NSTDA Testing Service Catalogue

รวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน

for IndustriesTesting Services

Testing Services for Industries

สมภาษณพเศษ 6รวมบรการวเคราะหทดสอบ1.ElectricalandElectronicProductsTestingCenter(PTEC)ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส 10 บรการทดสอบมาตรฐานดานความเขากนไดทางแมเหลกไฟฟา 11 บรการสอบเทยบ 182.NationalMetalandMaterialsTechnologyCenter(MTEC)ศนยเทคโนโลยโลหะและวสดแหงชาต 21 หองปฏบตการเทคนคทางชวภาพสาหรบวสด 22 หองปฏบตการทดสอบสมบตทางไฟฟาของวสด 23 หองปฏบตการทดสอบสมบตทางกล 24 หองปฏบตการจลทรรศนแบบแสง 26 หองปฏบตการวเคราะหลกษณะเฉพาะของผง 28 หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนงและจลวเคราะห 29 หองปฏบตการสเปกโตรสโคปแบบสน 31 หองปฏบตการวเคราะหสมบตทางความรอนของวสด 33 หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน 35 หองปฏบตการเอกซเรยดฟแฟรกชนและเอกซเรยฟลออเรสเซนส 36 หองปฏบตการโครมาโทกราฟ 37 หองปฏบตการนวเคลยรแมกเนตกเรโซแนนซสเปกโตรสโคป 383.NationalNanotechnologyCenter(NANOTEC)ศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต 39 AtomicForceMicroscope 40 AntimicrobialTest 42 DynamicLightScattering(DLS) 43 DifferentialScanningCalorimetry(DSC) 45 FluorescenceSpectroscopy 46 ThermogravimetricAnalysis(TGA) 47 UV/VISSpectroscopy 48

สารบญ

4.NationalCenterforGeneticEngineeringandBiotechnology(BIOTEC)ศนยพนธวศวกรรมและเทคโนโลยชวภาพแหงชาต 49 บรการเครองมอวทยาศาสตร 50 บรการตรวจวเคราะหเอนไซม 51 บรการตรวจสอบหาสารออกฤทธทางชวภาพ 51 บรการวเคราะหสารสกดสาร 54 บรการโมโนโคลนอนแอนตบอด 54 บรการดานจลนทรย 54 บรการดานเชอรา 55 บรการเลยงเชอจลนทรย 56 บรการตรวจวเคราะหคณภาพแปงและผลตภณฑมนสาปะหลง 57 บรการตรวจวเคราะหไวรสโรคกง 61 บรการตรวจวเคราะหทางเคมสงแวดลอมและอาหาร 615.NationalElectronicsandComputerTechnologyCenter(NECTEC)ศนยเทคโนโลยอเลกทรอนกสและคอมพวเตอรแหงชาต 62 ศนยเทคโนโลยไมโครอเลกทรอนกส(ThaiMicroelectronicsCenter:TMEC) 63

สารบญ

Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน 5

สารจากผอานวยการสานกงานพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยแหงชาต (สวทช.)

รอขอมล+ภาพ

Testing Services for Industriesรวบรวมบรการรบวเคราะหทดสอบของ สวทช. ใหแกภาคเอกชน6

ดร.ไกรสร อญชลวรพนธ

ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส (PTEC)สวทช.เปนหนวยงานทใหบรการวเคราะหทดสอบ(Testing)ผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส ตามมาตรฐานบงคบทงในระดบประเทศ เชนมอก.อย.กสทช.ฯลฯและการทดสอบเพอการขอเครองหมายรบรอง ทยอมรบในระดบสากล เชน เครองหมาย FCC เครองหมายULเครองหมายVCCIและเครองหมายCEmarkเปนตนเพอใหสามารถสงออกผลตภณฑประเภทไฟฟาและอเลกทรอนกสไปจาหนายยงภมภาคตางๆทวโลก ในการทดสอบผลตภณฑประเภทไฟฟาและอเลกทรอนกสตามมาตรฐานสากลนน ศนยทดสอบฯมขอบขายงานบรการทดสอบอนหลากหลายประกอบดวย การทดสอบดานความเขากนไดทาง แมเหลกไฟฟา(ElectromagneticCompatibility:EMC)การทดสอบดานความปลอดภยของผลตภณฑ(ProductSafety)การทดสอบดานประหยดพลงงาน(EnergySaving)การทดสอบเซลลแสงอาทตย(SolarCellTesting)การทดสอบเครองมอทางการแพทย(MedicalDevicesTesting) การทดสอบผลตภณฑโทรคมนาคม (TelecommunicationEquipment Testing) การทดสอบอเลกทรอนกสสาหรบรถยนต(Automotive Equipment Testing) การทดสอบอปกรณดานการ ทหาร(MilitaryEquipmentTesting)การทดสอบดานอปกรณประกอบสาหรบการบน (Avionic Equipment Testing) การทดสอบระบบอาณตสญญาณอเลกทรอนกสเปนตน ศนยทดสอบฯยงมบรการสอบเทยบ(Calibration)เครองมอวดอตสาหกรรมใหกบโรงงานอตสาหกรรมในประเทศ เพอใหสามารถทาการควบคมกระบวนการผลตไดอยางมประสทธภาพและใหบรการสอบเทยบใหกบหองปฏบตการทดสอบรายอนๆในประเทศอกดวย สาหรบกระบวนการผลตในโรงงานอตสาหกรรมนน ศนย ทดสอบฯเปนทปรกษาในการตดตงเครองจกรสาคญๆ สาหรบสายการ

ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส (PTEC) สวทช.ผลตในโรงงานอตสาหกรรมและชวยแกไขปญหาจากการตดตงเครองจกรประเภทไฟฟาและอเลกทรอนกสใหกบโรงงานอตสาหกรรมตางๆจานวนมากอกดวย ในโครงการของภาครฐบาลทมขนาดใหญเชนระบบขนสงทางราง(RailwaySystem)นนศนยทดสอบฯไดเขาไปสนบสนนงานของโครงการตงแตขนตอนการสารวจเสนทางเดนรถการทดสอบระบบอาณตสญญาณการทดสอบอปกรณประกอบบนตวรถ ไปจนถงการตรวจวดผลกระทบทางดาน สงแวดลอมในเสนทางการเดนรถ สาหรบภาคเอกชนทเคยใชงานบรการของศนยทดสอบฯ ประกอบดวย บรษท ซเมนส(Siemens)บรษท อาคารเทล (Acatel) บรษทบอมบาเดยร(Bombadier) เปนตน สาหรบหนวยงานดานความมนคงนนศนยทดสอบฯยงไดทาหนาทในการตรวจวดคลนแมเหลกไฟฟา รบกวนจากระบบเรดาหวทยสอสารตางๆ บนดาดฟาเรอรบหลวง อกหลายลา อาท เรอหลวงจกรนฤเบศร เรอรตนโกสนทร เรอสโขทยเปนตน นอกจากนศนยทดสอบฯยงเปนผทถายทอดความรในดานมาตรฐานผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกสใหแกภาคอตสาหกรรมในประเทศอกเปนจานวนมาก โดยผานการอบรมทางวชาการ และทผานมาศนยทดสอบฯ ไดใหการอบรมกบ ภาคเอกชนทงบรษทขนาดใหญ(Inter-Brand)SMEหนวยงานภาครฐฯ และยงเปนหนวยงานทสนบสนนนกวจย ในระดบมหาวทยาลยให เกดการวจยและพฒนาเพอช วยเหลออตสาหกรรมในประเทศซงประสบปญหาดานผลตภณฑ โดยศนยทดสอบฯ ไดทาหนาทในการเชอมโยงภาคอตสาหกรรม เขากบกลมนกวจยและนกพฒนาผลตภณฑทงในประเทศและตางประเทศเพอใหสามารถยกระดบคณภาพผลตภณฑของตนไปสการรบรองมาตรฐานในระดบสากลเพอการสงออกอกดวย ดวยจดเดนของศนยทดสอบฯทไดรบการรบรองดานคณภาพตามมาตรฐานISO/IEC17025จากหนวยงานรบรองของประเทศซงเปนทยอมรบในระดบสากลทงทางดานการทดสอบและสอบเทยบในทกขอบขายงานบรการและมบคลากรซงมความเชยวชาญ เปนมออาชพ และมความเปนกลาง ทางวชาการในการทดสอบผลตภณฑตางๆ ทาใหศนยทดสอบฯไดรบความไววางใจจากภาคเอกชนและหนวยงานตาง ๆ ทงในประเทศและตางประเทศ เขามาใชบรการทดสอบและ สอบเทยบเปนจานวนมาก โดยปจจบนมบรษททเขามาใช บรการกบทางศนยทดสอบฯแลวมากกวา1,000ราย สาหรบอตสาหกรรมหรอหนวยงานตางๆทจะเขามา ใชบรการของศนยนนขอแนะนาวาควรจะเขามาทาการตดตอตงแตขนตอนของการคดคนและพฒนาผลตภณฑหรอขนตอนของการออกแบบฯโดยศนยทดสอบฯยนดทจะเปนผใหความร ทางดานมาตรฐานของผลตภณฑ และจะสนบสนนดานการทดสอบในดานตางๆเพอใหไดการรบรองตามมาตรฐานสากลซงหากอตสาหกรรมไดเขามาตดตอศนยทดสอบฯตงแตตนแลวจะทาใหสามารถลดคาใชจายในการพฒนาผลตภณฑลดเวลาในการแกไขผลตภณฑและลดความสญเสยโอกาสตางๆ ทจะตามมาอกมาก หากผลตภณฑนน ๆ ไมผานการทดสอบ ตามมาตรฐานสากลในลาดบสดทาย

ผอานวยการศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส(PTEC)

สมภาษณพเศษ

บรษท ยนแลมป จากด เปนผผลตโคมไฟฟา ชนนาของประเทศไทยผลตและสงออกโคมไฟสาหรบใชงานภายนอกอาคารมานานเกอบ 20ป ดวยมาตรฐานการผลตเปนไปตามขอกาหนดมาตรฐานสากลของ IECและมอก.ทาใหบรษทมลกคากวา 50ประเทศทวโลกโดยมฐานลกค าหลก ๆ อย ในกล มประเทศยโรปตะวนออกกลางเอเชยและอาเซยน ด วยสภาพการแข งขนท ค อนข า งส ง ในอตสาหกรรมโคมไฟชนนาของโลกซงสวนใหญเปนผผลตสญชาตในกลมประเทศยโรปบรษทฯจงใหความสาคญเกยวกบการออกแบบ วจยและพฒนาผลตภณฑใหมคณภาพเพอตอบสนองตอความตองการของตลาดดงนนจงไดร วมมอกบ ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส(PTEC)เพอใหทาการทดสอบและพฒนาผลตภณฑส มาตรฐาน EMC (ElectromagneticCompatibility)หรอความเขากนไดทางแมเหลกไฟฟาทสามารถทางานรวมกนไดเปนปกต โดยไมกอใหเกด ผลเสยหรอผลกระทบใดๆ ตออปกรณเครองมอหรอระบบ ททางานในสภาวะสงแวดลอมแมเหลกไฟฟาเดยวกน ในอดตถงปจจบนบรษทฯโตขนมาจากการผลตโคมไฟภายนอกอาคารเปนหลกซงมเครองทดสอบวดคาแสง วดความรอน เครองทดสอบการกนนากนฝน และ อนๆ อกหลายรายการแตเรามความรเรองEMCนอยมากโดยเฉพาะความร เกยวกบการทดสอบเนองจาก เครองทดสอบEMCมมลคาคอนขางแพงและมไมกแหง ในประเทศไทยทใหบรการดานน เมอเราสงผลตภณฑ ไปทดสอบบางครงมผลทดสอบไมผาน เราไมเขาใจวา ไมผานเพราะอะไรทง ๆ ทอปกรณภายในไดมาตรฐานมอก.ทกอยางทสาคญเราไมทราบแนวทางวาจะแกไขอยางไร เมอมโอกาสไดตดตอประสานงานกบ PTECสามารถอธบายสาเหต รวมทงวธการแกไขไดอยางละเอยดและสามารถทดสอบผลตภณฑไดทงมาตรฐานไทยและมาตรฐานสากลซงเจาหนาท PTECมความรความชานาญสามารถอธบายใหเขาใจไดอยางแจมแจงชดเจน

