Soluciones Agilent para el Análisis Elemental … · químicas y físicas de las muestras. La presencia de ... Elementos mayoritarios a 100’s ppm pueden ser medidos en las mismas

Soluciones Agilentpara el

Análisis ElementalAnálisis ElementalComparación

Rafael SanzBTM EspectroscopíaAgilent Iberia

Agilent Confidential

La composición elemental determina las propiedades químicas y físicas de las muestras.

La presencia de ciertos elementos, incluso a niveles de traza y ultra -traza puede

Importancia del Análisis Elemental

Sep 2010

de traza y ultra -traza puede tener un impacto significativo en la salud humana en el medio ambiente o en la industria.

Características y Exigencias del Análisis Elemental

El análisis de trazas y ultra-trazas es cada vez má s exigente. Disminución de los límites de detección de las técnicas de análisis (medioambiente, alimentación, bio-clínico, semiconductores, materiales)

Los análisis se efectúan cada vez más en un entorno regulado. Legislaciones nacionales, europeas, internacionales . Uso de sistemas de calidad, patrones primarios, CRMs. – Exactitud y

Sep 2010

sistemas de calidad, patrones primarios, CRMs. – Exactitud y robustez en el sistema de medida.

El análisis se incorpora dentro de la cadena produc tiva y por lo tanto cada vez es más importante el control de los costes y la productividad de los laboratorios . – Automatización, velocidad , capacidad multielemento, sencillez de manejo.

Campos de Aplicación del Análisis Elemental

– Medioambiente– Alimentación– Agrario– Minería/Geología– Materiales– Clínico– Farmacéutico– Químico/Petroquímico– Químico/Petroquímico– Semiconductores– Control de Calidad– Forense– Nuclear– Investigación

2011 – The Atomic Spectroscopy Revolution

Con el lanzamiento del nuevo MP-AES en 2011, Agilent ofrece ahora la másamplia gama de Soluciones Analíticaspara el Análisis Elemental en muestraslíquidas:

• Absorción Atómica de Llama(FAAS);

• Horno de Grafito (GFAAS)• Horno de Grafito (GFAAS)

• Generación de Vapor (VGAAS)

• Emisión Atómica por Plasma de Microondas (MP-AES);

• Emisión Atómica por Plasma ICP

• Espectrometría de Masas con fuentede ionización por Plasma ICP

Atomic Spectroscopy PositioningAgilent Restricted

FAASAbsorción Atómica de Llama

Bajo coste ; Rápida; monoelemental; buenacobertura de elementos; DLs 10’s a 100’s ppb

Coste medio; Más rápida; Multielemental; Mayor cobertura de elementos; DLs 1’s a10’s ppb; Mínimo coste operacional

Técnicas de Espectrometría AtómicaAbsorción/EmisiónAAS, ICP-OES, MP-AES, ICP-MS

MP-AESEmisión Atómica por Plasma de Microondas

ICP-OESEspectroscopía Optica de Emisión ICP

ICP-MS Espectroscopía de Masas

Mayor coste; Lenta; Monoelemental; Coberturaselectiva de elementos, DLs 10’s a 100’s ppt

Mayor coste; Muy rápida ; Multielemental; Mayoría de elementos, DLs 1’s ppb

Alto Coste; Rápida; Multielemental; Mayoría de los elementos, Hg, DLs ppt/sub-ppt; alto coste.

GFAAAbsorción Atómica por Horno de Grafito

120

100

80

Inst

rum

enta

l ((

$K)

730/735-ES720/725-ES710/715-ES

7700s7700x7700e

ICP-MS

SimultaneousICP-OES

Técnicas de Espectrometría Atómica

60

40

20

Cos

tede

Inve

rsió

nIn

stru

men

tal

ppb ppm

50/55 Series AA

280 Series AA240 Series AA

100%ppq ppt 0.1 %


Flame AAS

GFAASNEW!!! MP-AES

Entry level ICP-OES

Page 7

Agilent AAS Características y

Ventajas Analíticas


Absorción Atómica: Características generales

Ventajas

67 elementos

Desde ppt´s a niveles de altas ppm

Intervalo lineal de 2-3 ordenes

Precisión tìpica inferior al 1% RSD en FLAA y VGA y del 3-5% RSD en GFAA.

