47
1 Science des surfaces en métallurgie : vers de nouveaux outils pour la compréhension des interactions plasma-surface T. Duguet, J.M. Dubois, V. Fournée, T. Belmonte Journées Bonascre 2009 29 Septembre 29 – 2 octobre 2009, Bonascre Institut Jean Lamour, Nancy-Université, CNRS, Ecole des Mines, Parc de Saurupt CS 14234 54042 Nancy Cedex France. E-mail: [email protected]

Science des surfaces en métallurgie : vers de nouveaux ...plasmasfroids.cnrs.fr/IMG/pdf/Belmonte09.pdf · • réactivité de surface (catalyse : reformage du méthanol) • adhésion

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1

Science des surfaces en métallurgie :vers de nouveaux outils pour la compréhension des

interactions plasma-surface

T. Duguet, J.M. Dubois, V. Fournée, T. Belmonte

Journées Bonascre 2009 29 Septembre 29 – 2 octobre 2009, Bonascre

Institut Jean Lamour, Nancy-Université, CNRS, Ecole des Mines, Parc de Saurupt CS 14234 54042 Nancy Cedex France.

E−mail: [email protected]

2

Journées Bonascre 2009 29 Septembre 29 – 2 octobre 2009, Bonascre

Introduction : La plateforme SIS, un nouvel outils de science des surfaces pour la métallurgie à Nancy

Généralités sur les Quasi-Cristaux

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion…

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

Retour au monde réel : PVD et recuits

Projet de LEA : greffe plasma-SIMS et plasma-STM?

3

Introduction

Bi sur AlCuFe

170nm x 170nm

4

Introduction

L’IJL : fédération de 5 laboratoires450 personnes

Nouvelle implantation à Nancy : 6 février 2014!

5

Introduction

• Construction d’un nouvel instrument pour l’élaboration, le traitement et la fonctionnalisation des surfaces et revêtements de produits métallurgiques et la caractérisation in situ de leurs propriétés physico-chimiques : l’instrument Science et Ingénierie des Surfaces (SIS)

• Rapprochement de 2 jeunes équipes, de compétences complémentaires, pour développer une approche nouvelle des procédés de fonctionnalisation des surfaces.

• Budget de 1.1 M€ sur 2004-2006. Première partie installée en septembre 2005.

Réacteur de dépôt Diagnostics de surfaceIn situ

Maîtrise de la chaîne élaboration-structure-propriété

6

Introduction

L’enceinte de diagnostics sous ultravide

Sas d’introduction rapide

Chambre de préparation et d’évaporationéquipée d’un LEED

XPS, UPS, Auger

AFM et STM

Bancs de contrôle

Réacteur PVD 3 cibles(substrat chauffant, polarisable et rotatif)

7

Généralités sur les Quasi-Cristaux

[Ribeiro et al., Phil. Mag. 84 (2004)]

8

Généralités sur les Quasi-Cristaux

Structure quasipériodique 1D :

Un atome à chaque extrémité � structure quasipériodique 1D

…L S L S L SL L…

Suite de Fibonacci :L pour long et S pour court (short)Règles de substitution : L→LS et S →L, avec L/S =

LLSLSLLSLLSLSLLSLSLLSLLSLSLLSLLSLSLLSLSLLSLLSLSLLSLSL…

251+=τ

9

Généralités sur les Quasi-Cristaux

E//

e1

e2

α’’

E┴

aa

a

E//

e1

e2

α’’

E┴

aa

a

Approximant 1/1E//

e1

e2

L

S

LLα’

LS

LL

S

E┴ E//

e1

e2

L

S

LLα’

LS

LL

S

E┴

Approximant 2/1

a = LLS

E//E┴

e1

e2

LS

LS

LL

L

S

α

E//E┴

e1

e2

LS

LS

LL

L

S

α

Quasicristal

apériodique

Généralisation :pour les structures icosaédriques �espace physique englobé dans un hyperespace 6D pour les structures décagonales � hyperespace 5D

Coupe et projection des surfaces atomiques sur l’espace physique génère un réseau de point 1D.

