Embed Size (px)
Citation preview
KSKSKSKS SKSKSKS KSKSKS SKSKS KSKS SKS KS
산업표준심의회 심의 2002년 8월 31일 제정 한 국 표 준 협 회 발 행
KS A ISO 3744
음향－음압법에 의한 소음원의음향 파워 레벨 측정 방법－ 반사면상 준자유 음장에서의
실용 측정 방법 KS A ISO 3744：2002
A ISO 3744：2002
전자부회 심의위원 명단 성 명 근 무 처 직 위
(회 장 ) 윤 태 윤 국민대학교 교 수
(위 원 ) 김 도 현 국민대학교 교 수
이 영 희 단국대학교 교 수
김 영 조 한양대학교 명예교수
박 병 철 성균관대학교 교 수
구 연 건 홍익대학교 교 수
박 현 숙 동아방송대학 조 교 수
(당연직 ) 한국전기전자시험연구원 이 사
( 간 사 ) 권 진 상 기술표준원 전자기술표준부 정밀전자과
이 명 수 기술표준원 전자기술표준부 정밀전자과
제정자：기술표준원장
제 정：2002년 8월 31일 기술표준원 고시 제02－988호
원안 작성협력자：산업표준심의회 전자부회
심 의 부 회：산업표준심의회 전자부회(회장 윤 태 윤)
이 규격에 대한 의견 또는 질문은 기술표준원 전자기술표준부 정밀전자과
(☎ 02－509－7306)로 연락하여 주십시오. 또한 한국산업규격은 산업표준화
법 제7조의 규정에 따라 5년마다 산업표준심의회에서 심의되어 확인, 개정 또는 폐지됩니다.
ICS 17.140.01
한 국 산 업 규 격 KS
음향－음압법에 의한 소음원의
음향 파워 레벨 측정 방법－반사면상
준자유 음장에서의 실용 측정 방법
A ISO 3744：2002
Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure－Engineering method in an essentially free
field over a reflecting plane
서 문 이 규격은 1994년 제2판으로 발행된 ISO 3744 Acoustics－Determination of sound power levels of noise
sources using sound pressure－Engineering method in an essentially free field over a reflecting plane을 번영하여, 작성
한 한국산업규격으로, 다음에 열거한 점을 제외하고는 기술적 내용 및 규격서의 서식을 변경하지 않고 작
성하였다.
－원국제 규격의 적용 범위 중 분리 충격 소음(isolated burst of sound energy)은 그 물리적 의미가 음향 파
워 레벨의 개념에 어울리지 않기 때문에 이를 제외하였다.
－대응되는 종전의 KS 규격(KS A 0703)에 있으나 ISO 3744에 없는 정의를 추가하였다.
－ISO/DIS 7779에 근거하여 측정 대상 기기의 분류를 정의하고 그 설치 조건을 규정하였다.
－ISO 12001에 근거하여 소음 스펙트럼 및 레벨의 시간 변동에 따른 분류를 부속서 F로 하여 추가하였
다.
또한 이 규격에서 밑줄이 있는 문장, 항목, 참고 및 안내 번호가 붙여져 있지 않은 비고는 원국제 규격
에는 없는 항목이다.
0.1 이 규격은 기계, 장치 및 이의 서브어셈블리의 음향 파워 레벨을 산출하는 다양한 방법을 규정하는
음향 통칙 KS 중 하나이다. 이 통칙 중 어느 하나를 선택할 때는 그 소음 시험의 조건 및 목적에 가장 적
합한 것을 선택할 필요가 있다.
반사면 위에서 음원을 둘러싸는 측정 표면을 사용하는 방법을 선택할 경우에는 표 0.1을 참조한다. 또
확산 음장 안에서의 방법, 음향 인텐시티를 사용하는 방법 그리고 이 방법 중 각종의 측정 방법 및 시험
환경의 적합성 시험을 위해 사용되는 기준 음원은 KS A ISO 3741, KS A ISO 9614－1,－2와 KS A ISO 6926
을 각각 참조한다.
이들 KS는 측정 대상 기기의 동작 및 설치 조건에 관한 일반 원칙을 제시할 뿐이다. 특정 종류의 기기
를 위한 개별 규격(1)이 존재할 때는 설치 및 동작 조건의 시방에 관해서 그 개별 규격을 인용하는 것이
바람직하다.
주(1) 원국제 규격 중에서 이 규격처럼 기기의 종류를 한정하지 않고 적용되는 통칙 규격을 “basic
standard”라 하는 반면, 특정 종류의 기기를 위하여 상세한 측정 조건을 규정한 규격을 “noise
test code”라 하고 있다. 이하 이 규격에서는 “noise test code”를 “개별 규격”이라 한다.
A ISO 3744：2002
2
표 0.1 반사면 위의 음원(측정 대상 기기)을 둘러싸는 측정 표면을 사용하는 방법에 의해
다른 등급의 정밀도를 부여하는 음향 파워 레벨 산출을 위한 KS 규격 일람표
파라미터
KS A ISO 3745
(ISO 3745)
정밀 측정 방법
1 등급
KS A ISO 3744
(ISO 3744)
실용 측정 방법
2 등급
KS A ISO 3746
(ISO 3746)
간이 측정 방법
3 등급
시험 환경 반무향실 옥외 또는 옥내 옥외 또는 옥내
시험 환경의 적합성 기준(1) K2 ≤ 0.5 dB K2 ≤ 2 dB K2 ≤ 7 dB
음원의 부피 실용적의 0.5% 미만이 바람
직하다.
제한 없음. 이용 가능한 시
험 환경에 의해서만 한정된
다.
제한 없음. 이용 가능한 시험
환경에 의해서만 한정된다.
소음의 종류 분리 충격 소음(2)을 제외한 임의의 소음(광대역, 협대역, 이산 주파수, 정상, 비정상, 충
격 소음)
배경 소음에 대한 제한(1) ∆L ≥ 10 dB
(가능하면 15 dB 이상)
K1 ≤ 0.4 dB
∆L ≥ 6 dB
(가능하면 15 dB 이상)
K1 ≤ 1.3 dB
∆L ≥ 3 dB
K1 ≤ 3 dB 측정 위치의 수 ≥ 10 ≥ 9(3) ≥ 4(3)
최소한 적합해야 할 계측기
－소음계
－적분형 소음계
－주파수 대역 필터 세트
a) KS C 1505에서 규정하는
기기
b) KS C 1505의 부속서에
규정하는 기능을 갖춘
기기
c) IEC 61260에서 규정하는
1 등급 기기
a) KS C 1505에서 규정하는
기기
b) KS C 1505의 부속서에
규정하는 기능을 갖춘
기기
c) IEC 61260에서 규정하는
1 등급 기기
a) KS C 1505에서 규정하는
기기
b) KS C 1505의 부속서에
규정하는 기능을 갖춘
기기
－
재현성의 표준 편차로
나타낸 LWA 산출의 정밀도
σR ≤ 1dB σR ≤ 1.5dB
σR ≤ 3dB
(K2 < 5 dB일 경우)
σR ≤ 4 dB
(5 dB ≤ K2 ≤ 7 dB 일 경우),
이산 순음이 두드러질 경우는
σR의 값이 위의 값보다 1 dB
크게 된다.
주(1) 음향 파워 스펙트럼 산출을 위해서는 대상 주파수 범위의 각 주파수 대역마다 K1 및 K2 의 값을 만
족시키도록 한다.
A가중 음향 파워 레벨 산출에 대해서도 같은 기준을 K1A 및 K2A에 각각 적용한다.
(2) 1.2 참조
(3) 어떤 규정된 환경(7.2∼7.4 참조)에서는 마이크로폰 위치의 수를 적게 하는 것이 허용된다.
0.2 이 규격은 측정 대상 기기를 둘러싸는 측정 표면 위의 음압 레벨을 측정하고, 그 기기에 의해 발생되
는 음향 파워 레벨을 계산하는 한 가지 방법에 대해서 규정한다. 기기를 둘러싸는 측정 표면을 사용하는
방법으로서 3가지 등급의 정밀도(표 0.1 참조) 중에서 하나를 이용할 수 있으나, 이 규격에서는 2등급의
정밀도를 사용한다.
이 규격을 사용하기 위해서는 표 0.1에 기재된 어떤 검정 기준을 만족시키는 것이 필수적이다. 해당하
A ISO 3744：2002
3
는 검정 기준을 만족시킬 수 없을 경우에는 환경에 관해 다른 요건을 규정하는 다른 음향 통칙(표 0.1 참
조)의 적용을 권장한다. 특정한 종류의 기기를 위한 개별 규격은 상호 모순되는 경우 없게 1개 또는 몇 개
의 통칙 KS 및/또는 통칙 국제 규격의 요건에 기초하도록 한다.
참 고 통칙 규격에 기초한 개별 규격을 작성하기 위한 지침이 KS A ISO 12001에 규정되어 있다.
자유 음장 조건은 기기가 보통 설치되는 일반적인 기기실 안에서는 통상적으로 눈에 띄는 것은 아니다.
그러한 설치 환경에서 측정을 실시할 때에는 배경 소음 또는 바람직하지 않은 반사에 대한 보정이 필요하
다.
이 규격에서 규정하는 방법에 의해 A가중 및 주파수 대역마다의 음향 파워 레벨을 산출할 수 있게 된다.
주파수 대역 데이터로부터 계산한 A가중값은 실측한 A가중 음압 레벨로부터 산출한 것과는 다른 경우가
있다.
참 고 A가중값을 주파수 대역 데이터로부터 계산할 것인지, 아니면 바로 읽어 낸 A가중값으로부터 구
할 것인지는 측정 대상에 따라 다르기 때문에 대상으로 하는 기기의 종류마다 해당하는 개별
규격으로 규정하는 것이 바람직하다. 9.4 i) 참조
0.3 이 규격에서 음압 레벨 측정으로부터의 음향 파워 레벨의 계산은 기기의 음향 파워 출력이 시간 및
공간 위에서 평균한 평균 제곱 음압과 직접 비례한다는 전제를 기초로 하고 있다.
참 고 이와 같은 전제대로 되지 않는 시험 환경에서는 확산 음장에서의 방법(KS A ISO 3741) 또는 음
향 인텐시티 측정에 기초한 방법(KS A ISO 9614－1, 2)을 채용하는 쪽이 좋다.
1. 적용 범위
1.1 일반 사항 이 규격은 1개의 소음원에 의해 발생하는 음향 파워 레벨을 계산하기 위하여 1개 또는 몇
개의 반사면 근방의 준자유 음장 조건하에서 음원을 둘러싸는 측정 표면 위의 음압 레벨을 측정하는 방법
을 규정한다. 이 규격에서는 음원의 음향 파워 레벨 계산의 기초가 되는 표면 음압 레벨을 구하는 방법뿐
아니라 시험 환경 및 측정기에 관한 요건도 규정하고 있으며, 2등급 정밀도의 결과를 얻게 된다.
다양한 종류의 기기를 위한 개별 규격이 이 규격에 따라 제정되어 사용되는 것은 중요하다. 각 종류의
기기에 대한 개별 규격은 이 규격에서 규정하는 바와 같이 측정 표면 및 마이크로폰 배치를 선택하며, 기
기의 설치, 부하 및 동작 조건에 관한 상세한 요구 사항을 규정할 것이다.
비 고 측정 표면이 다르면 음원의 음향 파워 레벨의 추정값도 다르게 될 수 있으므로, 선택한 특정의
측정 표면에 관한 상세한 정보를 해당 개별 규격에서 제공하는 것이 바람직하다.
1.2 소음 및 소음원의 종류 이 규격에서 규정하는 방법은 분리 충격 소음을 제외한 모든 종류의 소음 측
정에 적합하다.
비 고 1. 원국제 규격에서는 “모든 종류의 소음에 적용 가능”이라 되어 있지만, 분리 충격 소음은 그
과도적 성질상 파워 레벨에 의한 평가는 적당하지 않은 것으로 고려되어 이 규격에서 제외
하였다.
이 규격은 어떠한 종류의 음원에도 또한 어떠한 크기의 음원(예를 들면 디바이스, 기계, 콤포넌트, 서브
어셈블리)에 대해서도 적용할 수 있다.
비 고 2. 소음의 스펙트럼 및 레벨의 시간 변동에 따른 분류(정상 소음, 비정상 소음, 준정상 소음, 충
격성 소음 등)가 이 규격의 부속서 F(1)에 주어져 있다.
주(1) 원국제 규격에서는 소음의 종류를 규정한 ISO 2204를 인용하고 있으나, ISO 2204가 ISO 12001로
교체되었기 때문에 이의 대응 KS인 KS A ISO 12001에 기초하여 부속서 F를 작성하였다.
비 고 3. 이 규격에 따른 측정은 연통, 덕트, 컨베이어 또는 몇 개의 음원으로 이루어진 공장처럼 높
A ISO 3744：2002
4
이가 매우 높거나 또는 매우 긴 음원에 대해서는 실제적이지 않을 경우가 있다.
1.3 시험 환경 이 규격에 따라서 실시되는 측정에 적합한 시험 환경은 하나 또는 몇 개의 반사면 근방에
있는 준자유 음장(옥내 또는 옥외)이다(3.8 A 참조).
1.4 측정의 불확도 이 규격에 따라 실시된 측정에서 거의 예외 없이 A가중 음향 파워 레벨은 재현성의
표준 편차로 1.5dB 이하의 결과가 된다(표 1 참조).
이 규격에서 규정하는 절차에 따라 산출한 소음원의 음향 파워 레벨의 각 값은 측정의 불확실성의 범위
의 크기만큼 참값과는 다르다고 볼 수 있다. 음향 파워 레벨의 산출에서의 불확도는 결과에 영향을 미치
는 몇 개의 요인에 의해서도 일어나며, 그 몇몇은 측정 실내의 환경 조건에 관련되고 그 외의 몇몇은 실
험 방법에 관련된다.
어느 특정 음원에 대해서 몇 개의 다른 시험 기관이 돌아가면서 시험을 실시하고, 각 시험 기관(test
laboratory)에서 그 음원의 음향 파워 레벨을 이 규격에 따라 산출하였을 때 그 결과는 불규칙성을 나타낼
것이다. 측정된 레벨의 표준 편차는 계산할 수 있으며(KS A ISO 7574－4, 부속서 B의 예 참조), 이 값은 주
파수와 함께 변화한다. 거의 예외 없이 이 표준 편차는 표 1의 값을 웃도는 경우는 없다고 고려된다. 표 1
에서 규정하는 값은 KS A ISO 7574－1에서 정의하는 재현성의 표준 편차 σR 이다. 표 1의 값은 이 규격의
방법을 적용하는 것에 의한 측정의 불확도가 누적적인 효과를 고려하고는 있으나, 동작 조건(예를 들면 회
전 속도, 전원 전압) 또는 설치 조건의 변화에 따른 음향 파워 출력의 변동은 고려하고 있지 않다.
측정의 불확도는 표 1의 재현성의 표준 편차와 요구되는 신뢰 구간에 의존한다. 예를 들면 정규 분포를
하는 음향 파워 레벨에 대하여 어느 1개의 음원의 음향 파워 레벨의 참값이 실측값의 ±1.645σR 에 있는 신
뢰 구간은 90%이고, 실측값의 ±1.96σR 에 있는 신뢰 구간은 95%이다. 또한 구체적인 예에 대해서는 KS A
ISO 7574 시리즈 및 KS A ISO 9296을 참조하면 좋다.
