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Physique du Solide
V. Semiconducteurs à l'équilibre
Matériaux semiconducteurs
Semiconducteurs intrinsèques
Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
ln
1/T
SC pur
SC impur
Matériaux semiconducteurs
Résistivité : Métaux < 10-4 cmIsolants > 1010 cmSemiconducteurs 10-4 < < 1010 cm
Grande influence :- de la préparation des échantillons- des perturbations extérieurs
Quels sont les matériaux qui présentent ces comportements ?
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
1 1,008
1 numéro atomique masse atomique3 6,939 4 9,012 4 9,012
structure électronique symbole solide artificielliquide
2 11 23,00 12 24,31 nom gaz
319 39,10 20 40,08 21 44,96 22 47,90 23 50,94 24 52,00 25 54,94 26 55,85 27 58,93 28 58,71 29 63,55
437 85,47 38 87,62 39 88,91 40 91,22 41 92,91 42 95,94 43 98,91 44 101,1 45 102,9 46 106,4 47 107,9
555 132,9 56 137,3 57 198,9 72 178,5 73 180,9 74 183,9 75 186,2 76 190,2 77 192,2 78 195,1 79 197,0
687 223 88 226 89 227
7
* 58 140,1 59 140,9 60 144,24 61 145 62 150,35 63 152,0 64 157,3
Lanthanides6
** 90 232,0 91 231 92 238,0 93 237,1 94 244 95 243 96 247
Actinides7
/------------------------8------------------------\ 1B4B 5B 6B 7B
1AGroupe
2A
3B
H
Li
Sodium Magnésium
Be1s22s2
1s1
Hydrogène
Be1s22s21s22s1
Beryllium
Na Mg(Ne)3s1 (Ne)3s2
BerylliumLithium
K Ca(Ar)4s1 (Ar)4s2
Potassium Calcium
Rb Sr(Kr)5s1 (Kr)5s2
Rubidium Strontium
Cs Ba(Xe)6s1 (Xe)6s2
Césium Barium
Fr Ra(Rn)7s1 (Rn)7s2
Francium Radium
Sc(Ar)3d14s2
Scandium
Y(Kr)4d15s2
Yttrium
La*(Xe)5d16s2
Lanthane
Ac**(Rn)6d17s2
Actinium
Ti V Cr(Ar)3d24s2 (Ar)3d34s2 (Ar)3d54s1
Titane Vanadium Chrome
Zr Nb Mo(Kr)4d25s2 (Kr)4d45s1 (Kr)4d55s1
Zirconium Niobium Molybdène
W(Xe)4f145d26s2 (Xe)4f145d36s2 (Xe)4f145d46s2
Tantale Tungstène
MnMaganèse
(Kr)4d55s2
ReRhénium
Hf Ta
Fe Co(Ar)3d54s2 (Ar)3d64s2 (Ar)3d74s2
Fer Cobalt
Tc Ru Rh(Kr)4d75s1 (Kr)4d85s1
Technétium Ruthénium Rhodium
Os Ir(Xe)4f145d56s2 (Xe)4f145d66s2 (Xe)4f145d76s2
Osmium Iridium
Ni CuNickel Cuivre
(Kr)4d105s0 (Kr)4d105s1
Pt Au
(Ar)3d84s2 (Ar)3d104s1
Pd AgPalladium Argent
Platine Or
(Xe)4f145d106s0 (Xe)4f145d106s1
Ce Pr Nd Pm Sm Eu Gd(Xe)4f75d16s2
Cérium Praséodyme Néodyme Prométhium Samarium Europium Gadolinium
(Xe)4f25d06s2 (Xe)4f35d06s2
U Np
(Xe)4f65d06s2 (Xe)4f75d06s2(Xe)4f45d06s2 (Xe)4f55d06s2
Cm(Rn)5f06d27s2 (Rn)5f26d17s2 (Rn)5f36d17s2 (Rn)5f56d07s2 (Rn)5f66d07s2 (Rn)5f76d07s2 (Rn)5f76d17s2
Th PaThorium Protactinium Uranium Neptunium Plutonium Américium Curium
Pu Am
2 4,003
