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XIV-1XIV. 放電基礎・現象 3 平成24年電気学会基礎・材料・共通部門大会
平成24年9月21日(金) 秋田大学 手形キャンパス
モンテカルロシミュレーションによるH2O-N2混合ガス中の電子輸送解析
Electron transport analysis in H2O-N2 mixtureusing Monte Carlo simulation
寺下裕作* 三田隆義 佐藤孝紀 伊藤秀範 (室蘭工業大学)Yusaku Terashita*, Takayoshi Sanda, Kohki Satoh and Hidenori Itoh (Muroran I.T.)
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
背景
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
放電プラズマによる有害化学物質の分解放電プラズマによる有害化学物質の分解
高エネルギー電子と水分子の反応によって生成される OH, H2O2, HO2などの活性な種が有害化学物質を分解
活性種の生成量などを知ることが重要
OH + OH → H2O2OH + O2 → HO2 + OOH + O3 → HO2 + O2
H2O + e → OH + H + e
水蒸気中における電子の挙動の解明電子の挙動の解明OH●
H2O2OH●
HO2
OH● OH●
水上で放電を発生させたときに生成される活性な種
水蒸気中における電子の挙動の解明電子の挙動の解明
正確な電子正確な電子輸送係数輸送係数の算出には正しい電子衝突断面積のセット正しい電子衝突断面積のセットが必要となる
ボルツマン方程式(BEq)による解析モンテカルロシミュレーション(MCS)
実験による測定実験による測定
背景および目的
1996年 M. Yousfiら[1] ・・・ 水蒸気中の電子衝突断面積を提案するとともにボルツマン方程式解析ボルツマン方程式解析により電子輸送係数(電離係数α,重心の移動速度Wr ,縦方向拡散係数DL)を算出し,実験値とよく一致することを示している
2007年 H. Hasegawaら[2] ・・・ 水蒸気中の電子輸送係数(SSTSST法法:実効電離係数α−η,ダブルシャッター法ダブルシャッター法:平均到着時間移動速度Wm)の測定
2010年 M. Yousfiら[3] ・・・ ボルツマン方程式解析ボルツマン方程式解析によってH2O-N2混合ガス中の電子輸送係数(α−η, Wr , DL)を算出し,Urquijoらの実験値(α−η, Wm, DL)と比較
水蒸気中の電子輸送係数に関する報告水蒸気中の電子輸送係数に関する報告
K Ax1 x2 x3
t1 t2 t3
Wr を測定した結果は報告されていない
YousfiらはWrと実験で得られたWmを比較している
電子輸送係数の定義を検証し,同じ定義によって求められた電子輸送係数を比較
txW
dd
r =
重心の移動速度Wr
定量的に優れたモンテカルロシミュレーションにより定義に従って電子輸送係数電子輸送係数を算出
水蒸気中の電子衝突断面積のセットの評価・推定を行う
混合ガス中の電子輸送係数を実験値と比較・検討する
H2O-N2混合ガス中の電子輸送解析目的目的
[1] M. Yousfi et al. : J. Appl. Phys. 80, 6619 (1996) [2] H. Hasegawa et al. : D. Appl. Phys. 40, 2495 (2007) [3] M. Yousfi et al. : XVIII GD 2010, 574 (2010)
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水蒸気の電子衝突断面積のセット (Yousfi et al . 1996)
10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
10-13
10-12
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-3 10-2 10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qrot
qvib
qa
qex
qi
qm
運動量移行断面積 qm : 実験値 回転励起衝突断面積 qrot : 理論値
振動励起衝突断面積 qvib : 理論値と実験値 電子励起衝突断面積 qex : しきい値は実験値
電離衝突断面積 qi : 実験値 電子付着断面積 qa : 実験値
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Yousfiらの電子衝突断面積の検証-実効電離係数
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
(α−η
) / N
[cm
2 ]
1002 3 4 5 6 7 8 9
10002 3
E/N [Td]
BEq (Yousfi et al.) double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al.
