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Fondazione Bruno Kessler
Centro materiali e microsistemi
dott. Massimo Bersani Micro and Nano Analytical
Laboratory (MiNALab)Michele Moltrer Daniela Michelatti
Il Laboratorio MiNaLab si dedica principalmente
all’analisi delle superfici organiche ed inorganiche
nell’ambito della microelettronica e della
nanotecnologia, al fine di dare supporto sia alle industrie ed
ai laboratori di ricerca di tutto il mondo, sia alle attività di
ricerca proprie del gruppo.
• Osservare il tipico procedimento di ricerca scientifica eseguito in un laboratorio;
• Capire il percorso di collaborazione lavorativa nell’ambito della ricerca;
• Approfondire le nostre conoscenze in chimica, fisica e biologia.
OBIETTIVI:
SEMMicroscopio Elettronico a Scansione: Informazioni morfologiche
Gennaro Salvatore
PROFILOMETRO
Profilometro: grazie ad una punta che segue il profilo del campione, si possono ottenere informazioni morfologiche
Barozzi Mario
XPSSpettroscopio fotoelettronico a raggi-X: informazioni chimiche
02 004 006 008001 00 0
B ind ing Energy [eV ]
0
50 0
1 00 0
1 50 0
2 00 0
2 50 0
3 00 0
Intensity[cps]
C o re line: su rvey
Vanzetti Lia Emanuela
O 1s
C 1s
O-Auger
Zn 2p
O-Auger
Ca 2p N 1s
SS, Si, Zn
Si, Zn
XRDDiffrattrometro a Raggi X: sfruttando il fenomeno della diffrazione, si riescono ad ottenere informazioni riguardo al reticolo cristallino del campione.
Bortolotti Mauro
• L'esame della superficie mediante SEM con un basso ingrandimento
rivela che la matrice sembra sia costituita da 3 fasi principali:a) La matrice vera e propria, di natura amorfab) Fibre flessibili presumibilmente in cellulosac) Fibre a maggior rigidità
Lo spettro eseguito mediando su un’area contenente tutte e tre le fasi ha mostrato la presenza di, principalmente: C, N, O, S, Na, Ca, Cr, Zn, Si, Al e (in alcuni casi) Fe.
• Grazie all’utilizzo del Profilometro infine, abbiamo potuto constatare che il campione è di uno spessore di circa 373 µm, nonostante i problemi derivati dalla grande rugosità dello stesso.
• Con l’analisi XRD invece, anche se i dati sperimentali sono abbastanza problematici, abbiamo attribuito alle fibre di maggior rigidità una composizione in kevlar, ed alla matrice ed alle fibre più flessibili una natura amorfa di cellulosa.
SIMS (Damiano Giubertoni) Spettrometro di massa dinamico: informazioni di composizioni chimiche di superficie e in profondità (few nm – 10 μm)
TOF (Salvatore Gennaro) Spettrometro di massa a tempo di volo: informazioni chimiche di superficie
COMPUTAZIONE (Rossana Dell’Anna): riunire informazioni ricavate con gli strumenti per ottenere nuove conoscenze sul materiale analizzato