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MICROANÁLISE Objetivo Informão da composão química do material numa área de at é 1 μm 2 Técnicas de Microanálise – EDX e WDX EDX ou EDS – mi cr oali se por ener gi a di sper si va WDX o u WDS mi croali se por comp ri mento de onda di sper si vo Características das Técnicas de Microanálise Resoluçã o- EDX 14 0 eV da ra di ação Kα do Mn - WDX – 5 a 1 0 e V da radiaçãoKα do Mn • EDX – pi dez na ob tençãodo espect ro - elementos conten do mais qu e10% são iden ti fi cados em ~ 10 s - el ementos da ordem de 1% o identi fi cados em ~ 100 s Deteão dos el ementos (qualit at ivo) – EDX: 0,1 wt% - WDX: 0,01 wt % Pr ecisão EDX na quanti fi cação 1 a 2% par a materi ai s inor ni cos - 5 a 10% p ar a materi ai s bi ol ógicos

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  • MICROANLISE

    ObjetivoInformao da composio qumica do material numa rea de at 1 m2

    Tcnicas de Microanlise EDX e WDX EDX ou EDS microanlise por energia dispersiva WDX ou WDS microanlise por comprimento de onda dispersivo

    Caractersticas das Tcnicas de Microanlise Resoluo - EDX 140 eV da radiao K do Mn

    - WDX 5 a 10 eV da radiao K do Mn EDX rpidez na obteno do espectro

    - elementos contendo mais que 10% so identificados em ~ 10 s- elementos da ordem de 1% so identificados em ~ 100 s

    Deteco dos elementos (qualitativo) EDX: 0,1 wt% - WDX: 0,01 wt% Preciso EDX na quantificao 1 a 2% para materiais inorgnicos

    - 5 a 10% para materiais biolgicos

  • MICROANLISE

    Histrico-1913 Moseley relacionou a frequncia de emisso do raio-X caractersticocom a composio do material rea > 1 mm

    - dcada de 40 foi patenteado a idia da microanlise eletrnica (~1 mm2) Marton 1941 e Hillier 1947.

    - Casting construiu a primeira microssonda qualitativa e quantitativa

    - 1956 primeira microssonda comercial Cameca Frana

    - feixe de eltrons (0,1 1 mm), espectrometros e MO

    -1956 - primeira microssonda de varredura Lab. da Cambridge (Inglaterra)

    - 1968 microssonda por energia dispersiva com detector de Si

  • Formao de Raios-X

    Origem do sinalRaios-X resultado da interao inelstica entre os EP e oseltrons das camadas internas do tomo ou com o ncleo.

    Raios-X Contnuo ou Bremsstrahlung resultante da desacelerao do EP pela interao com o campo Coulombiano do tomo.

    Raios-X Caracterstico resultante da retirada de um eltronda camada interna do tomo.

    Caractersticas das radiaesRaios-X contnuos radiao no especfica

    - origina o background do espectro

    Raios-X caractersticos identifica o tomo presente no volume de interao

  • Formao dos Raios-X Contnuos

    - o campo coulombiano formado devido ao campo positivo do ncleo e do campo negativo dos eltrons das camadas.

    - a desacelerao do EP pela interao com o campo coulombiano causa a emisso de um fton de raio-X.

    - os eltrons do feixe incidente podem perder diferentesquantidades de energia nesta coliso raios-X contnuos.

    - raios-X contnuos energia zero at energia igual a do EP

  • Picos Caractersticos

    Background rudo

    Espectro de raios-X

    MICROANLISE

  • Formao dos Raios-X Caractersticos

    Emisso de Eltron Auger

  • Formao dos Raios-X Caractersticos

    Origem dos raios-X e dos picos caractersticos.

  • Energia caracterstica do raio-X

    Diagrama dos nveis de energia de um tomo mostrando a excitao das camadas K, L, M e N e a formao de raios-X K, K, L e M.

  • Picos (linhas) caracterstica

  • Raios-X caractersticos da amostraEnergia crtica de ionizao - energia mnima necessriapara a retirada do eltron de uma determinada camada.

    Energia crtica de ionizao da Pt (Z=78)

    Desexcitao transio dos eltrons de uma camada ou subcamadaTransio - radioativa emisso de fton raio-X

    - no radioativa emisso de eltron Auger

  • MICROANLISE

    Exemplo de espectros de vrias amostras

  • Caractersticas da Radiao de Raios-X

    Normalmente so usados os picos de energia entre 0 e 10 keV o que permite a observao das seguintes raias: - raias K para o Be (Z = 4) at o Ga (Z = 31), - raias L desde o Ca (Z = 20) at o Au (Z = 79),- raias M para o Nb (Z = 41) at o mais alto nmero atmico.

  • Caractersticas da Radiao de Raios-X

    Resoluo espacial volume de interao

  • Caractersticas da Radiao de Raios-X

    Direcionalidade do sinal- detector formando um ngulo de 35 graus com a superfcie da amostra- trajetria dos raios-X no pode ser modificada para melhorar a eficincia Resultado: a contagem dos raios-X ser muito reduzida para uma superfcie que no se encontra direcionada para o detector. - evitar o efeito da direcionalidade - uso de amostras polidas para a microanlise

    Profundidade de excitao- Os eltrons do feixe primrio, a medida que vo penetrando na amostra e interagindo com os tomos, vo perdendo sua energia.Resultado: a energia do eltron primrio pode no se tornar menorque a energia crtica de ionizao dos elementos da amostra.Overvoltagem a razo entre a energia do eltron primrio e a energia de excitao do elemento. Deve ser maior ou igual a dois.

  • Caractersticas da Radiao de Raios-XAbsoro do raio-X o fton de luz absorvido por um eltron (efeito fotoeltrico) o fton de raio-X ao invs de ser emitido pelo tomo, pode ser completamente absorvido por um eltron de um orbital

    Fluorescncia de raios-X o fton de luz absorvido por um eltron e este eltron passa para outra camada deixando um vazio.

    Fe K, Co K, Co K, Ni K, Ni K Co K, Ni K, Ni K

    Ni Knenhuma

    Mn

    Fe

    Co

    Ni

    Radiao causadora da FluorescnciaElemento

    Resultado da fluorescncia o elemento causador da fluorescncia ir aparecer em menor quantidade e o elemento que sofreu a fluorescncia ir aparecer em maior quantidade.

  • Interaes Eltrons-Amostra