Upload
phamdung
View
229
Download
0
Embed Size (px)
Citation preview
1
Prof. Krzysztof Jemielniak [email protected]
http://www.cim.pw.edu.pl/kjemielST 107, tel. 234 8656
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
SENSORYKA
http://www.cim.pw.edu.pl/sensoryka
1. Wprowadzenie do czujników i systemów pomiarowych
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
1 Wstęp, wprowadzenie do czujników i
systemów pomiarowych
• Regulamin przedmiotu, plan wykładu, strona
www
• Wprowadzenie do czujników
• Rola pomiarów w systemach wytwarzania
• System pomiarowy
Regulamin przedmiotu, plan wykładu
strona www
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Regulamin przedmiotu „Sensoryka”
1. Przedmiot składa się z dwóch jednostek dydaktycznych:
• Wykład – zaliczany egzaminem
• Laboratorium – zaliczane w trakcie zajęć
2. Każda z nich oceniana jest punktowo w skali 0-50,
3. Do zaliczenia przedmiotu potrzebne jest zdobycie min. 25 punktów w
ramach każdej z tych jednostek
4. Ocena z przedmiotu jest jedna, według kryteriów:
• 0-50 2
• 51-60 3
• 61-70 3,5
• 71-80 4
• 81-90 4,5
• 91-100 5
Czyli wg wzoru:
ocena = 4*suma/max +1
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
„Sensoryka” w kontekście
• Poziom inżynierski
• Sensoryka – semestr 4 – nauka o czujnikach, torach
pomiarowych, przetwarzaniu sygnałów na postać
cyfrową
• Automatyczne monitorowanie i nadzór wytwarzania –
semestr 6 zastosowanie wyżej i niżej wymienionych
w praktyce przemysłowej
• Poziom magisterski
• Przetwarzanie sygnałów – semestr 1 – metody
modyfikacja sygnałów w celu uzyskania/ ulepszenia/
zmiany postaci informacji
• Wirtualne przyrządy pomiarowe – semestr 2 – nauka
programowania (kodowania) w języku LabVIEW
umożliwiająca praktyczną realizację powyższych
Hardware
– czym?
Zastosowanie
– co?
Teoria
– jak?
Software
– jak?
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
http://www.cim.pw.edu.pl/sensoryka
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Plan wykładu
1. Wstęp, wprowadzenie do czujników
2. Czujniki położenia odległości i kąta
3. Czujniki drgań
4. Czujniki AE i dźwięku
5. Czujniki sił, momentów i ciśnienia
6. Czujniki temperatury
7. Budowa toru pomiarowego, wstępna obróbka sygnału i
przetwarzanie A/C
8. Case study: Badanie błędów ruchu obrotowego i
efektów termicznych w obrabiarkach
Wstęp, wprowadzenie do czujników
2
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
1 Wstęp, wprowadzenie do czujników i
systemów pomiarowych
• Plan wykładu, regulamin przedmiotu, strona
www
• Wprowadzenie do czujników
• Rola pomiarów w systemach wytwarzania
• System pomiarowy
Wprowadzenie do czujników
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Wszystko zaczyna się od zmysłów
“Wszelka nasza wiedza ma początek w naszych zmysłach”Leonardo da Vinci (1452-1519)
„Nie ma nic w umyśle, czego nie byłoby przedtem w zmysłach”Św. Tomasz z Akwinu (1221-1274)
Postrzeganie zmysłowe jest procesem uświadamiania sobie
lub rozumienia informacji docierających z narządów
środowisko /
otoczenie
zmysły /czujniki
mózg /komputer
zjawiska,
wielkości fizyczne
odczucia /
sygnałyreakcje
wiedza, efekty działań
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Homocentryczne widzenie świata
wzrok jest naszym najważniejszym zmysłem, dostarczającym nam najwięcej informacji, ale...
owady mają dwoje oczu po powiedzmy 10,000elementów światłoczułych w każdym
umiemy posługiwać się dotykiem, ale...
karaluchy mają 30,000 włosków czułych na ruch powietrza na każdej nodze
mogą wyczuć zbliżające się obiekty bez dotykania ich
podobnie jest z innymi zmysłami
Świat oferuje znacznie więcej informacji niż my jesteśmy w stanie postrzegać zmysłami
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Typy czujników
Istnieje ogromna liczba typów czujników wiele wykrywa zjawiska, których człowiek nie może wykryć
np. magnetyzm, podczerwień, ultrafiolet, ultradźwięki, faza światła itd.
