Fyzika pri nízkych teplotách “základný stav” kondenzovaných látok

magnetizmusmakroskopické kvantové javy

supravodivosť / supratekutosťkvantové bity / qubity

kvantové fázové prechodykozmológia v lab.

Refrigerátory

4He refrigerátory: 1.5 K – 300 K3He refrigerátor: nad 270 mK

3He-4He refrigerátory: 10 mK – 2 KJadrová adiabatická demagnetizácia

nad 100 mikrokelvinov

Nanoštruktúry, mezoskopické javyelektrónová koherenčná dĺžka > nm =>> T < 1 K

CENTRUM FYZIKY VEĽMI NÍZKYCH TEPLôTCENTRUM FYZIKY VEĽMI NÍZKYCH TEPLôT

Metodiky/exp. techniky

Elektrická a tepelná vodivosťTepelná kapacita

Magnetizácia a magnetická susceptibiltaMikrokontaktová spektroskopia

STM/STSKontinuálne a pulzné NMRVibrujúci drôtik a ladička

Skvapalňovač hélia

Plány-Uzavretý okruh vody ....cca 2 MSk

-Transportné dewarky héliové aj dusíkové...cca 1MSk-Rozšírenie zásobníka plynného hélia......2MSk-Klimatizácia haly skvapalňovača....300 tis. Sk

-Zdvíhacia plošina.....200 tis. Sk-Odhlučnenie kompresora....500 tis. Sk

Spolu ...........................................6 MSk

Physical Property Measurement SystemModel PPMS

Plány:

-Vložky - He3 refrigerátor (tepelná kapacita a rezistivita do 0,3 K)-- VSM magnetometer

-- ACMS – striedavá susceptibilita a magnetizácia-- transportné tepelné vlastnosti – tepelná vodivosť a termoelektrické napätie

-- vysokotlaká komôrka do 30 kbar – meranie rezistivity-- torzný magnetometer pre malé anizotrópne vzorky a rotátor

-- He3-He4 refrigerátor-- perspektíva 14 T PPMS, resp. ak bude vyššie pole k dispozícii

-vybavenie:-- transportná héliová a dusíková dewarka

-Zavedenie metodiky mikrokontaktovej spektroskopie do PPM

Cena ...........................................................cca 15-20 MSk

Dilution He3-He4 refrigerator Oxford Instruments Top loading

Pre teploty nad 50 milikelvinov

PlányMagnet so zdrojom...cca 2 MSk

-Mini SQUID...cca 1MSk

Jadrová adiabatická demagnetizáciaunikátna aparatúra pre teploty nad 150 mikrokelvinov

PlányNový kryostat ....................cca 1 MSk

Rootsova pumpa............1 MSk

Hľadač netesností................1 MSk

Upgrade..................1 MSk

T = 0.3 K – 300K B = 8 T

Spolupráca s UAM Madrid Atomárne rozlíšenieElektr. hustota stavov Víry v supravodičoch

STM mikroskopia a spektroskopia

Helium-3 refrigerátor

PlányKryostat

Goniometer na báze piezo-cca 1MSk

Hlava STM

T = 2 K – 300 K a H = 0T – 8T Spolupráca s CEA Grenoble- vysoká citlivosť 10-4 - 10-5 celkovej kapacity C - vzorky: g < m < mg

Modulačná (alebo ac) kalorimetria

K

Bath Tb

SampleC, T

Thermometer

P = P1 + P0 cos(t) Tac =

P0

K + jC

60

80

100

120

140

160

180

200

7 8 9 10 11 12 13

T (K)

Nb

PlányKryomagnetický systém cca 2 MSk

Mini refrigerátor 3 He- 4He

PlányZavedenie kalorimetrie do 20 mK

(Elektronika, mostíky) ................ cca 1MSk

Ďalšie aktuálne zariadenia

Magnet s teplou dierou do 18/20 Tesla

...

...

Nanoscience labV. Komanický

CFNT upgrade

Cena 36 + 17 + 12 = 65 MSk

Ďalšie laboratóriá 90 MSk

Surface science and Surface science and

Nanofabrication LaboratoryNanofabrication Laboratory Preparation of well defined nanostructured catalyst systems using

nanolithographies and deposition techniques.

Study of molecular processes on nanoparticles catalyst surfaces and single crystals in electrolyte and gas phase

Nanomanipulation and preparation of nanostructures using scanning probe lithographies

Preparation of nanostructures by self assembling

Fabrication of Micro-Electro-Mechanical Systems (e-beam and optical lithographies)

Technológie a zariadeniaTechnológie a zariadenia

-Príprava tenkých vrstiev:Príprava tenkých vrstiev:-

-sputtering + e-beam evaporation system: ~ 4 MSk

-Príprava nanoštruktúr:Príprava nanoštruktúr:

-AFM based lithographies (dip pen, NPRW, nanografting,

local oxidation, nanoindentation and nanoscratching):~5MSk

-Elektrónová litografia ~ 25 MSk

-Focused ion beam (FIB) ~ 25 MSk

-Charakterizácia katalytickej activity nanočastíc :Charakterizácia katalytickej activity nanočastíc :

-potenciostat, systém na purifikáciu vody, digestor: ~ 2 MSk

-Charakterizácia tenkých vrstiev, povrchov a nanoCharakterizácia tenkých vrstiev, povrchov a nanoštruktúrštruktúr : : -AFM, STM, EC STM, MFM, LFM

-x-ray difraktometer ~10 MSk-optická a elektrónová mikroskopia: ~1+10 MSk

- AparatAparatúúry ry na sna suchuché é a mokr a mokréé leptanie vzoriek leptanie vzoriek

- aa spracovanie resistu: spracovanie resistu: ~3 MSk~3 MSk

-Cena základneho vybavenia laboratória ~ 12 MSk-Vrátane DPH, cla a dopravy

-Cena ďalších laboratórií ~ 90 MSk-(elektrónová litografia, FIB, clean room,

-x-ray difraktometer, optická a elektrónová mikroskopia