のとおりです。

4. ソフトウェアは次に LU 分解を使用して小二乗法の通常式を解きます。

([A]T • [A]) • [C] = [A]T • [Y]

y1

y2

y3

y4

y5

y6

y7

x15 x1

4 x13 x1

2 x11 x1

0

x25 x2

4 x23 x2

2 x21 x2

0

x35 x3

4 x33 x3

2 x31 x3

0

x45 x4

4 x43 x4

2 x41 x4

0

x55 x5

4 x53 x5

2 x51 x5

0

x65 x6

4 x63 x6

2 x61 x6

0

x75 x7

4 x73 x7

2 x71 x7

0

c5

c4

c3

c2

c1

c0

•=

Y[ ] A[ ] C[ ]•=


4

4.3.3 多点検量線

ソフトウェアは、以下の多点検量線をサポートしています。

• 折れ線

• 3 次スプライン

• 直線

• 1/x の直線

• 両対数直線

• 2 次曲線

• 3 次曲線

• 4 次曲線

• 5 次曲線

適合度の統計値を計算するために使用される式については、以下の結果とともにセクショ

ン 4.3.6 統計で説明します。

• 検量線についてはすべて、正の X 値、濃度または溶液濃度のみが報告されます。

• 直線の検量線については、標準試料の高濃度以上の値も外挿するので X ≧ 0 の値

が報告されます。

• 直線以外の検量線については、0から標準試料の高濃度までのX値が報告されます。

折れ線への適合

折れ線（点から点）検量線を作成する場合は、ソフトウェアは異なる濃度間で直線を引き

ます。検量線の初および後の部分は直線的に外挿され、小値から大値の間から外

れる X 値を計算する場合に使用されます。

折れ線検量線はすべてのポイントを通るので、相関係数は 1 で、標準誤差は 0 になりま

す。検量線の係数は計算されず、保存されません。


4

図 4-10 は折れ線の検量線を示します。

図 4-10 折れ線の検量線

検量線の折れ線の区間は、次の式によって表されます。

この場合、

y = ソフトウェアが計算した標準試料ピークのレスポンス

Ai = i番目の直線区間のy切片

Bi = i番目の区間の傾き


y Ai Bix+=


4

成分の濃度および / または溶液濃度の決定

定量されたサンプルピークの成分の濃度および / または溶液濃度は、次の式によって決定

できます。

この場合、

x = 成分の濃度および /または溶液濃度

y = 計算されたピークのレスポンス

Ai = i番目の直線区間のy切片

Bi = i番目の区間の傾き

3 次スプライン

3 次スプラインの検量線を作成する場合、ソフトウェアは各連続する 2 つのレベルの間に

3 次多項式を適合させ、各ポイントの境界で傾きと曲率を一致させます。3 次スプライン

は、ポイント毎に検量線の形状を調整します。

3 次スプラインの検量線はすべての点を通過するので、相関係数は 1 で、標準誤差は 0 で

す。3 次スプラインの検量線が使用された場合は、検量線の係数は計算されず、保存され

ません。

xy Ai–

Bi--------------=


4

図 4-11 に、3 次スプラインの検量線を示します。

図 4-11 3 次スプラインによる検量線

3 次スプラインの検量線の各区間は、次の式で表されます。

この場合、Ai、Bi、 Ci、および Di は、その区間の多項式係数です。

注記：y が与えられると反復法を使用して x を算出します。

直線

直線

直線の検量線を計算する場合は、ソフトウェアは、検量線ポイントの濃度および / または

溶液濃度およびレスポンスにも良く適合する直線を計算します。各ポイントの Y 値は

y Ai Bi Cix2 Dix

3+ + +=


4

標準試料のレスポンスで X 値は濃度または溶液濃度です。図 4-12 に、小二乗法によっ

て直線を適合させた検量線を示します。

1/x の直線

1/x の直線の検量線を計算する場合は、ソフトウェアは検量線ポイントの X および Y 値に

直線を適合させます。各ポイントの Y 値は標準試料ピークのレスポンスで、X 値は標準試

料ピークの 1/X 値（濃度または溶液濃度）です。

両対数直線

両対数直線の検量線を計算する場合は、ソフトウェアは検量線ポイントの X および Y 値

に直線を適合させます。各ポイントの Y 値は標準試料ピークのレスポンスの対数で、X は

標準ピークの X 値（濃度または溶液濃度）の対数です。

注記：1/x の直線および両対数直線は、直線適合の式を使用します。

図 4-12 小二乗法の直線の検量線


4

直線の検量線は、次の式で表されます。

この場合、


A = 検量線のy切片



成分の濃度または溶液濃度の決定

定量された試料ピークの成分の濃度または溶液濃度は、次式によって決定できます。

この場合、



A = 検量線のy切片


y A Bx+=

x y A–B

-------------=


4

2 次曲線適合

2 次曲線による検量線を作成する場合は、ソフトウェアは検量線ポイントに小二乗法に

よって 2 次式を適合させます。このタイプの検量線はポイントが 3 つ以下では作成でき

ません。低 5 ポイントは使用することを強くお勧めします。

図 4-13 に、2 次曲線の検量線を示します。

図 4-13 2 次曲線の検量線

2 次曲線は、次式で表される検量線を作成します。

この場合、

y =ソフトウェアが計算した標準試料ピークのレスポンス

x =成分の濃度または溶液濃度

A、B、および C=検量線の多項式の係数

y A Bx Cx2+ +=


4

成分の濃度または溶液濃度の決定

定量されたサンプルピークの成分の濃度または溶液濃度は、x を解くことにより決定でき

ます。

この場合、



A、B、および C = 検量線の多項式の係数

ソフトウェアは、検量線の範囲内にある正の x 値のみを報告します。

x B– B2 4C A y–( )–±2C

----------------------------------------------------------=


4

3 次曲線

3 次曲線の検量線を計算する場合は、ソフトウェアは検量線ポイントに小二乗法によっ

て 3 次式を適合させます。このタイプの検量線は 4 ポイント未満では作成できません。

低 6 ポイントは使用することを強くお勧めします。




この場合、



A、B、C、および D = 検量線の多項式係数

y A Bx Cx2 Dx3+ + +=


4

4 次曲線







この場合、



A、B、C、D、および E = 検量線の多項式係数

y A Bx Cx2 Dx3 Ex4+ + + +=


4

5 次曲線






5 次曲線は、次式で表される検量線を生成します。

この場合、



A、B、C、D、E、および F = 検量線の多項式の係数

y A Bx Cx2 Dx3 Ex4 Fx5+ + + + +=


4

4.3.4 原点通過多点検量線

ソフトウェアは、以下の原点通過多点検量線をサポートしています。

• 直線

• 2 次曲線

• 3 次曲線

• 4 次曲線

• 5 次曲線

• レスポンスファクタ

原点の強制通過検量線は、検量線が数学的に必ず 0 を通過することを除いては、原点を通

過しない検量線に似ています。検量線が強制的に原点を通過するようにすることにより、

強制的に原点を通過しない検量線とは異なった係数がもたらされます。原点強制通過検量

線の場合は、0 次係数（C0）は原点に設定され、ソフトウェアが残りの係数を計算します。

y1 = c5(x1)5 + c4(x1)

4 + c3(x1)

3 + c2(x1)

2 + c1(x1)

1 + 0 (x1)0

y2 = c5(x2)5 + c4(x2)

4 + c3(x2)

3 + c2(x2)

2 + c1(x2)

1 + 0 (x2)0

y3 = c5(x3)5 + c4(x3)

4 + c3(x3)

3 + c2(x3)

2 + c1(x3)

1 + 0 (x3)0

y4 = c5(x4)5 + c4(x4)

4 + c3(x4)

3 + c2(x4)

2 + c1(x4)

1 + 0 (x4)0

y5 = c5(x5)5 + c4(x5)

4 + c3(x5)

3 + c2(x5)

2 + c1(x5)

1 + 0 (x5)0

y6 = c5(x6)5 + c4(x6)

4 + c3(x6)

3 + c2(x6)

2 + c1(x6)

1 + 0 (x6)0

y7 = c5(x7)5 + c4(x7)

4 + c3(x7)

3 + c2(x7)

2 + c1(x7)