5 10,81 6 12,01 7 14,01 8 15,99 9 18,99 10 20,18
13 26,98 14 28,09 15 30,97 16 32,06 17 36,45 18 39,95
30 65,38 31 69,72 32 72,59 33 74,92 34 78,96 35 79,91 36 83,80
48 112,4 49 114,8 50 118,7 51 121,8 52 127,6 53 126,9 54 131,3
80 200,6 81 204,4 82 207,2 83 209,0 84 210 85 210 86 222
65 158,9 66 162,5 67 164,9 68 167,3 69 168,9 70 173,0 71 175,0
97 247 98 251 99 254 100 257 101 256 102 254 103 257
GAZ
2B
3A
RARES
7A6A5A4A
Zn(Ar)3d104s2
Zinc
Cd(Kr)4d105s2
Cadmium
Mercure
Hg(Xe)4f145d106s2
Ga Ge(Ar)3d104s24p1 (Ar)3d104s24p2
Gallium Germanium
In Sn(Kr)4d105s25p1 (Kr)4d105s25p2
Indium Étain
B C1s22s22p1 1s22s22p2
Bore Carbone
Al Si(Ne)3s23p1 (Ne)3s23p2
Aluminium Silicium
N O1s22s22p3 1s22s22p4
Azote Oxygène
P S(Ne)3s23p3 (Ne)3s23p4
Phosphore Soufre
F Ne1s22s22p5 1s22s22p6
Argon
Fluor Néon
Cl Ar
He1s2
Hélium
As Se Br Kr
(Ne)3s23p5 (Ne)3s23p6
Chlore
(Ar)3d104s24p3 (Ar)3d104s24p4 (Ar)3d104s24p5 (Ar)3d104s24p6
Arsenic Sélénium Brome Krypton
Sb Te I XeIode Xénon
(Kr)4d105s25p3 (Kr)4d105s25p4 (Kr)4d105s25p5 (Kr)4d105s25p6
Bi Po
Antimoine Tellure
At Rn(Xe)4f145d106s26p1 (Xe)4f145d106s26p2 (Xe)4f145d106s26p3 (Xe)4f145d106s26p4 (Xe)4f145d106s26p5 (Xe)4f145d106s26p6
Tl PbThalium Plomb Bismuth Polonium Astate Radon
Dy Tm YbTbTerbium
(Rn)5f76d27s2
Lu(Xe)4f95d06s2 (Xe)4f105d06s2 (Xe)4f115d06s2 (Xe)4f125d06s2 (Xe)4f135d06s2 (Xe)4f145d06s2 (Xe)4f145d16s2
Ho ErLutétium
Bk Cf Es Fm Md No (Lw)
Dysprosium Holmium YtterbiumErbium Thulium
Berkélium Californium Einsteinium Fermium Mendéléviuml Nobélium Laurencium
(Rn)5f96d17s2
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Ge : (Ar)3d104s24p2 : 4 électrons de valence
Matériaux semiconducteurs : Colonne IV : Si, Ge, C, … III - V : GaAs, InSb II - VI : CdTe, …
Structure électronique :
Si : (Ne)3s23p2 : 4 électrons de valence
Ga : (Ar)3d104s24p1 : 3 électrons de valenceAs : (Ar)3d104s24p3 : 5 électrons de valence
En moyenne4 électronsde valence
Etc.
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Structure cristallographique :
Structure diamantSi,Ge,C
Structure ZincblendeGaAs, InSb
4 plus proches voisins (ppv) avec une coordination tétraédrique
Quelques II-VI : structure wurtzite, NaCl
Structure cfc
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Si, cfc, a = 5,431 Å
Atomes en (0;0;0) et (¼; ¼;¼)
Si : 4 électrons de valence
8 électrons / maille
Hybridation sp3
Les 4 électrons de chaque Si forment des liaisons covalentes avec les 4 ppv
Distance entre ppv : 2,33 Å
4 électrons de valence + structure cfc avec motifSemiconducteur, Pourquoi ?