표 1 이 표에 따라 산출된 음향 파워 레벨의 재현성 표준 편차의 추정값
옥타브 대역
중심 주파수
Hz
1/3 옥타브 대역
중심 주파수
Hz
재현성 표준 편차
σR
dB
63
125
250
500∼4 000
8 000
50 ∼ 80
100 ∼ 160
200 ∼ 315
400 ∼ 5 000
6 300 ∼ 10 000
5(1)
3
2
1.5
2.5 A 가중 1.5(2)
주(1) 통상 옥외에서의 측정에 대한 것. 이 주파수 대역에 관해서는 많은 시험실이 인증되지 않는다.
주(2) 100∼10 000Hz의 주파수 범위에서 비교적 “평탄한” 스펙트럼을 갖는 소음을 발생하는 음원에 적
용할 수 있다.
비 고 1. 표 1의 표준 편차는 이 규격에서 정의하는 시험 조건 및 절차에 관련되어 있으나, 측정 대상
기기와는 관련이 없다. 이 표준 편차는 측정 시험 기관 사이의 산포, 옥외인 경우 대기 조건
의 변화, 시험실의 기하학적 형상 또는 옥외 환경의 경우의 지형, 반사면의 음향 특성, 옥내인
경우 시험실 경계에서의 흡음, 배경 소음과 더불어 측정기의 종류와 교정 등에 기인한다. 또
한 이 값은 측정 표면의 크기와 형태, 마이크로폰 위치의 수와 배치, 측정 대상 기기의 배치,
적분 시간과 더불어 환경 보정값을 적용할 때에는 그 산출을 포함하는 실험 방법에서의 산포
A ISO 3744：2002
5
에 의해서도 발생한다. 이 표준 편차는 음원의 근접 음장 내부에서의 측정에 관련하는 오차에
도 영향을 받는다. 그러한 오차는 음원의 성질에 의존하지만 일반적으로는 측정 거리가 작아
지고 주파수가 낮아질수록(250Hz 미만) 증가한다.
2. 여러 시험 기관이 같은 설비와 측정기를 사용하고 있을 때, 그 시험 기관 사이에서 어떤 주어
진 한 음원의 음향 파워의 산출 결과는 표 1의 표준 편차에 나타낸 값보다 더욱 잘 일치할
것이다.
3. 비슷한 크기에 비슷한 음향 파워 스펙트럼을 가지며, 비슷한 동작 조건에 있는 특정 종류의
음원에 대해서는 재현성의 표준 편차는 표 1에 있는 값보다도 작은 경우가 있다. 따라서 이
규격을 인용하는 특정 종류의 기기를 위한 개별 규격에는 시험 기관이 적절히 돌아가면서 한
실험의 결과에 의해, 교체할 값이 있을 때에는 표 1의 값보다도 작은 표준 편차를 규정해도
좋다.
4. 표 1에 있는 재현성의 표준 편차에는 같은 조건에서 같은 음원에 대해 반복하여 실시한 시험
에 관한 불확실성(반복성의 표준 편차에 관해서는 KS A ISO 7574－1 참조)을 포함하고 있다.
이 불확도는 시험 기관 간의 산포보다 일반적으로 상당히 작다. 그러나 어느 음원의 동작 또
는 설치 조건을 일정하게 유지하는 것이 곤란할 경우, 그 반복성의 표준 편차는 표 1의 값에
비해 작지 않은 경우가 있다. 그러한 경우 그 음원으로 반복성이 있는 음향 파워 레벨 데이터
를 얻는 것이 곤란하였다는 사실을 기록하고 시험 보고서에 기재하는 것이 바람직하다.
5. 이 규격의 절차 및 표 1의 표준 편차는 각 기계의 측정에 적용 가능하다. 같은 종류인 기계의
로트의 음향 파워 레벨의 특성 부여를 실시하는 경우에는 신뢰 구간을 규정한 무작위 표본화
기술의 이용이 필요하며, 그 결과는 통계적인 상한으로서 표현된다. 이 기술을 적용하는 데에
는 모든 표준 편차를 미리 알고 있거나 또는 그 로트 중의 각 기계 간의 음향 파워의 불규칙
에 대한 척도로서 KS A ISO 7574－1에서 정의하는 생산 표준 편차를 포함하여 추정하여야 한
다. 기계 로트의 특성 부여에 관한 통계적 방법은 KS A ISO 7574－4에 규정되어 있다.
2. 인용 규격 다음의 규격은 이 규격의 본문에 인용되는 것으로 이 규격의 규정 일부를 구성한다. 이 인
용 규격은 그 최신판을 적용한다.
KS F 2805 잔향실 내의 흡음률 측정 방법
비 고 원국제 규격에서는 ISO 354：1985를 인용하고 있다. KS F 2805와 ISO 354는 완전한 대응 관계는
아니지만 KS A ISO 3744의 목적, 즉 잔향 시간을 구하기 위하여서는 동등하다.
KS C 1502 소 음 계
비 고 IEC 60651：1979 Sound level meters과 이 규격이 일치하고 있다.
KS C 1505 적분 평균 소음계
비 고 IEC 60804：1985 Integrating-averaging sound level meters과 이 규격이 일치하고 있다.
KS C IEC 60942 음향 교정기
비 고 IEC 60942：1997 Sound calibrators와 이 규격이 일치하고 있다.
KS A ISO 3745 음향－음압법에 의한 소음원의 음향 파워 레벨 측정 방법－무향실과 반무향실에서의
정밀 측정 방법
비 고 ISO/DIS 3745：2000 Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources－Precision methods
for anechoic and hemi-anechoic rooms에 이 규격이 일치하고 있다.
KS A ISO 11201 음향－기계 및 설비류에서 방사되는 소음－작업 위치 및 그 외 지정 위치에서의 방사
A ISO 3744：2002
6
음압 레벨 측정 방법－반사면상 준자유 음장에서의 실용 측정 방법
비 고 ISO 11201：1995 Acoustics－Noise emitted by machinery and equipment－Measurement of emission
sound pressure levels at a work station and at other specified positions－Engineering method in an essentially
free field over a reflecting plane과 이 규격이 일치한다.
KS A ISO 3747 음향－음압법에 의한 소음원의 음향 파워 레벨 측정 방법－설치 장소(in situ)에서의 비
교법
비 고 ISO 3747：2000 Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources－Comparison method in
situ와 이 규격이 일치한다.
KS A ISO 4871 음향－기계류 및 설비의 소음 방사값의 선언 및 검증
비 고 ISO 4871：1996 Acoustics－Declaration and verification of noise emission values machinery and
equipment과 이 규격이 일치한다.
KS A ISO 6926 음향－음향 파워 레벨 산출에 사용되는 기준 음원의 성능 및 교정에 대한 요구 사항
비 고 ISO 6926：1990 Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources－Requirements for the
performance and calibration of reference sound source과 이 규격이 일치한다.
KS A ISO 7574－1 음향－기계류 및 설비의 표시 소음 방사값의 결정과 검증을 위한 통계적 방법－제
1부：일반 고려 사항 및 정의
비 고 ISO 7574－1：1985 Acoustics－Statistical methods for determining and verifying stated noise emission
values of machinery and equipment－Part 1：General considerations and definitions과 이 규격이 일치한
다.
KS A ISO 7574－4 음향－기계류 및 설비의 표시 소음 방사값의 결정과 검증을 위한 통계적 방법－제4
부： 기계 배치(batch)의 표시값을 구하기 위한 방법
비 고 ISO 7574－4：1985 Acoustics－Statistical methods for determining and verifying stated noise emission
values of machinery and equipment－Part 4：Methods for values for batches of machines과 이 규격이 일
치한다.
KS A ISO 7779 음향－정보 기술 장치에서 방사되는 공기 전파 소음의 측정
비 고 ISO/DIS 7779 Acoustics－Measurement of Noise emitted by information technology and telecom-
munication equipment(Revision of ISO 7779：1988)과 이 규격이 일치한다.
KS A ISO 12001 음향－기계류 및 설비의 방사 소음－소음 시험 규격의 작성 및 제시에 관한 규정
비 고 ISO 12001：1996 Acoustics－Noise emitted by machinery and equipment－Rules for the drafting and
presentation of noise test code와 이 규격이 일치한다.
IEC 61260：1995 Electroacoustics－Octave-band and fractional octave-band filters
3. 정 의 이 규격에서는 다음의 정의를 적용한다.
3.1 음 압(sound pressure) p 음의 존재에 의해 정압에 중첩된 변동하는 압력. 단위는 파스칼(Pa)
비 고 음압의 크기(magnitude)는 순시 음압, 최대 음압 또는 정해진 시간 및 공간(즉 측정 표면상)에서
의 평균 제곱 음압의 제곱근 등 몇 가지 방법으로 표현할 수 있다.
3.2 음압 레벨(sound pressure level) Lp 기준 음압의 제곱에 대한 음압의 제곱의 비의 상용 로그의 10배.
단위는 데시벨(dB), 기준 음압은 20µPa(2×10－5Pa). 사용한 주파수 가중 또는 주파수 대역폭 그리고 시간
가중(S, F 또는 I, KS C 1505 참조)을 나타낸다.
비 고 예를 들면 시간 가중 S의 A가중 음압 레벨은 LpAS이다.
A ISO 3744：2002
7
3.2.1 시간 평균 음압 레벨(time-averaged sound pressure level) Lpeq, T 측정 시간 T 내에서 시간과 함께
변동하는 대상음과 동일한 평균 제곱 음압을 갖는 연속 정상음의 음압 레벨. 단위는 데시벨(dB). 다음 식
으로 구한다.
= ∫
T tLTp t
TL p
0
)(1.0,eq d101lg10 dB
= ∫
Tt
ptp
T 0 20
2d)(1lg10 dB···················································· (1)
시간 평균 음압 레벨은 KS C 1505에 적합한 측정기를 사용하여 측정한다. 비 고 1. 시간 평균 음압 레벨은 통상 A가중하여 T,pL Aeq 로 나타내며 통상 LpA로 간단히 나타낸다.
비 고 2. 시간 평균 음압 레벨은 반드시 어떤 측정 시간 동안 측정되기 때문에, 일반적으로 첨자
“eq ”와 “T ”는 생략한다.
참 고 원국제 규격 그대로 기재하였다. 그러나 첨자 “eq ”를 생략하면 리니어 평균한 것을 명시할
수 없게 되므로 생략하지 않는 편이 좋다.
3.2.2 단발 음압 레벨(single-event sound pressure level) Lp,1s 정해진 시간 T (또는 정해진 측정 시간 T )
의 1개의 독립된 음사상의 시간 적분 음압 레벨을 T0 = 1s 로 정규화한 것. 단위는 데시벨(dB). 다음 식으로
구한다.
= ∫
Tp t
ptp
TL
0 20
2
0s1 d)(1lg10 dB
+=
0eq lg10
TTL T,p dB··········································································· (2)
참 고 원국제 규격 그대로 기재하였다. 원국제 규격에서는 분리 충격 소음(isolated burst of sound
energy)도 측정 대상으로 하고 있으므로, 이 정의를 기재하였다고 생각된다. 그러나 이 규격
에서는 그러한 과도적 소음은 음향 파워 레벨의 측정 대상 이외로 하기 때문에 반드시 필요
한 정의는 아니다.
3.2.3 측정 시간(measurement time interval) 시간 평균 음압 레벨이 산출되는 동작 시간(operational period)
또는 동작 사이클(operational cycle)의 일부분 또는 그 정수배
참 고 측정 시간을 구성하는 요소로서 동작 시간 및 동작 사이클이 KS A ISO 11201에 정의되어 있
다.
3.3 측정 표면(measurement surface) 음원을 둘러싸는 면적 S 의 가상적인 표면으로서 측정점을 배치한
것. 측정 표면은 1개 또는 몇 개의 반사면에서 종료된다.
3.4 표면 음압 레벨(surface sound pressure level) 측정 표면 위의 모든 마이크로폰 위치의 시간 평균
음압 레벨에 대한 에너지 평균값에 배경 소음 보정값 K1 (3.15)과 환경 보정값 K2 (3.16)를 적용한 것. 단위
는 데시벨(dB)
3.5 음향 파워(sound power) P 1개의 음원에서 방사되는 공기 전파음 에너지의 단위 시간당의 비율. 단위
는 와트(W)
참 고 원국제 규격에서는 음향 파워의 기호로서 이탤릭 대문자 “W ”를 사용하고 있으나, 이 규격에서
는 이탤릭 대문자 “P ”로 변경하였다. 다만 음향 파워 레벨 기호의 첨자는 이탤릭 대문자 “W ”
를 그대로 사용한다(3.6 참조).
3.6 음향 파워 레벨(sound power level) LW 측정 대상 기기가 방사하는 음향 파워를 기준 음향 파워로 나
눈 값의 상용로그의 10배. 단위는 데시벨(dB), 기준 음향 파워는 1 pW(10－12 W). 사용한 주파수 가중 또는
pfL
A ISO 3744：2002
8
주파수 대역폭을 나타내어야 한다.
비 고 예를 들면 A가중 음향 파워 레벨은 LWA로 나타낸다.
3.7 자유 음장(free field) 경계면의 영향을 받지 않는 균질하며 등방성인 매질 내부의 음장. 실제로 대상
주파수 범위 안에서 경계로부터의 반사 영향이 무시될 수 있는 음장을 말한다.
3.8 반사면상 자유 음장(free field over a reflecting plane) 측정 대상 기기가 배치되어 있는 무한히 넓고 딱
딱한 평면의 위쪽 반공간에 있는 균질하고 등방성인 매질 내부의 음장
3.8A 반사면상 준자유 음장(essential field over a reflecting plane) 측정 대상 기기가 배치되어 있는 평면의
위쪽에 있는 반공간 내의 음장으로서 약하지만 반사에 의한 영향을 받는 곳
참 고 원국제 규격의 규격 명칭과 정합성을 고려하여 “반사면상 준자유 음장”의 정의가 필요하기 때
문에 추가하였다. 정의의 내용은 ISO 12001에 기초하고 있다. 이 정의는 KS A ISO 12001의
3.5A와 동일하다.
3.9 대상 주파수 범위(frequency range of interest) 일반 목적으로 옥타브 대역 중심 주파수 125∼8 000Hz
의 주파수 범위
참 고 특수한 목적으로 대상 주파수 범위를 확장하거나 또는 축소할 수 있으며, 그 시험 환경 및 측
정기의 정밀도에 관한 요건이 만족되는 것을 전제 조건으로 하여, 대상 주파수 범위를 상하단
의 어느 쪽 방향으로 넓히거나 좁혀도 좋다. 우세한 고주파음(또는 저주파음)을 방사하는 기기
에 대해서는 시험 설비 및 절차를 최적화하기 위하여 대상 주파수 범위를 확장하거나 축소하
여도 좋다.
3.10 기준 상자(reference box) 측정 대상 기기를 완전히 둘러싸며 1개 또는 몇 개의 반사면에서 끝나는
가장 작은 직6면체의 가상 표면
3.11 특성 음원 치수(characteristic source dimension) d0 기준 상자와 그에 접하는 반사면 내에 있는 상
으로 이루어진 상자의 대각선 길이의 반
3.12 측정 거리(measurement distance) d 기준 상자에서 상자 모양의 측정 표면까지의 거리
3.13 측정 반지름(measurement radius) r 반구 측정 표면의 반지름
3.14 배경 소음(background noise) 측정 대상 기기 이외의 모든 음원으로부터의 소음
참 고 배경 소음은 공기 전파음, 고체 전파 진동 및 측정기의 전기 잡음에 의한 기여 성분을 포함할
수 있다.
3.15 배경 소음 보정값(background noise correction) K1 표면 음압 레벨의 배경 소음의 영향을 고려하기
위한 보정항. K1 은 주파수에 의존한다. 단위는 데시벨(dB). A가중의 경우 K1A로 나타낸다.
3.11 배경 소음 보정값(background noise correction) K1 표면 음압 레벨의 배경 소음의 영향을 고려하기
위한 보정항
비 고 1. K1 은 주파수에 의존한다. 단위는 dB로 나타낸다.