1 + 0 (x7)0

図 4-5 に、標準的な式と原点強制通過の式の違いを示します。

原点通過検量線の詳細については、標準的な検量線タイプである原点を通過しない検量線

の項をご参照ください。ソフトウェアは、係数 A が必ずゼロであることを除いて同様な

計算を行います。

表 4-5 標準的な式と原点通過の式の比較

検量線の種類標準的な式原点強制通過の式

直線

2 次曲線

3 次曲線

y A Bx+= y Bx=

y A Bx Cx2+ += y B Cx2+=

y A Bx Cx2 Dx3+ + += y Bx Cx2 Dx3+ +=


4

4.3.5 重み付け

重み付けは、以下の目的で複数レベルのポイントを検量線に適合させる際に適用されま

す。

• も誤差が小さいポイントが検量線の係数を決定するために一番関与していること

を確認するため。

• X 値（濃度または溶液濃度）に合わせて Y 値（レスポンスまたはレスポンス比）の

精度の差を調整するため。

検量線を検量ポイントに適合させるために、ソフトウェアは小二乗法を実行して、検量

線の個々のポイントとの差の合計が小になるような係数を選択します。重み付けに関し

ては、以下のようになります。

• 重み付けを使用しないと、すべてのポイントが同等にその合計に寄与します。

• 重み付けを使用すると、検量線の各レベルでのばらつきを反映するように寄与率が

調整されます。

小化された式は、次のようになります。

この場合、

= 観測されたデータポイント

= 計算されたデータポイント

= 各データポイントの重み係数

自由度 = ポイントの数 -計算された係数の数

重み付けされない（wi= 1）データは、すべてのレベルで精度が同等とみなされます。

重み付けタイプを選択するには、各レベル対 X 値の標準偏差をプロットします。レベル

による標準偏差の違いに基づいて、重み付けタイプを選択します。

重み付けは、以下の標準の検量線に対して適用することができます。

• 直線

• 2 次曲線

• 3 次曲線

• 4 次曲線

• 5 次曲線

yi yi–( )2wi-----------------------------

i 1=∑ 自由度

yiyiwi


4

重み付けのタイプとそれを適用した場合の結果を、図 4-6 に示します。

この場合、

wi = 各データポイントの重み付け係数

xi = データポイントのX値

yi = データポイントのY値

注記：ソフトウェアが重み付きポイントを計算できない場合は、検量線の係数は計算されず、計算

されなかった理由を示す解析コードが表記されます（付録 5, 解析コードを参照）。

4.3.6 統計

統計は、ポイントの検量線への適合度の指標です。Empower ソフトウェアは、以下の統

計的基準を計算します。

• 決定係数

• 相関係数

• 残差平方和

表 4-6 重み付け適用の結果

重み付けタイプ重み付けの式

x wi = xi：検量線（濃度または溶液濃度）の高濃度側のポイントに適合します。

1/x および 1/x2 wi = 1/xi または wi= 1/xi2：検量線（濃度または溶液濃度）の低濃度側のポイ

ントに適合します。x = 0 の場合は、そのポイントの重みおよび係数は計算

できません。 X=0 のポイントがある場合は、計算されず、解析コード Q28 が

検量線コードフィールドに表示されます（付録 5, 解析コードを参照）。

1/y および 1/y2 wi = yi：検量線（レスポンス）の低濃度側のポイントに適合します。

y = 0 の場合は、そのポイントの重みおよび係数は計算できません。 y = 0 の

ポイントがある場合は、計算されず、解析コード Q30 が検量線コードフィー

ルドに表示されます（付録 5, 解析コードを参照）。

x2 wi = xi2：検量線（濃度または溶液濃度）の高濃度側のポイントに適合します。

log x wi = log xi：検量線上のポイントに 10 を底とする対数による重み付き検量

線を適合させ、検量線の高濃度側への対数的適合をもたらします。xi ≤ 1 の

場合は、そのポイントの重みおよび検量線の係数は計算されず、解析コード

Q29が検量線コードフィールドに表示されます（付録5, 解析コードを参照）。

ln x wi = ln xi：検量線上のポイントに X の自然対数による重み付き検量線を適

合させ、検量線の高濃度側への対数的適合をもたらします。xi ≤ 1 の場合は、

そのポイントの重みおよび検量線の係数は計算されず、解析コード Q29 が

検量線コードフィールドに表示されます（付録 5, 解析コードを参照）。


4

• x に対する y の推定値の標準誤差（報告されない）1

• 標準分散（報告されない）1

• 検量線の標準誤差

• ％相対標準偏差

• 検量線の各ポイントの計算値と％偏差

決定係数

決定係数（R2）は、適合度の大まかな指標で、次の式によって計算されます。

この場合、

R2 = 決定係数

R = 相関係数

Sy = x に対するy 推定値の標準誤差

σ2y = 標準分散

相関係数

相関係数（R）は、適合度の指標です。これは決定係数の平方根です。

x に対する y 推定値の標準誤差

x（Sy）に基づく y の推定値の標準誤差は、R2（決定係数）および R（相関係数）を決定

するために使用され、次の式によって計算されます。

この場合、

= ポイントの数

= 重み係数（重み付けがない場合は1に設定します）

= 検量線を使用して予測されたレスポンス

= 検量線ポイントのレスポンス

1. ソフトウェアは、報告されない 2 つの基準を、中間値として計算します。

R2 1Sy )2(

σ2y

----------------–=

Sy1n--- wi yi

ˆ yi–( )i 1=

n

∑2

=

n

wi

yiˆ

yi


4

標準分散

標準分散（σ2y）を使用して、決定係数および相関係数を計算します。標準分散は、次式

によって計算されます。

この場合、



= 次式によって与えられる重み付き平均

残差平方和

残差平方和（RSS）は、適合度およびデータの精度の指標です。これを使用して、推定値

の標準誤差および検量線の標準誤差を計算します。残差平方和は、次式によって計算され

ます。

この場合、

=残差平方和

= ポイントの数




σ2y 1n--- wi yi y–( )2

i 1=

n

∑=

wiyiy

y

wiyii 1=

n

∑

wii 1=

n

∑-----------------------=

RSS wi yiˆ yi–( )

2

i 1=

n

∑=

RSS

n

wi

yiˆ

yi


4

検量線の標準誤差

検量線の標準誤差（E）は、検量線に係数を適合させると小になるような和の平方根で、

次式によって計算されます。

この場合、

= 自由度 = ポイントの数 - 計算された検量線の次数




=残差平方和

検量線ポイントの計算値と％偏差

検量線ポイントの計算値および％偏差は、目視確認または X 値に対してプロットするこ

とにより、適合度を調べるために使用されます。

％偏差は、次式によって計算されます。

% 偏差 =

この場合、

=検量線を使用して予測されたX値（計算された値）

=検量ポイントのX値

％偏差対濃度のプロットは、適合タイプが正しければ、ランダムに分散されるはずです。

計算値対濃度または溶液濃度のプロットは、直線になるはずです。

E 1

d--- wi yi

ˆ yi–( )2

i 1=

n

∑

1d--- RSS==

d

wi

yiˆ

yiRSS

100xiˆ xi–

xiˆ---------------

xiˆ

xi


4

％相対標準偏差

% RSD はデータの適合度および精度の指標になります。

% RSD は次式によって計算されます。

この場合、

= 重み係数（重み付けがない場合は 1 に設定します）


= 全検量線ポイントの重み付き平均レスポンスで、次式で表されます。

= ポイント数

4.4 参考文献

定量の理論に関しての詳細は以下の書籍をご参照ください。

• 『Numeric Recipes in C』、Flannery, Brian P. 著、Cambridge University Press,Cambridge, UK、1988 年

• 『Chemometrics: A Textbook』、Massart, D.L., 他著、Elsevier Science Publishers,Amsterdam、1988 年

• 『Signal Analysis』、Papoulis, Athanasios 著、McGraw-Hill, New York、1977 年

• 『Introduction to Modern Liquid Chromatography 第 2 版』、Snyder, L.R. および

J.J. Kirkland 著、Wiley-Interscience、New York、1979 年

• 『Linear Algebra and Its Applications』、Strang, Gilbert 著、Harcourt Brace Jovanovich,Inc., New York、1988 年

%RSD

wi[i 1=

n

∑ yi• YWM ]–2

[n-1]⁄

12--

YWM----------------------------------------------------------------------------- 100•=

wi

yi

YWM

YWM

wi yi )•(

i 1=

n

∑n--------------------------------=

n

参考文献 177

A
付録5解析コード
解析中の問題は（メイン画面および結果画面の）ピークテーブル、結果画面のクロマトグ

ラム結果テーブル、結果画面の検量線結果テーブル、検量線画面の検量線ステータスおよ

びメッセージセンターのコードフィールドにフラグが付きます。解析コードのサマリーを

図 E-1 に示します。

キー

• C = カスタムフィールドの計算

• E = CE/CIA

• F = 基本 LC

• G = GPC/V （GPC または GPCV）

• I = 基本 LC

• L = ライブラリマッチ（MS または PDA）

• LS = 光散乱

• M = パターンマッチ

• N = 基本 LC

• P = GPC、GPCV、LS、MS、または PDA

• Q = 基本 LC または GPC/V

• REF = 基本 LC

• S = スータビリティ

• V = GPCV

• W = PDA

• X = 基本 LC、GPC、GPCV、または LS

• Z = MS

解析コード 178

A

表 E-1 解析コード

解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

C01 サンプルフィールドの値が無効。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C02 ピークフィールドの値が無効。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C03 結果フィールドの値が無効。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C04 クロマトグラムフィールドの値が

無効。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C05 インジェクションフィールドの値が

無効。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C06 値が小さすぎて割り算に使用でき

ない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C07 POW 関数で使用された対数仮数の

値が無効。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C08 POW 関数で使用された指数の値が

無効。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C09 無効な常用対数計算（Log10）が行

われた。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C10 無効な自然対数計算（Ln）が行われた。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C11 無効な SQRT 計算が行われた。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C12 CCalRef1 で指定したピークの結果がな

い。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C13 解析メソッドの CCalRef1 欄に成分名

がない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C14 CCompRef1 で指定したピークの結果が

ない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C15 解析メソッドの CCompRef1 に成分名

がない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算


ない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

解析コード 179

A
がない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算


ない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算


がない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C20 成分の CConst1 値が無効。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C21 成分の Cconst2 値が不適当。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C22 サンプルタイプのカスタムフィールドが

見つからない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C23 結果タイプのカスタムフィールドが見つ

からない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C24 ピークタイプのカスタムフィールドが見

つからない。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C25 ピーク名が結果の中に見つからない。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C26 成分が解析メソッドにない。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C27 式の配列エラー。結果 ---------- カスタムフィー

ルドの計算

C28 成分の CConst3 の値が無効。ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算


または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算


または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算


または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算


または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

表 E-1 解析コード（続き）

解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 180

A
C34 サンプルセットフィールドの値が無効。ピーク
または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

