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Schlussbericht
der Forschungsstelle(n)
Hahn-Schickard-Institut für Mikroaufbautechnik HSG-IMAT
zu dem über die
im Rahmen des Programms zur Förderung der Industriellen Gemeinschaftsforschung und -entwicklung (IGF)
vom Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie aufgrund eines Beschlusses des Deutschen Bundestages
geförderten Vorhaben 16852 N
Untersuchungen zur Kontaktierung von MID mittels Widerstandsschweißen
(Bewilligungszeitraum: 01.08.2011 - 31.07.2013)
der AiF-Forschungsvereinigung
Hahn-Schickard-Gesellschaft
Stuttgart, 31.07.13
Peter Buckmüller
Ort, Datum Name und Unterschrift des/der Projektleiter(s) an der/den Forschungsstelle(n)
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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Inhaltsverzeichnis
Inhaltsverzeichnis..................................................................................................... 2
1. Zusammenfassung .................................................................................. 4
2. Einleitung ................................................................................................. 6
3. Grundlagen zum Widerstandsschweißen ................................................ 7
4. Experimentelles Vorgehen ..................................................................... 10
4.1. Auswahl der Fügepartner ....................................................................... 10
4.1.1. Substratseitige Fügepartner .................................................................. 10
4.1.2. Anschlussseitige Fügepartner ............................................................... 11
4.2. Versuchsaufbau und Versuchsdurchführung .......................................... 12
4.3. Charakterisierung von Widerstandsschweißverbindungen ..................... 15
4.3.1. Bestimmung der Scherkraft ................................................................... 15
4.3.2. Definition der Ausfallart.......................................................................... 15
4.3.3. Bestimmung des Einsinkweges der Elektroden ..................................... 17
4.4. Statistische Versuchsplanung ................................................................. 18
4.5. Zuverlässigkeitsuntersuchungen ............................................................ 19
4.5.1. Beschleunigte Umwelttests .................................................................... 19
4.5.2. Vibrationstests ....................................................................................... 20
5. Ergebnisse zum Widerstandsschweißen von MID ................................. 21
5.1. Kompaktieren von Kupferlitzen ............................................................... 21
5.2. Untersuchung zum Widerstandsspaltschweißen mit Litzen zur
Bestimmung der relevanten Schweißparameter ..................................... 25
5.2.1. Untersuchung zum Einfluss der Litzenposition auf die
Schweißverbindung ............................................................................... 25
5.2.2. Betrachtung der Wegabschaltung als Regelparameter für den
Schweißvorgang .................................................................................... 27
5.2.3. Korrelation zwischen Einsinkweg und Scherkraft .................................. 28
5.2.4. Bestimmung des elektrischen Durchgangswiderstandes von
Schweißverbindungen ........................................................................... 29
5.2.5. Untersuchungen zum Schweißen auf verunreinigten Substraten .......... 29
5.2.6. Erste Untersuchungen zum Prozessfenster .......................................... 30
5.2.7. Untersuchungen zur Prozessstabilität ................................................... 33
5.2.8. Widerstandsspaltschweißen von FFC ................................................... 37
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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5.3. Optimierung des Widerstandsschweißprozesses ................................... 40
5.3.1. Lösungansätze ...................................................................................... 40
5.3.2. Widerstandsspaltschweißen mit Piezoaktor .......................................... 41
5.3.3. Untersuchungen zur möglichen Schädigung des Interface Leiterbahn -
Kunststoffsubstrat .................................................................................. 47
5.3.4. Untersuchung zum Prozessfenster mit Lösungsansatz 2 ...................... 52
5.3.5. Untersuchung zur Zuverlässigkeit mit optimierten Schweißparametern 55
6. Literatur ................................................................................................. 58
7. Ergebnistransfer .................................................................................... 59
8. Danksagung .......................................................................................... 60
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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1. Zusammenfassung
Das Forschungsziel dieses Vorhabens war die Entwicklung einer zuverlässigen
Kontaktierung von MID mittels Widerstandsschweißen. Hierfür kamen als
substratseitige Fügepartner laserdirektstrukturierte und heißgeprägte MIDs sowie als
Referenz Leiterplatten zum Einsatz. Als anschlussseitige Fügepartner dienten
Drahtlitzen mit Sn- bzw Ag-Endschicht sowie FFCs.
Um einen zuverlässigen Schweißprozess sicher zu stellen und eine Besenbildung zu
vermeiden mussten zunächst die Drahtlitzen kompaktiert werden. Hierfür wurden
geeignete Verfahren entwickelt um die Güte der Kompaktierung zu prüfen. Für die
Litzen konnten geeignete Parameter zur Kompaktierung erarbeitet werden.
Mit diesen kompaktierten Litzen und FFCs konnten erfolgreich Schweißversuche
durchgeführt werden, um relevante Prozessparameter wie die Schweißspannung und
die Schweißzeit zu ermitteln. Dabei wurden die Schweißverbindungen anhand von
drei Kriterien charakterisiert: dem Einsinkweg der Leiterbahn, der Kraft im 0°-
Scherzugversuch und der Ausfallart beim Scherzugversuch. Es erfolgte eine
Optimierung der Schweißparameter. Ziel dieser Optimierung war das Erreichen einer
hohen Zugscherkraft sowie eines geringen Einsinkweges, da dies eine Schädigung
der Leiterbahn bzw. des Kunststoffsubstrats zur Folge haben kann. Es zeigte sich,
dass hohe Zugscherkräfte nur mit tiefen Einsinkwegen zu erreichen sind, wobei der
Einsinkvorgang erst nach dem Schweißprozess bis zum Erkalten des Kunststoffes
stattfindet.
Beim Widerstandsspaltschweißen von FFC zeigte sich, dass hier im
Scherzugversuch nur Kräfte bis maximal 8 N erreicht werden können, da es darüber
hinaus zu einem Abreißen des FFC kommt. Die eingebrachte Schweißenergie darf
nicht zu hoch sein, da es schnell zu einem Durchbrennen des FFC und der
Leiterbahn kommen kann. Derartige Zugscherfestigkeit konnten bei Einsinkwegen
unter 7 µm erreicht werden.
Beim Widerstandsschweißen von kompaktierten Litzen zeigten sich höhere
Einsinkwege. Daher wurde untersucht, ob sich durch eine rasche Wegnahme der
Schweißkraft der Einsinkweg verringern lässt. Dies wurde realisiert mittels eines
Piezohubtisches, der die Fügepartner schnell von den Elektroden wegführen konnte.
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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Es zeigte sich, dass dies zu einer Rissbildung in der Leiterbahnmetallisierung führte.
Weiterhin zeigte sich, dass die Rissbildung nur mit einer Nachhaltezeit bis zum
Abkühlen Kunststoffes vermieden werden kann.
Aufgrund dieser Erkenntnisse wurde untersucht ab wann eine Schädigung der
Leiterbahn in Form von Rissen auftritt und der maximal zulässige Einsinkweg
definiert. Unter diesen Bedingungen konnten geeignete Schweißparameter ermittelt
werden mit denen Zuverlässigkeitsuntersuchungen in Form von Temperaturschock-
tests und Vibrationstest durchgeführt wurden. Es zeigten sich keine Ausfälle bei
diesen Tests.
Das Ziel des Vorhabens wurde erreicht.
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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2. Einleitung
Obwohl die MID-Technik (Moulded Interconnect Devices) mittlerweile in vielen
Anwendungsbereichen eingesetzt wird, stellt die elektrische Kontaktierung von MID-
Baugruppen mit dem peripheren System immer noch eine Herausforderung dar. Zum
einen weil bisher keine Standards bestehen und somit ein großer Aufwand bei jeder
Neuentwicklung entsteht und zum anderen weil die Kosten und Zuverlässigkeit der
kompletten Systeme wesentlich durch diese Schnittstelle bestimmt werden. Weiterhin
werden immer höhere Anforderungen an die periphere Kontaktierung gestellt. Die
Kontaktstellen sollen einen geringen elektrischen Widerstand, hohe
Temperaturbelastbarkeit insbesondere für Hochtemperaturanwendungen, hohe
mechanische Festigkeit und gute Korrosionsbeständigkeit aufweisen. Diese
Eigenschaften müssen über die gesamte Produktlebensdauer erhalten bleiben. Was
zur Nachfrage nach kostengünstigen und zuverlässigen Kontaktierungsverfahren
führt.
Das Widerstandsschweißen wurde aus folgenden Gründen als
Kontaktierungsverfahren für MID ausgewählt. Das Widerstandsschweißen wird seit
langer Zeit erfolgreich zur Verbindung von Metallen mit verschiedenen Oberflächen
eingesetzt. Die Vorteile des Widerstandsschweißens liegen in einem schnellen,
selektiven Verbindungsprozess, der hochfeste und hochtemperaturbeständige
Verbindungen mit einem geringen elektrischen Widerstand ermöglicht. Neben diesen
Vorteilen bietet das Widerstandsschweißen das Potential einer Kostenreduzierung
von MID-Baugruppen durch einen einfachen Verbindungsprozess ohne
Zusatzwerkstoffe wie Lote oder zusätzliche Bauteile wie Kontaktstifte.
Ziel des Vorhabens war die Entwicklung einer zuverlässigen Kontaktierung von MID
mittels Widerstandsschweißen. Im Vorhaben wurden Prozessparameter zur
Realisierung von Widerstandsschweißungen auf unterschiedlichen MID-
Metallisierungen bei gleichzeitig minimaler Schädigung des Kunststoff-
Metallverbundes erarbeitet. Zur Charakterisierung von widerstandsgeschweißten
Kontaktierungen wurden geeignete Verfahren untersucht. Für
Zuverlässigkeitsuntersuchungen wurden beschleunigte Umwelttests sowie
Vibrationstests durchgeführt.
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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3. Grundlagen zum Widerstandsschweißen
In der Elektronik und Feinwerktechnik können Verbindungen durch folgende Wider-
standspressschweißverfahren erzielt werden: Punktschweißen, Buckelschweißen,
Rollnahtschweißen, Spaltschweißen, Pressstumpfschweißen und besondere
Verfahren zum Schweißen, wozu beispielsweise das Thermodenschweißen von
Kupferlackdrähten zählt [1]. Das Punktschweißen, bei dem zwei koaxial zueinander
angeordnete Elektroden verwendet werden, stellt dabei das dominierende Verfahren
zum Verbinden von Blechen miteinander dar [2]. Weitere Anwendung findet es
beispielsweise zur Kontaktierung von flexiblen Flachbandkabeln [3]. Beim Spalt-
schweißen werden die zu verbindenden Teile, von denen im allgemeinen das eine
draht- oder bandförmig, das andere als Leiterbahn auf einer isolierenden Unterlage
ausgebildet ist, durch die Kraft der parallel angeordneten Spaltschweißelektroden
aufeinandergedrückt. Nach Erreichen der Schweißtemperatur verschweißen beide
Teile in ihrer Berührungszone zwischen den beiden Elektrodenspitzen [1]. Somit
können elektrisch isolierende Substrate mit Leiterbahnen, wie z.B. Leiterplatten oder
MID-Substrate nur mit der Methode des Spaltschweißens kontaktiert werden (siehe
Abbildung 3-1).
Beim Widerstandsspaltschweißen handelt es sich um ein elektrisches
Schweißverfahren, bei dem die zum Schweißen benötigte Wärmeenergie durch
einen elektrischen Strom erzeugt wird, der über zwei Schweißelektroden durch die
leitenden Schweißpartner geführt wird. Die Schweißwärme entsteht dabei
hauptsächlich an den Kontaktstellen der Fügepartner, da hier der höchste elektrische
Widerstand des geschlossenen Stromkreises vorliegt. Dieser setzt sich zusammen
aus Materialwiderstand und Engewiderstand und führt bei einer ausreichend großen
Stromstärke zu einem Verschweißen der Werkstoffe an der Fügestelle. Um zu
Abbildung 3-1: Schema zum Widerstandsspaltschweißen von MID-Substraten
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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gewährleisten, dass die Fügepartner beim Schweißen in Kontakt sind, werden sie mit
einer definierten Kraft zusammengepresst. Der Widerstand beim Schweißen wird von
den beteiligten Fügepartnern und den verwendeten Schweißelektroden bestimmt.