บรษท ยนแลมป จากด

เกยวกบมาตรฐานมอก.1955-2551ทมการปรบเปลยนใหมบรษทฯมการวางแผนเปนการภายในประกอบกบไดการทดสอบทรวดเรวของPTECทาใหบรษทฯ ไดรบใบอนญาตมอก.1955-2551ภายใน 3เดอนทาใหทางเรารสกประทบใจและมความมนใจทไดรวมมอกบPTEC นบว า PTEC เป นอกหนวยงานหนงทสามารถถายทอดความรใหกบผประกอบการทาให ผ ประกอบการมองคความร และสามารถพฒนาศกยภาพเพอแขงขนกบตางประเทศได สาหรบ ในอนาคตบรษทฯ ยงคงขอรบคาปรกษากบPTECอยางตอเนองเพราะมาตรฐานตางๆรวมทงกฎเกณฑและระเบยบเกยวกบคณภาพผลตภณฑนบวนคงตองมการปรบเปลยนไปเรอยๆ

กรรมการผจดการบรษทยนแลมปจากด

คณสชาต องพาณชยกล



หองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน ศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต(NANOTEC)คอหนวยงานดานงานวจย ทมบทบาทในการชวยขบเคลอนให ภาคธรกจสรางความสามารถในการแขงขนพฒนาขดความ สามารถของตวเองใหสงขน ดวยบรการดานเทคนค การวเคราะหทดสอบตวอยางทหลากหลายทงในดานกายภาพ เชน การวเคราะหขนาดและรปรางของวสดนาโน ดานเคม เชน ตรวจองคประกอบทางเคมของตวอยาง ดานชวภาพ เชน การทดสอบคณสมบตการ ฆาเชอแบคทเรยและการทดสอบความเปนพษตอเซลลเปนตน โดยหองปฏบตการฯมการใหบรการวเคราะหทดสอบทรองรบตวอยางจากภาคอตสาหกรรมทงในกลมอตสาหกรรมสงทออตสาหกรรมพลาสตกอตสาหกรรมอาหาร ยา และเครองสาอาง อตสาหกรรมไฟฟาอเลกทรอนกส นอกจากนยงรองรบในเรองของการวเคราะหทเกยวของกบนาโนเทคโนโลยใหหนวยงาน ภาคการศกษาดวย ดงผลงานทผานมา หองปฏบตการของเรา ทาหนาทเสมอนตรวจสอบคณภาพสนคาวาไดคณสมบตตามทกลาวอางในโฆษณาหรอไม เชนกลมสงทอนาโน

และกลมสนคาทมสมบตในการยบยงแบคทเรย ในบางกรณเรากทาหนาท เปนแผนกควซใหกบกล มธรกจ ฮารดดสไดรฟ และชนสวนอเลกทรอนกสทสงตวอยางเพอตองการทราบองคประกอบทางเคมวาตรงตามสเปค หรอไม สาหรบเครองมอตาง ๆ ทใชในการวจยและพฒนาดานนาโนเทคโนโลยนนทางหองปฏบตการฯกมการใหบรการเครองมอครบชนดมากทสดแหงหนงในประเทศ โดยเฉพาะกลองจลทรรศนประเภทตางๆทมตงแตกาลงขยายสงมากสามารถวเคราะหโครงสรางในระดบอะตอมได อาท กลอง Transmission ElectronMicroscope (TEM) กลอง Scanning ElectronMicroscope (SEM) และกลอง Atomic ForceMicroscope(AFM)เปนตน หองปฏบตการฯยงมการใหบรการเครองมอในกลมสเปกโตรสโคป(Spectroscopy)เพอวเคราะหสมบตการดดกลนคลนแมเหลกไฟฟาของตวอยางทงในชวงรงสยวชวงแสงทตามองเหนและรงสอนฟราเรดไดรวมไปถงการใหบรการเครองมอกลมโครมาโทกราฟ (Chromato graphy)เพอใชในการคดแยกสารและวเคราะหชนดและปรมาณของสารเคม เชน เครองแกสโครมาโทกราฟ ทสามารถแยกสารประกอบในอาหารและสารออกฤทธในสมนไพรเปนตน ฝากถงภาคธรกจทตองการสรางความแตกตางสรางมลคาเพมและคงประสทธภาพสนคาของตวทานเอง วา หองปฏบตการฯ ของเรามความพรอมในดานการ วจยและพฒนาเพอเปนองคประกอบหนงของความสาเรจทางธรกจของทาน

