Low / High Temperature & Humidity Chamber Walk-in Chamber

Contracted Reliability Testing & Analysis Service

Automatic Measurement System Temperature Cycle Test Chamber

ETACALL PRODUCTS& SERVICE GUIDE

エタック製品＆サービスガイド

1

● 温（湿）度試験器　HIFLEX NEO シリーズ ･･････････････････････････････････ P 3● 温（湿）度試験器　HIFLEX NEO S シリーズ ････････････････････････････････ P 4● 温度サイクル 試験器　WINTECH シリーズ ････････････････････････････････ P 5

エアーシリーズ（気槽式温度サイクル 試験器）リキッドシリーズ（液槽式熱衝撃試験器）

● 結露サイクル 試験器　DEW CYCLE テストチャンバ ････････････････････････ P 6● 恒温器　HISPEC シリーズ ･････････････････････････････････････････････ P 7

HT （横型恒温器）HS （縦型恒温器）S （爆発ベント付恒温器）HG （溶剤乾燥用安全仕様恒温器）N （無酸化恒温器）K （熱風強制排気式恒温器）

● 温（湿）度試験室　COLONIA シリーズ ････････････････････････････････････ P 9● 医薬品安定性試験　LABONIC シリーズ ･････････････････････････････････ P 10

LX （安定性試験器）DH （安定性試験室）

● 用途別専用器 ･･･････････････････････････････････････････････････････ P 11太陽電池モジュール 評価用大型恒温（恒湿）槽二次電池評価用安全増恒温槽複層ガラス試験器　GA100

INDEX 環境試験器 P2

絶縁信頼性評価関係 ･･･････････････････････････････････････････････････ P 13● 絶縁劣化特性評価テスタ（SIR 13 ／ SIR 13 mini ／ HIR）● 導通信頼性評価テスタ（MLR 22 ／ MLR 22 mini）● イベントディテクタ（ED 71 ／ ED71mini）コンデンサ 特性評価関係 ･･･････････････････････････････････････････････ P 14● コンデンサ（温度）特性評価システム（MCL 41）● コンデンサ 寿命試験システム（TLE 60）● コンデンサ 絶縁特性評価システム（TCI 51）半導体信頼性評価関係 ･････････････････････････････････････････････････ P 15● 酸化膜信頼性評価システム（TDDB）● ウェハーレベル 信頼性評価システム（WLR）● エレクトロマイグレーション 評価システム（EM テスタ）

自動計測システム P12

一貫したサービス体制と信頼性クリニック ･････････････････････････････････ P17受託サービスの主なメニュー ････････････････････････････････････････････ P18

信頼性試験・分析受託サービス P16

カスタマサポートセンター（CSC） P20

システムアップ例 P22

2

温湿度試験器、温度サイクル試験器、熱衝撃試験器、各種恒温器などに代表される環境試験器を提供しています。高機能・高性能はもちろん、省スペースや省エネルギーといったニーズにもいち早く対応。ETACの環境試験器への高い評価は、数多くの納入実績が物語っています。

Enviromental Test Chamber

環境試験器

3

HIFLEX NEOシリーズの主な特長●新開発のスマートコントローラを採用新たに開発したスマートコントローラの採用により､ フレキシブルなオペレーション､ 運転データの自動保存､ 情報発信など､ 試験現場のニーズにきめ細かくお応えできるようになりました。

●省エネ／低騒音／高性能化最新の DC インバータロータリ冷凍機を 標準装備し､ 消費電力を大幅に 削減（当社比最大 58％）しました。

●消費水量の削減加湿水の 給水方式を 改善することにより､ 1 回の給水で 85℃／ 85％・ 最大 1,000 時間の連続運転を実現しました。

●スリム化（省スペース化）本体の機器レイアウトを見直すことにより､ スリム化（省スペース化）を実現。同時にケーブル孔を両サイドに設け､ 使い勝手の良さが向上しました。

温（湿）度試験器

信頼性試験業務の新しい流れをつくる、「安心・快適・手間いらず」のHIFLEX NEOシリーズ。

HIFLEX NEOシリーズ

温（湿）度試験

HIFLEXNEOシリーズ　型式／基本性能早見表

※［　］内はオプション

85℃

15℃

98%RH

10 20 30 40 50 60 70 80 90 1000

20

40

60

80

100

相対湿度

%RH

乾球温度　℃

ノンフロスト範囲

■温湿度制御可能範囲（FX型）

※ 35℃以下の温湿度運転においてフロストのため､ 連続運転に制限があります。

低温恒温恒湿器（試験室内寸法W×H×Dmm） 600 × 750 × 600 700 × 950 × 700 1000 × 1000 × 800

−40℃〜＋100℃［＋150℃］20％ RH 〜 98％ RH FX410N FX420N FX430N

−70℃〜＋100℃［＋150℃］20％ RH 〜 98％ RH FX710N FX720N FX730N

低温恒温器（試験室内寸法W×H×Dmm） 600 × 750 × 600 700 × 950 × 700 1000 × 1000 × 800

−40℃〜＋100℃［＋150℃］ FL410N FL420N FL430N

−70℃〜＋100℃［＋150℃］ FL710N FL720N FL730N

4

HIFLEX NEO Sシリーズ

「環境試験器のスタンダード」として多くの実績を誇る HIFLEX NEO と同等の基本性能を備えた、小型／多段積みタイプです。飛躍的な省スペース化はもちろん、ウォーターアタッチメントによる簡単な給水作業を実現するとともに、大幅なコストダウンを可能にしました。

低温恒温恒湿器　低温恒湿器

●省スペース化は開発期間の短縮にも貢献 S シリーズ SXN 403 と従来製品 3 台の設置スペース比較。 省スペース化は単にスペースの有効活用だけでなく、3 つの異なる条件での試験が同時に行えるなど､ 開発期間の短縮にも貢献します。

●省エネルギー設計冷凍システムの効率化と電子膨張弁を用いた 独自の冷媒流量制御による冷凍能力の最適化により､ 消費電力を 10 〜 25％（当社比）低減。冷却性能や制御性も向上しました。

12901370

980 500 500980 980660

3940

メンテナンススペース

メンテナンススペース

HIFLEXNEO S SXN403

当社HIFLEX FX420N

HIFLEX NEOの高い基本性能はそのままに、小型／多段積みタイプの「Sシリーズ」が加わりました。

HIFLEXNEOSシリーズ　型式／基本性能早見表

※〜 150℃仕様はオプションで 対応いたします。

SXN401　消費電力量比較

－40℃ 85℃／85％

消費電力量（kWh）

0.0

2.5

2.0

1.0

1.5

0.5

TH401ASXN401

●消費水量の削減による長期の連続運転を実現生まれ変わった NEO-S シリーズは加湿水の供給・回収システムの見直しにより消費率を大幅に削減。これにより連続運転可能な日数を約 1.5 倍に延ばしました。