Insbesondere sind die Werkstoffe der Schweißpartner und der Elektroden zu
erwähnen. Aber auch die Geometrie und der Oberflächenzustand wie z.B. Rauheit
und Oxidschichten der Fügepartner und der Elektroden tragen zur Qualität der
Schweißung bei. Allgemein gilt, dass schlechte Kontakte zwischen den Fügepartnern
selbst sowie zwischen Elektroden und Fügepartnern z.B. aufgrund von
verschlissenen Elektroden, unebenen Fügepartnern und Anlaufschichten zu hohen
Engewiderständen führen. An der Stelle des größten Widerstands entsteht beim
Schweißen der größte Wärmeeintrag. Dieser lässt sich über die Formel (3.1) für die
Joule’sche Wärme mit der Wärme Q, dem elektrischen Widerstand R, der
Stromstärke I und der Zeit t berechnen. [4]
(3.1)
Die generierte Wärmemenge hängt dabei von Prozessparametern und den
Eigenschaften der Fügepartner ab. Bei der Erzeugung der Wärme dominiert zu
Beginn des Schweißvorganges der Übergangswiderstand, der sich im Verlauf des
Schweißvorganges deutlich reduziert. Im weiteren Verlauf des Schweißvorganges
gewinnt der Materialwiderstand immer mehr an Bedeutung. Somit kann eine
Optimierung der Schweißverbindung über die Variation der Schichtdicke der
Oberflächenschicht erfolgen, die den Materialwiderstand beeinflusst [4]. Die
Verbindungsbildung beim Widerstandsschweißen beruht auf dem Verschmelzen
bzw. der Diffusion der zu fügenden Werkstoffe (siehe Abbildung 3-2). Ein
Verschmelzen tritt ein, wenn die Temperatur hoch genug ist, um beide Werkstoffe an
der Fügestelle zu verflüssigen. Der aufgeschmolzene Bereich ist von festem Material
eingeschlossen und erstarrt beim Abkühlen in Form einer Linse, die die Einzelteile
miteinander verbindet. Werkstoffe wie Eisen, Nickel und deren Legierungen können
diese Verbindungsart aufweisen. Ein Verbinden von festen Phasen, hier spricht man
von Diffusionsschweißen, findet statt, wenn die Temperatur für ein Aufschmelzen
nicht hoch genug ist, wohl aber für ein plastisches Verformen der Werkstoffe. Die
Werkstoffe werden durch die Elektrodenkraft in enge Berührung gebracht, die dabei
entstehende Relativbewegung der Fügepartner zueinander führt zu einem Aufreiben
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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der Oxidschichten. Die saubere Oberfläche und die geringen Atomabstände der
Metalle an der Fügestelle bewirken die Verbindung der Einzelteile im festen Zustand
ohne Linsenbildung. Schweißungen durch Verschmelzen der Fügepartner haben
eine höhere Festigkeit und sind daher eher anzustreben, allerdings bietet das
Diffusionsschweißen die einzigartige Möglichkeit, eine hochwertige metallurgische
Verbindung bei Temperaturen von etwa 50 – 80% der Schmelztemperatur der
Fügepartner zur erzielen [5]. In der Elektronik und Feinwerktechnik eingesetzte
Werkstoffe, wie beispielweise Kupfer, Kupferlegierungen, Edelmetalle und
vergleichbare Werkstoffe, bilden aufgrund ihrer hohen thermischen und elektrischen
Leitfähigkeit bevorzugt eine Diffusionsschweißverbindung aus, da es schwierig ist,
die Schweißwärme an der Fügestelle zu konzentrieren [6].
Heutige Geräte zum Widerstandsschweißen bieten standardmäßig eine Prozess-
regelung während des Schweißvorganges mit einer statistischen Prozesskontrolle
an, um auf Prozessschwankungen frühzeitig reagieren zu können. Der Einsatz von
Elektroden zur Einleitung des Schweißstromes und zum Aufbringen der Schweißkraft
führt einerseits zu einem gewissen Verschleiß der Elektroden, gleicht aber
andererseits Toleranzen der zu fügenden Verbindungspartner aus und sorgt bei
entsprechender Wartung für einen sicheren Schweißprozess.
Abbildung 3-2: Schematische Darstellung einer Diffusions- (links) und einer
Schmelzschweißverbindung (rechts)
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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4. Experimentelles Vorgehen
4.1. Auswahl der Fügepartner
4.1.1. Substratseitige Fügepartner
Im Rahmen des Vorhabens wurden als substratseitige MID-Fügepartner Substrate,
die mit dem LPKF-LDS®-, dem Heißpräge- und dem Flamecon®-Verfahren
angefertigt wurden, untersucht.
Als Substratmaterial für das LPKF-LDS®-Verfahren (LDS) wurden im Rahmen des
projektbegleitenden Ausschusses thermoplastische Substrate aus Polyphthalamid
(PPA) mit der Bezeichnung Vestamid HTplus TGP3586 (MT1000) und Liquid-Crystal
Polymer (LCP) mit der Bezeichnung Vectra E840i LDS verwendet. Die
Formbeständigkeitstemperatur für eine Festigkeit von 1,8 MPa beträgt bei PPA
126°C und bei LCP 227°C [7,8]. Die außenstromlose Metallisierung der Substrate
besteht aus einer 5 µm Kupfer-, einer 5 µm Nickel-Phosphor- und einer 0,1 µm
Tauchgoldschicht.
Beim Heißprägeverfahren wird aus einer Heißprägefolie mittels eines
Heißprägestempels eine Leiterbahnstruktur in ein Kunststoffsubstrat geprägt. Im
Rahmen des projektbegleitenden Ausschusses wurde Grivory HT2V-3H (PA6T/66)
als Substratmaterial für das Heißprägeverfahren ausgewählt. Die Formbeständig-
keitstemperatur für eine Festigkeit von 1,8 MPa beträgt 280°C. [9]. Für das
Heißprägeverfahren wurden eine verzinnte ED-Folie von der Firma Bolta mit 35 µm
Kupferschichtdicke und eine Walzfolie mit einer Chromatschicht, d.h. einer
anorganisch Passivierungsschicht von der Firma Carl Schlenk AG mit einer
Kupferschichtdicke von 25 µm, mit der Bezeichnung SE-Cu58 walzhart einsetzt. Die
Bruchdehnung der ED-Folie beträgt ~ 3,5 % und die Bruchdehnung der Walzfolie
beträgt 1%.
Beim Flamecon®-Verfahren wird das aufzutragende Metall geschmolzen und durch
Druck auf die Oberfläche aufgespritzt. Für die Testsubstrate wurde LCP und
PA6T/66 eingesetzt. Für die Leiterbahnmetallisierung wurde Kupfer eingesetzt. Erste
Schweißversuche auf der Kupferleiterbahn zeigten keine Schweißbarkeit. Deshalb
wurden Versuche zur außenstromlosen Beschichtung mit Zinn durchgeführt. Es
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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zeigte sich nach der außenstromlosen Metallisierung mit Zinn, dass diese Art der
Leiterbahnmetallisierung keine ausreichende Haftfestigkeit auf den
Kunststoffsubstraten aufwies, um Schweißversuche durchführen zu können.
Aus den ausgewählten Materialien wurden Testsubstrate mit 37 x 37 x 1,5 mm²
spritzgegossen. An zwei diagonal zu einander liegenden Ecken wurden Löcher mit
2 mm Durchmesser gestanzt, um die Testsubstrate in der
Widerstandsschweißanlage zu positionieren. Die Leiterbahnbreiten auf den
Testsubstraten wurden von 0,55 – 3 mm variiert. Tabelle 4-1 zeigt die Übersicht der
aufgebauten Testsubstrate.
4.1.2. Anschlussseitige Fügepartner
Im Hinblick auf die periphere Kontaktierung wurde im Rahmen des
projektbegleitenden Ausschusses Anschlusskabel mit verzinnten und versilberten
Oberflächen mit einem Querschnitt von 0,128 mm² bzw. AWG26 und eine verzinnte
Litze mit einem Querschnitt von 0,22 mm² bzw. AWG24 ausgewählt. Weiterhin
wurden FFC (Flat Flexible Cable) mit einem Querschnitt von 0,7 x 0,05 mm²
untersucht, siehe Tabelle 4-2.
Tabelle 4-1: Übersicht der substratseitigen Fügepartner
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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4.2. Versuchsaufbau und Versuchsdurchführung
Das Kompaktieren der Litzen wurde an einer Kompaktiervorrichtung vom Typ C16
von der Firma Miyachi Europe GmbH durchgeführt, siehe Abbildung 4-1. Die Litzen
wurden mit einer Kompaktierbreite von 0,5 mm kompaktiert.
Die Spaltschweißversuche wurden an einer Spaltschweißanlage vom Typ F120-S
von der Firma Miyachi Europe GmbH durchgeführt. Bei diesem Anlagentyp wird der
Schweißkopf durch die Bedienung eines Fußpedals pneumatisch zugestellt. Die
Schweißkraft wird durch eine vorgespannte Druckfeder passiv aufgebaut. Der
Federweg wird über einen einstellbaren Anschlag gemäß Herstellerangaben auf
1,3 mm eingestellt, um die gewünschte Schweißkraft zu erzielen. In Abbildung 4-2 ist
Abbildung 4-1: Kompaktiervorrichtung C16
Tabelle 4-2: Übersicht der eingesetzten anschlussseitigen Fügepartner
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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der Aufbau der Spaltschweißanlage schematisch dargestellt. Der Spannungsabgriff
erfolgt 55 mm entfernt von der Spitze der Schweißelektroden.
Bei der Ermittlung der optimalen Schweißkraft wird empfohlen, mit hoher Kraft zu
starten. Je höher die Schweißkraft, desto geringer sind die Übergangswiderstände
zwischen den Bauteilen und desto schwächer ausgeprägt ist die Schweißung. Als
Indikator gilt, dass bei richtig eingestellter Schweißkraft das Schweißgut während des
Schweißprozesses nicht spritzt.
Der zeitliche Ablauf des Schweißvorgangs lässt sich in Schließzeit, Vorhaltezeit,
Schweißzeit und Nachhaltezeit untergliedern. In der Schließzeit befördert der
Pneumatikzylinder den Schweißkopf nach unten, die Elektroden treffen auf die
Fügepartner und die Schweißkraft wird aufgebaut. Die Vorhaltezeit dient dazu, dass
Schwingungen abgebaut werden können, die durch den Aufprall der Elektroden auf
den Fügepartnern entstehen. Dies ist wichtig für eine korrekte Messung des
Einsinkwegs. In der Schweißzeit wird der Schweißstrom ausgelöst und das
Schweißprogramm läuft ab. An der Berührungsstelle der Fügepartner, also an der
Stelle des höchsten Widerstands, entsteht, bedingt durch eine hohe Stromdichte,
sehr viel Wärme. Nach Ablauf des Schweißprogramms wird der Strom abgeschaltet
und die Nachhaltezeit beginnt. Die Elektroden bleiben auf den Fügepartnern und die
Kraft wird aufrechterhalten. Die Fügepartner kühlen ab, wobei die Elektroden zur
Abbildung 4-2: Schematischer Aufbau der Spaltschweißanlage
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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Ableitung der Wärme dienen. Nach 800 ms öffnet der Pneumatikzylinder und
befördert die Schweißelektroden nach oben.
Weitere für den Schweißvorgang wichtige Parameter sind der Abstand zwischen den
beiden Schweißelektroden sowie die Position, an der die Elektroden beim Schweißen
auf der Litze aufsetzen. Dieser Litzenabstand beschreibt die Distanz vom Mittelpunkt
zwischen beiden Elektroden bis zum Ende des kompaktierten Bereichs der Litze.
Für die Positionierung der Fügepartner mittels Mikrometerschrauben wurde ein xyz-
Tisch für die Litzen und ein xy-Tisch für die Testsubstrate konstruiert und angefertigt
(Abbildung 4-3). Die Litzen werden mittels eines verstellbaren mechanischen
Anschlags für die Abisolierung relativ zum Testsubstrat positioniert. Die
Testsubstrate werden über zwei diagonal angeordnete Stifte positioniert.