ดร.ณฐพนธ ศภกาหวหนาหองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน

หองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน ศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต



บรษทอนเตอรเนชนแนลแลบบอราทอรสจากดหรอ ILC เปนโรงงานรบจางผลตเครองสาอางแบบ ครบวงจรใหกบลกคาทงในประเทศและตางประเทศมานานกวา40ปILCมการพฒนาอยางตอเนองจนปจจบนILCไดรบการรบรองมาตรฐานGMP,ISO9001,ISO14001,ISO 17025 และมาตรฐานแรงงาน รวมถงการพฒนานวตกรรมความงามสนองลกคา

หองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน ศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต


โดยในสวนของการวจยและพฒนาผลตภณฑนน ILC ไดรบบรการจากศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต(NANOTEC) ในเรองของ การวดขนาดอนภาคของ อมลชน (ครมและโลชน) เพอไดอมลชนทอนภาคเลกระดบนาโน ซงสามารถซมซาบสารบารงเขาสผวไดดบรการตอมาคอการวดซตาโพเทนเชยล(Zetapotential)คอการวดคาแนวโนมความคงตวของอมลชน เพอใหไดตารบเครองสาอางทมประสทธภาพ ความสาเรจของการพฒนาครงนทาใหILCไดรบความคมครองทรพยสนทางปญญา (IP) และตอยอด จนไดผลตภณฑ BSC TimeDefence PhytocelltecNanolotionนวตกรรมระดบนาโนผสานนวตกรรมจาก สารสกดสเตมเซลลแอปเปลสวตเซอรแลนด ทซมซาบ เขาสผวไดเรวยงขน หากดดวยตาเปลาจะมลกษณะใสแตถาสองผานเครองวดขนาดอนภาคจะเหนวาตวอยางนเปนอมลชนทมอนภาคภายในเลกมากในระดบนาโนซงมประสทธภาพในการนาพาสารบารงผวลงสผวไดงายขนและลงลกสเซลลผวไดดกวาอมลชนทวไป นคอจดเดนของนาโนโลชนนบเปนสนคาตวแรกของไทยและถอไดวาILC เปนบรษทแรกของไทยทสามารถผลตนาโนโลชน สตลาดในเชงพาณชยได ตลอดระยะเวลาเกอบ 3 ปทเขามาใชบรการ ทางเรามความประทบใจตอNANOTEC ในหลายดานทงเครองมอทถอวาเปนระดบแนวหนาของประเทศ ไดมาตรฐานระดบสากลผลตรวจหรอการวดคาทแมนยามความรวดเรวในการทางาน ไววางใจได เหมอนกบเราไดทปรกษาทดถงแมNANOTECอาจจะไมใชหนวยงานทดแลเรองการวจยและพฒนาในภาคเอกชนโดยตรง แตเปนเสมอนตวขบเคลอนใหภาคธรกจสรางความสามารถในการแขงขนและพฒนาขดความสามารถของตวเองใหสงขน

คณสมบต วนาอปถมภกลผจดการแผนกวจยILC

บรษท อนเตอรเนชนแนล แลบบอราทอรส จากด หรอ ILC

11 ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส Electrical and Electronic Products Testing Center (PTEC)


Electrical and Electronic Products Testing Center (PTEC)

ศนยทดสอบผลตภณฑไฟฟาและอเลกทรอนกส (PTEC) เปนหนวยงานสงกด สานกงานพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยแหงชาต (สวทช.)กระทรวงวทยาศาสตรและเทคโนโลยปจจบนมการดาเนนโครงการเพอใหบรการวเคราะหทดสอบสอบเทยบทางานวจยรวม และเปนทปรกษาในการแกไขปญหาในภาคอตสาหกรรมไฟฟาและอเลกทรอนกสของไทยใหสามารถยกระดบมาตรฐานผลตภณฑของตนใหไดระดบสากล

โดย PTEC แบงประเภทกจกรรมหลกออกไดเปน 3 กลมคอ •กลมการวเคราะหทดสอบ •กลมการสอบเทยบเครองมอวดอตสาหกรรม •กลมงานวจยและการเปนทปรกษาทงนเพอรองรบความตองการของภาคอตสาหกรรมไฟฟาและอเลกทรอนกสของไทยอยางครบวงจร

บรการทดสอบมาตรฐานดานความเขากนไดทางแมเหลกไฟฟา(Electromanetic Competability: EMC) และมาตรฐานดานความปลอดภย (Product Safety)

เครองใชไฟฟา มาตรฐานบงคบ

ชอมาตรฐาน มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC

TIS IEC TIS IEC

เตารดไฟฟาสาหรบใชในทอยอาศย

หมอหงขาวไฟฟาสาหรบใชในทอยอาศย

กระทะไฟฟาสาหรบใชในทอยอาศย

เครองทานารอนไฟฟา นาผานรอนทนทสาหรบใชในทอยอาศย

เตาไมโครเวฟสาหรบใชในทอยอาศย

ตเยนสาหรบใชในทอยอาศย

กระตกนารอนไฟฟาเฉพาะดานความปลอดภย

เตาไฟฟาชนดตวทาความรอนแบบเปลอยเฉพาะดานความปลอดภย

เครองใชไฟฟาสาหรบการดแลผวหรอผม

เครองซกผาใชในทอยอาศย

มอก.366-2547

มอก.1039-2547

มอก.1509-2547

มอก.1693-2548

มอก.1773-2548

มอก.2214-2547

มอก.2062-2543

มอก.870-2532

มอก.1985-2549

มอก.1462-2548

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10


ชอมาตรฐาน

ของเลน

มาตรฐานดานความปลอดภย มาตรฐาน EMC

TIS IEC TIS IEC

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

พดลมไฟฟากระแสสลบเฉพาะดานความปลอดภย

เครองอบผาเฉพาะดานความปลอดภย

เครองปรบอากาศสาหรบหอง

เครองใช อ เลกทรอนกส และอปกรณเกยวของทใชกบแหลงจายไฟฟาประธานสาหรบใชในทอย อาศย และงานทวไป ทมลกษณะคลายกน เฉพาะดานความปลอดภย

