Pengukuran Kedataran Plat Baja Dengan Menggunakan Moire Topografi

Aulia Rahman Ashari1, Muhammad Rozakur Rokhim2, Siti Nur Fitria3, Erna Septyaningrum4, Zuhrotul Aini5, Mariesta Arianti6

Jurusan Teknik Fisika, Institut Teknologi Sepuluh Nopember

Abstrak --- Permintaan akan baja terus meningkat, dan kedataran serta performa dimensi dari produk harus memenuhi standart. Untuk mengetahui tingkat kedataran dari suatu plat logam sering kali digunakan cara manual yang memiliki biaya yang tinggi dan membutuhkan banyak tenaga kerja. Salah satu metode baru yang digunakan untuk mengatasi permasalahan ini ada dengan menggunakan Moire Topografi. Hasil dari metode ini adalah pola gelap terang yang menggambarkan permukaan baja yang diukur. Pola gelap terang tersebut diolah secara digital dengan menggunakan komputer dan software tertentu sehingga dapat diketahui informasi mengenai kedataran dari plat baja tersebut. Area pengukuran alat ini adalah 3,5 m x 1,0 m, dan alat ini mampu mencapai resolusi sebesar 0,3 mm.

Kata kunci : Plat Baja, Moire, Pola gelap terang

I. PENDAHULUANPada saat ini teknologi sudah semakin canggih saja dan

semakin membuat kehidupan manusia semakin canggih. Tidak hanya dalam satu bidang, tetapi di berbagai bidang. Salah satunya dalam bidang optik. Dalam bidang optik penemuan-penemuan baru banyak ditemukan. Banyak sekali hal berbau optik baru baik dalam komunikasi, visualisasi, dan sebagainya. Pada saat ini pengukuran dan penampilan suatu objek tidak hanya bisa dilakukan dalam bentuk 2 dimensi melainkan juga bisa dalam bentuk 3 dimensi. Metode tersebut dinamakan moire topografi. Dalam hal ini yang dituliskan adalah mengenai pengukuran kedataran plat baja menggunakan moire topografi. Moire Topografi digunakan untuk mengukur dan menampilkan bentuk 3D dari suatu objek.

II. DASAR TEORIBerikut ini adalah beberapa teori dasar yang mendasari

perancangan alat ini.A. KEDATARAN PERMUKAAN BAJA

Proses pembuatan logam dapat menyebabkan penurunan permukaan yang tidak sama (non- uniform) pada permukaan potongan juga pemanjangan yang tidak seragam dari potongan pada arah penggulungan (Heaven 1998). Berikut ini adalah contoh ketidaksempurnaan yang terjadi pada permukaan baja :

Gambar 1. Macam-macam Kedataran BajaTerdapat dua macam parameter kedataran yang sering

digunakan untuk menentukan karakteristik dari permukaan yang bergelombang atau tidak rata (ASTM stanart A568/A 568M – 96, 1996). Parameter tersebut adalah index kecuraman (Steepness Index) dan index kedataran (flatness index). Steepness Index merepresentasikan permukaan yang memperlihatkan tepi yang bergelombang dengan tinggi H dan interfal L. Seperti yang ditunjukkan pada gambar berikut :

Gambar 2. Permukaan yang ditunjukkan dengan menggunakan Steepness Index

Steepness index secara matematis dapat dituliskan sebagai :

.............................................................. 2.1Sedangkan flatness inex secara matematis dituliskan sebagai :

I=( ∆ LLref

)x 105.........................................................2.2

Dimana ΔL adalah perbedaan antara panjang dari potongan logam yang diukur dan panjang dari potongan logam yang dijadikan referensi.

1

B. PRINSIP PENGUKURAN BENTUK DENGAN MENGGUNAKAN MOIRE

Kata moire berasal dari bahasa Perancis mouaire yang berarti perairan atau bentuk yang bergelombang. Moire Topografi digunakan untuk mengukur dan menampilkan bentuk 3D dari suatu objek. Formasi pola kedalaman yang didapatkan dengan menyusunan sumber ahaya dan memnampilkan titik pada jarak yang sama dari grid (kisi) merupakan kunci dari Moire topografi yang baru. Konsep ini dirumuskan oleh Meadows et al.(1970) dan Takasaki (1970).