Abbildung 4-3: Vorrichtung zur Positionierung der Fügepartner
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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4.3. Charakterisierung von Widerstandsschweißverbindungen
4.3.1. Bestimmung der Scherkraft
Zur Charakterisierung der Schweißverbindungen wurde mit dem 0°-Scherzugversuch
gemäß DVS Merkblatt 2801 gearbeitet. Die Abzugsversuche wurden an einer Zug-
prüfmaschine der Firma Zwick GmbH & Co. KG mit einer Prüfgeschwindigkeit von
10 mm/min durchgeführt. Bei diesem Zugversuch wird das Substrat eingespannt und
die Litzen in einem Winkel von 0° parallel zur Fügeebene mit einer Zugkraft bis zum
Versagen belastet (Abbildung 4-4).
Abbildung 4-4: Schematische Darstellung 0° Scherzugversuch
Die maximale Kraft, die nötig ist um die Litze vom MID-Substrat abzulösen, wird im
Folgenden als Scherkraft bezeichnet.
4.3.2. Definition der Ausfallart
Beim 0°-Scherzugversuch treten unterschiedliche Ausfallarten auf, welche in
Abbildung 4-5 exemplarisch dargestellt sind. Bei Ausfallart 1 löst sich die Litze von
der Leiterbahn ab, ohne dass die Leiterbahnmetallisierung beschädigt wird oder sich
vom Kunststoff ablöst. In diesem Fall stellt also die Schweißverbindung zwischen
Litze und Leiterbahn die schwächste Stelle der Verbindung dar. Daraus leitet man
ab, dass keine ausreichende Schweißverbindung erzielt wurde. Ausfallart 2 liegt vor,
wenn in einem Teilbereich der Schweißstelle bzw. über die komplette Schweißstelle
die Leiterbahn mitsamt Litze vom Kunststoffsubstrat abgezogen wird. Bei Ausfallart 3
ist die Schweißverbindung und die Haftung zwischen Leiterbahn und Trägersubstrat
sind so hoch, dass ein Versagen im Litzenquerschnitt auftritt und diese reißt.
IGF Vorhaben Nr.16852 N
16
Die zu erzielende Ausfallart ist abhängig von den Fügepartnern und
Schweißparametern. So ergeben sich bei den Testsubstraten bzw. bei den Litzen
unterschiedliche Werte für die benötigte Kraft, ab denen Ausfallart 2 bzw. 3 erreicht
werden kann. Diese sind in Tabelle 4-3 dargestellt.
Für die folgenden Versuche wurde ein Ausfall nach Ausfallart 2 angestrebt, da hier
davon ausgegangen werden kann, dass die Festigkeit der Schweißverbindung
größer ist als die Haftfestigkeit der Leiterbahn. Als Scherfestigkeiten wurden Kräfte
von > 10 N angepeilt.
Abbildung 4-5: Ausfallarten beim 0°-Scherzugversuch
Ausfallart 1: Am Beispiel der Fügepartner AWG26 AG und LDS-LCP
Ausfallart 2: Am Beispiel der Fügepartner AWG26 AG und LDS-LCP
Ausfallart 3: Am Beispiel der Fügepartner AWG26 AG und FR4
Ausfallart 2
Strukturierungs- verfahren
Laserdirektstrukturierung
(LDS-LPKF®
)
Leiterplatten- technik
Heißprägen Walzfolie
Substratmaterial LCP PPA FR4 PA6T/66
Bruchkraft 10-18 N 20-26 N > 30 N > 30 N Ausfallart 3
Litze AWG26 Sn AWG26 Ag FFC 0,7 x 0,05 mm²
Bruchkraft 45 N 32 N 14 N
Tabelle 4-3: Benötigte Kraft zum erzielen von Ausfallart 2 bzw. 3
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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4.3.3. Bestimmung des Einsinkweges der Elektroden
Ein weiteres Charakterisierungsmerkmal ist der Einsinkweg. Er beschreibt den Weg,
den die Fügepartner, d.h. die Litze mitsamt Leiterbahn, in das Testsubstrat
eindringen (Abbildung 4-6).
Die Bestimmung des Einsinkweges der Elektroden erfolgt über das Wegmesssystem
der Schweißanlage und wurde z.T. anhand von Schliffen verifiziert. Bei hohen
Einsinkwegen wir der Kunststoff unterhalb der Leiterbahn im Bereich der
Schweißverbindung verdrängt. Eine Verdrängung des Kunststoffes in Richtung der
Leiterbahnränder führt dazu, dass diese nach oben hin weggebogen werden. Im
Bereich der Knickstelle, an der die Leiterbahn nach oben gebogen wird, können
aufgrund der hohen Verformung der Leiterbahn Risse in der Metallisierung auftreten.
Desweiteren kann der Kunststoff bei einer nicht planen Kompaktierung der Litze
unterhalb der Leiterbahn direkt nach oben verdrängt werden. Dabei durchstößt er die
Leiterbahnmetallisierung und quillt zwischen den Hohlräumen in der Litze nach oben.
In Abbildung 4-7 sind diese Defekte exemplarisch dargestellt. Deshalb ist der
Einsinkweg zu minimieren.
Abbildung 4-6: Mikroskopische Aufnahme eines Schliffes zur Bestimmung des
Einsinkwegs
Kompaktierter Litze
Einsinkweg s
Substrat
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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4.4. Statistische Versuchsplanung
Um die Wirkung der Faktoren (Versuchsparameter) auf die Schweißverbindung zu
identifizieren und zu quantifizieren wurde die statistische Versuchsplanung
herangezogen. Hierbei liegt der Schwerpunkt darauf, kritische Faktoren zu erkennen
und die optimale Einstellung für den Schweißprozess zu ermitteln. Hierbei kam die
Software Minitab 16 zum Einsatz.
Bei Widerstandsspaltschweißen von FFC wurde ein vollfaktorieller Versuchsplan,
also ein Versuchsplan bei dem keine Faktorkombinationen ausgelassen werden,
verwendet. Durch Vorversuche wurden für jeden Faktor 2 Faktorstufen
(Einstellungen) definiert, die dann in einem vollfaktoriellen Versuchsplan in allen
möglichen Kombinationen zueinander getestet wurden. Aus Gleichung (4.1) ergibt
sich die Versuchsanzahl N bei 4 Faktoren f (Spaltbreite, Schweißkraft,
Schweißspannung, Schweißzeit) auf jeweils 2 Faktorstufen S mit 3 Replikationen r
(Wiederholungen) zu 48 Versuchen. Bei einem 2-stufigen Versuchsplan wird davon
ausgegangen, dass die Effekte ein lineares Verhalten aufweisen. Dies ergibt sich
daraus, dass mit 2 Messpunkten nur ein lineares Verhalten beschrieben werden
kann. Die 3 Replikationen dienen dazu eine Standardabweichung zu berechnen.
N = r · Sf = 3 · 42 = 48 (4.1)
Abbildung 4-7: Defekte durch hohe Einsinkwege
(oben: AWG26 Ag +LDS-LCP; unten: AWG26 Ag +LDS-PPA)
Gerissene Leiterbahn
In die Litze eindringender Kunststoff
Hochgeknickte Leiterbahn
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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Zielgrößen beschreiben die Qualitätsmerkmale für die Optimierung der Faktoren
eines Prozesses. Es wurden die 2 Zielgrößen minimale Einsinktiefe bei maximaler
Scherkraft gewählt.
Bei Widerstandsspaltschweißen von Litzen wurde zunächst ein vollfaktorieller
2-stufiger Versuchsplan mit Zwischenpunkten/Zentralpunkt/Stützpunkt erprobt.
Aufgrund der vielen Fügepartnerkombinationen, wurden als Faktoren nur
Schweißspannung und Schweißzeit verwendet. Es zeigt sich allerdings schnell, dass
die nicht alle Eckpunkte des Versuchsraums messbar bzw. durchführbar sind (siehe
Abbildung 4-8), da hier entweder keine Schweißverbindung erzielt wurde oder die
Litze verdampfte.
Aus diesem Grunde wurde dazu übergegangen ein Parameterfeld zu untersuchen
und daraus eine Wirkungsfläche zu erzeugen.
4.5. Zuverlässigkeitsuntersuchungen
4.5.1. Beschleunigte Umwelttests
Zur experimentellen Bestimmung der Zuverlässigkeit der Widerstandsschweiß-
verbindung wurden Litzen unter Verwendung optimierter Schweißparameter auf
Testsubstrate geschweißt und durch beschleunigte Umwelttests gezielt
thermomechanisch belastet. Hierzu wurden Temperaturschocktests (TST) nach
DIN 60068-2-14 in einem Zweikammerschockschrank bei -40°C und +150°C
Abbildung 4-8: Schematische Darstellung des Versuchsraumes
Prozessfenster
Nicht ermittelbare Eckpunkte
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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durchgeführt. Die Haltezeit je Kammer betrug 7 min, die Dauer des
Temperaturwechsels war kleiner als 10 s.
Vor den Tests, nach 500 Zyklen und 1000 Zyklen erfolgten jeweils eine elektrische
Prüfung der Schweißverbindung sowie eine Messung der Scherkraft der Proben.
Dabei wurden je Fügepartnerkombination und Zyklenzahl 24 Proben untersucht.
4.5.2. Vibrationstests
Im Rahmen des Projektes wurden an Schweißverbindungen Vibrationstests nach
DIN IEC 68 T.2-6 durchgeführt. Hierzu wurden Testsubstrate mit Litzen unter
Verwendung optimierter Schweißparameter angefertigt. Jeweils ein Drittel dieser
Testsubstrate wurden mit einem Glob Top auf der Litzen bzw. einen Glob Top auf der
Isolierung versehen, um die Wirkung einer Entlastung der Schweißverbindung bei
den Vibrationstests zu untersuchen (siehe Abbildung 4-9). Das letzte Drittel wurde
ohne zusätzliche Fixierung der Litze bzw. des Kabels geprüft. Diese Proben wurden
mit dem Schärfegrad Weg s = 6,2 mm und der Beschleunigung a = 20 g je
Raumachse 24 h einem Sinusschütteln in einem Frequenzbereich von 15 Hz –
500 Hz bei einer Durchlaufgeschwindigkeit von 1. Oktave/min ausgesetzt. Im
Anschluss daran erfolgten auch hier eine elektrische Prüfung der Schweißverbindung
sowie eine Messung der Scherkraft.
Abbildung 4-9: Testsubstrat mit und ohne Glop Top auf den verschweißten Litzen
(links); Versuchsaufbau des Vibrationstests (rechts)
IGF Vorhaben Nr.16852 N
21
5. Ergebnisse zum Widerstandsschweißen von MID
5.1. Kompaktieren von Kupferlitzen
Als Litzenmaterial wurden die in Tabelle 4-2 aufgeführten Kupferlitzen mit verzinnter
oder versilberter Endschicht eingesetzt. Diese wurden vor dem Widerstands-
spaltschweißen kompaktiert. Beim Kompaktieren handelt es sich um einen separaten
Schweißprozess, bei dem die Einzeldrähte der Litze miteinander verschweißt werden
und der Litzenquerschnitt unter Krafteinwirkung in eine definierte rechteckige Form
gepresst wird (Abbildung 5-1).
Durch das Kompaktieren soll ein Aufspreizen der Litze bei Aufsetzten der
Spaltschweißelektroden verhindert werden. Darüber hinaus können bessere
Schweißresultate erzielt werden, da der Schweißprozess eher einem Verschweißen
zweier fester Körper, d.h. von Leiterbahn und kompaktierter Litze entspricht und die
geänderte Querschnittsform zu einer gleichmäßigeren Auflage der Litze auf der
Leiterbahn führt. Die geometrischen Abmessungen der kompaktierten Litzen hängen
von der Elektrodengröße, den Schweißparametern und der Litze ab. Die Länge und
die Breite der Kompaktierung wird von der Auflagefläche der Kompaktierelektroden
auf der Litze bestimmt, die Höhe durch die Schweißparameter und dem
Litzenvolumen im zu kompaktierenden Bereich. Um diese Auflagefläche möglichst
konstant zu halten und einen Litzenüberstand, wie er in Abbildung 5-2 dargestellt ist
zu vermeiden, ist die Positionierung der Litze beim Kompaktieren entscheidend. Ein
Litzenüberstand beim Kompaktieren führt zu einer Aufspreizung am Litzenende, was
Abbildung 5-1: Kompaktierte Litze in Drauf- und Seitenansicht
IGF Vorhaben Nr.16852 N
22
zur Folge hat, dass beim nachfolgenden Widerstandsspaltschweißen kein planes
Aufliegen der Litze auch der Leiterbahn sichergestellt werden kann.