เครองตดวงจรกระแสเหลอแบบมอปกรณปองกนกระแสเกนสาหรบใชในทอยอาศยและใชในลกษณะทคลายกน

ระบบกาลงไฟฟาตอเนอง

เซลลและแบตเตอรทตยภมทมอเลกโทรไลต แอลคาไลนหรออเลกโทรไลตอนๆ ทไมใชกรดสาหรบการใชงานแบบพกพา เฉพาะดานความปลอดภย

มอก.934-2533

มอก.1389-2539

มอก.1529-2541

มอก.1195-2536

มอก.909-25482547

มอก.1291-2545

มอก.2217-2548

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60065

IEC61008-1

IEC62040-1

IEC62133

ของเลน

ของเลนไฟฟา

หลอดฟลออเรสเซนส

บลลาสตสาหรบหลอดฟลออเรสเซนส

ขวรบหลอดฟลออเรสเซนสและขวรบสตารตเตอร

โกลวสตารตเตอรสาหรบหลอดฟลออเรสเซนส

มอก.685-2540

มอก.2236-2548

มอก.956-2533

มอก.23-2521

มอก.344-2549

มอก.183-2547

IEC60730

IEC62115

IEC XX

IEC XX มอก.1955 CISPR15,EN61547

ระบบแสงสวางอนแคนเดเซนต

ขวรบหลอดไฟฟาแบบเขยว มอก.25-2516

ขวรบหลอดไฟฟาแบบเกลยว มอก.819-2531


เครองใชไฟฟา สาหรบใชในทอยอาศย และงานทมลกษณะคลายกน


TIS IEC TIS IEC

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

1

2

3

45

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16

17

18

19

ขอกาหนดทวไป

กระทะไฟฟาอเนกประสงคเชงพาณชย

เครองขดลางและขดเงาพน

เครองฆาแมลง

เครองรดผา

เครองสขอนามยชองปาก

อางอาบนาวน

กระทะไฟฟาทอดแบบลกเชงพาณชย

กระทะหงตมเชงพาณชย

เครองครวเชงพาณชย

เครองดดควน

เครองดดฝนและเครองทาความสะอาดโดยการดดนา

เครองตดหญาชนดเดนตาม

เครองทาความสะอาดชนดความดนสงและชนดไอนา สาหรบใชในอตสาหกรรมและ เชงพาณชย

เครองปมความรอนไฟฟาเครองปรบอากาศ และเครองลดความชน

เครองลางจาน

เครองลางจานเชงพาณชย

เครองอบผวโดยการแผรงสอลตราไวโอเลตและรงสอนฟราเรด

เตาหงตมเตาอบแผนรองกระทะและชนสวนสาหรบใชในการเชงพาณชย

มอก.1375-25471

มอก.1594-2541

มอก.1547-2541

มอก.1552-2541

มอก.1567-2541

มอก.1543-2541

มอก.1551-2541

มอก.2013-2543

มอก.1986-2543

มอก.1998-2543

มอก.1996-2543

มอก.1522-2541

มอก.1896-2542

มอก.1871-2542

มอก.1529-2541

มอก.1838-2542

มอก.1839-2542

มอก.1877-2542

มอก.1914-2542

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335



TIS IEC TIS IEC

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

20

21

22

23

24

25

26

27

28

29

30

31

32

33

34

35

36

เตาหงตมชนดทใชประจาทแผนรองกระทะเตาอบ และเครองใชไฟฟาทมลกษณะคลายกน

เตาอบไฟฟาดวยการพาความรอน เตาอบไฟฟาดวยไอนา เตาอบไฟฟาดวยการพา ไอนาทใชในเชงพาณชย

เตาอบไมโครเวฟเชงพาณชย

แผนอ นภาชนะใสอาหาร และเครองใชไฟฟาทมลกษณะคลายกน

เครองบารบควนอกอาคาร

เครองปงยางเชงพาณชย

เครองมอทาความรอนหยบยกได

เครองสบของเหลวทมอณหภมไมเกน 35องศา

เครองปนสลดนา

เครองยางและเครองปงเชงพาณชย

เครองทานารอนชนดจมแบบพกพา

เครองทานารอนชนดจมแบบยดตดอยกบท

เครองนวด

เครองประจแบตเตอร

เครองปงขนมปง เครองยาง เครองอบและเครองใชไฟฟาทมลกษณะคลายกน

มอก.1913-2542

มอก.1781-2542

มอก.1845-2542

มอก.1775-2542

มอก.1876-2542

มอก.1874-2542

มอก.1872-2542

มอก.1584-2541

มอก.1542-2541

มอก.1566-2541

มอก.1909-2542

มอก.1909-2542

มอก.1803-2542

มอก.1676-2541

มอก.1641-2541

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

IEC60335

มอก.1955

มอก.1804-2542 IEC60335

มอก.1910-2542 IEC60335

เครองอบซาวนา

จกรเยบผาไฟฟา



TIS IEC TIS IEC

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

1

2

3

4

5

6

เครองใชไฟฟาทางานดวยมอเตอร ชนดเคลอนยายได