C. ANALISA POLA FRINGE

Output dari moire topografi adalah kontur yang harus dianalisis lebih lanjut untuk mendapatkan informasi 3 dimensi yang diinginkan. Metode analisa yang digunakan dalam analisa ini sama dengan metode yang digunakan pada interferogram, walaupun kedua metode ini menggunakan prinsip optik yang berbeda. Nilai yang diukur pada proses fringi moire analisa adalah intensitas G(x,y) dan sesuatu yang tidak diketahui yang disimbolkan dengan Φ(x,y). Informasi ini dipengaruhi oleh backgroun intensity a(x,y), local contrast b(x,y) dan noise δ. Dalam bentuk matematis dapat dituliskan sebagai :G ( x , y )=a (x , y )+b ( x , y ) cos2 πN ¿¿¿....2.3

Distribusi intensitas dari pola frinji dihubungkan dengan persamaan diatas ditunjukan oleh grafik berikut :

Gambar 3. Grafik Distribusi Intensitas dari Pola Frinji

Metode analisa Fringe dapat dibedakan menjadi analisa berdasarkan intensitas dan berdasarkan fase.

Gambar 4. Metode Analisa FringeMetode intensitas memiliki ketelitian atau akurasi yang

rendah sehingga akan sulit untuk menghitungnya pada waktu riil. Pada analisa berdasarkan fasa, dibedakan menjadi dua yaitu spasial (SPS) dan temporal (TPS).

Dalam analisa ini banyak digunakan metode Fourier untuk menganalisa hasil yang didapatkan. Teknik temporal phase shifting, menganalisis 3 atau lebih interferogram yang berurutan, TPS menghasilkan resolusi dan akurasi paling tinggi pada gelombang statis.

D. KEDUDUKAN TEKNIK PENGUKURAN BENTUK MOIRE

Pada bagian ini akan dijelaskan tentang penyelesain secara teknis, prosedur desain, dasar fenomena, implementasi alat dan performa gambar.

1) Penyelesaian Optik Konvensional

Gambar 5. penyelesaian optik konvensional untuk a) bayangan dan b) proyeksi instrumen moiré.

Dalam gambar a) grating harus dipasang didekat obyek yang akan diukur dan setidaknya besarnya harus sama dengan objek. Kekurangan dari teknik adalah kotak yang dibutuhkan besar dan variasi ketinggian yang terbatas karena grating yang dekat dengan objek. Kontras bayangan dari moire kontur sangat dipengaruhi oleh ukuran dan orientasi sumber cahaya.2) Proses Desain

Hauer dan Harding (1990) memperkenalkan dan menunjukkan, pendekatan pengaturan yang baik untuk merancang interferometer moiré. Prosesdur sistem ini terdiri dari :spesifikasi umum, gambar konseptual, desain rinci awal, perancangan detil akhir, toleransi fisik komponen sistem dan analisis termal. Pendekatan ini dapat digunakan untuk mencapai desain yang efisien dan lengkap untuk sistem optik yang paling. Murakami et al. (1982) mempelajari pengaturan sumber cahaya untuk iluminasi grid dari metode moiré, dan penulis yang sama sebelumnya menyajikan setting kamera yang tepat untuk iluminasi grid pada metode ini. (Murakami et al. 1985).

Tsuno dan Nakamura (1978) meneliti akurasi dari proyeksi moiré topografi atas dasar geometris optik. Kesalahan penjajaran (misalignment) dari elemen optik dalam instrumen moiré menyebabkan deformasi kontur.

2

Dari penelitian yang dilakukan, menunjukkan bahwa kesalahan karena efek misalignments lebih kecil bila menggunakan optik proyeksi dengan panjang fokal panjang dan perbesaran yang lebih besar.

E. ELECTRONIC MOIRE CONTOURING\

Electronic moiré contouring mengacu pada penggunaan instrument dimana pembentukan kontur moire sebagian besar berasal dari komponen elektronika. kontur tidak terbentuk dari fenomena struktur kisi/gratting namun terbentuk pada tingkat detektor atau sinyal yang dibantu oleh komponenn elektronik. Topografi moire dengan menggunakan kamera CCD. moire kontur diperoleh antara proyeksi kisi dan grid detektor pada kamera. Pada sensor CCD Fairchild 222 cahaya vertikal elemen detektor sensitif dipisahkan oleh buram, pergeseran aluminium terlindung register kira-kira ukuran sama dengan array yang juga sensitif terhadap cahaya. Interval kontur pada pengujian eksperimental bervariasi antara 1 mm dan 10 mm dan bidang pandang sekitar 150 mm sampai 800 mm. Pendekatan ini memberikan real-time moiré contouring. Proyektor dan kamera harus berjarak jauh dari objek. Jika perbedaan dalam proyeksi dan sudut pandang seluruh objek akan menciptakan permukaan kontur silinder dan yang tidak planar.