連続運転可能な日数（満水から、85℃85％運転時）

SXN401 SXN412(1槽運転時）

運転可能日数

0

2

4

6

8

10

12

14

16 新モデル旧モデル

低温恒温恒湿器（試験室内寸法W×H×Dmm） 500 × 350 × 350 （500 × 350 × 350）× 2 （500 × 350 × 350）× 3 （600 × 600 × 500）× 2

−40℃〜＋100℃［＋150℃］20％ RH 〜 98％ RH SXN401 SXN402 SXN403 SXN412

−40℃〜＋100℃［＋150℃］ SLN401 SLN402 SLN403 SLN412

5

WINTECH エアーシリーズ省エネ、省スペース、リカバリー時間短縮、均一な温度分布性能、試料温度制御など、数々の先進的な機能と性能を備えたモデルです。電子部品、半導体製品、自動車機器からパワーディバイスの信頼性評価用までをフルラインナップしています。

気槽式温度サイクル試験器

温度サイクル試験

●ECO対応製品の特長・無駄な予冷／予熱を休止することで､ 運転中の消費電力を平均 25％削減。・学習機能により､ サイクル毎に最適なタイミングで予冷／予熱の制御を再開。・コントローラの操作で､ ECO 運転／通常運転の切り替えが可能。・さらし時間が短い試験でも ECO 運転が可能。

※ A は冷凍機空冷式､ W は冷凍機水冷式　

1000サイクル運転における消費電力量比較

ECO設定OFF

NT1031W NT531ANT1231W NT2031W0

5000

10000

消費電力量（kWh）

15000

20000

ECO設定ON

【条件】 ① 設 定 温 度：− 40℃／ 30 分 ＜−＞ ＋ 125℃／ 30 分 ② 設定サイクル：1000 サイクル

パワーデバイス信頼性評価用300℃仕様

車載用をはじめ、高電圧・大電流のパワーデバイスの信頼性評価用に、300℃仕様の WINTECHシリーズが誕生しました。高温運転時の耐熱・断熱性能向上のため様々な基本設計を刷新し、高性能と安全性を高めました。

新機能の低温復帰時間短縮機能（SF）2 ゾーン試験時に「高温さらし」から「低温さらし」に移行する際、外気導入を行うことにより低温復帰時間を大幅に短縮します。

温度範囲 試験室内寸法（W×H×Dmm） 370 × 330 × 400 370 × 500 × 400 370 × 450 × 400 650 × 500 × 400 700 × 500 × 600

（高温側）＋60℃〜＋200℃（低温側）−55℃〜 0℃ NT531A NT1031A − NT1231A −

（高温側）＋60℃〜＋200℃（低温側）−65℃〜 0℃ − NT1031W NT1531W NT1231W NT2031W

（高温側）＋80℃〜＋300℃（低温側）−65℃〜−10℃ − − NT3701A − −

（高温側）＋80℃〜＋300℃（低温側）−65℃〜−10℃ − − NT3701W − −

ウインテクエアーシリーズ　型式／基本性能早見表

6

IC の封止材､ ボンディングワイヤやその電子回路､ はんだ付け部などのひび割れ､ 剥離､ 切断､ 開口などの物理的変化を短時間で促進する試験器です。厳しい環境条件を安定的に再現するため､ 熱交換能力の高い冷却回路を採用しています。また､ ランニングコストの低減を図る新機構を採用し､最も安定した高性能熱衝撃試験器として高い評価を得ています。

DEW CYCLE テストチャンバ温湿度差のある環境下を移動する電子機器の結露条件を､ より現実に近い形で再現させる専用器です。屋外設置用電子機器､ 自動車部品やその機器､電話器､ パソコン､ カムコーダ､ GPSなどの携帯車載用情報機器など､ 各種エレクトロニクス製品や部品の結露による腐食試験や絶縁抵抗劣化試験､イオンマイグレーション評価に最適です。

結露サイクル試験器

WINTECH リキッドシリーズ液槽式熱衝撃試験器

結露サイクル試験器　型式／基本性能早見表

ウインテクリキッドシリーズ　型式／基本性能早見表

温度範囲 試料カゴ寸法（W×H×Dmm） 120 × 120 × 150 170 × 170 × 250 220 × 220 × 310

（高温側）＋50℃〜＋200℃（低温側）−65℃〜 0℃ LT20 LT60 LT80

型 式 DC510S DC1200S DC2010S

内寸法（W×H×Dmm） 370 × 330 × 400 650 × 500 × 400 700 × 500 × 600

温 度 範 囲 − 55℃〜＋ 150℃ − 55℃〜＋ 150℃ − 55℃〜＋ 150℃

湿 度 範 囲（高温側のみ温度設定可）

40％ RH 〜 95％ RH（at ＋ 25℃〜＋ 80℃）

40％ RH 〜 95％ RH（at ＋ 25℃〜＋ 80℃）

40％ RH 〜 95％ RH（at ＋ 25℃〜＋ 80℃）

7

恒温試験

HISPEC 横型シリーズ恒温器

エタック独自の製造技術と最新のエレクトロニクス技術を集約し､ デジタル制御による高精度な温度コントロールを実現した高性能恒温器です。豊富なラインアップによって､ 温度試験用から生産ラインでのベーキング､ エージング､ 乾燥用にいたるまで､ 幅広いニーズにお応えします。また､ 生産ラインでの長期連続運転に対応するため､ モータ､ ヒータを中心とした主要ユニットの耐久性は､ 十分なゆとりを持たせています。

HISPEC Sタイプ爆発ベント付恒温器

熱処理､ または乾燥時に揮発性ガス（べーパ ）が発生する試料に適した試験器です。何らかの原因によって槽内で爆発が起こった場合でも､ 風圧を天井部に抜く排気ベントが付いていますので､ 安全に使用できます。

＊引火性のあるベーパが大量に発生する場合は､ HG タイプをご利用ください。

ハイスペック横型シリーズ　型式／基本性能早見表

HISPEC 縦型シリーズ恒温器

HISPEC 横型の基本性能に加え､省スペース設計です。すぐれた熱風循環機能によって多くの試料を熱処理できます。運転中に扉を開けた場合でも作業者に熱風が吹き かからないように配慮した安全機構を採用しています。

