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第二章 光电探测器概述. 2.4 光电探测过程中的噪声. 本专题学习要求: 1. 了解光电探测过程中的噪声 2. 掌握简单的消除噪声的方法. 探测过程中的噪声. 光电探测器在实际应用经常遇到的四类噪声: 1. 琼斯噪声 (Johnson noise ) 热噪声 2. 散粒噪声 (shot noise ) 产生复合噪声 3. 1/ f 噪声 (1/f noise ) ( 电流噪声 、 低频噪声 、 闪烁噪声 、 过剩 噪声 ) 4. 量子噪声 (photon noise) 。. 1. 琼斯噪声. - PowerPoint PPT Presentation
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探测过程中的噪声
光电探测器在实际应用经常遇到的四类噪声:1. 琼斯噪声 (Johnson noise) 热噪声2. 散粒噪声 (shot noise) 产生复合噪声3.1/f 噪声 (1/f noise) (电流噪声、低频噪声、闪烁噪声、过剩噪声 )
4. 量子噪声 (photon noise) 。
1. 琼斯噪声
琼斯噪声是由导体中电荷载流子的无规则热运动引起的,所以有时也称为热噪声。 光电探测器本质上可用一个电流源来表示,由于电路材料本身特性,探测器本身可以等效为一个电阻R ,由电路原理可知,电阻中自由电子的热运动会在电阻器两端产生随机起伏的电压,从而会对真实信号造成一定的干扰作用,这种随机起伏的电压就称为热噪声。
结论:一,热噪声功率与频率无关,它在所有频率上都有均匀的谱密度,因此热噪声是白噪声。二,在低温环境下工作的光电探测器其热噪声将大大减小,特别是—些用来响应远红外波段的光电探测器。为了降低热噪声,往往把探测器进行深度致冷,放置于液氦 (4K) 、液氖 (38K) 或液氮 (77K) 的条件下工作。
2. 散粒噪声
散粒噪声 : 光电探测器在光辐射作用或热激发下,光电子或载流子随机产生所造成的。 在 p-n 结型检测器中,散粒噪声主要来源于载流子的产生与复合引起的随机起伏,这类散粒噪声往往称为产生一复 合 噪 声 , 或 称 g-r 噪 声 (Generation recombination noise) 。
p-n 结散粒噪声
设光生载流子的持续时间为 τ ,它在外回路中产生的感应电流脉冲可表示为:
式中为载流子在电场作用下的平均漂移速度, d 为极间距离,欲求噪声功率谱密度,必须先求得电流脉冲i(t) 的付里叶变换频谱,即:
求得噪声的功率谱密度为:
由于 v=d/τd ,其中 τd 为载流子在电场作用下渡越电极间距的时间,考虑到载流子的产生与复合,每秒钟产生的 平 均 载 流子 数 N=(I/e)( τd / τ0) , 将 v 及 N 代入,在 ωτ0<<1 的条件下:
上式说明半导体中载流子产生一复合的随机性所引起的 g—r 噪声除了和探测器的平均电流 I 及工作带宽 Δf 有关外,还和载流子平均寿命 τ0 和渡越时间 τd 的比值 G 有关,式中 G=τd /τ0 ,通常称为半导体光电导探测器的内增益。
量子噪声源于光的粒子性,光子是一个一个独立到达光电探测器表面的,但是光电探测器件并不能对单个光子做出反应。由于量子噪声与探测器本身无关,起源于光的粒子性这一固有的物理特性,所以量子噪声是光电检测器件检测能力的理论极限。
习题
由于量子噪声的存在,使光电探测器存在一个可以检测的最小功率。假设入射的单色光辐射频率为 v, 功率恒定为 P, 可以视为光子流,试理论分析理想光子探测器( ideal photon detector)的最小可检测功率。解:光电探测器检测到的光子平均流量 r ,可以由下式计算得出:
其中 η 为光电探测器的量子效率。检测时间 τ 内可以检测到的总光子数的均值为 rτ ,由此得出可以检测单个光子对应的功率:
补充——光子计数技术
光子计数技术实际上是检测弱光信号的一种技术。这一技术是通过分辨单个光子在检测器 ( 通常是光电倍增管 ) 中激发出来的光电子脉冲,把光信号从噪声中提取出来。 单光子计数技术现在已经广泛应用在天文测光、大气测污、分子生物学、超高分辨率光谱学、非线性光学等领域中。