C35 指定されたサンプル間のラベルを使用して

いる結果セットのなかに結果がない。

結果 ---------- カスタムフィー

ルドの計算

C36 指定されたサンプル間のラベルを使用し

ている使用中のプロジェクトのなかに結

果がない。

結果 ---------- カスタムフィー

ルドの計算

C37 言い換えの種類を値に設定したとき、言

い換えの定義文字列が値に変換できな

かった。

ピーク

または結果

---------- カスタムフィー

ルドの計算

E01 移動度の計算に問題。有効な泳動電圧を

見つけられない。

結果 ---------- CE/CIA

F01 結果のフォールト。必要ピークが検出で

きない。

結果 ---------- 基本 LC

F02 結果のフォールト。スロースピークが検

出できない。

結果 ---------- 基本 LC

F03 結果のフォールト。 RT レファレンスが検

出できない。

結果 ---------- 基本 LC

F04 結果のフォールト。内部標準ピークが検

出できない。

結果 ---------- 基本 LC

G01 バウンズ検量線のスタティクスからこの

X のための Y 値を計算できない。

検量線 ---------- GPC/V

G02 バウンズ型検量線の傾きを計算するにあ

たっての問題。

検量線 ---------- GPC/V

G03 分子量計算のためバウンズ検量線使用の

問題。

検量線 ---------- GPC/V

G04 Gaus-Jordan 消去中のバウンズ検量線作

成にあたっての問題。

検量線 ---------- GPC/V

G05 Levenberg-Marquard 法を用いたバウンズ

型検量線作成にあたっての問題。

検量線 ---------- GPC/V


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 181

A
G06 検量線データに対するバウンズ曲線の適
合の問題。

検量線 ---------- GPC/V

G07 バウンデッド曲線で分子量分布データを

計算中に問題が発生した。間違った v0 - vt

が計算された。

検量線 ---------- GPC/V

G08 MP を計算するための設定に関する問題。結果 ---------- GPC/V

G09 無効な検量線からの MP の計算。結果 ---------- GPC/V

G10 MP を計算するにあたっての問題。粘度

ピークを見つけられない。

ピーク ---------- GPCV

G11 検量線を使用して MP を計算するにあ


ピーク ---------- GPC/V

G12 MP を計算するにあたっての問題。レ

ファレンスピークを見つけられなかった。

結果 ---------- GPC/V

G13 単分散標準試料の検量線作成のための設

定にあたっての問題。

結果 ---------- GPC/V

G14 ピークがなくて単分散標準試料の検量線

の作成を継続できない。

結果 ---------- GPC/V

G15 分子量が不明で、単分散標準試料の検量

線の作成を継続できない。

結果 ---------- GPC/V

G16 濃度が不明で、単分散標準試料による

GPCV 検量線の作成を継続できない。

結果 ---------- GPCV

G17 分子量が無効で単分散標準試料による検

量線の作成を継続できない。

結果 ---------- GPC/V

G18 粘度のピークが見当たらず、単分散標準

試料による GPCV 検量線の作成を継続で

きない。

ピーク ---------- GPCV

G19 単分散標準試料の粘度を計算するにあ

たっての問題で単分散標準試料による検

量線が作成できない。

ピーク ---------- GPC/V

G20 注入量が不明で GPCV の解析が続けられ

ない。

結果 ---------- GPCV

G21 軸分散補正の設定に関する問題。ピーク ---------- GPC/V


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 182

A
G22 コンボリューションアレーにおける要素
があまりにも多いための、繰り返しデコ

ンボリューションにおける問題。

ピーク ---------- GPC/V

G23 ピークコンプレッションにおける問題

（ピークの偏差 <0.0）。

ピーク ---------- GPC/V

G24 ピークコンプレッションにおける問題

（デコンボリュートピークの偏差 <0.0）。

ピーク ---------- GPC/V

G25 繰り返しデコンボリューションにおける

問題。配列においてシグマがネガティブ

か要素がない。

ピーク ---------- GPC/V

G26 分布のための適合モーメントの問題。シ

ンプレックスミニマイゼーションに失敗。

ピーク ---------- GPC/V

G27 モーメントを分布に適合させるにあたっ

ての問題。シンプレックスミニマイゼー

ションが正の傾きに適合しない。

ピーク ---------- GPC/V


ての問題。少なくとも 2 つのモーメント

が必要。

ピーク ---------- GPC/V


ての問題。充分なモーメントを計算でき

ない。

ピーク ---------- GPC/V

G30 分布分子量を計算するにあたっての問題。

モーメントが計算できない。

ピーク ---------- GPC/V

G31 分子量分布曲線の問題。モーメントを計

算できない。

ピーク ---------- GPC/V

G32 分布またはアルファに関する問題。モー

メントを計算できない。

ピーク ---------- GPC/V

G33 GPCV サンプルの濃度を入力できない、

解析を継続できない。

ピーク ---------- GPCV

G34 ピーク濃度計算上の問題。GPCV 解析を

継続できない。

ピーク ---------- GPCV

G35 GPCV 解析を継続できない、粘度計ピー

クを見つけられない。

ピーク ---------- GPCV


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 183

A
G36 ブロード未知試料の定量のための設定に
関する問題。

結果 ---------- GPC/V

G37 ブロード未知試料定量の問題。検量線の

係数がない。

結果 ---------- GPC/V

G38 ブロード未知試料定量の問題。検量線が

低から高になっている時、分布を計算で

きない。

結果 ---------- GPC/V

G39 分布の計算上における問題。検量線が有

効でない。

ピーク ---------- GPC/V

G40 分布計算上の問題。粘度計ピークを見つ

けられない。

ピーク ---------- GPCV

G41 分布計算における問題。分布分子量が減

少しない。

ピーク ---------- GPC/V

G42 ブロード検量線の設定に関する問題。結果 ---------- GPC/V

G43 ブロード標準試料の検量線作成の問題。

検量線の次数が低から高の時、分布を計

算できない。

結果 ---------- GPC/V

G44 ブロード標準試料の検量線における問題。

ブロード標準試料の粘度を計算するにあ


ピーク ---------- GPC/V

G45 モーメントをブロード標準ピークに適合

できない。計算された傾きが負でない。

解析メソッドのブロード標準ピークの波

形解析とスライシングタブをチェックし

てください。

ピーク ---------- GPC/V

G46 分布にスライスが殆どなく解析が続けら

れない。

ピーク ---------- GPC/V

G47 名前がついた分布が見当たらないため、

ブロード標準試料の解析が続けられない。

ピーク ---------- GPC/V

G48 分布のスライスが 0 面積を含んでいるた

め検量線のポイントを追加できない。

ピーク ---------- GPC/V

G49 分布をノーマライズするにあたっての問

題。検量線が有効な傾きでない。

ピーク ---------- GPC/V


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 184

A
G50 分布をノーマライズするにあたっての問
題（ノーマライズされた全領域≦ 0.0）。

ピーク ---------- GPC/V

G51 分布を分析するにあたっての問題（高

MW ≦低 MW）。

ピーク ---------- GPCV

G52 シグマが <0.5 のデータポイントに変換さ

れている。

ピーク ---------- GPC/V

G53 初期スムージングを行うための十分な

データポイントが無い。

ピーク ---------- GPC/V

G54 終スムージングを行うための十分な

データポイントが無い。

ピーク ---------- GPC/V

G55 初または終のスムージングを行うた

めの十分なデータポイントが無い。

ピーク ---------- GPC/V

G56 ノイズの区間のデータポイントが不十分。

少なくとも 20 は必要。

ピーク ---------- GPC/V

G57 大の繰り返しを行っても収束しない、

ピーク幅が狭いか、シグマが大きい。

ピーク ---------- GPC/V

G58 モーメントを計算するための設定に関す

る問題。フィールドが見つけられない。

結果 ---------- GPC/V

G59 分布の頂点が見つけられない。モーメン

トを計算できない。

ピーク ---------- GPC/V

G60 検量線が計算できない。検量線のスロー

プ全体が選択した分子量の検量線の次数

に対して向こうである。

検量線 ---------- GPC/V

G61 標準検量線による GPC 解析のとき、結

果が作成できない。ユニバーサル法に変

えて再解析して下さい。

---------- 警告 GPCV

G62 分布の正規化の問題。 logMw が単調に

なっていない。検量線と波形解析を

チェックしてください。

ピーク ---------- GPC/V

I01 クロマトグラム読み込み時の問題点、

ピークが検出できない。

結果 ---------- 基本 LC


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 185

A
I02 クロマトグラム読み込み時の問題点、マ
ニュアルでピークを解析できない。

結果 ---------- 基本 LC

I03 ユーザーがマニュアルでピークを削除し

た。

結果 ---------- 基本 LC

I04 ユーザーがマニュアルでピークの垂直分

割線を削除した。

ピーク ---------- 基本 LC

I05 ピーク頂点の曲線での近似を行ったとき

の問題点、ピーク内のデータポイントが

不足。

ピーク ---------- 基本 LC


の問題点、ピークの頂点付近のポイント

が対称に並んでいない。

ピーク ---------- 基本 LC


の問題点、2 次関数で近似できなかった。

ピーク ---------- 基本 LC


の問題点、近似したピーク曲線の頂点が

大のポイントの前後のポイントとの間

にない。

ピーク ---------- 基本 LC

I09 従来法：Ver2.1X のアルゴリズムで計算

した保持時間の結果。

結果 ---------- 基本 LC

I10 従来法：ピーク幅および / または検出感

度が空欄でピークが検出できない。

結果 ---------- 基本 LC

I11 ピーク幅が計算できないのでピークが検

出できない。

結果 ---------- 基本 LC

I12 検出感度が計算できないのでピークが検

出できない。

結果 ---------- 基本 LC

I13 ピーク幅の領域が 5 ポイント未満のため、

ピーク幅が計算できない。

---------- レビューに

警告を表示a

基本 LC

I14 検出感度の領域が 20 ポイント未満のた

め、検出感度が計算できない。

---------- レビューに

警告を表示a

基本 LC

I15 解析メソッドに許可されていない波形解

析アルゴリズムがあるために解析が省略

された。

---------- エラー基本 LC


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 186

A
I17 不均一なサンプリングレートで取り込ま
れた警告データ。

結果 ---------- 基本 LC

I18 部分的に欠けているクロマトグラムを解

析して得られた結果は保存できない。結果 ---------- 基本 LC

I19 ApexTrack 解析法：保持時間と高さは 3

点検量で計算された。

ピーク ---------- 基本 LC

I20 ApexTrack 解析法：保持時間と高さは適

合なしの 2 次微分頂点で計算された。ピーク ---------- 基本 LC

I21 ApexTrack 解析法：保持時間と高さの計

算時に 5 点検量での解析に失敗した。

ピーク ---------- 基本 LC


算時に 3 点検量での解析に失敗した。ピーク ---------- 基本 LC


算に、ベースラインからも離れたピー

ク点が使用された。

ピーク ---------- 基本 LC

L01 ライブラリにスペクトルがない。結果 PDA/MS

L02 ライブラリが見当たらない。結果 PDA/MS

L03 Wiley のライブラリがインストールされ

ていない。結果 MS

L04 WileyNIST ライブラリがインストールさ

れていない。

結果 MS

LS01 LC ピークを使用して RI 定数の計算中に

問題が発生した。ピーク濃度の単位が不

明。

ピーク LS

LS02 解析する LS チャンネルが１つしかない

ため、Rg をモデル化できない。Rg は解

析時に強制的にゼロにされた。

ピーク LS

LS03 LC ピークの注入質量の計算上の問題。

ピーク濃度が単位が不明。

ピーク LS

LS04 標準試料に入力した分子量が無視された。ピーク LS


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 187

A
LS10 光散乱解析の問題。メモリの割り当てに
失敗した。

結果または

ピーク

LS

LS11 光散乱解析の問題。光散乱定量のサンプ

ルの種類が一致していない。

結果 LS

LS12 光散乱解析の問題。現在サポートしてい

ない解析の種類が指定された。

結果 LS

LS13 光散乱解析の問題。光散乱のノーマライ

ズが無効、またはノーマライズされてい

ない。

結果 LS

LS14 光散乱解析の問題。光散乱キャリブレー

ションが無効であるか、キャリブレー

ションが行われていないか、キャリブ

レーションが存在しない。

結果 LS

LS15 光散乱解析の問題。光散乱キャリブレー

ションがデータベースに存在しない。ま

たは、データベースから取得できない。

結果 LS

LS16 光散乱解析の問題。成分テーブルが見つ

からない。または、テーブルが空である。

結果 LS

LS17 光散乱解析の問題。光散乱ピークが見つ

からない。または、チャンネルが適切に

解析されていない。

ピークまたは

結果

LS

LS18 光散乱解析の問題。内部エラーにより光

散乱クロマトグラムが見つからない。

結果 LS

LS19 警告：光散乱チャンネルが完全に解析さ

れていない。

結果 LS

LS20 光散乱解析の問題。光散乱チャンネルが

全く解析されていない。

結果 LS

LS21 光散乱解析の問題。内部エラーにより光

散乱クロマトグラムが読み込めない。

ピーク LS

LS22 光散乱解析の問題。光散乱データが空で

ある。

結果 LS

LS23 光散乱解析の問題。所定の結果とクロマ

トグラムが一致しない（内部コード）。

結果 LS


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 188

A
LS24 光散乱解析の問題。スキムピークが負に
なっているなど、解析やピークの種類が

不適切であるか、ベースラインが無効で

あるなど。

ピーク LS

LS25 光散乱解析の問題。適切なピーク（スラ

イス）領域が見つからないため、計算不

能である。較正溶媒光線比、濃度、また

は特定の粘度がピーク全体で負になって

いる。

ピーク LS

LS26 光散乱解析の問題。波長がキャリブレー

ションに指定されていない。

