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Y. Grohens Structure et transitions dans les films polymères ultra-minces Polymère Solvant Recuit: T>Tg puis refroidissement

Structure et transitions dans les films polymères ultra ... · Tuan Anh Tran, Sylvère Saïd, Yves Grohens Macromolecules, 38, 9, 3867; 2005 DSC sur nanocomposites PMMA/MMT A. Saiter,

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Y. Grohens

Structure et transitions dans les filmspolymères ultra-minces

Polymère Solvant

Recuit: T>Tgpuis refroidissement

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Plan de l’exposé• Historique (15 ans déjà...) de la thématique ’ ’transition

vitreuse en films minces ’ ’

• Que se passe-t-il pendant la préparation des films ultra-minces ?

• Gradients de Tg et stratification aux interfaces

• Coopérativité et confinement: comment expliquer la portéedu phénomène ?

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Applications des polymères confinés ?

Films Minces (Système modèle)

Mélanges de polymères et copolymères (nano domaines)

Polymères semi-cristallins (inter-lamellar zones )

Nano-composites, composites (interfaces)

Membranes ou biologie…Etc…

Polymer Solvent

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Taille caractéristique des polymères pour le confinement ?

Effet Nano ?

Effet de ‘’taille finie’’

ou ‘’confinement’’

Quelle dimension est pertinente ?

0,2 nm 1 nm 3 nm 5 nm 10 nm > 20 nm

liaison trans/gauche ξ Rg REE, enchevêtrement multi-couches

Taille

Dimensions caratéristiques d’un polymère

:CRR

L ~ REEL ~ REE

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Comment mesure-t-on la Tg en fonction del’épaisseur ?

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Autres techniques d’analyse utilisées en films minces

• Autres techniques :- Secondary Ion Mass Spectroscopy (SIMS)- Brilloin Scattering- Mouillabilité

• IR en mode ATR- Densité d’interaction entre le polymère et le substrat- Conformation des chaînes de PMMA

• Microscopie à Force Atomique (AFM) :

- Mode contact intermittent (« tapping ») : analyse topographique

- Mode friction : coefficient de friction de la surface des films minces

• Réflectivité de rayons X ou neutrons : Profils de densité dans les films minces

• Relaxation de fluorescence- Sonde fluorescente placée sélectivement dans le film- Mesure Tg et relaxation structurale

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Mesures de Tg par ellipsométrie (films supportés ou non )

0,48

0,485

0,49

0,495

0,5

0,505

0,51

0,515

0,52

0,525

0 50 100 150 200

Temperature (°C)

Cos

Del

ta

Tg(h)

Angles ellipsométriques

Cos Delta ou Tan Psi

(dépendent de n, k et h)

en fonction de T

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Historique de la thématique ’ ’dynamique en films ultra-minces ’ ’

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Dynamique à l’extrême surface des polymères

Wool, R. P.; O’Connor, K. M. Polym. Eng. Sci. 1981, 21, 970.Macromolecules 1997, 30, 3708-3710Boiko, Y. M.; Prud’homme, R. E.

Force de cisaillement,

pour 2 plaques de PS

mises en contact à 60°C

(Tg- 40°C)

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Démouillage de films minces polymères

G.REITER, EUROPHYS .LETT. 23, 579 (1993)

Chauffage à T< Tg => mobilité en dessous de Tg

Film de PS d’uneépaisseur <100 nm

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1. G. Beaucage, R. Composto, R.S. Stein, J. Polym. Sci., Polym. Phys. 31, 319 (1993)

J.L Keddie,.; R.A.L Jones; R.A. Cory Europhys. Lett. 27, 59 (1994)

Mesures de Tg par ellipsométrie (films supportés)

PS sur wafer

de silicium

Relation empirique proposée :

grandeur caractéristique ’ξ ’ sans signification ?

Déviation h<100 nm

!!"