เครองเจยแบบตงโตะ

เครองไสและเครองตงความหนา

เลอยวงเดอน

เครองมอไฟฟาทางานดวยมอเตอรชนดมอถอ

มอก.1744-2542 IEC61029-1

มอก.1997-2543 IEC61029-2-4

มอก.1873-2542 IEC61029-2-3

มอก.1805-2542 IEC61029-2-1

มอก.1749-2542 IEC617045-1

มอก.1911-2542 IEC61029-2-9เลอยบาก



TIS IEC TIS IEC

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

CISPR14

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

เครองใชไฟฟา สาหรบการวด การควบคม และทใชในหองปฏบตการทดสอบ


เครองฆาเชออบแหงทใชกบอากาศรอนหรอกาชเฉอยรอนทใชกบเครองมอแพทยและ ทใชในหองปฏบตการ

เครองผสมและเครองกวนทใชในหองปฏบตการ

เครองมอวดคากระแสไฟฟาแบบคลองชนดมอถอ

สาหรบเครองหมนเหวยงทใชในหองปฏบตการ

บรภณฑหองปฏบตการสาหรบทาความรอนวสด

หมอนงอดไอนาและเครองฆาเชอใชกาชพษสาหรบการเตรยมวสดการแพทยและงาน ในหองปฏบตการ

หมอนงอดไอนาสาหรบการเตรยมวสดทางการแพทยและงานในหองปฏบตการ

อะตอมกสเปกโทรมเตอรสาหรบหองปฏบตการทดสอบทใช การทาใหเปนละอองและการทาใหเกดไอออนดวยความรอน

ความปลอดภยของชดโพรบมอสาหรบ การวดและการทดสอบไฟฟา

ความปลอดภยของผลตภณฑเลเซอรเลม1การจดประเภทบรภณฑ คณลกษณะ ทตองการและขอแนะนาสาหรบผใช

ความปลอดภยของผลตภณฑเลเซอรเลม2ความปลอดภยของระบบสอสารใยแกว นาแสง

ความปลอดภยของผลตภณฑเลเซอรเลม3ขอแนะนาสาหรบภาพเลเซอรและสงทแสดงดวยเลเซอร

มอก.2001-2543 IEC61010-1

มอก.2008-2543 IEC61010-2-043

มอก.2009-2543 IEC61010-2-051

มอก.2005-2543 IEC61010-2-032

มอก.2003-2543 IEC61010-2-020

มอก.12002-2543 IEC61010-2-010

มอก.2007-2543 IEC61010-2-042

มอก.2006-2543 IEC61010-2-041

มอก.2010-2543 IEC61010-2-061

มอก.2004-2543 IEC61010-031

มอก.1604-2541 IEC60825-1

มอก.1605-2541 IEC60825-2

มอก.1606-2541 IEC60825-3



TIS IEC TIS IEC

1

บรภณฑเทคโนโลยสารสนเทศ

บรภณฑเทคโนโลยสารสนเทศ(1phase<16A)

มอก.1561-2548 IEC60950-1 มอก.1956.มอก.2077

CISPR22,CISP24


TIS IEC TIS IEC

1

2

แผงโซลาเซล

แผงโซลาเซลแบบผลกวลคอน มอก.1843-2542 IEC61215 ไมม IEC61730

แผงโซลาเซลแบบฟลมบาง มอก.2210-2548 IEC61646 ไมม IEC61730


บรการสอบเทยบ

PASSIVE EQUIPMENT

Equipment Name Item Range

1.Attenuator/Gain/Loss

2.Splitters

3.Divider

4.Bridges

5.Fillters

6.DirectionalCouplers

7.CoaxialCable

8.WaveGuideAttenuator

9.MatchingPadandImpedanceAdapters

RF High Power

10.HighPowerAttenuator

11.RFPowerAmplifierGenerator

12.RFPowerLevel

EMC Equipment

13.LineImpedanceStabilizationNetwork

14.CouplingandDecouplingNetwork

15.EMClamp/EMIClamp(150Hz/60Hz)

16.RFCurrentClamp(9kHzto1GHz)

17.BalancetoUnbalanceTransformer

Loss,ReturnLoss,Phase

Loss

PowerOutput

FrequencyResponse

THD

Impedance

Loss,CouplingFactor

PhaseImpedance

Isotation

9kHzto18GHz

odBto100dB

9kHzto3GHz

1mWto200W

9kHzto4GHz

1Ω to300Ω0dBto70bB

0to360



Magnetic field strength

18.MagneticFieldMeter(50Hz/60Hz)

19.MicrowaveLeakageCurrent

20.MicrowaveSurveyMeter

High Voltage

21.ESDGenerator

22.Burst/EFTGenerator

23.SURGEGenerator

24.Voltagedips

FieldStrength

PeakVoltage/Current

Risetime/Falltime

BurstPeriodDurationRepetition

Frequency

ImpulseDuration

Impedance

Antenna

25.BiconicalAntenna(30to300MHz)

26.Log–PeriodicAntenna(150to2200MHz)

27.Bi-LogAntenna(30MHzto1GHz)

28.HornAntenna(80MHzto18GHz)

