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1Tokyo Institute of Technology
東京工業大学 科学技術創成研究院
未来産業技術研究所
教授 浅田 雅洋
超小型半導体テラヘルツ光源
2Tokyo Institute of Technologyテラヘルツ帯
◇ 光と電波の中間の未開拓領域
◇ 種々の応用への期待
イメージング・分光分析(生体、物性、化学物質・・・)、
セキュリティ、医療、大容量通信・信号処理 ・・・・
波長
周波数
3μm30mm 3mm 300μm 30μm
10GHz 1THz 10THz100GHz 100THz
マイクロ波 ミリ波 赤外 可視光THz Gap
1000THz
0.3μm
テラヘルツ帯電波・電気信号 光・ナノ技術
コンパクトなテラヘルツ光源はキーデバイス
3Tokyo Institute of Technology従来技術
従来のテラヘルツ光源
・電子管、ガスレーザー・ 2つのレーザー光の差周波数として発生・マイクロ波の逓倍・光伝導アンテナへの光パルス照射による発生
・・・・
など
大型であったり、複数の装置・デバイスが必要
・半導体では量子カスケードレーザー小型だが、室温動作はまだ実現していない
4Tokyo Institute of Technology半導体テラヘルツ光源の現状
(温度明記がないデバイスは室温)発振周波数 (THz)100.1 1
量子カスケードレーザー(≲200K)
p-Geレーザー(≲20K)タンネット、インパット
ガンダイオード
トランジスタ(HBT、HEMT、CMOS)
単体半導体テラヘルツ光源の現状THz Gap
100THz
マイクロ波 ミリ波 THz帯 赤外 可視
10GHz 1THz 10THz100GHz
出力
(dBm
)
-30-40
-20
0-10
10203040
共鳴トンネルダイオード(RTD)
5Tokyo Institute of Technology
裏面 Si半球レンズ
RTDとスロットアンテナ
Si レンズ
ボンディングワイア
InP基板RTDモジュール
電源11cm×4cm×6cm
共鳴トンネルダイオード (RTD)
テラヘルツ出力
▶室温動作、約0.5~2THz▶超小型▶低電圧・低電流(<1V、数10~100mA)
6Tokyo Institute of Technology新技術の特徴
•従来のテラヘルツ光源に比べて超小型の素子→ 小型簡易システムの構成が可能
•発振周波数は、現在、約0.5~2THz
→ 現在、1THz以上のコヒーレント波を室温で発生できる唯一の単体半導体デバイス
•低電圧・低電流(<1V、数10~100mA)
•出力強度変調や周波数可変などの機能を集積回路により付加することが可能
7Tokyo Institute of Technology新技術の内容
共鳴トンネルダイオード(RTD) による室温テラヘルツ光源
① RTDの動作原理と光源の構造
②素子の特性
►周波数と出力►高出力化・より小型化へ向けた構造
③ 応用に向けた高機能化光源
►高速直接変調と無線通信►周波数可変機能
③ 応用に向けた高機能化光源
►高速直接変調と無線通信►周波数可変機能
8Tokyo Institute of Technology①-1 RTDの動作原理
n+-GaInAs / n-GaInAsGaInAs (5nm)
RTD
GaInAs (5nm)n-GaInAs
n+-GaInAs
AlAs (~1nm)GaInAs (3-4nm)AlAs (~1nm)
電極(Au/Pd/Ti)
半絶縁InP基板
e
量子井戸
障壁
障壁
0
5
10
15
20
25
0.0 0.2 0.4 0.6 0.8
電流密度
(mA/
μm2 )
電圧 (V)
負性抵抗による増幅・発振が可能
微分負性抵抗領域
障壁:0.8nm量子井戸:3nm
9Tokyo Institute of Technology
半絶縁InP基板
安定化抵抗(InGaAsシート)
MIM
SiO2
DCバイアス
RTD InGaAs/AlAs~0.1-0.5mm2
スロットアンテナ~10-50mm
裏面 Si半球レンズ
Si 半球レンズ
THz 出力
RTD光源
①-2作製したRTDテラヘルツ光源
RTDとスロットアンテナ
Si レンズ
ボンディングワイア
InP基板
10Tokyo Institute of Technology②-1代表的な周波数と出力
6 nm
25 nm
Spacer12 nm
Theory
Ant: 20 mm
発振周波数
f osc
(TH
z)
RTDのメサ面積 (mm2)0 0.3 0.6 0.9 1.2 1.5
0.5
1
1.5
2
2.51.42 THz ~ 1 mW
Frequency(THz)In
tens
ity (a
.u.)