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Yousfiらの電子衝突断面積の検証-実効電離係数
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
(α−η
) / N
[cm
2 ]
1002 3 4 5 6 7 8 9
10002 3
E/N [Td]
MCS BEq (Yousfi et al.) double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al.
すべてのE/NにおいてMCSとYousfiらの結
果は一致していない
高E/Nでは実験値と差が大きくなっている
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Yousfiらの電子衝突断面積の検証-電子移動速度
105
106
107
108
109
drift
vel
ocity
[cm
/s]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
BEq (Yousfi et al.) double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al. (Wm )
(Wm )(Wr )
Yousfiら重心の移動速度Wr
HasegawaらおよびUrquijoら平均到着時間移動速度Wm
YousfiらはWrとWmを比較し,その一致により断面積の妥当性を示している
Yousfiらの電子衝突断面積の検証-電子移動速度
Yousfiら重心の移動速度Wr
HasegawaらおよびUrquijoら平均到着時間移動速度Wm
YousfiらはWrとWmを比較し,その一致により断面積の妥当性を示している
MCSでWmを計算した結果は100Td以下で一致しない
Yousfiらのセットには問題がある問題がある
105
106
107
108
109
drift
vel
ocity
[cm
/s]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
MCS BEq (Yousfi et al.) double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al.
(Wm )
(Wm )
(Wm )(Wr )
Yousfiらの電子衝突断面積の検証
1018
1019
1020
1021
1022
1023
NDL
[cm
-1s-1
]10
2 3 4 5 6100
2 3 4 5 61000
E/N [Td]
MCS BEq (Yousfi et al.) Urquijo et al.
電子移動速度 縦方向拡散係数NDL
105
106
107
108
109
drift
vel
ocity
[cm
/s]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
MCS BEq (Yousfi et al.) double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al.
(Wm )
(Wm )
(Wm )(Wr )
縦方向拡散係数縦方向拡散係数は電子移動速度電子移動速度と同様に100Td以下で一致していない
Yousfiらの電子衝突断面積の検証
1018
1019
1020
1021
1022
1023
NDL
[cm
-1s-1
]10
2 3 4 5 6100
2 3 4 5 61000
E/N [Td]
MCS BEq (Yousfi et al.) Urquijo et al.
電子移動速度 縦方向拡散係数NDL
105
106
107
108
109
drift
vel
ocity
[cm
/s]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
MCS BEq (Yousfi et al.) double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al.
(Wm )
(Wm )
(Wm )(Wr )
低E/Nでは分子の熱運動による第二種の衝突第二種の衝突で電子のエネルギーが増加する(Yousfi et al. : Phys. Rev. E (1994))
我々のMCSでは第二種の衝突第二種の衝突を考慮していないため結果が一致しない可能性がある
第二種の衝突の検証
電気学会推奨の電子衝突断面積 (電気学会技術報告 第691号)を使用
N2 Ohmori et al. (1988) CH4 Ohmori et al. (1986)
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qm
qvib
qex
qi
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-2 10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qm
qd
qi
qvib
100qa
広い範囲のE/Nで電子輸送係数を計算し第二種の衝突による影響を検証
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N2の電子輸送係数
実効電離係数(α -η)/Ν 平均到着時間移動速度Wm 縦方向拡散係数NDL
1021
2
4
681022
2
4
681023
2
ND
L [c
m-1
s-1]
12 4 6 8
102 4 6 8
1002 4 6 8
1000E/N [Td]
MCS Urquijo et al. (2010)
68106
2
4
68107
2
4
6
drift
vel
ocity
Wm
[cm
/s]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
MCS Urquijo et al. (2010)
10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
(α−η
)/N [c
m2 ]
1002 3 4 5 6 7 8 9
1000E/N [Td]
MCS Urquijo et al. (2010) Jianfen Liu et al. (1993)
N2の電子輸送係数
100Td以下において実験値とよい一致を示している
我々がMCSで計算する10~1000 Td10~1000 Tdの範囲の範囲では第二種の衝突による影響はない第二種の衝突による影響はない
Yousfiらのセットもしくは解析方法に不十分な点がある
平均到着時間移動速度Wm
1021
2
4
681022
2
4
681023
2
ND
L [c
m-1
s-1]
12 4 6 8
102 4 6 8
1002 4 6 8
1000E/N [Td]
MCS Urquijo et al. (2010)
68106
2
4
68107
2
4
6
drift
vel
ocity