비 고 2. A가중의 경우 K1A로 나타낸다.
3.16 환경 보정값(environmental correction) K2 표면 음압 레벨로의 반사음 또는 흡음의 영향을 고려하기
위한 보정항. K2 는 주파수에 의존한다. 단위는 데시벨(dB). A가중의 경우 K2A로 나타낸다.
3.17 소음의 충격성에 관한 지수(impulsive noise index：impulsiveness) ∆LI 어느 한 음원으로부터 방사되
는 소음의 “충격성”을 판단하기 위한 양(부속서 D 참조). 단위는 데시벨(dB)
비 고 원국제 규격 그대로 기재하였다. 그러나 원국제 규격의 부속서 D의 평가 방법 자체가 그 유
효성이 의문시되는바 그 실효적인 의미는 없어지고 있다.
3.18 지향 지수(directivity index) DI 어느 기기가 한 방향으로 두드러지게 소리를 방사하는 것을 나타내기
A ISO 3744：2002
9
위한 척도(부속서 E 참조). 단위는 데시벨(dB)
비 고 3.19∼3.21은 원국제 규격에는 없는 대응하는 종전의 KS 규격(KS A 0703) 중에 있는 정의이
므로 이들을 포함시켰다.
3.19 기준 음원(reference sound source) 측정 주파수 범위에서 충분하고 또한 안정된 출력과 평탄한 주
파수 특성 및 양호한 전지향성을 갖는 소형 광대역 잡음성 음원으로 KS A ISO 6926에 따라 음향 파워 레
벨이 교정된 것.
3.20 잔향 시간(reverberation time) T 정상 상태에 있는 실내의 평균 음향 에너지 밀도가 음원을 정시시
킨 후 정상 상태의 1/10－6 (－60dB)로 감쇠할 때까지의 시간. 단위는 초(s)
3.21 실내 등가 흡음 면적(equivalent absorption area of surface) A 실내의 흡음성 정도를 나타내는 값으
로서 흡음력이라고도 한다. 단위는 제곱미터(m2)
비 고 3.22∼3.30은 원국제 규격에는 없는 정의이나, 시험 대상 기기의 분류를 명확히 하기 위하여
컴퓨터 및 사무 기기 분야의 개별 규격인 ISO/DIS 7779 중의 정의를 기초로 작성한 것이다.
3.22 기능 유닛(functional unit) 식별 번호를 가지며, 정해진 작업을 할 수 있는 기기의 총칭. 기능 유닛은
하나 또는 몇 개의 프레임으로 지지되어 있거나, 자체적인 함체를 가지고 있거나 또는 다른 장치에 설치
되도록 설계되어 있어도 좋다.
비 고 독자적인 식별 번호의 유무에 상관없이 어셈블리, 그 밖의 기능 유닛을 조립한 래크로 된 최
종 제품의 형태라도 기능 유닛으로 생각할 수 있다.
3.23 마루 기기(floor-standing equipment) 그 자체의 스탠드를 매개로 하거나 하지 않으며 마루 위에 설
치되는 것을 의도한 기능 유닛
3.24 탁상 기기(table-top equipment) 완전한 함체를 가진 기능 유닛으로, 또한 책상 위 또는 스탠드 위에
설치할 것을 의도한 기능 유닛
3.25 벽걸이 기기(wall-mounted equipment) 그 자체의 스탠드를 갖지 않고, 통상 벽을 등지거나 또는 다
른 단위와 함께 조립하는 것을 의도한 기능 유닛. 자체의 함체나 식별 번호를 갖고 있거나, 갖고 있지 않
아도 좋다.
3.26 서브 어셈블리(sub-assembly) 다른 유닛 내에 설치되거나 또는 하나의 유닛 내에 다른 유닛과 함께
조립되는 것을 의도한 기능 유닛. 자체의 함체나 식별 번호를 갖고 있어도, 갖고 있지 않아도 좋다.
3.27 래크 설치 기기(rack-mounted equipment) 최종 제품의 함체 내부에 설치되는 하나 또는 몇 개의 서
브 어셈블리
3.28 표준 시험대(standard test table) 소음 측정시 탁상 기기의 설치 조건을 시뮬레이션하기 위하여 사용
하는 테이블로서 정해진 크기, 두께 등을 규정한 테이블
참 고 보다 상세한 정보에 관해서는 KS A ISO 11201의 부속서 B 참조
3.29 동작 모드(operating mode) 측정 대상 기기가 정해진 기능을 다하고 있는 상태
3.30 아이들 모드(idle mode) 필요한 워밍업 후 측정 대상 기기에 전기가 통하고 있으나, 동작은 하고 있
지 않는, 1개 또는 몇 개의 안정된 상태
4. 음향 환경
4.1 일반 사항 이 규격에 의한 측정에 적합한 시험 환경은 다음과 같다.
a) 반사면상 자유 음장을 갖춘 정밀 시험실
참 고 KS A ISO 3745에 적합한 반무향실로 고려된다.
b) 4.2 및 부속서 A의 요건을 만족시키는 평탄한 옥외 공간
A ISO 3744：2002
10
c) 측정 표면에서의 음압에 대한 잔향장의 기여가 그 음원에 의한 직접장의 기여에 비해 작은 실내
비 고 c)에 규정한 조건은 벽과 천장에 충분한 흡음재를 설치한 실내는 물론, 통상적으로 매우 큰 실
내에서 만족된다.
4.2 시험 환경의 적합성 기준 음원이 반사면상의 자유 음장에 소리 또는 소음을 방사할 수 있도록 하기
위하여 실제적인 이상, 시험 환경은 반사면 이외의 반사물로부터의 영향이 없는 것으로 한다. 부속서 A는
이상적인 조건으로부터의 일탈을 고려하기 위한 환경 보정값 K2의 크기의 계산 방법을 규정한다. 이 규격
의 목적을 위하여서는 환경 보정값 K2A (표0.1 및 8.4 참조)는 수치적으로는 2dB 이하이어야 한다. 이 규격
에 따라 주파수 대역마다의 음향 파워 레벨을 산출하기에는 대상 주파수 대역마다의 K2가 2dB를 넘지 않
아야 된다.
비 고 K2A 가 2dB를 넘는 공간에서 측정을 할 수밖에 없을 경우에는 표 0.1 및 8.4를 참조하거나 또
는 KS A ISO 3746 또는 KS A ISO 9614－1,－2 참조
4.3 배경 소음 기준 몇 개의 마이크로폰 위치에서 파워 평균한 배경 소음 레벨은 측정해야 하는 음압 레
벨보다 적어도 6dB는 낮아야 하며, 가능하면 15dB 이상 낮은 것이 바람직하다(표 0.1 및 8.3 참조).
비 고 배경 소음의 음압 레벨과 측정 대상 기기에 의한 음압 레벨과의 차가 6dB 미만일 경우에는 표
0.1 및 8.3을 참조하거나 또는 KS A ISO 3746을 참조. 배경 소음을 증가시킬지도 모르는 바람
의 영향을 최소한으로 하는 것이 바람직하다.
5. 측 정 기
5.1 일반 사항 마이크로폰 및 케이블을 포함하는 계측 시스템은 KS C 1505에 적합한 것으로 한다. 사용되
는 필터는 IEC 61260의 1등급의 요건을 만족하는 것으로 한다.
5.2 교 정 일련의 측정마다 대상 주파수 범위 내의 1 또는 몇 개의 주파수에서, 측정 시스템 전체의 교
정을 검정하기 위하여 ±0.3dB의 정밀도(KS C IEC 60942에서 규정하는 1등급)를 갖는 음향 교정기를 마이
크로폰에 적용한다.
교정기는 1년에 1회 KS C IEC 60942에의 적합성을 검증하고, 측정 시스템 전체는 적어도 2년에 1회 KS
C IEC 60942에의 적합성을 해당 KS에 대해 투명성이 있는 교정을 할 수 있는 시험 기관에서 검증한다.
해당 KS에의 적합성을 마지막으로 검증한 일자를 기록한다.
5.3 마이크로폰의 방풍 옥외에서 마이크로폰을 사용할 때는 윈드 스크린의 사용을 권장한다. 윈드 스크린
이 계측 시스템의 정밀도에 영향을 주지 않도록 주의하여야 한다.
6. 측정 대상 기기의 설치 및 동작
6.1 일반 사항 측정 대상 기기의 설치 및 동작 방법에 따라 그 기기에 의해 방사되는 음향 파워가 큰 영
향을 받는 경우가 있다. 이 항목은 측정 대상 기기의 설치 및 동작 조건에 기인하는 음향 파워 출력의 변
동을 최소로 하는 조건을 규정한다. 설치 및 동작 조건이 문제가 되는 경우, 개별 규격의 지시가 있을 때
에는 그것을 준수한다.
특히 대형의 기기에 대해서는 컴포넌트, 서브 어셈블리, 보조 장치, 동력원 등의 어느 것이 기준 상자에
포함되는지를 개별 규격에서 규정하는 경우가 중요하다.
6.2 측정 대상 기기의 배치 측정 대상 기기는 통상적인 목적으로 설치하는 것과 같도록 1개 또는 몇 개
의 반사면의 1곳 또는 여러 곳에 설치한다. 설치 조건이 여러 가지 존재하거나 또는 전형적인 조건이 불
명한 경우에는 소음 시험을 위한 조건을 결정하고, 시험 보고서에 그것을 기재한다. 시험 환경에 기기를
배치하는 것은 7.1에 따라 그 기기를 둘러쌀 수 있도록 충분한 공간을 확보하는 것이 중요하다.
A ISO 3744：2002
11
측정 표면에 관한 부속서 A의 요건을 만족시키기 위하여 측정 대상 기기는 반사성의 벽 또는 전장 아니
면 모든 반사물로부터 충분한 거리를 두고 배치한다.
기기에 따라서는 전형적인 설치 조건에서 2개 이상의 반사면이 필요하거나(그림 C.7과 그림 C.8 참조.
예를 들면 벽을 등지고 배치하는 기기), (예를 들면 호이스트 처럼) 자유 공간이 필요하거나 또는(수직인
면의 양쪽에서 방사가 일어나도 좋도록) 다른 반사면 내에 폐구부가 필요하거나 한다. 설치 조건 및 마이
크로폰 배치의 구성에 관한 상세한 정보는 이 규격의 일반적인 요건 및 그러한 기기를 위한 개별 규격에
근거하도록 한다.
통상적인 이용에서, 실제로 전형적인 경우에 한하여 측정 대상 기기를 2개 이상의 반사면에 가깝게 설
치한다.
6.3 측정 대상 기기의 설치 대다수의 경우, 방사되는 음향 파워는 측정 대상 기기의 지지 또는 설치 조건
에 의존한다. 측정 대상 기기를 위한 전형적인 설치 조건이 존재하는 경우, 언제라도 그 조건을 사용하거
나 또는 시험이 적당할 때에는 그 조건을 사용하도록 한다.
전형적인 설치 조건이 없거나 또는 시험 목적으로 이용할 수 없을 경우, 시험을 위하여 채용한 설치 방
법에 기인하여, 음원의 음향 출력이 변화하는 일이 없도록 주의하여야 한다. 측정 대상 기기를 설치하는
구조체로부터의 음향 방사를 작게 하는 모든 방법을 강구하도록 한다.
비 고 1. 그 자체는 특별히 강한 저주파음을 방사하는 것은 아니더라도, 기기의 설치 방법에 따라서는
많은 소형 음원으로부터의 진동 에너지를 방사체로서 생각하면 충분히 큰 표면에 전달하는
것으로 보다 낮은 주파수를 방사하는 경우가 있다. 그러한 경우, 실제적이라면 지지대 쪽으
로의 진동 전달과 음원 쪽으로의 반작용을 최소로 하도록 둘 사이에 탄성 지지체를 삽입하
도록 한다. 이 경우, 설치 기초는 필요 이상으로 진동하거나 소리내지 않도록 충분히 높은
기계 임피던스를 가진 것으로 한다. 측정 대상 기기가 전형적인 사용 설치 장소에서 탄성력
있는 설치가 이루어지지 않을 경우에는 그러한 설치는 하지 않는다.
2. 예를 들면 구동 부분과 피구동 부분과의 관계처럼, 결합 조건이 측정 대상 기기의 음향 방
사에 매우 큰 영향을 미치는 경우가 있다.
참 고 몇 개의 반사면의 근방에 설치하는 기기의 경우, 그 기기에서 방사되는 음향 파워는 그 위치
및 방향에 의존하는 경우가 있다. 측정 대상 기기의 특정 위치 및 특정 방향에서의 방사 음향
파워를 산출하는 것과 몇 개의 위치 및 몇 개의 방향에 대한 평균에 기초하여 방사 음향 파워
를 산출하는 것 어느 쪽이든 또는 양쪽이 시험 대상이 되는 경우가 있다. 기기마다의 설치 조
건의 상세한 내용은 해당하는 개별 규격에서 규정하도록 한다.
6.3.1 휴대형 기기 측정 대상 기기에 포함되지 않는 부속물을 매개로 하여 고체 전파음이 전달되지 않도
록 하기 위하여 휴대형 기기는 매달거나 손으로 지지한다. 측정 대상 기기의 동작을 위하여 지지 구조물
을 필요로 할 경우, 그 지지 구조물은 측정 대상 기기의 일부로 볼 수 있을 정도로 작아야 하며, 그 기기
를 위한 개별 규격에 기재한다.
6.3.2 마루 및 벽걸이 기기 마루 및 벽걸이 기기는(음향적으로 딱딱한) 반사면(마루, 벽) 위에 놓는다. 벽
앞에 설치되는 것만을 의도한 마루 기기는 음향적으로 딱딱한 벽면 앞의 음향적으로 딱딱한 마루면 위에
설치한다.
참 고 6.3.3∼6.3.5는 원국제 규격에는 없는 규정이나, 시험 대상 기기의 설치 조건을 보다 명확히
하기 위하여 컴퓨터 및 사무 기기 분야의 개별 규격인 ISO/DIS 7779를 기초로 작성하였다.
6.3.3 탁상 기기 탁상 기기는 그 동작을 위한 테이블 또는 책상을 필요로 하는 것(1)이 아닌 이상, 시험실
의 벽에서 적어도 1.5m 거리를 두고 마루 위에 설치한다. 동작시 테이블 등을 필요로 하는 기기는 표준
A ISO 3744：2002
12
시험대의 윗면 중앙에 설치한다. 어느 쪽이든 측정 표면은 마루면 위에서 끝난다.
주(1) 동작시 테이블 등이 필요한 기기로는, 예를 들면 마루 위에서 급지를 하거나 마루 위로 배지를
하거나 하는 프린터가 있다. 표준 시험대의 예는 KS A ISO 11201의 부속서 B에 있다.
6.3.4 래크 설치 기기 래크 설치 기기는 그 기기를 위한 설치 시방서에 적합한 함체 내부에 설치한다. 함
체 내부의 모든 유닛의 배치를 기술한다. 기기 자체에는 냉각용 팬을 포함하지 않지만, 시험할 때에 그것
을 필요로 하는 래크 설치 기기는 제조자가 제공하는 것이나 또는 권장하는 대로 그러한 냉각 기기와 함
께 시험을 실시한다.
여러 종류의 최종 사용자용 함체의 내부에서 사용할 수 있는 래크 설치 기기는 함체마다 독립한 기기
유닛으로서도 좋고 또는 어느 하나의 완결된 시스템으로서 시험하여 보고해도 좋다.
6.3.5 서브 어셈블리 서브 어셈블리는 진동을 절연하는 것을 사용하여 반사면의 윗부분을 지지한다. 그
지지 도구는 공기 전파음의 전달을 방해해서는 안 된다. 반사면까지의 거리에 대해서는 각 제품 분야마다
의 개별 규격으로 규정한다. 사용한 설치 조건의 상세한 내용을 시험 보고서에 기재한다.