F. COMPUTER AIDED MOIRE

Metode computer aided moiré menggunakan fleksibilitas dari komputer untuk memanipulasi grating dengan cepat sehinggga menguntungkan komputer untuk memvariasikan luasan kisi-kisi dengan cepat dan mudah. Dengan memilih luasan kisi yang tepat memungkionkan untuk merubah sensitivitas metode. Moiré kontur dapat dihasilkan oleh operasi logis antara kisi-kisi. Logika AND dari dua satu-bit komputer hasil grating di kontur moiré yang identik dalam segala hal dengan yang diperoleh oleh superposisi fisik dua bar dan kisi-kisi ruang.

Asundi et al. (1994) mengusulkan proyeksi moiré eksperimental set-up,di mana obyek dipasang pada alas berputar didorong oleh variabel kecepatan motorik dan diterangi oleh cahaya dari laser dioda.

Gambar 6. Set-up Eksperimental Proyeksi Moire

III. RANCANGAN ALAT

A. SPESIFIKASI ALAT UKURB. DESAIN ALAT UKUR1) Spesifikasi Pengukuran

Bagian ini menyajikan spesifikasi dan desain untuk skala besar sistem on-line pengukuran kerataan otomatis berdasarkan Teknik proyeksi moiré. Situs adalah diujung garis pemotongan mekanik, sebelum menyamaratakan dingin. Standar pengukuran pada pabrik piring Rautaruukki Baja di Raahe mempunyai spesifikasi kerataan pada pengukuran ini adalah 6 mm / m (H / L) dan Nilai kerataan khusus 3 mm / m sering dibutuhkan. Tujuan teknis untuk merancang sistem pengukuran adalah:1. Kedalaman resolusi 0,3 mm2. Kedalaman bahan sedikitnya 350 mm3. Panjang minimum dari gelombang interval L adalah

300 mm4. Maksimum waktu pengukuran 1 detik5. Suhu malsimum pelat 100°C6. Suhu operasi +5 ° C - 40 ° C

Resolusi spasial titik pada pelat 10 mm x 10 mmPelat yang akan diukur hingga 3,5 meter lebarnya dan mungkin bisa sampai 4 meter hingga puluhan meter panjangnya. Saat produksi pelat tersebut bisa diam atau bergerak pada kecepatan 1 m / s. Lempeng memiliki sifat permukaan diffusi dan specular, yang dapat bervariasi antara lempeng produk. Pada permukaannya mungkin memiliki debu, air, minyak atau berbagai jenis anomali.Sistem ini diharapkan mencapai kehandalan operasional tinggi dan harus mengukur secara otomatis sebesar 99% dari produk piring yang melewati lokasi pengukuran. Sistem ini harus steril dari cahaya, debu, getaran, dan medan elektromagnetik.2) Desain dari Sistem Pengukuran Kerataan

Sistem ini terdiri dari tiga bagian utama: Unit pengukuran optomechanical, sebuah frame grabber DSP dan sejumlah PC dengan user interface (lihat Gambar. 12). Kontrol dan sinyal data yang ditransfer antara tiga unit utama.

Gambar 7. Bagian utama dari sistem pengukuran kerataan.Sistem ini terhubung ke sistem komputer server pabrik

dan proses komputer PC dikontrol melalui LAN (Local Area Network). Pengukuran disinkronkan dengan aliran material pada garis produksi , dan pelat baja yang akan

3

diukur diidentifikasikan oleh angka. Kebutuhan plat nomor, dimensi dan kerataan dibaca dari database pabrik itu melalui LAN, dan pengukuran dapat dilihat secara nyatapada user interface. Peta kerataan piring disimpan pada hard disk dari PC host untuk kemudian digunakan untuk diagnosa dan penyimpangan kerataan maksimum dikirim ke database pabrik itu melalui LAN. Pergerakan lempeng pada produksi diikuti oleh saklar ultrasonik dan pemutaran encoder. Lain interface yang diperlukan dari sistem ini adalah power supply dan koneksi tekanan udara untuk mendinginkan pencerah unit pengukuran optomechanical dan membuat tekanan sedikit berlebih disekitar komponen optik untuk menghilangkan debu. Antarmuka eksternal dari sistem dapat dilihat pada Gambar. 13.

