Statistická analýza výroby pístků

Ing. Václav Chmelík, CSc.

Procesní přístup -

zvládnutí všech procesů

- znát proces jako sled činností

- rozhodnout, které činnosti jsou důležité

- sběr dat

- zpracování a vyhodnocení dat

- rozhodnutí

Zásadním prvkem je spolehlivost dat

Pro zjištění, zda je pro měření použito vhodné měřidlo a zda data nejsou ovlivněna operátory se používají:

- koeficienty způsobilosti měřidla cg cgk

- metoda R + R

Technické předpisy součásti

 

průměr: (31,862±0,005) mm

obvod.házení: (0,005÷0,030) mm

kruhovitost: 0,01mm

podskupiny 1

Pe

rce

nt

31,87531,87031,86531,86031,855

99,9

99

95

90

80

7060504030

20

10

5

1

0,1

Mean 31,86

StDev 0,002545

N 64

AD 1,313

P-Value <0,005

Probability Plot of podskupiny 1Normal - 95% CI

Měření průměru TESA 0,001

31,86931,86731,86531,86331,86131,85931,857

LSL USL

LSL 31,857

Target *USL 31,867Sample Mean 31,8635

Sample N 64StDev (Within) 0,00264085StDev (Ov erall) 0,00255476

Process Data

Lower CL 0,54Upper CL 0,77PPL 0,84

PPU 0,46Ppk 0,46Lower CL 0,35

Upper CL 0,58Cpm *Lower CL *

Cp 0,63

Lower CL 0,50Upper CL 0,76CPL 0,82

CPU 0,45Cpk 0,45Lower CL 0,32

Upper CL 0,57

Pp 0,65

Ov erall Capability

Potential (Within) Capability

PPM < LSL 0,00

PPM > USL 109375,00PPM Total 109375,00

Observ ed Perf ormancePPM < LSL 7152,74

PPM > USL 90584,12PPM Total 97736,86

Exp. Within Perf ormancePPM < LSL 5670,06

PPM > USL 83451,38PPM Total 89121,44

Exp. Ov erall Perf ormance

WithinOverall

Process Capability of podskupiny 1(using 95,0% confidence)

N podskupiny 1

Pe

rce

nt

31,867531,865031,862531,860031,857531,8550

99,9

99

95

90

80706050403020

10

5

1

0,1

Mean 31,86StDev 0,001600N 64AD 0,395P-Value 0,362

Probability Plot of N podskupiny 1Normal - 95% CI

Měření průměru Air 0,0001

LSL USL

LSL 31,857

Target *USL 31,867Sample Mean 31,8616

Sample N 64StDev (Within) 0,0015238StDev (Ov erall) 0,00160596

Process Data

Lower CL 0,86Upper CL 1,22PPL 0,95

PPU 1,13Ppk 0,95Lower CL 0,76

Upper CL 1,13Cpm *Lower CL *

Cp 1,09

Lower CL 0,86Upper CL 1,32CPL 1,00

CPU 1,19Cpk 1,00Lower CL 0,77

Upper CL 1,23

Pp 1,04

Ov erall Capability

Potential (Within) Capability

PPM < LSL 0,00

PPM > USL 0,00PPM Total 0,00

Observ ed Perf ormancePPM < LSL 1339,45

PPM > USL 185,30PPM Total 1524,75

Exp. Within Perf ormancePPM < LSL 2194,51

PPM > USL 365,03PPM Total 2559,54

Exp. Ov erall Perf ormance

WithinOverall

Process Capability of N podskupiny 1(using 95,0% confidence)

Sample

Sa

mp

le M

ean

15131197531

31,8645

31,8630

31,8615

31,8600

__X=31,861575

UCL=31,863921

LCL=31,859229

Sample

Sam

ple

Ra

ng

e

15131197531

0,008

0,006

0,004

0,002

0,000

_R=0,003221

UCL=0,007347

LCL=0

Xbar-R Chart of N podskupiny 1

podskupiny 3

Pe

rce

nt

31,98131,98031,97931,97831,97731,97631,97531,97431,973

99,9

99

95

90

80

7060504030

20

10

5

1

0,1

Mean 31,98

StDev 0,001006

N 64

AD 3,319

P-Value <0,005

Probability Plot of podskupiny 3Normal - 95% CI

Měření průměrů TESA 0,001 povlak soustružený

podskupiny 3

Fre

qu

en

cy

31,98231,98031,97831,97631,974

25

20

15

10

5

0

31,974 31,982Mean 31,98

StDev 0,001006

N 64

Histogram of podskupiny 3Normal

LSL T USL

31,98231,98031,97831,97631,974

LSL USL

LSL 31,974

Target *USL 31,982Sample Mean 31,9769

Sample N 64StDev (Within) 0,000849927StDev (Ov erall) 0,00100993

Process Data

Lower CL 1,09Upper CL 1,55PPL 0,97

PPU 1,67Ppk 0,97Lower CL 0,78

Upper CL 1,16Cpm *Lower CL *

Cp 1,57

Lower CL 1,24Upper CL 1,90CPL 1,15

CPU 1,99Cpk 1,15Lower CL 0,90

Upper CL 1,41

Pp 1,32

Ov erall Capability

Potential (Within) Capability

PPM < LSL 0,00

PPM > USL 0,00PPM Total 0,00

Observ ed Perf ormancePPM < LSL 273,95

PPM > USL 0,00PPM Total 273,95

Exp. Within Perf ormancePPM < LSL 1815,23

PPM > USL 0,27PPM Total 1815,49

Exp. Ov erall Perf ormance

WithinOverall

Process Capability of podskupiny 3(using 95,0% confidence)

N podskupiny 3

Pe

rce

nt

31,98631,98531,98431,98331,98231,98131,98031,97931,97831,977

99,9

99

95

90

80

706050403020

10

5

1

0,1

Mean 31,98

StDev 0,001005

N 64

AD 0,420

P-Value 0,316

Probability Plot of N podskupiny 3Normal - 95% CI

Měření průměru Air 0,0001 povlak soustružený

LSL USL

LSL 31,974

Target *USL 31,982Sample Mean 31,9816

Sample N 64StDev (Within) 0,000940991StDev (Ov erall) 0,00100873

Process Data

Lower CL 1,09Upper CL 1,55PPL 2,50

PPU 0,14Ppk 0,14Lower CL 0,06

Upper CL 0,23Cpm *Lower CL *

Cp 1,42

Lower CL 1,12Upper CL 1,71CPL 2,68

CPU 0,15Cpk 0,15Lower CL 0,06

Upper CL 0,24

Pp 1,32

Ov erall Capability

Potential (Within) Capability

PPM < LSL 0,00

PPM > USL 312500,00PPM Total 312500,00

Observ ed Perf ormancePPM < LSL 0,00

PPM > USL 323370,78PPM Total 323370,78

Exp. Within Perf ormancePPM < LSL 0,00

PPM > USL 334500,45PPM Total 334500,45

Exp. Ov erall Perf ormance

WithinOverall

Process Capability of N podskupiny 3(using 95,0% confidence)

Děkuji za pozornost