14
Orbis pictus 21. století Tato prezentace byla vytvořena v rámci projektu

Orbis pictus 21. století

  • Upload
    dahlia

  • View
    16

  • Download
    0

Embed Size (px)

DESCRIPTION

Tato prezentace byla vytvořena v rámci projektu. Orbis pictus 21. století. Měření integrovaných obvodů. OB21-OP-EL-ELKM-JANC-M-2-025. Měření integrovaných obvodů. - PowerPoint PPT Presentation

Citation preview

Page 1: Orbis  pictus 21. století

Orbis pictus21. století

Tato prezentace byla vytvořenav rámci projektu

Page 2: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných Měření integrovaných obvodů obvodů

OB21-OP-EL-ELKM-JANC-M-2-025OB21-OP-EL-ELKM-JANC-M-2-025

Page 3: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných obvodů Měření integrovaných obvodů

Integrované obvody jsou elektronické součástky, u kterých se Integrované obvody jsou elektronické součástky, u kterých se aktivní i pasivní elektronické prvky vytváří společně na jedné aktivní i pasivní elektronické prvky vytváří společně na jedné základní křemíkové destičce. základní křemíkové destičce. Součástky jsou spolu přímo nebo Součástky jsou spolu přímo nebo pomocí povrchových spojů neoddělitelně spojeny a vytváří pomocí povrchových spojů neoddělitelně spojeny a vytváří určitý funkční celek.určitý funkční celek.

Nejvíce rozšířené jsou Nejvíce rozšířené jsou monolitické integrované obvodymonolitické integrované obvody, u , u kterých jsou v základní křemíkové destičce vytvořeny jak kterých jsou v základní křemíkové destičce vytvořeny jak aktivní tak i pasivní součástky.aktivní tak i pasivní součástky.

Page 4: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných obvodů Měření integrovaných obvodů

Z hlediska funkce rozlišujeme dvě velké skupiny Z hlediska funkce rozlišujeme dvě velké skupiny integrovaných obvodů:integrovaných obvodů:

AnalogovéAnalogové

ČíslicovéČíslicové

Page 5: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných obvodů Měření integrovaných obvodů

Každý integrovaný obvod musíme proměřovat individuálně. Každý integrovaný obvod musíme proměřovat individuálně.

Doporučené aplikační zapojení najdeme v katalogovém listu Doporučené aplikační zapojení najdeme v katalogovém listu integrovaného obvodu. Stejně tak tam najdeme i doporučené integrovaného obvodu. Stejně tak tam najdeme i doporučené schéma zapojení pro měření různých parametrů daného schéma zapojení pro měření různých parametrů daného konkretního integrovaného obvodu. konkretního integrovaného obvodu.

Podle toho jaký parametr integrovaného obvodu měříme Podle toho jaký parametr integrovaného obvodu měříme musíme používat i různé metody měření a různé měřící musíme používat i různé metody měření a různé měřící přístroje. přístroje.

Page 6: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných obvodů Měření integrovaných obvodů Platí zásada, že se držíme doporučení výrobce integrovaného Platí zásada, že se držíme doporučení výrobce integrovaného

obvodu a nesmíme při měření integrovaný obvod přetížit nad obvodu a nesmíme při měření integrovaný obvod přetížit nad jeho dovolené hodnoty.jeho dovolené hodnoty.

Během měření nesmí dojít k překročení mezní hodnoty Během měření nesmí dojít k překročení mezní hodnoty žádného parametru integrovaného obvodu. žádného parametru integrovaného obvodu.

Nesmíme tedy překročit žádnou dovolenou hodnotu napětí, Nesmíme tedy překročit žádnou dovolenou hodnotu napětí, proudu, výkonu a musíme dbát i na dostatečný odvod tepla při proudu, výkonu a musíme dbát i na dostatečný odvod tepla při měření. měření.

Důležité je rovněž dodržovat doporučenou teplotu při měření. Důležité je rovněž dodržovat doporučenou teplotu při měření.

Page 7: Orbis  pictus 21. století

Obr. 1 Měření nf výkonového zesilovače MBA 810

Page 8: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných obvodů Měření integrovaných obvodů Z praktického hlediska můžeme integrované obvody Z praktického hlediska můžeme integrované obvody

proměřovat v různých etapách vývoje a provozu proměřovat v různých etapách vývoje a provozu elektronického zařízení v němž je použito. elektronického zařízení v němž je použito.

Podle toho také používáme různé měřící přístroje a zařízení. Podle toho také používáme různé měřící přístroje a zařízení.

V předvýrobní etapě V předvýrobní etapě používají konstruktéři k ověřování používají konstruktéři k ověřování funkčnosti funkčnosti laboratorní měřící přístrojelaboratorní měřící přístroje. .

V procesu výroby V procesu výroby se k proměřování jednotlivých funkčních se k proměřování jednotlivých funkčních celků stále více používají celků stále více používají automatizované měřící systémyautomatizované měřící systémy, , které obsahují potřebný hardware i software. které obsahují potřebný hardware i software.

Page 9: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných obvodů Měření integrovaných obvodů

Stejně tak v době používání elektronického zařízení se k Stejně tak v době používání elektronického zařízení se k měření integrovaných obvodů v autorizovaných servisních měření integrovaných obvodů v autorizovaných servisních střediscích používají střediscích používají automatizované diagnostické systémyautomatizované diagnostické systémy. .

Tyto diagnostické systémy obvykle umožňují přeměřit Tyto diagnostické systémy obvykle umožňují přeměřit integrovaný obvod přímo v zapojeném obvodu aniž by se integrovaný obvod přímo v zapojeném obvodu aniž by se musel vyjmout ze zapojeného elektronického obvodu. musel vyjmout ze zapojeného elektronického obvodu.

Cena těchto systémů je vysoká a proto se používají jen u Cena těchto systémů je vysoká a proto se používají jen u zařízení, která se vyrábějí ve velkých výrobních sériích. zařízení, která se vyrábějí ve velkých výrobních sériích.

Page 10: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných obvodů Měření integrovaných obvodů

Obr. 2 Měření výkonového zisku analogového IO MA 3006

Page 11: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných obvodů Měření integrovaných obvodů

Obr. 3 Měření výstupního zkratového proudu číslicového IO MH 7400

Page 12: Orbis  pictus 21. století

Měření integrovaných obvodů Měření integrovaných obvodů

Obr. 4 Měření dynamických hodnot číslicového IO MH 7400

Page 13: Orbis  pictus 21. století

Děkuji za pozornostDěkuji za pozornost

Ing. Ladislav JančaříkIng. Ladislav Jančařík

Page 14: Orbis  pictus 21. století

LiteraturaLiteratura

E. Vitejček a V. Hos: Elektrické měření, SNTL Praha 1979E. Vitejček a V. Hos: Elektrické měření, SNTL Praha 1979

V. Fajt a kol.: Elektrická měření, SNTL Praha 1987V. Fajt a kol.: Elektrická měření, SNTL Praha 1987

L. Bejček a kol.: Měření v elektrotechnice, FEKT VUT Brno L. Bejček a kol.: Měření v elektrotechnice, FEKT VUT Brno 20032003