ピーク LS

LS27 光散乱解析の問題。溶媒の屈折率がキャ

リブレーションに指定されていない。

ピーク LS

LS28 光散乱解析の問題。ピーク dn/dc が指定

されていないか、計算されていない。

ピーク LS

LS29 光散乱解析の問題。ピーク A2 が指定さ

れていない。

ピーク LS

LS30 光散乱解析の問題。解析メソッドまたは

光散乱キャリブレーションに流量が指定

されていない。

ピーク LS

LS31 光散乱解析の問題。キャリブレーション

で 1 つ以上のアングルが指定されていな

い。

ピーク LS

LS32 警告：光散乱解析の問題。試料の濃度ま

たは dn/dc がないか、RI キャリブレー

ションが原因で、濃度チャンネルが適切

にキャリブレートされなかった。

ピーク LS

LS33 成分が微少であるか、キャリブレーショ

ンのノーマライズ定数が不正なため、Rg

がモデル化できない。Rg は解析時に強制

的にゼロにされた。

ピーク LS

LS34 光散乱解析の問題。データが空であるか、

解析に必要な情報の一部が不足している。

ピーク LS


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 189

A
LS35 光散乱解析の問題。Levenberg-Marquardt
非線形式に解がない。

ピーク LS

LS36 光散乱解析の問題。モデルが不正である

か、ピークのデータポイントが不足して

いる。

ピーク LS


非線形式が初期化できない。現在のモデ

ルに不適切なデータ使用されている。

ピーク LS


非線形式がループの大値に達したが、

解が出ない。

ピーク LS

LS39 Levenberg-Marquardt 非線形式に関する

内部警告 - 結果が不正なため、後の

ループが無効になった。

ピーク LS

LS40 光散乱解析の問題。行列エラーにより、

Levenberg-Marquardt 非線形式が停止し

た。

ピーク LS

LS41 光散乱解析の問題。内部エラーが発生し

た。

ピーク LS

LS42 内部警告：警告メッセージが出ている。ピーク LS

LS43 光散乱キャリブレーションの問題。チャ

ンネルがノーマライズされていないか、

ノーマライズに使用した光散乱データが、

装置とキャリブレーションで指定された

全チャンネルをカバーしていない。

結果 LS

LS44 光散乱キャリブレーションの問題。ノー

マライズまたはキャリブレーションのサ

ンプルの種類が間違っている。

結果 LS

LS45 光散乱キャリブレーションの問題。分子

量が指定されていないか、キャリブレー

ションで無効な分子量が指定されている。

結果または

ピーク

LS

LS46 通知メッセージ：光散乱ノーマライズを

停止した。

結果または

ピーク

LS


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 190

A
LS47 通知メッセージ：光散乱キャリブレー
ションを停止した。

結果または

ピーク

LS

LS48 光散乱キャリブレーションの問題。単分

散標準キャリブレーションにデュアル検

出メソッドセットだけが使用されている。

粘度チャンネルがキャリブレーションに

使用されていない。

結果 LS

LS49 光散乱データで GPC ピークの固有粘度

が、V0 と Vt の外側にある検量線を推定

して取得されている。

ピーク LS

LS50 光散乱データで検量線を使用して、GPC

ピークの [η] を計算した。

ピーク LS

LS51 非線形 Rg 式の K（LS）とα（LS）の計

算で問題が発生した。

ピーク LS

LS52 分岐計算の問題。分布が一様でない。Rg

式をチェックすること。

ピーク LS

LS53 分岐計算の問題。サンプルの線形 K（LS）とα（LS）が見つからない。

ピーク LS

LS54 全体の g' を計算にあたっての問題。ピーク LS

LS55 光散乱キャリブレーションの問題。解析

不良により分子量が計算できない。

結果または

ピーク

LS

LS56 報告されたイプシロン値が LS データか

ら求めら、解析メソッドのイプシロンが

無視された。

ピーク LS

M01 ラベルが不適切か、レファレンスのクロ

マトグラムがデータベースにないためパ

ターンマッチングができない。

結果 ---------- パターン

マッチ

M02 対応するクロマトグラムのパターンマッ

チができない。

結果 ---------- パターン

マッチ

M03 レファレンスのクロマトグラムまたはサ

ンプルのクロマトグラムを再度示すこと

ができない。

結果 ---------- パターン

マッチ


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 191

A
M04 パターンマッチングができない - 計算し
たピーク幅がない。

結果 ---------- パターン

マッチ

M05 パターンマッチングができない - 頂点が

検出できない。

結果 ---------- パターン

マッチ

M06 パターンマッチングができない - 開始時

間と終了時間が近すぎて 1 つの間隔が計

算できない。

結果 ---------- パターン

マッチ

M07 パターンマッチングができない - 調整間

隔がレファレンスのクロマトグラムのポ

イント数より大きい。

結果 ---------- パターン

マッチ

M08 パターンマッチングができない - 調整間

隔がサンプルのクロマトグラムのポイン

ト数より大きい。

結果 ---------- パターン

マッチ

M09 パターンマッチングができない - 保持時

間検索範囲のポイント数が大きすぎる。

結果 ---------- パターン

マッチ

M10 パターンマッチングができない - 内部計

算エラーが起こった。

結果 ---------- パターン

マッチ

N01 検出ノイズを計算する際の問題。クロマ

トグラムを読めない。

結果 ---------- 基本 LC

N02 検出ノイズを計算する際の問題。計算を

行うための間隔には少なくとも 60 ポイン

ト必要。

結果 ---------- 基本 LC

N03 検出ノイズを計算する際の問題。計算を

行うための 1 区間には少なくとも 30 ポ

イント必要。

結果 ---------- 基本 LC

P01 PDA のノイズベクトルを計算する際の問

題。 PDA 解析を続けられない。

結果 ---------- PDA

P02 PDA 純度パス 1 の計算で問題が発生。ピーク ---------- PDA

P03 PDA 純度パス 2（3 または 4）の計算で

問題が発生。

ピーク ---------- PDA


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 192

A
P04 生成チャンネルの抽出ができない、3D ク
ロマトグラムの波長の範囲外。

---------- 警告 PDA または MS

P05 PDA データが計算できない PDA オプ

ションが OFF の為。

---------- 警告 PDA

P06 MS データが解析できない。 MS オプショ

ンが OFF の為。

---------- 警告 MS

P07 PDA 結果が解析できない。 PDA オプショ


---------- 警告 PDA

P08 MS 結果が解析できない。 MS オプション

が OFF の為。

---------- 警告 MS

P09 GPC 結果が解析できない。 GPC オプショ


---------- 警告 GPC

P10 GPCV 結果が解析できない。 GPCV オプ

ションが OFF の為。

---------- 警告 GPCV

P11 GPCVチャンネルセットが解析できない。

GPCV オプションが OFF の為。

---------- 警告 GPCV

P12 PDA 解析メソッドを用いてデータを解析

できない。 PDA オプションが OFF の為。

---------- 警告 PDA

P13 MS 解析メソッドを用いてデータを解析

できない。 MS オプションが OFF の為。

---------- 警告 MS

P14 GPC 解析メソッドを用いてデータを解析

できない。 GPC オプションが OFF の為。

---------- 警告 GPC

P15 GPCV 解析ができない。 GPCV オプショ


---------- 警告 GPCV

P16 PDA ブランクの引き算ができない。ブラ

ンククロマトグラムが見つからない。

---------- エラー PDA

P17 LS 結果が解析できない。 PDA オプション

が OFF の為。

---------- 警告 LS

P18 3Ｄクロマトグラムを 2D クロマトグラム

に格納するときに問題が発生した。

---------- 警告 PDA/MS

P19 解析メソッドが PDA でないため、指定さ

れた PDA ブランク引き算が実行できな

い。

結果 ---------- PDA


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 193

A
Q01 カスタムフィールドが計算されずピーク
レスポンスが設定できない。

ピーク ---------- 基本 LC

Q02 RT レファレンスピークが検出できない、

適なピークがすでに同定されている。

結果 ---------- 基本 LC

Q03 保持時間比が正しく計算できない。結果 ---------- 基本 LC

Q04 複数のピークが同定できてしまい正しく

同定できない。

ピーク ---------- 基本 LC

Q05 サンプル情報が読み込みできず解析がで

きない。

結果 ---------- GPC/V

Q06 成分数と検量線の数が一致せず解析でき

ない。

結果 ---------- 基本 LC

Q07 注入量のデータがなく濃度 / 溶液濃度が

計算できない。

ピーク ---------- 基本 LC

Q08 濃度 / 溶液濃度がマイナスの値となった、

値はレポートされない。

ピーク ---------- 基本 LC

Q09 濃度 / 溶液濃度の値が検量線の上限を超

えた。

ピーク ---------- 基本 LC

Q10 濃度 / 溶液濃度の値が検量線の下限を下

回った。

ピーク ---------- 基本 LC

Q11 スロースピーク濃度が複数のレベルで設

定してあるがサンプルにはレベル番号が

ない。

ピーク ---------- 基本 LC

Q12 成分が見つからずマニュアルでピーク同

定できない。

結果 ---------- 基本 LC

Q13 検量線が正しくなくマニュアルでピーク

同定できない。

結果 ---------- 基本 LC

Q14 ユーザがマニュアルで同定した結果。結果 ---------- 基本 LC

Q15 ユーザーがマニュアルでピークを追加し

た。

ピーク ---------- 基本 LC

Q16 ユーザーがマニュアルでピークを削除し

た。

ピーク ---------- 基本 LC


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 194

A
Q17 2 つのデータポイントの濃度が等しく検
量線の傾きが正しく計算できない。

検量線 ---------- 基本 LC

Q18 小 2 乗法での計算が正しく行えない。検量線 ---------- 基本 LC

Q19 回帰計算が正しく行えなかった。検量線 ---------- 基本 LC

Q20 無効な検量線。検量線が水平。検量線 ---------- 基本 LC

Q21 検量線からの濃度の計算値が 2 つのポイ

ントで同じになる。

検量線 ---------- 基本 LC

Q22 決定係数の計算の問題。 0.0 以下にするこ

とはでない。（バージョン 4.0 以降では廃

止）

検量線 ---------- 基本 LC

Q23 相関係数が < 0.0 であるため 0.0 にセット

するか、> 1.0 であるため 1.0 にセットし

た。（バージョン 4.0 以降では廃止）

検量線 ---------- 基本 LC

Q24 分散を計算中に問題が発生した（分散 = 0.0）。

検量線 ---------- 基本 LC

Q25 X の値が 0 の為に 1/x の直線の検量線が

計算できない。

検量線 ---------- 基本 LC

Q26 X の値が 0 以下の為、両対数直線の検量

線が計算できない。

検量線 ---------- 基本 LC

Q27 レスポンス値が 0 以下のため、両対数直

線の検量線が計算できない。

検量線 ---------- 基本 LC

Q28 X の値が 0 の為に重み計算が行えない。検量線 ---------- 基本 LC

Q29 X = 0.0 の点の重みを計算中に問題が

発生した。

検量線 ---------- 基本 LC

Q30 Y の値が 0 の場合で重み計算が正しく

行えない。

検量線 ---------- 基本 LC

Q31 クロマトグラムの読み込みが正しく

行えず解析が続行できない。

結果 ---------- GPC/V

Q32 正しく検量線の作成ができない。結果 ---------- 基本 LC

Q33 検量線の問題。検量線と解析

メソッドの不適合。

結果 ---------- GPC/V


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 195

A
Q34 定量の問題。解析メソッドと検量線の不
適合。

結果 ---------- GPC/V

Q35 粘度計チャンネルを使用しないで GPCVの結果の検量線を作成する

際の問題。

結果 ---------- GPCV

Q36 粘度計チャンネルを使用しないで GPCV

の結果を定量する際の問題。

結果 ---------- GPCV

Q37 GPCV の分子量分布再構築の問題。

粘度チャンネルを見つけられない。

結果警告 GPCV

Q38 分布再構築の問題。チャンネル、解析メ

ソッド、または検量線を見つけられない。

結果警告 GPC/V

Q39 レスポンスファクタ適合を使用する際の

問題。 X=0.0 なのでレスポンスファクタ

（y/x）を計算できない。

検量線 ---------- 基本 LC

Q40 RI の時定数を計算する際の問題。サンプ

ルに RI 感度が入力されていない。

ピーク ---------- GPCV または

LS

Q41 RI の時定数を計算する際の問題。サンプ

ルに RI 感度が 0 と入力されている。


LS

Q42 ピーク濃度計算の問題。サンプルに RI 感度が入力されていない。


LS

Q43 ピーク濃度計算の問題。サンプルに RI 感

度が 0 と入力されている。


LS

Q44 ｄn/de 計算の問題。サンプルに RI 感度が

入力されていない。


LS

Q45 ｄn/de 計算の問題。サンプルに RI 感度が

0 と入力されている。


LS

Q46 x 値を計算するためにレスポンスと検量

線を使用するにあたっての問題。検量線

とピークレスポンスのチェックが必要。

ピーク、

検量線

---------- 基本 LC

Q47 分布計算の問題。サンプルにリストされ

た成分名が、解析メソッドのスライス

テーブルにリストされていない。

結果 ---------- GPC/V

Q48 標準誤差の計算の問題。自由度が 1 未満。検量線 ---------- 基本 LC


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 196

A
Q49 成分名の不一致。サンプルに成分名がリ
ストされているが、そのどれも解析メ

ソッドにリストされた成分名と一致しな

い。

結果 ---------- 基本 LC

Q50 ピーク定量の問題。内部標準試料成分は、

検量線レファレンスとして使用できない。

ピーク ---------- 基本 LC

Q51 未知のピークの定量の問題。内部標準試

料成分は、スロースピークとして使用で

きない。

ピーク ---------- 基本 LC

Q52 解析されたインジェクションで成分の

チャネルが見つからなかったために、

ピークが未検出である。

ピーク ---------- 基本 LC

Q53 濃度や溶液濃度の設定の問題。多点のス

ロースピークがあり、このレベルで値が

ない。

ピーク ---------- 基本 LC

