NIKON MA100

es un microscopio invertido compacto de tamaño. Fue desarrollado para la observación de campo claro y simple observación de polarización. Gracias a su diseño compacto y durable y fácil manejo, además de la observación de alto contraste y la captura de la imagen, que es excelente para los componentes metalográficos y electrónicos, así como su uso en plantas de producción en los campos de materiales y los departamentos de control de calidad.

Iluminador LED:

El MA100L nuevo desarrollo está equipado con una alta intensidad sin necesidad de mantenimiento de la lámpara LED que tiene un bajo consumo de energía de tan sólo 3 vatios. La lámpara LED proporciona una imagen uniforme con la temperatura de color estable, independientemente del cambio de intensidad de la luz

Top-of-the-line CFI60-2 objetivos:

CFI60-2 objetivos han evolucionado a partir de la CFI60, reconocido por su alto NA y de larga distancia de trabajo, y ahora ofrecen la distancia de trabajo larga y óptima corrección de la aberración cromática en un cuerpo que es más ligero que nunca. Hasta cinco lentes del objetivo se puede montar.

Polarizador / Analizador:

Observación de polarización simple con un mecanismo polarizador / analizador de acción simple:

Este dispositivo hace posible la simple observación de polarización, que es eficaz para muestras tales como materiales poliméricos. Sólo hace falta una sola acción para activar el polarizador y el analizador en la trayectoria de la luz. El polarizador puede girar 360 ° grados, lo que permite a los usuarios configurar una dirección de polarización adecuada para que se observó la muestra.

Etapa:

El escenario rectangular MA-SR dedicado cuenta con control de la durabilidad y estabilidad superior incluso con muestras grandes;

Estructura de tres placas de MA-SR da el control estable microscopio y una durabilidad superior y permite la observación de muestras pesados, incluyendo muestras incrustadas que todavía están montadas en el soporte de una amoladora.

Abertura de diafragma

Viene de serie con un condensador

El iluminador viene con un condensador que permite a los usuarios el control de contraste de la imagen y la profundidad de campo de la muestra.

ECLIPSE MA200

Todos los controles se encuentran en la parte frontal del instrumento. ofrece facilidad de uso mediante la colocación de todos los controles importantes en la parte delantera.

Emplea torretas internas que mantienen el polvo de los filtros de iluminación, manteniendo brillante iluminación uniforme. Además, la fuente de alimentación está integrada en ahorrar espacio.

Estado de consulta rápida

La posición de observación del objetivo y de la muestra se puede comprobar

fácilmente desde el panel frontal del microscopio.

Operación de una sola acción

Analizador / polarizador mecanismo de bloqueo

Enlaces a la fijación / liberación del analizador / polarizador.

Campo claro / campo oscuro conmutación automática de apertura

El diafragma de campo y la abertura se detienen automáticamente abierta cuando se cambia de campo claro al campo oscuro. Al regresar al campo claro observación, el campo anterior y la configuración de diafragma de apertura se reproducen.

Mecanismo de prevención de flash

Evita automáticamente reflexión flashes al cambiar las lentes objetivas

Ahorro de energía

La fuente de luz halógena de 50W da cuenta el mismo brillo que la fuente de luz 100W anterior con sólo la mitad del consumo de energía.

Pantalla de estado (sólo MA200)

Los datos de calibración se cambia automáticamente cuando se cambia el aumento del objetivo. Esta característica hace que sea fácil de usar la función de medición en el DS-L2. Ajuste de iluminación cuantitativa se puede hacer manualmente mediante la visualización del valor de la tensión. Esto es crucial en la adquisición de los ajustes óptimos para la observación y la captura de imágenes.

Análisis del tamaño de grano (opcional)

Detecta y mide granos en una y dos muestras de fase de acuerdo con las normas ASTM E112-96/E1382-97 JIS G0551 o.

Análisis de hierro fundido (opcional)

Detecta, mide y clasifica el contenido de grafito, así como el contenido de ferrita en muestras de grafito con corrección de acuerdo con JIS G5502 o ASTM A247-06.