Instrumento sencillo de “ajustar”

Instrumentación de facil manejo

Técnica muy específica y selectiva

Moderados costes operativos

Limitaciones

• Técnica Monoelemental• Efectos de matriz importantes• Rango lineal reducido• Gases combustibles

Eficiencia y ProductividadModo de trabajo en Fast Sequential (FS)

• Mide todos los elementos en una secuencia rápida.

• Todas las muestras se aspiran una sola vez.

• Mejora la productividad en más de un 50%

• Menor consumo de muestra. Ahorro de tiempos de trabajo y costes operativos

Solo Agilent dispone del modo FS

Equipos de AA Agilent de llama 240FS/280FS

Equipos orientados a laboratorios con carga de trab ajo moderada que precisen un buen nivel de automatismo, productivida d y competitividad. Especialmente indicado para laboratorios de contrat o, o en control de calidad cuando la carga de trabajo es limitada.

Permite el análisis Secuencial Rápido (FS) de los elementos de la muestra. Unido al SIPS permite realizar de forma rápida y desatendida

Sistema completamente automático y compatible con todos los accesorios.

permite realizar de forma rápida y desatendida las calibraciones necesarias y alargar en más de 2 órdenes de magnitud el intervalo dinámico lineal del sistema.

• Sirve para el análisis de elementos formadores de hidruros volátiles. – As, Se, Sb, Bi, Te, Sn

• Análisis de mercurio por vapor frío– Cold vapor

• Técnica extremadamente Sensible– Límites de detección a nivel sub-ppb con

Atomización por Generación de Hidruros/Vapor frío

– Límites de detección a nivel sub-ppb con precisión del 1-2 % a nivel ppb

• Redución química del elemento a su Hidruro gaseoso o vapor libre de Hg

• Hidruro se disocia en celda pre-calentada (excepto Hg)

Equipos de AA Agilent de Cámara de Grafito

La cámara de grafito permite llegar hasta los 3000º , con rampas de calentamiento de hasta 2000ºC/seg.Tubos de calentamiento longitudinal isotermos, prot egidos por una

Técnica orientada a laboratorios regulados, medioam bientales, toxicológicos,… con altas exigencias de sensibilidad y con carga de trabajo moderada, que precisen un buen nivel de aut omatismo, productividad y competitividad.

Tubos de calentamiento longitudinal isotermos, prot egidos por una corriente de Ar.Cabezal construido de materiales inertes (titanio).20 etapas de temperaturas, selección de gas de arra stre alternativo. Múltiples modos de inyección.

• Examine los resultados(30 a 40 mins. despues)

El máximo de

Optimización para la determinación de Pb empleando modifi cadores fosfato

SRM. Ventana para la Optimización del las Temperaturas del Ho rno

El máximo de la curva esindica lascondicionesóptimas.

Presionando OK se fijan las condiciones optimizadas en el método de análisis

Análisis simultáneo de Análisis simultáneo de TTrazas y razas y Análisis simultáneo de Análisis simultáneo de TTrazas y razas y UUltratrazasltratrazas

Llama y Llama y CCámaraámara de Grafito Simultáneasde Grafito Simultáneas

AGILENTAGILENT

SPECTRAA DUOSPECTRAA DUO

Sistemas Agilent-DUODOS Plataformas que combinan SIMULTANEAMENTE:

ATOMIZACIÓN POR LLAMACORRECTOR DE FONDO POR DEUTERIOATOMIZACIÓN POR CÁMARA DE GRAFITOCORRECTOR DE FONDO POR EFECTO ZEEMAN

• Ideal para laboratorios medioambientales, alimentación, toxicológicos reguladoscon altas exigencias de sensibilidad y cargas de trabajo medias.

• El uso simultaneo del FLAA y del GFAA mejora la productividad

• Sencillez en la puesta a punto – cada atomizador está permanentemente alineado

Agilent MP-AES Características y



Una nueva tecnología: Plasma inducido por Microondas MP-4100

Altasprestaciones

• Alternativa ideal a FLAA• Mide mayoritarios, minoritarios

y la mayoría de trazas.• Sin demasiadas interferencias

de matriz

Menor coste• Solo precisa aire• Multi -elementoMenor coste

operativo• Multi -elemento• Trabaja desatendido• Buena productividad

Rápido & Facilde usar

• Medidas secuenciales rápidas• Corrección de fondos simultánea• Nueva generación de software con

modos de trabajo definidos o avanzados

Seguro• Sin gases inflamables• Trabajo multielemental

desatendido


EspectroscopiaEspectroscopia AtómicaAtómicaICPICP--OES OES

October 24, 2011Confidentiality Label

Plasma acoplado inductivamente (ICP)