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
1ère Zone de Brillouin d'une structure cfc
kx
ky
kz
X
L
K
Point : Centre de zone
Direction : Direction 100 et équivalentesDirection : Direction 111 et équivalentesDirection : Direction 110 et équivalentes
Point X : Bord de zone dans la direction 100 et équivalentesPoint L : Bord de zone dans la direction 111 et équivalentesPoint K : Bord de zone dans la direction 110 et équivalentes
Réponse : Structure de bande
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Structure de bandes de Ge, Si et GaAs
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Ingénierie du gap : Alliages ternaires - quarternaires
Alliages de type AlxGa1-xAs
Variation du gap en , X et en L pour un alliage AlxGa1-xAs en fonction de x
Autres substitutions possibles
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Composés III-V : paramètre de maille en fonction du gap et de la longueur d'onde correspondante.
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
ECEV
g(E), f(E)
EF
T = 0 K
Électrons et Trous : Structure de bandes
Semiconducteur : 2 bandes séparées par un gap
Ordre de grandeur : Si : Eg = 1,12 eVGaAs : Eg = 1,42 eV
T = 0 K :
Bande de Valence (BV) <=> Bande de Conduction (BC)
BV pleine, BC vide
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
ECEV
g(E), f(E)
EF
T > 0 K
A T > 0 K, le taux d'occupation des états est donné par ladistribution de Fermi-Dirac:
TkEE
exp1
1Ef
B
F
Attention : Jargon !
EF = µ !!!
Quelques électrons passent de la BV à la BC,Ils sont thermiquement activés
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Pour les propriétés de transport :
Quelques électrons dans la BCQuelques trous dans la BV
Leur nombre est très inférieur au nombre d'états disponibles
ECEV
g(E), f(E)
EF
T > 0 K
Les électrons : en bas de la BCLes trous : en haut de la BV
Il faut connaître les masses effectives en bas de la BCen haut de la BV
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Masse effective dans la BC : Matériau à gap direct (ex. GaAs)
Le minimum est situé en
2
2
kE
est isotrope (ne dépend pas de la direction)
Développement de E(k) autour de 2*C
2
C km2
EE
, i.e. une loi de style électrons libres caractérisés par une masse effective isotrope mC
*
Surface E - EC = const.
Sphère centrée en de rayon C2
*C EE
m2k
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Masse effective dans la BC : Matériau à gap indirect (ex. Si, Ge)
Le minimum n'est pas situé en
Pour Si : à 0,85 XPour Ge : en L sur le bord de zone
Pour Si : 6 minima (6 * (100))Pour Ge : 8 minima (8 * (111))
La masse effective n'est pas isotrope
Relation de dispersion :
3,2,1i
2i*
i
2
C km2
EE
En principe 3 masses effectives mi*
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
En réalité : pour des raisons de symétrie :
Pour Si : 1 masse longitudinale ml* suivant (100)
1 masse transverse mt* suivant deux directions (100)
T
Pour Ge : 1 masse longitudinale ml* suivant (111)
1 masse transverse mt* suivant deux directions (111)
T
Les surfaces E - EC = const. : ellipsoïdes de rotation
SiGe
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Masse effective dans la BV :
E
k
lh
hh
SO
Le maximum est situé en 3 bandes se trouvent près du maximum
La bande spin-orbite (SO) à quelques dizaines de meV en dessous de EV (négligeable)
2 bandes confondues en mais avec des courbures différentes
Une bande de trous lourds : mhh*
Une bande de trous légers : mlh*
Les masses effectives sont presque isotropes
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Densité d'états et masse effective de densité d'états
Un électron occupe un volume de dans l'espace des k
(Conditions aux limites périodiques)
3
L2
21
BC pour un matériau à gap direct :2
*C
2
C km2
EELa relation de dispersion s'écrit :
Dans une sphère de rayon k on peut placer N électrons avec :
2
33
3
3
3k
L
L2
21
k34
N
ou 2
3
C
23
2
*C
23 EEm2
31
LN
n
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Si E augmente de dE il y aura dn électrons/unité de volume de plus
