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Charge identificationin Dec. 2004 chamber
歳藤利行
2005.8.8
40℃ 38℃親粒子 Z=6
pl100
pl98
pl97
pl96
gain(パルスハイトのピーク値 )がばらついている
要補正
プレートごと、エリアごと
pl plPl83より上流は constant Pl90より上流は constant
補正前
補正後
10→20プレートの平均
f(pl)=0.041*pl2-8.2*pl+const vph40+vph38-f(pl)
pos=pl*10+n
570 680 750 800HeLi Be B C
vph40+vph38-f(pl) pl>60
深さ依存性
40℃ 38℃
vph40-f(pl)/2 vph38-f(pl)/2
40℃ 38℃
C
B
Be
Li
He
Plate>70
Likelihood function
Po(パルスハイト分布の平均 )σ(パルスハイト分布の拡がり )
20 )(
),(PP
eTZLパルスハイト
)40,()38,()( CZLCZLZL oo
)6()5()4()3()2(
)6(6)5(5)4(4)3(3)2(2
LLLLL
LLLLLZ
電荷 (Z)の期待値
ビーム
2次粒子0.01<Θ<0.1
2次粒子Θ<0.4
反応に関するトラックすべて
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