ハイスペック縦型シリーズ　型式／基本性能早見表

ハイスペックSタイプ　型式／基本性能早見表

※（P）はプログラム制御仕様（オプション）です。

温度範囲 試験室内寸法（W×H×Dmm） 450 × 450 × 450 600 × 600 × 600 800 × 800 × 600 800 × 1000 × 800 1000 × 1000 × 800

室温＋20℃〜＋200℃ HT210 HT220 HT230 HT240 HT250

室温＋20℃〜＋300℃ HT310 HT320 HT330 HT340 HT350

温度範囲 試験室内寸法（W×H×Dmm） 450 × 450 × 450 600 × 600 × 600 800 × 800 × 600 800 × 1000 × 800 1000 × 1000 × 800

室温＋20℃〜＋200℃ HT210S HT220S HT230S HT240S HT250S

室温＋20℃〜＋300℃ HT310S HT320S HT330S HT340S HT350S

温度範囲 試験室内寸法（W×H×Dmm） 600 × 600 × 600 600 × 900 × 600 600 × 1200 × 600 800 × 1200 × 600

（周囲温度＋20℃）〜 200℃ HS230 HS240 HS250 HS260

8

HISPEC HGタイプ溶剤乾燥用安全仕様恒温器

「安全はすべてに優先する」をコンセプトとして開発した製品です。セラミックの 成型工程や代替フロン洗浄後の乾燥など､ 可燃性ベーパの発生を伴う熱処理等に適したすぐれた安全性を備えています。

・強制排気方式・ガス濃度警報器を標準装備・安全機能を随所に装備

HISPEC Nタイプ無酸化恒温器

銅や銀電極を持つ電子部品等の熱処理は N2 ガス雰囲気内で行い､ 酸化を防止します。こうした特殊な熱処理を必要とする専用器として開発した恒温器です。高 N2

ガス置換率､ N2 ガス使用量低下､ 温度降下時間短縮で作業性の向上を実現します。

・残留酸素濃度 100ppm 以下を実現・温度降下時間を短くする（作業効率アップ）

HISPEC　Kタイプ熱風強制排気式恒温器

シリコンゴムに代表される二次加硫を必要とするゴム加工品の 熱処理用恒温器です。加硫時の析出物を効率よく槽外へ排出する一方向完全排気方式により､ 歩留まりの良い加硫が行えます。

・加硫時の析出物を効率よく槽外へ排出・作業性のよい両開き扉を標準装備

ハイスペックHGタイプ　型式／基本性能早見表

ハイスペックNタイプ　型式／基本性能早見表

ハイスペックKタイプ　型式／基本性能早見表

温度範囲 試験室内寸法（W×H×Dmm） 600 × 600 × 600

室温＋20℃〜＋200℃ HG220

温度範囲 試験室内寸法（W×H×Dmm） 600 × 600 × 600

室温＋40℃〜＋250℃ HT320N

温度範囲 試験室内寸法（W×H×Dmm） 800 × 1000 × 800 1000 × 1000 × 800

室温＋20℃〜＋250℃ HT340K HT350K

9

大型温（湿）度試験室

COLONIAシリーズ

環境試験室／恒温恒湿室・低温恒温室（ウォークインチャンバ）

「使う人にやさしい製品」「ユーザニーズに柔軟に対応できる製品」を基本コンセプトとし､ 基本性能や機能面の充実をはじめ､ すぐれた安全性を実現しました。出荷前の工場内完成度を高めたユニット化設計により､ 現地での設置工事の 短期化と品質向上をあわせて実現。幅広いラインアップにより､ 最適な機器をお選びいただけます。

コロニアシリーズ　型式／基本性能早見表

※ P はプログラム制御　※ A は冷凍機空冷仕様（他は水冷仕様）　※（　　）は空冷仕様での温度範囲　※− 40℃仕様もございますのでお問い合わせください

メニュー画面 運転画面プログラムパターン確認画面

●カラー液晶パネル採用により､ モニタ機能が充実＝見やすく､ 操作性がよい。

仕様 試験室内寸法（W×H×Dmm）

1670 × 2200 ×1670

3470 × 2200 ×1670

3470 × 2200 ×2570

3670 × 2200 ×3270

4370 × 2200 ×3470

5270 × 2200 ×3470

低温恒温恒湿室

−10℃〜＋80℃15％ RH. 〜 95％ RH.

CH111PCH111PA

CH121PCH121PA CH131P CH141P CH151P CH161P

−35℃〜＋80℃（−30℃〜＋80℃）15％ RH. 〜 95％ RH.

CH311PCH311PA

CH321PCH321PA CH331P CH341P CH351P CH361P

10

LABONIC LXシリーズ長時間連続運転をギャランティする安定性試験専用器。湿度計測は高分子センサを採用しているため､ ウイックの定期交換が不要です。また､ 水回路の簡素化と合わせて､ メンテナンスフリーを実現。設置スペースに対し､ より大きな内容量を確保しており､ さらに多くのサンプルが収納できます。

安定性試験器

LABONIC DHシリーズ多量の新薬サンプルを対象に､ 安定性試験を高効率で行える試験室です。設置スペースに対して大量のサンプルを収納することができます。断熱パネル､ 調温調湿ユニットなどの構成品は､すべて標準設計となっているため､ 3 日以内の工期で引き渡しできます。また､高分子湿度センサを採用しているため､ ウイックの定期交換が不要になり､ 作業性､ メンテナンス性が向上しました。

安定性試験室

医薬品安定性試験

ラボニックLXシリーズ　型式／基本性能早見表

ラボニックDHシリーズ　型式／基本性能早見表

バリデーション＆キャリブレーション医薬品をはじめ､ 化学､ 食品､ 化粧品などの 安定性試験では､標準化された 規格に準拠したバリデーションとキャリブレーションが必須となります。エタックでは､ コンピュータ・バリデーションを含め､ 試験機器の導入から運用管理､ 校正（キャリブレーション）・点検､ 保守管理､ 記録・保存（ドキュメント化）に至るまで､ SOP（標準操作手順書）に基づ いたバリデーション体系を完備しています。※ SOP：Standard Operation Procedure

⇒ P22 の「医薬品安定性試験システム」もご参照ください。

●キャリブレーション対応の保守契約制度のお勧めエタックの「保守契約制度」は、“ 試験器の予防総合点検 ”を基本的な考え方として､ 長期間行う安定性試験を機器のトラブルによって中断することなく､ 安定稼働させることを目的に制度化されています。契約内容に基づいた試験器本体の総合点検をはじめ､ 新薬開発過程でのバリデーションにも直接関わる温湿度制御用コントローラの校正を併せて実施します。また､ ISO に準拠した試験成績書と校正証明書の提出も可能です。より高精度でスピーディな新薬開発を実現するために､ ぜひ弊社の「保守契約制度」をお役立てください。

