Introducci³n CEP

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DOCUMENTO DE APOYO PARA ADAPTAR EL CONCEPTO DE METROLOGÍA DIMENSIONAL

Text of Introducci³n CEP

  • Por: Ing. Gabriel Jaime Pulgarn P.

    Aseguramiento Metrolgico Simex S.A.S

  • Objetivo: Presentar algunos elementos y operaciones bsicas para el clculo de Cp. y Cpk, definir la capacidad de trabajo.

    Alcance: Comprende algunas definiciones bsicas y ejercicios que presentan de una manera simple la forma de como se realiza el clculo de Cp y Cpk.

    SECCIN 1: Introductorio a Cp y Cpk

  • TRMINOS Y DEFINICIONES:

    Tolerancia: Es un dato cualitativo o cuantitativo dentro del cual deben estar los resultado que se miden. Es la especificacin interna que define el lugar donde los valores de una magnitud son aceptados.

    Magnitud: Expresa el nmero de veces que se est dentro de una cantidad base o de referencia.

    Intervalo de Tolerancias: Equivale a dos veces la tolerancia especificada.

    RMS: (Requisito Metrolgico del Cliente): Son las especificaciones que el cliente emite ya sea por investigaciones propias, derivada de normas o adquiridas en conjunto para definir los procesos de entrega y tolerancias especificadas de aceptacin y rechazo.

    RMP: (Requisito Metrolgico del Proceso): Son las especificaciones que el proceso emite ya sea por investigaciones propias, derivadas de normas y que definen su propia capacidad de operacin.

  • LSE (USL): Se define como la tolerancia superior o lmite superior de la especificacin. Ejemplo: Es un dato del plano de especificaciones de determinada magnitud a medir.

    LIE (LSL): Se define como la tolerancia Inferior o lmite superior de la especificacin. Ejemplo: Es un dato del plano de especificaciones.

    Valor de Referencia: Valor cuantitativo, a partir del cual se determina si un proceso est en control o no.

    Desviacin: Permite definir cuan cerca o alejados estn los valores de un valor de referencia.

    Variabilidad: Permite definir en razn que tan dispersos pueden estar las mediciones o datos.

  • Cp: Capacidad potencial de un proceso relativo al valor esperado. Es un ndice que mide la aptitud de un proceso relacionando el intervalo de especificacin con la dispersin o amplitud natural del proceso.

    Cpk: Capacidad potencial de un proceso relativo a los lmites especificados. Es un ndice que mide la aptitud de un proceso relacionando las especificaciones independientemente con la dispersin o amplitud natural del proceso.

  • Cp. (Capacidad Proceso)

    El proceso se encuentra centrado en los lmites de especificacin.

  • Ejemplo 1:

    Para tapa labial mariposa, se tiene un reporte de mediciones de peso de 3.43g, 3.45g, 3.43g, 3.40g, 3.43g, 3.41g, 3.44g, 3.40g (Reporte de control calidad para 8 cavidades 17 Sep 12). Calcular Cp, si los lmites de especificacin son 3.40g y 3.45g respectivamente.

    Ejemplo 2:

    Calcular Cp para valores de traccin tapa mas base con datos del mismo reporte.

  • Cpk. (Capacidad de proceso)

    El proceso no est centrado en los lmites de especificacin, pero est contenido en ellos.

  • Ejemplo 1:

    Para tapa redonda Satn Rub, se tiene un reporte de mediciones de peso de 9.02g, 8.97g, 8.99g, 9.02g, 9.00g, 8.98g, 8.98g, 9.03g (Reporte de control calidad para 8 cavidades 16 Sep 12). Calcular Cpk, si los lmites de especificacin son (8.90+/-0.05)g.

    Ejemplo 2:

    Calcular Cpk para valores de traccin tapa mas frasco con datos del mismo reporte.