Wm
[cm
/s]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
MCS Urquijo et al. (2010)
10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
(α−η
)/N [c
m2 ]
1002 3 4 5 6 7 8 9
1000E/N [Td]
MCS Urquijo et al. (2010) Jianfen Liu et al. (1993)
CH4も同様によい一致を示した
実効電離係数(α -η)/Ν 縦方向拡散係数NDL
本研究で提案する水蒸気中の電子衝突断面積のセット
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10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
10-13
10-12
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-3 10-2 10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qrot
qvib
qa
qex qi
qm
Yousfiら(1996)のセットを
基に変更
本研究で提案する水蒸気中の電子衝突断面積のセット
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
10-13
10-12
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-3 10-2 10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qrot
qvib
qa
qex qi
qm
Yousfiら(1996)のセットを
基に変更
運動量移行断面積qm0.1eV以下を大きくした
本研究で提案する水蒸気中の電子衝突断面積のセット
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
10-13
10-12
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-3 10-2 10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qrot
qvib
qa
qex qi
qm
Yousfiら(1996)のセットを
基に変更
運動量移行断面積qm0.1eV以下を大きくした
回転励起衝突断面積qrot形を変更せず大きさを半分にした
本研究で提案する水蒸気中の電子衝突断面積のセット
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
10-13
10-12
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-3 10-2 10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qrot
qvib
qa
qex qi
qm
Yousfiら(1996)のセットを
基に変更
運動量移行断面積qm0.1eV以下を大きくした
回転励起衝突断面積qrot形を変更せず大きさを半分にした
電子励起衝突断面積qex破線を削除,実線の形を変更し,その他変更なし
本研究で提案する水蒸気中の電子衝突断面積のセット
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
10-13
10-12
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-3 10-2 10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qrot
qvib
qa
qex
qiqm H2O
+
OH+
H+
O+
電離衝突断面積qiStraubらの解離を含む実験データ(1998年)を使用
Yousfiら(1996)のセットを
基に変更
運動量移行断面積qm0.1eV以下を大きくした
回転励起衝突断面積qrot形を変更せず大きさを半分にした
電子励起衝突断面積qex破線を削除,実線の形を変更し,その他変更なし
本研究で提案する水蒸気中の電子衝突断面積のセット
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
10-13
10-12
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-3 10-2 10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qvib
qa
qex qi
qmqrot
Yousfiら(1996)のセットを
基に変更
運動量移行断面積qm0.1eV以下を大きくした
回転励起衝突断面積qrot形を変更せず大きさを半分にした
振動励起衝突断面積qvibおよび電子付着断面積qa変更なし
電子励起衝突断面積qex破線を削除,実線の形を変更し,その他変更なし
電離衝突断面積qiStraubらの解離を含む実験データ(1998年)を使用
本研究で提案する水蒸気中の電子衝突断面積のセット
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
10-20
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
10-14
10-13
10-12
cros
s sec
tion
[cm
2 ]
10-3 10-2 10-1 100 101 102 103
electron energy [eV]
qrot
qvib
qa
qex qi
qm
Yousfiら(1996)のセットを
基に変更
運動量移行断面積qm0.1eV以下を大きくした
回転励起衝突断面積qrot形を変更せず大きさを半分にした
振動励起衝突断面積qvibおよび電子付着断面積qa変更なし
電子励起衝突断面積qex破線を削除,実線の形を変更し,その他変更なし
電離衝突断面積qiStraubらの解離を含む実験データ(1998年)を使用
提案したセットを用いて水蒸気中の電子輸送係数を算出
提案したセットを用いた水蒸気中の電子輸送係数
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平均到着時間移動速度Wm実効電離係数 (α -η)/Ν
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
(α−η
) / N
[cm
2 ]
1002 3 4 5 6 7 8 9
10002 3
E/N [Td]
MCS (present) MCS w/Yousfi's Q double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al.
