VEO-ITA

7/16/2019 VEO-ITA

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VEO

RILEVATORE DI DIFETTI AD ULTRASUONI PHASED ARRAY

7/16/2019 VEO-ITA




VEO

Sonatest veo Potenza e Prestazioni

perfettamente integrati

Il rilevatore di difetti ad ultrasuoni VEO rinforza la reputazione Sonatest per l’innovativo sviluppo

tecnico focalizzato sul prodotto.

I controlli semplici di VEO, le performance superiori, le caratteristiche avanzate e la custodia robusta

forniscono semplicità, capacità e affidabilità al tecnico. La tecnologia ad ultrasuoni Phased Array è

diventata il metodo stabilito per le applicazioni avanzate di controllo.

Le tecniche Phased Array permettono all’utente di controllare i parametri come il fascio e la distanza

focale per creare un’immagine della zona da controllare, migliorando la rilevazione del difetto e la

velocità del test. In aggiunta, utilizzando la più recente tecnologia dei computer, i dati possono

essere memorizzati in modo permanente per l’analisi e la generazione di reports. Il design robusto di

VEO, l’intuitiva interfaccia utente e l’help on-line, danno all’operatore la possibilità di sfruttare tutta

la potenza dello strumento. Le applicazioni tipiche includono il controllo delle saldature, la

mappatura delle corrosioni, il controllo aerospaziale e composito.

Semplicità

Il menù di sistema è intuitivo ed il flusso di lavoro è guidato.

L’help integrato ed i Wizards, guideranno l’utente attraverso l’impostazione della scansione, i

suggerimenti per ottimizzare la scansione ed assicureranno che VEO lavori sempre nel migliore dei

modi. La vista 3D ScanPlan fornisce immediata conferma della corretta impostazione e copertura

degli ultrasuoni, anche in complesse applicazioni multi-sonda.

Veloci ed efficienti wizards per la velocità, ritardo, TCG, DAC, TOFD e per la calibrazione dell’encoder

sono tutti forniti come standard.

Una chiara indicazione dello stato della calibrazione è fornita sullo schermo tramite un semplice

sistema a semafori, in modo che l’operatore possa controllare a colpo d’occhio che il VEO sia

correttamente calibrato per l’attività di controllo.

Il menù di navigazione utilizza una rotella, per una veloce selezione dei parametri, e tasti rapidi per

le funzioni più frequentemente utilizzate.

I comuni tasti Start, Stop e Record permettono di accedere velocemente alle funzioni di set up, di

acquisizione e

registrazione.

16:64 Phased Array

TOFD integrato

Immagini superiori

Registrazione completa dati

Scansioni veloci codificate

Multi Scan

UT & PA simultanei

Calcolo focali istantaneo

Facile generazione Report

Protezione IP65

Wizards di calibrazione

3D ScanPlan

Database di sonde e zoccoli

TCG e DAC

Architettura a 16 bit

Scansione illimitata

Dimensione File (2GB)

Memorizzazione USB key

Batterie Hot Swap

sonatestveo.com

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VEO

CapacitàLa potente piattaforma di VEO raggiunge un nuovo livello di prestazioni in uno strumento portatile,

aiutandoti a massimizzare l’efficienza sul luogo del controllo. Il piano di ispezione mostra, in 2D e

3D, dove le sonde sono posizionate sulla zona da controllare, semplificando la configurazionedell’ispezione e fornendo un ispezione di riferimento per il reporting. Tutte le calibrazioni delle

leggi focali sono istantanee, con una risoluzione di 0.10° per gli angoli e fino a 1024 leggi focali

senza perdita di prestazioni. Possono essere visualizzate e confrontate contemporaneamente

diverse scansioni eseguite con differenti sonde. Sono supportate dal VEO tutte le scansioni

settoriali multiple. Le ispezioni TOFD e Phased array possono essere effettuate in tandem alla

piena velocità di scansione e con 2GB di memoria l’ispezione è ancora più efficiente. La forma

d’onda ad alta risoluzione è memorizzata direttamente in una USB Key per agevolare il

trasferimento su PC ed il backup. Il VEO ha 4 canali mono elemento dedicati per il rilevamento dei

difetti. Basato sui rilevatori di difetto Masterscan i canali hanno generatori di impulsi 400 V, tempo

compensato del guadagno e basse amplificazioni del rumore, per le applicazioni più esigenti.