Campo magnético

Cuerpo de antorcha

3 Tubos concéntricos de cuarzo

Bobina de inducción

Ar – Flujo de gas de nebulizador y aerosol de muestra

Corrientes de Eddy

Ar – Flujo de gas de plasma

Ar – Flujo de gas auxiliar

inducción(Refrigerada)

Plasma ICPOES. Ventajas

• Amplio espectro 78 elementos analizables.• Muy adecuado para el análisis de elementos refracta rios.• Técnica simultanea, muy rápida y robusta.• Amplio intervalo dinámico - ppb a % • Precisión frecuentemente superior al 1%• Gran tolerancia a sólidos disueltos.• Gran tolerancia a los medios orgánicos.• Pocas interferencias químicas• Normalmente la preparación de muestra es sencilla• Relativamente facil de operar

Plasma ICP-OES: Limitaciones

• Ultratrazas en medioambiente, alimentación, toxicolo gía...• Nebulizadores Ultrasónicos• Preparación de muestra

• Posibles interferencias espectrales• Líneas alternativas• Líneas alternativas• Correcciones matemáticas.• Sistemas de corrección

• Costes operativos. Consumo de Ar

ObservaciónObservación Radial (Agilent 715Radial (Agilent 715--725725--735)735)

Canal central

Volumen de observación

Canal central

Altura de visión

Bobina de

Región de inducción

Flexibilidad sin Compromiso

Permite – trabajar con muestras con alto contenido de sa les disueltas- analizar muestras de muy altas concentraciones

Bobina de inducción

Interfaz de cono refrigerado

Flexibilidad sin Compromiso

ObservaciónObservación Axial (Agilent 710Axial (Agilent 710--720720--730)730)

- Interfaz a través de un cono refrigerado y una contracorrie nte de Arpara suprimir la zona de recombinación molecular- Paso óptico en el canal central más largo �� sensibilidad aumentadaen un factor de 3 a 10.- Limitación en cuanto a la carga de contenido de sales en lasmuestras: 30 a 50 g/L según el tipo de sal.

Apertura de la cola del Apertura de la cola del Apertura de la cola del Apertura de la cola del

plasmaplasmaplasmaplasma

Antorcha

Prisma CaF2

Red de Difracción

Chip CCD

Agilent 700Agilent 700--ES ES SIMSIM

Robustez en las determinaciones

Todos los componentes ópticos son fijos, no hay componentes móviles

Policromador“Echelle”

El sistema óptico está termostatizado a 35ºC +-0.1ºC para evitar derivas por dilatación.

Detector CCD de Estado Sólido.

Tecnología IMAP: Líneas Activas Curvadas Continuas con > 70.000 elementos detectores individuales ( Pixels ) cubriendo el rango espectral completo.

Protección anti-saturación de cada elemento individual.

Chip-Detector refrigerado Peltier a - 36 o C

Agilent 720/730-ES SIM

Ventajas de la tecnología CCD AgilentImagen espectral completa de la muestra de una sola vez

Corrección de fondo simultánea en tiempo real

Análisis retrospectivo de resultados

Tiempo de análisis independiente del número de elementos/líneas

Mayoritarios y minoritarios en el mismo análisis

Menores Costes Operativos

Velocidad de análisis

Consumo de gases

Gas de DesvíoInterfaz de cono refrigerado

20-30 l/minApertura de la cola del Apertura de la cola del Apertura de la cola del Apertura de la cola del

plasmaplasmaplasmaplasma

Agilent ICPMS Características y



ICP-MS

VentajasTécnica multi-elemental muy rápida

Máximo nivel de sensibilidad

Amplio rango dinámico lineal

Análisis isotópico. Determinción de halógenos

Análisis cuantitativo y semi-cuantitativo

Posibilidad de acoplamiento (LC, GC, LA, IC,CE)Posibilidad de acoplamiento (LC, GC, LA, IC,CE)

Tiempo de desarrollo de métodos

InconvenientesInterferencias espectrales y poli-atómicas

Mayor mantenimeinto de rutina

Problemas de contaminación en la preparación de la mue stra

Agilent 7700x ICP-MS con Octopole Reaction System (ORS3)