Q54 レスポンス計算の問題。内部標準試料の

ピークに濃度や溶液濃度がない。

ピーク ---------- 基本 LC

REF ピークが RT レファレンスピークである

ことを示す。

ピーク ---------- 基本 LC

S01 ベースラインノイズが計算できない分析

時間が短すぎる。

結果 ---------- システムスータ

ビリティ

S02 ベースラインノイズが計算できない、

ベースラインの設定範囲が短い。


ビリティ


ベースラインの開始時間が分析の終了時

間に近すぎる。


ビリティ


ベースラインの終了時間が分析の開始時

間に近すぎる。


ビリティ

S05 ピーク高さ 4.4% の幅の計算が正しく行

えない。

ピーク ---------- システムスータ

ビリティ


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 197

A
S06 ピーク高さ 5% の幅の計算が正しく行え
ない。


ビリティ


ない。


ビリティ


えない。


ビリティ


えない。


ビリティ


ない。


ビリティ


えない。


ビリティ

S12 全てのピーク幅の計算が正しく行えない。ピーク ---------- システムスータ

ビリティ

S13 いくつかのピーク幅の計算が正しく行え

ない。（バージョン 4.0 以降では廃止）


ビリティ

S14 分離度の計算が正しく行えない、ピーク

幅を確認してください。


ビリティ

S15 K' および分離係数の計算が正しく行えな

い、ボイドボリューム時間と保持時間を

確認してください。


ビリティ

S16 USP タンジェント法段数の計算上の問

題。ピークのタンジェント幅が計算でき

ない。


ビリティ

S17 テーリング係数および / またはシンメト

リ係数を計算する際の問題。ピーク高さ

5% の幅が計算できない。


ビリティ

S18 テーリング係数および / またはシンメト

リ係数を計算する際の問題。［ピークの

保持時間］≦［ピーク前半部の高さ 5%幅］のため。


ビリティ


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 198

A
S19 アシメトリが正しく計算できない、シグ
マ（分子）の計算ができないため。（バー

ジョン 4.0 以降では廃止）


ビリティ

S20 アシメトリが正しく計算できない、ピー

ク高さ 10% の幅が計算できないため。

（バージョン 4.0 以降では廃止）


ビリティ

S21 タンジェント幅が正しく計算できない、

タンジェント高さでのピーク幅が計算で

きないため。


ビリティ


接線が設定できないため。


ビリティ


接線とベースラインとの交点を設定でき

ない。


ビリティ

S24 シグマ幅が正しく計算できない、計算に

使うピーク高さの % の位置でピーク幅が

設定できないため。（バージョン 4.0 以降

では廃止）


ビリティ

S25 アシメトリ幅が正しく計算できない

［ピークの保持時間］≦［ピーク前半部の

高さ 5% 幅］のため。


ビリティ

S26 アシメトリ幅が正しく計算できない計算

に使うピーク高さの % の位置でピーク幅

が設定できないため。


ビリティ

S27 USP 分離度が計算できない、ピーク幅を

チェックしてください。


ビリティ

S28 USP 分離度（HH）が計算できない、

ピーク幅をチェックしてください。


ビリティ

S29 タンジェント幅は、変曲点まで引いた接

線を使用して計算されています。


ビリティ

V01 粘度データの適合曲線の問題。分布にお

けるポイントが十分でない。

ピーク ---------- GPCV


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 199

A
V02 粘度ピークが固有の粘度適合に適してい
ない。ピークの波形解析をチェックし、

溶液濃度と粘度ピークの両方が検量線の

V0 と V1 の範囲内で開始され終了する確

認が必要。

ピーク ---------- GPCV

V03 MN（v）の計算に問題。粘度ピークの波

形解析のチェックが必要。

ピーク ---------- GPCV

V04 全体の g' を計算にあたっての問題。ピーク ---------- GPCV

V05 粘度データに検量線が正しく適合しない、

ユーザーがサンプルの K とα を入力し

なかった。

ピーク ---------- GPCV

V06 粘度データに直線を適合させるにあたっ

ての問題。

ピーク ---------- GPCV

V07 粘度データが多項式の曲線を適合させる

にあたっての問題。

ピーク ---------- GPCV

V08 粘度データに曲線を適合するための設定

に関する問題。

ピーク ---------- GPCV

V09 バージョン 3.2 以降では廃止。（ブランチ

ング計算上の問題。ユーザーが複数の

K α ペアを入力した）。

ピーク ---------- GPCV

V10 粘度データに非直線型曲線を適合させる

にあたっての問題。

ピーク ---------- GPCV

V11 粘度データに非直線型曲線を適合させる

際の Chebyshev 式にまつわる問題。

ピーク ---------- GPCV

V12 初の粘度データに適合する直線にまつ

わる問題。

ピーク ---------- GPCV

V13 データ範囲が開始点と終了点の分子量が

等しい粘度データの適合における問題。

ピーク ---------- GPCV

V14 粘度データに初に非直線型曲線を適合

させるにあたっての問題。

ピーク ---------- GPCV

V15 粘度データに非直線型曲線を適合を適

化させるにあたっての問題。

ピーク ---------- GPCV


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 200

A
V16 Chebyshev 係数から多項式の係数を計算
するにあたっての問題。

ピーク ---------- GPCV

V17 粘度データに直線の適合を適化するに

あたっての問題。

ピーク ---------- GPCV

V18 粘度データに直線適合を行うにあたって

の問題。2 ポイントが悪いため、α を推

定できない。

ピーク ---------- GPCV


の問題。これらの 2 つのポイントからα

を推定できない。

ピーク ---------- GPCV


の問題。推定されたα が正数でない。波

形解析をチェックすること。

ピーク ---------- GPCV

V21 粘度データに Zimm-Stockmayer 適合を

適化するにあたっての問題。

ピーク ---------- GPCV

V22 ランダム適合のために粘度データの初

の 1/3 にα を推定するにあたっての問

題。

ピーク ---------- GPCV

V23 ランダム適合のために後から 3 分の 1

の粘度データに対するα を推定するにあ


ピーク ---------- GPCV

V24 ランダム適合のために全ての粘度データ

に対するα を推定するのあたっての問

題。

ピーク ---------- GPCV

V25 初から 3 分の 1 の粘度データに対する

LogK とα を決定するにあたっての問題。

ランダム適合を行えない。

ピーク ---------- GPCV

V26 後から 3 分の 1 の粘度データに対する

LogK とα を決定するにあたっての問題。

ランダム適合を行えない。

ピーク ---------- GPCV

V27 粘度データに対する LogK と αを決定す

るにあたっての問題。ランダム適合を行

えない。

ピーク ---------- GPCV


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 201

A
V28 粘度データがランダム適合に適当ではな
い、データにモデルを適合できない。

ピーク ---------- GPCV

V29 スターブランチング g' の計算に関する問

題。サンプルに直線の K およびα を入

力していない。

ピーク ---------- GPCV

V30 非直線的な粘度を規則的に適合させるた

めの K およびα の計算に関する問題。

ピーク ---------- GPCV

V31 スターブランチの数、f の計算に関する問

題。

ピーク ---------- GPCV

V32 分布をチェックしてください。本来の粘

度が分子量の増加に伴って増大していま

せん。

ピーク ---------- GPCV

V33 GPCV ブロード標準曲線に関する問題。

名前が付けられた分布を使用できない。代わりにモーメントを入力してください。

（バージョン 4.0 以降では廃止）

ピーク ---------- GPCV

V34 GPCV ブロード標準曲線に関する問題。

分子量 - 積分％のリストが使用できない。

代わりにモーメントまたは名前つきの分

布曲線を入力すること。

ピーク ---------- GPCV

V35 溶液濃度データが検量線作成モデル適合

に適していない。

ピーク ---------- GPCV

V36 溶出量データが無効なため、検量線作成

モデル適合を続けることができない。

ピーク ---------- GPCV

V37 検量線作成モデル適合でモデル固有粘度

を計算するにあたっての問題。

ピーク ---------- GPCV

V38 検量線作成モデル適合でモデル固有粘度

の微分を計算するにあたっての問題。

ピーク ---------- GPCV

V39 粘度データに対する検量線作成モデル適

合のための単調溶液の検出するにあたっ

ての問題。

ピーク ---------- GPCV

V40 粘度データに対する検量線作成モデル適

合を適化するにあたっての問題。

ピーク ---------- GPCV


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 202

A
V41 検量線作成モデル適合用の Chebyshev 係
数から多項係数を計算するにあたっての

問題。

ピーク ---------- GPCV

V42 検量線作成モデル適合でスライス K とα

を計算するにあたっての問題。検量線ま

たは GPC 検量線作成手法が有効でない。

ピーク ---------- GPCV

V43 ユーザーがスライステーブルにε 値を入

力しなかったために、ランダム固有粘度

適合を実行できない。イプシロンがブラ

ンクであるため、GPCV 解析が実行でき

ない。

ピーク、

結果

---------- GPCV、LS

V44 ピークブランチング計算の問題。 GPCV分布が単調ではない。固有粘度適合の

チェックが必要。

ピーク ---------- GPCV

W01 PDA メソッド、チャンネル：ファイルに

データが入っていない。

---------- 警告 PDA

W02 PDA メソッド、チャンネル：波長要素数

が不足している。

---------- 警告 PDA

W03 PDA メソッド、チャンネル：波長データ

がない。

---------- 警告 PDA

W04 PDA メソッド、チャンネル：UV ライブ

ラリがない。

---------- 警告 PDA

W06 PDA メソッド、チャンネル：ノイズスペ

クトルが不足している。

---------- 警告 PDA

W07 PDA メソッド、チャンネル：ピークスペ

クトルが不足している。

---------- 警告 PDA

W08 PDA メソッド、チャンネル：ノイズスペ

クトルが無効である。

---------- 警告 PDA

W10 PDA メソッド、チャンネル：モデルスペ

クトルより波長要素数が少ない。

---------- 警告 PDA

W11 PDA メソッド、チャンネル：モデルスペ

クトルのデータがすべて 0 である。

---------- 警告 PDA


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 203

A
X01 単一値分解の数値ルーチンに問題がある
（m < n）。

検量線または

ピーク

---------- 基本 LC

X02 普通でない分析値の問題。マトリックス

が普通でない値。

検量線または

ピーク

---------- 基本 LC

X03 検量線から Y の値を計算したときに 2 つ

のデータポイントがまったく同じ値を

持ってしまい正しく計算できない。

ピーク ---------- 基本 LC

X04 カーブの計算されたスロープにおける問

題。2 ポイントが X 値において等しい。

検量線 ---------- 基本 LC

X05 マトリックスの反転による問題。そのマ

トリックスが単一でない。

ピーク ---------- 基本 LC

X06 Chebyshev の多項式を評価する問題。

Log 分子量が範囲外である。

ピーク ---------- GPC/V

Z01 警告： ZQ チャンネルの説明に未キャリ

ブレーションと記載されている。

結果 ---------- MS

Z02 インジェクションに関数がないため、抽

出された ZQ チャンネルの結果が作成さ

れなかった。

---------- 警告：レ

ビューに警告

メッセージを

表示

MS

a. 倍率が非常に大きな場合、［ピーク幅］または［基準値］をクリックすると、レビューにメッセージ

が表示されます。


解析

コード意味

解析コードの

タイプ

メッセージ

センターの

メッセージ

オプション

解析コード 204

B

付録6データ解析システムポリシー

Empower［システムポリシー］ダイアログボックスで次表に示したシステムポリー設定

は、Empower™ ソフトウェアの動作を制御します。

• ユーザーアカウントポリシーは、アカウントとポリシーを制御し、ログイン画面のポ

リシーを設定します。

• 新規プロジェクトポリシーでは、［フルオーディットトレイルポリシー］と［データ解

析方法］（ApexTrack 解析法または従来法）で選択を求めます。

• その他のポリシーは、データ解析ポリシーや結果の承認などのポリシーを管理しま

す。

以上のポリシーの詳細については、『Empower ヘルプ』を参照してください。

付録 B では、データ解析ポリシーだけを取り上げます。Empower［システムポリシー］

ダイアログボックスの［その他のポリシー］タブでは、次の 4 つのデータ解析ポリシーが

選択できます。

• v3.0X のピーク幅と検出感度計算方法の使用

• v2.XX の保持時間の計算方法を使用

• レビュー画面でマニュアルで行われた変更を保存する時に通知

• 検量線のポイントの％偏差を計算

6.1 v3.0Xのピーク幅と検出感度計算方法を使用する

このシステムポリシーは、Empower ソフトウェアが Millennium32バージョン 3.0x の手順

を使用して、解析メソッドのピーク幅と検出感度を設定することを指定します。このオプ

ションは Empower ソフトウェアのオートピーク幅とオート検出感度機能を無効にし、レ

ビューのツールバーから結果のピーク幅と検出感度フィールドを削除します。また、［解析

メソッド作成ウィザード］機能をバージョン 3.0x に設定します。

このシステムポリシーを有効にしてピーク幅値を設定するには、次の操作を行ないます。

1. 標準試料クロマトグラムでも狭い該当のピークを波形解析します。ピークは、適

切な開始時間と終了時間で正しく波形解析されなければなりません。必要に応じ

データ解析システムポリシー 205

B

て、ピークマーカをクリックし、適切な位置にドラッグして、手動でピーク開始 /ピーク終了を調整します。

2. ピークが正しく波形解析されたら、ピークの内側をクリックします。ピークが赤く

描画されます。

3. ツールバーの解析メソッドピーク幅の設定ツールをクリックします。ソフトウェア

は適切なピーク幅を決定し、このフィールドに値を入力します。

注記：適切なピーク幅を入力するには、このフィールドに直接入力するか、フィールドのドロップ

ダウンリストから適切なピーク幅を選択します。

セクション 3.1.1 データバンチングの実行で説明したように、ソフトウェアはピーク検出

時に、ピーク幅値を使用してバンチング係数を決定するため、ピーク幅はピーク検出プロ

セスの感度に影響を与えます。この指針では、ソフトウェアが決定したピーク幅値の± 2倍の範囲内の値を使用しています。信号対ノイズ比が許容可能であれば、この範囲の高い