Una impressionante specifica hardware fornisce all’utente dati ad alta qualità tramite un

architettura ad alta velocità a 16 bit ed una tecnologia digitale di processo immagini ADC a 12 bit

migliora l’interpretazione delle immagini. Misurazioni e dimensionamento delle indicazioni

possono essere rapidamente raggiunti attraverso l'utilizzo di strumenti avanzati di misurazione

come cursori iperbolici per TOFD e misure del segnale di picco dai cursori 2D. I report possono

essere velocemente generati sullo strumento e memorizzati come file PDF nella USB data key.

Per qualsiasi rilevatore di difetti il display è un elemento cruciale. Il VEO ha un LCD TFT, che

fornisce alta visibilità in tutte le condizioni, con i l più alto rapporto tra schermo e dimensione di

ogni strumento sul campo.

Multi Scans

VEO può essere rapidamente configurato per visualizzare una vasta gamma di punti di vista

multipli di scansione. Questo permette all’utente di selezionare le viste importanti per

ispezione. Diversi settori di scansione possono essere combinati con viste multiple.

Cursori e righelli sono usati per identificare indicazioni, mentre gli strumenti di misura

orniscono dimensioni ed annotazioni.

TOFD

VEO ha un'architettura dedicata analogica per i l controllo TOFD, utilizzando filtri analogici

sviluppati da Sonatest per la rilevazione di difetti.

Accoppiato con gli amplificatori a più basso rumore, alta velocità di acquisizione dati e un

display ad alta definizione, permette di vedere scansioni TOFD di qualità superiore al

tempo stesso del Phased Array. Lo strumento di valutazione integrato permette veloci ed

accurate valutazioni dell’ispezione TOFD, che può essere inclusa nel report di test.

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VEO

AffidabilitàDesign robusto e provata affidabilità sono attributi essenziali in ambienti NDT. Il tempo è costoso e

deve essere ridotto al minimo per garantire la massima produttività. Sonatest ha prodotti robusti di

alta qualità e la sua buona reputazione è stata guadagnata in oltre 50 anni al servizio dell'industria.VEO è costruito nel rispetto degli standard mediante un rigido, ed antiurto, telaio interno

circondato da un corpo per ammortizzare gli urti e sigillato con protezione IP65. Progettato per

incorporare molte caratteristiche e per rendere più facile il lavoro nel cantiere, VEO è dotato nel

suo standard di attacco per treppiedi. Inoltre i quattro angoli D-ring consentono a VEO di collegare

cinghie e cinture a 4 punti del corpo per un facile spostamento e liberando le mani per la scansione.

VEO ha due batterie progettate per un cambio a caldo, minimizzando il tempo di fermo ed

aumentando l’affidabilità delle prestazioni sul campo.

UT StudioUT Studio è un pacchetto software basato su PC per l'analisi phased array e la generazione di report.

I dati registrati nel VEO possono essere facilmente trasferiti tramite la USB data key e usati per

generare nuove viste e proiezioni. Utilizzando una familiare interfaccia drag and drop, l’utente può

creare viste multiple come Top, End e B-Scan semplicemente trascinando il file sul template per la

visualizzazione. Potenti cursori di misura ed estrattori vengono utilizzati per identificare le

indicazioni, le dimensioni ed annotare i difetti.

I report sono facilmente generati e possono essere esportati nel formato PDF.

3D Scanplan

VEO supporta scansioni e sonde multiple, consentendo la messa a punto dei piani d i

spezione da un certo numero di fonti in modo rapido ed efficiente. Scegli tra una vasta

gamma di geometrie di saldature e visualizza le sonde sulla parte nella zona che scegli.

Più percorsi vengono visualizzati sullo Scanplan 3D permettendo all'utente di garantire la

opertura per le ispezioni di saldatura. Possono essere definiti semplici punti di

iferimento per l'interpretazione facile ed il posizionamento delle sonde sulla parte.

Miscele di tipi di sonde sono supportati in pulse echo: phased array, TOFD o UT

onvenzionale. Lo Scanplan è un riferimento insostituibile per il rapporto di ispezione,

omunicando i risultati del controllo in modo più chiaro, e salvando i dati del controllo per

un uso futuro.

A-Scan

VEO supporta tradizionali test ad ultrasuoni con mono trasduttori. Il display LCD

interattivo ad alta definizione e veloce rendering grafico, garantisce sia un elevato livello

di precisione che una visualizzazione rapida delle forme d'onda. Grazie all'alta risoluzione

del display LCD, le misure sono chiare e di facile lettura. Il formato widescreen fornisce

una vasta area di visualizzazione per la scansione. Lo schermo dell'A-Scan assicura che il

segnale di picco sia sempre visualizzato in modo che non si perda alcun difetto.