La densité d'état est
21
C
23
2
*dC
2 EEm2
21
dEdn
Eg
mdC* : masse effective de densité d'état = mC
*
BC pour un matériau à gap indirect
3,2,1i
2i*
i
2
C km2
EE
Pour un minimum :
La surface E - EC = const. : ellipsoïde avec les trois axes :
C2
*i
i EEm2
k
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Le volume de l'ellipsoïde : 2321
*3
*2
*13321 8
3
4
3
4)( CEEmmmkkkEV
Dans ce volume, on peut placer N électrons avec : 32
21
)()(
L
EVEN
34
)(
EV
n
La densité d'états pour un ellipsoïde est :
21
C21
*3
*2
*132 EEmmm8
21
dEEdn
Eg
Avec M ellipsoïdes dans la 1ère Zone de Brillouin, la densité d'états totale est :
21
C21
*3
*2
*132 EEmmm8
2M
Eg
M : Multiplicité (Multivalley)
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Définition : Masse effective de densité d'états
21
C
23
2
*dC
2
!21
C21
*3
*2
*132 EE
m2
21
EEmmm82
MEg
En conséquence : 31
*3
*2
*1
2*dC mmmMm
Exemples
Si
1 masse longitudinale ml*
2 masses transverses mt*
6 ellipsoïdes : M = 6
312*t
*l
2*dC mmMm
ml* = 0,98 m0 mt
* =0,19 m0
0*dC m08,1m
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Ge
1 masse longitudinale ml*
2 masses transverses mt*
8 demi - ellipsoïdes : M = 8/2 = 4
312*t
*l
2*dC mmMm
ml* = 1,64 m0 mt
* = 0,082 m0
0*dC m56,0m
Remarque : Les masse effectives sont généralement donnéesen unités de la masse de l'électron librem0 = 9,1093897 10-31 kg
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
BV - Combinaisons des trous lourds et des trous légers
La densité d'état est la somme des densités des 2 bandes :
21
V23
2
*dV
2
!
21
V23
2
*lh2
3
2
*hh
2lhhh
EEm2
21
EEm2m2
21
EgEgEg
Définition de la masse effective de densité d'états
32
23
*lh
23
*hh
*dV mmm
Pour le Si : mhh* = 0,49 m0; mlh
* = 0,16 m0
mdV* = 0,55 m0
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
En résumé :
BC gap direct
BC gap indirect
BV
Masse effectiveMasse effective
de densité d'états1
2n
22*
kE
m
**C mm isotrope *
C*dC mm
M minima 312*t
*l
2*dC mmMm
*tm*lm
*hhm*lhm
trous lourds
trous légers32
23
*lh
23
*hh
*dV mmm
V. Semiconducteurs : Matériaux
Physique du Solide
Semiconducteurs intrinsèquesE
k
EC
EV=0Eg
Définitions :
n = n(T) : Nombre des électrons dans la bande de conduction à température T
p = p(T) : Nombre des trous dans la bande de valenceà température T
EC : Énergie minimale de la BC (indépendante du nombre de minima)
EV : Énergie maximale de la BV
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
Concentration des porteurs : électrons dans la BCE
k
EC
EV=0
Eg
Avec la notion de la densité d'états :
CC E
B
F
21
C23
2
*dC
2E
TkEE
exp1
dEEEm2
21
dEEfEgTn
Changement de variable :TkEE
xB
C
0
21
23
B
23
2
*dC
2 xexp1dxx
Tkm2
21
Tn
avec
Intégrale de Fermi - Dirac
21FTkEE
B
CF
Pas de solution analytique mais 2 cas limites
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
L'approximation de Boltzmann : 1TkEE
B
FC
Signification : EF est beaucoup plus petit que EC et se situe à l'intérieur du gap
2TkEE
expdxxeTkEE
exp
dxxxexpxexp1
dxxF
B
CF
0
21
x
B
CF
0
21
0
21
21
On a : 1TkEE
xB
F
On obtient pour la concentration des électrons :
TkEE
expNnB
CFC
avec
23
2B
*dC
C 2
Tkm2N
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
TkEE
expNnB
CFC
avec
23
2B
*dC
C 2
Tkm2N
NC : densité d'états effective de la BCEn remplaçant les constantes :
323
23
0
*dC25
C m300T
mm
105,2N
Exemples numériques :
Si : NC = 2,8 1025 m-3
Ge : NC = 1,04 1025 m-3
GaAs : NC = 4,7 1023 m-3
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
Interprétation de l'approximation de Boltzmann :La statistique de Fermi - Dirac est remplacée par la statistique de Maxwell - Boltzmann
TkEE
exp
TkEE
exp1
1Ef
B
F
B
F
Il y a tellement peu d'électrons (<< 1025) par rapport à la densité d'états (~ 1030), que le principe de Pauli ne se manifeste plus
ECEV EF
Fermi
Boltzmann
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
0.1
1
10
Intégrale de Fermi - Dirac
F1/
2
EF
Approximation des électrons libres : 1TkEE
B
CF
EF se situe à l'intérieur de la BC :
Semiconducteur dégénéré !