Entrada de gas

de dilución del

kit HMI

Lentes iónicas Off-axis

Sistema de

introducción de

Entrada del gas

de celda

Cuadrupolo

hiperbólico de

alta frecuencia

(3MHz)

Detector

simultáneo dual

rápido (109

Interfase de extracción

(alta transmisión,

tolerancia a matriz)

3º generación

Octopole Reaction

System (ORS3)

Cámara de

nebulización

refrigerada por

Peltier

introducción de

muestra de bajo

flujo

Generador de RF de

27MHz de frecuencia

variable

Sistema de vacío

de alto

rendimiento

rápido (109

intervalo dinámico

lineal)

ICP-MS : La Tecnología de Agilent

Sistema de introducción de muestras HMIMejora la tolerancia en las matrices más complejas

Mejora la Productividad

Interfaz de Alta TransmisiónSensibilidad mejorada

Mejor tolerancia a las matrices complejas

Mantenimiento simplificado

Celda ORS3

Supresión de interferencias en modo Helio

Consumo reducido

Simplicidad del desarrolo de métodos

Productividad mejorada

Detector con rango lineal mayor de 9 órdenesEvita diluciones, ideal para técnicas acopladas

Tecnología Agilent 7700, Ventajas exclusivas

Ventaja Importancia

Tolerancia a la Matriz

La mayoría de aplicaciones requieren un alto grado de tolerancia a las matrices complejas para:i) Reducir el mantenimientoii) Mejorar la Sensibilidadiii) Simplificar el desarrollo de métodos

Eliminación de Interferencias

El sistema ORS3 operando en modo He elimina de forma eficaz las interferencias poliatómicas en matrices complejas, sin necesidad de establecer condiciones de trabajoespecíficas por el usuario

Rango Dinámico El sistema Agilent 7700 ofrece 9 órdenes de magnitud de Rango dinámico, simplificando el desarrollo de métodos y reduciendo los resultados fuera de rango, mejorando la productividad y reduciendo los tiempos de análisis porrepetición de lecturas


Huelva, 16 de Julio de 2010

Corrección de Interferencias:

Celda ORS

Modo He reduce interferencias

• ORS3 opera en modo de colisióncon He para eliminar TODAS las interferencias Poliatómicas

– Ningún otro ICP-MS opera


Interferencias de matriz (arriba) TOTALMENTE eliminadas en modo He (abajo)

eficazmente en modo He – utilizanceldas de gases recativos que:

• No eliminan interferencias no reactivas

• Crea nuevos iones productos de reacción (nuevas interferencias)

• Causan pérdidas de sensibilidad

Rango Dinámico:

Detector de 9 órdenes de IDL

DDEM, que proporciona 9 órdenes de linealidad (6 ordenes en modo pulso, y 3

más en analógico).

Elementos mayoritarios a 100’s ppm pueden ser medidos en las mismas

condiciones que elementos traza a ppt, ppb, sin que el usuario tenga que cambiar

condiciones o configuración del HW.

Calibración de Na – punto más alto 2360 ppm

AAS, MP-AES, ICP-OES, ICP-MS

¿Cómo decidir la ¿Cómo decidir la Técnica más

adecuada para cadaAplicación?


1. ¿Cuantas muestras por día y cuantos elementos por muestr a?

• Muchas muestras/día y/o muchos elementos/muestra = Análisis Multielemental– Tipicamente ICP-OES or ICP-MS – y ahora MP-AES

• Pocas muestras/día y/o pocos elementos/muestrra = Análisis Monoelemental– Tipicamente FAAS or GFAAS

¿Cómo decidir la Técnica más adecuada?Dos preguntas esenciales

2. ¿Qué Límites de Detección son requeridos?

• Bajos límites de detección (low/sub-ppb o ppt) <> Técnicas Ultrasensibles– Tipicamente GFAAS (pocos elementos) o ICP-MS (muchos elementos)

• Altos Límites de Detección (>1 ppb) = Técnicas Sensibles– Tipicamente FAAS (pocos elementos), MP-AES (medio/alto # de muestras),

o ICP-OES (muchos elementos y muestras)


Number of

Elements per

High

ICP-OES

ICP-MS

Fast SequentialAAS*

MP-AES

Técnicas de Espectrometría Atómica

per Sample

DetectionLimitsHigh (ppm)

Low

Low (ppt)