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VEO

veo 16:64 Specifications (specifications are subject to change)

PHASED ARRAY

Pulsers

Configuration 16:64 (16 pulser/receivers; driving up to 64 elements)

Test Mode Pulse-Echo and Transmit/Receive

Transducer Socket I-PEXPulse Voltage -50 V to -150 V (in steps of 10 V)

Pulse Shape Negative square wave (with ActiveEdge)

Pulse Width 10 ns to 500 ns

Edge Time <10 ns in 50 ohms load

Output Impedance <16 ohms

Trigger Synchronisation Encoder or free-running (time based)

Tx/Rx Focus

Delay Range 0 to 10 µs (2.5 ns resolution)

Receivers

Gain Range 0-80 dB, in steps of 0.5 dB

Input Impedance 50 ohms

Bandwidth 300 KHz - 30 MHz (-3 dB)

Data Acquisition

Architecture Full digital delay and sum architecture

Sampling Rate 50/100 MSPS

ADC Resolution 12 bits/sample

Data sample width 16 bits/sample

Data recording Full raw data recorded

Max A-Scan Length 8192 samples

(32 metres in steel LW, sampling rate 50 MSPS, sub sampling 1:128)

Maximum PRF 20 kHz

Focal Law Qty Up to 1024

Focussing Type Constant Depth, Constant Sound Path, Constant Offset

Processing Smoothing, Averaging, Scaling, Keep Max

Filters Multiple narrow bands and broadbands

Sub-sampling 1:1 to 1:128

Rectifier RF, Full, Positive, negative.

Synchronization Referenced on initial pulse or gate, IFT supported

Multi-Group Multiple Sector scans and 1 TOFD Scan

Scan & Views

Supported Scans S-Scan & L-Scan

Real Time Views S, L, B, C-Scan, Top and End view.

Colour Maps Rainbow, Grayscale, Spectrum

Cursors

Type Cartesian, 2D Box, Angular

Measurements Path Length, Depth, Surface Distance, Angle

Peak in 2D Box and 2D Angular BoxCONVENTIONAL UT/TOFD (MONO ELEMENT CHANNELS)

Pulsers

No. of Channels 2 TX/RX (2 multiplexed channels)

2 RX

Test Mode Pulse-Echo, transmit/receive, TOFD

Transducer Socket BNC or LEMO 1 (factory option)

Pulse Voltage -400 V (adjustable from -100 to -400 V in steps of 10 V)

Pulse Shape Negative Square Pulse (with ActiveEdge)

Pulse Width Adjustable from 25 ns to 2000 ns, resolution 2.5 ns

Edge Time <20 ns in 50 ohms load

Output Impedance <10 ohms

Receivers

Gain Range 110 dB (-30 dB to 80 dB)

Input Impedance 400 ohms

Filter Bands Narrow bands centred at 0.5 MHz, 1 MHz, 2.25 MHz

5 MHz, 10 MHz and 15 MHz

Broadband at 1 MHz to 18 MHz (-6dB)

Data Acqusition

Sampling Rate 50/100/200 MSPSADC resolution 10 bits/sample

Data sample width 16 bits/sample

Data recording Full raw data

Max. A-Scan Length 8192 samples

Maximum PRF 12 kHz

Processing Smoothing, Filter, Keep max

Sub-sampling 1:1 to 1:128

Rectifier RF, Full, Positive, Negative

Synchronization External digital input, encoder or internal

Scans & Views

Supported Scans A-Scans,

Views A, B-Scan, TOFD

Cursors

Type Cartesian, Hyperbolic

Measurements Path Length, Depth, Surface Distance

CONVENTIONAL AND PHASED ARRAY

DAC

Number of Points 16

DAC Quantity 1 with 3 sub-DAC (per focal law in PA)

Time Corrected Gain (TCG)Number of Points 16

Gain Range 0 to 60 dB

Max Gain Slope >50 dB/ µs

Gates

A-Scan Gates 4 gates per A-scan (3 extracted A-scans per S/L-scan)

Gate Trigger Flank/Peak

S/L-Scan 2 “2D gates” per S/L-scan

Alarm LED 1 (sync on all gates & DACs)

Measurements Available in A-Scan view

1D Peak (FSH, dB, D, PL, SD)

1D Flank (FSH, dB, D, PL, SD)