23
0
21
21 32
xexp1dxx
F
ou 23
CF
23
2
*dC
2 EEm2
31
n
23
2*dC
2
CF n3m2
EE
Même résultat que pour les électrons libres de masse mdC
*
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
Concentration des porteurs : trous dans la BVE
k
EC
EV=0
Eg
Avec la notion de la densité d'états :
VV E
B
F
21
V23
2
*dV
2
E
TkEE
exp1
dEEEm2
21
dEEf1EgTp
Changement de variable :Tk
EEx
B
V
0
21
23
B
23
2
*dV
2 xexp1dxx
Tkm2
21
Tp
avec
Intégrale de Fermi Dirac
21FTkEE
B
FV
Pas de solution analytique mais 2 cas limites
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
L'approximation de Boltzmann : 1TkEE
B
VF
Signification : EF est beaucoup plus grand que EV et se situe à l'intérieur du gap
2Tk
EEexpF
B
FV21
On obtient pour la concentration des trous :
TkEE
expNpB
FVV
avec
23
2B
*dV
V 2
Tkm2N
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
NV : densité d'états effective de la BVEn remplaçant les constantes :
323
23
0
*dV25
V m300T
mm
105,2N
Exemples numériques :
Si : NV = 1,04 1025 m-3
TkEE
expNpB
FVV
avec
23
2B
*dV
V 2
Tkm2N
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
Approximation des électrons libres : 1TkEE
B
FV
EF se situe à l'intérieur de la BV :
Semiconducteur dégénéré !
23
0
21
21 32
xexp1dxx
F
ou 23
FV
23
2
*dV
2 EEm2
31
p
23
2*dV
2
FV p3m2
EE
Même résultat que pour les "trous" libres de masse mdV*
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
-1.5 -1 -0.5 0 0.5 1 1.5 2 2.5
Position du niveau de Fermi
Chaque électron de la BC vient de la BV en laissant un troun = p
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
-1.5 -1 -0.5 0 0.5 1 1.5 2 2.50
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
-1.5 -1 -0.5 0 0.5 1 1.5 2 2.5
EF se situe vers le milieu du gap
L'approximation de Boltzmann s'applique
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
TkEE
expNpB
FVV
TkEE
expNnB
CFC
*dC
*dVBVC
C
VBVCF m
mln
4Tk3
2EE
NN
ln2Tk
2EE
E
Concentration des porteurs intrinsèques :
2i
!
B
gvC
B
CVvC n
Tk
EexpNN
TkEE
expNNnp
Le produit
ne dépend que de T, mais pas de EF
On appelle : concentration de porteurs intrinsèque
Tk2
EexpNNn
B
gvCi
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
Tk2
EexpNNn
B
gvCi
Pour un SC intrinsèque : n = p = ni
T = 300 K : pour Si : ni = 1,45 1016 m-3 pour GaAS : ni = 1,79 1012 m-3
Effet de compensation :
ni =np = const.
Pour une température donnée :
Si n augmente, p doit diminuer et vice versa !