型 式 LX330 LX800

内 寸 法 m m W600 × H1000 × D550 W1000 × H1000 × D800

温 度 範 囲 ＋ 20℃〜＋ 45℃ ＋ 20℃〜＋ 45℃

湿 度 範 囲 60％〜 80％ RH 60％〜 80％ RH

セ ン サ 温度（測温抵抗体）､ 湿度（高分子センサ） 温度（測温抵抗体）､ 湿度（高分子センサ）

電 源 AC100V　単相　50 ／ 60Hz（14A） AC100V　単相　50 ／ 60Hz（24A）

型 式 DH18 DH30

内 寸 法 m m W3480 × H2180 × D1780 W3480 × H2180 × D2600

温 度 範 囲 ＋ 20℃〜＋ 45℃ ＋ 20℃〜＋ 45℃

湿 度 範 囲 60％〜 80％ RH 60％〜 80％ RH

セ ン サ 温度（測温抵抗体）､ 湿度（高分子センサ） 温度（測温抵抗体）､ 湿度（高分子センサ）

電 源 AC200V　3 相　50 ／ 60Hz（37A） AC200V　3 相　50 ／ 60Hz（59A）

11

用途別専用器

GA 100複層ガラス試験器

JIS 規格※に準拠した複合ガラス専用試験器です。これ 1 台で耐湿耐光試験と冷熱繰り返し試験が可能です。エタックが独自に開発したデジタル・コントローラを採用しており､ 試験精度､ 操作性能､ 安全性､ 耐久性ともにバランスのとれた複層ガラス試験専用器です。

各種太陽電池モジュールの耐熱性試験､ 耐湿性試験､ 温度サイクル試験､ 温湿度サイクル試験及び結露凍結サイクル試験など､ 各種環境試験規格試験に最適な環境試験器です。静圧の高い大風量シロッコファンを採用し､ 循環風が槽内に設置した太陽電池モジュールのパネル面の隅々まで行きわたりますので､ 均一なストレスで環境試験を行うことができます。また､ 温（湿）度コントローラはグラフィックカラー液晶表示で､ 槽内の温湿度や進行サイクルがひと目でわかります。

太陽電池モジュール評価用大型恒温（恒湿）槽

太陽電池モジュール評価用大型恒温（恒湿）槽　型式／基本性能早見表

二次電池の充放電試験に伴う発煙・発火の危険性に対し､ 正常確認と多様冗長系による安全確認システムに重点をおいて設計された安全増恒温槽です。保護装置として爆発圧力放散口を標準装備し､ さらに煙感知器､ 自動消火装置などと組み合わせて､ 発煙・発火の早期発見・消火システムの構築が可能です。充放電試験システムと組み合わせてご使用いただけます。

二次電池評価用安全増恒温槽

二次電池評価用安全増恒温槽　型式／基本性能早見表

※ JIS 規格　R3209 8,5,1（耐湿耐光試験）JIS 規格　R3209 8,5,2（冷熱繰り返し試験）

型 式 LHH-100（高温高湿槽） LTC-400（温度サイクル槽） LHC-400（温湿度サイクル槽）

標準内寸法（W×H×Dmm） 1500 × 1900 × 1500※内寸法は太陽電池モジュールの設置枚数や外形寸法に応じてフレキシブルに対応いたします。

温 （ 湿 ） 度 範 囲 10℃〜 100℃60％ RH 〜 95％ RH − 40℃〜 100℃ − 40℃〜 100℃

60％ RH 〜 95％ RH

主 な 適 用 試 験 規 格

① JIS C 8917 付属書 10 及び 11② JIS C 8938 付属書 10 及び 11

① JIS C 8917 付属書及び 10② JIS C 8938 付属書 1 及び 10 ③ JIS C 8990　10.11 項 ④ JIS C 8991　10.11 項

① JIS C 8917 付属書 1,2,10 及び 11② JIS C 8938 付属書 1,2,10 及び 11③ JIS C 8990　10.11 項④ JIS C 8991　10.11 項⑤ IEC61646 Edition 2.0 2008-08

10.12 項など

型 式 SBC414P SBC424P SBC434P

標準内寸法（W×H×Dmm） 500 × 750 × 600 700 × 950 × 700 1000 × 1000 × 800

温 （ 湿 ） 度 範 囲 − 40℃〜 100℃

主 な 適 用 試 験 規 格 爆発圧力放散口、（煙感知器）､（自動消火装置）､ 非常停止スイッチ､ 過昇防止器､ 試料電源インターロック端子、半ドア防止機構､ 外部警報端子､ RS485 インタフェースなど。　※（　　）内はオプション

基本性能

内寸法（W×H×Dmm） 850 × 1400 × 600

温 度 範 囲 − 20℃〜＋ 55℃

湿 度 範 囲 ＋ 50℃／ 95％ RH

制 御 デジタル式プログラム温湿度コントローラ（PID 制御）

電 源 AC200V　3 相　50 ／ 60Hz（60A）

12

エレクトロケミカルマイグレーション（イオンマイグレーション）測定、コンデンサの静電容量及び絶縁抵抗測定や半導体のエレクトロマイグレーション評価、酸化膜のTDDB評価などをストレス環境下で高速、かつ多チャンネルで評価する専用システムをお届けしています

Automatic Measurement System

自動計測システム

13

絶縁信頼性評価関係

SIR13 ／ SIR13 mini ／ SIR13 SLIM絶縁劣化特性評価テスタ・エレクトロケミカルマイグレーションと絶縁抵抗測定及び絶縁特性評価を可能にした [3Way Use タイプ ] です。・全 CH に微小電流計を備え、絶縁抵抗値を連続かつ高速 20msecで測定し、瞬時に発生、終息するエレクトロ

ケミカルマイグレーション現象を正確に捉えます。・250V 標準計測ボードは16ch 構成で、1ch ／ 1電源と8ch ／ 1電源、の2 種類、500V 及び 1kV 計測ボードは

8ch 構成で1ch ／ 1電源と用途に合った計測ボードを選択できます。・SIR13 は印加電圧の違う計測ボードを自由に選択でき、一つのシステムの中に混在する事が可能です。・エレクトロケミカルマイグレーション現象が発生した時に、発生する前のデータと発生後のデータを取得する

