COMPARADOR ÓPTICO

El equipo de medición óptica más utilizado en diversas industrias es el comparador óptico; también se le conoce como proyector de perfiles porque es un excelente medio para medir piezas pequeñas a través de la visualización de su imagen amplificada sobre una pantalla traslucida.

Como otros equipos, los comparadores ópticos han evolucionado continuamente desde que apareció el primero, en 1915, hasta nuestros días

CLASIFICACIÓN

Los comparadores ópticos se clasifican, por el tipo de iluminación que emplean, en horizontal, vertical ascendente y vertical descendente, la figura 5.1 muestra uno de iluminación horizontal con el nombre de las partes principales que lo integran. Las figuras 5.2y 5.3 muestran los de iluminación vertical ascendente y descendente, respectivamente.

Figura 1 comparador óptico de iluminación horizontal.

Figura 2. Comparador óptico de iluminación vertical ascendente.

Figura 3. Comparador óptico de iluminación vertical descendente.

Figura 4, figura 5, imagen con iluminación de contorno, imagen con iluminación de superficie.

SISTEMAS DE ILUMINACIÓN

La clasificación anterior está basada en la iluminación de contorno pero además de ésta se tiene iluminación de superficies; en las figuras 3 y 4 se muestra la aplicación de ambo tipos de iluminación de contorno es posible hacer mediciones y con la de superficie pueden hacerse observaciones de las condiciones de la superficie y mediciones. Ambos tipos de iluminación pueden utilizarse simultáneamente y por lo general, se cuenta con un control que permite aumentar la intensidad de la iluminación de superficie pon arriba de lo normal para superficies poco reflejantes. Se recomienda sólo utilizar alta intensidad cuando sea necesario para no reducir la vida útil de la lámpara.

La figura 6 muestra la trayectoria de la luz en un comparador óptico con iluminación vertical ascendente.

La figura 7 muestra la trayectoria de la luz utilizada para iluminación del contorno en un comparador de iluminación horizontal.

La figura 8 muestra la trayectoria de la luz utilizada para iluminación de superficie en un comparador de iluminación horizontal.

Para usar la iluminación de superficie se requiere utilizar un espejo semireflejante o espejo semiazogado que se coloca frente a las lentes de proyección de bajo aumento ('1 0x y 20x) ir que está integrado dentro de las lentes de proyección de alto aumento (50x y 100x) (figura9). Para mejorar el contraste de la imagen pueden utilizarse espejos de reflexión y así iluminar la superficie de la pieza en dirección oblicua a ella. Sin embargo, con este último método pueden ocurrir errores de dimensión (figuras 10 y 11).

La figura 12 muestra el espejo semirreflejante y el espejo oblicuo ya montados.

Figura 6. Trayectoria óptica.

Figura 8. Sistema óptico de iluminación de contorno.

Figura 8. Sistema óptico de iluminación de superficie.

Figura 9.

Figura 10.

Figura 11.

Figura 12.

MEDICIÓN LINEAL

Sobre la platina se coloca la pieza que vaya a medirse y ésta se aleja o acerca al lente de proyección (véase la figura 13) girando la manivela para enfocar hasta que se logre obtener una imagen claramente definida de la parte que se desea medir u observar sobre la pantalla.

Para facilitar el posicionamiento adecuado de piezas, las platinas cuentan con ranuras en las que pueden introducirse dispositivos de sujeción o posicionamiento de piezas (figura 14).

Antes de realizar cualquier medición, es conveniente verificar que la pantalla que puede girar continuamente en cualquier dirección haya sido fijada en la posición de referencia (figura 15).

Sobre la pantalla hay dos líneas perpendiculares entre sí, que después de verificar la posición de cero una queda en posición horizontal y otra en vertical. Estas líneas pueden ser delgadas y continuas o delgadas interrumpidas alternadas (figura 15). Estas líneas servirán como referencia para efectuar mediciones. Una vez enfocada la imagen se alinea algún lado de la pieza con alguna de las líneas citadas, auxiliándose del desplazamiento que es posible lograr en dos direcciones -ejes X y Y- mutuamente perpendiculares de la platina.

El movimiento de la platina se controla mediante manivela o cabezas micrométricas (véase figura 17).

Cuando la pieza esté como en la figura 18, ponga cero en la pantalla de la cabeza micrométrica electrónica; en seguida mueva ésta última hasta que el otro borde de la pieza esté alineado con la misma línea de referencia (figura 19) y lea entonces el ancho de la pieza en la pantalla de la cabeza micrométrica.

Con una cabeza micrométrica convencional tome la lectura en la posición inicial, luego en la posición final y encuentre la diferencia entre ambas. EI ancho de la pieza en este tipo de cabeza micrométrica se determina tomando la lectura en la misma forma que con un micrómetro convencional. Para determinar la longitud de la pieza se procedería de la misma forma, utilizando esta vez la línea de referencia vertical y la otra cabeza micrométrica o manivela.

Figura 13.

Figura 14.

Figura 15.

Figura 16.

Figura 17.

Figura 18, Figura 19.

Figura 20.

Figura 21.

La utilización de cabezas micrométricas limita el desplazamiento máximo a 50 mm. Por esta razón, para medir piezas que requieran un desplazamiento mayor al que permite Ia platina será necesario insertar un bloque patrón, de una dimensión adecuada, entre el tope del husillo de la cabeza micrométrica y el correspondiente tope de la platina (figura 21).

Figura 22.

Los dos últimos problemas se evitan equipando el comparador con escalas lineales y no con cabezas micrométricas, así se obtendrán las lecturas en un contador separado (figura 22) o integrado al cuerpo del comparador (figura 2).

Figura 23.

Figura 24.

Figura 25, 26, 27.

Figura 28.

Figura 29.

Figura 30

Figura 31.

Figura 32.

Figura 33.

Figura 34.

Figura 35

Figura 36.

Figura 37.

Figura 38