1 1.2 1.4 1.6 1.8Theory
Spacer: 25 nm
12 nm
発振周波数 (THz)0.5 0.8 1.1 1.4 1.7 2
0.1
1
10
100
1000
出力
(mW
)
6 nm
▶ RTDメサ面積の縮小により発振周波数上昇▶ RTDの層構造最適化により上限周波数の上昇(上の例では1.42THzまで)▶周波数>1THzにおいて数10mWの出力▶アンテナの導体損失削減でさらに高周波化→ 現在、最高周波数1.92THz
11Tokyo Institute of Technology
▶ RTDとアンテナを結ぶブリッジ電極下の半導体層除去による損失削減▶ 1.92 THz,0.4mW 室温発振 ⇒室温電子デバイスの最高発振周波数
▶アンテナ長の短縮およびアンテナ電極の厚膜化により>2THzが可能
1.4
1.6
1.8
2
2.2
0 0.1 0.2 0.3
発振
周波
数(T
Hz)
RTD のメサ面積 (µm2)
Antenna 9 µm
12 µm
②-2高周波化した素子
1.5 1.7 1.9 2.1 2.3 2.5
強度
(任意目盛
)
周波数 (THz)
1.92 THz0.4 µW
RTD:Well = 2.5nm、Spacer =12nm、アンテナ:12µm
Theory
12Tokyo Institute of Technology②-3 放射パターン
角度 (度)-90 -60 -30 0 30 60 90
相対強度
(dB)
-30
0
-40
-20
-10
E 面fosc=542GHz
-50
0°
90°-90°
半値全幅~8 度
H 面fosc=542GHz
角度 (度)-90 -60 -30 0 30 60 90
相対強度
(dB)
-30
0
-40
-20
-10
-50
0°
-90°
90°
半値全幅~6 度
0.64 mm0.35 mm
R = 2.5 mmレンズの中心
RTDInP基板
Siレンズ(屈折率 nSi=3.5)
~1 mm
=
RnSi -1
Siレンズ
THz 出力
RTD光源 集束型半球レンズ
▶ RTDが焦点に来るように位置を調整
▶ビーム放射角6~8°(半値全幅)
13Tokyo Institute of Technology
SI-InP
MIM反射器
MIM スタブによる結合
RTD + オフセットスロットアンテナ
0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8周波数 (THz)
強度(任意目盛)
624GHz610mW
2素子アレイ
2-element array
200mm
安定化抵抗
スロットアンテナ
MIM反射器 MIMスタブ
2素子アレイ
► 初期的実験結果
-素子間の相互注入同期によるコヒーレントな電力合成- 2素子アレイにおいて0.61mW@620GHz- RTDサイズの均一化、素子数増加による高出力化が可能
②-4 高出力化に向けて
高出力化の要求
▶イメージング: 0.5~1mW物質、測定時間によるが高出力ほどよい
▶通信:・短距離通信(数10cm):
100mW程度・数10m: 数mW程度
▶分光分析:応用形態によるが高出力ほどよい
14Tokyo Institute of Technology
520 mm
450 mm
- Siレンズなし、上方放射-大規模アレイが可能(初期実験:89素子で0.73 mW @ 1.04 THz)
- Siレンズなし、上方放射- Siレンズと同等の高指向性(初期実験:
15 dBi @500 GHz)-円偏波出力
ダイポールアレイ集積構造 ラジアルラインスロット構造
InP基板スロット
RTD誘電体薄膜(COC)
ダイポールアレイ
大規模アレイ
InP基板
DCバイアス
底面電極
RTD
円偏波用クロススロット
ラジアルラインスロット
集束型Si レンズ(ϕ 5 mm)
RTD光源
出力
指向性は高いが
- 3次元的でやや大きい-軸調整が必要- 出力取り出し効率が低い(集束型では約20%)
これまでのレンズ付構造
②-5 より小型の構造に向けて
15Tokyo Institute of Technology新技術の内容
共鳴トンネルダイオード(RTD) による室温テラヘルツ光源
① RTDの動作原理と光源の構造
②素子の特性
►周波数と出力►高出力化・より小型化へ向けた構造
③ 応用に向けた高機能化光源
►高速直接変調と無線通信►周波数可変機能
16Tokyo Institute of Technology③-1直接変調による無線通信
RTD SBDLensバイアスT
誤り検出
DCバイアス DCバイアスRTD:490GHz, 60μW変調カットオフ15GHz
SBD信号発生器 Lens×2 LNA
バイアスT
簡単な構成で高速無線伝送
► エラーフリーで22 Gbit/s► 訂正可能上限の誤り率
1.9x10-3で 34Gbit/s► 変調回路の配線改善により直接変調上限を向上すればより高い伝送速度が可能
34 Gbps
22 Gbps
0 10 20 30 40
ビット誤り率
伝送速度 (Gbit/s)
FEC limit = 2×10-310-2
10-4
10-6
10-8
10-10
10-12
エラーフリー
100
