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8/18/2019 ISO 3334-2006 (ES)
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ISO 3334:2006
Micrografía – ISO resolución de la tarjeta de prueba No. 2 – Descripción y uso.
1. Alcance
Esta norma internacional especifica un método para determinar la resolución midiendo el tamaño
mínimo de detalle reconocible en una microforma procesada. Se describen los patrones de prueba y
carta de prueba ISO resolución N ° 2, y le da al método de expresión de poder de resolución.
2. Referencias Normativas
Los siguientes documentos referenciados son indispensables para la aplicación de este documento.
Para las referencias con fecha, sólo se aplica la edición citada. Para referencias fechadas, la última
edición del documento de referencia (incluyendo cualquier modificación).
3. Términos y definiciones
Para el propósito de este documento, los términos y definiciones están dadas en la ISO 6196, aplican
las partes 1 a 6.
4. ISO No. 2 Tarjeta de Prueba
4.1. Base
4.1.1. General
La tarjeta de prueba se hará, tanto de forma opaca o una base transparente.
4.1.2. Base opaca
La tarjeta de prueba se realizará sobre una base blanca opaca con una superficie brillante.
La densidad de reflexión visual difusa, medida según la norma ISO poco con 5-3 y 5-4 ISO,
no será superior a 0,08. La opacidad, medida conforme a la norma ISO 2471, deberá ser
superior al 85%. Esta tarjeta de prueba tendrá una apariencia de aspecto positivo.
4.1.3. Base transparente
La tarjeta de prueba se realizará sobre una base transparente no coloreada que tenga una
densidad de transmisión difusa visual máximo de 0,08, medida de acuerdo con la ISO e
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ISO 5-2 5-3. Esta tarjeta de prueba puede tener una apariencia de aspecto positivo o
negativo.
4.2. ISO No. 2 patrón de prueba
El patrón de prueba estará compuesto por un grupo de número de dos series de cinco líneas
paralelas en ángulo recto como se muestra en la Figura 1. Las líneas y los espacios entre ellos
deben ser de la misma anchura.
Las dimensiones de las líneas, expresados en milímetros, serán como se muestra en la Figura
1, donde "s" es la frecuencia en línea de pares/mm. El ancho de cualquiera de los cuatro pares
de líneas en un patrón será de ±3% del ancho nominal. La relación entre la longitud de línea con
el ancho de la línea será de 24,0±1,2. La relación de la línea a la anchura del espacio será de
1,00±0,05 para 1 a 10 pares de líneas/mm y 1,0±0,1 para 11 a 18 pares de líneas/mm.
Las dimensiones se medirán utilizando un microscopio de precisión equipado con un
micrómetro, un comparador óptico o un ordenador de controladores de máquina de medición,
calibrado y capaz de medir hasta 1µm o más pequeño, después del acondicionamiento a
23°C±2°C y una humedad relativa de 50%±5% durante al menos 1 h.
Sobre una tarjeta opaca la densidad de reflexión visual de las líneas no deberá ser inferior a1,60 y de los espacios no más de 0,02 mayores que la de la base. Sobre una base transparente
la diferencia mínima en la densidad de la transmisión difusa visual entre la base y líneas será de
3,0.
Un nivel de calidad de la apariencia de las líneas y los espacios se discute en el Anexo A.
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4.3. Frecuencia espacial de patrones de prueba.
El rango de patrones de prueba utilizados en el patrón de prueba deberá ser como se muestra
en la Figura 2.
La secuencia de pasos, a partir de 1.0, está de acuerdo con la serie R 20 de números preferidos
dados en la ISO 3, con un primer redondeo, a excepción de los patrones de 1,25 y 12,5.
Nota. El redondeo de estos números habría variado la secuencia de frecuencia espacial en unporcentaje demasiado grande. Esto da un incremento promedio de 12,2% por paso.
4.4. Método de numeración de los patrones de prueba
El número que designa a los patrones de prueba será igual a su frecuencia espacial expresada
en pares de líneas por milímetro.
Ejemplo. En el patrón designado como 2.0, cada línea tiene un ancho de 0,25 mm de manera
que un par de líneas de una línea y un espacio tiene 0,5 mm de ancho, por lo tanto, la frecuencia
espacial de patrones es de 2 pares de líneas/mm.
4.5. Número de patrón de prueba
El número de cada patrón de prueba se coloca dentro de la parte superior derecha del
rectángulo formado por el patrón. El tamaño del número deberá ser como se muestra en laFigura 1. El tipo de letra utilizado será sanserif adecuado para la reproducción fotográfica.
4.6. Disposición de los patrones de prueba
Los patrones de prueba deberán estar dispuestos en la tarjeta de prueba con una frecuencia
espacial incremental como se muestra en la Figura 2.
