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semicondutores TEORIA DA MASSA EFETIVA ESTATÍSTICA DE PORTADORES JUNÇÃO p-n • TRANSISTOR DISPOSITIVO MOS

S emicondutores TEORIA DA MASSA EFETIVA ESTATÍSTICA DE PORTADORES JUNÇÃO p-n TRANSISTOR DISPOSITIVO MOS

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semicondutores

• TEORIA DA MASSA EFETIVA• ESTATÍSTICA DE PORTADORES• JUNÇÃO p-n• TRANSISTOR• DISPOSITIVO MOS

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2 átomos na célula unitáriaSe cada átomo tiver 4 elétrons de valênciateremos 8 elétrons ocupando cada ponto k da 1-a Zona

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Semicondutor GaN

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Semicondutor GaN

2e-

6e-

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Impurezas RazaImpurezas Razass

Interação:

Aproximação da Banda Parabólica

onde:

)()(2

22

*

2

rEFrFr

e

m

r

eV

2

,*2

)(22

m

kkE

1

2

2

2

1*

k

Em

00 *a

m

mr eV

m

mE 6.13

1*2

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*

0 *a a

m / m

*Sia 20Å *

Gea 45Å

m*=0.3m =11.7 p/Si E = 30 meV

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FIGURE Level density for a semiconductor containing both donor and acceptor impurities. The donor levels d are generally close to the bottom of the conduction band, c compared with Eg, and the acceptor levels, a, are generally close to the top of the valence band, v.

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FIGURE 19.17 Schematic plot of the natural logarithm of hole concentration as a function of the reciprocal of absolute temperature for a p-type semiconductor that exhibits extrinsic, saturation, and intrinsic behavior. (William D. Callister, JR. Materials Science and Engineering an Introduction, John Wiley & Sons, Inc.)

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FIGURE 19.16 The logarithm of carrier (electron and hole) concentration as a function of the reciprocal of the absolute temperature for intrinsic silicon and two boron-doped silicon materials. (William D. Callister, JR. Materials Science and Engineering an Introduction, John Wiley & Sons, Inc.)

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FIGURE 19.15 The temperature dependence of the electrical conductivity (log-log scales) for intrinsic silicon and boron-doped silicon at two doping levels. (William D. Callister, JR. Materials Science and Engineering an Introduction, John Wiley & Sons, Inc.)

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3

2E

LV D E dE 2 4 K dK

2

3L

22

Densidade de Estados D(E)

D(E): é a medida do número de estados disponível com energia E.

VD(E)dE: é o número de estados com energia entre E e E+dE, sendo V = L3 o volume do cristal.

Portanto o número de estados com energia na faixa (E, E + dE) é o volume compreendido entre esferas de raio KE e KE + dE multiplicado pelo número de estados por unidade de volume no espaço K.

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32 12 2

E 2

1 2mK dK E dE

2

2 2KE ,

2m

3

2 12

2 2

1 2mD E E

2

onde usamos

ou seja

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FIGURE Densidade de estados eletrônicos D(E) em uma banda de energia parabólica.

FE

0N D E dE

3 23 2F2 2

1 2mN E

3

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2 2

cc

KE E

2m

2 2

vv

KE E

2m

Concentração de Portadores em Equilibro TérmicoConcentração de Portadores em Equilibro Térmico

FIGURE Bandas parabólicas em semicondutor utilizadas para o cálculo da densidade de estados.

c vm ,m ;massas

efetivas

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3 2

1c 2

c2 2

1 2mD E E E

2

3 2

1v 2

v2 2

1 2mD E E E

2

(Na banda de condução)

(Buracos na banda de valência)

A concentração de elétrons na banda de condução será:

cE

n D E f E dE

FE E KTf E e

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F

c

3 21 2 E E K Tc

c2 2 E

2m1n E E e dE

2

c F

3 2

E E KT 1 2 x ac2 2 0

1 2mn e x e dx

2

cx E E e a=K T c FE E K T

cn N e

3 2

cc 2

m K TN 2

2

onde

ondeDensidade de estados “efetiva” da faixa de condução

3 2 1 21 2 x a

0

ax e dx

2

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vEp 1 f E D E dE

FE Ev KTvp N e

3 2

vv 2

m K TN 2

2

Como o número de buracos é dado pela falta de elétrons na banda de valência.

No caso de um semicondutor intrínseco (sem impurezas) n = p = n i, portanto o nível de Fermi EF no caso intrínseco Ei será:.

vi c v

c

1 3 mE E E K Tln

2 4 m