Im Rahmen dieses Vorhabens wurde eine reproduzierbare Positionierung der Litze
durch eine definierte Abisolierlänge von 4,7 mm und durch einen Abstandshalter, wie
er in Abbildung 5-2 schematisch dargestellt ist, sichergestellt.
Die Bewertung der kompaktierten Litzen erfolgte anhand der folgenden Kriterien:
Höhe der Litze nach der Kompaktierung
Festigkeit der Kompaktierung
Gratbildung
Die Höhe der Litze nach der Kompaktierung ist ein Maß dafür wie stark die Litze
kompaktiert wurde. Mit abnehmender Kompaktierungshöhe steigt die Festigkeit der
Kompaktierung und die Abstände zwischen den einzelnen Adern der Litze werden
zunehmend geringer. Bei einer zu starken Kompaktierung kann es zu einer
Gratbildung und einer Abweichung von der rechteckigen Form der Litze kommen
(Abbildung 5-3). Grate an kompaktierten Litzen verhindern, dass diese plan auf der
Leiterbahn aufliegen und erschweren dadurch die Prozessführung beim
Widerstandsspaltschweißen.
Abbildung 5-2: Litzenüberstand und Positionierung der Litze beim Kompaktieren
IGF Vorhaben Nr.16852 N
23
Die Festigkeit der Kompaktierung ist für die nachfolgenden Spaltschweißprozesse
von entscheidender Bedeutung. Die Kompaktierung muss fest genug sein, dass die
einzelnen Adern der Litzen nicht durch die anliegende Schweißkraft der
Spaltschweißelektroden auseinander gehen und es zu einer Besenbildung kommt.
Eine Möglichkeit die Festigkeit zu überprüfen ist der Drucktest. Hierbei wird mittels
eines Stempels eine definierte Kraft auf die kompaktierte Litze ausgeübt und
überprüft ob die Kompaktierung hält. Eine andere Möglichkeit ist der
Biegewechseltest. Hierbei wird überprüft, ob sich beim kompaktierte Bereich nach
einem Hin- und Zurückbiegen um 90° einzelne Adern gelöst haben (Abbildung 5-4).
Der Biegewechseltest stellt das strengere Beurteilungskriterium dar.
Der Grad der Kompaktierung wird durch die geometrischen Parameter
Kompaktierlänge und –breite sowie durch die Schweißparameter Schweißkraft,
Schweißzeit und Schweißstrom bestimmt. Darüber hinaus kann bei der
Kompaktierung auf den Parameter Wegabschaltung geregelt werden. Hierbei kann
der Schweißvorgang nach Erreichen eines definierten Weges beendet werden. Es
Abbildung 5-4: Methoden zur Prüfung der Festigkeit kompaktierter Litzen
Abbildung 5-3: Querschliff und Mikroskopaufnahme einer Litze mit Grat
IGF Vorhaben Nr.16852 N
24
konnte exemplarisch am Litzentyp AWG24 Sn gezeigt werden, dass die Regelung
der Schweißzeit anhand Wegabschaltung nach 80 µm Einsinktiefe der
Kompaktierelektrode die Standardabweichung der Litzenhöhe signifikant reduziert
(Abbildung 5-6). Aufgrund dieses Ergebnisses wurden alle weiteren Litzen für die
folgenden Versuche mit Wegabschaltung kompaktiert.
Um geeignete Schweißparameter zum Kompaktieren von Litzen zu finden wurden
aus diesem Grunde Schweißkraft, Stromstärke und der Abschaltweg variiert.
Abbildung 5-6 zeigt exemplarisch wie sich eine Variation der Parameter auf die
Litzenhöhe und damit auch auf deren Form bzw. Kompaktierungsgrad auswirkt.
Abbildung 5-6: Einfluss der Wegabschaltung beim Kompaktieren auf die Litzenhöhe
Abbildung 5-5: Kompaktierung von je 20 Litzen vom Typ AWG24 Sn mit und ohne
Wegschaltung im Vergleich
IGF Vorhaben Nr.16852 N
25
Anhand des Diagramms und der dargestellten CT-Aufnahmen zeigt sich, dass die
Wegabschaltung den größten Einfluss auf die Kompaktierung hat. Die
Wegabschaltung weist im Bereich von 40 – 100 µm eine lineare Abnahme der
Litzenhöhe auf. Unterhalb dieses Bereiches kommt es zu keiner ausreichenden
Kompaktierung und oberhalb kommt es zur Gratbildung.
Mittels Versuchsreihen wurden geeignete Schweißparameter für das Kompaktieren
von Litzen bestimmt. Hierbei wurde aufgrund der Erkenntnisse der Vorversuche eine
Schweißkraft von 180 N gewählt. Tabelle 5-1 zeigt die ermittelten Schweißparameter
für die verschiedenen Litzentypen.
5.2. Untersuchung zum Widerstandsspaltschweißen mit Litzen
zur Bestimmung der relevanten Schweißparameter
5.2.1. Untersuchung zum Einfluss der Litzenposition auf die
Schweißverbindung
Beim Widerstandsspaltschweißen gibt es eine Vielzahl von möglichen Faktoren, die
einen Einfluss auf das Schweißergebnis haben können. Neben den eigentlichen
Schweißparametern wie der Schweißkraft, Schweißzeit und die Schweißspannung
ergeben sich diese Parameter aus den geometrischen Randbedingungen und der
eingesetzten Fügepartner. Erste Schweißversuche, ohne die Verwendung der in
Tabelle 5-1: Ermittelte Schweißparameter zum Kompaktieren von Litzen
Litze Leiterquer-
schnitt [mm²] Stromstärke Wegab-
schaltung Durchschnittl.
Litzenhöhe
AWG24 Sn 0,22 800 A 80 µm 420 µm
AWG26 Sn 0,128 750 A 40 µm 300 µm
AWG26 Ag 0,128 800 A 20 µm 270 µm
IGF Vorhaben Nr.16852 N
26
Kapitel 4.2 vorgestellten Vorrichtung zur Positionierung der Fügepartner, zeigten eine
hohe Streuung der Einsinkwege und Scherkräfte. Um reproduzierbare Ergebnisse zu
erzielen wurden mittels der Vorrichtung Untersuchungen zur Positionierung der Litze
relativ zu den Schweißelektroden durchgeführt. (Abbildung 5-7).
Für die Untersuchung zum Einfluss der Positionierung auf den Einsinkweg wurden
die einstellbaren Parameter, wie Schweißzeit, Schweißspannung und Schweißkraft
und Spaltbreite konstant gehalten. Die Spaltbreite bezeichnet den Abstand zwischen
den beiden Elektroden. Im Rahmen dieser Untersuchungen wurde eine Spaltbreite
von ca. 400 µm gewählt. Abbildung 5-8 zeigt die Ergebnisse zur Untersuchung des
Einflusses der Litzenposition.
Abbildung 5-8: Einfluss der Litzenposition auf den Einsinkweg am Beispiel von
AWG24 Sn-Litzen auf Heißprägesubstrat mit ED-Folie
Abbildung 5-7: Schematische Darstellung der geometrischen Einstellgrößen
IGF Vorhaben Nr.16852 N
27
Es zeigte sich, dass bei konstanten Schweißparametern der Einsinkweg von ca.
30 µm bei einer Litzenposition von 1000 µm auf einen Einsinkweg von über 90 µm
bei einer Litzenposition von 2250 µm ansteigt. Desweitern nimmt die Standard-
abweichung des Einsinkweges mit zunehmender Litzenposition zu. Für die folgenden
Untersuchungen wurde eine Litzenposition von 1400 µm ausgewählt.
5.2.2. Betrachtung der Wegabschaltung als Regelparameter für den
Schweißvorgang
Aufgrund der Reduzierung der Streuung der Einsinktiefe bei der Kompaktierung
mittels des Regelparameters „Wegabschaltung“ wurde dies ebenfalls für das
Widerstandsspaltschweißen in Betracht gezogen. Dazu wurde der zeitliche Verlauf
der Schweißparameter mittels der Schweißanlage gemessen, aufgezeichnet und
ausgewertet. Abbildung 5-9 zeigt den zeitlichen Verlauf des Widerstandes, des
Einsinkweges, der angelegten Spannung, der Leistung und der resultierenden
Wärmemenge Q in der schraffierten Fläche. Die Schweißkraft wird nicht von der
Schweißanlage gemessen und wurde als konstant in das Diagramm eingetragen.
Anhand dieses exemplarischen Diagrammes zeigt sich, dass der Einsinkvorgang
hauptsächlich nach Abschluss des Schweißvorganges stattfindet. Das Einsinken der
Litze setzt sich durch die kontinuierlich anliegende Schweißkraft solange fort bis
Abbildung 5-9: Zeitlicher Verlauf des Schweißprozesses
IGF Vorhaben Nr.16852 N
28
Leiterbahn und Substratmaterial vollständig abgekühlt sind. Somit konnte die
Wegabschaltung nicht als Regelparameter eingesetzt werden.
5.2.3. Korrelation zwischen Einsinkweg und Scherkraft
Schweißversuche mit der Vorrichtung zur Positionierung der Litze bei konstanter
Spaltbreite von 400 µm, Schweißkraft von 15 N und Schweißzeit von 5 ms sind in
Abbildung 5-10 dargestellt und zeigen den Einfluss der Schweißspannung auf den
Einsinkweg.
Abbildung 5-10: Einfluss der Schweißspannung auf den Einsinkweg von LDS-LCP
(links), PA6T/66 mit heißgeprägter ED-Folie (rechts) jeweils mit
AWG24 Sn, d.h. verzinnter Litze mit 0,22 mm² Querschnitt
Es zeigt sich für beide Fügepartnerkombinationen aus LDS-LCP und PA6T/66 mit
heißgeprägter ED-Folie jeweils mit verzinnter Litze mit einem Querschnitt von
0,22 mm², dass bei zunehmender Schweißspannung der Einsinkweg und die
Scherkraft zunehmen. Dabei zeigt die blaue Kurve den Einsinkweg und die rote
Kurve die Scherkraft. Weiterhin zeigen sich für die LDS-LCP Variante Scherkräfte
von ca. 30 N bei Einsinktiefen im Bereich von ca. 125 µm. Für PA6T/66 mit
heißgeprägter ED-Folie zeigen sich Scherkräfte von ca. 50 N bei Einsinktiefen im
Bereich von ca. 60 µm. Somit werden mit der Heißprägevariante höhere Scherkräfte
bei geringeren Einsinktiefen erzielt. Bei Schliffen mit ED-Folien zeigt sich eine
Rissbildung in der Heißprägemetallisierung bereits bei einer Einsinktiefe von 23 µm.
Aus diesem Grund wurde im Folgenden nur noch die Variante PA6/6T mit verzinnter
Walzfolie weiterverfolgt, da hier gemäß [16] von einer geringeren Neigung zur
Rissbildung ausgegangen wurde.
IGF Vorhaben Nr.16852 N
29
5.2.4. Bestimmung des elektrischen Durchgangswiderstandes von
Schweißverbindungen
Um den elektrischen Widerstand der Schweißverbindungen zu bestimmen wurden
4-Leiter-Messungen mit einem Spitzenmessplatz durchgeführt (Abbildung 5-11).
Abbildung 5-11: Schematische Darstellung des 4-Leiter-Messprinzip zur
Bestimmung des Übergangswiderstandes der Schweißstelle
Der Übergangswiderstand wurde für die Fügepartnerkombination LDS-LCP Substrat
und AWG26 Sn an 10 Schweißverbindungen gemessen und liegt im Bereich von 1 –
4 mΩ.