4.7. Título de la tarjeta de prueba y fuente
La palabra "ISO resolution test chart No. 2” y la entidad certificadora o la fuente de emisión
deberán aparece en la tarjeta de prueba por debajo de los patrones de prueba.
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5. Procedimiento para uso
5.1. Propósito de la prueba
Esta prueba está diseñada para establecer la resolución óptima de una película, cámara y un
sistema de procesamiento. No está destinado a ser utilizado en sistemas de producción de
rutina. Cualquier uso de este procedimiento fuera de las condiciones especificadas en el
presente documento puede producir resultados sólo indicativos.
5.2. Objetivo de prueba (Test Target)
Coloque la tarjeta de prueba dentro del área de filmación de la cámara, junto con un parche de
reflectancia de densidad neutra al 50% que dará como resultado una imagen de al menos 2 mm
de diámetro en la película.
5.3. Exposición
Llevar a cabo una serie de exposiciones que se extiende a través del nivel de exposición que se
utiliza normalmente para documentos de producción.
5.4. Procesamiento
Procesar la película bajo estándar en condiciones de procesamiento del objetivo.
6. Procedimiento para lectura de imágenes
6.1. Selección del marco
Seleccionar una trama expuesta y procesada producida de acuerdo con la cláusula 5, en el que
el parche de reflectancia 50% tiene una densidad difusa visual de 1,0 a 1,2 cuando se mide de
acuerdo con ISO 5-1 y 5-2.
6.2. Uso de microscopio
Utilizar un microscopio con un objetivo acromático de buena calidad. Este aumento deberá ser
entre x1/3 y x1 del poder de resolución del sistema esperado cuando la microforma es
examinada; por ejemplo para ver una imagen producida por un sistema con un poder deresolución de x150 pares de líneas/mm, la ampliación será de entre x50 y x150.
6.3. Examen del patrón de prueba
Examinar los patrones de prueba sobre la tarjeta de prueba utilizando el microscopio, y tenga en
cuenta el patrón más pequeño que se puede resolver, que es el patrón en el que las cinco líneas
individuales se pueden distinguir en ambas direcciones.
6.4. Resolución defectuosa
Una resolución defectuosa puede ser resultado de una serie de problemas en el sistema tal
como un fuera de foco de la cámara. Esto demuestra que sólo cuatro pares de líneas que se
resuelven en un patrón de prueba. Sólo el último patrón resuelve como cinco pares de líneas en
ambas direcciones, antes de que ocurra el defecto, incluso si un patrón o patrones más
pequeños que el patrón defectuoso parecen resueltos, puede ser reportado como la resolución
del sistema.
6.5. Líneas en una dirección sin acentuar.
Si las líneas en una dirección aparecen acentuadas mientras que aquellos en ángulo recto no lo
hacen, es posible que la vista del examinador presente astigmatismo, lo que impide el enfoque
claro de los objetos. Para comprobar esta posibilidad, el patrón es visto en 90° a la dirección
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original. Si el mismo conjunto de líneas sigue sin acentuarse, el fallo radica en la muestra de
película o en la cámara y no en el examinador.
6.6. Expresión del poder de resolución
Para expresar el poder de resolución de la cámara, película y combinaciones desarrolladas en
pares de líneas por milímetro, se multiplica el número del patrón más pequeño resuelto por la
inversa de la relación de reducción con que el patrón fue filmado; por ejemplo si el patrón máspequeño resuelto se numera 5.0 y la relación de reducción es 1/24 el poder de resolución es de
120 pares de líneas/mm.
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Anexo A
(Informativo)
Defectos que afectan la calidad
Durante la fabricación de la tarjeta de prueba, los defectos pueden ocurrir en las imágenes de las
líneas y espacios. El tamaño del defecto con respecto a ancho de la línea o espacio determinará elgrado en el que el defecto influirá en la medición de poder de resolución de un sistema de
microfilmación.
La siguiente descripción de los defectos se sugiere como lineamientos para el rechazo de las tarjetas
de prueba.
a) Esquinas no cuadradas y bordes rotos o desiguales con el resto de la línea y espacio.
b) Agujeros o marcas en la línea o en el área de espacio que son más grandes que la mitad del
ancho de una línea o espacio.
c) Roturas, cortes o marcas que están completamente a través o sobre la mitad del ancho de la
línea o espacio.
d) Cortes o marcas a lo largo de los bordes o en la línea o espacio con una longitud mayor que un
cuarto de la longitud de la línea o espacio.
Las principales causas de rechazo en las tarjetas de prueba se muestran en la figura A.1. La notación
de los defectos de impresión son tanto para los patrones de espacio de línea vertical y horizontal.