2
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs intrinsèques
Physique du Solide
Semiconducteurs extrinsèques
Pour le Si : ni = 1,45 1016 m-3
Il y a ~ 5 1028 atomes/m3
Pour avoir un SC intrinsèque,il faut une purification du cristal > 10-12
Impossible !!! Il y a des impuretés et des défauts
Supposition : La densité de défauts et d'impuretés dans le SCest suffisamment faible pour ne pas modifier la structure debandes du SC pur, mais ils donnent lieu à des niveaux d'énergiediscrets.
Matériau parfait : SC intrinsèqueMatériau avec impuretés : SC extrinsèque
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Les niveaux extrinsèques se situent dans le gap :
- niveaux voisins des limites de bandes (shallow levels)
- niveaux profonds proche du milieu du gap (deep levels)
- niveaux donneurs
- niveaux accepteurs
Les niveaux profonds seront traité ultérieurement !
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Donneurs : (Dopage de type n)
--
--
--
--
--
--
- -
- -
- - - -
- -Si
Si
SiSi
Si
Si
Si Si-
As+ - - As+
-
Milieu diélectrique
As : 5 électrons 4 électrons sont pris dans les liaisons
Si : 4 ppvOn remplace un atome de Si par un atome pentavalent :
Le 5ème électron gravite autour l'ion de As+
Schématiquement :C'est l'équivalent d'un atome d'H
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Le potentiel d'interaction s'écrit :re
41
V2
0
La solution de l'équation de Schrödinger pour ce genre de systèmes est connue !
Énergie de liaison :
"Rayon" de l'orbite :
20
*e
4
d 42
meE
2*e
20
B em
4r
Comparaison :
H = 1 me* = m0 Ed = -13,6 eV rB = 0,53 Å
Si = 12 me* = 0,4 m0 Ed = -0,04 eV rB = 13 Å
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Chaque atome d'As ajoute un niveau d'impureté à Ed en-dessous de EC (Concentration ND)
Quelques énergies de liaison
EC-ED (meV) P As Sb
Si 45 49 39Ge 12 13 10
E
EC
EV
EDEd
BDV
BDCT = 0 K
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Accepteurs : (Dopage de type p)
--
- --
--
--
--
- -
- -
- - -
- -Si
Si
SiSi
Si
Si
Si Si
B- - - B-
+
Milieu diélectrique
+
-
B : 3 électrons 3 électrons sont pris dans les liaisonsdans la 4ème liaison il y a une place libre
Si : 4 ppvOn remplace un atome de Si par un atome trivalent :
Schématiquement :C'est l'équivalent d'un atome d'H inversé
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Le calcul se fait de la même manière que pour les donneurs
Chaque atome d'Al ajoute un niveau d'impureté à EA Au-dessus de EV (Concentration NA)
Quelques énergies de liaison
EA (meV) B Al Ga
Si 45 57 65Ge 11 10 10
E
EC
EV
EA
BDV
BDC
T = 0 K
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Compensation :
E
EC
EV
EDEd
BDV
BDC
EA
SC avec ND Donneurs et NA Accepteurs
Si ND > NA ==> SC type n
Si NA > ND ==> SC type p
T = 0 K
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Occupation des niveaux d'impuretés à T > 0 K
L'occupation des niveaux d'impuretés suit la statistique deFermi - Dirac, mais il faut tenir compte de :
- les différents états de charge
- les différents états de spin
- et les combinaisons possibles entre eux
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Donneurs :
E
EC
EV
EDEd
BDV
BDC
étationisé
étatneutre
Concentration ND = ND0 + ND
+
Le nombre de niveaux dedonneurs neutres :
TkEE
expg1
1
1NN
B
FD
D
D0D
gD : facteur de dégénérescence (pour des donneurs monovalentset deux états de spin possible, gD = 2)
Nous cherchons ND+ parce que cela correspond au nombre
d'électrons qui sont passés dans la BC
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Nombre de donneurs ionisés :
TkEE
expg1
NNNN
B
DFD
D0DDD
EF
Ln ND+
ND
ED
i)ii)
T1
T2
T1 < T2
Deux comportement limites :
i)
ii)