5.2.5. Untersuchungen zum Schweißen auf verunreinigten Substraten
Es sollte untersucht werden, ob Handfett den elektrischen Widerstand der
Schweißstelle verändert und somit Einfluss auf die Scherkraft bzw. Schwerfestigkeit
hat (Abbildung 5-12). Dazu wurden 12 Schweißungen auf verunreinigten Substraten
aus LDS–PPA mit AWG26 Sn Litze durchgeführt und mit Schweißungen auf
Substraten im Ausgangszustand verglichen (Tabelle 5-2).
Abbildung 5-12: Substratoberfläche des LDS-PPA im Ausgangszustand (links) und
nach der Präparation mit Handfett (rechts)
IGF Vorhaben Nr.16852 N
30
Tabelle 5-2: Prozessparameter bei FFC und deren Faktorstufen
Es zeigte sich kein signifikanter Einfluss von Handfett auf den Schweißprozess.
Somit muss für das Handling der Testsubstrate keine besonderen Maßnahmen oder
Reinigungsaufwand betrieben werden.
5.2.6. Erste Untersuchungen zum Prozessfenster
Anhand der gewonnenen Erkenntnisse zum Widerstandsspaltschweißen von Litzen
auf MID-Substraten wurden erste Untersuchungen zum Prozessfenster durchgeführt.
In Anlehnung an EN ISO 14327, d.h. Verfahren zur Bestimmung des Schweiß-
bereichsdiagramms, wurden die folgenden Parameter konstant gehalten:
Litzenposition 1400 µm
Spaltbreite 400 µm
Schweißkraft 15 N
Für das Schweißbereichsdiagramm wurden die Schweißspannung und die
Schweißzeit variiert [15]. Die Variierung der Parameter erfolgt in groben Schritten um
im ersten Schritt ein möglichst großes Prozessfenster zu betrachten. Dazu wurde die
Schweißspannung in 0,1 V Schritten von 1,0 – 2,1 V variiert. Die Schweißzeit wurde
auf 3, 5 und 7 ms eingestellt. Aufgrund von ersten Schliffen konnte gezeigt werden,
dass eine Einsinktiefe von 30 µm keine Risse aufzeigten. Deshalb wurden folgende
Bewertungskriterien gemäß Abbildung 5-13 festgelegt. Hierbei lag der Schwerpunkt
auf einer möglichst geringen Einsinktiefe bei einer Scherkraft von größer 10 N.
Es zeigen sich nur vereinzelte Messpunkte mit einer guten (gelb) oder sehr guten
Bewertung (grün). Für den Bereich mit der sehr guten Bewertung wurde ein
IGF Vorhaben Nr.16852 N
31
vollfaktorieller Versuchsplan mit Zentralpunkt und 3 Replikationen durchgeführt. Die
Versuche wurden randomisiert und anschließend ausgewertet (Abbildung 5-14).
Abbildung 5-13: Auswertung des Grobparameterscan für LDS-PPA mit AWG26 Ag
(links) und die Bewertungskriterien (rechts)
Das eingesetzte Programm Minitab 16 kann keine Zielgrößenoptimierung mit
Zentralpunkten bei faktoriellen Versuchsplänen durchführen. Deshalb wurden für die
faktorielle Zielgrößenoptimierung der Zentralpunkt weggelassen. Weiterhin konnten
mittels der Auswertung mit dem Wirkungsflächenversuchsplan die Zentralpunkte
berücksichtigt werden (Abbildung 5-14). Bei der Zielgrößenoptimierung wurde auf
zwei Optimierungsziele hin optimiert. Für die Einsinktiefe wurde der minimale Wert
bei gleichzeitigt maximaler Scherkraft gefordert.
Abbildung 5-14: Optimierungsdiagram Wirkfläche (links) und faktoriell (rechts) für
LDS-PPA mit AWG26 Ag
Gemäß Auswertung zeigt sich für die Wirkfläche bei 1,36 V und 5 ms eine
Einsinktiefe von 15 µm bei einer Scherkraft von 12 N. Bei der faktoriellen Auswertung
zeigt sich bei 1,4 V und 5,6 ms eine Einsinktiefe von 14,5 µm und eine Scherkraft
IGF Vorhaben Nr.16852 N
32
von 15 N. Abbildung 5-15 und 5-16 zeigen die Übersicht der Ergebnisse der
Schweißversuche für die Fügepartnerkombinationen LDS-LCP und LDS-PPA mit
AWG26 Sn und AWG26 Ag.
Abbildung 5-15: Übersicht der Ergebnisse bei LDS-LCP und AWG26 Ag und
AWG26 Sn
Abbildung 5-16: Übersicht der Ergebnisse bei LDS-PPA und AWG26 Ag und
AWG26 Sn
IGF Vorhaben Nr.16852 N
33
Bei den Untersuchungen zum Prozessfenster zeigt sich, wie in Abbildung 4-8
schematisch dargestellt, ein längliches diagonal verlaufendes Prozessfenster bei der
Variation von Schweißzeit und Schweißspannung.
5.2.7. Untersuchungen zur Prozessstabilität
Zur Untersuchung der Prozessstabilität wurden 100 verzinnte Litzen mit einem
Querschnitt von 0,128 mm² (AWG 26 Sn) in Serie unter gleichen Bedingungen auf
PPA-Substrate geschweißt (Schweißparameter: 1,75 V / 3,6 ms / 15 N) und hierbei
der Einsinkweg aufgezeichnet sowie im Anschluss an die Schweißungen die
Scherkraft bestimmt. Abbildung 5-17 zeigt den Zusammenhang zwischen Einsinkweg
und Scherkraft bei diesen Schweißversuchen sowie die entsprechenden
Histogramme dazu.
Es zeigt, dass ein Großteil der Schweißungen im einem Bereich, was den
Einsinkweg betrifft zwischen ca. 10 – 25 µm, die Schwerkraft betreffend zwischen ca.
Abbildung 5-17: Abhängigkeit von Einsinkweg und Scherkraft
IGF Vorhaben Nr.16852 N
34
12 – 28 N liegen. Gleichzeitig treten jedoch vereinzelt Ausreißer hin zu kleinen
Scherkräften auf, welche in einer industriellen Fertigung nicht akzeptabel wären. So
könnten z.B. Ausreißer bei denen eine geringe Scherkraft aufgrund eines niedrigen
Einsinkweges vorliegt problemlos von der Prozessdatenerfassung erkannt und im
Anschluss aussortiert werden. Liegt allerdings eine niedrige Scherkraft bei einem
hohen Einsinkweg vor, so kann dies nicht erkannt werden und ein defektes Bauteil
kommt in den Umlauf. Um derartige Defekte auszuschließen ist eine Erhöhung der
Scherkraft eine mögliche Maßnahme. Um dies zu erreichen wurden die in Abschnitt
5.3.1 aufgeführten Lösungswege untersucht.
Mit den in Abschnitt 5.3.4 optimierten Schweißparametern wurde exemplarisch an
Sn-Litzen unter gleichen Bedingungen auf PPA-Substrate geschweißt. Anhand von
Abbildung 5-18: 200 Schweißungen in Serie mit einem Reinigungsschritt der
Elektrode nach 100 Schweißungen
IGF Vorhaben Nr.16852 N
35
100 Schweißungen in Serie wurde untersucht wie sich die Zielgrößen des
Schweißprozesses, Scherkraft und Einsinkweg, verhalten (siehe Abbildung 5-18).
Die Schweißelektroden wurden vor den Versuchen durch Überschleifen gereinigt und
am Anfang, nach 100 und nach 200 Schweißungen begutachtet.
Es zeigte sich, dass mit einer zunehmenden Anzahl an Schweißungen auch
Einsinkweg und Scherkraft, zunehmen. Um dieses Verhalten nachzuvollziehen
wurden die Elektroden jeweils vor und nach den 100 Schweißungen untersucht.
Anhand der in Abbildung 5-19 dargestellten Mikroskopaufnahmen ist ersichtlich, dass
eine Verschmutzung der Schweißelektroden für dieses Verhalten verantwortlich ist.
Zur Reproduzierbarkeit wurde nach diesen 100 Schweißungen in Serie eine
Reinigung der Elektronen mittels Überschleifen durchgeführt und weitere 100
Serienschweißungen durchgeführt. Abbildung 5-18 zeigt für die Schweißungen
Nummer 101 bis 200 ein vergleichbares Verhalten auftrat. Durch eine fortschreitende
Verunreinigung der Elektronen steigen der Einsingweg und damit die ermittelte
Scherkraft an.
Abbildung 5-19: Schweißelektroden vor und nach den Serienschweißungen
Vor dem Schweißen nach 100 Schweißungen
nach 100 Schweißungen und Reinigung
nach 200 Schweißungen
IGF Vorhaben Nr.16852 N
36
Mit den in Abschnitt 5.3.4 optimierten Schweißparametern wurde der Einfluss der
Endschicht von Sn-Litzen und Ag-Litzen auf die Prozessstabilität untersucht. Dazu
wurden je 100 Schweißungen unter gleichen Bedingungen auf laserdirekt-
strukturierten und metallisierten LCP-Substrate geschweißt. Abbildung 5-20 zeigt 100
Schweißungen mit AWG26 Ag (Schweißparameter 2,1 V / 3,2 ms / 15 N) und
Abbildung 5-21 zeigt 100 Schweißungen mit AWG26 Sn (Schweißparameter 2,16 V /
3,2 ms / 15 N) jeweils mit einem Querschnitt von 0,128 mm² (AWG26).
Abbildung 5-20: 100 Schweißungen mit AWG26 Ag auf LDS-LCP
Abbildung 5-21: 100 Schweißungen mit AWG26 Sn auf LDS-LCP
IGF Vorhaben Nr.16852 N
37
Es zeigt sich, dass Einsinkweg und Scherkraft korrelieren. Weiterhin zeigt sich bei
den 100 Schweißungen mit verzinnter Litze eine Zunahme von Einsinkweg und
Scherkraft mit zunehmender Schweißzahl. Im Gegensatz dazu zeigt sich für die
versilberten Litzen eine Abnahme von Einsinkweg und Scherkraft mit zunehmender
Schweißzahl. Es wird angenommen, dass die Verschmutzung bzw. das Anhaften des
Zinns zu einer Erhöhung des Widerstandes führt, das Anhaften von Silber hingegen
zu einer Verringerung. Dies kann dadurch begründet werden, dass Silber ein
besserer elektrischer Leiter als Zinn ist. Die Verringerung des Widerstandes würde
zu einer Verringerung der eingebrachten Wärmemenge führen, was wider rum zu
einer Verringerung der Einsinktiefe führen würde. Im direkten Vergleich zeigt sich für
die gewählten Schweißparameter ein mittlerer Einsinkweg von 60 – 65 µm für
AWG26 Sn und AWG26 Ag. Die erzielte Scherkraft liegt für AWG26 Sn mit 27 – 30 N
höher als bei AWG26 Ag mit 20 – 22 N.
5.2.8. Widerstandsspaltschweißen von FFC
Beim Widerstandsspaltschweißen von FFC ergeben sich insbesondere aufgrund der
geometrischen Abmessungen, v.a. der geringen Höhe von 50 µm, deutliche
Unterschiede im Vergleich zum Schweißen mit Litzen. Dies spiegelt sich auch bei der
Charakterisierung der Schweißverbindung wieder. Bei FFC sind die gemessenen
Scherkräfte sowie die Einsinkwege deutlich kleiner, da aufgrund der geringen Dicken
hier viel weniger Wärmeenergie eingebracht werden darf. Betrachtet man die
Ausfallarten von FFC so gibt es im Vergleich zu Litzen Unterschiede. Bei Ausfallart 1
löst sich beim 0°-Scherzugversuch das FFC von der Leiterbahn, ohne dass das FFC
oder die Leiterbahn zerstört werden. Diese Verbindung wird als unzureichend
gewertet, da noch keine unlösbare Verbindung der Fügepartner stattgefunden hat.