6.4 보조 장치 측정 대상 기기에 연결된 전기 배관, 파이프 또는 공기 덕트가 시험 환경 내에 매우 큰 소
리의 에너지를 방사하지 않도록 주의한다.
측정 대상 기기의 동작에 필요하지만 그 일부분이 아닌 보조 장치(6.1 참조)는 가능하다면 시험 환경의
외부에 배치한다.
6.5 측정 대상 기기의 동작 측정 대상 기기를 위한 개별 규격이 존재할 때에는 측정 중 그 개별 규격에
서 규정하는 동작 조건을 사용한다. 개별 규격이 없을 경우에는 가능한 한 통상적인 이용에서 전형적인
방법으로 측정 대상 기기를 동작한다. 그러한 경우 다음 동작 조건의 1개 또는 몇 개를 선택한다.
－규정한 부하 및 동작 조건
－(위와 다를 경우는) 최대 부하 조건
－무부하 조건(아이들링)
－통상적인 이용의 대표적인 것, 최대음을 발생하는 것에 대응하는 동작 조건
－주의 깊게 정의한 조건을 기초로 동작하는 것을 시험한 부하 조건
－측정 대상 기기에 특유한 동작 사이클로의 동작 조건
필요로 하는 동작 조건(즉 부하 조건, 기기의 속도, 온도 등)의 임의의 조합에 대하여, 측정 대상 기기의
음향 파워 레벨이 산출될 것이다. 이 시험 조건을 미리 선택하고, 시험 중에 일정하게 유지하도록 한다.
소음 측정을 하기 전에, 측정 대상 기기는 희망하는 동작 조건이어야 한다.
처리할 재료의 종류 또는 사용할 공구와 같은 2차적인 동작 파라미터에 소음 방사가 의존하는 경우, 그
것이 실제적인 한 변동을 최소로 억제하고, 또한 전형적인 동작이 이루어지도록 파라미터를 선택하도록
한다.
시험 목적에 따라 같은 종류의 기기로부터의 소음 방사의 재현성이 높고, 또한 그 종류의 기계에 대해
서 가장 공통적이고 전형적인 동작 조건이 되도록 1개 또는 몇 개의 동작 조건을 정의하는 것이 적절하다.
이러한 동작 조건은 해당하는 개별 규격에서 정의하는 것으로 한다.
시험한 동작 조건을 사용할 때에는 측정 대상 기기의 통상적인 이용에 대한 전형이 되는 음향 파워 레
벨을 부여하도록 선택한다.
그것이 적절할 경우는 각각 정의된 동작 시간 내에 끝나는 몇 개의 독립된 동작 조건으로 이루어지는
복합적인 동작 조건에 대하여 그 시험 결과는 각각의 조건을 조합하여 에너지 평균을 사용하여 합성한다.
음향 측정 중의 측정 대상 기기의 동작 조건을 시험 보고서에 상세히 기재한다.
A ISO 3744：2002
13
7. 음압 레벨의 측정
7.1 측정 표면의 선택 측정 표면에서의의 마이크로폰 위치의 배열을 쉽게 하기 위하여 가상적인 기준 상
자를 정의한다. 이 기준 상자의 치수를 정의할 때에는 측정 대상 기기로부터 돌출된 요소 중 두드러지게
큰 음향 에너지를 방사하지 않는 것을 제외해도 좋다. 이 돌출된 요소의 취급은 측정 대상 기기의 종류마
다 해당하는 개별 규격으로 특정하도록 한다. 마이크로폰 위치는 측정 표면상에 있으며, 이 측정 표면이란
기준 상자처럼 음원을 둘러싸며 반사면 위에서 끝나는 면적 S 의 가상적인 면이다.
측정 대상 기기의 배치, 측정 표면 및 마이크로폰 위치는 기준 상자의 길이 및 너비와 평행인 마루면
내의 수평축 x 및 y 의 좌표계에 의해 정의된다. 특성 음원 치수 d0 를 그림 1에 나타낸다.
측정 표면으로는 다음 두 가지 중 하나를 사용한다.
a) 반지름 r 인 가상적인 반구면 또는 부분 반구면
b) 기준 상자의 측면에 평행한 단형 평행 6면체. 이 경우, 측정 거리 d 는 측정 표면과 기준 상자와의 사이
의 거리이다.
(예를 들면 많은 반사물, 높은 배경 소음과 같은) 바람직하지 않은 음향 조건의 실내 또는 공간에 통상
적으로 설치되거나 그리고/또는 측정할 수밖에 없는 기기에 대해서는 작은 측정 거리를 선택하는 것이 적
당하여, 이 경우 통상적으로 평행 6면체의 측정 표면이 된다. 음향적으로 만족되는 개방된 큰 공간에서 보
통 설치되거나 그리고/또는 측정되는 기기에 대해서는 보통 큰 측정 거리가 선택되지만, 이 경우 반구형의
측정 표면이 바람직하다. 지향성 측정을 위하여서는 반구 또는 부분 반구 측정 표면이 필수적이다.
비 고 상세한 정보를 얻기 위하여서는 분석 대상인 기기를 위한 개별 규격을 참고해도 좋다.
측정 거리 d 또는 반구의 반지름 r 와 함께 기준 상자의 구조, 측정 표면의 크기 및 형태를 시
험 보고서에 기재한다.
7.2 반구 측정 표면 반사면을 매개로 기준 상자와 접하는 거울면으로 이루어지는 상자의 중앙(그림 1의
점Q)에 반구의 중심이 오도록 한다. 반구 측정 표면의 반지름 r 는 특성 음원 거리 d0 의 2배 이상으로 하
고, 1 m 미만이어서는 안 된다.
비 고 반구의 반지름 r (단위：m)는 1, 2, 4, 8, 10, 12, 14 또는 16 중 하나로 한다. 이 반지름의 몇 개는
너무 커서 부속서 A에서 규정하는 환경적인 요건을 만족시킬 수 없을 경우가 있다. 그렇게 큰
값의 반지름은 이용하지 않아도 된다.
7.2.1 반구 측정 표면의 면적 및 기본 마이크로폰 위치 단 하나의 반사면이 있을 경우 마이크로폰 위치는
측정 대상 기기를 둘러싸며 반사면에서 끝나는 면적 22 rS π= 인 가상 반구 측정 표면의 위에 존재한다. 측
정 대상 기기가 벽 앞에 있을 경우에 22 rS π= 이다. 측정 대상 기기가 구석(corner)에 있을 경우 250 r.S π=
이다. 반구 측정 표면의 기본 마이크로폰 위치를 부속서 B의 그림 B.1과 그림 B.2에 나타내었다. 그림
B.1은 10개소의 기본 마이크로폰 위치를 규정하고 있으며, 각각 반지름 r 인 반구 측정 표면상의 같은 면
적에 대응한다. 그림 B.1과 그림 B.2의 반구면상의 배열은 마이크로폰에 직접 입사하는 음파와 반사면으
로부터의 반사파와의 간섭에 의해 발생하는 오차를 최소로 하도록 선택한 상태이다.
측정 대상 기기가 2개 이상의 반사면에 접하여 설치된 경우, 적절한 측정 표면 및 마이크로폰 위치를
정의하기 위하여 부속서 B의 그림 B.3.a) 및 그림 B.3.b)를 인용한다.
(예를 들면 건설 기기와 같이 이동 중 그리고 가동 모드 때에 측정해야 하는 기기와 같은) 어떤 종류의
특별한 경우에는 마이크로폰 위치 수와 배치를 통상적인 것과는 다른 것으로 할 수 있다. 그러나 이것은
사전에 이루어진 상세한 실험에 의해 이 규격에서 규정하는 배열을 사용하여 산출한 값과 그것과는 다른
배열에 의해 얻어진 음향 파워 레벨값이 같은지 또는 크더라도 그 차이가 1dB 미만임이 표기된 경우에만
가능하다.
A ISO 3744：2002
14
7.2.2 반구 측정 표면에서의 추가 마이크로폰 위치 다음의 경우 반구 측정 표면 위의 추가 마이크로폰 위
치에서의 음압 레벨 측정이 필요하다.
a) 기본 마이크로폰 위치에서 측정한 음압 레벨의 범위(즉 최대 음압 레벨과 최소 음압 레벨과의 데시벨
차이)가 기본 마이크로폰 위치 수를 넘는 경우이거나 또는
b) 측정 대상 기기가 지향성이 강한 소음을 발산하거나 또는
c) 예를 들면 다른 부분이 덮인 기계의 개구부처럼 대형 기기로부터의 소음이 작은 부분으로부터 방사되
는 경우
조건 a)의 경우는 추가 마이크로폰 위치를 사용한다. 반구면상의 마이크로폰 배열에 대해서는 부속서 B
의 그림 B.1의 최초 배열을 z 축을 중심으로 180° 회전시키는 것으로 추가 10곳이 정의된다(표 B.1과 그림
B.1 참조). 새로운 배열의 z 축상의 가장 위에 있는 곳이 최초 배열의 가장 위에 있는 곳과 일치하도록 주
의하여야 한다. 마이크로폰 위치의 총수는 10∼19로 늘어난다.
조건 b) 또는 c)인 경우, 측정 표면 위의 소음의 방사가 강한 부분만 측정 위치를 추가한다(7.4.1 참조).
7.3 평행 육면체 측정 표면 측정 거리 d 는 기준 상자와 측정 표면과의 직각 거리이다. D 의 값은 적어도
0.25m이어야 하며, 1m로 하는 것이 바람직하다.
비 고 d 의 값(단위는 m)은 0.25, 0.5, 1, 2, 4 또는 8 중에서 어느 하나로 한다. 대형의 기기에 대해서는
1m보다 큰 측정 거리를 선택하여도 된다. 선택한 d 의 값에 대해, 부속서 A에서 규정하는 환경
적인 요건을 만족하는 것이 바람직하다.
7.3.1 평행 육면체 측정 표면의 면적 및 마이크로폰 위치 마이크로폰 위치는 측정 표면 위에 있으며 그
면은 기준 상자의 측면과 평행하고, 그 곳에서부터 거리 d (측정 거리)만큼 유격한 그 기기를 완전히 둘러
싸는 면적 S 의 가상적인 면이다.
그림 C.1∼그림 C.8에 평행 육면체 측정 표면 위의 마이크로폰 위치를 나타내었다. 그림 C.2∼그림 C.6
에 따른 측정 표면의 면적 S 는 다음 식으로 구한다.
S = 4(ab + bc + ca)····································································· (3)
여기에서 a = 0.5 l1 + d
b = 0.5l2 + d
c = l3 + d
l1, l2 및 l3 : 각각, 기준 상자의 길이, 폭 그리고 높이
기기가 2개 이상의 반사면에 접하여 설치된 경우, 상응하는 측정 표면을 정의하기 위하여 그림 C.7과
그림 C.8을 인용하여야 한다. 이들 조건에서의 측정 표면적 S 의 계산이 각각의 그림에 나타나 있다. 마이
크로폰 위치는 그림 C.1∼C.6에 따라 배치한다.
7.3.2 평행 육면체 측정 표면에서의 추가 마이크로폰 위치 다음의 경우, 평행 육면체 측정 표면상의 추가
마이크로폰 위치에서의 음압 레벨 측정이 필요하다.
a) 기본 마이크로폰 위치에서 측정한 음압 레벨의 범위(즉 최대 음압 레벨과 최소 음압 레벨과의 데시벨
차이)가 기본 마이크로폰 위치 수를 넘는 경우이거나 또는
b) 측정 대상 기기가 지향성이 강한 소음을 발산하거나 또는
c) 예를 들면 다른 부분이 덮인 기계의 개구부처럼 대형 기기로부터의 소음이 작은 부분으로부터 방사되
는 경우
조건 a)의 경우는 추가 마이크로폰 위치를 사용한다. 평행 육면체상에 있는 마이크로폰 배열에 대해서는
부속서 C의 그림 C.1에 나타난 바와 같이, 같은 크기로 분할한 단형 부분 면적의 수가 늘어남에 따라 측
정 위치 수가 늘어난다.
A ISO 3744：2002
15
조건 b) 또는 c)인 경우, 측정 표면상의 소음의 방사가 강한 부분만 측정 위치를 추가한다(7.4.1 참조).
7.4 마이크로폰 위치를 선택하기 위한 부가적인 절차
7.4.1 측정 표면상의 한정된 부분에 마이크로폰 위치의 추가 7.2.2 또는 7.3.2에 의해 측정 표면상의 한
정된 부분에 마이크로폰 위치를 추가하는 경우, 그 부분 내에서의 음압 레벨의 상세한 분석을 실시한다.
이 상세 분석의 목적은 대상 주파수 대역에서의 음압 레벨의 최대값과 최소값을 산출하는 것이다. 이들
추가 마이크로폰 위치에서는 통상적으로 측정 표면상의 대응하는 면적이 반드시 같지 않아도 된다. 이 경
우 음향 파워 레벨 LW 의 산출을 위하여서 KS A 0705의 부속서 2의 2.2(측정 구면 또는 측정 반구면을 부
등 면적으로 분할하는 방법)을 사용하도록 한다.
7.4.2 마이크로폰 위치 수의 줄임 마이크로폰 위치의 수를 줄임하여 산출한 표면 음압 레벨이 7.2 또는
7.3이 따르는, 모든 마이크로폰 위치에서의 측정으로부터 얻은 값보다, 0.5dB보다 큰 변화가 없는 것이 사
전 시험에 의해 나타난 것을 전제로 하여, 마이크로폰 위치 수를 줄일 수 있다. 한 예로서는 방사 패턴이
좌우 대칭으로 나타나는 경우가 있다.
비 고 해당하는 개별 규격에서 안전상의 이유로 언급하고 있을 때에는 가장 위의 마이크로폰 위치
[overhead position(s)]는 삭제해도 된다.
7.4.3 이동 마이크로폰의 측정 경로 측정 대상 기기가 정상 소음을 방사할 때에는 이산적으로 배치한 마
이크로폰 위치로 바꾸어, 부속서 B와 부속서 C에서 규정하는 바와 같이 측정 표면을 따라서 일정 속도로
마이크로폰을 이동시키는 것으로 표면 음압 레벨을 측정할 수 있다. 경로를 따른 최대 이동 속도 및 마이
크로폰의 방향을 보고한다.
A ISO 3744：2002
16
그림 1 기준 상자와 좌표계의 원점 Q에 대한 특성 치수 d0 의 예
7.5 측 정
7.5.1 환경 조건 마이크로폰의 선택 및 위치 결정을 적절하게 하는 것으로, 사용하는 마이크로폰에 대한
측정에 불리한 영향을 미치는 환경 조건(예를 들면 강한 전자기장, 바람, 시험 중의 기계로부터의 배기의
영향, 고온 또는 저온)을 피하여야 한다. 불리한 환경 조건에 대응하기 위하여서 측정기의 제조자의 취급
상의 지시를 지킨다. 마이크로폰은 음파의 입사각이 마이크로폰을 교정할 때의 입사각과 일치하도록 항상
방향을 맞추어 두도록 한다.
a) 1 개의 반사면과 접해 있는 기준 상자
b) 2 개의 반사면과 접해 있는 기준 상자
c) 3 개의 반사면과 접해 있는 기준 상자
A ISO 3744：2002
17
7.5.2 측 정 기 5.에서 규정하는 시방에 더하여 다음을 적용한다.