Gambar 8. Antarmuka eksternal dari sistem pengukuran kerataan.

Unit pengukuran optomechanical menghasilkan pinggiran moiré. Unit pengukuran dipasang diatas jalur produksi pada bingkai baja dasar yang terisolasi dari jalur produksi. Jarak dari permukaan pelat yang akan diukur dari lensa proyeksi sekitar 4,9 meter. Instalasi unit pengukuran di pabrik piring ditampilkan pada Gambar. 14. Latar belakang dalam pencahayaan tergantung pada waktu, hari dan tahun (lihat Gambar. 14). Moiré kontur tidak dapat berfungsi dengan baik ketika menggunakan sistem tanpa penutup dan pelindung pengukuran daerah terhadap pencahayaan lingkungan.

Gambar 9. Pemasangan unit pengukuran dalam pabrik piring.

3) Desain Optomechanical dari Unit PengukuranRincian yang paling penting dari desain ini dilihat dari

sudut pandang optik adalah kebutuhan akan resolusi kedalaman yang tinggi, daerah pengukuran yang besar, daya pencahayaan yang cukup, dan stabilitas mekanik. Proyeksi Sistem moiré dapat dibagi menjadi tiga subsistem: sistem proyeksi, sistem pencahayaan, dan sistem pengawasan. Pertama merancang sistem proyeksi, setelah itu sistem pengamatan dan yang terakhir adalah sistem pencahayaannya. Untuk menentukan sudut antara sistem observasi dan proyeksi, resolusi kedalaman, resolusi pinggiran dan periode kisi pada pelat baja harus dipastikan terlebih dahulu.

Sistem proyeksiSistem proyeksi terdiri dari kisi dan optik proyeksi.

Struktur periodik dari kisi-kisi dicitrakan dan diperbesar ke permukaan untuk diukur. Tiga enlargers untuk proyeksi optik diuji dalam desain kerja: lensa 50 mm, lensa 90 mm dan lensa 210 mm. Lensa focal length yang pendek akan mengizinkan jarak kebuntuan lebih pendek namun membutuhkan kinerja baik off-axis. Jadi pendek lensa fokus yang panjangnya 50 mm menggunakan sudut bidang yang kurang tetapi membutuhkan perbesaran yang lebih besar untuk menutupi lebar bidang sekitar 4 meter. Perbesaran yang lebih besar mengimplementasikan kebutuhan untuk menggunakan kisi-kisi yang lebih halus dan karenanya resolusi dari lensa menjadi lebih besar. Kualitas dari kisi diproyeksikan dan dievaluasi selama sistem itu bekerja dengan cara target putih dilihat langsung dengan kamera video yang diperbesar untuk dilihat pada monitor video. Berbeda dari kisi-kisi telah diteliti dengan menggunakan penganalisis video, yang memberikan profil tegangan untuk jalur video. Baik 50 mm dan lensa 90 mm memberikan hasil dalam percobaan yang menunjukkan penurunan signifikan dalam kinerja di area yang diperlukan. lensa 90 mm adalah lebih baik dari lensa 50mm, nilai kontras sekitar 60 % di tengah bidang untuk sekitar 15% satu meter dari pusat, sedangkan gambar dari lensa 50 mm hilang karena kebisingan meter dari pusat. Kinerja terbaik dicapai dengan lensa Rogonar- s

4

Rodenstock 210 mm, yang hanya menunjukkan sedikit degradasi kontras kisi pada tepi area pengukuran. Kontras bervariasi dari 60% menjadi 80% pada tepi area pengukuran. Kebuntuan sistem tersebut menjadi sama besar seperti 4,5 meter atau lebih karena untuk penggunaan lensa 210 mm dan kebutuhan untuk daerah pengukuran besarnya sekitar 4 m. Penggunaan lensa 50 mm atau lensa 90 mm akan menghasilkan degradasi kinerja dengan penyimpangan yang signifikan dan tidak sesuai. Proyeksi satu baris kisi pada perbesaran 21x disimulasikan dengan menggunakan desain KidgerOptics dan simulasi perangkat lunak. Dengan perbesaran ini periode kisi dari 0,95 LP / mm dapat dicapai pada objek dari 20 LP / mm dan bidang yang luas sekitar 4 m dapat ditutupi dengan ukuran kisi kurang dari 200 mm. Karena tidak ada spesifikasi teknis yang rinci simulasi dibuat menggunakan lensa tunggal setara dengan panjang fokus 200 mm dan diameter 50 mm. Hasil simulasi, disajikan pada Gambar. 15, menunjukkan penyebaran dari garis karena penyimpangan lensa.