17Tokyo Institute of Technology③-2 周波数・偏波多重通信
バイアスと信号
RTD+スロット
► RTD集積化による多重通信チップ► 2周波数×2偏波による多重通信
直交する2偏波の素子
異なる周波数の素子(500 & 800 GHz)
490 GHz, 28 Gbit/s誤り率 2.3×10-4
790 GHz, 28 Gbit/s誤り率 1.5×10-3
RTD×2500&800 GHz
バンドパスフィルタ
800 GHz500 GHzSBD
SBD
誤り検出
LNA
バイアス
信号源
バイアスT
バイアス
バイアスT
2CH周波数多重通信
18Tokyo Institute of Technology
RTDバラクタ
③-3 周波数可変光源バラクタダイオード集積による周波数可変光源
1 mm
バラクタ電極
RTD
電極
RTD
バラクタ8 µm2
500
600
700
800
900
1000
-6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1
可変範囲: 580-900GHz
(実線は理論)
RTD面積:0.6 µm2
0.7 µm2
0.9 µm2
1.2 µm2
アンテナ長: 19 µmバラクタ面積: 8 µm2
発振周波数
(GH
z)
バラクタのバイアス電圧 (V)▸ バラクタの容量変化により電気的に周波数可変▸ 素子数増加により広い周波数可変幅が可能
19Tokyo Institute of Technology
基板
誘電体膜
周波数可変RTD光源 検出器
薄膜伝送路(TFML)液滴試料
THz
③-4 周波数可変光源による分光分析
0
0.5
1
1.5
0 200 400 600 800 1000
周波数 (GHz)
吸光度
THz時間分解分光(分解能 24 GHz)
RTD VCO~10GHz ステップ時定数 0.3 s
アロプリノール(1mm厚ペレット)
▸ 光源:7素子アレイ(410-970 GHz)検出器: Siボロメータ▸ 時間分解分光測定の結果とよく一致
RTDを用いた分光分析用集積チップの可能性
分析チップに必要な光源の出力の理論的見積は数mW
20Tokyo Institute of Technology③-5位相同期回路による狭線化
▶ PLL回路による狭線化:フリーランニングの線幅18.6 MHzがPLLにより1 Hz以下に▶ 応用:
高精度ガス分光、 種々の通信方式の光源に有用
-50
-40
-30
-20
-10
0
200 300 400 500 600
RBW=3MHzVBW=3MHz
フィードバック無
フィードバック有
周波数 (MHz)
IF出
力(d
Bm)
-80
-60
-40
-20
0
399.99999 400 400.00001
RBW=1HzVBW=1Hz
半値全幅<1Hz
周波数 (MHz)
IF出
力(d
Bm)
マイクロ波源
610GHzx36
スペクトラムアナライザ
16.95GHz
400MHz
400MHz
アンプ
ループフィルタ
局発
バラクタ集積RTD
平衡変調器
バラクタへ
)))
21Tokyo Institute of Technology想定される用途
▶ テラヘルツ波を用いた透過・反射検査用光源
▶テラヘルツ分光分析用光源
▶テラヘルツ波を用いた高速通信用光源
RTDモジュール
電源
・ どの用途でも、小型で簡易な装置・システムが可能
・ チップ化や他の集積回路との融合により高機能化も可能
22Tokyo Institute of Technology実用化に向けた課題
•高出力化現在、単体素子で10~100mW前後、アレイでも1mW弱高出力化により応用の可能性を拡大することが必要
単体の高出力構造の開発とアレイ化
• より高周波も現在、0.5~2THz程度をカバーすることが可能この周波数帯でも既に用途は多いと思われるが、
さらに高周波化すれば応用がより拡がる
より高周波に向けた構造の開発
•用途に応じた高機能化、集積化構造の開発
23Tokyo Institute of Technology企業への期待
• RTDテラヘルツ光源の応用とその拡大▶現在のモジュールを種々の用途に
試用していただくことを希望
(テラヘルツテクノロジープラットフォームTTP)
→ 用途に応じて必要となる特性の把握
→ デバイス開発へのフィードバック(出力、周波数、機能性、…)
▶ 現在のモジュールをもとに応用システムの共同開発
•高出力化・高周波化など高性能素子の共同開発(設計、エピウェハ、デバイスプロセス、… )
24Tokyo Institute of Technology本技術に関する知的財産権
•発明の名称 :周波数可変テラヘルツ発振器及びその製造方法
•出願番号 :特願2014-097029PCT/JP2014/074158
•出願人 :東京工業大学
•発明者 :浅田雅洋、鈴木左文、北川成一郎
25Tokyo Institute of Technologyお問い合わせ先
東京工業大学
産学連携コーディネーター 松下 近
TEL 03-5734 - 7693
FAX 03-5734 - 7694
e-mail matsushita@sangaku.titech.ac.jp