α = arctan(1/τ) entraine L/S = τ� structure quasipériodique (séquence de Fibonacci)

Avec α’ = arctan(Fn-1/Fn)� structure périodique (approximant, portions de séquence de Fibonacci)

Structure quasipériodique 1D :

10

Généralités sur les Quasi-Cristaux

Portions d’un pavage de Penrosetridimensionnel(b : énneacontaèdre)(c : triacontaèdre rhombique), àpartir de deux rhomboèdres de base (a) caractérisés par des angles respectifs de 72 et 36° et un rapport de volumes de 1/τ.

Représentation schématique de la phase icosaédrique

Couches polyédriques concentriques formant respectivement les clusters de Bergman (a), Mackay (b) et des phases icosaédriques Cd-Yb (c) et Zn-Sc (d).

11

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

12

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

Exemple d’étude : la surface [10000] de la phase décagonale Al63,2Cu19,5Co17,3

Axe b 5 [00001], d’ordre 10

Méthode de flux :Prisme décagonal avec 10 facettes, famille {10000}

Les surfaces {10000} contiennent la direction périodique [00001] et une direction quasipériodique du type <001 0>1

[Ribeiro et al., Phil. Mag. 84 (2004)]

0br

1br

[10000]

2br

[01000]

3br

[00100]

[00010]

4br

5br

[00001]

3br

4br

-[00110]

( )0br

1br

[10000]

1br

[10000]

2br

[01000]

2br

[01000]

3br

[00100]

[00010]

4br

5br

[00001]

5br

[00001]

3br

4br

-[00110]

( )

N.B. La morphologie des monocristaux et l’étude du modèle structural indiquent que les surfaces {001 0} sont peu stables en comparaison des {10000}. 1

13

STM

LEED

Périodicité de 0,8 nm.Quasipériodique le long de [001 0]1

Surface préparée par bombardement (Ar+, 2keV) et recuit entre 973 et 1073 K pdt 1h30min.

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

14

STM

285,6x285,6 nm²

Séquence de hauteurs de marche suivant [10000] : L-S-L-(LS)-(LSL)-(SL)-S-S �portion de suite de Fibonacci (avec S = 0,47 et L = 0,77 ±0,05 nm) avec un défaut

0,470,46

1,24

2,07

1,27

0,77

0,770,47

0,470,46

1,24

2,07

1,27

0,77

0,770,47

Séquence de hauteurs de marche

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

15

STM

Pointe STM

On regarde dans la direction normale à la surface

[10000]On définit des blocs de plans, séparés par des zones de densité atomique nulle d’épaisseur 0,10-0,13 nm (gaps)gaps

Séquence de tailles de blocs �séquence de hauteurs de marche expérimentale

On génère des terminaisons modèles à la surface des blocsEx : z = 3,897 nmdz = 0,11 nm

Modèle de [Deloudi S., ETH Zurich thesis (2008)]

Al = BleuTM = Orange

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

16

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

Type I : 11 at.nm -²85% Al

Type III : 10 at.nm -²50-60% Al

3 familles de terminaisons

Al = BleuTM = Orange

Type II : 11 at.nm -²100% Al

17

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

STM

L+S

L S

LL S L S

L+S

L+SL

12,8x12,8 nm²12,8x12,8 nm²

[00001] [00110]

L+S

L S

LL S L S

L+S

L+SL

12,8x12,8 nm²12,8x12,8 nm²

[00001] [00110][00110]

15x15 nm²15x15 nm²

[00001] [00110]

L+S+L

L+S

L+S+LL+SL+S+L

15x15 nm²15x15 nm²

[00001] [00110][00110]

L+S+L

L+S

L+S+LL+SL+S+L

Type I Type II

Type III-1,2 V

Type III+1,2 V

10 at.nm-2

85 % Al10 at.nm-2

100% Al

11 at.nm-2

50 ou 60% Al20% de la

surface totale

18

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

Généralisation à propos des surfaces d’alliages quasicristallins

• Croissance sélective des terrasses correspondant aux plans volumiques bordés par des grands gaps• Plans à la surface de blocs de différentes hauteurs H = mL+nS = (mτ+n)S• Séquence de hauteurs de blocs � séquence de hauteurs de marche �séquence de Fibonacci• Terminaisons relativement riche en Al et de densité proche de celle de Al(111)

Exemple le mieux documenté : la surface 5f i-Al-Pd-Mn[Ünal et al., Phys. Rev. B 77 (2008)]

19

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

Quelques propriétés des QC :• coefficient de frottement faible• protection anticorrosion• réactivité de surface (catalyse : reformage du méthanol)• adhésion faible avec les métaux courants (dans le vide ou l’atmosphère)• durs• fragiles•…

Problèmes applicatifs :

� propriétés mécaniques incompatibles avec une utilisation de massifs� adhésion faible entrainant une mauvaise adhérence des revêtements

Revêtement QC

Substrat métallique* J. M. Dubois, UsefulQuasicrystals, (World Scientific, Singapore, 2005)

SiOx/Si

Cu

1µm

Analogie : QC/métal et Isolant/métal

20

Les surfaces des QC : un problème d’adhésion

Solution ?