プロビアス機能を搭載しています。・高電圧ユニットを使用する事で、最大10kV 迄の電圧印加で絶縁評価をすることが可能です。・プラス100Vとマイナス100Vと任意の中間電圧を自由に設定し、繰り返しパルス電圧波形を印加できるパルス

ボードが追加されました。・±パルス印加波形は 20μsec 単位で任意の波形設定ができ、様々なパルス波形を作り出すことが可能です。

MLR 22／MLR 22 mini導通信頼性評価テスタ（測定電流AC/DC共用）・微小な抵抗を測定するAC 測定に加え、そのままの接続で DC 電流印加が行える、微小電流測定システムです。・微小抵抗値（100n Ω ~2k Ω）を高速（2sec/8ch）のスピードで測定することが出来ます。・タッチパネルのマトリックス評価や、鉛フリー半田の評価、ワイヤーハーネス等の導通評価に適しています。・DC 電流を100mAまでを任意設定でき、DC 電圧測定を可能にしました。・T 型熱電対、PT100 を使用した 2CH の温度測定が標準で搭載されています。・ボード 1枚で 32ch を実現して、最大ボード 8 枚装着可能（MAX256ch）、ボード 2 枚まで装着可能な MLR22mini

もあります。

ED71／ ED71mini／ ED71slimイベントディテクター（瞬間断線検出）テスタ・すべてのチャンネルに電流を常時印加して、導通している状態から瞬間的に断線（イベント）を検出する装置です。・電流印加は1mA,10mA,100mA,1Aとボード選択可能です。（IPC 規格に準拠した試験が可能）・イベント検出速度は 50nsec の高速検出を行っています。・半田ボール、ワイヤーハーネスの断線検出、リレーのチャタリング、スイッチの導通性試験に最適です。・振振動、落下、繰り返し曲げ、熱衝撃など各試験機と同期出来るインターフェース標準装備しています。・基準イベントを発生する、イベントジェネレータもあります。・イベント検出を行いながら、抵抗も測定し記録しています。

主な仕様

測定抵抗範囲及 び測 定 レ ン ジ

AC 抵抗測定 DC 抵抗測定 DC 電圧測定

2.0000k Ω 100m Ω分解能 200.00k Ω 10 Ω分解能 10.000uA 1nA 分解能

200.00 Ω 10m Ω分解能 20.000k Ω 1 Ω分解能 100.00uA 10nA 分解能

20.000 Ω 1m Ω分解能 2.0000k Ω 100m Ω分解能 1.0000mA 100nA 分解能

2.0000 Ω 100 μΩ分解能 200.00 Ω 10m Ω分解能 10.000mA 1uA 分解能

200.00m Ω 10 μΩ分解能 20.000 Ω 1m Ω分解能 100.00mA 10uA 分解能

20.000m Ω 1 μΩ分解能 − − − −

2.0000m Ω 100n Ω分解能 − − − −

主な仕様

測定抵抗範囲及 び測 定 レ ン ジ

イベント検出 抵抗測定

1mA 100 〜 3000 Ω 1 Ω分解能 3000.0 Ω 100m Ω分解能

10mA 7 〜 300 Ω 100m Ω分解能 300.00 Ω 10m Ω分解能

100mA 1 〜 30 Ω 10m Ω分解能 30.000 Ω 1m Ω分解能

１ A 100m Ω〜 3 Ω 1m Ω分解能 3.0000 Ω 100 μΩ分解能

主な仕様

印 加 電 圧 100V パルス・250V・500V・1kV

高 電 圧 ユ ニ ッ ト 1.5kV・3kV・6kV・10kV

測 定 ボ ー ド 最大 8 枚（16ch/ ボードの場合　Max128ch）

最 大 電 流 測 定 範 囲測 定 レ ン ジ及 び分 解 能

1）30mA (1 μ A 分解能 )2）3.2mA (10nA 分解能 )3）320 μ A (1nA 分解能 )4）3.2 μ A (10pA 分解能 )5）32nA (100fA 分解能 )6）320pA (1fA 分解能 )

SMU ボードを 1 枚装着し、恒温槽に取りつけられる SIR13SLIM もあります。

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コンデンサ特性評価関係

MCL42T ／ MCL42Fコンデンサ（温度）特性評価システム・コンデンサの主要特性である静電容量（C）・Tanδ（D）・インピーダンス（|Z|）・ESR（MCL42F）・温度

を自動計測します。・ 測定部は keysight 社の LCR メータを採用し、エタックの環境試験装置（NEO シリーズ）を組み合わせ、

試料の数に応じたスキャナーを使用した多点自動計測システムです。・容量の温度特性を評価する MCL42T、電界コンデンサ等の周波数特性を評価する MCL42F の2 機種

を用意しました。・測定時測定電圧は最大 600V まで可能です。・コンデンサ20 ヶ〜 40 ヶの自動測定が可能です。

TLE 60コンデンサ寿命試験システム・1ch 当たり最大で1kV/20mA・500V/50mA・250V/50mA のハイパワー印加が行え、長時間のコンデ

ンサ寿命評価試験を自動で行います。・テスタは10ch を1つのボードで構成されており、最大 20 ボードまでコントロール可能です。・1ch 当たりの電流量・負荷容量が大きいため、1ch に複数（20 個〜 50 個）のコンデンサを接続する

ことも出来るので、寿命測定試験やバーンイン試験にも使用可能です。・リミッタ電流を設定できるため、破壊寸前の停止が可能です。

TCI51/TCI51mini/TCI51slimコンデンサ絶縁特性評価システム・コンデンサ、LC フィルタなど、容量成分を持った電子部品のリーク、絶縁特性を自動計測します。・ストレス電圧と測定電圧は個別に設定できます。また、任意のタイミングで10 点まで別の電圧印加

を設定できます。・コンデンサ測定用の専用治具ラックも用意しています。・250V 〜 1kV の高電圧まで数種類の計測ボードを選択及び組合せ可能です。・各計測ボードは1CH/1電源でチャンネル毎に独立して電圧印加と電流測定が行えます。・1kV 以上の電圧印加にも対応いたします。