方のピーク幅値が感度を増加させることができ、比較的小さなピークでも正しく波形解析

することができます。この方法を使用することによって大きなピークにショルダーがある

場合にはショルダーピークが検出されないことがあります。この範囲以上にピーク幅を大

きくすると、感度は損なわれることがあります。

注記：このシステムポリシーは解析メソッドで適切なピーク幅値をどのように決定し、設定するか

を左右するのみであり、ソフトウェアがピーク検出時や波形解析時にピーク幅値を使用する方法に

ついては決定しません。解析のさい、このシステムポリシーが有効または無効であっても、「ピーク

幅」パラメータは同じように機能します。

このシステムポリシーを有効にして「検出感度」値を設定するには、次の操作を行ないま

す。

1. マウスで、詳細が確認できるまでベースライン全体を拡大します。

2. 波形解析するピークを含まない、ペースラインのもノイズが発生している部分を

拡大します。この部分のみがプロット画面に表示されるようにします。

3. ツールバーの「解析メソッドの検出感度設定」ツールをクリックします。ソフト

ウェアは適切な検出感度値を決定し、このフィールドに入力します。

注記：また、このフィールドに適切な検出感度値を手動で入力することもできます。

検出感度値は、スロープの測定値（µV/ 秒）であり、セクション 3.1.2 ピーク開始の決定

とセクション 3.1.4 ピーク終了の決定で説明したように、ピーク検出時にピークの開始点

と終了点を決定するために使用されます。検出感度を比較的小さく設定すると、感度は向

上します。また、かなり小さなピークも適切に波形解析されます。あまりにも多くのピー

クがベースラインノイズのピークとして波形解析されるようであれば、検出感度を大きく

すると、このような小さなピークを解析しないようにすることができます。


B

注記：このシステムポリシーは解析メソッドで適切な検出感度値をどのように決定し、設定するか

を左右するのみであり、ソフトウェアがピーク検出時や波形解析時に検出感度値を使用する方法に

ついては決定しません。解析の際、このシステムポリシーが有効になっていてもいなくても、［検出

感度］パラメータは同じように機能します。

6.2 v2.XXの保持時間の計算方法を使用する

このシステムポリシーは、Empower ソフトウェアがミレニアムバージョン 2.xx アルゴリ

ズムを使用してピーク保持時間と高さを決定することを指定します。このポリシーが有効

になっていると、ソフトウェアはベースラインから高のデータポイントのみを使用して

保持時間と高さを決定し、二次曲線をピークのトップに合わせることを無効にします。結

果が作成されると、結果テーブルに解析コード 109 が表示されます。

このシステムポリシーを有効にして保持時間と高さを決定するためには、ソフトウェアは

次のことを行ないます。

1. ピークの中の、作成されたベースラインからもっとも高い位置にあるデータポイン

トの時間を、ピークの保持時間の場所として見つけます。

2. 作成されたベースラインから、計算されたピーク頂点の Y 値までの距離（µV 単位）

としてピーク高さを計算します。

6.3 レビュー画面での変更内容の保存を要求する

このシステムポリシーは、ソフトウェアを終了するときに、レビュー画面で手動で行なっ

た結果や検量線の変更内容を保存することを促すメッセージを表示するように指定しま

す。このシステムポリシーが有効でない場合、レビューでデータを変更しても、ソフト

ウェアの終了時に結果と検量線を保存よう求めるメッセージは表示されません。

6.4 検量線のポイントの％偏差を計算する

このシステムポリシーは、検量線ポイントが検量線からどれだけ遠くに離れてもソフト

ウェアが％偏差を計測することを指定します。一般に、％偏差は検量線が検量線ポイント

からどれくらいずれているかをみる判断基準です。

％偏差は、検量線上にプロットされた各データポイントに対して計算されます。これは、

データポイントが示す（ユーザーが入力した）ピークの濃度または溶液濃度と、ピークが

未知のもので、検量線から定量されたかのようにレスポンスが扱われるときのピークに対


B

して決定される濃度または溶液濃度の間の差を示します。この差は、パーセントで表わさ

れます。

このシステムポリシーが有効な場合、検量線からデータポイントの％偏差を得るための式

は次のとおりです。

この場合、

入力値 = データポイントのX値

計算値 = 検量線から得るX値

このシステムポリシーを無効に設定した場合、ソフトウェアは次式を使用して、データポ

イントから検量線の％偏差を計算します。

この場合、

入力値 = データポイントのX値

計算値 = 検量線から得るX値

注記：解析メソッドで ApexTrack を有効にすると、ウィザードは「v3.0X のピーク幅、検出感度の

計算方法を使用」システムポリシーを無視し、このシステムポリシーが無効に設定されているもの

として、ウィザードページを表示します。

％偏差= 入力値－計算値計算

1 0

％偏差= 入力値－計算計算

1 0


C

付録7入門：ApexTrackによる解析

付録 C では、ApexTrack 解析の手順を順を追って説明します。

注記：このガイドでは、Empower プロフェッショナルインターフェースを使用しています。このイ

ンターフェースにアクセスできない場合は、システム管理者に問い合わせてください。

7.1 Empowerソフトウェアを起動する

Empower ソフトウェアを起動するには、次の操作を行います。

1. ［スタート］>［プログラム］（Windows XP の場合は［すべてのプログラム］）>［Empower］>［Empower ログイン］を選択します。［Empower ログイン］ダイア

ログボックスが表示されます（図 G-1）。

図 G-1 ［Empowerログイン］ダイアログボックス

2. ユーザー名とパスワードを入力します。ユーザー名やパスワードが分からない場合

は、システム管理者に問い合わせてください。

3. Empower エンタープライズシステムを使用している場合は、［データベース］リス

トから適切なデータベースを選択します。［データベース］リストは、クライアン

ト / サーバシステムに接続している場合だけ表示されます。

4. ［詳細］をクリックし、［要求されたインターフェース］フィールドが Pro に設定さ

れていることを確認します。Empower プロフェッショナルインターフェースが選

択できない場合は、システム管理者に問い合わせてください。

5. ［OK］をクリックします。Empower プロフェッショナル画面が表示されます。

パーソナルシステムワークグループまたはエンタープライズシステム

入門：ApexTrack による解析 209

C

7.2 ピーク波形解析を設定する

ApexTrack 波形解析を使用するには、適切な権限が必要です。必要な権限がない方は、シ

ステム管理者に問い合わせてください。ApexTrack 波形解析は、次の 3 つの連続的なレベ

ルで有効です。

1. データベース – ［プロジェクトポリシー］ダイアログボックスのシステムポリシー

で指定したシステム共通の Empower データベースが対象になります（セクショ

ン 7.3 Empower データベースの ApexTrack 波形解析を参照）。

2. プロジェクト – ［プロジェクトのプロパティ］または［プロジェクト新規作成ウィ

ザード］で指定した新規プロジェクトが対象になります。また、既存のプロジェク

トに関しては、システムの管理画面の［プロジェクトのプロパティ］で指定したプ

ロジェクトが対象になります（セクション 7.4 プロジェクトの ApexTrack 解析法を

参照）。

3. メソッド – ［解析メソッド］ダイアログボックスの［波形解析］タブで指定した各

解析メソッドが対象になります（セクション 7.5 解析メソッドの ApexTrack 解析法

を参照）。

7.3 EmpowerデータベースのApexTrack波形解析

次の手順を実行するには、［システムポリシーの変更］権限が必要です。この権限を設定

するには、［ユーザーの種類プロパティ］ダイアログボックスの［管理］タブを使用します。

Empower データベースの ApexTrack 波形解析を有効にするには、次の操作を行います。

1. Empower プロフェッショナル画面の［システムの管理］をクリックします。シス

テムの管理が表示されます。

2. ［表示］>［システムポリシー］を選択します。

3. ［プロジェクト新規作成ポリシー］タブをクリックします。［プロジェクト新規作成

ポリシー］タブが表示されます（図 G-2）。


C

図 G-2 ［プロジェクト新規作成ポリシー］タブ

4. ［データ解析方法］セクションの［ApexTrack 解析法の使用を許可する］を選択し

ます。このシステムポリシーは、ApexTrack 解析方法と従来法の使用をデータベース

で許可します。

5. このデータベースで作成する各プロジェクトにApexTrack解析法の使用を許可する

には、［プロジェクト新規作成］ウィザードの［テーブルスペース］ページを開き、

［プロジェクト新規作成時の既定の設定］セクションの［Apex Track 解析法を有効

にする］をオンにします。デフォルトの解析方法は従来法ですが、プロジェクト作

成者は解析メソッドで ApexTrack が選択できます。

6. 新規プロジェクトのデフォルトの解析方法をApexTrackに設定するには、［プロジェ

クト新規作成］ウィザードの［テーブルスペース］ページを開き、［デフォルト解


C

析法］リストから ApexTrack を選択します。デフォルトの解析方法は ApexTrack解析法ですが、プロジェクト作成者は解析メソッドで従来法が選択できます。

新規プロジェクトのデフォルトの解析方法を従来法に設定するには、［デフォルト

解析法］リストから従来法を選択します。

7. ［OK］をクリックし、設定を保存します。［システム管理］メッセージボックスが

表示されます（図 G-3）。

図 G-3 ［システム管理］メッセージボックス

8. ［OK］をクリックします。

7.4 プロジェクトのApexTrack解析法

次の手順を実行するには、Alter Projects 権限が必要です。この権限を設定するには、［ユー

ザーの種類プロパティ］ダイアログボックスの［管理］タブを使用します。

注記：プロジェクトで ApexTrack を有効にするには、［プロジェクト新規作成ポリシー］タブの

［データ解析］セクションで［ApexTrack 解析法の使用を許可する］システムポリシーを選択する

必要があります。

7.4.1 新規プロジェクトで ApexTrack 解析法を有効にする

プロジェクトを新規作成するとき、ApexTrack 解析法を有効に設定できます。また、新規

プロジェクトで作成する新規解析メソッドに対して、デフォルトの解析方法として

ApexTrack が指定できます。

新規プロジェクトの作成時に ApexTrack 解析法を有効にするには、次の操作を行います。



2. ［ファイル］>［新規作成］>［プロジェクト］を選択するか、（プロジェクト新

規作成ウィザード）をクリックします。［プロジェクト新規作成ウィザード］の

［テーブルスペース］ページが表示されます（図 G-4）。


C
図 G-4 [プロジェクト新規作成ウィザード – テーブルスペース］ページ
3. ［データ解析方法］セクションの［Apex Track 解析法を有効にする］を選択します。