Gambar 10. Sebuah proyeksi simulasi satu baris kisi di permukaan.

Sistem pengamatan Gambar sistem pengawasan permukaan objek bersama-

sama dengan diproyeksikan kisi ke kedua, deteksi kisi. Sistem pengamatan bisa menjadi kembar dari sistem proyeksi, tetapi ini akan memerlukan kondensor besar sekitar 200 mm, dan kondensor dengan pencitraan yang baik tidak mudah ditemukan dan akan lebih mahal daripada lensa yang lebih kecil. Sebaliknya pembesar dengan panjang fokus 105 mm dan 40 LP / mm kisi memiliki perbesaran 42x. Ukuran kisi sekitar 100 mm diperlukan untuk kebutuhan kondensor. Lebar daerah pengukuran dihitung dari geometris optik menjadi 4163 mm dengan jarak kebuntuan dari 4600 mm.

Sistem pencahayaanCahaya dari area pengukuran besar harus efisien dan

cukup seragam. Sistem pencahayaan didasarkan pada tradisional sistem memproyeksikan, dengan cermin cekung memantulkan kembali ke sumber cahaya dan kondensor di

kedua modul pencahayaan dan modul kamera, seperti terlihat pada Gambar. 17. Salah satu komponen penting adalah kecil, sumber cahaya daya tinggi. Waktu hidup satu bulan atau lebih ditentukan. Sumber cahaya harus tersedia sebagai produk saham, karena kemudian dapat diganti dengan mudah dan murah selama pemeliharaan. Juga, membutuhkan power supply khusus harus dihindari. Distribusi spektral sumber harus sesuai dengan responsitivity spektral kamera, dan cahaya harus diarahkan dan difokuskan melalui sistem optik. Sebuah Throughput cahaya maksimum akan menghasilkan dari sumber yang dicitrakan ke aperture dari lensa proyeksi, dan untuk ini sumber titik diperlukan. Throughput daya dari sumber titik ke detektor kamera adalah dihitung berdasarkan asumsi bahwa 9% dari radiasi dari sumb akan dikumpulkan oleh kondensor, cermin cekung akan meningkatkan daya radiasi sebesar 3%, transmitansi dari kisi-kisi akan menjadi 40% dan pelat baja tidak akan menyerap cahaya dan akan mewakili sepenuhnya permukaan difus. Nilai-nilai transmitansi dari lensa didasarkan pada mereka spesifikasi teknis atau perkiraan. Nilai-nilai yang digunakan dalam throughput perhitungan disajikan pada Tabel 4. Tabel 4. Radiasi dan transmisi efisiensi yang digunakan untuk menghitung Throughput listrik.

Kekuatan distibusi dari pengukuran area, disimulasikan dengan Kidger Optics software.

Gambar 11. Kekuatan Distribusi dari Pengukuran AreaSebuah konstruksi optomechanical yang stabil

diperlukan untuk mencapai kinerja tinggi dan stabilitas jangka panjang dalam kondisi pabrik piring. Hal ini diperlukan untuk menyesuaikan komponen optik selama komposisi sistem.

4) Metode Visualisasi

5

Pada system ini untuk metode visualisasi dari perhitungan menggunakan “image analysis software”. Bagian ini menyajikan algoritma yang digunakan untuk menafsirkan citra moiré. Objek utama dari analisa ini adalah fringe dengan resolusi 1/20 dari real time dan ketahanannya. Algoritma harus mampu menafsirkan gambar fringe meskipun terdapat variasi sifat permukaan dalam produk plat.