主な仕様

測 定 周 波 数 20Hz 〜 2MHz

測 定 信 号 レ ベ ルノーマル：5 mV 〜 2 V

コンスタント：10 mV 〜 1 V

測 定 時 印 加 電 圧 2 V､ 40 V､ 50 V､ 100 V､ 200 V、600V

恒 温 恒 湿 槽 − 70℃〜 +200℃

1 印 加 電 圧 1 〜 250.00V 10 〜 500.0V 10 〜 1000.0V

2 測 定 電 圧 0 〜 250.00V 0 〜 500.00V 0 〜 1000.0V

3 測 定 電 流0 〜 50.000 mA0 〜 5.0000mA0 〜 500.0 uA

0 〜 50.000mA0 〜 5.0000mA0 〜 500.00uA0 〜 50.000uA

0 〜 20.0000mA0 〜 2.00000mA0 〜 200.000uA0 〜 20.0000uA

4 リ ミ ッ タ 電 流 0.500 〜 50.000mA 5.000 〜 50.000mA 4.000 〜 20.000mA

5 最 大 負 荷 容 量 1200uF/CH 1200uF/CH 1200uF/CH

主な仕様

印 加 電 圧 250V・500V・1kV

最 大 電 流 測 定 範 囲測 定 レ ン ジ及 び分 解 能

1）3.2mA (10nA 分解能 )2）320 μ A (1nA 分解能 )3）3.2 μ A (10pA 分解能 )4）32nA (100fA 分解能 )5）320pA (1fA 分解能 )

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TDDB（型式：D300）

WLR（型式：L100）

・TDDB（Time Dependent Dielectric Breakdown：酸化膜経時破壊）により、ゲート酸化膜の信頼性評価を行う装置です。

・チャンネル毎に電源をそなえ、ゲート酸化膜に対する電界依存性、電流密度依存性を多 ch に対して同時に測定できます。

・電圧印加に加え電流印加機能も備えているため、電流印加の電圧測定も可能です。・電圧ランプ印加が標準で装備されています。・標準150V の電圧印加から、200V、300V の高電圧での印加も用意しています。・マニュアルプローバ、フルオートプローバ、恒温槽との接続が可能です。

酸化膜信頼性評価システム

半導体信頼性評価関係

EM（型式：V100）エレクトロマイグレーション評価システム・エレクトロマイグレーション現象を高電流印加、高精度測定でAl 及び Cu 配線信頼性、パネル配線

信頼性を評価します。・電流印加は各 ch 完全独立方式を採用により、全 ch 別々の電流設定が可能です。・水準単位は10TEG/1水準で評価が可能です。

・MOS FETのホットキャリア劣化、TDDB 及び TZDB 法による絶縁膜の信頼性評価を多 chで同時に測定する事が出来ます。

・チャンネル毎に電源をそなえ、ゲート酸化膜に対する電界依存性、電流密度依存性を多 ch に対して同時に測定できます。

・電圧印加に加え電流印加機能も備えているため、電流印加の電圧測定も可能です。・マニュアルプローバ、フルオートプローバ、恒温槽との接続が可能です。

ウェハレベル信頼性評価システム

1 印加計測種類 30V ボード 100V ボード

2 印 加 電 流 500mA 30V まで 500mA,100V まで 50mA

3 測 定 電 圧

0 〜 30.000V0 〜 3.0000V0 〜 300.00mV

0 〜 100.00V0 〜 30.000V0 〜 3.0000V0 〜 300.00mV

1 印加測定電圧 150V （分解能 10mV）15V （分解能 1mV）

200V （分解能 10mV）20V （分解能 1mV）

300V （分解能 10mV）100V （分解能 10mV）

2 最 大 CH 数 320ch 320ch 160ch

3 印加測定電流

20mA （分解能 1 μ A）2mA （分解能 100nA）200 μ A （分解能 10nA）20 μ A （分解能 1nA）2 μ A （分解能 100pA）200nA （分解能 10pA）

20mA （分解能 1 μ A）2mA （分解能 100nA）200 μ A （分解能 10nA）20 μ A （分解能 1nA）2 μ A （分解能 100pA）200nA （分解能 10pA）

10mA （分解能 1 μ A）2mA （分解能 100nA）200 μ A （分解能 10nA）20 μ A （分解能 1nA）2 μ A （分解能 100pA）200nA （分解能 10pA）

1 印 加 測 定 電 圧 30V （分解能 10mV）3V （分解能 1mV）

12V （分解能 10mV）1.2V （分解能 1mV）

2 最 大 C H 数 160ch 160ch

3 印 加 測 定 電 流

30mA （分解能 1 μ A）3mA （分解能 100nA）300 μ A （分解能 10nA）30 μ A （分解能 1nA）3 μ A （分解能 100pA）300nA （分解能 10pA）30nA （分解能 1pA）

120mA （分解能 4 μ A）12mA （分解能 400nA）1.2mA （分解能 40nA）120 μ A （分解能 4nA）12 μ A （分解能 400pA）1.2 μ A （分解能 40pA）120nA （分解能 4pA）

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経営効率の向上に貢献するアウトソーシング・サービスです。サンプル加工から環境試験､ 寿命試験､分析・解析を一貫して承ることができます。また､故障原因の究明､ 解決策立案に最適な「信頼性クリニック®」もご利用いただけます。

Contracted Reliability Testing & Analysis Service

信頼性試験・分析受託サービス

独立試験所認定番号IECQ-L JQAJP 13.0003

エタックの信頼性試験 ･ 分析 受託サービス部門は､ 試験の第三者機関として「IECQ 独立試験所」の認定を得ており､ 試験機関の国際規格である「ISO ／ IEC17025」に準拠した「IECQ 独立試験所」の規定に基づいた運営管理を行っています。

IECQ：品質認定された電子部品の国際貿易を円滑に促進すること を 目 的 と し た IEC に よ る『IEC 電 子 部 品 品 質 認 定 制 度（IEC Quality Assessment System for Electronics Components）』 という､ 国際認証制度。

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テスト用サンプルの実装から環境・寿命試験､ 故障解析まで

一貫したサービス体制

業種別事例

クシ型基板やデイジーチェーン基板の製作、クシ型基板へのソルダペースト加工、BGA／ LGA 実装､ 各種はんだ付け加工などを 行います。

加工されたサンプルの機能確認のため､ 環境試験前の状態観察や初期特性の測定を行います。

大型環境試験室､ 衝撃試験器をはじめ､ 複合（温湿度＋振動）試験器、ガス腐食試験器など、最適な試験器をご利用いただけます。

お客さまのお手元のパソコンで毎日試験の進捗状況や経過データの確認ができる「バーチャルテストサービス」をご用意しています。契約ユーザ様専用サービスです。詳しくは､ 以下の体験サイトでご確認ください。