#

$$%

&'(

)*+

,±=

-.

hTT

bgg 1

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D.S.Fryer, R.D.Peters, E.J.Kim, J.E. Tomaszewski, J.J. de Pablo, P.F.Nealey, C.Cwhite, W.Wu,

Macromolecules, 34, 5627 (2001)

Mesures de Tg par ellipsométrie (films supportés)

Conclusion : Interactions fortes Tg(h) augmente (PMMA, P2VP sur SiOx)

Interactions faibles Tg(h) diminue (PS/SiOx, PMMA/HMDS)

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Transition vitreuse de film minces de PMMA stéréoréguliers

2 PMMA identiqueschimiquement maistacticité différente

CH3

CH3

CH3 COO CH3H H

COO CH3

COO CH3

H

H

H

H

*

*

*

CH3 COO CH3

H HCH3COO

COO CH3

H

H

H

H

CH3

CH3

*

*

*

h0 = 70 nm = 10 Rg

Thin films

-40

-30

-20

-10

0

10

20

30

40

50

60

0 50 100 150 200 250 300

h(nm)

Tg

-T

gb

ulk

s - P M M A

i - P M M A

s-PMMA

i-PMMA

Y. Grohens, L. Hamon, G. Reiter, Y.HollThe European Journal Physical Journal E, 8, 217-224, 2002

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Dynamique des ‘’petites molécules’’ ou ‘’glass former’’ confinées

Jackson C L and McKenna G B The glass transition of organic liquidsconfined to pores J. Non-Cryst. Solids 131, 221 1991

Diminution de Tg mesurée par DSC de O-Terphenyl confiné dans des nano-pores dansdes verres de porosité contrôlée (CPG)

Morineau D, Xia Y D and Alba-Simionesco C J. Chem. Phys.117 8966–72, 2002

Tg du Toluene confiné dans des mésoporescylindriques

Portée du phénomène < 100 nm ramené à 30 nm (rapport S/V)

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Déviation de Tg dans les nanocomposites

Deviation de Tg : diminution ou augmentation possible Deviation débute à 1% de nanocharge (equivalent ~ 100 nm entre particules)

Différents PMMA

Y.S Lipatov, V.P. Privalko, Polym Sci USSR, 14, 1843, 1972B.J. Ash, R.W. Siegel, L.S. Schadler, J. Polymer Science Part B: Polymer Physics 42, 4371-4383 (2004)

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Estimation de la distance moyenne interparticules (h)

A. BANSAL et al., Nature Materials VOL 4, 2005

Estimation MET(Nanocomposites SiO2)

Déviation Tg pour h>100 nmNanocomposites = Films minces

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Préparation des films minces et structuration?

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1) Adsorption duPolymère sur la

surface

Polymer Solvent

b

0 0.5

T

1 2

2’

3

1x2

C

A B

E’1E’2

2) Séchage rapide: augmentation rapide de laconcentration (légère diminution de T)

=> On traverse le diagramme de phase

3) Fin du séchage etrecuit

Préparation des films minces :Une histoire rapide mais qui a de la mémoire…

Effets de préparation, conformation, recuit, relaxation structurale…

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Si HF RMS ~ 4ÅSi piranha RMS ~ 4Å

L’angle de contact (eau)=76±1° L’angle de contact (eau)= 3±2 °

Si traités piranha

OHOHOHOHOH

Substrat

Si traités HF

HHHHHSubstrat

Préparation de surface (Wafer Si, mica, Al, Au…)

Traitement de surface fondamental, pas toujours bien contrôlé….voir micro-électronique

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PS+

Toluène

PMMA+

Chloroforme

Avant vitrification: Démixtion liquide-liquide, agrégation possible Après vitrification: Diagramme de phase, tension dans le film

Préparation des solutions (solvant, additifs, eau…)

Module

Φg (autours de 20% en solvant)

Φg, K

Potentiel chimique

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SubstratFilm déposé

Évaporationdu solvant

Tournette

Paramètres ajustables : Accélération, vitesse de rotation, temps de rotation, concentration…

Spin-coating

Préparation des films (dip, spin coating…)

Tg

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V typeV type ΩΩ type typeM typeM type L typeL type

Isotherme d’adsorption: pas accessibledurant le spin coating

Configuration de la couche adsorbée: difficile d’y accéder car adsorption trèsrapide et pas d’équilibre : brosses modèles

Arwin, Thin Solid Films, 2000

0

0,1

0,2

0,3

0,4

0,5

0,6

0 20 40 60 80 100

Epaisseur (nm)

Fra

cti

on

de c

arb

on

yle

s l

iés (

P)

s-PMMA

i-PMMA

Isotherme d’adsorption parellispométrie en mode statique Densité d’intéraction

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Orientation des segments de chaînes et distorsion de la formesphérique des pelotes (forme ellipsoïdale à proximité d’une surface?)