KS C 1505에 적합한 소음계를 사용하여 측정한다. 시간 가중 특성 S 로 측정한 음압 레벨의 변동이
0.1dB 미만임이 나타나지 않는 한 시간 평균 음압 레벨(3.2.1)을 측정한다. 시간 가중 특성 S 로 측정한 음
압 레벨의 변동이 ±0.1dB 미만인 경우, 그 최대 레벨과 최소 레벨의 산술 평균을 시간 평균 음압 레벨로
나타내어도 좋다.
7.5.3 절 차 시간 평균 음압 레벨은 측정 대상 기기에서 전형적인 동작 시간으로 측정한다. 각 마이크로
폰 위치에서 대상 주파수 범위의 시간 평균 음압 레벨을 읽는다.
다음의 내용을 산출해야 한다.
a) 측정 대상 기기의 동작 중의 A가중 음압 레벨 또는 대역 음압 레벨 L'p
b) 배경 소음의 A가중 음압 레벨 또는 대역 음압 레벨 L"pi
160Hz 이하를 중심으로 하는 주파수 대역에 대해서는 측정 시간은 적어도 30초로 한다. 200Hz 이상을
중심으로 하는 주파수 대역에 대해서는 측정 시간은 적어도 10초로 한다.
이동 마이크로폰을 사용하는 경우, 적분 시간은 적어도 마이크로폰이 2회 선회하는 시간을 포함하도록
한다.
비 고 원국제 규격에서는 여기에 “적분 가능한 단발의 소리 현상의 측정에 대해서는 단발 현상 소
음 레벨 Lp,1s (3.2.2 참조)를 산출할 것”을 규정하고 있지만, 그러한 과도적인 소음은 이 규격
의 대상 밖이기 때문에 제외하였다.
시간과 함께 변동하는 소음에 대해서는 측정 시간을 주의 깊게 규정하는 것이 중요하고, 통상적으로 이
것은 시험의 목적에 의존한다. 소음의 레벨이 다른 몇 개의 동작 모드를 가지는 기계에 대해서는 각각의
모드에 대해 적절한 측정 시간을 선택하여, 시험 보고서에 이를 명기한다.
8. 표면 음압 레벨 및 음향 파워 레벨의 계산
8.1 측정 표면의 평균 음압 레벨 계산 A가중 음압 레벨 또는 측정 대상 주파수 대역마다의 음압 레벨에
대해서 다음 식을 사용하여 측정한 음압 레벨 L'pi 로부터 측정 표면 위의 평균 음압 레벨 를, 그리고,
배경 소음 레벨 L”pi 로부터 측정 표면 위에서 평균한 배경 소음에 의한 평균 음압 레벨 를 계산한다.
=′ ∑
=
′N
i
L.p
pi
NL
1
1010 101log10 ························································ (4)
=′′ ∑
=
′′N
i
L.p
pi
NL
1
1010 101log10 ······················································· (5)
여기에서 ：측정 표면 위에서 평균한 동작 중인 측정 대상 기기의 음압 레벨(dB)
：측정 표면 위에서 평균한 배경 소음의 음압 레벨(dB)
L'pi ： i 번째 마이크로폰 위치에서 측정한 동작 중인 측정 대상 기기의 음압
레벨(dB)
L''pi： i 번째 마이크로폰 위치에서 측정한 배경 소음의 음압 레벨(dB)
N：마이크로폰 위치의 수
비 고 식(4)와 (5)의 평균화 절차는 측정 표면상의 마이크로폰 위치가 균등히 배치되어 있는 것을 기
초로 한다.
8.2 대역 음압 레벨로부터 A가중 음압 레벨의 계산 대역 음압 레벨로부터 A가중 음압 레벨을 계산할 때
에는 다음 식을 사용한다.
pL′
pL ′′
pL′
pL ′′
A ISO 3744：2002
18
= ∑ +
j
AL.pA
jpiL )(1010 10log10 ······················································ (6)
여기에서 Lpi：대역 j 에서의 대역 음압 레벨(dB)
Aj：표 2에서 규정하는, 대역 j 의 중심 주파수에서의 A가중값(dB)
비 고 강한 이산 주파수 성분을 방사하는 음원에 대해서는 1/3 옥타브 대역의 A가중값을 사용하여 계
산할 것을 권장한다.
표 2 A가중값 Aj
옥타브 대역
중심 주파수
1/3 옥타브 대역
중심 주파수
A가중값
Aj
Hz Hz dB
63
125
250
500
1000
2000
4000
8000
50
63
80
100
125
160
200
250
315
400
500
630
800
1 000
1 250
1 600
2 000
2 500
3 150
4 000
5 000
6 300
8 000
10 000
－30.2
－26.2
－22.5
－19.1
－16.1
－13.4
－10.9
－8.6
－6.6
－4.8
－3.2
－1.9
－0.8
0
0.6
1.0
1.2
1.3
1.2
1.0
0.5
－0.1
－1.1
－2.5
8.3 배경 소음에 대한 보정 다음의 식을 사용하여, (A가중 또는 주파수 대역마다의) 배경 소음 보정값 K1
을 계산한다.
)101(log10 10101
L.K ∆−−−= ························································· (7)
여기에서 pp LLL ′′−′=∆
∆L > 15dB인 경우에는 보정을 하지 않는다. ∆L ≥ 6dB인 경우, 그 측정은 이 규격에 따르는 것으로서 유
효하다(표 0.1참조).
A ISO 3744：2002
19
6∼15dB의 ∆L값에 대해서는 식(7)에 따라 보정한다. 비록 어느 주파수 대역에서 그 측정이 유효하지 않
더라도 ∆LA 가 6dB보다도 큰 것을 조건으로 하여 A가중값에 대해서는 적합한 것이라 할 수 있다. 여기에
서 ∆LA 는 의 값과 의 값의 차이다.
∆LA 가 6dB에 달하지 않을 때 그 결과의 정밀도는 떨어진다. 이러한 측정에 대해 적용되는 최대 보정값
은 1.3dB이다. 그러나 그 결과는 보고하지 않아도 되며, 측정 대상 기기의 음향 파워 레벨의 상한을 계산
하기에는 편리할 것이다. 그러한 데이터를 보고할 때에는 그림과 표를 이용하는 것은 물론, 이 규격의 배
경 소음 요건을 만족시키지 않았음을 보고서에 문장으로 명시해야 한다.
8.4 시험 환경에 대한 보정 부속서 A에서 규정하는 절차 중 하나를 사용하여(A가중 또는 주파수 대역마
다의) 환경 보정값 K2 를 산출한다.
K2A ≤ 2dB인 경우, A가중에 대하여 그리고 K2 j ≤ 2dB인 경우, j 번째 주파수 대역에 대하여 이 규격에 따
르는 규정으로서 유효한 것이 된다(표 0.1 참조).
비 고 K2 가 2dB보다도 큰 경우에는 환경적인 기준을 만족시키지 않고 그 측정 결과의 정밀도는 떨
어진다. 그러나 이 규격에서 규정하는 측정 방법을 사용하는 것은 허락된다. 다만 이 경우, 결
과를 보고할 때에는 2dB의 최대 보정값을 적용하고, 그 음향 파워 레벨이 그렇게 하여 산출한
값 이하인 것을 명시해야한다. 또는 보정을 최대한 적용할 수 있는데 그 경우 KS A ISO 3746
을 인용하여야 한다.
8.5 표면 음압 레벨의 계산 보정항 K1, K2 및 다음 식을 사용하여, 의 값에 대한 배경 소음 및 반사음
의 보정을 실시하는 것으로 표면 음압 레벨 를 산출한다.
21 KKLL ppf −−′= dB ······························································· (8)
참 고 이 규격의 전판에서는 K1, K2 에 대응하는 것으로 음장 보정값을 규정하고 있지만 그 경우 음의
값(minus)을 가산한 것에 대하여, 이 판에서는 원국제 규격에 따라서 양의 값(plus)을 감산하고
있음에 주의한다.
8.6 음향 파워 레벨의 계산 음향 파워 레벨 LW 은 다음과 같이 계산한다.
+=
0f lg10
SSLL pW dB ····························································· (9)
여기에서 ：식(8)에 의한 A가중 또는 대역 표면 음압 레벨(dB)
S：측정 표면의 면적(m2)
S0 = 1(m2)
8.7 선택할 수 있는 양의 산출 특정 종류의 기기를 위한 개별 규격에서 다음의 선택할 수 있는 양을 요
구할 경우가 있다.
a) 부속서 D의 어느 한 방법에 따라 얻은 소음의 충격성에 관한 정보 및/또는 청취(listening)에 의한 이산
순음의 유무
b) 측정 표면상의 어느 점에서 또는 측정 표면에서의에서 평균한 음압 스펙트럼
c) 부속서 E에 의한 지향 지수
d) 정의된 어떤 마이크로폰 위치에서 또는 측정 표면상의 몇 개의 마이크로폰 위치에서의 A가중 음압 레
벨의 시간 변화
e) 측정 표면상의 마이크로폰 위치마다의 다른 시간 가중 특성 및/또는 주파수 가중 특성에서의 음압 레벨
9. 기록 사항 이 규격에 따라 실시하는 모든 측정에 대하여, 적용 가능할 때에는, 9.1∼9.5에서 열거하는
pAL′ pAL ′′
pL′
pL ′′
fpL
A ISO 3744：2002
20
정보를 수집, 기록한다.
9.1 측정 대상 기기
a) 다음을 포함하는 측정 대상 기기의 상세한 내용
－형 식
－기술 시방
－치 수
－제조자명
－기계의 제조 번호 및
－제조 연도
b) 시험 중의 동작 조건(해당하는 개별 규격이 있을 때에는 그에 따르고 또는 제조자의 지시서에 따르도
록 한다.)
c) 설치 조건
9.2 음향 환경
a) 시험 환경의 기술
－옥내의 경우 벽, 천정 및 마루의 물리적 처리, 그리고 측정 대상 기기 및 실내에 있는 물체의 배치를
나타내는 스케치
－옥외의 경우 시험 환경의 물리적인 특성을 포함하여 주위 지형에 대한 측정 대상 기기의 배치를 나타
내는 스케치
b) 부속서 A에 따른 시험 환경의 음향적 검정 결과
c) 온도(°C), 기압(kPa)과 상대 습도(%)
9.3 측 정 기
a) 시험에 사용한 기기의 명칭, 형식 번호, 제조 번호 및 제조자명
b) 마이크로폰과 다른 시스템 요소의 교정을 점검하기 위하여 사용한 방법, 교정 일자, 장소 및 그 결과
c) (사용했을 때에는) 방풍망의 특성
9.4 음향 데이터
a) A가중 음향 파워 레벨 및 필요하다면 주파수 대역마다의 음향 파워 레벨
비 고 KS A ISO 9296에서는 컴퓨터 및 사무 기기의 A가중 음향 파워 레벨을 항등식 1B = 10dB를 사
용하여 단위를 벨(B)로 표현할 것을 요구하고 있다.
b) 측정 표면의 형상, 측정 반지름 및 마이크로폰 위치 또는 경로의 배치와 방향
c) 측정 표면의 면적 S
d) 표면 음압 레벨에 대한(A가중 또는 주파수 대역마다의) 배경 소음 보정값 K1
e) (A가중 또는 주파수 대역마다의) 환경 보정값 K2 와 그것을 산출한 부속서 A의 절차
f) 측정점 i 에서(A가중 또는 주파수 대역마다의) 음압 레벨 Lpi
g) (A가중 또는 주파수 대역마다의) 표면 음압 레벨 (여기에서 x 는 측정 거리 d 또는 측정 반지름 r
이다.)
h) 시험을 실시한 장소, 일자 및 시험 책임자의 이름
i) A가중값을 산출하기 위하여 사용한 방법(직접 읽은 것인지, 주파수 대역 데이터로부터 합성한 것이지를
명기. 후자의 경우 주파수 대역폭과 대상 주파수 범위도 명기)
참 고 위 i)는 원국제 규격에는 없는 요구이지만 KS로서 추가하였다. 또한 직접 읽은 것인지, 주파수
대역 데이터의 합성으로 구한 것인지는 특정 종류의 기기를 위한 개별 규격에서 규정하는 것
x,pfL
A ISO 3744：2002
21
이 바람직하다.
9.5 선택할 수 있는 데이터
a) 음향 파워 스펙트럼 또는 배경 소음 및 환경적인 영향에 대해 보정된 음압 스펙트럼
b) 부속서 D의 어느 한 방법에 따라 얻은 충격음에 관한 정보 및/또는 시청에 의한 이산 순음의 유무
c) 음압 레벨의 시간에 대한 변동
d) 부속서 E에 따라서 구한 대상으로 하는 마이크로폰 위치의 그 방향에서의 지향 지수(반구 측정 표면의
경우만)
e) 측정 표면에서의의 어느 규정된 마이크로폰 위치의 그 방향에서의 시간 가중 특성 및/또는 다른 주파수
가중 특성에서의 음압 레벨
f) 풍속과 풍향
g) 재현성의 표준 편차 σR
h) 개별 규격에서 요구하는 모든 데이터
10. 보고 사항 기록 사항(9. 참조) 중 그 측정의 목적에 대해 요구되고 있는 것(KS A ISO 4871을 참조)만
을 보고한다.
시험 보고서에는 보고된 음향 파워 레벨이 이 규격에 완전히 적합하게 하여 얻은 것인지를 명기하여야
한다.
측정 대상 기기의 음향 파워 레벨은 가장 근접한 0.5dB 단위로 보고한다.
A ISO 3744：2002
22
부속서 A (규정) 음향 환경의 적합성 시험 방법
A.1 일반 사항 이 규격에 따르는 측정에서는 반사면상의 거의 완전한 자유 음장을 제공하는 환경을 사용
한다. 다음에 규정하는 요건을 만족시킬 때 반무향실, 옥외 공간 또는 통상적인 실내를 사용할 수 있다.
시험실은 충분히 크고, 또한 실제적인 제한에서 반사면 이외의 반사로부터 영향을 받지 않도록 한다.
시험실이란 다음과 같은 측정 표면을 제공하도록 한다.
a) 시험실의 경계 또는 가깝게 있는 물체로부터의 바람직하지 않은 반사가 본질적으로 없는 음장의 내부
에 있고 또한
b) 측정 대상 기기에 의한 근방 음장의 외부
음원의 중심과 그것보다도 낮은 곳에 있는 측정 위치와의 최대 거리의 3배 이내에 소리를 반사하는 물
체가 없고, 아스팔트나 콘크리트와 같은 딱딱하고 평탄한 지표면으로 이루어지는 옥외 시험 공간에 대해
서는 환경 보정값 K2 를 0.5dB 이하로 상정하므로 무시할 수 있다.
KS A ISO 3745에 적합한 반무향실에서 실시되는 측정에 대해서도 환경 보정값 K2 는 무시할 수 있는 것
으로 본다.
참 고 결과적으로 KS A ISO 3745에 따라 한번 반무향실의 검정을 실시하면 환경 보정값 K2 = 0이 된
다.
비 고 (예를 들면 기둥 및 지지 부분의 지름처럼) 음원의 근방에 있는 물체의 폭이 기준 상자로부터
의 거리의 1/10을 넘을 경우, 그 물체는 소리를 반사하는 것으로 본다.
환경 보정값 K2 의 값을 산출하기 위하여 사용하는 두 가지 방법 중 어느 한쪽을 선택하여, 환경에 의한
영향을 수치화한다. 바람직하지 않은 환경의 영향 유무를 판단하고, 이 규격에 따라 실제의 측정 대상 기
기에 대하여 사용하는 측정 표면을 검정하기 위하여 이 절차를 사용한다.
첫 번째 검정 시험(절대 비교 시험, A.3 참조)은 기준 음원을 사용해 실시하며, 옥외나 옥내에서도 사용
할 수 있다. 주파수 대역 데이터가 필수적인 경우에는 이 방법이 특히 좋다.