RF Power

29.RFPowerMeters

30.TerminationPowerMeters

31.PeakPowerMeters

32.NodulationPowerMeters

33.ThroughLinePowerMeters

34.PowerSensor

AF

GainISO

ReturnLoss

Accuracy

VSWR

CalibrationFactor

12mGto20G

1to10mW/cm

Upto8kV

2nsto10ms

0to360

30MHzto18GHz

3uWto100mW

1Wto250W

100kHzto4.2GHz



Frequency

35.SignalGenerators

36.SynthesizedSignalGenerators

37.FunctionGenerator

38.NoiseGenerators

39.MicrowaveGenerators

40.FrequencyCounters

41.FrequencyConverters

42.FrequencyShifters

43.FrequencyMultipliers

44.FrequencyComparators

45.QuartzOscillators

46.Oscilloscope

PhaseModulation

FrequencyModulation

PulseModulation

FrequencyAccuracy

FrequencyResponse

PowerLinearity

Harmonic

NoiseSidebands

VSWR

InputImpedance

VerticalDeflection

HorizantalTime

FrequencyResponse

FrequencyAccuracy

DisplayLinearity

NoiseFloor

InputAttenuator

AbsoluteAmplitudeAccuracy

FrequencyResponse

ResolutionBandwidthand

Selectivity

ResolutionBandwidthSwitching

ReferenceLevelAccuracy

1Hzto3GHz

Bandwidth1GHz

0to32V

9kHzto3GHz

0dBto90dB

47.SpectrumAnalyzers

48.NetworkAnalyzers

49.Transmission/ReflectionTestSets

50.CalibrationSParameterTestSets

51.ReturnLossTesters

52.SWRMeters

53.NoiseFigureMeters

54.CommunicationAnalyzers

55.SiteMaster

2 ศนยเทคโนโลยโลหะและวสดแหงชาตNational Metal and Materials Technology Center (MTEC)

2


วสดอปกรณทางการแพทยหรอเครองมอแพทย มความเกยวของโดยตรงกบชวตมนษย การ วเคราะหทดสอบในทกขนตอนการผลตเพอตรวจประเมนคณภาพของผลตภณฑใหไดมาตรฐาน มความปลอดภย กอนการนาไปใชงานหรอการจาหนาย จงเปนสงจาเปนสาหรบผผลต ผจาหนาย รวมถงผใชงาน ผบรโภค เพอใหเกดความมนใจในคณภาพ และสามารถนาไปปรบปรงกระบวนการผลตใหดยงขนตอไป

นอกจากน การวเคราะหทดสอบเพอตรวจหาประสทธภาพการตานเชอจลนทรยในผลตภณฑตาง ๆ ทใชงานในชวตประจาวน กาลงไดรบความสนใจจากผผลต ผ จาหนาย เพอการวจยและพฒนาปรบปรงคณภาพ ของผลตภณฑ ดง นน การพฒนาขดความสามารถด าน การวเคราะหทดสอบทางชวภาพ เพอใหเหมาะสมกบความตองการ และการบรการวเคราะหทดสอบ รบจางวจย รวมวจย ใหแกภาคอตสาหกรรมและหนวยงานวจย มหาวทยาลย ถอเปนภารกจหลกของหองปฏบตการเทคนคทางชวภาพสาหรบวสด โดยหนวยปฏบตการไดรบการรบรองความสามารถหองปฏบตการทดสอบตามมาตรฐาน ISO/IEC17025 อยางตอเนองตงแตป 2546 ถงปจจบน จากสานกมาตรฐานหองปฏบตการ กระทรวงสาธารณสข ในขอบขายการทดสอบดานจลนทรยสาหรบผลตภณฑ

(MTEC Cell Culture Unit: MCCU)

การใหบรการภาคเอกชน (*อยในขอบขายการไดรบการรบรองมาตรฐานISO/IEC17025:2005)การทดสอบความเปนพเศษสาหรบเครองมอแพทย (Cytotoxicity Testing)

- การทดสอบชนงานประเภทวสดฝงในดวยวธทดสอบโดยตรงกบเซลลหรอเนอเยอมนษย/หนทดลอง- การทดสอบความเปนพษของชนงานดวยวธ Test on Extracts- การทดสอบความเปนพษของสงสกดไดจากตวอยางทดสอบดวยวธมาตรฐาน ISO 10993-5- การทดสอบความเปนพษของชนงานดวยวธ Ager Overlay Method- การทดสอบความเปนพษของชนงานดวยวธ MTT assay

การทดสอบประสทธภาพของสารตานจลนทรยในผลตภณฑ ดวยวธ AATCC Test Method 147, AATCC Test Method 100, JIS Z 2801*, JIS L 1902, AATCC Test Method 30, JIS Z 2911, ASTM G21 วธมาตรฐานอน และวธดดแปลงตามลกษณะชนงานตวอยางการเตรยมชนงานสาหรบ SEM ดวยเครอง Critical Point Dryer (CPD)

หองปฏบตการเทคนคทางชวภาพสาหรบวสด


หองปฏบตการทดสอบสมบตทางไฟฟาของวสด หนวยวจยลกษณะเฉพาะของวสด MTEC มหนาทหลกในการใหบรการทดสอบ วเคราะห และใหคาปรกษาดานสมบตของไฟฟาวสด แกภาคอตสาหกรรม หนวยงานภาครฐ มหาวทยาลย และหนวยงานวจยภายใน MTEC ดวยบคลากรทมความรความชานาญและเครองมอทดสอบทมประสทธภาพ

หองปฏบตการทดสอบสมบตทางไฟฟาของวสด(Electrical Properties Measurement Laboratory: EPM)

1. Surface Resistivity Measurement (ASTM D257)2. Volume Resistivity Measurement (ASTM D257)3. Dielectric Constant (Relative Permit t iv i ty) Measurement (ASTM D150)4. Dissipation Factor Measurement (ASTM D150)5. The Capaci tance of Wire Insulation (UL 1581)6. Dielectric Strength Measurement (ASTEM D149)7. Conductivity Measurement