4. 新規プロジェクトで解析メソッドを作成するとき、デフォルトの解析方法として

ApexTrack を［波形解析］タブに表示するには、［デフォルト解析法］リストから

ApexTrack を選択します。

新規プロジェクトで作成する各解析メソッドで従来法をデフォルトの解析方法に

設定するには、デフォルト設定の従来法を受け入れます。

注記：新規解析メソッドでは、デフォルトの解析方法に関係なく、ApexTrack 解析法または

従来法が選択できます。ApexTrack 解析法を有効にすると、既存の解析メソッドで ApexTrack

と従来法が切り替えられます。

5. ［次へ］をクリックし、残りのページを完了します。

7.4.2 既存のプロジェクトで ApexTrack 解析法を有効にする

既存のプロジェクトに関するデータ解析方法の設定を変更するには、［Apex Track 解析法

を有効にする］チェックボックスとプロジェクトの［デフォルト解析法］リストを使用し

ます。

既存のプロジェクトで ApexTrack 解析法の使用を許可するには、次の操作を行います。




C

2. システムの管理でプロジェクトを選択し、［ファイル］>［プロパティ］を選択しま

す。または、テーブルの中から適切なプロジェクトを右クリックし、［プロパティ］

を選択します。選択したプロジェクトの［プロジェクトのプロパティ］ダイアログ

ボックスの［全般］タブが表示されます（図 G-5）。別のタブが表示された場合は、

［全般］タブをクリックします。

図 G-5 ［プロジェクトのプロパティ］ダイアログボックスの［全般］タブ

3. ［データ解析方法］セクションの［Apex Track 解析法を有効にする］を選択し、カ

レントプロジェクトでApexTrack解析法を有効にします。プロジェクトの解析メソッ

ドでは、ApexTrack 法または従来法が利用できます。

4. このプロジェクトで作成する解析メソッドでデフォルトの解析方法として

ApexTrack を［波形解析］タブに表示するには、［デフォルト解析法］リストから

ApexTrack を選択します。

［デフォルト解析法］リストから ApexTrack を選択しない場合、このプロジェクト

で作成する新規解析メソッドでは、従来法がデフォルトになります。

注記：新規解析メソッドでは、デフォルトの解析方法に関係なく、ApexTrack 解析法または

従来法が選択できます。ApexTrack 解析法を有効にすると、既存の解析メソッドで ApexTrack

と従来法が切り替えられます。



C

7.5 解析メソッドのApexTrack解析法

データベースとプロジェクトで ApexTrack 解析法を有効にすると、解析メソッドの

ApexTrack 法が有効になります。解析メソッドは、生データファイルやチャンネル内の

ピークを検出、解析するためのパラメータとして、検出や解析イベントなどを定義します。

次の手順を実行するには、［解析メソッドの保存］権限が必要です。この権限を設定する

には、［ユーザーの種類プロパティ］ダイアログボックスの［管理］タブを使用します。

7.5.1 ApexTrack で解析メソッドを新規作成する

ApexTrack 解析方法を使用して、解析メソッドを新規作成するには、次の操作を行います。

1. レビュー画面でプロジェクトを開きます。

2. ［ファイル］>［新規作成］>［解析メソッド］を選択します。［解析メソッド新規作

成］ダイアログボックスが表示されます（図 G-6）。

図 G-6 ［解析メソッド新規作成］ダイアログボックス

3. 必要に応じて、解析の種類を［解析の種類］から選択するか変更します。

4. ［解析方法］リストから ApexTrack を選択します。

5. ［解析メソッド作成ウィザード］を使用する場合は、［解析メソッド新規作成ウィ

ザードを使用する］を選択します。


注記：ApexTrack 法と従来法は、各メソッドの設定値を継承した状態で切り替えられます。

注記：解析メソッドで ApexTrack が有効になっている場合、［解析メソッド作成ウィザード］は

「v3.0X のピーク幅と検出感度計算方法の使用」システムポリシーを無視し、システムポリシーが無

効になった状態でページを表示します。


C

7.5.2 既存の解析メソッドで ApexTrack を有効にする

既存の解析メソッドで ApexTrack 波形解析を有効にするには、次の操作を行います。

1. 解析メソッドを開き、［波形解析］が選択されていることを確認します。

2. 解析法が従来法であれば、［解析方法］リストからApexTrackを選択します（図G-7）。

図 G-7 デフォルトに設定されたApexTrack解析メソッド

3. 必要に応じて、頂点の検出パラメータを入力するか編集します（セクション 2.1.3解析メソッドパラメータの概要を参照）。頂点の検出パラメータには、開始（分）、

終了（分）、ピーク幅（秒）、検出感度があります。

4. 必要に応じて、ピーク解析パラメータを入力するか編集します（セクション 2.1.3解析メソッドパラメータの概要を参照）。ピーク解析パラメータには、ベースライ

ン決定パラメータ（立ち上がり % と立ち下がり %）、ピーク承認基準（小面積と

小高さ）があります。

注記：GPC 解析メソッドで許可された立ち上がり % と立ち下がり % の小値は 5% です。

GPC の立ち下がり % の初期設定値は 0.000% です。

5. 波形解析テーブルに解析イベントを入力し、イベントを設定し、必要に応じて、ピー

ク検出パラメータを調整します（セクション 2.8 ピーク検出イベント、セクショ

ン 2.9 ピーク解析イベント、セクション 7.6 解析イベントのまとめを参照）。

波形解析テーブル


C

7.5.3 解析メソッドの解析方法を変更する

既存の解析メソッドで波形解析法を変更するには、［解析方法］タブを使用します。解析

方法を選択すると、適切なパラメータが［波形解析］タブに表示されます。ApexTrack 法

と従来法は、各メソッドの設定値を継承した状態で切り替えられます。

従来法から ApexTrack への切り替え

既存の解析メソッドの解析方法を従来法から ApexTrack に切り替えるには、次の操作を

行います。

1. プロジェクトを開き、オープンする解析メソッドをダブルクリックします。選択し

た解析メソッドの［波形解析］タブが表示されます（図 G-8）。

図 G-8 ［波形解析］タブに表示された従来法のパラメータ


C

2. ［解析方法］リストから ApexTrack を選択します。適切なパラメータが［波形解析］

タブに表示されます（図 G-9）。

図 G-9 ［波形解析］タブに表示されたApexTrackのパラメータ

3. 解析メソッドのパラメータを入力します（第 2 章 ApexTrack 波形解析を参照）。

ApexTrack から従来法への切り替え

既存の解析メソッドの解析方法を ApexTrack から従来法に切り替えるには、次の操作を行

います。

1. プロジェクトを開き、オープンする解析メソッドをダブルクリックします。選択し

た解析メソッドの［波形解析］タブが表示されます（図 G-9）。

2. ［解析方法］リストから従来法を選択します。適切なパラメータが［波形解析］タ

ブに表示されます（図 G-8）。

3. 解析メソッドのパラメータを入力します（第 3 章従来法の波形解析を参照）。

注記：解析メソッドで ApexTrack 解析法を使用する場合、そのパラメータがレポートに記述されま

す。

注記：ApexTrack 解析法がプロジェクトで有効になっていないが、ApexTrack を有効にした解析メ

ソッドでデータをバックグランドで解析する場合、その解析メソッドによる処理はすべてスキップ

され、解析エラーがメッセージセンターに表示されます。


C

7.6 解析イベントのまとめ

ApexTrack 波形解析は次の波形解析時間イベントをサポートしており、それらは波形解析

テーブルの「種類」列で選択できます（セクション 2.8 ピーク検出イベントを参照）。

• 負のピークを許可（セクション 2.8.3 を参照） – 負のピーク検出を設定すると、

ApexTrack は負のピークを特定して解析します。

• ショルダーを検出（セクション 2.8.2を参照） – ショルダーを検出を設定すると、ピー

クとショルダーがクロマトグラムに表示されます。ApexTrack は正のピークを曲率の

ローカル大値、負のピークをローカル小値として検出するため、初はすべて

の成分が検出されます。

– ショルダーを検出解析イベントを追加すると、イベントがアクティブであれば、す

べてのショルダーを検出が保持され、適切なピーク境界と垂線が描画されます。

– このイベントを追加しない場合、個別のアルゴリズムがショルダーを識別します。

ショルダーピークは、隣接するピークにマージされます。

• 6 つのセットイベント（セクション 2.8.4 を参照） – セットイベントを設定すると、特

定のイベントや定数が設定され、検出感度、立ち下がり %、ピークの小面積、ピー

クの小高さ、ピーク幅、立ち下がり % が検出されます。

• 積分禁止（セクション 2.8.1 を参照） – 積分禁止イベントを設定すると、指定した時

間だけピーク解析が中断されます。

• ガウシャンスキム（セクション 2.9.2 を参照） – ガウシャンスキムイベントを設定す

ると、ガスススキムはピーク境界の指数スキムを置換します。


C

• GPC ピークの組み込み（セクション 2.9.3 を参照） – GPC ピークの組み込み（GPCのみ）を設定すると、同じ符号（両方が正または負）の連続するピーク間の垂直分