두 번째 검정 시험(실흡수에 기초한 방법, A.4 참조)은 잔향 시간 측정을 실측하거나 또는 평균 흡음률
을 추정하는 것으로, 시험실의 등가 흡음 면적 A 를 산출할 필요가 있다. 이 시험 절차는 시험실이 거의
직육면체이고 실질적으로 실내에 음원 이외의 아무것도 없으며, 또한 시험실의 경계면에서 흡음 효과가
있는 것을 전제로 하고 있다. 이러한 조건에서 측정 대상 기기가 이동할 수 없을 경우와 그 치수가 큰 경
우에는 이 방법이 좋다.
환경 보정값 K2 의 값이 2dB 이하인 경우에만 그 시험 환경 내에서의 측정 표면에, 이 규격에 적합한 측
정을 할 수 있다. 환경 보정값 K2 가 2dB를 넘는 경우에는 측정 표면을 작게 하거나 또는 시험 환경을 개
선하거나 하여 그 절차를 반복해야 한다.
비 고 실제적으로 시험 환경을 개선할 수 없을 경우에는 KS A ISO 3746의 방법을 사용하여 측정 대
상 기기의 음향 파워 레벨을 산출하는 방법이 적당하다.
A.2 환경 조건
A.2.1 반사면의 특성 다음의 환경에서 측정이 허용된다.
－1개의 반사면 위의 옥외
－흡음성이 있는 벽 및 천장, 음을 반사하는 마루 그리고 2개까지의 마루에 직각인 반사면을 갖는 시험
실의 내부
A ISO 3744：2002
23
반사면이 마루면이 아니거나 시험실 표면의 일부가 아닐 경우에는 그 평면이 진동으로 인식할 수 있을
정도의 큰 음을 방사하고 있지 않다는 것을 확보하기 위하여 특별한 주의를 기울여야 한다.
A.2.1.1 형태와 크기 반사면은 측정 표면의 투영보다 적어도 λ / 2만큼 바깥쪽으로 넓어야 한다. 여기에서
λ는 대상 주파수 범위의 최저 주파수에서의 파장이다.
A.2.1.2 흡 음 률 반사면의 흡음률(KS F 2805)은 대상 주파수 범위에서 0.06 미만일 때가 좋다. 콘크리트
나 부드러운 표면 처리를 한 아스팔트라면 이 요건을 만족시킬 수 있는 것으로 본다(표 A.1도 참조).
A.2.2 옥외 측정에 관한 주의 사항 대상 주파수 범위의 소리의 전파 또는 측정 중의 배경 소음에 대한
(예를 들면 온도, 습도, 바람, 강우와 같은) 바람직하지 않은 기상 조건의 영향을 최소로 하기 위하여 주의
를 기울여야한다.
바람의 영향으로부터 마이크로폰을 보호하기 위하여 어떤 장치를 사용할 때에는 측정한 음압 레벨에 대
해 적절한 보정을 한다.
A.3 절대 비교 시험 측정 대상 기기가 시험 장소로부터 이동 가능할 때 이 절차를 사용한다.
A.3.1 절 차 KS A ISO 6926의 요건을 만족시키는 특성을 가진 기준 음원을 원칙적으로, 시험 환경 내의
측정 대상 기기의 음원과 같은 위치에 설치한다. 환경 보정값 K2 를 쓰지 않고 7.과 8.의 절차를 따라 기
준 음원의 음향 파워 레벨을 산출한다(즉 최초는 K2 = 0로 상정한다.). 측정 대상 기기의 측정에 사용하는
음원도 같은 측정 표면에서 사용한다.
(A가중 또는 주파수 대역마다의) 환경 보정값 K2 는 다음으로 주어진다.
K2 = L*W －LWr········································································ (A.1)
여기에서 L*W：K2 의 값으로 0을 사용하고, 7.과 8.에 따라 산출한 환경 보정을 하지
않은 기준 음원의 음향 파워 레벨. 단위는 데시벨(dB), 기준 파워는
1pW(=10－12 W)
LWr ：기준 음원의 교정이 끝난 음향 파워 레벨. 단위는 데시벨(dB), 기준
파워는 1pW(=10－12 W)
비 고 이 방법은 직접 측정한 A가중 레벨과 주파수 대역 레벨 양쪽에 적용 가능하다. 측정 대상
기기의 스펙트럼이 기준 음원의 스펙트럼과 크게 다를 때에는 K2A를 주파수 대역 레벨로부
터 산출한다.
A.3.2 시험 환경 내의 기준 음원의 배치 측정 대상 기기가 시험 환경으로부터 이동 가능할 때 휴대형 기
기와 같은 특수한 경우를 제외하고 측정 대상 기기의 높이에 관계 없이 반사 마루면 위에 기준 음원을 둔
다.
비 고 기준 음원이 반사 마루면 위방향이나 다른 반사면 근처에 설치되었을 때 기준 음원은 같은
위치에서 교정되는 좋다. 현시점에서는 다른 반사면으로부터 떨어진 단 하나의 반사면상에
설치된 기준 음원에 대해서만 기준 교정 방법이 있다(KS A ISO 6926 참조).
소형과 중형 음원(l1 , l2 , l3 ≤ 2m)에 대해서는 음원 위치는 1 곳으로 충분하다. 대형 음원과 길이와 폭의
비가 2보다 큰 음원에 대해서는 마루면 위의 4곳에서 기준 음원을 동작시킨다. 그 4곳이란 측정 대상 기
기의 투영이 거의 사각형이라고 가정할 때, 사변형의 4변의 중간이다. 음향 파워 레벨 LW 을 얻기 위하여서
마루면 위의 4곳의 음원 위치 각각에, 기준 음원에 의한 표면 음압 레벨 를 계산한다. 측정 표면 위의
각각의 위치에서 4개의 음원 위치에 대한 음압 레벨을 8.1의 식(4)를 사용하여 제곱 평균 기준으로 평균한
다.
fpL
A ISO 3744：2002
24
측정 대상 기기가 시험 장소로부터 이동시킬 수 없을 때 기준 음원은 같은 시험 환경 내에서, 측정 대상
기기의 위치와 다르지만 시험실의 반사에 관해서는 같은 1곳 또는 여러 곳에 배치한다. 또한 ISO 3747에
따라 측정 대상 기기의 위 또는 측정 대상 기기에 인접한 위치에서 기준 음원을 사용해도 좋으나, 그러한
위치에 대해서는 기준 음원이 해당하는 교정을 미리 알고 있어야 한다.
마이크로폰 위치 수가 충분한지는 7.2.2 a)와 7.3.2 a) 각각의 요건을 만족시키도록 주의한다.
A.4 실흡수(room absorption)에 기초한 환경 보정값의 산출 식(A.2)로부터 K2 를 계산한다.
[ ]4(S/A)1lg102 +=K dB ·························································· (A.2)
여기에서 A：실(room)의 등가 흡음 면적(m2)
S：측정 표면의 면적(m2)
식(A.2)를 사용하여 계산되는 환경 보정값 K2 를 S/A 의 관계로 그림 A.1에 나타내었다.
표 A.1 평균 흡음률 α 의 어림값
평균 흡음률 α 실(room)에 대한 설명
0.05
콘크리트, 기와, 석고 또는 타일에 생긴 미끄럽고 두꺼운 벽을 가지며, 대부분 아무것도 없는 실내
0.1
부분적으로 아무것도 없는 공간을 갖는 실내, 미끄러운 벽의 실내
0.15 가구가 있는 실내, 네모난 기계실, 네모난 작업실
0.2
가구가 있는 불규칙한 형태로 된 방, 불규칙한 모양을 한 기계
실 및 작업실
0.25
천이나 가죽으로 표면을 덮은 가구가 있는 실내, (예를 들면 부
분적으로 흡음 처리를 한 천장처럼) 천장 또는 벽에, 소량의 흡
음 처리를 한 기계실 및 작업실
0.35 천장 및 벽 양쪽에 흡음 처리를 한 실내
0.5 천장 및 벽 양쪽에 흡음 처리를 한 실내
A.4.1 어림셈법 시험 환경의 음향적인 특성을 인식하기 위하여서 식(A.3)에 의해 주어지는 A 의 값(m2)를
사용하여, 식(A.2)로부터 K2Aw를 산출한다.
A = αㆍSV············································································· (A.3)
여기에서 α：A가중값에 대한 표 A.1에서 주어진 평균 흡음률
SV：시험실의 경계 표면(벽, 천장 및 마루)의 전면적(m2)
A.4.2 잔 향 법 측정한 잔향 시간(KS F 2805) 으로부터 시험실의 등가 흡음 면적을 세이빈의 잔향식 식
(A.4)에 의해 계산한다. 15∼30°C의 온도에 대해서는 다음과 같다.
A = 0.16(V/T) ········································································ (A.4)
여기에서 V：시험실의 용적(m2)
T：A가중 또는 주파수 대역마다의 잔향 시간(s)
A가중의 측정값으로부터 직접 K2A 의 값을 산출하기 위하여서는 중심 주파수 1kHa의 주파수 대역에서
측정한 잔향 시간을 사용한다.
이 방법은 정밀급의 반무향실과 옥외 측정에서의 이용에는 맞지 않다.
A ISO 3744：2002
25
A.4.3 이중 측정 표면법 폭과 안쪽 길이가 각각 전정 높이의 3배 미만인 실내에서만 이 방법을 사용한다.
음원을 둘러싸는 2개의 측정 표면을 선택한다. 첫 번째 표면은 7.1에 따라 음향 파워 레벨을 산출하기 위
한 측정 표면으로 한다. 첫 번째 표면의 면적은 S 로 한다. 면적 S2 인 두 번째 표면은 첫 번째 표면과 기하
학적으로 같은 형상이고, 측정 대상 기기에 대한 좌우 대상으로, 음원으로부터 더욱 떨어뜨린다. 양쪽의
표면에서 4.3에서 규정하는 배경 소음의 기준을 만족시켜야 한다.
측정 표면상의 마이크로폰 위치는 첫 번째 표면상의 위치에 대응하도록 한다. S2/S의 비는 2 미만이어서
는 안 되며, 가능하다면 4보다 큰 것이 좋다. M 의 값은 다음과 같이 계산한다.
)(10 2110 pp LL.M ′−′= ··································································· (A.5)
여기에서 ：S 에서의 평균 음압 레벨(dB). 식(4) 참조
：S2 에서의 평균 음압 레벨(dB). 식(4) 참조
8.3에 따라 양쪽의 평균 음압 레벨에 대해 배경 소음 보정값을 적용한다.
비 A/S 는 다음과 같이 계산한다.
21)1(4S/MS
MSA
−−= ···································································· (A.6)
A가중 또는 주파수 대역마다의 환경 보정값 K2 는 식(A.6)으로부터 계산되는 비 A/S 에 대해, 식(A.2)으로
부터 얻는다.
그림 A.1 환경 보정값 K2 (dB)
1pL′
2pL′
환 경 보 정 값 K2 (dB)
부적합 환경
A ISO 3744：2002
26
부속서 B (규정) 반구 측정 표면에서의 마이크로폰 배열
B.1 기본 마이크로폰 위치와 추가 마이크로폰 위치 측정 표면상의 같은 면적에 대응하는 10곳의 기본 마
이크로폰 위치는 그림 B.1과 그림 B.2에 1∼10의 번호가 붙어 있고, 이 좌표를 7.1에서 정의하는 좌표계
에 따라 표 B.1에 열거한다. 10곳의 추가 마이크로폰 위치는 그림 B.2에 11∼20의 번호가 붙어 있고, 그
좌표도 표 B.1에 열거하였다.
표 B.1 기본 마이크로폰 위치(1∼10)와 추가 마이크로폰 위치(11∼20)의 좌표
마이크로폰 위치 x/r y/r z/r
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20(=10)
－0.99
0.50
0.50
－0.45
－0.45
0.89
0.33
－0.66
0.33
0
0.99
－0.50
－0.50
0.45
0.45
－0.89
－0.33
0.66
－0.33
0
0
－0.86
0.86
0.77
－0.77
0
0.57
0
－0.57
0
0
0.86
－0.86
－0.77
0.77
0
－0.57
0
0.57
0
0.15
0.15
0.15
0.45
0.45
0.45
0.75
0.75
0.75
1.0
0.15
0.15
0.15
0.45
0.45
0.45
0.75
0.75
0.75
0.1
비 고 마이크로폰 위치 10과 20은 일치하며, 개별 규격에서 이와 같이 규정되어 있을 때는 이 위치를 생략해도 좋다.
B.2 이산 순음을 방사하는 음원의 마이크로폰 위치 음원이 이산 순음을 방사하고 있을 때, 반사면상의 같
은 높이에 몇 개의 마이크로폰 위치를 배치하면 강한 간섭이 발생하는 경우가 있다. 그런 경우, 표 B.2에
있는 좌표를 가진 마이크로폰 배열을 이용한다.
A ISO 3744：2002
27
표 B.2 이산 순음을 방사하는 음원의 마이크로폰 위치의 좌표
마이크로폰 위치 x/r y/r z/r
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
0.16
0.78
0.78
0.16
－0.83
－0.83
－0.26
0.74
－0.26
0.10
－0.96
－0.60
0.55
0.90
0.32
－0.40
－0.65
－0.07
0.50
－0.10
0.22
0.20
0.31
0.41
0.45
0.38
0.71
0.67
0.83
0.99
B.3 2개의 반사면에 인접한 음원의 마이크로폰 위치 2개의 반사면에 인접하여 설정되는 음원에 대해서는
적절한 측정 표면과 마이크로폰 위치를 정의하는 목적을 위하여 그림 B.3을 인용한다. 구형 측정 표면의
반지름은 적어도 3m로 한다.
B.4 측정 경로 반사면상의 자유 음장의 위쪽 방향에 있고 평행한 면 안에 있는 동심원 형태의 마이크로
폰 이동 경로를 그림 B.4로 나타내었다. 이 경로는 각각의 경로에 대응하는 구면의 둘레 면적이 같도록
선택되어 있다.
그림 B.1 반구상 마이크로폰 배열－기본 마이크로폰 배치
측정 표면 기준 상자
기본 마이크로폰 위치
A ISO 3744：2002
28
비 고 기본 마이크로폰 위치는 1∼10, 추가 마이크로폰 위치는 11∼20의 번호가 붙어 있다.
그림 B.2 반구면상 마이크로폰 배열
측정 표면
기준 상자
측정 표면
기준 상자
기본 마이크로폰 위치
추가 마이크로폰 위치
A ISO 3744：2002
29
그림 B.3 2개의 반사면에 인접하는 기준 상자 주위의 구형 측정 표면과 마이크로폰 위치의 그림
기본 마이크로폰 위치
추가 마이크로폰 위치
A ISO 3744：2002
30
비 고 각각의 경로에 대응하는 반구면의 둘레의 면적이 같아지도록 경로가 선택되어 있다.
그림 B.4 반사면상 자유 음장의 위쪽에 있으며 평행한 면 내에 있는 동심원 형태의
마이크로폰 이동 경로
마이크로폰 이동 기구부의 회전축
마이크로폰 이동 경로의 높이 반구 대응 면적의 높이
A ISO 3744：2002
31
부속서 C (규정) 평행 6면체 측정 표면에서의 마이크로폰 배열
C.1 1개의 반사면 위에 설치한 음원의 마이크로폰 위치 측정 표면의 각 면을 그 최대 치수가 3d 가 되도록,
되도록 작은 수의 면적이 같은 네모난 부분 면적으로 분할한다(그림 C.1 참조). 마이크로폰 위치는 각 부
분 면적의 중앙과(반사면과 인접하는 부분을 제외한다.) 각 부분 면적의 꼭지점 위치에 있다. 이렇게 하여
그림 C.2∼C.6에 대한 마이크로폰 위치를 얻을 수 있다. 인접하는 마이크로폰 위치는 그림 C.2∼C.6에 있
는 바와 같이 측정 경로를 만들기 위하여 추가되는 경우가 있다.