Ausfallart 2 beschreibt dem Abriss des FFC. Aufgrund des geringen Querschnitts
kommt es schon ab einer Scherkraft von über 8 N zu einem Abriss des FFC. Ein
Herausreißen der Leiterbahnmetallisierung aus dem Kunststoff, wie es bei Litzen
möglich ist, ist hier aufgrund der geringen Festigkeit des FFC nicht möglich.
Ausfallart 3 tritt auf wenn die Erwärmung der Fügepartner so hoch ist, dass das FFC
und die darunter liegende Leiterbahn durchschmelzen und zerstört werden. Ausfallart
3 ist aufgrund des erhöhten Verschleißes und möglicher Beschädigung der
IGF Vorhaben Nr.16852 N
38
Elektroden zu vermeiden. Abbildung 5-22 zeigt die verschiedenen Ausfallarten bei
FFC exemplarisch.
Die Widerstandsschweißverbindungen von FFC auf MID-Substrate wurden mittels
statistischer Versuchsplanung optimiert. Die Zielgrößen waren hierbei das Erreichen
einer hohen Scherkraft bei einem geringen Einsinkweg sowie das Erzielen der
Ausfallart 2. Für die Durchführung der Versuchsplanung wurden die in Tabelle 5-3
aufgeführten Prozessparameter (Faktoren) und Faktorstufen verwendet.
Abbildung 5-22: Mögliche Ausfallarten bei FFC
Ausfallart 1: Ablösen des FFC von der Leiterbahn
nach 100 Schweißungen
Ausfallart 2: Abriss des FFC
Ausfallart 3: Durchbrennen des FFC und der Leiterbahn
IGF Vorhaben Nr.16852 N
39
Substratseitiger Fügepartner LDS
LCP ED-Folie Walzfolie
Spaltbreite s [µm] 300 / 400 300 / 400 300 / 400
Schweißspannung U [V] 0,63 / 0,64 0,65 / 0,70 0,65 / 0,70
Schweißzeit t [ms] 6,8 / 7 10 / 10,4 10 / 10,4
Schweißkraft F [N] 12 / 15 15 / 20 15 / 20
Tabelle 5-3: Prozessparameter bei FFC und deren Faktorstufen
Anhand dieser Faktorstufen wurde ein vollfaktorieller randomisierter Versuchsplan
mit 3 Replikationen generiert und durchgeführt. Zielgrößen für die Optimierung der
Prozessparameter waren für die Einsinktiefe ein Sollwert von 2 µm und eine
Obergrenze von 5 µm, für die Scherkraft ein Sollwert 8 N und eine Untergrenze von
7,5 N. Hieraus ergaben sich die in Tabelle 5-4 dargestellten optimierten
Prozessparameter.
Kunststoff -substrat
Leiterbahn Spaltbreite
[µm] Spannung
[V] Schweißzeit
[ms] Schweißkraft
[N]
LCP LDS
(Cu/NiP/Ag) 300 0,63 6,8 12
PA6T/66 ED-Folie
Cu/Sn 300 0,66 10,4 15
PA6T/66 Walzfolie
Cu/Sn 400 0,65 10 15,4
Tabelle 5-4: Optimierte Prozessparameter zum Schweißen von FFC
Anhand von 48 Schweißungen je Versuchsreihe wurden die optimierten
Schweißparameter verifiziert. Darauf ergaben sie die in Tabelle 5-5 dargestellten
Mittelwerte und Standardabweichungen für den Einsinkweg und die Scherkraft.
IGF Vorhaben Nr.16852 N
40
Kunststoff -substrat
Leiterbahn Einsinkweg [µm] Scherkraft [N]
Mittel Stabw Mittel Stab
LCP LDS
(Cu/NiP/Ag) 4,04 2,03 8,10 0,27
PA6T/66 ED-Folie
Cu/Sn 3,69 2,35 6,92 2,48
PA6T/66 Walzfolie
Cu/Sn 4,13 2,93 8,37 0,27
Tabelle 5-5: Erzielte Einsinkwege und Scherkräfte bei Widerstandsspaltschweißen
von FFC
5.3. Optimierung des Widerstandsschweißprozesses
5.3.1. Lösungansätze
Aufgrund der Korrelation von Einsinkweg und Scherkraft kann ein geringer
Einsinkweg bei einer hohen Scherfestigkeit der Litze nicht erreicht werden.
Lösungsansatz 1: Reduzierung der Einsinktiefe bei gleichzeitiger Erhöhung
der Scherkraft durch Piezoansteuerung zur Reduzierung der
Schweißkraft.
Es zeigte sich, dass der Großteil des Einsinkvorgangs zeitlich nach dem eigentlichen
Schweißvorgang abläuft, wie es in Abbildung 5-9 dargestellt ist. Das Einsinken der
Litze setzt sich durch die kontinuierlich anliegende Schweißkraft solange fort bis
Leiterbahn und Substratmaterial vollständig abgekühlt sind. Aus diesem Grund wurde
der Ansatz verfolgt die Schweißkraft unmittelbar nach dem Schweißvorgang, also im
dargestellten Beispiel nach 6 ms, vollständig abzubauen und auf die Nachhalte- und
Abkühlzeit zu verzichten.
Eine derart rasche Wegnahme der Schweißkraft war mit der vorhandenen
Schweißanlage nicht möglich. Wie in Abschnitt 4.2 beschrieben wird bei dieser
Anlage die Schweißkraft über eine pneumatisch vorgespannte Feder sowie eine
IGF Vorhaben Nr.16852 N
41
vorgespannte Blattfeder aufgebracht. Da der Pneumatikzylinder nicht schnell genug
angesteuert und verfahren werden kann, war mit diesem Aufbau die schnelle
Reduzierung der Schweißkraft nicht möglich. Um derart schnell verfahren zu können
bot sich der Einsatz eines Piezoaktors an.
Lösungsansatz 2: Erhöhung der Einsinktiefe um die Scherkraft zu erhöhen.
Da ohne einen gewissen Einsinkweg keine ausreichend hohen Scherkräfte bzw. die
Ausfallart 2 sichergestellt werden können, wird bei diesem Lösungsansatz ein hoher
Einsinkweg toleriert, so lange dabei keine Schädigung der Leiterbahn bzw. des
Interface zwischen Leiterbahn und Kunststoffsubstrat vorliegt. Zunächst wurde
deshalb untersucht, ab welchem Einsinkweg auf dem jeweiligen Testsubstrat eine
Schädigung der Leiterbahn auftritt. Im nächsten Schritt wurde dies als oberste
Grenze für den Einsinkweg definiert und unter dieser Bedingung eine Optimierung
der Schweißparameter durchgeführt.
5.3.2. Widerstandsspaltschweißen mit Piezoaktor
Für die Widerstandsspaltschweißversuche mit Piezoaktor musste die bestehende
Schweißanlage modifiziert werden. Maßgebend für die konstruktive Umsetzung war,
über welches mechanische Zusammenspiel zwischen Piezoaktor und
Schweißsystem die Kraft in der geforderten Zeit genullt werden kann, ohne dass der
Aktor unsachgemäß belastet wird bzw. ohne dass die Schweißkinematik verändert
wird. Dazu wurden verschiedene Möglichkeiten bezüglich des Kraftangriffspunkts
bzw. der Positionierungen des Aktors im Schweißsystem in Betracht gezogen. Die
Variante, den Piezoaktor unterhalb des Substrats zu positionieren schien am
geeignetsten. Hierbei befördert der Aktor das Schweißgut nach unten von den
Schweißelektroden weg, sodass von den Schweißelektroden keine Kraft mehr auf
die Schweißstelle ausgeübt wird. Dies wurde realisiert durch das Herunterfahren des
Substrattisches. Abbildung 5-23 zeigt die Schweißanlage vor den
Umbaumaßnahmen, sowie den umgebauten XY-Tisch sowohl bildlich als auch
schematisch.
IGF Vorhaben Nr.16852 N
42
Die Vorteile dieser konstruktiven Lösung waren, zum einem der geringe
Umbauaufwand, zum anderen bleib die bestehende Schweißkinematik
weitestgehend unverändert. Lediglich die Druckfeder des Schweißkopfes sowie die
Blattfedern mussten begrenzt bzw. versteift werden (Abbildung 5-24) um
Nachsetzstöße auf die Fügepartner und den Aktor zu vermeiden.
Abbildung 5-24: Anpassung der federnden Elemente des Schweißkopfes
Blockierblättchen für Druckfeder
Steiferer Blattfedern
Abbildung 5-23: Schweißanlage vor (links) und nach (rechts) den Umbaumaßnahmen;
schematische Darstellung des Piezohubtisches (unten)
Substrathalterung Substrat
Führungssäulen
Anschlag, an Grundplatte fixiert
Piezoaktor
Substrathalterung
XY-Tisch
Führungssäule
Anschlag
Piezoaktor
IGF Vorhaben Nr.16852 N
43
Die Anforderungen an den Aktor waren ein großer verfügbarer Stellweg, ein
schnelles Ansprechen und Bewältigen des maximalen Piezohubs. Ziel war es, die
Kraft zwischen den Fügepartnern und Schweißelektroden zu einem bestimmten
Zeitpunkt in hoher Geschwindigkeit abzubauen. Der Stellweg des Aktors musste
größer sein als die Summe der verbleibenden Federwege von Schweißdruckfeder
und Blattfedern, also größer 1,3 mm. Aktoren mit großem Stellweg beinhalten jedoch
immer Übersetzungsmechanismen, die die Steifigkeit, und somit die
Schaltgeschwindigkeit, deutlich reduzieren. Die hohen Anforderungen an den
Stellweg ließen sich also nicht mit maximal schnellen Stellgeschwindigkeiten
vereinbaren und erforderten Kompromisse. Es wurde für diese Aufgabe der
Piezoaktor der Serie P-602 PiezoMove® von der Firma Physik Instrumente (PI)
GmbH & Co. KG ausgewählt der über einen Stellweg von bis zu 1 mm mit dennoch
relativ großer Steifigkeit sowie kurzen Ansprechzeiten verfügt. Die geringsten
Ansprechzeiten werden im ungeregelten Betrieb erzielt. Im ungeregelten Betrieb
reduziert sich der Stellweg jedoch auf 0,8 mm. Da der Nachfederweg größer als der
Piezohub ist, musste dieser begrenzt werden. Dies geschah durch eine Blockierung
mittels eines neuen Endanschlages in Form eines Abstandhalteplättchens. Die
Bestimmung der Dicke des Endanschlags erfolge experimentell (Abbildung 5-25).
Dabei wurde der Weg der Elektroden mit dem in der Schweißanlage vorhanden
Wegmesssystem ausgewertet. Es zeigten sich Schwingungen beim Aufprall der
Elektroden auf die Litze, da der Weg des Piezoaktor kleiner als der Nachfederweg
der Schweißanlage war.
Abbildung 5-25: Experimentelle Bestimmung der Dicke des Endanschlags
IGF Vorhaben Nr.16852 N
44
Abbildung 5-25 zeigt, dass ab einer Endanschlagdicke von größer 1 mm kein Aufprall
der Elektroden auf den Fügepartner stattfindet. Für die weiteren Versuche wurde ein
Endanschlag mit einer Dicke von 1,2 mm verwendet.
Das Zurückfahren des Piezohubtisches erfolgte mittels Triggerung mit Abgriff des
Stromsignals beim Schweißen. Wie in Abbildung 5-26 dargestellt ist, ist die zeitliche
Verzögerung des Stromsignals von der Schweißanlage zwar gering, weist aber eine
hohe Streuung auf. Aus diesem Grund erfolgte der Abgriff am Digitalmessgerät der
Schweißanlage. Hier ergab sich eine signifikante Reduzierung der Streuung sowie
eine zeitliche Verzögerung zwischen Triggerung und Verfahren des Piezotisches von
ca. 5 ms, somit beträgt die kürzeste Ansteuerzeit des Piezotisches 5 ms.
Um zu untersuchen wie sich die Schweißungen mit Piezoaktor vom konventionellen
Schweißen ohne Aktor unterscheiden wurden zunächst Versuche mit den
Parametern durchgeführt, die sich für das Schweißen ohne Piezoaktor bewährt
haben. Hierbei kamen LCP- sowie PPA-Substrate und Litzen des Typ AWG 24 Sn
zum Einsatz. Die Schweißverbindungen sollten durch eine Variation der Schweiß-
und Triggerparameter optimiert werden.
