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Por: Ing. Gabriel Jaime Pulgarín P. Aseguramiento Metrológico Simex S.A.S

Introducción CEP

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DOCUMENTO DE APOYO PARA ADAPTAR EL CONCEPTO DE METROLOGÍA DIMENSIONAL

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Por: Ing. Gabriel Jaime Pulgarín P.

Aseguramiento Metrológico Simex S.A.S

Objetivo: Presentar algunos elementos y operaciones básicas para el cálculo de Cp. y Cpk, definir la capacidad de trabajo.

Alcance: Comprende algunas definiciones básicas y ejercicios que presentan de una manera simple la forma de como se realiza el cálculo de Cp y Cpk.

SECCIÓN 1: Introductorio a Cp y Cpk

TÉRMINOS Y DEFINICIONES:

Tolerancia: Es un dato cualitativo o cuantitativo dentro del cual deben estar los resultado que se miden. Es la especificación interna que define el lugar donde los valores de una magnitud son aceptados.

Magnitud: Expresa el número de veces que se está dentro de una cantidad base o de referencia.

Intervalo de Tolerancias: Equivale a dos veces la tolerancia especificada.

RMS: (Requisito Metrológico del Cliente): Son las especificaciones que el cliente emite ya sea por investigaciones propias, derivada de normas o adquiridas en conjunto para definir los procesos de entrega y tolerancias especificadas de aceptación y rechazo.

RMP: (Requisito Metrológico del Proceso): Son las especificaciones que el proceso emite ya sea por investigaciones propias, derivadas de normas y que definen su propia capacidad de operación.

LSE (USL): Se define como la tolerancia superior o límite superior de la especificación. Ejemplo: Es un dato del plano de especificaciones de determinada magnitud a medir.

LIE (LSL): Se define como la tolerancia Inferior o límite superior de la especificación. Ejemplo: Es un dato del plano de especificaciones.

Valor de Referencia: Valor cuantitativo, a partir del cual se determina si un proceso está en control o no.

Desviación: Permite definir cuan cerca o alejados están los valores de un valor de referencia.

Variabilidad: Permite definir en razón que tan dispersos pueden estar las mediciones o datos.

Cp: Capacidad potencial de un proceso relativo al valor esperado. Es un índice que mide la aptitud de un proceso relacionando el intervalo de especificación con la dispersión o amplitud natural del proceso.

Cpk: Capacidad potencial de un proceso relativo a los límites especificados. Es un índice que mide la aptitud de un proceso relacionando las especificaciones independientemente con la dispersión o amplitud natural del proceso.

Cp. (Capacidad Proceso)

El proceso se encuentra centrado en los límites de especificación.

Ejemplo 1:

Para tapa labial mariposa, se tiene un reporte de mediciones de peso de 3.43g, 3.45g, 3.43g, 3.40g, 3.43g, 3.41g, 3.44g, 3.40g (Reporte de control calidad para 8 cavidades 17 Sep 12). Calcular Cp, si los límites de especificación son 3.40g y 3.45g respectivamente.

Ejemplo 2:

Calcular Cp para valores de tracción tapa mas base con datos del mismo reporte.

Cpk. (Capacidad de proceso)

El proceso no está centrado en los límites de especificación, pero está contenido en ellos.

Ejemplo 1:

Para tapa redonda Satín Rubí, se tiene un reporte de mediciones de peso de 9.02g, 8.97g, 8.99g, 9.02g, 9.00g, 8.98g, 8.98g, 9.03g (Reporte de control calidad para 8 cavidades 16 Sep 12). Calcular Cpk, si los límites de especificación son (8.90+/-0.05)g.

Ejemplo 2:

Calcular Cpk para valores de tracción tapa mas frasco con datos del mismo reporte.