Utiliser une couche d’interface

Substrat métallique

Couche interfaciale

Revêtement QC

Quel alliage ?

[M. Bielmann et al., Adv. Eng. Mater. 7 (2005)]

[T. Duguet et al., J. Phys.: Cond. Matter (2008)]

[H. G. Jiang et al., J. Appl. Phys. 74 (1993)]

• Structure et propriétés intermédiaires entre un métal et un QC (approximant)

• Relations d’orientation avec le substrat et le revêtement

• Stable pendant l’élaboration

γ-Al4Cu9

21

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

30 eV 250x250 nm 2

(a)

30 eV

(b)

55,3x55,3 nm 2

30 eV 40 eV

(c)

152x152 nm 2

48,4x48,4 nm 2

34,5x34,5 nm 2

100 eV

(f)

(e)40 eV

(d)

30 eV 250x250 nm 2

(a)

30 eV

(b)

55,3x55,3 nm 2

30 eV 40 eV

(c)

152x152 nm 2

48,4x48,4 nm 2

34,5x34,5 nm 2

100 eV

(f)

(e)40 eV

(d)

22ab

c

TI : Tétraèdre interne

TE: Tétraèdre externe

O: Octaèdre

CO: Cuboctaèdre

Basé sur un cluster de 26 atomes

Grande maille cubique contenant 52 atomes, a = 8,71 Å, groupe d’espace P43m

3x3x3 mailles CsCl avec 2 lacunes au centre et aux sommets → Al16Cu36�2

Rôle des lacunes : (i) concentration en électrons de valence (~ 0,125 Å-3) et (ii) stabilisation des configurations pentagonales

[C. Dong, Phil. Mag. A 73 (1996)]

Structure du volume : maille et clusters

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

23

Deux familles de plans {110} : plats (F pour flat) et corrugués (P pour puckered)

Empilement de pentagones têtes bêches suivant [110]

[001]

F

P

f

p

p’

P’

F

[110]12

,31

Å(b) Plans corrugués

de type P(a) (c) Plans plats de

type F

n

m

n

m

m

[001]

F

P

f

p

p’

P’

F

[110]12

,31

Å(b) Plans corrugués

de type P(a) (c) Plans plats de

type F

n

m

n

m

m

Structure le long la direction [110] : plans et séquence de plans

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

24[Calculs DFT réalisés par E. Gaudry]

DO

S (

état

s/eV

)

Energie de liaison (eV)

DOS totale Al4Cu9

- Concentration volumique en électrons de valence proche de i-Al-Cu-Fe (ico : 0,124 Å-3, γ : 0,127 Å-3)

Calculs de densité d’états électroniques (DOS) :

• bande Cud entre 2 et 5 eV

• densité Alp,s et Cus dans toute la gamme d’énergie(états occupés et innoccupés), avec deux minima au niveau de la bande Cu d et proche du niveau de Fermi

→ F minimisée avec un pseudogap proche de E F

→ Hume-Rothery

Structure électronique : pseudogap et stabilisation

[Asahi et al., Phys. Rev. B 71 (2005)]

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

25

Résumé :

� Alliage à grande maille décorée par des clusters

� Configurations locales pentagonales

� Similarités dans la structure électronique: pseudogap à EF et concentration en électrons de valence

• Sur un substrat métallique : Al/Cu(111)

• Sur un substrat QC : Cu/5f i-Al-Cu-Fe

Substrat métallique

Al4Cu9

Substrat QC

Al4Cu9

Al4Cu9 comme alliage de surface, études modèles:

(Non présenté)

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

26

* Germination de l’Al en bord de marche (a). Îlots facettés indiquant une croissancepseudomorphique (f), défauts indiquant de l’interdiffusion (f).* Croissance de type Stranski-Krastanov, transition 2D/3D à 3 ML (c). * aAl/aCu = 1,12 : diffusion interfaciale et reconstruction en p(2x2), a = 0,52 ±0,01 nm

