33
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Eksperimentalna mjerenja kristalne strukture « Fizika čvrstog stanja » Ivo Batistić Fizički odsjek, PMF Sveučilište u Zagrebu predavanja 2014/2015 (zadnja inačica 21. listopada 2014.)

«Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

  • Upload
    others

  • View
    1

  • Download
    0

Embed Size (px)

Citation preview

Page 1: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Eksperimentalna mjerenja kristalne strukture« Fizika čvrstog stanja »

Ivo Batistić

Fizički odsjek, PMFSveučilište u Zagrebu

predavanja 2014/2015 (zadnja inačica 21. listopada 2014.)

Page 2: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Pregled predavanja

Direktna mjerenja

Difrakcija

Kvantno-mehanički opis raspršenja

Ostale vrste mjerenja

Foto galerija

Page 3: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Eksperimentalno određivanje kristalne strukture

Direktna mjerenja• Elektronski mikroskop• Ostale vrste mikroskopa• STM (Scanning tunneling microscope)

Difrakcija• Rendgenska difrakcija• Elektronska difrakcija• Neutronska difrakcija

Ostale tehnike (EXAFS,…)

Page 4: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Direktna mjerenja

Page 5: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Direktna mjerenja

Elektronskimikroskop

Atom silicija nagrafenskoj površini.

Skenirajući tunelirajući mikroskop

Površina bakra, rekonstruirana površina zlata (100) i površina nikla

Page 6: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Skenirajući tunelirajući mikroskop (STM)

Između igle (Tip) i uzorka postojipad napona te teče struja tume-liranja. Iznos struje ovisi o polo-žaju igle: igla iznad atoma ili upodručju između atoma.

Igla prelazi preko cijele povr-šine (”skenira površinu”) te izzabilježenih podataka (položajigle naspram struje/napona) ra-čunalno rekonstruira strukturapovršine.

Pomoću ovog instrumenta semjeri lokalna gustoća stanjauzorka na Fermijevom novou.

Page 7: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Difrakcija

Page 8: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Slike difrakcije

Rendgenska difrakcija

na Nd2CuO4 kristalu.

Elektronska difrakcijana kvazikristalud-Al-Co-Ni

Neutronska difrakcijana supravodiču s

magnetskim virovima.T=4.1K (gore), 4.8K (dolje)

Page 9: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Kvantno-mehanički opisraspršenja

Page 10: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Elastično raspršenje u QM - ukratko

Diferencijalni udarni presjek:

dσdΩ

=Broj čestica koje se raspršuju u prostorni kut dΩ u jedinici vremena

Broj ulaznih čestica po jediničnoj površini u jedinici vremena

=r2 |Jrasp||Julaz|

= |f(k′, k)|2

gdje je (1. Bornova aproksimacija):

f(k′, k) = − 1

2mℏ2

∫dr eır·(k−k′) V(r)

Fourijerovtransformatpotencijala!

a V(r) potencijal međudjelovanja.

Page 11: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Međudjelovanje EM valova i tvari

Energija međudjelovanja elektromagnetskih valova i tvari:

Hint = −q∫

dr Jp · A︸ ︷︷ ︸doprinosi tek u 2. redu r.s.

+q2

2m

∫dr ρ(r) A2

gdje je električno polje:

E = −∂A∂t

Diferencijalni udarni presjek u 1. redu računa smetnje:

dσdΩ

= r20 P(q) |f(EM)(q)|2

Page 12: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Difrakcija EM valova na gustoći naboja

gdje su:

r0 =1

4πϵ0

e2

mec2= 2.81 10−15 m (klasični radijus elektrona)

P(q) =1

2

(1 + cos2 2θ

)(za nepolarizirani EM val)

f(EM)(q) =

∫dr eır·q ρ(r)

(Fourijerovtransformatgustoće čestica!)

|q| = |k′ − k| = 2|k| sin θ

Mjerenje udarnog presijeka je mjerenje Fourijerovog transformata gustoće čestica: f(EM) (q).

Page 13: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Raspršenje na rešetci

U slučaju raspršenja čestica i raspršenja EM valova međudjelovanjeje periodična funkcija prostora:

raspršenje čestica

V(r) =∑Rn

∑baza

Vb (r− Rn − rb)

Fourierov transformat:

f(k′, k) = S(q) A(q)

gdje je:

A(q) ∼∫

dr eır·q∑baza

Vb (r− rb)

raspršenje EM valova

ρ(r) =∑Rn

∑baza

ρb (r− Rn − rb)

Fourierov transformat:

f(EM)(q) = S(q) A(EM)

(q)

gdje je:

A(EM)(q) =

∫dr eır·q

∑baza

ρb (r− rb)

U Fourijerovom transforarmatu postoje dva faktora: jednan koji dolazi od raspršenja na jednom jedinom centru, atomski faktor A(q), te drugi koji dolazi od periodičnosti rešetke, strukturni faktor S(q).