http://eswb1.kusumoto.co.jp/login.htmlバーチャルテストサービス

「信頼性クリニック®」 故障解析及び原因究明､ 解決策等のコンサルティング業務を承ります。

一貫サポートによってお客様の開発スピードアップ！営業力アップ！経営効率アップ！に貢献し､企業競争力を高めます。

接合信頼性､ 絶縁信頼性､ LSI 配線信頼性評価など､ 各種自動計測システムを数多く取りそろえています。

非破壊による観察から切断面の観察まで､ 試料に応じた故障解析を行い､ 不具合原因の確認と解決策の立案を行います。

ご契約内容に基づいて試験結果・評価をお知らせします。また､ 解析結果から故障メカニズムや原因究明を行い､ 解決策のご提案も併せて承ります。

4　寿命試験

1　サンプル製作・加工 2　サンプルの確認・前処理 4　環境試験

5　故障解析 6　ご提案・ご報告

■半導体耐リフロー性試験接合信頼性試験エレクトロマイグレーション試験酸化膜信頼性試験　他■高密度実装品

接合信頼性試験絶縁信頼性試験イオンマイグレーション試験非破壊解析　他

■コネクタ挿抜・微小抵抗測定低・高温特性試験温（湿）度サイクル特性試験ガス腐蝕試験　他■コンデンサ・電子部品

絶縁特性試験寿命試験コンデンサ特性試験非破壊解析　他

■回路基板絶縁抵抗試験イオンマイグレーション試験繰り返し曲げ試験デラミネーション試験■カーエレクトロニクス

各温度放置・動作試験結露サイクル試験複合環境試験（振動＋温湿度）塩水噴霧サイクル試験ガス腐食試験　他

■医薬品安定性試験長期保存試験加連試験過酷試験冷蔵・冷凍保存試験特殊（条件）試験

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受託サービスの主なメニューTEG基板設計／製作・リフロー実装など

大気・窒素リフロー実装（印刷、実装、検査）

リフローシミュレーション試験（高温観察装置）

環境試験関連

耐リフロー性試験（BGA ／ CSP のリフロー耐熱試験）

低温試験・高温試験

恒温恒湿試験（定常）、温／湿度サイクル試験

温度サイクル試験（気槽式）、熱衝撃試験（液槽式）

結露サイクル試験

HAST 試験（飽和／不飽和）

塩水複合サイクル試験、塩水噴霧試験

ガス腐食試験（3 種混合ガス、4 種混合ガス）

正弦波振動試験・ランダム振動試験・衝撃試験

複合試験（振動＋温湿度）

はんだ接続強度試験

引張り試験・圧縮試験

コネクタ・ソケットの各種信頼性試験

各種印加試験・動作試験（ユーザ仕様による）

大型部品、製品の各種信頼性試験

ソーラモジュールの各種信頼性試験

車載用部品、ユニットの信頼性試験

寿命試験関連

絶縁抵抗試験

エレクトロケミカルマイグレーション試験（CAF 含む）

誘電特性試験

BGA ／ CSP の各種接続寿命試験

はんだ接続部の寿命試験

プリント基板の繰り返し曲げ寿命試験

各種コンデンサの寿命試験

錫ウイスカの寿命試験

半導体・電子部品関連

エレクトロマイグレーション試験

ストレスマイグレーション試験

酸化膜信頼性試験（TDDB）

半導体リード線のプル・シェア試験

アルミ電解コンデンサ特性評価試験

各種コンデンサの温度特性評価試験

チップコンデンサのスクリーニング試験

チップコンデンサの HAST 試験

コネクタ・ソケットの信頼性試験

小型二次電池充放電試験

信頼性クリニック®（故障解析・コンサルティング業務）

高分解能走査電子顕微鏡（FE-SEM ／ FB-2100）

広帯域走査電子顕微鏡（ウイスカ自動観察）

三次元透過型電子顕微鏡（3D-TEM ／ H7650）

エネルギー分散型 X 線分析装置（EDX）

結晶方位解析システム（EBSP）

集束イオンビーム加工観察装置（FIB ／ FB2100）

マイクロフォーカス X 線 CT システム

超音波探傷映像装置（SAT）

半導体パッケージ開封装置

断面試料作成用　切断機

断面試料作成用　脱泡装置

断面試料作成用　研磨機

イオンミリング装置（E-3200）

クロスセクションポリッシャー（SM-09010）

ハレーションマイクロスコープ（PS-100）

マイクロスコープ

実体顕微鏡（SZX7 ／オリンパス）

金属顕微鏡（BX51M ／オリンパス）

フーリエ変換赤外分光分析装置（FT-IR）

ガスクロマトグラフィ（GC）

液体クロマトグラフィ

カラー X 線透視装置（TCX-4200A ／東芝）

高温観察装置（SK-5000）

各種ウイスカ観察、故障解析

発煙・発火の原因究明解析

各種故障解析相談

その他

・HALT ／ HASS 試験・中長期個別契約試験（設備、人、場所）

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IECQ独立試験所

国際規格に基づいた、高品質なサービスを提供しています。

楠本化成の総合技術研究所として、塗料用の添加剤開発、電子材料開発、 電子機器や電子部品等の故障解析、良品解析、発煙発火事故解析など、異業種にまたがる幅広い技術と経験を生かし、信頼性試験や故障解析の技術コンサルテイング等、「信頼性クリニック®」として、質の高い原因究明型の解析 を提供いたします。

草加試験センター

デジタル電子機器や電子部品、電子材料などの、はんだ接合評価やコネクタ接続評価、エレクトロケミカルマイグレーション等の絶縁評価を自動評価する自動計測システムを中心に、質の高い信頼性試験、加速寿命試験を提供 いたします。

山形試験所

〒 509-6104 岐阜県瑞浪市山田町字小洞 2018 TEL.0572-67-4051（代表）●中央本線「名古屋」駅→「瑞浪」駅よりタクシーで約 10 分●東名高速「名古屋 IC」→小牧 JCT →中央自動車道「瑞浪 IC」より約 15 分

カーエレクトロニクスやデジタル電子機器の信頼性試験・加速寿命試験等の受託サービスを提 供しています。また近年注目されている HALT や、最大 加振力 40kN の垂直・水平複合振動試験器など、最先端の設備で、質の高い受託サービスを提供いたします。

みずなみ試験所

ハローワーク

駅入口

草加駅入口

パナソニックロジスティックスGS

ファミリーレストラン

消防署

コメダコーヒー

弁天公園

トヨタ

サンクス

楠本化成株式会社

草加文化会館

草加研究所

蟹沢交差点

楠本化成株式会社山形試験所

至山形

山形新幹線

国道

　号

至新庄

西口

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至山形空港

ローソン

楠本化成株式会社

国道19号線

山田町

至名古屋

至小牧

中央本線

みずなみ試験所（瑞浪クリエイション・パーク内）

一色 上平薬師

瑞浪IC

至松本

至諏訪方面中央自動車道

サークルK

モスバーガー

クリエイション・パーク案内あり

〒 340-0004 埼玉県草加市弁天 4-18-6 TEL.0489-35-2106（代表）●東武伊勢崎線「草加駅」東口よりタクシーで約 15 分●東武伊勢崎線「松原団地駅」東口よりタクシーで約 10 分