Erste Schweißversuche zeigten, dass das Piezoschweißen mit Triggerzeiten im
Bereich der Schweißzeiten bei nahezu allen Proben zu einer starken Rissbildung in
den Leiterbahnen sowie z.T. zu einem Abheben der Leiterbahn führte (siehe
Abbildung 5-27). Gleichzeitig war auch die Scherkraft deutlich geringer.
Abbildung 5-26: Zeitliche Verzögerung des Triggersignals bei Signalabgriff an der
Schweißanlage (links) bzw. am Digitalmessgerät (rechts)
IGF Vorhaben Nr.16852 N
45
Eine mögliche Erklärung hierfür ist, dass der durch den Schweißprozess
aufgeschmolzene Kunststoff unterhalb der Leiterbahn zum Zeitpunkt der Wegnahme
der Schweißkraft noch nicht wieder erkaltet ist. Aufgrund der raschen Wegnahme der
Schweißkraft kommt es durch die Hebelwirkung und die Massenträgheit, die von der
Litze ausgeht, zur Rissbildung oder zum Abheben der mit der Litze verschweißten
Leiterbahn. Mögliche Lösungsansätze um dies zu verhindern wären die Reduzierung
der Hebelwirkung und der Massenträgheit der Litze oder das Anpressen der Litze bis
der Kunststoff erkaltet ist. Um ersteres zu Untersuchen wurde an Litzen der
überstehende Bereich entfernt und geschweißt. Abbildung 5-28 zeigt, dass hier
weiterhin Risse in der Leiterbahnmetallisierung entstehen, sodass dieser
Lösungsweg ausgeschlossen wurde.
Um den zweiten Ansatz zu Untersuchen wurden Litzen bei verschiedenen
Nachhaltezeiten auf Kunststoffsubstrate geschweißt. Die Steuerung der
Abbildung 5-28: Schweißversuch mit gekürzter Litze
Gekürzte Litze zur Verringerung der Massenträgheit
Abbildung 5-27: Schweißergebnisse nach einer Triggerzeit von 10 ms
Abheben der kompletten Leiterbahn vom Substrat
Durchgehender Riss am rechten Elektrodenabdruck
0
5
10
15
20
25
30
35
LCP PPA
Sc
he
rkra
ft [N
]
ohne Piezo
10 ms
Rissbildung bleibt bestehen
IGF Vorhaben Nr.16852 N
46
Nachhaltezeit erfolget über die Triggerzeit des Piezos. Abbildung 5-29 zeigt die
Schweißergebnisse nach verschiedenen Triggerzeiten.
Es zeigt sich, dass mit zunehmender Triggerzeit die Rissbildung reduziert wird. Ab
einer Nachhaltezeit von größer 50 ms zeigt sich keine Rissbildung mehr. Es zeigte
sich allerdings, dass die Einsinkwege von Schweißungen mittels Piezoaktor bei einer
Nachhaltezeit von 50 ms mit den von Schweißungen ohne Piezoaktor vergleichbar
sind. Somit konnten durch das Schweißen mit Piezoaktor keine signifikanten Vorteile
erzielt werden, sodass dieser Lösungsweg nicht weiter verfolgt wurde.
Abbildung 5-29: Schweißversuche mit unterschiedlicher Nachhaltezeit
Triggerzeit 2 ms
Triggerzeit 50 ms Triggerzeit 40 ms
Triggerzeit 30 ms Triggerzeit 20 ms
Triggerzeit 10 ms
IGF Vorhaben Nr.16852 N
47
5.3.3. Untersuchungen zur möglichen Schädigung des Interface
Leiterbahn - Kunststoffsubstrat
Um die Rahmenbedingungen für die Optimierung der Schweißparameter festzulegen
musste zunächst untersucht werden, welche Einsinktiefen keine Rissbildung in der
Leiterbahnmetallisierung aufweisen. Um dies zu untersuchen wurden Schweißungen
mit verschiedenen Einsinktiefen hergestellt und davon Schliffbilder angefertigt.
Abbildung 5-30, 5-31 und 5-32 zeigen exemplarisch ab wann eine Schädigung der
Leiterbahnmetallisierung auftritt.
Abbildung 5-30: Einfluss des Einsinkweges auf die Leiterbahn bei LDS-LCP
Einsinkweg 34 µm Einsinkweg 66 µm
Einsinkweg 97 µm
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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Einsinkweg 49 µm Einsinkweg 78 µm
Einsinkweg 106 µm
Abbildung 5-32:Einfluss des Einsinkweges auf die Leiterbahn bei
PA6T/66 mit heißgeprägter Walzfolie
Einsinkweg 21 µm Einsinkweg 35 µm
Einsinkweg 53 µm
Abbildung 5-31:Einfluss des Einsinkweges auf die Leiterbahn bei
LDS-PPA
IGF Vorhaben Nr.16852 N
49
Anhand der untersuchten Schliffe konnten für die verschiebenden Testsubstrate
maximale Einsinkwege definiert werden. Diese sind in Tabelle 5-6 aufgeführt.
Kunststoff Leiterbahn Schichtdicke [µm] kritische Einsinktiefe
LCP Cu/NiP/Au (LDS) 10±3 / 5±2 / 0,1 > 90 µm
PPA Cu/NiP/Au (LDS) 10±3 / 5±2 / 0,1 > 50 µm
PA6T/66
Cu/Sn (gewalzte Heißprägefolie)
25 / 1 nicht erzielbar
Cu/Sn (ED Heißprägefolie)
35 / 1 > 20 µm
Tabelle 5-6: Übersicht des maximal zulässigen Einsinkweges bei verschiedenen
Substraten
Für die Variante PA6T/66 konnte selbst mit Einsinkwegen von 106 µm keine
Rissbildung erzielt werden. Für die LDS-LCP Variante konnten hohe Einsinkwege <
90 µm ohne Rissbildung erzielt werden. Eine mögliche Erklärung für die Tatsache,
dass derart dünne Leiterbahnen mit einer Bruchdehnung von < 2 % sich so gut
verformen lassen, ohne dass dabei eine Schädigung auftritt, liefert die Temperatur
bei dem die Verformung stattfindet. Beim Auftreten einer haftfesten
Schweißverbindung, wie es bei Ausfallart 2 und 3 der Fall ist, kann von einer
Diffusionsschweißverbindung ausgegangen werden. Diffusionsschweißverbindungen
können bei Temperaturen von etwa 50 – 80 % der Schmelztemperatur der
Fügepartner erzielt werden [5].
Tabelle 5-7: Übersicht der Materialeigenschaften der Leiterbahnmetallisierung
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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Tabelle 5-7 zeigt eine Übersicht der Materialeigenschaften der
Leiterbahnmetallisierung. Für reines Kupfer mit einer Schmelztemperatur von 1083°C
wird eine Warmumformtemperatur von 750°C – 950°C angegeben [10]. Die
Schmelztemperatur von Rein Nickel mit 1455°C und die Warmumformtemperatur mit
850 – 1250°C [11]. Somit wird eine Temperatur von > 500°C für die
Diffuissionsschweißverbindungen erwartet. Chemisch Nickel hat mit 860 – 890°C im
Vergleich zu Rein Nickel eine signifikant geringere Schmelztemperatur [12]. Die
Rekristallisationstemperatur von Kupfer liegt bei ca. 180°C und Nickel bei 450°C [13].
Die Warmumformung von Metallen wird generell bei Temperaturen oberhalb der
Rekristallisationstemperatur durchgeführt. Somit kann man annehmen, dass sich die
gute Verformbarkeit der Leiterbahnmetallisierung durch die Warmumformung
erklären könnte.
Abbildung 5-33:Untersuchung der Schliffbilder von LDS-PPA mit Einsinkweg 53 µm
(oben), und Detailaufnahmen mit Einsinkweg 55 µm (unten)
Aufgrund der hohen Temperaturen die oberhalb der zulässigen Temperaturen für die
eingesetzten Kunststoff liegen wurden Schliffe der Schweißverbindungen angefertigt,
um die Kunststoffsubstrate hinsichtlich von Degradationserscheinungen mittels
IGF Vorhaben Nr.16852 N
51
Rasterelektronenmikroskopie an LDS-LCP und LDS-PPA zu untersuchen (Abbildung
5-33 und 5-34).
Abbildung 5-34:Untersuchung der Schliffbilder von LDS-LCP mit Einsinkweg 97 µm
(oben), und Detailaufnahmen mit Einsinkweg 83 µm (unten)
Gemäß [14] führt eine thermische Zersetzung des Kunststoffes zu Ausgasungen und
somit Lunkerbildung. Aufgrund der hohen Temperaturen würde man eine thermische
Zersetzung unterhalb der Leiterbahn erwarten. Anhand der Schliffbilder konnte
jedoch gezeigt werden, dass sich keine Lunker unterhalb der Litze und Leiterbahn
befinden. Es zeigen sich jedoch Lunker im Bereich des verdrängten Kunststoffes
unterhalb der abgehobenen Leiterbahnränder. Es wird angenommen, dass während
des Schweißprozesses der Kunststoff bis zum schmelzflüssigen Zustand erwärmt
wird. Der schmelzflüssige und thermisch geschädigte Kunststoff wird durch die
anliegende Schweißkraft verdrängt und erstarrt im Bereich der angehobenen
Leiterbahnränder. Somit befindet sich nach dem Schweißvorgang kein thermisch
geschädigter Kunststoff unter der Litze und Leiterbahn.
IGF Vorhaben Nr.16852 N
52
5.3.4. Untersuchung zum Prozessfenster mit Lösungsansatz 2
Aufbauend auf diesen Erkenntnissen und unter der in Tabelle 5-6 aufgeführten
Bedingungen für den maximalen Einsinkweg wurden Schweißversuche durchgeführt.
Ziel war es die höchstmögliche Scherkraft bei Ausfallart 2 oder 3 ohne Rissbildung zu
erreichen. Hierfür wurde die Schweißspannung in Schritten von 0,1 V, die
Schweißzeit in Schritten von 0,5 ms variiert. Je Schweißparametersatz wurden 5
Schweißungen untersucht. Die Ergebnisse der Schweißversuche wurden zum einen
manuell in tabellarischer Form, zum anderen mittels DOE anhand von
Wirkungsflächen ausgewertet.
Auf LDS-Testsubstraten aus LCP zeigte sich, dass hier aufgrund der Haftfestigkeit
der Leiterbahnmetallisierung lediglich Ausfallart 2 erreicht werden kann. Da dies auch
Abbildung 5-35:Optimierung der Schweißparameter auf LDS-LCP
Tabellarische Auswertung DOE Litze: AWG 26 Sn
Litze: AWG 26 AG
IGF Vorhaben Nr.16852 N
53
möglich war ohne den maximal mögliche Einsinkweg auszunutzen, wurde hier das
Kriterium für den Einsinkweg auf < 70 µm verschärft. Abbildung 5-35 zeigt die
Ergebnisse der Untersuchungen für die Fügepartnerkombination aus LDS-
Testsubstraten aus LCP und AWG26 Sn und AWG26 Ag Litzen. Das Prozessfenster
mit Sn-Litzen ist hier deutlich größer als bei Ag-Litzen. Abbildung 5-36 stellt die
Ergebnisse der Untersuchungen für die Fügepartnerkombination aus LDS-
Testsubstraten aus PPA und AWG26 Sn und AWG26 Ag Litzen dar. Hier zeigte sich
ebenfalls, dass das Prozessfenster mit Sn-Litzen größer als bei Ag-Litzen ist.
In Abbildung 5-37 sind die Ergebnisse der Untersuchungen für die
Fügepartnerkombination aus PA6/6T mit Walzfolie und AWG26 Sn Litzen dargestellt.
Es zeigt sich ein wesentlich größeres Prozessfenster als bei den LDS-Varianten.
Abbildung 5-36:Optimierung der Schweißparameter auf LDS-PPA
Tabellarische Auswertung DOE
Litze: AWG 26 Sn
Litze: AWG 26 AG
IGF Vorhaben Nr.16852 N
54
Anhand der Auswertung der Wirkflächendiagramme mittels statistischer
Versuchsplanung ergaben sich die in Tabelle 5-8 aufgeführten optimierten
Schweißparameter.