Page 14: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Raspršenje na rešetci - strukturni faktor

S(q) =∑Rn

eıRn ·q =

N ako je q = Gm0 ostalo

= N∑Gm

δqGm=

(2π)3

Vc

∑Gm

δ(q− Gm)

je multiplikacijski faktor koji za obje vrste raspršenja isti.

q = k− k′ = Gm (Laueov uvjet difrakcije)

Napomena: |k| = |k′| (elastično raspršenje)

S(q) je karakteristika Bravaisove rešetke. Iz S(q) može se rekonstruirati Bravaisova rešetka. Iz A(q) ili A(EM)(q) mogu se rekonstruirati vektori baze.

U kristalima atomski faktor nije raspršenje na jednom atomu nego raspršenje na primitivnoj ćeliji,općenito, grupi atoma.

Page 15: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Braggov uvjet difrakcije

Vektor okomit na ravnine zadane s Millerovim indeksima (hkl):

Ghkl = n (hb1 + kb2 + lb3)

Udaljenost između ravnina je:

dhkl = n2π

|Ghkl|

Uvjet difrakcije postaje:

2dhkl sin θ = mλ (Braggov uvjet difrakcije)

Page 16: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Braggov uvjet difrakcije

Razlika putova dvaju zraka, δ, mora biti jednaka višekratniku valneduljine:

δ = 2 d sin θ = mλ gdje je m=1,2,3,…

Page 17: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Atomski (ćelijski) faktor

A(Gm) ∼∫

dr eır·Gm∑baza

Vb(r− rb)

=∑baza

Ab(Gm)eırb·Gm

gdje je:Ab(Gm) =

∫dr eır·GmVb(r)

amplituda raspršenja na pojedinačnom atomu za valne vektore Gm.Ako je rešetka građena od istih atoma:

A(Gm) ∼ Ab(Gm)︸ ︷︷ ︸atomski f.

·

(∑baza

eırb·Gm

)︸ ︷︷ ︸strukturni faktor

Page 18: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Atomski (ćelijski) faktor

A(Gm) ∼∑baza

eırb·Gm ⇒

Rešetka dopušteno zabranjenoSC svi h, k, l nemaBCC h+k+l=paran h+k+l=neparanFCC svi h,k,l parni ili neparni h,k,l miješano parni neparni

dijamant svi h,k,l parni ili neparni te h+k+l=4n ostaloheksagonalna l paran, h+2k = 3n h+2k=3n za l neparan

Page 19: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Skica eksperimenta difrakcije

Rotiranjem monokristala postiže sezadovoljenje Braggovog uvjeta

ili se koristi polikristalinični uzorak(veliki broj malih kristalića zarotiranih usvim smjerovima)

NdNiO3:ortorombska kristalnastruktura, prostornagrupa Pbnm.

Page 20: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Što je bolje: fotoni, elektroni ili neutroni?

Valna dužina valova λ ∼ 1 ÅFotoni

Efot = ℏω = ℏck =hcλ

∼ 104eV

⇒ Pogodni za elastično raspršenje.Elektroni

Eel =ℏ2k2

2me=

h2

2meλ2∼ 100eV

⇒ Pogodni za elastično raspršenje.Neutroni

En =ℏ2k2

2mn=

h2

2meλ2∼ 0.1eV ∼ 400 K

⇒ Pogodni i za elastično i neelastično raspršenje.

Page 21: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Što je bolje: fotoni, elektroni ili neutroni?

Dubina prodiranja: Elektroni: 10−8 m Rendgenske zrake: 10−5 m Neutroni: 10−4 m

Page 22: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Raspršenje na realnim kristalima

U realnim kristalima atomi titraju oko čvorišta rešetke. ⇒Udarni presjek treba usrednjiti preko pomaknutih atoma (statističkogansambla).

dσdΩ

= ⟨|f(k′, k)|2⟩

∼ ⟨|∑n

eıqRn |2⟩ =∑n

∑m

⟨eıq(Rn−Rm)⟩

=∑n,m

eıq(R(0)n −R(0)m )⟨eıq(un−um)⟩

=∑n,m

eıq(R(0)n −R(0)m )

1 + ıq · ⟨(un − um)⟩︸ ︷︷ ︸=0

−1

2

∑i,j

qiqj⟨(u(i)n − u(i)m )(u(j)n − u(j)m )⟩ + . . .

=

∑n,m

eıq(R(0)n −R(0)m )e−q2 Wnm (q,T)

Page 23: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Raspršenje na realnim kristalima (materijalima)

KakoWnm(q,T) ovisi o udaljenosti |Rn − Rm|? Ako

Wnm (q, T) → konst.(< ∞) za |Rn − Rm| → ∞

U sustavu postoji dugodosežno uređenje.Intenzitet linija (Braggovih vrhova) reduciran i ovisan otemperaturi.