Flame AAS Graphite FurnaceAAS

Hydride AAS

AAS*


1. ¿Que presupuesto hay disponible?• En términos de productividad, no solo coste de inversión instrumental

2. ¿Qué técnica(s) se utiliza actualmente?• Puede estar pre-definida por métodos regulados, experiencia,

especificaciones concretas, etc…

¿Cómo decidir la Técnica más adecuada?Otras preguntas importantes

especificaciones concretas, etc…

3. ¿Qué tipo de muestras se necesita analizar (matrices, TDS)?• Muy altos contenidos en TDS(>10%) = GFAAS, ICP-OES• También ICPMS por posibilidad de dilución mayor


Criterios de Selecciónde Técnicas

CriteriaFlame AA GFAA MP-AES ICP-OES ICP-MS

Measurement Range

high > 10% X

1 - 10 % X X X

ppm X X X X

high ppb X X X X X

low ppb X X X X

ppt X X

Number of samples

Few X X X

Several X X X X

X XMany X X

No Elements per Sample

Single X X X X X

Few (2-5) X X X X

Intermediate (5-10) X X X

Many X X

Sample Matrix

< 3% X X X X X

3-10 % X X X X

> 10% X X

CriteriaFlame AA GFAA MP-AES ICP-OES ICP-MS

Linearity

up to 3 orders X X X X X

5 orders X 1) X X X

6 orders X X

> 7 orders X

Ease of Use

Simple X X

Moderate X X

Complex X X

Criterios de Selecciónde Técnicas

Capital Investment

Low X

Low-Med X X X

Med-High X

High X

Running Cost

Low X X

Med X X X X

High X X

Coste de Inversión

HidrurosLlamaHorno

MPAESICPOES

ICPMS

Coste de FuncionamientoCoste de Funcionamiento

HidrurosLlama

HornoMPAES

ICPOESICPMS

Comparación de Técnicas: MPAES vs FAAS

Característica

Límites de Detección

Rango Dinámico Lineal

Gases Combustibles

MPAES

Mejor

Mejor

No Requerido

FAAS

Bueno

Bueno

AcetilenoGases Combustibles

Gases oxidantes

Fuentes de Luz

Corrección deriva

Operación Inatendida

Costes de Operación

Tolerancia TDS

No Requerido

No Requerido

No Requerido

No Requerido

Sí

Mínimo

Bueno

Acetileno

Oxido Nitroso

HCL y D2

Haz Doble

No

Medio

Bueno

DATE Page 43Agilent Confidential

¿Qué tipo de muestras pueden ser medidas?

Líquidas (las más comunes)• Llama AA• Generación de Vapor AA• Horno de Grafito AA• MP-AES• ICP-OES• ICP-MS

Sólidos en suspensión (slurries)• Horno de Grafito AA• Horno de Grafito AA• ICP-OES

Sólidos (Directo, ablación por LASER)• ICP-OES, típico para metales, geoquímica• ICP-MS, para forense

Gases• GC-ICP-MS – e.g. siloxanos en biogas


Selección por Aplicaciones

Medio Ambiente

• Amplio rango de tipos de muestra, desde aguas potables, naturales, hastaresiduos, vertidos, efluentes y digestiones de suelos/sedimentos

• Laboratorios regulados, típicamente ICP-MS ó ICP-OES + GFAAS/Vapor

• ICP-OES para mayores cargas de trabajo y cuando elementos tóxicos/trazas y • ICP-OES para mayores cargas de trabajo y cuando elementos tóxicos/trazas y formadores de hidruros/Hg no son necesarios

• ICP-MS cubre mayoritarios y ultratrazas en un sola lectura, y también es aplicable a especiazión y cuando formadores de hidruros/Hg son requeridos

• AAS o Fluorescencia Atómica para Hg si no se dispone de ICPMS

• Laboratorios No regulados, MP-AES o AAS de Llama/Hor no pueden ser utilizados en lugar de ICPOES


Seguridad Alimentaria• Crecientes exigencias en seguridad alimentaria y cumplimiento de normativas en

importación de alimentos (incluyendo especiazión de algunos elementos, MeHg, Sn, As)

• MP-AES ideal para laboratorios de rutina de carga media -alta de trabajo

• ICP-OES preferido en laboratorios de muy alta carga de trabajo

• ICP-MS preferido para screening de trazas de elementos tóxicos y en investigación/desarrollo de productos (especiamente para especiazión)


investigación/desarrollo de productos (especiamente para especiazión)