105
2
46
106
2
46
107
2
46
108
drift
vel
ocity
Wm
[cm
/s]10
2 3 4 5 6100
2 3 4 5 61000
E/N [Td]
すべての範囲でよい一致を示す
提案したセットは妥当である
提案したセットを用いた水蒸気中の電子輸送係数
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縦方向拡散係数 NDL
1018
1019
1020
1021
1022
1023
1024
NDL
[cm
-1s-1
]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
MCS (present) MCS w/Yousfi's Q Urquijo et al.
Yousfiらのセットを用いた結果よりも実
験値に近いが一致はしない
(高E/Nと低E/Nで差が大きい)
提案したセットを用いた水蒸気中の電子輸送係数
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
縦方向拡散係数 NDL
1018
1019
1020
1021
1022
1023
1024
NDL
[cm
-1s-1
]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
MCS (present) MCS w/Yousfi's Q Urquijo et al.
Yousfiらのセットを用いた結果よりも実
験値に近いが一致はしない
(高E/Nと低E/Nで差が大きい)
DLを一致させるのは困難である
提案したセットを用いた水蒸気中の電子輸送係数
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
縦方向拡散係数 NDL
Yousfiらのセットを用いた結果よりも実
験値に近いが一致はしない
(高E/Nと低E/Nで差が大きい)
DLを一致させるのは困難である
Urquijoらが求めたDLは必ずしも定義に
従ったものではない1018
1019
1020
1021
1022
1023
1024
NDL
[cm
-1s-1
]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
MCS (present) MCS w/Yousfi's Q Urquijo et al.
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縦方向拡散係数DLの定義
K A
分散ML
U.V.フラッシュ
U.V.フラッシュにより発生した電子群
が時間経過とともに進展
電界方向のスオームの広がりが電界方向のスオームの広がりが縦方向拡散係数DL
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縦方向拡散係数DLの定義
K A
分散ML
U.V.フラッシュ
U.V.フラッシュにより発生した電子群
が時間経過とともに進展
電界方向のスオームの広がりが電界方向のスオームの広がりが縦方向拡散係数DL
ML
t
{ }∑=
−=
)(
1
2
L )()()()(
tn
i
i
tntxtxtM )(
dd
21
LL tMt
D =
• スオームの重心からの広がり
分散 ML
• 分散の時間変化の傾き
縦方向拡散係数 DL
x(t) : 電子の位置x(t) : 重心の位置n(t) : 電子数x
Urquijoらの縦方向拡散係数DL’の求め方
スオームの広がりスオームの広がりをギャップ間に流れる電流波形から観測
オシロ
スコープ
K A
d
I (t)
t
Urquijoらの縦方向拡散係数DL’の求め方
I (t)
t
オシロ
スコープ
K A
d
∫ −=x
duux0
2 )exp(2)(π
φ
誤差関数
n0 : 初期電子数 q0 : 電荷 d : ギャップ長
v : 平均到着時間移動速度 αe : 実効電離係数 t : 時
間
( )
( )⎪⎭
⎪⎬⎫
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡−
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ ++⎟⎟⎠
⎞⎜⎜⎝
⎛ ++
⎪⎩
⎪⎨⎧
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ −+−=
14
exp
41)exp(
2)(
L
Le
L
Le
L
Lee
00
tDdtDd
DD
tDdtDt
dqnti
αφ
α
αφα
vv
vv
v
ギャップ電流 i (t)
スオームの広がりスオームの広がりをギャップ間に流れる電流波形から観測
Urquijoらの縦方向拡散係数DL’の求め方
t
I (t)
オシロ
スコープ
K A
d
∫ −=x
duux0
2 )exp(2)(π
φ
誤差関数
( )
( )⎪⎭
⎪⎬⎫
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡−
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ ++⎟⎟⎠
⎞⎜⎜⎝
⎛ ++
⎪⎩
⎪⎨⎧
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ −+−=
14
exp
41)exp(
2)(
L
Le
L
Le
L
Lee
00
tDdtDd
DD
tDdtDt
dqnti
αφ
α
αφα
vv
vv
v
ギャップ電流 i (t)
スオームの広がりスオームの広がりをギャップ間に流れる電流波形から観測
n0 : 初期電子数 q0 : 電荷 d : ギャップ長
v : 平均到着時間移動速度 αe : 実効電離係数 t : 時
間
DDLLを変えてフィッティングを変えてフィッティング