1TkEE
B
DF
TkEE
expgN
NB
FD
D
DD
1TkEE
B
DF
DD NN
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Accepteurs :
E
EC
EV
EA
BDV
BDC
étationisé
étatneutre
Nombre d'accepteurs ionisés NA-
= Nombre de trous dans la BV
TkEE
expg1
NN
B
FAA
AA
gA : facteur de dégénérescence(accepteurs monovalents, 2 étatsde spin et deux bandes : gA = 4)
EF
Ln NA-
NA
EA
T1
T2
T1 < T2
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Équation de neutralité électrique : (ENE)
(Détermination de la position du niveau de Fermi)
Bilan du nombre total des électrons dans un semiconducteur dopé :
On a :
N atomes du SC ==> 4N électrons
ND atomes donneurs ==> 5ND électrons
NA atomes accepteurs ==> 3NA électrons
Au total : 4N + 5ND +3NA électrons
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
nN4NN5N4NN3pN4
N3N5N4
DDDAAA
AD
BVAccepteurs
neutresAccepteurs
ionisésDonneursneutres
Donneursionisés
BC
nNNpN5N3N4 DADA
AD NnNp
Remarque : les calculs de n et p du paragraphe précédent restent valables, c'est la position du niveau de Fermi qui change.
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Résolution de l'équation de neutralité électrique :
On a : AD NnNp
Avec :
TkEE
expg1
NN
B
DFD
DD
TkEE
expg1
NN
B
FAA
AA
Si Boltzmann s'applique
TkEE
expNpB
FVV
TkEE
expNnB
CFC
Solution analytiquerigoureusement
impossible !
mais on peut regarder ce qui se passe dans des cas particuliers
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
1er exemple SC type n, i.e. NA = 0 : nNp D
1er cas : ND + = ND i.e. EF << ED
nNp D 2inpn 0nnNn 2
iD2
D
2i
2DD
N2
n4NNn
2 possibilités :
i) ND >> nin = ND ;
nn
p2i
Ionisation complète des donneurs
D
!
B
CFC N
TkEE
expNn
Régime de saturation
Tous les électrons de la BC proviennent des donneursC
DBCF N
NlnTkEE
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
ii) ND << ni n = p = ni
Comme pour un SC intrinsèque
C
VBVCF N
Nln
2Tk
2EE
E
Tk2
EexpNNn
B
gvCi
Régime intrinsèque
Température limite :
La transition entre les deux régimes aura lieu pour Ti définit par :
iB
gvCD Tk2
EexpNNN
Attention : solution pas simple car NC, NV sont donnés en fonction de T
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
2ème cas : ND + = ND i.e. EF ~ ED/
Température limite par rapport au régime précédent :
EF = EDD
CgBDC N
NlnTkEE
L'équation de neutralité électrique s'écrit :
TkEE
expg1
NNn
B
DFD
DD
Si T << Tg, i.e. EF-ED >> kBT
TkEE
expgN
TkEE
expNB
FD
D
D
B
CFC
Régime du gel
CD
DBCDF Ng
Nln
2Tk
2EE
E
Tk2EE
expgNN
nB
DC
D
DC
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
En résumé :
1/T1/Tg1/Ti
Ln ND
Ln n
gelsaturation
intrinsèque extrinsèque
~Eg
~(EC-ED)
E
EV
EC
ED
TiTg
EF(T)
EFi
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
2ème exemple SC type p, i.e. ND = 0 : ANnp
On retrouve les mêmes régimes que pour un SC type n
- Régime intrinsèque
- Régime de saturation
- Régime de gel
C
VBVCF N
Nln
2Tk
2EE
E
Tk2
EexpNNnnp
B
gvCi
p = NA ; pn
n2i
A
VBVF N
NlnTkEE
A
VABAVF N
Ngln
2Tk
2EE
E
Tk2EE
expgNN
pB
VA
A
AV
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
En résumé :
1/T1/Tg1/Ti
Ln NA
Ln p
gelsaturation
intrinsèque extrinsèque
~Eg
~(EA-EV)
E
EV
EC
EA
TiTg
EF(T)
EFi
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Technique de solution de l'équation de neutralité électrique : solution graphique semiquantitative qui permet de voir quelles sont les approximations qu'on peut faire
TkEE
expg1
NN
B
DFD
DD
TkEE
expg1
NN
B
FAA
AA
TkEE
expNpB
FVV
TkEE
expNnB
CFC
Diagramme de Schockley :
On considère EF comme variable,T comme paramètre et on trace les 4 fonctions dans un même diagramme semi-log
Ensuite on construit les fonctionsp+ND
+ et n+NA- et on trouve leur
intersection.