C.2 2개 또는 3개의 반사면에 접하는 음원의 마이크로폰 위치 2개 이상의 반사면에 인접하여 설치하는 기
준 음원에 대해 적절한 측정 표면을 정의하기에는 그림 C.7과 그림 C.8을 인용한다. 마이크로폰 위치는
그림 C.2∼C.6에 나타난 바와 같이 한다.
그림 C.1 측정 표면의 측면 길이가 3d를 넘는 곳에서의 마이크로폰 위치를 결정하는 절차
●은 마이크로폰 위치
그림 C.2 소형 기계를 위한 측정 표면과 마이크로폰 위치(경로)의 보기
[l1 ≤ d , l2 ≤ d , l3 ≤ d , 여기에서 d 는 측정 거리(통상 1 m)]
기준 상자
반사면
경로 2
경로 3
경로 1
경로 3 기준 상자
A ISO 3744：2002
32
그림 C.3 설치 면적이 작고 높이가 높은 기계를 위한 측정 표면과 마이크로폰 위치(경로)의 보기
(l1 ≤ d, l2 ≤ 2d, 2d < l3 ≤ 5d )
그림 C.4 가로로 긴 기계를 위한 측정 표면과 마이크로폰 위치(경로)의 보기
(4d < l1 ≤ 7d, l2 ≤ d, l3 ≤ 2d )
경로 1
기준 상자
반사면
경로 2
경로 3
경로 4경로 5
기준 상자
반사면
경로 3
경로 1
경로 2
A ISO 3744：2002
33
그림 C.5 중형 기계를 위한 측정 표면과 마이크로폰 위치(경로)의 보기
(d < l1 ≤ 4d, d < l2 ≤ 4d, 2d < l3 ≤ 5d )
경로 1
기준 상자
반사면
경로 2
경로 3
경로 4
경로 5 경로 6
A ISO 3744：2002
34
그림 C.6 대형 기계를 위한 측정 표면과 마이크로폰 위치(경로)의 보기
(4d < l1 ≤ 7d, d < l2 ≤ 4d, 2d < l3 ≤ 5d )
그림 C.7 한 벽면을 등지고 설치된 마루 기기를 위한
6개의 마이크로폰 위치를 가지는 측정 표면(평행 6면체)
경로 1
기준 상자
반사면
경로 2
경로 3
경로 4
경로 5
경로 6
기준 상자 측정면
A ISO 3744：2002
35
그림 C.8 2개의 벽면을 등지고 설치된 마루 기기를 위한
4개의 마이크로폰 위치를 가지는 측정 표면(평행 6면체)
기준 상자 측정면
A ISO 3744：2002
36
부속서 D (참고) 소음의 충격성 판정 지침
참 고 이 부속서는 원국제 규격의 내용을 그대로 기재한 것으로 규정의 일부는 아니다. 많은 조사 결과에
서는 시간 가중 특성 “I ”를 사용해도 꼭 적절한 충격성의 평가를 할 수 있는 것은 아님이 보고되고
있다. 따라서 이 부속서에 기재하는 지표를 사용한 평가는 실효적인 의미에서의 소음의 충격성을
확실히 기술할 수 없다.
경우에 따라서는 소음계의 시간 가중 특성 “I ”를 사용하여 산출한 시간 평균 음압 레벨 LpAIeq와 같은 동
작 사이클에 대한 LpAeq 를 비교하는 것은 그 소음에 두드러지는 충격성 성분이 포함되어 있는지를 판정하
는 데 도움이 된다. 이 목적을 위하여서는 1곳 또는 여러 마이크로폰 위치에서 비교를 실시하고, 각 위치
에서 적어도 5동작 사이클의 측정을 실시한다. 그 차이(LpAIeq－LpAeq)가 그 소음의 충격성에 관한 지수이다.
비 고 소음의 충격성에 관한 지수의 산술 평균값이 3Db 이상인 경우 그 소음은 충격성이라 본다. 단
발 현상에 대해 또는 1초 이상의 간격의 연속적인 현상에 대해서는 LpAI와 LpAS의 최대값의 차
가 그 단발 현상을 기술하는 것으로 사용하는 경우가 있다. 연속적인 현상에 대해서는 각 현상
의 LpAI의 최대값의 산술 평균과 모든 현상에 걸친 LpAS의 평균값의 최대값을 사용한다.
A ISO 3744：2002
37
부속서 E (참고) 지향 지수의 산출을 위한 지침
반구 측정 표면의 마이크로폰 위치 i 방향에서의 지향 지수 DIi 를 다음 식으로 정의한다. 단위는 데시벨
(dB)
∗∗ −= ppi LLDI ······································································ (E.1)
여기에서 ∗piL ：마이크로폰 위치 i 에서의 음압 레벨로서 배경 소음 보정을 한 것. 단
위는 데시벨(dB)
：측정 표면에서의에서 평균한 음압 레벨에 배경 소음 보정을 한 것.
단위는 데시벨(dB)
∗pL
A ISO 3744：2002
38
부속서 F (참고) 소음의 스펙트럼 및 레벨의 시간 변동에 따른 분류
참 고 이 부속서는 KS A ISO 12001을 기초로 추가한 것으로, 원국제 규격에는 없는 것이므로 규정의 일부
가 아니다.
F.1 일반 사항 소음의 특성을 그 주파수 스펙트럼과 시간에 대한 레벨의 변화에 따라서 기술하는 경우가
있다.
대부분의 소음은 연속 스펙트럼을 갖고 있으며, 소리 에너지가 가청 주파수 범위의 거의 대부분의 범위
에 일정하게 분포하고 있다. 경우에 따라서는 그 소음 중에 이산 순음이 분명히 들리는 경우가 있다.
시간 의존성이 다른 소음에는 다음과 같은 것이 있다. 정상 소음, 비정상 소음, 충격성 소음, 준정상성
충격 소음과 분리 충격 소음
F.2 스펙트럼에 의한 분류
F.2.1 광대역 소음(broad-band noise) 음향 에너지가 비교적 넓은 주파수 범위에 분포하는 소음
비 고 1. 일반적으로 그 스펙트럼은 “평탄”하다고까지는 말할 수 없지만 부드럽고 연속적이다. 광대
역음 중에 이산 순음을 포함하고 있지 않은 경우, 주관적인 음질로 보면 그 소리에는 고
저와 음조가 없다.
2. 이산 순음을 포함하지 않는 광대역음의 예로는 폭포 소리와 실내의 배기구의 배기음과
고속 도로의 소음이 있다.
F.2.2 협대역 소음(narrow-band noise) 음향 에너지가 비교적 좁은 주파수 범위에 집중하는 소음
비 고 1. 일반적으로 그 스펙트럼에는 부분적인 “혹 형태의 고조”와 “스파이크”가 나타난다. 협대역
음은 광대역음에 중첩하는 경우가 있다. 협대역음이 두드러진 이산 순음을 포함하고 있지
않은 경우, 주관적인 음질로 보면 그 소리에는 고저와 음조가 없다.
2. 이산 순음을 포함하지 않는 협대역음의 예로는 멀리서 들리는 천둥 소리(저주파), 초원과
계곡에서 부는 바람 소리(중간 정도의 주파수) 또는 자동차 타이어의 공기가 빠지는 소리
(고주파) 등이 있다.
F.2.3 이산 순음(discrete tone) 고저의 감각을 느끼게 하는 주기적인 음압 변동
비 고 1. 이산 순음에는 순수한 정현적인 변동(“순음”이라고 부르는 경우가 있다.)을 하고, 그 주파
수 스펙트럼 내에 그 정현 주파수만의 “스파이크”를 가지는 경우이거나 또는 보다 일반적
으로는 비정현적인 변동을 하고 있어서 그 주파수 스펙트럼 내에 그 기본 주파수와 그 고
주파 성분을 가지는 경우가 있다.
2. 이산 순음의 예로는 팬의 잡음, 디지털 기기의 비프음 또는 악기 소리가 있다.
F.3 레벨의 시간 변동에 따른 분류
F.3.1 정상 소음(steady noise) 측정 시간 내의 레벨 변동을 무시할 수 있을 정도로 작은 소음
F.3.2 비정상 소음(non-steady noise) 측정 시간 중에 레벨이 큰 폭으로 변화하는 소음
F.3.2.1 변동 소음(fluctuating noise) 정상 시간 사이에 레벨이 연속적으로 동때에 분명히 변화하는 소음.
그림 F.1의 b) 참조
F.3.2.2 간헐 소음(intermittent noise) 정상 시간 내에 배경 소음 레벨까지 여러 차례에 걸쳐서, 레벨이 갑
A ISO 3744：2002
39
자기 하강하는 소음. 그 레벨이 배경 소음의 레벨과 다른 시간은 거의 1초 이상이다. 그림 F.1의 c) 참조
F.3.2.3 충격성 소음(impulsive noise) 약 1초 미만의 연속 시간을 갖는 음향 에너지의 버스트로부터 생기
는 소음
F.3.2.3.1 분리 충격 소음(isolated burst of sound energy) 단발 또는 일련의 음향 에너지 버스트가 있고,
버스트 간격이 0.2초 이상인 것. 그림 F.1의 d) 참조
F.3.2.3.2 준정상 충격 소음(quasi-impulsive noise) 버스트 간격이 0.2초 미만으로 진폭이 같은 일련의 소
음 버스트. 그림 F.1의 e) 참조
그림 F.1 소음 종류의 예시(모식도)
e) 준정상 충격 소음
e) 준정상 충격 소음 c) 간헐 소음
a) 정상 소음 b) 변동 소음
로그
진폭
시간
로그
진폭
시간
로그
진폭
시간
로그
진폭
시간
로그
진폭
시간
A ISO 3744：2002
40
부속서 G (참고) 참고 문헌
ISO 3740：1980 Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources－Guidelines for the use of basic
standards and for the preparation of noise test codes
ISO 3741：1988 Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources－Precision methods for broad-band
sources in reverberation rooms
ISO 3742 ： 1988 Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources－Precision methods for
discrete-frequency and narrow-band sources in reverberation rooms
ISO 3742－1：1994 Acoustics－Determination of sound power levels of noise using sound pressure－Engineering
methods for small, movable sources in reverberant fields－Part 1：Comparison method in hard-walled test rooms
ISO 3742－2：1994 Acoustics－Determination of sound power levels of noise using sound pressure－Engineering
methods for small, movable sources in reverberant fields－Part 2：Methods for special reverberation rooms
ISO 3746：1995 Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources－Survey method using an enveloping
measurement surface over a reflecting plane
SO 7574－2：1985 Acoustics－Statistical methods for determining and verifying stated noise emission values of
machinery and equipment－Part 2：Methods for stated values for individual machines
ISO 7574－3：1985 Acoustics－Statistical methods for determining and verifying stated noise emission values of
machinery and equipment－Part 3：Simple (transition) method for stated values for batches of machines
ISO 9296：1988 Acoustics－Declared noise emission values of information technology and telecommunications
equipment
ISO 9614－1：1993 Acoustics－Determination of sound power level of noise sources using sound intensity－Part 1：
Measurement at discrete points
ISO 9614－2：1996 Acoustics－Determination of sound power level of noise sources using sound intensity－Part 2：
Measurement by scanning
－본－
41
KS A ISO 3744：2002
음향－음압법에 의한 소음원의 음향 파워 레벨 측정 방법－
반사면상 준자유 음장에서의 실용 측정 방법 해 설
이 해설은 본문 및 부속서에 규정ㆍ기재된 내용 그리고 이것에 관련된 사항을 설명하는 것으로 규격의
일부는 아니다.
1. 첫 머 리 음향 파워 레벨은 각종 음원으로부터의 방사음을 나타내는 기본량이며, 특히 기계 장치류에
서 발생하는 소음의 평가량으로서 검사 규정 등의 내에서 사용되는 일이 많아져 왔다. KS A 0703는 당초
1990년에 대응 국제 규격(ISO 3744 Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources using sound
pressure－Engineering method in an essentially free field over a reflecting plane 및 ISO 3746 Acoustics－Determination
of sound power levels of noise sources－Survey method using an enveloping measurement surface over a reflecting plane)
의 내용에 준거하면서 구성과 표현은 당시의 KS 서식에 적합하도록 고려하여 제정되었다. 이후 기술표준
원에서 산업 기반 기술 개발 과제 “첨단 기술을 지향한 음향ㆍ소음 산업 기술의 표준화”에 의해 국제 규
격 부합화된 이 규격(안)을 작성하여 KS A 0703을 폐지하고 KS A ISO 3744를 제정하였다.
2. 제정 취지와 방침
2.1 음향 파워 레벨의 의의와 유효성 음원으로부터의 방사음의 표시량으로서 일반적으로 소음 레벨(또는
음압 레벨)과 음향 파워 레벨(이하 파워 레벨이라 한다.)의 두 종류가 사용되었다.
종래 우리 나라에서는 주로 소음 레벨이 사용되었다. 이것은 음원으로부터 공간으로 방사된 소리의 어
느 한 점에서의 A가중 음압을 나타내는 양으로, 음원의 성상(性狀)뿐 아니라, 측정 환경과 측정 위치에 따
라서도 변화된다. 이에 반해 파워 레벨은 음원으로부터 방사되는 모든 음향 파워를 나타내는 양으로 음원
의 설치 위치 등에 의해 방사 임피던스가 변화하는 경우나 음원의 동작 조건이 변화하는 경우를 제외하면
원리적으로 음원만으로 규정되는 것으로, 각종 음원의 성상을 나타내는 기본량이다. 또한 소리의 전파를
다루는 이론과 계산식 중에는 음원의 파워 레벨로부터 출발하고 있는 것이 많다. 특히 기계 장치류에서
발생하는 소음에 관해서는
a) 기계의 발주, 검수를 위한 소음 시방
b) 기계 소음 저감 효과의 평가
c) 소음 예측을 위한 기초자료
등에 대해서 파워 레벨이 기본으로 되어 있다.
유럽 각국에서는 상당히 오래 전부터 파워 레벨의 개념이 실무면에 정착되어 있고 기계 장치류의 실용
적인 소음의 표시에 파워 레벨을 사용하는 일이 많았다. 그리고 측정 방법의 규격에 대해서도 오래 전부
터 정비되어 왔다.
한편 우리 나라에서는 일부를 제외하고 실용면에서 파워 레벨이 사용되는 경우는 적었지만 기계ㆍ장치
류를 국외 각국으로 수출할 때 검사 규정 등에서 파워 레벨의 측정이 의무화되는 일이 많아지게 되었다.
또한 이러한 측정의 실적이 축적되는 중에 파워 레벨의 의미와 유효성을 기계 산업 분야를 비롯하여 각
방면에서 인식하게 되어 왔다.
A ISO 3744：2002
42
2.2 ISO에서의 기본 규격의 체계 ISO에서는 음압법에 의한 파워 레벨 측정 방법의 기본 규격(통칙)을 제
정하기 위하여 1970년에 TC 43/SC 1 중에 원안 작성 작업 그룹인 WG 6가 설치되어 ISO 3740 시리즈라는
규격 체계가 제정, 공포되었다.
이 ISO 3740 시리즈는 그 후의 기술적인 진보와 사용 실적 등을 반영한 개정이 이루어져 1980년대 후반
부터 개조된 작업 그룹 WG 28에서 원안 작성이 시작되었다. 그 결과 현재는 해설 표 1의 음압법 7개의 규
격이 제정되어 있다.
