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第七章 序列相关和异方差的处理

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第七章 序列相关和异方差的处理. 一、序列相关 1 、无自相关 :简言之,就是任一样本点的误差项都不受其他样本点的误差项影响。 2 、出现的原因 : ( 1 )惯性: ( 2 )偏误: ( 3 )蛛网现象:就是供给对价格的反应要滞后一个时期。. 4 、序列相关的形式:. ( 1 )一阶自相关 : 其中 -1<

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Page 1: 第七章 序列相关和异方差的处理

第七章 序列相关和异方差的处理•一、序列相关•1 、无自相关:简言之,就是任一样本

点的误差项都不受其他样本点的误差项影响。

•2 、出现的原因:•( 1 )惯性:•( 2 )偏误:•( 3 )蛛网现象:就是供给对价格的

反应要滞后一个时期。

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4 、序列相关的形式:

•( 1 )一阶自相关 : • 其中 -1< <1•( 2 )高阶自相关;• 在回归模型中,多数讨论是限于• 一阶自相关形式。

ttt vee 1

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序列相关的检验方法•1 、作散点图法(图形法):•以时间为横轴,残差 e 为纵轴,画

散点图,看有无系统性模式;•2 、 D-W 检验:德宾—沃森统计量

(D-W 统计量 ) 是检验模型是否存在自相关的一种简单有效的方法,其公式为:

• D-W=

n

it

n

itt

e

ee

2

2

2

21

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续 D-W 检验

•把上式计算的 D-w 值,与德宾—沃森给出的不同显著性水平 α 的 D-W值之上限 dU 和下限 dL( 它们与样本容量 n 和自变量个数 p 有关 ) 进行比较, D-W 的取值域在 0-4 之间。

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自相关判断•在 D-W 小于等于 2 时, D-W 检验法则规定:• 如 D-W < dL ,认为 ei 存在正自相关;• 如 D-W > d U ,认为 ei 无自相关;• 如 dL < D-W < dU ,不能确定 ei 是否• 有自相关。•在 D-W 大于 2 时, D-W 检验法则规:• 如 4-D-W < dL ,认为 ei 存在负自相关;• 如 4-D-w > d U 认为 ei 无自相关;• 如 dL < 4-D-W < dU ,不能确定是否• 有自相关。

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自相关检验步骤

•Step1: 提出假设: H0: •Steo2: 构造 D-W 统计量; •Step3: 确定 dL( 下限)和 dU( 上限);•Step4: 判断:

0

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D-W 检验例: yi

430335520490470210195270400480

409322458526477312195283458361

211362-36-7-1020-13-58119

4411693844129649104040169336414161

6424019604841902510404169202531329

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1 ii ee

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三、消除序列相关的方法

•1 、一阶差分法:•2 、广义差分法。

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四、异方差及其检验:•1 、异方差性:•2 、使用普通最小二乘法估计参数的后果:•( 1 )回归系数的最小二乘法估计不具有

有效性或不再是最小方差;•( 2 )很可能假设检验的结论不正确:可

能高估 ,从而使得显著的系数变成统计上不显著。

•3 、异方差性的检验方法:•( 1 )图解法 P95•( 2 )等级相关检验法:

)ˆ( ibS

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五 . 多重共线性及检验方法•1. 无共线性 : 在多元回归模型中 , 各

自变量之间是线性独立的 .•2. 后果 :•一个或多个回归系数的 t 检验在统计•上不显著 ( ) 偏小 .•3. 检验方法 :• (1)R2 值高而显著的 t 检验少 ;• (2) 散点图法 ;• (3) 计算自变量间的相关系数

i

i

b

ib S

bt

ˆˆ

ˆ

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显著性检验

•1 、 t 检验•2 、 F 检验•3 、多重共线性