Urquijoらの縦方向拡散係数DL’の求め方
オシロ
スコープ
K A
d
t
DDLLを変えてフィッティングを変えてフィッティング
∫ −=x
duux0
2 )exp(2)(π
φ
誤差関数
( )
( )⎪⎭
⎪⎬⎫
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡−
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ ++⎟⎟⎠
⎞⎜⎜⎝
⎛ ++
⎪⎩
⎪⎨⎧
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ −+−=
14
exp
41)exp(
2)(
L
Le
L
Le
L
Lee
00
tDdtDd
DD
tDdtDt
dqnti
αφ
α
αφα
vv
vv
v
ギャップ電流 i (t)
スオームの広がりスオームの広がりをギャップ間に流れる電流波形から観測
n0 : 初期電子数 q0 : 電荷 d : ギャップ長
v : 平均到着時間移動速度 αe : 実効電離係数 t : 時
間I (t)
一致したときのDLがUrquijoらの求めたDDLL’’
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Urquijoらの実験をMCSでシミュレート
対象ガス : H2O換算電界 : E/N = 400 Tdギャップ長 : d = 3.0 cm
1.2
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
gap
curre
nt I
(t) [
a.u.
]
140120100806040200time [ns]
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Urquijoらの実験をMCSでシミュレート
( )
( )⎪⎭
⎪⎬⎫
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡−
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ ++⎟⎟⎠
⎞⎜⎜⎝
⎛ ++
⎪⎩
⎪⎨⎧
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ −+−=
14
exp
41)exp(
2)(
L
Lee
L
Lee
L
Leeee
e00
tDdtDd
DD
tDdtDt
dqnti
αφ
α
αφα
vv
vv
v
対象ガス : H2O換算電界 : E/N = 400 Tdギャップ長 : d = 3.0 cm
ギャップ電流 i (t)
1.2
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
gap
curre
nt I
(t) [
a.u.
]
140120100806040200time [ns]
n0 = 2000 個
q0 = 1.60 x10-19 C
d = 3.0 cm
ve = 38.9 x 106 cm/s
αe = 1.56 cm-1
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Urquijoらの実験をMCSでシミュレート
( )
( )⎪⎭
⎪⎬⎫
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡−
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ ++⎟⎟⎠
⎞⎜⎜⎝
⎛ ++
⎪⎩
⎪⎨⎧
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ −+−=
14
exp
41)exp(
2)(
L
Lee
L
Lee
L
Leeee
e00
tDdtDd
DD
tDdtDt
dqnti
αφ
α
αφα
vv
vv
v
1.2
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
gap
curre
nt I
(t) [
a.u.
]
140120100806040200time [ns]
DDLLを変えてフィッティングを変えてフィッティング
対象ガス : H2O換算電界 : E/N = 400 Tdギャップ長 : d = 3.0 cm
DL’ =1.40×106 cm2/s
Urquijoらの実験
ギャップ電流 i (t)
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Urquijoらの実験をMCSでシミュレート
( )
( )⎪⎭
⎪⎬⎫
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡−
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ ++⎟⎟⎠
⎞⎜⎜⎝
⎛ ++
⎪⎩
⎪⎨⎧
⎥⎥⎦
⎤
⎢⎢⎣
⎡
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛ −+−=
14
exp
41)exp(
2)(
L
Lee
L
Lee
L
Leeee
e00
tDdtDd
DD
tDdtDt
dqnti
αφ
α
αφα
vv
vv
v
DL = 1.98×106 cm2/s
DL’とDLの誤差 : 41.3%
MCS
対象ガス : H2O換算電界 : E/N = 400 Tdギャップ長 : d = 3.0 cm
DL’ =1.40×106 cm2/s
Urquijoらの実験
DDLLを変えてフィッティングを変えてフィッティング1.2
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
gap
curre
nt I
(t) [
a.u.