Omówimy tu tylko część z nich, zwłaszcza
te, które mogą znaleźć zastosowanie
systemach wytwarzania
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Czujnik – przetwornik
przetwornikWielkość fizyczna opór, napięcie
Przetwornik przekształca jedną wielkość fizyczną jak temperatura, siła, ciśnienie, prędkość itd., na inną, najczęściej elektryczną jak
napięcie lub opór
Czujnik to urządzenie, zawierające obudowany przetwornik,
przewody odprowadzające sygnał itp.
masa
sejsmiczna
obudowa
przetwornik
piezoelektryczny
sygnał badany
element
Czujnik drgań (akcelerometr)
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Typy czujników
• mechaniczne
• termiczne (energia kinetyczna atomów lub cząsteczek)
• elektryczne
• magnetyczne
• radiacyjne (włączając fale elektromagnetyczne, mikrofale itd.)
• chemiczne
Wyróżniamy sześć podstawowych typów czujników
(przetworników) z punktu widzenia mierzonych
sygnałów i form energii przetwarzanej przez nie:
3
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Mierzone wielkości fizyczne (przykłady)
Wielkość fizyczna czujnik/przetwornik
pozycja, odległość przemieszczenie
potencjometr, czujnik indukcyjny, czujnik pojemnościowy, enkoder optyczny
siła tensometr, przetwornik piezoelektryczny
drgania, emisja akustyczna
przetwornik piezoelektryczny (akcelerometr, czujnik AE)
dźwięk mikrofon
temperatura termopara, detektor oporowy ( (RTD), termistor, itp
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Specyfikacja czujnika
Dokładność: różnica między wynikiem pomiaru a
wartością rzeczywistą mierzonej wielkości
Rozdzielczość: najmniejsza zmiana wielkości
mierzonej, która może być wykryta w sygnale
wyjściowym.
wyrażana jest w proporcji do zakresu lub w jednostkach bezwzględnych
Czułość: stosunek zmiany sygnału wyjściowego do
zmiany wielkości mierzonej
nachylenie zależności sygnału wyjściowego od wejściowego
Powtarzalność (precyzja): zdolność czujnika do
wskazywania tej samej wartości sygnału wyjściowego
przy kolejnych powtórzeniach wartości mierzonej.
mierzona parametrami rozkładu sygnału wyjściowego
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Dokładność a rozdzielczość
prawdziwa wartość
wynik pomiaru
DOKŁADNOŚĆ
ROZDZIELCZOŚĆ
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Precyzja bez
dokładnościDokładność bez
precyzji
Precyzja i
dokładność
Dokładność a precyzja
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Charakterystyka czujnika
Zależność sygnału wyjściowego (np. napięcia) od wielkości mierzonej
Przykład: indukcyjny czujnik przemieszczeń liniowych (LVDT):
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Zakres pomiarowy
Zakres pomiarowy to minimalna i maksymalna wartość mierzona: xmin ÷ xmax
tu zakres pomiarowy z = -500 ÷ +500 mm
4
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Czułość czujnika
Czułością czujnika nazywamy nachylenie jego charakterystyki:
s = Dy/ Dx
Dy
Dx
tu s = 10mV/mm
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Błąd czułości
Błędem czułości jest odchylenie nachylenia charakterystyki od wartości teoretycznej
tu czułość zmierzona wynosi 10.3 mV/mm
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Błąd liniowości
Błąd liniowości to odchylenie rzeczywistej charakterystyki od linii prostej, wyrażany najczęściej w % w stosunku do rozpiętości zakresu pomiarowego:
max
Dlin =max|xlin-xpom|____________
xmax- xmin
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Offset
Offset to wartość sygnału gdy wartość mierzona jest równa 0, lub przesunięcie całej charakterystyki w górę lub w dół w stosunku do
wartości teoretycznej:
offset
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Przykład – czujnik przemieszczeń liniowych
offset=-0,6mm
Błędy pomiaru, dla charakterystyki linowej, nominalnej
x [mm]= y[mV]/s; s=10 mV/mm
dokł
adność
= 1
4.9
mm
Błąd pomiaru dx = xrzecz - y/s
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Przykład – czujnik przemieszczeń liniowych
offset=-0,6mm
Błędy pomiaru po eliminacji błędu czułości, dla charakterystyki linowej
x [mm]= y[mV]/s; s=10.3 mV/mm
dokł
adność
= 2
.5 m
m
Błąd pomiaru dx = xrzecz - y/s
5
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Przykład – czujnik przemieszczeń liniowych
Błędy pomiaru po eliminacji błędu czułości, offsetu i nieliniowości
x = 0.6 + 0.963*y + 3.63E-11*y3
dokł
adność
= 0
.9 m
m
Błąd pomiaru dx = xrzecz - x
x [mm]– przemieszczenie obliczone na podstawie sygnału wyjściowego
y [mV] – sygnał wyjściowy
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Histereza
Histereza to zależność sygnału wyjściowego od kierunku zmian wielkości mierzonej
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Czas odpowiedzi
Czas, po którym sygnał osiągnie wartość zgodną z charakterystyką (z założoną tolerancją), po skokowej zmianie wartości mierzonej.