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
Exemple : SC type nMatériau GaAsGap d'énergie 1,42 eV
NC (300K) 4,70E+23 m-3
NV (300K) 7,00E+24 m-3
Température 300 K
Donneurs
ND 1,00E+17 m-3
EC-ED 0,05 meV
gD 1
1,E+10
1,E+11
1,E+12
1,E+13
1,E+14
1,E+15
1,E+16
1,E+17
1,E+18
1,E+19
1,E+20
1,E+21
1,E+22
1,E+23
1,E+24
1,E+25
0 0,5 1
EF (eV)
p (
m-3)
nNp D L'ENE :
n
p
p+ND+
EF
V. Semiconducteurs : Semiconducteurs extrinsèques
Physique du Solide
V. Semiconducteurs : Résumée
Un semiconducteur est caractérisé par un gap dans sa structure de bandes entre lesétats occupés à T = 0K (Bandes de Valence) et les états vides (Bande de conduction).
le gap peut être direct (GaAs) ou indirect (Si).
A T > 0K, quelques électrons peuvent être activé thermiquement dans la BdC à partir de la BdV en y laissant des trous.
La masse effective de densité d'états est la moyenne pondérée des composantes dutenseur de masse effective calculé à partir de la structure de bandes, pour décrire la répartition des porteurs dans les bandes.
TkEE
expNnB
CFC
avec
23
2B
*dC
C2
Tkm2N
Pour un SC non dégénéré, la concentration des électrons dans la BdC est :
Pour un SC non dégénéré, la concentration des trous dans la BdV est :
TkEE
expNpB
FVV
avec
23
2B
*dV
V2
Tkm2N
Dans l'approximation de Boltzmann :
Physique du Solide
V. Semiconducteurs : Résumée
La condition de neutralité électrique s'écrit : n = p et le niveau de Fermi se situe à :
*dC
*dVBVC
C
VBVCF
m
mln
4Tk3
2EE
N
Nln
2Tk
2EE
E
La concentration de porteur intrinsèque est donné par :
2i
!
B
gvC
B
CVvC n
Tk
EexpNN
TkEE
expNNnp
Tk2
EexpNNn
B
gvCi
Semiconducteurs extrinsèques :Dopage type n : ajout de niveau donneurs proche du minimum de la BdCDopage type p : ajout de niveau accepteurs proche du maximum de la BdV
Nombre de donneurs ionisés :
Tk
EEexpg1
NN
B
DFD
DD
Nombre d'accepteurs ionisés :
TkEE
expg1
NN
B
FAA
AA
La position du niveau de Fermi est fixé par la condition de neutralité électrique : AD NnNp
Physique du Solide
V. Semiconducteurs : Résumée
type nND >> NA
type pNA >> ND
gel
saturation
intrinsèque
extr
insè
que
DNnnn
p2i
C
DBCF N
NlnTkEE
C
VBVCF N
Nln
2Tk
2EE
E
Tk2
EexpNNn
B
gvCi
inpn iB
gvCD Tk2
EexpNNN
D
CgBDC N
NlnTkEE
CD
DBCDF Ng
Nln
2Tk
2
EEE
Tk2
EEexp
g
NNn
B
DC
D
DC
ANppn
n2i
A
VBVF N
NlnTkEE
A
VABAVF N
Ngln
2Tk
2EE
E
Tk2EE
expgNN
pB
VA
A
AV
Exemples de solutions particulières :