]
140120100806040200time [ns]
ギャップ電流 i (t)
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定義によるDLとUrquijoらの方法によるDL’の比較
1.2x1023
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
NDL
[cm
-1s-1
]
7006005004003002001000
E/N [Td]
DL DL'
E/Nが高くなるほど差が大きくなり,低E/Nでも一致しない可能性がある
Urquijoらの実験によるDDLL’’が正しく求められたDDLLと一致するとは限らない
Urquijoらの求めたDL’から正しいDLを導く方法を検討する
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H2O-N2混合ガス中の電子輸送係数
平均到着時間移動速度Wm 縦方向拡散係数NDL実効電離係数 (α -η)/Ν
(α -η)/ΝおよびWmは混合比を変化混合比を変化させてもよく一致する
NDLはH2Oが含まれる条件のみ一致しない
105
2
4
68106
2
4
68107
2
4
68108
drift
vel
ocity
W [c
m/s
]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000E/N [Td]
1018
1019
1020
1021
1022
1023
1024
ND
L[cm
-1s-1
]
102 3 4 5 6
1002 3 4 5 6
1000
E/N [Td]
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
(α−η
) /N
[cm
2 ]
1002 3 4 5 6 7 8 9
1000E/N [Td]
MCS (present) H2O : N2 = 100 : 0 H2O : N2 = 75 : 25 H2O : N2 = 50 : 50 H2O : N2 = 0 : 100
Measurement (Urquijo et al.) H2O : N2 = 100 : 0 H2O : N2 = 75 : 25 H2O : N2 = 50 : 50 H2O : N2 = 0 : 100
まとめ
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水蒸気中の電子衝突断面積の妥当なセットを推定するとともに,モンテカルロシミュレーションを用いて,水蒸気中およびH2O-N2混合ガス中の電子輸送係数( 実効電離係数,平均到着時間移動速度,縦方向拡散係数)を求め,実
験値と比較した
水蒸気中の電子輸送係数水蒸気中の電子輸送係数
本研究で提案した電子衝突断面積のセットを用いるとMCSによる実効電離係数
と平均到着時間移動速度は実験結果とよく一致した
縦方向拡散係数については低E/Nと高E/NでMCSの結果と実験結果が一致しな
いが,拡散係数を求める実験方法がかならずしも定義に従っているとは言えないので検討が必要である
HH22OO--NN22混合ガス中の電子輸送係数混合ガス中の電子輸送係数
混合比を変化させた場合も,実効電離係数と平均到着時間移動速度は実験結果とよく一致した
縦方向拡散係数はH2Oが含まれる実験値に問題があるため一致しなかった
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Yousfiらの電子衝突断面積の検証-実効電離係数
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
(α−η
) / N
[cm
2 ]
1002 3 4 5 6 7 8 9
10002 3
E/N [Td]
BEq (Yousfi et al.) double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al.
MURORAN INSTITUTEMURORAN INSTITUTEOF TECHNOLOGYOF TECHNOLOGY
Yousfiらの電子衝突断面積の検証-実効電離係数
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
(α−η
) / N
[cm
2 ]
1002 3 4 5 6 7 8 9
10002 3
E/N [Td]
MCS BEq (Yousfi et al.) double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al.
すべてのE/NにおいてMCSとYousfiらの結果は一致していない
Yousfiらの電子衝突断面積の検証-実効電離係数
5.0x10-16
4.0
3.0
2.0
1.0
0
(α−η
) / N
[cm
2 ]100
2 3 4 5 6 7 8 91000
2 3
E/N [Td]
10-19
10-18
10-17
10-16
10-15
(α−η
) / N
[cm
2 ]
1002 3 4 5 6 7 8 9
10002 3
E/N [Td]
MCS BEq (Yousfi et al.) double-shutter method
(Hasegawa et al.) Urquijo et al.
すべてのE/NにおいてMCSとYousfiらの結果は一致していない
高E/Nにおいて差が大きくなっている
Yousfiらのセットには不十分な部分不十分な部分がある