ML �

Mon

ocou

ches

(a) 0.6 ML (b) 2 ML

(d) 8 ML (e) 35 ML (f) 0.6 ML

(c) 3 ML

125x125 nm² 125x125 nm² 125x125 nm²

125x125 nm² 150x150 nm² 40x40 nm²

5,5x5,5 nm²

(a) 0.6 ML (b) 2 ML

(d) 8 ML (e) 35 ML (f) 0.6 ML

(c) 3 ML

125x125 nm² 125x125 nm² 125x125 nm²

125x125 nm² 150x150 nm² 40x40 nm²

5,5x5,5 nm²

Al déposé à température ambiante sur Cu(111): STM

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

27

*Croissance pseudomorphique jusqu’à 3 ML: film contraint (m = -10,5%).*Diffusion du Cu dans Al : solution solide avec reconstruction (2x2) de 3 à 8 ML.*Au delà de 8 ML, Al(111) apparaît en plus des autres taches.*Après 12 ML, Al croît avec son paramètre de maille de volume.

Al déposé à température ambiante sur Cu(111): LEED

(a)

0 ML-80 eV

(b)

2 ML-83 eV

(c)

3 ML-90 eV

(d)

8 ML-80 eV 12 ML-90 eV

(e) (f)

35 ML-80 eV

(a)

0 ML-80 eV

(b)

2 ML-83 eV

(c)

3 ML-90 eV

(d)

8 ML-80 eV 12 ML-90 eV

(e) (f)

35 ML-80 eV

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

28

20x20nm 2 130 eVbase p3 : Cu(1x1) base c(4x2)

86 eV

STM LEED (a) LEED (b)

20x20nm 2 130 eVbase p3 : Cu(1x1) base c(4x2)

86 eV

STM LEED (a) LEED (b)Recuit des films d’Al : 8 ML et 12 ML, recuit à 510 K

Reconstruction en c(4x2) avec 3 domaines rotationnels

Al22Cu78 estimée pour 20 à 30 ML

Réseau réel Réseau réciproque (x3)base p3 (1x1)base c(4x2)

base p3 (1x1)base c(4x2)

Réseau réel Réseau réciproque (x3)base p3 (1x1)base c(4x2)

base p3 (1x1)base c(4x2)

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

29

Recuit des films d’Al : 16 ML et 35 ML, recuit à 510 K

Relations type K-S

Mesures STM et FFT : a = 8,7 Å ; b = 12,3 Å → Maille (110) de γ-Al4Cu92 familles de 3 domaines rotationnels à 120°en relat ions de type Kurdjumov-Sachs, expérimentalement à ±4°

40x40 nm²

35 eV

(3,0)a*

b*(0,1)

40x40 nm²

35 eV

(3,0)a*

b*(0,1)

STM LEED

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

30

[001]

F

P

f

p

p’

P’

F

[110]

12,3

1 Å

(a)

n

m

n

m

m

[001]

F

P

f

p

p’

P’

F

[110]

12,3

1 Å

(a)

n

m

n

m

m

[001]

F

P

f

p

p’

P’

F

[110]

12,3

1 Å

(a)

n

m

n

m

m

[001]

F

P

f

p

p’

P’

F

[110]

12,3

1 Å

(a)

n

m

n

m

m

� PP� PF

� F

- Bonne correspondance- Sélection des terminaisons les plus denses et les plus riches en Al

Al4Cu9 : comparaison STM / calculs DFT

[Calculs DFT réalisés par E. Gaudry]

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

31

• γ-Al4Cu9 sur substrat cfc, par recuit à 510 K

• épitaxie rotationnelle : 3 familles de domaines [110]γ // 5-f, type K-S

Substrat métallique

Al4Cu9

Résultat :

Une solution sous ultra vide : γ-Al4Cu9

32

Retour au monde réel

33

Méthode : faire varier la composition grâce au rapport des épaisseurs (eAl/eCu) + recuit

Caractérisation par MEB (EDS), DRX, MET…

Croissance d’échantillons multicouches par pulvérisation cathodique magnétron

Substrat

Bicouche

Substrat acier ou Si(100) (avec oxydenatif)