W teorii automatycznej regulacji odpowiada mu czas regulacji
x
t
czas
y
stała czasowa
czas odpowiedzi pa
sm
o t
ole
ran
cji
x
czujnikyx
t
y
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Pasmo przenoszenia
czujnikyx
1 10 100 1000 104 105
częstotliwość (Hz)
f1
f2
f3
f1
f2
f3
fd fg
pasmo przenoszenia
e
Zakres częstotliwości, w którym stosunek amplitudy sygnału wyjściowego do mierzonego nie spada poniżej założonego poziomu
(zwykle 3dB)
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Pasmo użyteczne
y
częstotliwośćw0
pasmo użyteczne
Zakres częstotliwości, w którym stosunek amplitudy sygnału wyjściowego do mierzonego zawiera się w zadanych granicach
częstotliwość rezonansowa
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Pasmo użyteczne – przykład
czujnik drgań
częstotliwość (Hz)czu
łość (%
w s
tosu
nk
u d
o 1
00
Hz)
6
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Dokładność
Dokładność czujnika to maksymalna bezwzględna różnica między rzeczywistą wartością mierzoną, a wyznaczoną na podstawie sygnału wyjściowego i charakterystyki.
Wyrażana jest w proporcji do zakresu lub w jednostkach bezwzględnych.
dokładność = xrzecz – x(y)lub
dokładność = [xrzecz – x(y)]/(xmax-xmin)*100%
• Dokładność zależy od wielu czynników związanych z określoną aplikacją (instalacją), jak zakłócenia elektryczne, termiczne, dynamiczne, nie związane bezpośrednio z samym czujnikiem.
• Producenci niechętnie podają dokładność, raczej różne składniki dokładności jak nieliniowość, powtarzalność, rozdzielczość, histerezę, pasmo przenoszenia.
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Waga właściwego doboru czujnika i całego
systemu pomiarowego
Podstawowa zasada wszelkich pomiarów:
GIGO (Garbage in = Garbage out)!
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
1 Wstęp, wprowadzenie do czujników i
systemów pomiarowych
• Plan wykładu, regulamin przedmiotu, strona
www
• Wprowadzenie do czujników
• Rola pomiarów w systemach wytwarzania
• System pomiarowy
Rola pomiarów w systemie wytwarzania
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Znaczenie pomiarów w systemach wytwarzania
Mierzone wielkości fizyczne dostarczają istotnych
informacji o:
• procesie wytwarzania (np. stabilność elektryczna w EDM,
mechaniczna skrawaniu)
• wynikach procesu wytwarzania (np. chropowatość,
wymiary)
• stanie istotnych materiałów (np. zużycie narzędzia,
zanieczyszczenie chłodziwa, poziom oleju)
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Znaczenie pomiarów w systemach wytwarzania
Przedmiot pomiarów
i monitorowaniaWielkości mierzone Cel pomiarów i
monitorowania
Przedmiot obrabiany:
Proces obróbki:
Narzędzie:
Obrabiarka i
wyposażenie:
Środowisko:
• Stan zamocowania
• Dokładność obróbki• Chropowatość powierzchni
• Jakość warstwy wierzchniej
• Siły skrawania
• Tworzenie ciepła• Temperatura
• Drgania• Hałas
• Postać wiórów
• Położenie krawędzi skrawającej
• Zużycie ostrza• Katastroficzne stępienie ostrza
(wyłamania, wykruszenia itp.)
