Journée du Groupe ThématiqueJournée du Groupe Thématique« Test et Tolérance  »« Test et Tolérance  »

Amélioration du Rendement Amélioration du Rendement et Fiabilité des Mémoireset Fiabilité des Mémoires

Marseille, 6 mai 2010Marseille, 6 mai 2010

GDR SoC – SiP

P. Girard – LIRMMR. Leveugle - TIMA

Remerciements …

à l’organisateur local (Olivier Ginez, IM2NP)

aux intervenants

aux participants :

IM2NP

Infineon

STM

ATMEL

TIMA

LIRMM

Introduction

Objectif : animation de la communauté des chercheurs et ingénieurs travaillant dans le domaine des SOC-SIP pour créer une dynamique de recherche dans ce domaine

Sept groupes thématiques :

Logiciels embarqués et architectures matérielles Architectures reconfigurables Méthodes et outils de conception AMS & RF Test et tolérance de SOC/SIP Consommation et énergie dans les SoC/SiP Systèmes hétérogènes Technologies émergentes

GDR SOC-SIP du CNRS (http://www.lirmm.fr/soc_sip/)

Actions → journées thématiques :

Test au niveau système (Paris, 19/12/06) Conception tolérante aux défauts et dispersions (Paris, 6/02/07) Test de mémoires (Marseille, 05/07/07) Test et fiabilité des circuits AMS et RF (Paris, 21/03/08) Test et Fiabilité pour des Applications Sensibles (Paris, 30/03/09)

Objectifs :

Aborder l’état de l’art du domaine par le biais de présentations ciblées ou plus générales Définir les besoins en terme d’innovation et mettre en évidence les verrous scientifiques En déduire des perspectives de recherche pour la communauté

Groupe Thématique « Test et Tolérance »

10h15 : Introduction ( P. Girard - LIRMM, R. Leveugle - TIMA)

10h20 : Neutron Detection Through an SRAM-Based Test Bench (Luigi DILILLO - LIRMM,

Montpellier)

11h10 : SRAM Yield and Manufacturing aware Design flow and Sign-off Process (Olivier RIZZO

- Sté Infineon Technologies, Sophia Antipolis)

12h00 : Déjeuner

14h00 : Analyse et Modélisation de la Défectivité des Mémoires Non-Volatiles (Jeremy

PLANTIER - Sté ST Microélectronics, Rousset)

14h50 : Test et Fiabilité des Mémoires Flash Embarquées (P.-D. MAUROUX et A. VIRAZEL -

LIRMM, Montpellier - En partenariat avec Sté Atmel, Rousset)

15h40 : Architectures Innovantes et Technologies Emergentes pour l’Amélioration de la

Fiabilité des Futurs Circuits Mémoires (Romain LAFFONT et Damien DELERUYELLE -

IM2NP, Marseille)

16h30 : Conclusion

Agenda