〒 999-3716 山形県東根市蟹沢 1702-3 TEL.0237-42-4207（代表）●山形新幹線 「さくらんぼ東根」駅より徒歩約 5 分●山形空港よりタクシーで約 10 分

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「迅速」「的確」「親切」をミッションに､ 顧客カルテデータベース等の最新システムを導入し､ お客様を総合的にサポートしています。

Customer Support Center

CSCカスタマサポートセンター

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CSC（カスタマサポートセンター）

●顧客カルテデータベースエタック独自の顧客データベース。製品 Lot.No. 単位で､ 納入から廃棄に至るすべての履歴が収録されており､ 迅速・的確なサービスを可能にします。

●CSCパートナ業務委託契約を締結したサービス代行店。当社指定のサービストレーニングプログラムを受講し､ 技能検定をパスしたエンジニアが複数在籍し､ 国内各地はもちろん､ 中国､ ASEAN 諸国にも拡張中です。

■不具合発生時､ サポートサービスを実施します。

カスタマサポートセンター（CSC）

このシールは､ 点検サービスと保守契約サービス（年間契約）の対象となっているエタック製品に表示されます。

このシールは､ 制御系の校正済証として表示されます。

迅速､的確､親切をミッションに。

サービス内容

On-Call サービス CSC パートナ拠点

■ エタック製品の総合点検を行います。

定期点検サービス

■ 年間契約に基づき､ 不具合を未然に防止するビフォアサービスを提供します。

保守契約サービス

■ ISO9001 シリーズで定められた機器校正を行います。■実施後､ 校正証明書を発行します。

校正サービス

主な特長

■カスタマサポートセンター連絡先・本部（埼玉） TEL.0495-35-2222・東京 TEL.03-3295-8681・山形 TEL.0237-41-1130・西日本 TEL.06-6452-2388・九州 TEL.092-475-7971＊名古屋地区は（株）マックシステムズにご連絡ください。 TEL.052-223-2811

① 北海道千歳市② 秋田県秋田市③ 山形県東根市④ 宮城県仙台市⑤ 群馬県高崎市⑥ 群馬県藤岡市⑦ 茨城県牛久市⑧ 埼玉県児玉郡 ⑨ 埼玉県川口市⑩ 東京都千代田区⑪ 東京都府中市⑫ 神奈川県海老名市⑬ 神奈川県小田原市⑭ 静岡県島田市⑮ 愛知県名古屋市

⑯ 岐阜県岐阜市⑰ 福井県福井市⑱ 滋賀県栗東市⑲ 大阪府大阪市⑳ 岡山県岡山市㉑ 福岡県福岡市

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System Up Model Plan

■主なニーズ● 毎日､ チャート紙の確認など､ 各環境試験器の稼働状態をチェックする時間を減らしたい。● 環境試験器の稼働スケジュールを試験の依頼元（複数部署）に配信したい。● デジタルデータ化し､ ペーパレスにしたい。

■使用ツール 1 ）環境試験器 集中管理・監視ソフト 2 ）エタック環境試験器用 RS232C インタフェース 3 ）RS232C ／ 485 変換器

Model Plan 1 【環境試験器 集中管理・監視システム】

環境試験器をパソコンで集中管理・監視することにより､試験器ごとの運転チェックやチャート紙の確認など､個別管理から解放されます。

■主なニーズ● チャート管理をなくして､ 温（湿）度・光（照度）データの収録を確実に行いたい。● 温度・湿度・照度（光強度）のデータを監視し､ 異常発生を携帯電話などへ発信して､

復旧対策を早急に実施できるシステムを構築したい。● 試料ごとの取り出し日の表示など､ スケジュール管理を正確に行いたい。

■使用ツール 1 ）環境試験器 集中管理・監視ソフト 2 ）医薬品安定性試験ソフト 3 ）温度計測ボード 4 ）電圧計測ボード 5 ）温度計測ターミナル 6 ）電圧計測ターミナル 7 ）ISA-PSI 変換ユニット 8 ）熱電対 9 ）高分子センサ10）LAN100BASE

Model Plan 2 【医薬品安定性試験システム】既存の試験器機を活用して､ 医薬品安定性試験システムを構築することができます。

…RS232C/485変換器を示す。

計測PC

温度計測ターミナル 電圧計測ターミナル

サーバPC

I/Oボックス

モデム

パトライト

ご使用の際は､ 商品に添付の取扱説明書の「使用上の注意事項」をよくお読みのうえ､ 正しくお使いください。水､ 湿気､ ほこり､ 油煙などの多い場所に設置しないでください。火災､ 故障､ 感電などの原因となることがあります。

安全に関するご注意

1512-MG-5,000(T-1)

カスタマサポートセンター 本部（埼玉）：TEL.0495（35）2222 東京：TEL.03（3295）8681 山形：TEL.0237（41）1130西日本：TEL.06（6452）2388 九州：TEL.092（475）7971＊名古屋地区は（株）マックシステムズにご連絡ください。 TEL.052（223）2811

お問い合わせは

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※受託サービス除く

本　　　　　社 〒 101-0047 東京都千代田区内神田 1-2-8 楠本第 2 ビル TEL.03（3295）8681 FAX.03（3233）0217大　阪　支　店 〒 553-0003 大阪市福島区福島 5 ｰ 16 ｰ 18 楠本第 8 ビル TEL.06（6452）2388 FAX.06（6458）2600名 古 屋 支 店 〒 460-0003 名古屋市中区錦 1 ｰ 7 ｰ 1 楠本第 9 ビル TEL.052（220）3570 FAX.052（212）4761福　岡　支　店 〒 812-0014 福岡市博多区比恵町 1 ｰ 1 楠本第 7 ビル TEL.092（475）7971 FAX.092（475）7970札 幌 営 業 所 〒 001-0010 札幌市北区北 10 条西 4 丁目 楠本第 10 ビル TEL.011（747）6091 FAX.011（716）7281山 形 営 業 所 〒 999-3716 山形県東根市蟹沢 1702 ｰ 3 TEL.0237（41）1130 FAX.0237（41）1338

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楠本化成株式会社エタック事業部

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信頼性試験のトータルパートナー