• Awarie
• Drgania• Deformacje
• Zmiany temp. otoczenia
• Drgania zewnętrzne• Stan chłodziwa
• Zapewnienie wysokiej jakości
• Unikanie uszkodzeń przedmiotu i braków
• Utrzymanie prawidłowego
procesu obróbki• Przewidywanie i unikanie
stanów awaryjnych
• Określenie wielkości ruchów
ustawczych• Wymiana narzędzi na czas
• Unikanie uszkodzeń przedmiotu i narzędzi
• Zapewnienie poprawnej pracy
obrabiarki i wysokiej dokładności obróbki
• Minimalizacja wpływu otoczenia
na obróbkę
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Czynniki brane pod uwagę przy doborze
czujników
Pomiary:
• w czasie procesu, między zabiegami/operacjami czy po procesie
• na obrabiarce czy poza nią
• ciągłe czy przerywane (okresowe)
• bezpośrednie czy pośrednie
• czynne czy bierne
• dotykowe czy bezdotykowe
• z bliska czy odległe
• pojedynczymi czujnikami czy ich zestawem
• czujnikami wielofunkcyjnymi czy specjalistycznymi
7
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Trudności w pomiarach
Trudność
Pomiary w trakcie procesu/on-line
Pomiary bezpośrednie
Duża odległość między obiektem
mierzonym a czujnikiem
Wpływ instalacji czujnika na proces
obróbki i sztywność obrabiarki
Zanieczyszczone środowisko
Transmisja sygnału z obracających się
lub ruchomych elementów
Złożone zależności między różnymi
czynnikami
Rozmaitość sposobów i rodzajów obróbki
PrzykładyDokładność obróbki
Chropowatość i jakość powierzchniZużycie ostrza i KSO
Odkształcenia termiczne obrabiarki
Zużycie ostrza i KSO przy ciągłym skrawaniu
Odkształcenia termiczne obrabiarki
Położenie czujnika względem ostrza lub ściernicy
Zmniejszenie sztywności narzędzia lub obrabiarki przez
instalację czujników tensometrycznych
Występowanie chłodziwa, zakłócenia elektryczne
Przekazywanie sygnału z wrzeciona, szybko przemieszczającego
się stołu lub obrotowej głowicy narzędziowej
Właściwości mierzonego obiektu mogą zależeć od warunków
obróbki, materiału ostrza, materiału obrabianego itd.
Potrzebne są czujniki odpowiednie do różnych sposobów
obróbki jak wiercenie, frezowanie, gwintowanie itp. na tej
samej obrabiarce
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Możliwe położenia czujników monitorujących
pracę obrabiarki
1. siłomierz płytowy, 2. siłomierz tensometryczny, 3. łożysko dynamometryczne,
4. czujnik mocy, 5. czujnik momentu, 6. powierzchniowy czujnik AE,
7. strumieniowy czujnik AE, 8. czujnik przyspieszeń, 9. czujnik wbudowany w narzędzie
tokarka
centrum frezarskie
przedmiot obrabiany przedmiot
obrabianystół
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
1 Wstęp, wprowadzenie do czujników i
systemów pomiarowych
• Plan wykładu, regulamin przedmiotu, strona
www
• Wprowadzenie do czujników
• Rola pomiarów w systemach wytwarzania
• System pomiarowySystem pomiarowy
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
System pomiarowy
Podstawowym zadaniem systemu pomiarowego jest mierzenie
wielkości fizycznych występujących w rzeczywistym świecie.
Tu będą nas interesowały takie wielkości związane z wytwarzaniem, jak:
• położenie, odległość, przemieszczenie,
• prędkość liniowa i kątowa, przyspieszenie,
• siła, moment, moc
• temperatura
• dźwięk
Wspólną cechą wymienionych wielkości
jest to, że są one „nieelektryczne”,
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Pomiary wielkości nieelektrycznych
Tradycyjnie wielkości takie mierzy się odpowiednimi przyrządami jak np.
• odległość, wymiar: przymiar, suwmiarka, linijka itp.
• siła: sprężyna, waga itp.