AlCu

1 µm

Retour au monde réel

34

Retour au monde réel

γ + δ

γ

δ

ζ + δ

ζ

ζ + η

η

θ + η

θ

e/e=1.06

e/e=1.8e/e=1.7

e/e=1.6e/e=1.5

% massique Cu

% atomique Cu

Te

mpé

ratu

re(°

C)

Formation des phases stables basse T sans interdiffusion des éléments du substrat (Fe, Si, C…) grâce à la température de recuit peu élevée (1h @ 493 K)

Synthèse : indépendamment sur Si(100) oxydé ou acier

e/e=1.96

35

Retour au monde réel

STRUCTURE : γ-Al 4Cu9

échantillon monophasé

Al4Cu9 : 530 nm d’Al et 500 nm de Cu + 1 h à 493 K

COMPOSITION : Al(32)Cu(68)

Cou

ps

Energie (eV)

Al Kα

Cu LαRapport des épaisseurs:

eAl/eCu = 1.06

DRX-IR

EDS (Quanta FEG)

Cou

ps

Echelle 2θ (°) 1 µm

36

Retour au monde réel

Substrat Si ou acier

Al4Cu9

Résultats :

DRX :

37

Retour au monde réel

Préparation de lame mince pour le MET

38

Retour au monde réel

Caractérisation de la lame mince : MET

Diffraction :

Trois phases et β àl’interface film-substrat

EELS :qualitativement- Substrat : Al, Pd, Mn- Film : Al, Cu, ?- Moins de Cu àl’interface

39

Retour au monde réel

Relation d’orientation : interface film-substrat

40

Retour au monde réel

Relation d’orientation : interface film-substrat

41

Retour au monde réel

Résumé :

� γ-Al4Cu9 / acier et Si(100)

� γ-Al4Cu9 / i-Al-Pd-Mn avec relations interfaciales (mais β)

Réalisations :Substrat QC

Al4Cu9

Substrat conventionnel

Al4Cu9

42

Projet de LEA : greffe plasma-SIMS/STM?

43

Projet de LEA : greffe plasma-SIMS/STM?

Equipe ESPRITS Département Science et Analyse des Matériaux (SAM) du CRPGL

partenariats privilégiés entre la Région Lorraine et le Luxembourg dès 1992

LSGS - UMR 7570NANCY

LPM – UMR 7556

Laboratoire d’analyse des Matériaux du Centre de Recherche Public Gabriel Lippmann

10 thèses codirigées

Idée d’un laboratoire européen associé au CNRS (LEA) : début 2008

Création de l’Institut Jean Lamour : janvier 2009

Expériences et Simulations des Plasmas Réactifs - Interaction plasma-surface et Traitement des Surfaces

Laboratoire d’Interaction Plasma – Extrême Surface (LIPES)

44

Projet de LEA : greffe plasma-SIMS/STM?

Le thème principal du LEA porte sur l’étude des int eractions plasma -extrême surface. Cette activité s’étend de l’étude d es réactions en extrême surface de matériaux à la fonctionnalisation par traitement plasma ou dépôt sous vide .

Diagnostics du plasma Diagnostics in-situ des surfaces

Modélisation des plasmasModélisation de l’interaction plasma-surface

Interactionplasma-surface

Sources d’ionsSIMS - nanoSIMSLEISXPS, nano-AugerAFMMicro-raman

Approches Monte-Carlo DynamiqueDynamique Moléculaire

Approches cinétiques (couplage Boltzmann, schéma réactionnel, thermique, hydrodynamique)

Spectroscopie d’émission optiqueSpectrométrie de masseAbsorption infra-rougeSondes électrostatiquesLIF, TALIF, diode Laser

Laser accordable Spectro masse PALangmuir probe

45

Projet de LEA : greffe plasma-SIMS/STM?

Microwave power supply Circulator

Liquid nitrogen trap

He

Mass flow controller

O2

N2

H2

Ar

Coaxial cable

Vers le SIMSCanne de transfert

46

Projet de LEA : greffe plasma-SIMS/STM?

Microwave power supply Circulator

Liquid nitrogen trap

He

Mass flow controller

O2

N2

H2

Ar

Coaxial cable

Two-stage pumping unit

Mass spectrometer

ECR « pen »plasma

Ti vapourpump

To the STM chamber

47

Projet de LEA : greffe plasma-SIMS/STM?

Merci pour votre attention

72°

55,6x55,6 nm²

72°

55,6x55,6 nm²