AkoWnm (q, T) → ∞ za |Rn − Rm| → ∞

Dugodosežno je uređenje razbijeno velikim fluktuacijamapoložaja atoma. To je situacija koja postoji u tekućini ilineuređenom sustavu.

Page 24: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Gustoća čestica i korelacijska funkcija

Udarni presjek proporcionalan je

dσdΩ

= ⟨|f(k′, k)|2⟩ ∼ ⟨|∑neıqRn |2⟩ =

∑n

∑m

⟨eıq(Rn−Rm)⟩

=

∫drdr′ eıq(r−r′) ⟨ρ(r)ρ(r′)⟩

gdje je:ρ(r) =

∑n

δ(r− Rn)

gustoća čestica (u kristalu gustoća Bravaisovih čvorišta).Kada je udaljenost među točkama r i r′ jako velika i ako nemakorelacija među gustoćama:

⟨ρ(r)ρ(r′)⟩ −→ ⟨ρ(r)⟩ ⟨ρ(r′)⟩ za |r− r′| → ∞

Page 25: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Gustoća čestica i korelacijska funkcija

Općenito, moguće je zapisati:

⟨ρ(r)ρ(r′)⟩ = ρ20 + g(r− r′,T)

gdje su:

ρ0 = ⟨ρ(r)⟩g(r− r′,T) = ⟨ρ(r)ρ(r′)⟩ − ρ20

Funkcija g(r− r′,T) je korelacijska funkcija gustoća-gustoća koja usebi sadrži informacije o dugodosežnom/kratkodosežnom uređenjučestica.

Page 26: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Gustoća čestica i korelacijska funkcija

Udarni presjek

dσdΩ

∼ (2π)3V ρ20 δ(q) + V∫

dR eıqR g(R,T)

Prostorno neovisni dio korelacijske funkcije daje doprinos samo q=0 članu (prolaznoj zraci). Sva prostorna struktura materijala sadržana je u korelacijskoj funkciji.

Radijalna korelacijska funkcija i njen Fourierov transformat za tekući Ar na 85K.(posuđeno iz rada Yarnell i ostali, Phys.Rev. A7 (1973) 2130.)

Page 27: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Gustoća čestica i korelacijska funkcija

Ispod temperature uređivanja u kristal, široki vrhovi prerastaju u oštreBraggove vrhove, tj. δ-funkcije. Ista stvar se događa i u korelacijskojfunkciji koja postaje niz δ-funkcija koje odražavaju međusobnepoložaje čvorišta rešetke.

Page 28: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Ostale vrste mjerenja

Page 29: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Apsorpcija rendgenskih zraka

EXAFS ≡ Extended X-ray absorption fine structure

Iz dubokih atomskih orbitala 1s (K-linija) i2s/2p (L-linija) izbijaju se elektronipomoću rendgenskih zraka.

Izlazni elektron kao sferni val interferira svalovima koji su se raspršili na susjednimatomima.

Mjeri se koeficijent apsorpcije:

µ(E) = log(I0I

) Apsorpcija/amplituda procesa ovisi o

energiji elektrona: interferencija može bitikonstruktivna ili destruktivna ovisno oudaljenosti atoma.

Page 30: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Apsorpcija rendgenskih zraka

Oscilacije u koeficijentuapsorpcije (plava linija)oko koeficijenta apsorp-cije slobodnog atoma(crvena linija) pripisujuse interferenciji izlaznog iraspršenog vala.

Page 31: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Foto galerija

Page 32: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Foto galerija

Ernst Ruska (1906-88)Njemački fizičar,

NN iz fizike 1986. za dizajnprvog elektronskog

mikroskopa.

Gerd Binnig (1947-)Njemački fizičar

Heinrich Rohrer (1933-2013)Švicarski fizičar

NN iz fizike 1986. za dizajn prvog skanirajućeg tunelirajućegmikroskopa.

Page 33: «Fizikačvrstogstanja» IvoBatistić predavanja2014/2015grdelin.pmf.unizg.hr/~ivo/Nastava/Fizika_Cvrstog_Stanja/predavanja/03_pred.pdfDirektnamjerenja Elektronski mikroskop Atomsilicijana

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

.

Foto galerija

Max von Laue (1879-1960)Njemački fizičar,

NN iz fizike 1914.za otkriće difrakcijerendgenskih zraka na

kristalima.

Sir William Henry Bragg(1862-1942)

Britanski fizičar

William Lawrence Bragg(1890-1971)

Australsko-britanski fizičar

NN iz fizike 1915. za analizu kristalne strukture pomoćurendgenskih zraka.