• prędkość: pośrednio przez pomiar czasu i odległości
• temperatura: termometr rtęciowy
Drugi etap rozwoju technik pomiarowych to zastosowanie
przyrządów, w których wartości wielkości mierzone są
przetwarzane na sygnał elektryczne i np. wyświetlane
cyfrowo czy pokazywane na wskaźniku.
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Wstępna obróbka sygnału
układ wstępnej obróbki sygnału
czujnik
uniwersalne lub specjalistyczne
urządzenie pomiarowe, np.: oscyloskop,
analizator, woltomierz itp.
kable
Zwykle nie jest możliwe bezpośrednie wykorzystanie sygnału z czujnika –
potrzebny jest specjalny (dobrany do czujnika) układ przygotowania
(wstępnej obróbki) sygnału, mogący także zasilać czujnik
8
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Przykładowe sposoby wstępnej obróbki
sygnału
Termopara
Czujniki termorezystancyjne
Mostek tensometryczny
Przetworniki piezoelektryczne
Wzmocnienie, linearyzacja, kompensacja zimnych złączy
Zasilanie,
linearyzacja
Zasilanie mostka,
linearyzacja
Wzmacniacz ładunku
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Budowa komputerowego systemu akwizycji
danych
czujniki,
przetworniki
Karta DAQ
oprogramowanie
Przygotowanie
sygnałów
Trzeci etap rozwoju technik pomiarowych
Drugi etap rozwoju technik pomiarowych
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Akwizycja danych, karta DAQ
Akwizycja danych (DAQ - Data Acquisition) to zbieranie sygnałów
elektrycznych z czujników (zwykle za pośrednictwem układów wstępnego
przygotowania sygnału) i wprowadzenie uzyskanych danych do komputera
w celu ich dalszego przetworzenia.
Urządzenia (karty) DAQ zwykle są bezpośrednio połączone z wewnętrzną
szyną danych komputera przez gniazdo (plug-in slot). Karta DAQ nie
wykonuje obliczeń, nie wyznacza miar sygnału, pozostawiając to zadanie
oprogramowaniu rezydującemu w komputerze.
PCMCIA
PXI PCI
FireWire/USB
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Współczesny system pomiarowy
Prezentacja danych to środki do łatwego, intuicyjnego komunikowania się z systemem, w celu uzyskiwania informacji w dogodnej, zrozumiałej formie.
Przetwarzanie danych przekształca surowe dane w pełne znaczenia informacje. Obejmuje takie techniki jak filtrowanie cyfrowe, analizy częstotliwościowe, statystyczne i wiele innych operacji matematycznych
System akwizycji danych pomiarowych (system pomiarowy) jest zespołem urządzeń objętych wspólnym sterowaniem i przeznaczonym do realizacji w sposób automatyczny procesu pomiarowego.
zjawiska fizyczne
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
System akwizycji, prezentacji i przetwarzania danych
Przygotowanie sygnałów
czu
jnik
i, p
rze
two
rnik
i
sygnały analogowe
Karta DAQ PCI
Przetwarzanie i prezentacja danych
Software do akwizycji danych
Software do akwizycji danych
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
DAQ system – przykład
siłomierz
wzmacniaczeŁadunku
skrzynka połączeń
PCMCIA DAQcard
9
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
DAQ system - przykład
probes
Probe drivers
connector block
SCXI
PXI
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Wymagania stawiane systemowi DAQ
• Typ sygnału (sygnałów) – wejścia analogowe (AI),
wyjścia analogowe (AO), wejścia i wyjścia cyfrowe
(DIO), liczniki (CTR)
• Liczba kanałów I/O – może określić typ systemu i jego
koszt
• Szybkość, dokładność
• Portabilność
• Zgodność z poprzednimi wersjami oprogramowania i/lub
sprzętu. Często to czynnik najbardziej krytyczny!
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
System pomiarowy w systemie wytwarzania
Czujnik
Przetwarzanie sygnałów
Obiekt
Podejmowanie decyzji
OperatorUkład sterowania
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Struktura logiczna układu nadzoru narzędzia i PS
NADZÓR
DIAGNOSTYKA
MONITOROWANIE
syg
na
ły
czujnikiobróbka sygnałów
filtry, statystyka,
FFT, RMS,...
mia
ry
syg
na
łów
AKCJA !
integracja miar, diagnoza
rozkaz
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania
Zakład Automatyzacji, Obrabiarek i Obróbki Skrawaniem
Jakieś pytania?