Echo to Echo

GENERAL

Data Storage

Internal 6 GB (standard)

External Hot removable “User” USB 8 GB (standard)

Only limited by USB key capacity

Transfer Rate To User Key - Up to 23 MB/s Write mode

Up to 27 MB/s Read mode

Data File size 2GB (FAT32 file system)

Typical Scanning Speed 10 to 15 cm/s

Typical Scan Length >10 m

Display

Size 25.9 cm (10.2 in) Wide aspect ratio

Resolution 1024 x 600 pixels

Colour 260k (65535 colours for scan palettes)

Type TFT LCD

I/O Ports

USB Ports 3 x USB certified ports (480 Mbps)

Ethernet Gbit Ethernet (1000 Mbps)

Video Output VGA Analog (1024 x 600)

I/O

Encoder 1 or 2 axis quadrature encoder (LEMO connectors)

Single ended and differential input

Digital Input/Output 2 input lines (5V TTL) for trigger or sync

(Shared between Conventional and PA module)

4 output lines (5V TTL, 20 mA) for alarm or other external control(Shared between Conventional and PA module)

8 pin LEMO socket

Power Output 5 V, 500 mA, current limited

Integrated Help Active parameter description and Optimisation Tips.

Language Support Six user selectable languages from: English, German,

French, Spanish, Russian, Chinese.

Batteries & Power Supply

Battery Type Intelligent Li-ion batteries

Number of Batteries 2

Operation 1 battery or 2 batteries, DC Power pack

Battery Replacement Hot swappable - no tools required

Battery Recharge Batteries recharge in unit, operating or not

Battery Life 6+ hours (typical operation).

Enclosure

Size H220 mm x W335 mm x D115 mm (8.66 in x 13.19 in x 4.52 in)

Weight 5.28 kg(11.6 lb) 1 battery/ 5.75 kg (12.6 lb) 2 batteries

Environmental

Temperature Operating -10 oC to 40 oC (14 oF -104 oF).

Storage -25 oC to 70 oC (-13 oF -158 oF)Relative Humidity 5 to 95% non-condensing

Environmental Meets IP65

Warranty 1 year.

Calibration Standard EN12668.

Supported Inspection Codes

Other relevant Code are also met.

• ASME Code Case 2235-9 Use of Ultrasonic Examination in Lieu of Radiography

• ASME Code Case 2541 Use of Manual Phased Array Ultrasonic Examination Section V ASME

• ASTM E2491 Standard Guide for Evaluating Performance Characteristics of Phased-Array

Ultrasonic Examination Instruments and Systems

• ASTM E2700 Standard Practice for Contact Ultrasonic Testing of Welds Using Phased Array

• CEN EN 583-6 - Nondestructive testing - Ultrasonic examination - Part 6 -TOFD as a Method

for Defect Detection and Sizing

• BSI BS7706 - Guide to Calibration and Setting-Up of the Ultrasonic TOFD Technique for the

Detection, Location, and Sizing of Flaws

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VEO

veo Kits & Accessori

Kit Standard veoveo 16:64

Certificato di calibrazione

UT Studio licenza utente singolo

• Viste convenzionali (A/B/C/D)

• Viste Phased Array (S/L-Scan)

• Visualizzazione dei report

USB Memory Stick (8GB)

Batteria agli ioni di litio x 2

Cavo di alimentazione e adattatore

Accoppiante

Guida rapida e CD Manuale d’uso

Protezione schermo (Anti-riflesso)

Cinghia da trasporto

Cassa di trasporto

Accessori veoUSB Keyboard resistente agli spruzzi

Mouse impermeabile

Carica della batteria

Treppiedi

Batteria Litio

UT Studio - Professional edition

Encoder traccia veloce

Scansione rapida

Cavo sonda DAAH Array

Protezione schermo

USB Memory Stick (8GB)

Cavo Phased Array Y-Splitter

Pre-Amplificatore TOFD 40 dB

Blocco di calibrazione Phased Array in acciaio

Blocco di calibrazione Phased Array in alluminio

veo Kits

•veo & scanner tofd

•veo & sonda a ruota per corrosione

•veo & TOFD Manuale

•veo & Saldatura Manuale

veo TrasduttoriModelli trasduttore disponibili, informarsi per la gamma completa.

SONATEST LTDDickens Road, Old WolvertonMilton Keynes, MK12 5QQ, UK.Tel: +44 (0)1908 316345Fax: +44 (0)1908 [email protected] No: 147385

www.sonatestveo.com

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