Gambar fringe sistem mencakup fringe bias yang dicapai dengan memiringkan Unit optomechanical dan memungkinkan ketidaksesuaian rotasi antara kisi-kisinya. Tujuannya adalah untuk membantu kedua interpretasi visual fringe dan pemeriksaan produk plat melalui gambar monitor. Jika diperlukan, operator dapat melihat gambar monitor dan mengamati garis lurus dalam kasus plat datar. Penggunaan fringe Bias juga menyederhanakan pengolahan gambar, karena fringe terutama vertikal dan terbuka dicitrakan frekuensi, sedangkan pinggiran circular tertutup dapat diartikan sebagai pertanda suatu plat non-datar tanpa nilai kerataan akurat. Fringe vertikal adalah mereka yang bertepatan dengan arah garis dan arah vertical gambar kamera.

Dengan memiringkan sistem untuk fringe bias juga mungkin untuk menghindari atau mengurangi silau dari permukaan logam. Rentang dinamis dari kamera diatur ke 52 mencakup semua jenis utama dari produk piring yang melewati daerah pengukuran. jumlah gambar yang diambil dari setiap lempeng saat lewat, proses pencitraan yang disinkronkan dengan pergerakan lempeng untuk mencegah tumpang tindih gambar. Gambar-gambar sekuensial kemudian dikombinasikan untuk membentuk satu set data kerataan untuk seluruh piring.

Gambar 12. Proses Visualisasi dari Topografi Moire

5) KalibrasiMetode Kalibrasi sistem ini dilakukan dengan cara

mentransformasikan informasi data berupa phase menjadi flatness. Informasi phase dinyatakan dalam satuan radian dan informasi flatness dalam milimeter. Metode kalibrasi sistem ini berdasarkan pada teori atau koreksi pada

referensi obyek, semisal data yang dihasilkan berbentuk flat atau irisan. Pada metode koreksi teoritis tidak termasuk pengaruh penyimpangan dan kesalahan yang tidak sejajar (Kujawinska & Patorski 1993). Salah satu metode yang praktis adalah menggunakan referensi obyek, dalam hal ini kalibrasi dlakukan dengan cara memperhitungkan baik aberasi optis dan ketidaksejajaran mekanis.

Obyek referensi diukur dan diketahui bernilai 0,1 mm, toleransi menggunakan alat bengkel standar, dan terdiri dari dua tingkatan dengan ketinggian berbeda yang dikenal dengan pergeseran fasa citra moiré. Sebuah gambar teknis objek diberikan pada Gambar. 19. Dimana nilai kalibrasi digunakan atas wilayah pengukuran keseluruhan, mewakili rata-rata dari empat gambar dari objek kalibrasi terletak di berbagai bagian daerah pengukuran. Kesalahan karena penggunaan hanya satu nilai kalibrasi kurang dari 0,1 mm (lihat Bagian 5.1). Jika diperlukan, daerah pengukuran bias 54 dibagi menjadi subareas, masing-masing memiliki nilai kalibrasi sendiri. Kalibrasi didukung oleh perangkat lunak kalibrasi, dan sekarang dilakukan secara teratur empat kali dalam setahun. Obyek kalibrasi memiliki permukaan difus tanpa gangguan.

Gambar 13. Metode Kalibrasi Moire

IV.KESIMPULANAdapun kesimpulan yang diperoleh antara lain :

1. Moire Topografi digunakan untuk mengukur dan menampilkan bentuk 3D dari suatu objek.

2. Metode analisa yang digunakan dalam analisa frinji sama dengan metode yang digunakan pada interferogram, walaupun kedua metode ini menggunakan prinsip optik yang berbeda.

3. Pada system ini untuk metode visualisasi dari perhitungan menggunakan “image analysis software”. Bagian ini menyajikan algoritma yang digunakan untuk menafsirkan citra moiré.

4. Metode Kalibrasi sistem ini dilakukan dengan cara mentransformasikan informasi data berupa phase menjadi flatness. Informasi phase dinyatakan dalam satuan radian dan informasi flatness dalam milimeter.

REFERENCES

6

[1] ABB 1997. ABB Stressometer Measuring Roll. Product information.

[2] Air Gage Company 1992. CADEYES 3D inspection system. Product guide.

[3] Arai, Y. & Kurata, T. 1988. Binarization of scanning moiré fringe pattern.

[4] Optics and Lasers in Engineering, Vol. 8, Nos 3 & 4, pp. 263 - 275. ISSN 0143-8166 ASTM designation: A 568/A 568M - 96. 1996. Standard specification for steel, sheet, carbon, and high-strength, low-alloy, hot-rolled and cold-rolled, general requirements. ASTM American Society for Testing and Materials, 1996. 22 p.