Agroquímica (suelos, agua, fertilizantes)• MP-AES o AAS para determinación de biodisponibilidad d e Ca, Na, Mg, K en suelos

• MP-AES o ICP-OES para elementos nutricionales en diges tiones de plantas y extractos de suelos

• Comunmente en laboratorios de contrato de alta carga de trabajo

• ICPMS para As y Se en plantas y suelos a niveles de ppb-sub ppb


Geoquímica & Metalúrgica• Incluyendo minería, control y producción

• Típicamente orientados hacia ICPOES

• Productividad, sencillez de uso y robustez (altos TDS)

• Capacidad multielemento

• Buena percisión y límites de detección más que suficientes

• MP-AES puede cubrir las aplicaciones por AAS e ICPOES con mucho menor coste


• MP-AES puede cubrir las aplicaciones por AAS e ICPOES con mucho menor costede operación. Ideal para localizaciones remotas

Materiales High tech, electrónica, semiconductores,…• Principalmente ICP-MS, también GFAAS para menores cargas de trabajo

• A menudo requiere extremadamente bajos LD en muestras ultralimpias


Energía y Petroquímica• Aplicaciones Petroquímicas tradicionalmente orientadas a AAS or ICP-OES. Numerosos

métodos estandarizados (ASTM)

• Métodos para Combustibles alternativos (FAME, Biodiesel) – mencionan AAS/ICPOES como técnicas analíticas. Muy bajos niveles, con ICP-MS

• Metales en lubricantes usados utilizan principalmente ICP-OES; algunos AAS.

MP-AES magnífica alternativa ; productividad , prestaciones y bajo coste operativo


MP-AES magnífica alternativa ; productividad , prestaciones y bajo coste operativo

– Algunos sistemas ICP-MS en investigación petroquímica y laboratorios de contrato (e.g. Ttrazas enfueles; Especiazión de As y Hg)

• GFAAS para aguas de refrigeración en plantas de energía e.g. Si, Ca

• ICP-MS para control de aguas de refrigeración en Centrales nucleares (relación B10/B11 y monitorización de la corrosión)


Farmaceútica• Históricamente métodos colorimétricos ó GFAAS para metales pesados

• Nuevos métodos USP <232>/<233> hacen rfeerencia al uso deICPOES o ICPMS entre los métodos con especificaciones suficientes para alcanzar los nivelesregulados• Ahora muchos más elementos (incluyendo especiación para algunos elementos) menores LD,

metodologías específica y mayores exigencias

• 21 CFR Part 11


• 21 CFR Part 11

Forense• Puede Ser Clínica (e.g. toxicología) o Inorgánica (e.g. fragmentos de materiales)

• MP-AES puede ser utilizada para trazas en sueros

• GFAAS para tóxicos en sangre e.g. Pb

• Para screeining o multielementos, técnicas de ICP (OE S/MS) o MP-AES

• Materiales en escenarios criminales pueden requerir análisis directo de muestras sólidas por ICPMS con ablación por LASER


Posicionamiento de las diferentes Técnicas Espectroscópicas

160K$

Mayor Precio

More expensive than 60K$

Rango de Precio en USD

ICP-MS110K$

100K$

ICP-OES55K$

Price varies with config. DLs in ppb range,

but measures all elements in1 run (multi-element). Requireshydride to measure As, Se,

Sb, Te or Hg at low (ppt) levels

Most expensivebut best DLs. Covers

almost all elements, including hydrides and Hg. Fast, multi-element analysis

DLs ppb a ppm DLs sub-ppb

Multi-elemento

Mid priced, ppb-ppm level

DLs. Fast sequential multi -

20K$

FAAS GFAAS ICP-MS

Mayor Precio

More expensive thanFAAS, but much better

DLs. Does not cover as many elements. Very slow, single-elementanalysisCheap,

ppm level DLs. Fast per sample,

but single-element analysis

40K$

60K$

FAAS

GFAAS

ppm ppb ppt

Menores Límites de detección

35K$

ICP-OES

Mono-elemento

Note: Agilent FAAS offer Fast Sequential

capability – matches speed of sequential ICP


MP-AES

sequential multi -element analysis

MP-AES

¿¿PreguntasPreguntas??Agilent MP-AES

The Market Leaders in Atomic Spectroscopy

Agilent ICP-MSAgilent ICP-OESAgilent AAS


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