또한 1980년대에 들어 이들 종래의 음압 측정에 바탕을 둔 방법과는 별도로 ISO/TC 43/SC 1/WG 25에
의해 음향 인텐시티 측정에 근거한 방법도 병행하여 개발되어 2개의 국제 규격이 제정되었다(해설 표 1
참조).
해설 표 1 음향 파워 레벨 측정 방법 ISO 기본 규격의 구성
측정 원리 규격 번호 정 밀 도 측정 환경 마이크로폰 위치 비 고
3741 정밀 잔향실 고정점, 연속 이동
3743－1 실용 딱딱한 벽을 가진 시험
실 위와 같음. 비교법만
3743－2 실용 특수 잔향 시험실 위와 같음.
3744 실용 반무향실, 큰 방, 옥외
반구면, 직6면체면
3745 정밀 무향실, 반무향실 구면, 반구면
3746 간이 임의 직6면체면
음압법
3747 실용 딱딱한 벽의 방 고정점, 연속 이동 비교법만
9614－1 정밀 실용 간이
임의 고정점
음향 인텐시티법
9614－2 실용 간이 임의 연속 이동
이 표에 나타난 바와 같이 ISO 3740 시리즈는 정밀도와 측정 환경 등에 의해 구분되어 있고, 실제의 운
용에는 대상 음원의 종류, 측정 시설, 측정 결과의 용도 등에 따라 적용하는 방법을 선정할 수 있다. 그
때문에 위 7 규격 외에 ISO 3740 Acoustics－Determination of sound power levels of noise sources－Guidelines for
the use of basic standards이 적용 규격 선정의 지침을 나타낸 규격이 만들어져 있다.
2.3 KS 제정 방침과 규격 체계 1990∼91년에 제정된 KS A 0703∼0705의 3개의 규격은 그 시점에서 대응
하는 ISO 규격에 준거하여 작성된 것이다. 다만 이 단계에서는 ISO와의 정합성에 대해서는 특별히 고려하
지 않고 주로 기술적인 내용의 검토, 우리 나라에서의 실용적인 필요성, 그 시점에서의 KS 서식 등에 중
점을 두어 작성되었으므로 대응하는 ISO 규격과는 상당히 다른 내용의 규격이었다. 특히 KS A 0703에 대
해서는 ISO 규격에 없는 방법도 포함한 규격이 되어 있었다. 이번의 KS화 작업에서는 국제 규격 부합화
가 가장 중요한 전제이므로 대응하는 ISO 규격의 번역 규격으로 하는 하는 것을 기본 방침으로 하였다.
3. 주요 항목의 설명
A ISO 3744：2002
43
3.1 적용 범위 원국제 규격에서는 모든 타입의 소음을 대상으로 하고 있으나, 분리 충격 소음(isolated
burst of sound energy)은 그 과도적인 음향 특성으로 고려하면 음향 파워 레벨의 대상이 아니기 때문에 이를
제외하기로 하였다. 또한 분리 충격 소음을 평가하는 것이라면 음향 에너지 레벨이 생각되며, 이는 KS A
ISO 3745에 정의되어 있다.
소음의 종류에 대해서는 ISO 12001 Acoustics－Noise emitted by machinery and equipment－Rules for the drafting
and presentation of a noise test code에 기초해 부속서 F를 추가하여 시각적으로 그 성상을 이해하기 쉽게 하였
다.
3.2 정 의 원국제 규격에서는 3.8에 “반사면상 자유 음장”을 정의하고 있는데, 이 규격 명칭과 같은 정
의가 ISO 12001에 있기 때문에 이를 3.8A로 하여 “반사면상 준자유 음장”을 추가하여 규격 명칭과 적용
범위와의 정합성을 갖게 하였다.
3.19∼3.21의 용어는 이 규격의 종전 대응 규격인 KS A 0703에 정의되어 있었던 것으로,원국제 규격에
는 없지만 규격의 요구 내용을 이해하는 데 편리할 것으로 생각되어 추가하였다. 또한 3.22∼3.27은 측정
대상 기기의 분류를 보다 구체적으로 나타내기 위해서 개별 규격인 KS A ISO 7779 Acoustics－Measurement
of airborne noise emitted by information technology and telecommunications equipment을 참고하여 정의한 것이다.
즉 모든 측정 대상 기기는 기능 유닛(3.22)이 되고, 이것을 그 설치 형태와 포함관계에 따라서 마루 기기
(3.23), 탁상 기기(3.24), 벽걸이 기기(3.25), 서브 어셈블리(3.26), 래크 설치 기기(3.27)로 하였다.
또한 탁상 기기의 설치 조건으로서 시험 전용 테이블이 필요하게 되어 이를 KS A ISO 11201：2000(음향
－기계 및 설비류에서 방사되는 소음－작업 위치 및 그외 지정 위치에서의 방사 음압 레벨 측정 방법－반
사면상 준자유 음장에서의 실용 측정 방법(ISO 11201 Acoustics－Noise emitted by machinery and equipment－
Measurement of emission sound pressure levels at a work station and at other specified positions－Engineering method in
an essentially free field over reflecting plane의 일치 규격)에 근거하여 정의하였다.
또한 동작 조건을 기술할 때의 용어로서 동작 모드(3.29) 및 아이들 모드(3.30)도 동일하게 KS A ISO
7779에 근거하여 정의하여 이 통칙에 근거한 개별 규격의 작성에 도움이 되게 하였다.
3.3 시험 환경 이 규격을 적용하기 위한 “반사면상 준자유 음장”이란 이른바 반무향실로서 실현되는 음
향 공간이면 이상적이다. 즉 마루면은 거의 100%에 가까운 반사성이 있음과 동시에, 그 밖의 것은 전혀
반사의 영향이 없는 공간이다. 반무향실 정도까지는 아니더라도 자유 음장에 “준”이라는 형용사가 붙어 있
어, 이것은 평탄한 옥외(예를 들면 장애물이 없는 넓은 주차장)라도 좋고 어느 정도의 크기가 있는 옥내이
어도 좋다. 이 반사면에 의한 영향도를 확인하는 방법으로 부속서 A를 사용하여 환경 보정값 K2 를 구하여
그 값이 2dB 이하이면 시험에 적합하다고 판단한다. 또한 측정 대상 기기 이외로부터의 음(배경 소음)과의
차이가 6dB 이상 필요하다.
또한 종전 대응 규격 KS A 0703에서는 배경 소음의 보정할 때 측정 대상 기기와 배경 소음과의 차이를
데시벨 단위로 반올림하여 표를 이용하여 보정값을 구하고 있었지만 이번에 수식으로 표현할 수 있게 되
어 컴퓨터를 사용한 계산의 자동화에 적합하게 되었다.
3.4 측 정 기 사용할 측정기는 종래부터의 지수 시간 가중을 가하여 음압 레벨을 기록하는 것이라도 측
정 시간 중의 시간 가중값 부여가 일정한 적분형 소음계라도 좋은 형태로 되어 있다. 이것은 원국제 규격
이 1990년대 전반에 만들어졌기 때문에 이미 적분 기능이 없는 소음계를 찾는 쪽이 어려운 상황에서는 적
분형 소음계를 사용해야 하는 것으로 보는 것이 바람직하다.
3.5 측정 대상 기기의 설치 및 동작 동작 조건의 대원칙은 실제로 그 기계가 사용되는 상태를 보다 좋게
대표하는 것을 선택하여야 한다. 한편으로 탁상에서 사용되는 기기라도 그 기계가 갖는 기능을 발휘하면
서 마루에 설치할 수 없을 경우를 제외하고, 측정 대상 기기는 반드시 마루에 설치하여야 함에 주의하여
A ISO 3744：2002
44
야 한다. 이것은 반자유 음장에서의 음향 파워 레벨 측정의 기본 중의 기본이다. 그 대전제에 맞는 선상에
서 개별 규격에서 기기의 사용되는 쪽의 실정 등을 고려하여 세부 사항을 규정하는 것이 된다.
동작 조건에 관해서는 설치 조건과 마찬가지로 기기 사용법을 대표하는 조건을 선택하든가, 여러 가지
의 동작 모드를 측정하여 그 중의 방사량이 가장 큰 것을 필요에 따라 개별 규격에서 규정하는 것이 된
다.
전체적으로 이 규격은 통칙이므로 기계의 종류마다 상세한 조건을 규정하는 개별 규격을 만들 때의 일
반 원칙으로 말할 수 있다.
3.6 음압 레벨 측정 음원 주위의 측정 정면상의 평균 음압 레벨을 구하는 데에는 반구 측정 표면과 평행
육면체 측정 표면이 있다. 전자에서는 10점의, 후자에서는 9점에서의 측정이 최소한 필요하다. 지향성이
강하거나, 순음 성분이 강한 음원 등의 경우, 각 점에 실측된 음압 레벨의 차가 당연히 커지게 된다는 의
미로, 모든 측정점 중의 최대 레벨과 최소 레벨과의 데시벨 차이가 측정점 수보다 크면, 측정점을 추가할
필요가 있다. 선택 가능한 측정 표면이 부속서 B와 부속서 C에 규정되어 있다.
일반적으로 물리적으로 작은 음원이면 마루면의 음원을 점음원으로 간주하고, 반구 측정 표면을 채용하
는 것에 의해 보다 균일한 공간 평균을 구할 수 있지만, 음원의 물리적 치수가 커짐에 따라 측정 반지름
을 크게 할 필요가 있기 때문에 자연히 한계가 있다. 그와 같은 경우, 평행 육면체 측정 표면을 사용하는
방법이 현실적이다. 래크에 설치한 것처럼 높이가 높은 측정 대상 기기의 경우에서는 특히 그렇다. 또 매
우 음향 파워 레벨이 작은 음원의 측정을 실시하는 경우, 반구 측정 표면에서는 반지름이 최소 1m 필요하
지만 평행 육면체 측정 표면이면 0.25m까지 음원에 근접할 수 있는 점에서도 유리하다. 또한 이번 개정으
로 원국제 규격에 따라 사실상 거의 사용되지 않았던 컨포멀(conformal) 측정 표면은 규정하지 않고 삭제
하였다.
4. 이후의 과제
4.1 음원의 특성을 기술하는 모든 물리량의 선택 음향 파워 레벨은 음원으로부터 방사하는 소음 에너지의
시간 평균이므로 기기의 소음을 관리한다는 점에서는 기본 중의 기본이라 할 수 있다. 음향 파워 레벨 이
외에도 음원의 소음을 나타내는 지표에는 방사 음압 레벨(KS A ISO 11201)과 음향 에너지 레벨(KS A ISO
3745)도 있다. 또한 이 소음이 주로 양에 기초한 평가량과는 별도로 스펙트럼 구조와 시간 변동에 착안한
각종 지표도 서서히 개발ㆍ표준화되고 있다.
4.2 KS 국제 정합화의 추진 방법 이번 개정에서는 국제 정합화의 명분하에 기존의 국제 규격에 적극 정
합화하는 것을 우선하여 원안을 작성하게 되었다. 또한 관련된 모든 규격, 이번 경우로 말하면 음향 파워
레벨 측정 방법, 방사 음압 레벨 측정 방법, 용어, 기준 음원의 시방 등을 규정한 일련의 국제 규격의 KS
화가 이루어져 현재도 계속되고 있지만, 정합화의 대상이 되는 국제 규격 간에서의 차이, 부정합, 내용의
부실함도 적지 않게 있었고, 번역 규격을 목표로 하고 있어서 간과한 경우가 많았다.
이미 국제 규격으로 발효하고 있는 것을 번역하고, 이것을 KS의 서식, 표현에 맞추어 조정하는 것은 상
당한 양의 시간과 노력을 필요로 하였다. 또한 제반 사무 절차의 영향으로 원안을 제출하고 나서 3년의
시간이 경과하고 개정되었다.
실로 국제 정합화를 생각한다면 KS 발효 후 바로 원국제 규격의 수정이 시작되어 버리지 않도록, 국제
규격의 원안 작성 단계부터 KS의 갖추어야할 형식을 관찰하고, 적어도 ISO라면 DIS(Draft International
Standard), IEC의 경우 CDV(Committee Draft for Voting)의 시점으로부터 원안 준비 작업을 진행하여, 국제 규
격의 발효(제정ㆍ개정)와 거의 동시에 KS 원안을 제출해야 한다. 그리고 무엇보다 이 국제 규격 원안의
작성 시점에서 한국으로부터의 적극적인 제안이 불가결하다. 이후로 국제 규격화의 속도와 국내 표준화의
A ISO 3744：2002
45
속도를 맞추는 노력이 필요하다.
－본－ －해－
한국산업규격 음향－음압법에 의한 소음원의 음향 파워 레벨 측정 방법－반사면상 준자유 음장에서의 실용 측정 방법
2002년 9월 20일 발행
편 집 겸
발 행 인 유 영 상
발 행
한 국 표 준 협 회 135－513 서울특별시 강남구 역삼동 701－7 ☎(02)6009－4567
☎(02)6009－4887∼4888 http：//standard.ksa.or.kr
인쇄ㆍ제본 한 국 표 준 협 회
부산지부 607－822 부산광역시 동래구 수안동 1－11(대신증권빌딩 10층) ☎(051)557－1239 대구ㆍ경북지부 702－012 대구광역시 북구 산격2동 1741(시멘트가공조합 3층) ☎(053)384－1562∼4 인천지부 402－714 인천광역시 남구 주안동 989－1(르네상스타워 11층) ☎(032)420－0120∼3 경기지부 442－270 경기도 수원시 팔달구 이의동 산 111－8(중소기업종합지원센터 9층) ☎(031)259－7000∼9 강원지부 200－041 강원도 춘천시 중앙로 1가 9(공영빌딩 4층) ☎(033)252－9423, 254－9423 충북지부 361－802 충북 청주시 흥덕구 가경동 1508－1(중소기업종합지원센터 6층) ☎(043)236－2451∼3 대전ㆍ충남지부 305－343 대전광역시 유성구 장동 23－14(중소기업지원센터 5층) ☎(042)864－2301∼3 전북지부 561－841 전북 전주시 덕진구 팔복동 1가 337－2(중소기업종합지원센터 7층) ☎(063)214－2235∼7 광주ㆍ전남지부 506－301 광주광역시 광산구 도천동 621－15(중소기업지원센터 5층) ☎(062)953－1435∼7 경남지부 641－740 경남 창원시 용호동 7－4(경남무역회관 501호) ☎(055)266－4744∼6 울산지부 683－804 울산광역시 북구 연암동 758－2(중소기업종합지원센터 2층) ☎(052)289－6601∼3 안산지부 425－852 경기도 안산시 단원구 원시동 773－9(반월공단본부 4층) ☎(031)492－5780, 8451∼2 구미지부 730－350 경북 구미시 임수동 92－30(중소기업지원센터 8층) ☎(054)473－6954 경기북부지부 480－848 경기도 의정부시 의정부2동 487－6(신용보증기금빌딩 3층) ☎(031)829－8182∼4
KS A ISO 3744：2002
Acoustics－Determination ofsound power levels of noise sources
using sound pressure－Engineering method in an essentially
free field over a reflecting planeICS 17.140.01
KSKSKSSKSKS KSKS SKS KSKS SKSKS KSKSKS
KOREAN STANDARDS ASSOCIATION
![izfrosnu] fVIi.k vkSj izk:i · 1- lac) vf/kdkfj;ksa dks funsZ'k fn, tk,¡ fd os cfLr;ksa@dkWyksfu;ksa esa tkdj ogk¡ ds fuokfl;ksa ls ijLij laidZ leUo; gsrq ogha ds gj oxZ ds f'kf{kr](https://img.pdfslide.tips/doc/110x75/60402a4f6c06d12e567a1ce3/izfrosnu-fviik-vksj-izki-1-lac-vfkdkfjksa-dks-funszk-fn-tk-fd-os-cflrksadkwyksfuksa.jpg)