[5] Asundi, A. 1993. Computer aided moiré methods. Optics and Lasers in Engineering, Vol. 18, No. 3, pp. 213 - 238. ISSN 0143-8166

[6] Asundi, A., Sajan, M. R., Olson, G. & Walker, J. N. 1994. Digital moiré applications in automated inspection. Machine Vision Applications, Architectures, and Systems Integration III, Boston, USA, 31 October – 2 November 1994. SPIE, Vol. 2347, pp. 270 - 275. ISBN 0-8194-1682-7

[7] Asundi, A. & Sajan, M. R. 1995. Peripheral inspection of objects. Optics and Lasers in Engineering, Vol. 22, No. 3, pp. 227 - 240. ISSN 0143-8166 Bahners, T., Ringens, W. & Schollmeyer, E. 1994. On-line inspection of textile geometries. Laser Dimensional Metrology: Recent Advances for Industrial Application, Brighton, UK, 5 - 7 October 1993. SPIE, Vol. 2088, pp. 97 - 103. ISBN 0-8194-1359-3

[8] Besl, P. J. 1988. Active optical range imaging sensors. Machine Vision and Applications, Vol. 1, No. 2, pp. 127 - 152. ISSN 0932-8092

[9] Bieman, L. H. & Michniewicz, M. A. 1994. Large angle incoherent structured light projector. Imaging and Illumination for Metrology and Inspection, Boston, USA, 31 October - 4 November 1994. SPIE, Vol. 2348,pp. 165 - 169. ISBN 0-8194-1683-5

[10] Blatt, J. H., Hooker, J. A., Belfatto, R. V. & Young, E. 1990. 3-D inspection of large objects by moiré profilometry. Southcon/90 Conference Record, Orlando, USA, 20 - 22 March 1990. Piscataway (NJ): IEEE. Pp. 96 - 100.

[11] Blatt, J. H., Cahall, S. C. & Hooker, J. A. 1992 a. Variable resolution video moiré error map system for inspection of continuously manufactured objects. Industrial Applications of Optical Inspection, Metrology, and Sensing, Boston, USA, 19 - 20 November 1992. SPIE, Vol. 1821, pp. 296 -303. ISBN 0-8194-1022-5 82

[12] Blatt, J. H., Hooker, J. & Caimi, F. M. 1992 b. Adaptation of video moiré techniques to undersea mapping and surface shape deformation. Optics and Lasers in Engineering, Vol. 16, Nos 4 & 5, pp. 265 - 278. ISSN 0143-8166

[13] Boehnlein, A. J. & Harding, K. G. 1989. Field shift moiré, A new technique for absolute range

measurement. Fringe Pattern Analysis, San Diego, USA, 8 - 9 August 1989. SPIE, Vol. 1163, pp. 2 - 13. ISBN 0-8194-0199-4

[14] Boehnlein, A. J. & Harding, K. G. 1986. Adaptation of a parallel architecture computer to phase shifted moiré interferometry. Optics, Illumination, and Image Sensing for Machine Vision, Cambridge, USA, 30 -31 October 1986. SPIE, Vol. 728, pp. 183 - 194. ISBN 0-89252-763-3

[15] Broner Group Ltd. 1991. Optiflat XAM. Technical Summary. Cardenas-Garcia, J. F., Zheng, S. & Shen, F. Z. 1994. Implementation and use of an automated projection moiré experimental set-up. Optics and Lasers in Engineering, Vol. 21, Nos 1& 2, pp. 77 - 98. ISSN 0143-8166

[16] Chiang, F. 1979. Moiré methods of strain analysis. Experimental Mechanics, Vol. 19, No. 8, pp. 290 - 308. ISSN 0014-4851

[17] Cielo, P. 1988. Optical Techniques for Industrial Inspection. San Diego, USA: Academic Press Inc. 606 p. ISBN 0-12-174655-0

[18] Clarke, T. A., Robson, S. & Chen, J. 1993. A comparison of three methods for the 3-D measurement of turbine blades. Measurement Technology and Intelligent Instruments, Wuhan, China, 29 October - 5 November 1993. SPIE, Vol. 2101, pp. 1 - 12. ISBN 0-8194-1384-4

7