Kunststoffsubstrat Leiterbahn Litze Spannung [V] Schweißzeit [ms]
LCP
LDS (Cu/NiP/Ag)
AWG26 Sn 2,16 3,2
LCP AWG26 Ag 2,1 3,2
PPA AWG26 Sn 1,83 4,3
PPA AWG26 Ag 2,05 3,4
PA6T/66 Cu/Sn-
Walzfolie AWG26 Sn 2,2 3,9
Tabelle 5-8: Optimierte Schweißparameter
Auf eine weitere Optimierung der Prozessparameter auf FR4 wurde verzichtet, da
hier bereits ein sehr großes Prozessfenster erzielt wurde, ohne dass dabei hohe
Einsinkwege auftraten (siehe Abbildung 5-38).
Abbildung 5-37:Optimierung der Schweißparameter auf PA6T/66, heißgeprägt mit
Walzfolie
Tabellarische Auswertung DOE
Litze: AWG 26 Sn
IGF Vorhaben Nr.16852 N
55
5.3.5. Untersuchung zur Zuverlässigkeit mit optimierten
Schweißparametern
Mit den in Abschnitt 5.2.6 mittels DOE bestimmten optimierten Schweißparametern
wurden jeweils 100 Schweißungen in Serie durchgeführt um eine Aussage über die
Zuverlässigkeit des Schweißprozesses im Hinblick auf das Schweißergebnis treffen
zu können. Die Ergebnisse dieser Untersuchungen sind in Form von Diagrammen,
welche die Scherkraft in Abhängigkeit des Einsinkweges zeigen, dargestellt. Darüber
hinaus wurde auch die Häufigkeit der Ausfallart bestimmt. Abbildung 5-39 zeigt
zunächst exemplarisch die Auswirkungen der optimierten Versuchsparameter im
Vergleich zu den in Abschnitt 5.3.4 ermittelten Schweißparametern.
Im linken Diagramm, bei dem mit den Schweißbedingungen gemäß Abschnitt 5.2.6
geschweißt wurde, sind zwar die Einsinkwege sehr gering und liegen größtenteils im
Bereich unter 30 µm, die Scherkräfte hierbei sind sehr niedrig. Außerdem gibt es
Ausreißer mit zu geringen Scherfestigkeiten von kleiner 10 N. Es liegt zu 75 % die
Ausfallart 1 vor. Das rechte Diagramm zeigt die Schweißergebnisse nach der
Optimierung der Schweißparameter. Hier liegen sämtliche Scherkräfte oberhalb von
15 N und es herrscht die Ausfallart 2 mit 95 % vor. Tabelle 5-9 zeigt die Übersicht der
Ergebnisse für die untersuchten Fügepartnerkombinationen.
Abbildung 5-38: Tabellarische Auswertung der Schweißversuche auf FR4
Litze: AWG 26 Ag
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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Substrat Litze Prognostizierte Wert
Einsinkweg [µm]
Scherkraft [N]
Ausfallart Einsinkweg
[µm] Scherkraft
[N] Mittel Stabw Mittel Stabw
LCP Ag 63 19,0 64,9 13,2 20,6 3,1 1: 0 % 2: 99 % 3: 1%
LCP Sn 53 20,1 63,9 12,9 27,9 4,4 1: 1 % 2: 99 % 3: 0 %
PPA Ag 42 19,8 49,7 17,1 24,2 4,2 1: 0 % 2: 95 % 3: 5 %
PPA Sn 47 29,9 42,0 9,1 29,8 3,9 1: 1 % 2: 95 % 3: 4 %
PA6T/66 Walzfolie
Sn 48 38 51,9 9,4 33,2 3,1 1: 0 % 2: 36 % 3: 64 %
Tabelle 5-9: Ergebnisse zur Untersuchung der Prozessstabilität verschiedener
Fügepartnerkombinationen bei optimierten Schweißbedingungen
Abbildung 5-39:Optimierung der Schweißparameter auf PA6T/66, heißgeprägt mit
Walzfolie
Schweißparameter: 1,75 V / 3,6 ms Schweißparameter: 1,83 V / 4,3 ms
Ausfallart 1: 75 % 2: 25 % 3: 0 %
Ausfallart 1: 1 % 2: 95 % 3: 4 %
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Es zeigte sich, dass die prognostizierten Werte aus der DOE sich relativ gut mit den
Ergebnissen aus dem Versuchen decken. Außerdem ist ersichtlich, dass bei allen
Fügepartnerkombinationen die Ausfallart 2 erreicht werden konnte und dass selbst
Ausreißer eine hohe Haftung aufweisen.
Mit diesen optimierten Schweißparametern wurden Testsubstrate für
Zuverlässigkeitstests hergestellt. Hierbei wurden als Fügepartnerkombination nur
LDS-Substrate mit Litzen des Typs AWG26 Sn bzw. Ag untersucht Bei den
Temperaturschocktests, wie sie in Abschnitt 4.5.1 beschrieben werden, gab es keine
Ausfälle bei der eklektischen Prüfung. Die an den Testsubstraten durchgeführten
Scherzugversuche nach den Temperaturschocktests zeigten, keine
Verschlechterung der Haftfestigkeit. In Abbildung 5-40 sind die gemittelten
Scherkraftwerte nach verschiedenen Zyklenzahlen zu sehen. Aufgrund dessen kann
davon ausgegangen werden, dass durch die Temperaturwechselzyklen keine
Schädigung der Schweißverbindung stand fand.
Bei den Vibrationstests wurde je Fügepartnerkombination und Schweißverbindung
die Varianten ohne Glob Top, mit Glob Top über der Litze und mit Glob Top über der
Isolierung untersucht. Diese wurden je Raumachsrichtung 24 h geprüft. Es zeigte
sich nach Ende der Tests, dass bei allen Varianten mit bzw. ohne
Vibrationsentlastung und allen untersuchten Fügepartnerkombinationen es zu
keinem Ablösen von Litzen kam. Auch bei einer elektrischen Durchgangsprüfung
konnten keine Auffälligkeiten festgestellt werden.
Abbildung 5-40:Zugscherfestigkeitswerte vor und nach Temperaturwechselzyklen
IGF Vorhaben Nr.16852 N
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6. Literatur
1 DVS – Deutscher Verband für Schweißen und verwandte Verfahren e.V.: „Widerstandschweißen in Elektronik und Feinwerktechnik – Übersicht und Grundlagen“, DVS Merkblatt 2801 Teil 1, 1996
2 Ostermann, F.: „Anwendungstechnologie Aluminium“, Springer Berlin Heidelberg, 2007
3 Adrian, J.: „Automatisiertes, stoffschlüssiges Fügen folienisolierter Flachleiter mit Oberflächenkontamination“, Jost Jetter Verlag Heimsheim, 2005
4 Raiser, E. C.: „Untersuchungen zum Prozessablauf und der Verbindungsbildung beim Widerstandspunktschweißen von metallisch überzogenen Kupferlegierungen“, DVS-Berichte Band 210, DVS-Verlag, Düsseldorf, 2000
5 Spur, G., Stöferle, T.: „Handbuch der Fertigungstechnik“, Carl Hanser Verlag München Wien, 1986
6 DVS – Deutscher Verband für Schweißen und verwandte Verfahren e.V.: „Prüfen von widerstandsgeschweißten Verbindungen in der Elektronik und Feinwerktechnik – Zerstörende und zerstörungsfreie Prüfungen“, DVS Merkblatt 2812, 2002
7 Datenblatt LCP Vectra E840i LDS, http://www.resinex.de
8 Datenblatt Vestamid HTPlus 3586 (MT1000), http://www.vestamid.com
9 Datenblatt Grivory HT2V-3H, http://www.emsgrivory.com
10 Deutsches Kupferinstitut, http://www.kupferinstitut.de
11 Möller, U.; Nassar, J.: „Schmierstoffe im Betrieb“, Springer Berlin Heidelberg New York, 2. Auflage, 2002
12 Technische Information II, „BC-NIP Chemisch Nickel“; http://www.betz-chrom.de/pdf/TechInfo_II_Nickel.pdf
13 Gottstein, G.: „Physikalische Grundlagen der Materialkunde“, Springer Berlin Heidelberg New York, 3. Auflage, 2007
14 Kurr, F.: „Praxishandbuch der Qualitäts- und Schadensanalyse für Kunststoffe“, Carl Hanser Verlag, München 2011
15 EN ISO 14327:2004: Widerstandsschweißen – Verfahren für das Bestimmen des Schweißbereichsdiagramms für das Widerstandspunkt-, Buckel- und Rollennachtschweißen
16 Lapper, S.: „Ein Beitrag zum Aufbau spritzgegossener Schaltungsträger mittels Heißprägetechnik“, Verlag Dr. Hut, München, 2013
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7. Ergebnistransfer
Maßnahme Ziel und Rahmen Datum/ Zeitraum
Projektbegleitender
Ausschuss (PA)
1: Vorstellung des geplanten Projektes und Diskussion der geplanten Arbeiten
09.12.2011
2: Vorstellung der ersten erzielten Ergebnisse und Diskussion weiteres Vorgehen
03.07.2012
3: Vorstellung der erzielten Ergebnisse und Diskussion 23.01.2013
4: Abschlusspräsentation und Diskussion der erzielten Ergebnisse
31.07.2013
Transfer der
Projektergebnisse
1: Vorstellung der Ergebnisse: Mitgliederversammlung Mitgliederversammlung HSG
2012/2013
2: Präsentation der Ergebnisse auf dem Stand des HSG-IMAT im Rahmen der Industrieausstellung beim Internationalen MID Kongress in Fürth
19.-20.9.2012
3: Präsentation erster Ergebnisse auf Fachmesse SMT auf Gemeinschaftsstand 3D-MID
16.-18.04.2013
4: Präsentation der Ergebnisse auf dem Stand des HSG-IMAT auf dem MST-Kongress in Darmstadt
14.-16.10.2013
5: Präsentation der Ergebnisse im Rahmen der Akquisition bei der Institutsvorstellung von HSG-IMAT
laufend
6: Durchführung eines Industrieprojektes basierend auf Projektergebnissen mit einer Firma die nicht im PA war.
1.11.13 – 31.01.14
Veröffentlichung der
Projektergebnisse
1: Präsentation der Zwischenergebnisse im Jahresbericht HSG-IMAT 2012
2012
2: Publikation der Forschungsergebnisse in Abschlussbericht und Veröffentlichung auf den Internetseiten unter http://www.imat.hsg-imit.de/downloads/
2013
3: Publikation der Forschungsergebnisse in Fachzeitschrift Geplant 2014
4: Präsentation der Ergebnisse im Jahresbericht HSG-IMAT
2013 Geplant 2014
Aufnahme der Ergebnisse
in die Lehre bzw.
Durchführung von Diplom-
und Studienarbeiten
1: Ausbildung der Studenten an der Universität Stuttgart 2013
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8. Danksagung
Das IGF-Vorhaben 16852 N der Forschungsvereinigung Hahn-Schickard-
Gesellschaft für angewandte Forschung e. V. – HSG, Wilhelm-Schickard-Straße 10,
78052 Villingen-Schwenningen wurde über die AiF im Rahmen des Programms zur
Förderung der industriellen Gemeinschaftsforschung und –entwicklung (IGF) vom
Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie aufgrund eines Beschlusses des
Deutschen Bundestages gefördert. Für diese Förderung sei gedankt.
Dem projektbegleitenden Ausschuss sei für die Unterstützung und die Hinweise aus
den zahlreichen Diskussionen gedankt. Namentlich sind dies:
2E mechatronic GmbH & Co. KG
Robert Bosch GmbH
Evonik Degussa GmbH
Greitmann Consulting
Harting AG
LEONI Bordnetz-Systeme GmbH
LPKF Laser & Electronics AG
Miyachi Europe Corporation
Möller GmbH
Robert Seuffer GmbH & CO. KG
Wiesauplast Kunststoff und Formenbau GmbH & Co. KG
WWS Technik in Form und Kunststoff GmbH