割線が削除され、単一のピークにマージされます。

• 谷渡り（セクション 2.9.1 を参照） – 谷渡りを設定すると、融合したピークグループ

の各谷点にベースラインが描画されます。

7.7 結果のピークラベル

注記：ApexTrack 解析法で結果を解析すると、［結果］フィールドの［解析方法］が ApexTrack に設

定されます。

ApexTrack 解析法を実行する場合には、この解析法に固有のピークの種類（図 G-1）を識

別する 4 種類のラベル（G、R、S および X）が使用されます（セクション 2.1.5 ApexTrackの波形解析ピークラベルを参照）。

表 G-1 ApexTrack波形解析のピークラベル

ラベルピークの開始点と

終了点説明

G ガウスガウシャンスキムは、ピーク境界の垂直分割線を置換します。

R ラウンド

（図 G-10）ピーク変曲点を共有する連続する 2 つのピーク間の境界（谷）を

示します。垂線は谷点の垂直分割線と同様、ラウンド位置に描

画されます。

S ショルダー

（図 G-10）

ピークは、ショルダー（数学的に算出した谷点）で開始または

終了します。垂線は、V 字型と同様、S 字型で描画されます。

X クロスオーバー

（図 G-11）

ピークはクラスタベースラインが信号と交差する交点で開始ま

たは終了します。次のピークは異なる符号になります（一方が

正のピークであれば、他方は負のピークになります）。文字 X は、

移動不可の B として扱われます。プロット内のそのマーカーは、

常にハーフサイズの x で描画されます。


C

図 G-10 ApexTrackのピークラベル

図 G-11 ApexTrackのクロスオーバーピーク

ApexTrack 解析法に適用するピークテーブルには、以上の他に、［幅］、［開始高さ］、［終

了高さ］フィールドがあります。また、新しく追加された列は次のとおりです。

• 変曲幅（秒） – ピーク変曲点（秒）間で補間されたピーク幅です。

• 2 次微分頂点（分） – ピークの 2 次微分頂点の保持時間（分）です。従来法を選択し

た場合、このフィールドはブランクになります。

B B B BV B S B B R B

谷ショルダーラウンド解決

B B B x B B B B Bx x

クロスオーバーを伴う 3 つのピーク例解決


C

7.8 マニュアル解析のガイドライン

このガイドラインは、マニュアル解析時にピークプロファイルの解析マーカー位置を変更

するときに使用します。

7.8.1 ピークを追加 / 削除する

• 従来法の解析と同様に、手動でベースラインピークを追加（bb）することができます。

• 手動で削除したショルダーピークは、谷のピークとして処理され、ピークリストか

ら削除されます。

• ガウシャンスキムピークを手動で追加または削除することはできません。

• 解析タイプが G であるものを除くすべてのピークに垂直分割線を追加できます。

• ガウシャンスキムピークの開始 / 終了と一致しない場合に、垂線を手動で削除できま

す。

• スキム処理された小さい方のピークまたはスキムを生成した大きい方のピークは手

動で削除することができます。いずれのケースでも、隣接するピークは影響を受け

ません。したがって、小さい方のスキム処理されたピークが除外または削除された

場合、大きい方の親ピークのプロファイルはスキムによって決定され、小さい方の

削除されたピークの面積はスキムによって除外されます。大きい方のスキム処理さ

れたピークがサクジョされた場合、小さい方のスキム処理されたピークのベースラ

インはスキムによって決定されます。

• 開始または終了マーカー、あるいはクラスタ内の初または後のピークの垂線

マーカーを手動で移動するような操作で、ガウシャンスキムピークを含むクラスタ

のベースラインを調整することはできません。

7.8.2 ピーク開始 / 終了を移動する

• クロスオーバー（x）マーカーは移動できません。ピークがクロスオーバーで開始し

ている場合、開始時間は変更できません。ピークがクロスオーバーで終了している

場合、終了時間は変更できません。

• 交差点に位置するピーククラスタの開始 / 終了時間を変更すると、交差点は谷になり

ます。クラスタにおける交差点ピークの分割の種類では、すべての x が v になり、交

差点は、補正した点から直近の実際の点に変更されます。

• スキムピークのピーク開始 / 終了は移動できません。

• ベースラインで特定したピークまたはピーククラスタの開始時間を変更すると、元

の解析タイプが B または b であっても、ピークの分割の種類は、初の文字が b に

変わります。


C

• ベースラインで特定したピークまたはピーククラスタの終了時間を変更すると、元

の解析タイプが B または b であっても、ピークの分割の種類は、2 番目の文字が bに変わります。

• 解析の種類は、手動で移動した後、小文字でマークされます。

7.8.3 垂線を移動する

• ガウシャンスキムピークの開始 / 終了と一致していなければ、垂線は移動できます。

• 2 つのピーク間で垂線を移動した場合、変更内容は両方のピークの［分割の種類］に

反映されます。垂線で終了しているピークの［分割の種類］の第２文字、および垂

線で開始しているピークの［分割の種類］の第１文字は、ともに v に変更されます。

この変更は、元の解析タイプが、R、S、V、または v である場合に発生します。


索

引

索引

記号 / 数字1/x の直線 1642 次曲線への適合 1662 次微分

感度、ApexTrack 32頂点 37ピークプロファイル 34フィルタ、ApexTrack 32例 35

3 次曲線 1685 ポイントピーク除外、従来法 101

AA/D 変換 21ApexTrack

解析パラメータ 27解析メソッドで波形解析を有効にする

216ガウシャンスキム 30傾き差の感度 38クロスオーバー 46, 220検出感度 28

小高さ 29小面積 29

自動感度 33, 53自動ピーク幅 33, 50ショルダー 56–58ショルダーを検出 219, 220新規プロジェクトで波形解析を有効に

する 212設定 210設定イベント 59, 79立ち上がり 43立ち上がり % 28立ち下がり 43立ち下がり % 28頂点検出パラメータ 216

頂点の決定 26頂点、定義する 34データベースの波形解析を有効にする

210波形解析 20波形解析イベント 29, 55, 66波形解析のピークの種類 220波形解析ピークラベル 31解析方法の変更 217ピーク検出の手順 35ピークの検出処理 32ピーク幅 28負ピーク 30, 58–59負ピークを検出 219ベースラインの決定 26変曲点 34, 37マニュアル解析のガイドライン 77, 222ラウンドピーク 36, 220両立しないイベント 81

ApexTrack 解析メソッドの波形解析タブ 27ApexTrack 解析を有効にする

解析メソッド 216新規プロジェクト 212データベース 210

ApexTrack での負ピークの検出 26ApexTrack の立ち上がり 43

BbusLAC/E カード 22

GGPC

立ち上がり % と立ち下がり % 29, 216ピークの統合イベント、ApexTrack 78

GPC 解析、ピークの統合イベント 29

索引 224

索

引

IISA busLAC/E カード 22

PPCI busLAC/E カード 22

RRF 内部標準試料の定量 151RT レファレンス 135

Xx に対する y 推定値の標準誤差 174

あ上がり傾き点、ApexTrack 34アナログからデジタルへの変換 21

い一致の程度 134イベントの優位性、従来法 129

お重み付け 172折れ線 160

か解析コード 178解析メソッド

ApexTrack で初期設定 27定義 19

I

ガイドライン、ApexTrack 手動波形解析 222

ガイドライン、ApexTrack マニュアル解析 222

ガウシャンスキム処理、ApexTrack 26, 30, 70–78

傾き差の感度 39ApexTrack 38

傾きの差、ApexTrack 39関連資料 15

き希釈率 140逆水平ベースライン（時間）イベント、従

来法 114逆水平ベースライン（ピーク）イベント、

従来法 114強制垂直分割イベント、従来法 119強制ピーク検出イベント、従来法 121強制ベースライン（時間）イベント、従来

法 107行列演算

多点検量線 157例 158

曲率、ApexTrack で使用 32

くクラシックスキムタイプ、従来法 122クロスオーバー

ピーク 222ApexTrack 46, 220

け決定係数 174権限、ApexTrack 210検出イベント

立ち下がり感度 % 設定、ApexTrack 81負ピークを検出、ApexTrack 58

索引 225

索

引

ショルダー検出 30ショルダー検出、ApexTrack 56立ち上がり感度 % 設定、ApexTrack 79立ち上がり感度設定、従来法 103立ち下がり感度設定、従来法 104ピーク幅設定、従来法 105ピーク幅設定、ApexTrack 59負ピークを検出、従来法 102

検出感度、ApexTrack 28, 32検出サンプリングレート 23原点強制通過 171原点通過直線 155検量線

X に基づく Y の推定値の標準誤差 174決定係数 174検量線の標準誤差 176検量線ポイントの計算値と％偏差 176残差平方和 175相関係数 174標準分散 175

検量線の適合1/x の直線 1645 次曲線 170重み付け 172原点通過 171原点通過直線 155検量線適合 160, 162三次 168直線 163統計 173二次 166両対数直線 164レスポンスファクタ 156

検量線の標準誤差 176検量線ポイントの計算値と％偏差 176

こコード、解析 178五次曲線 170

I

さ小高さ

ApexTrack 29従来法 101

小面積ApexTrack 29従来法 101

残差平方和 175三次スプライン 162サンプリングレート

化学式 23サンプリングレートの適化 23データ取り込みポイント 23

サンプルの重み付け 139

し指数スキムイベント、従来法 122システムポリシー

v2.XX の保持時間の計算方法を使用 207v3.0X のピーク幅と検出感度の使用 205検量線からのデータポイントの％偏差

の計算 207レビュー画面でマニュアルで行われた

変更を保存する時に通知 207自動感度、ApexTrack 33, 53自動ピーク幅、ApexTrack 33, 50従来法の波形解析 20, 94

強制ベースラインイベント 107ピークの検出 84ピーク波形解析イベント 105ピークラベル 106

除外基準、従来法 100ショルダーピーク 57スキム処理されたピーク、ApexTrack

72ショルダー

ApexTrack 220ApexTrack でのピークの除外 57検出 26, 35, 219

索引 226

索

引

ショルダー検出イベント、ApexTrack 56

ショルダー検出イベント、ApexTrack 30資料

関連 15

す水平ベースライン（時間）イベント、従来

法 111水平ベースライン（ピーク）イベント、従

来法 111スキムイベント

ApexTrack 26, 70–78従来法 122

スキム処理されたピーク、除外、ApexTrack 72

せ積分禁止イベント


接線スキムイベント、従来法 122絶対検量線法 142設定

イベント、ApexTrack 59検出感度イベント、ApexTrack 60小高さイベント、ApexTrack 64小高さ設定イベント、従来法 128小面積イベント、ApexTrack 62小面積設定イベント、従来法 129

立ち上がり %、ApexTrack 79立ち上がり感度イベント、従来法 103立ち下がりイベント、ApexTrack 81立ち下がり感度 % イベント、

ApexTrack 81立ち下がり感度イベント、従来法 104ピーク幅イベント、従来法 105ピーク幅イベント、ApexTrack 59

I

そ相関係数 174

た高さ比のテスト、従来法 124立ち上がり % 感度イベント、ApexTrack 79立ち上がり %、ApexTrack 28, 38立ち上がり検出感度イベント

従来法 103立ち下がり % 感度イベント、ApexTrack 81立ち下がり %、ApexTrack 28, 38立ち下がり検出感度イベント、従来法 104立ち下がり、ApexTrack 43谷渡りイベント、ApexTrack 30, 66–70谷渡り、従来法 118

ち頂点

ApexTrack で定義する 34ApexTrack での検出 26検出パラメータ 216

直線 163

てディスクスペース 24定量

RF 内部標準試料 151希釈率の使用 140検量線による 138サンプル重量の使用 139絶対検量線 142注入量の使用 141適合タイプ（次数） 138内部標準法 146

定量時の検量線作成 138データ取り込み 19データの転送 22

索引 227

索

引

データの保存 22データバンチング、従来法 85

と統計 173

な内部標準法による定量 146生データポイント 22

に2 次微分フィルタ、ApexTrack 32

はハードディスクスペース 24波形解析

ApexTrack 20ApexTrack アルゴリズム 27従来法 20

波形解析イベントガウシャンスキムイベント、ApexTrack

70–78ApexTrack 29, 66ApexTrack 波形解析テーブル 55逆水平ベースライン（時間）、従来法

114逆水平ベースライン（ピーク）、従来法

114強制垂直分割、従来法 119強制ピーク検出、従来法 121強制ベースライン（時間）、従来法 107強制ベースライン（ピーク）、従来法

107小高さ設定、従来法 128小高さ設定、ApexTrack 64小面積設定、従来法 129小面積設定、ApexTrack 62

I

指数スキム、従来法 122従来法の波形解析、概要 105水平ベースライン（時間）、従来法 111水平ベースライン（ピーク）、従来法

111積分禁止、従来法 93積分禁止、ApexTrack 55接線スキム、従来法 122谷渡りイベント、ApexTrack 66–70谷渡り、従来法 118両立性、従来法 129両立、ApexTrack 81

波形解析のピークの種類、ApexTrack 220波形解析ピークラベル、ApexTrack 31波形解析、定義 19解析方法、変更 217パラメータ

ApexTrack 解析法による頂点検出 216

ひピーク開始、決定、従来法 86ピーク間ベースラインノイズ 53ピーク終了、決定、従来法 88ピーク除外の基準、従来法 100ピーク高さ、決定、従来法 98ピーク頂点、決定、従来法 87ピーク同定 133

一致の程度 134保持時間、シフト 135保持時間のアップデート 136

ピークの検出ApexTrack 26, 32開始時間（分）、ApexTrack 27従来法 84終了時間（分）、ApexTrack 27データバンチング、従来法 85ピーク開始、従来法 86ピーク終了、従来法 88ピーク頂点、従来法 87ピーク頂点、ApexTrack 26

ピークの大曲率、ApexTrack 32

索引 228

索

引

ピークの統合イベントGPC 解析 29GPC、ApexTrack 78

ピーク波形解析ApexTrack ピークラベル 31イベント、従来法 105概要、従来法 94従来法のピークラベル 97ピーク除外の基準、従来法 100ピーク高さ、従来法 98ピーク面積、従来法 99ピークラベル、ApexTrack 220ピークラベル、従来法 106ベースラインの作成、従来法 96保持時間、従来法 98未分離ピークの決定、従来法 94

ピーク幅、ApexTrack 28, 32ピーク面積、決定、従来法 99ピークラベル

ApexTrack 31, 220従来法の波形解析 97, 106

ピーク、大曲率、ApexTrack 32非クラシックスキムタイプ、従来法 122表記方法、本ガイド 17標準分散 175

ふ負のピーク、ApexTrack で可能にする 58負ピーク検出可イベント

ApexTrack 58, 219従来法 102

プロセス、定義 19

へベースラインノイズ 28

ApexTrack での役割 52評価 53

ベースラインの決定、ApexTrack 26, 37ベースラインの作成、従来法 96ベースライン、ApexTrack 35

I

変換、A/D 21変曲点、ApexTrack 34, 37

ほ保持時間

決定 98シフト 135保持時間レファレンス 135

保持時間のアップデート 136保持時間の更新 136保持時間のシフト 135

まマニュアル

表記規則 17マニュアル解析、ApexTrack 222

み未分離ピーク

従来法 942 次微分、ApexTrack 35

め面積、従来法の波形解析 99

らラウンドピーク、ApexTrack 26, 30, 35, 36,

220

り両対数直線 164両立しないイベント


索引 229

索

引

れレスポンスファクタの適合 156

I

索引 230

Documents

Empowerソフトウエア データ取り込み 解析...おことわり 本書の内容は、将来予告なしに変更される場合があり、また、Waters Corporation および

Empowerソフトウエアデータ取り込み解析...おことわり本書の内容は、将来予告なしに変更される場合があり、また、Waters Corporation および