Orientation moléculaire, forme des pelotes

Orientation PDMS adsorbé : Granick et al.

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-60

-40

-20

0

20

40

60

80

100

120

140

160

0 20 40 60 80

% of solvent

Tg

(°C

)

Températurede vitrification

s-PMMA

i-PMMA

Teneur en solvant à la vitrification : i-PMMA = 25%

s-PMMA = 30%

Ségrégation des fins de chaînes=> Tg diminue

Wafer Si

Evaporation du solvant (rapide mais riche enévènements)

Que se passe-t-il avant vitrification ? Ségrégation bouts de chaînes Situation figée dans un état de non équilibre ? Solvant résiduel, contraintes…

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Evaporation du solvant en phase vitreuse

Recuit après spin coating: solvant résiduel, nano vides, relaxation de contraintes, …

Eur. Phys. J. E 12, s01 (2003) 021H. Richardson, M. Sferrazza, and J.L. Keddie

Après spin-coating

Deuxième montée

ModuleContrainte interne

Vitrification :φpol > φg

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Relaxation en phase vitreuse

Relaxation volume et de surface (rugosité)Polymère adsorbé ?

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H. Meyer, T. Kreer, A. Cavallo, J. P. Wittmer and J. Baschnagel, J. Phys. IV France 1 (2008)

Désenchevêtrement ?

L. Si et al., Phys. Rev. Lett. 94, 127801 (2005).

Diminution enchevêtrements intermoléculaire

S Gabriele, S Sclavons, G Reiter, and P Damman, PRL 96, 156105 (2006)

PS solution diluée « freeze dried »

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0 200 400 600 800

75

80

85

90

95

100

Brosses de PS

épaisseur (nm)

Tg (°

C)

hTg(h) = Tg

h + !

" #$ % &' (

Spin coating

Tg - mesures ellipsométriques

Enchevêtrementsdifférents

Désenchevêtrement ?

Enchevêtrements intermoléculaire différents

: Déviation Tg(h) identique

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Pas désenchevêtrement ?

Désenchevêtrement ouinterpénétration plus faible

Influence sur la relaxationstructurale ?

PMMA-Cz PMMA-At

H. Itagaki, Y. Nishimura, E. Sagisaka, Y.Grohens, Langmuir; 22, 2, 742, 2006

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Effets de surface et interfaces: stratification desfilms

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Existence d’un gradient de Tg

Sonder la dynamique de films minces de PS à partir de mesuresd’intensité de fluorescence en fonction de la température(Couches contenant des chromophores)

La modification de mobilité qui dépend de la zone du film considérée etde la proximité d’une interface

14 nm

270 nm

270 nm

14 nm

0 K12 nm

270 nm

270 nm

-32 K

0 KTg-Tgbulk

Tg-Tgbulk

•C. Ellisson and J. Torkelson, Nature materials (2003)

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Plusieurs Tg dans des films supportés ?

Kawana, R.A.L. Jones, Phys. Rev. E 63, 021501 (2001)

Dérivé de l’expansion

Deux Tg mesurées par ellipsometrie

h est l’épaisseur du film, h0 est l’épaisseur référence à 30 °C et ΔT = 4.2 °C

T+

T_

T-

T+

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10 100

40

60

80

100

120

14010 100

40

60

80

100

120

140Tg

C)

Film thickness (nm)

T-(°C)T+(°C)

Une seule Tg = T- = T (bulk) pour des films d’épaisseur supérieure à 60 nm.

Deux Tg pour des épaisseurs inférieurs à 60 nm.

Film de iPMMA sur des substrats traités piranha

Stratification bien observable autravers de divergences de Tg

A.Elouakili, G.Vignaud, E.Balnois, J-Bardeau , Y Grohens , Thin Solid Film, à paraître

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25 35 45 55 65 75 85 95 105 115 125 135

Temperature (°C)

Inte

grat

ed In

tens

ity (a

. u.)

Film 20 nm

Film 30.2 nm

Film 70 nm

Tg multiples mise en évidence par SERS pour i-PMMAsur silicium

13000

17000

21000

25000

29000

2700 2800 2900 3000 3100 3200

Wavenumber (cm-1)

In

te

ns

ity

(a

.u

.)

85 ° C

107 °C

130 °C

Tg massique Tg InterfaceG. Vignaud, J-F Bardeau, A. Gibaud, Y. Grohens

Langmuir; 21, 19, 8601, 2005

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Conformation, coopérativité et confinement ?

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Dynamique locale et coopérativité(DMA, spectro-diélectrique, RMN)

J.Rault, J. Non-Cryst.Solids, 271, 177 (2000)

Log (fréquence)

Mouvementslocalisés (loid ’Arrhenius)

Mouvements coopératifs(loi WLF, VFT)

Tα = Tg

10-2 hertz

Fondu (loid ’Arrhenius)

Mouvements localisés

Coopérativité

< 1 nm

2 < ξ < 5 nm

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Tg et coopérativité (Adam et Gibbs, Donth) :notion de domaines de réarrangements

coopératifs (CRR)

Régions demobilité réduite =

coopérativitéobligatoire

Hétérogénéité dynamique T proche Tg

Région deforte mobilité

Que se passe-t-il au voisinage d’une interface ? Système stratifié ?

La taille des domaines de CRR est maximale à T = Tgξ (Adam and Gibbs) = 1 à 3 nm

G. Adam, J.H. Gibbs, J. Chem. Phys. 43 (1965) 139.

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Analyse par DSC à modulation de température (TMDSC)

Calcul taille des domaines de réarrangementscoopératifs (CRR) à Tg

( )3

2

2 /1

T

CTk

v

b

!"#

$=

from E. Donth

Quantité de matière

Distribution de temps

E.Donth : J. Non-Cryst. Solids, 53, 325-330, 1982

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Evaluation de la taille des CRR (à Tg)

Tuan Anh Tran, Sylvère Saïd, Yves GrohensMacromolecules, 38, 9, 3867; 2005

DSC sur nanocomposites PMMA/MMT

A. Saiter, H. Couderc and J. Grenet, Journal of ThermalAnalysis and Calorimetry, Vol. 88 (2007) 2, 483

h’, distance interparticulaire estimée à 20 nm : taille des CRR diminue: baisse de coopérativité

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Stratification, hétérogénéités dynamiques, confinement,percolation

Confinement et percolation différents dans l’épaisseur h du filmConfinement dans les différentes strates ?

D. Long and F. Lequeux Eur. Phys. J. E 4, 371–387 (2001)

P. Sotta and D. Long, Eur. Phys. J. E 11, 375 (2003).

Tg-<Tgb

Tg = Tgb

Tg+>Tgb

Film Stratifié

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Conclusions et perspectives

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Conclusions et résumé

Films minces présentent une déviation de Tg pour h < 100 nm

Importances interactions avec le substrat ou air (augmentation ou baisse de laTg(h))

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Effet de stratification très important dans les films minces

Gradient de Tg(h) dans un film (plusieurs Tg mesurée selon technique)

Conclusions et résumé

10 100

40

60

80

100

120

14010 100

40

60

80

100

120

140

Tg (°

C)

Film thickness (nm)

T-(°C)T+(°C)

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Conformation et Taille des CRR affectée par le confinement ou interfaces pourh< 20 nm Percolation des CRR varie selon les strates (effet Nano)

Conclusions et résumé

h ξ interfaceξ bulk

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Collaborateurs

Enseignants -chercheurs

Maîtres de conférences :

Sylvère Saïd

Guillaume Vignaud

Eric Balnois

DOCTORANTS

Loic Hamon

Tuan Anh Tran

Fabrizio Fordiani

Ashok Nardarlaskar

Viorela -Roxana Ostaci

Abder El Ouaki li