Services Equipments Materials Suitable for Testing

Resistivity Adapter KEITHLEY Model 6105High Voltage Supply KEITHLEY Model 247System Electrometer KEITHLEY Model 6514Precision Impedance Analyzer Agilent 4294ADielectric Test Fixture Hewlett Packard 16451 BAC Dielectric test set (50kV, 5kVA) Source Meter KEITHLEY Model 2420

Natural and Synthetic Rubber SheetsPlastic Sheets e.g. PVC, PE, PPPapersWoodsCeramicsMetals

การใหบรการภาคเอกชน สมบตทางไฟฟาของวสดทสาคญและควรมการทดสอบกอนนาไปผลตเปนผลตภณฑหรอนาไปใชงาน ไดแก สมบตทางดานการเปนฉนวน สมบตทางดานการเกบประจไฟฟา สมบตดานการคงทนตอแรงดนไฟฟา ซงในการทดสอบสมบตดงทกลาวมานนน ทางหองปฏบตการทดสอบสมบตทางไฟฟาสามารถใหบรการทดสอบชนงานวสดหรอผลตภณฑตามมาตรฐานสากล เชน ASTM ISO และ UL เปนตน ในกรณทผ ขอรบบรการตองการทดสอบผลตภณฑดวยวธเฉพาะทาง นอกเหนอจากทมมาตรฐานทวไป ทางหองปฏบตการกมความพรอมในการ ใหบรการดงตอไปน


สมบตทางกลถอไดวาเปนสมบตเฉพาะตวของวสดทมความสาคญเปนอยางมาก ตอความสาเรจตอการนาไปใชงานของผลตภณฑหนง ๆ เนองจากไมวาในสภาพการใชงานหรอในการทางานของผลตภณฑนนจะตองตกอยในสภาพการรบแรงไมมากกนอย โดยทวไปแลว จดประสงคของการทดสอบสมบตทางกล คอ เปนขอมลในการควบคมคณภาพ เปนขอมลพนฐานในการเปรยบเทยบและเลอกใชวสด เปนขอมลสาหรบการคานวณออกแบบ เปนขอมลพนฐานสาหรบการทานายประสทธภาพในการใชงานจรง เปนขอมลสาหรบการวจยและพฒนา

หองปฏบตการทดสอบสมบตทางกล MTEC ถอไดวาเปนสวนสาคญในการสนบสนน ภาคอตสาหกรรมของประเทศไทยผานทางการใหบรการทดสอบวสด ผลตภณฑใหคาแนะนา หรอขอมลทเกยวของกบสมบตทางกลของวสด เพอใหอตสาหกรรมสามารถผลตผลตภณฑทมคณภาพและปลอดภยตอการใชงาน นบตงแตถกจดตงขนในป 2539 หองปฏบตการ มการทางานรวมกนกบภาคอตสาหกรรมเกอบทกประเภททงขนาดเลกและขนาดใหญ

หองปฏบตการทดสอบสมบตทางกล(Mechanical Properties Testing Laboratory: MT)


การใหบรการภาคเอกชน

ทดสอบทางกลทวไป เชน คามอดลส ความแขงแรง ความเคนและความเครยด ในลกษณะแรงดง แรงดด แรงดดงอ แรงบด การเฉอน การลอก หรอการฉก ของวสดตาง ๆ (แรงสงสด 100 กโลนวตน)ทดสอบความทนทานตอแรงกระแทกของวสดหรอผลตภณฑในลกษณะตาง ๆ เชน ไอซอด ชารป ฟลม ทอ หรอ แผนวสดชนดตาง ๆ ทดสอบความทนทานตอความลาของวสดหรอผลตภณฑในลกษณะตาง ๆ เชน แรงดงหรอแรงอดทดสอบความแขงแรงของวสดหรอผลตภณฑในสเกลตาง ๆ เชน บรเนลล วกเกอรส หรอรอกเวลล ทดสอบความแขงของจลภาคแบบวกเกอรส หรอ นพ ทระดบผวหรอผวเคลอบ ผวแขง หรอโครงสรางในแตละเฟสของวสดหรอผลตภณฑ ทดสอบความแขงของวสดคลายยางหรอผลตภณฑในแบบซอร A หรอ Dวเคราะหสาเหตการแตกหกของผลตภณฑทเกยวของกบสมบตทางกล หรอการเบยงเบน ของสมบตของวสดหรอผลตภณฑจากทกาหนดไวเตรยมชนงานทดสอบทางกลจากวตถดบหรอผลตภณฑทดสอบวสดทอณหภมสงหรอตากวาอณหภมหอง เชน การทดสอบแรงกระแทก หรอการทดสอบความแขงแรง (-50C ถง 150C)สรางและออกแบบอปกรณสาหรบทดสอบหรอวธการทดสอบสาหรบวสดหรอผลตภณฑตามทระบ


การวเคราะหทดสอบลกษณะของวสดกายภาพและทางเคม เชน ลกษณะพนผว และธาตทประกอบเปนวสดนน ๆ โดยการใชกลองจลทรรศนแบบแสง กลองจลทรรศนอเลกตรอน ไมวาแบบ สองกราดและแบบสองผาน จาเปนตองมการเตรยม ชนงานกอนทจะนาไปวเคราะหโดยมขนตอน ในแผนภาพดานลาง

หองปฏบตการจลทรรศนแบบแสง(Optical Microscopy/Image Analysis Laboratory: OM)

ตดชนงาน อดขนรปชนงาน ขดระนาบ ขดผวมนตรวจสอบดวยกลอง

ขนตอนท 1 ตดชนงาน การตดชนงานออกมาเป นชนขนาดเลก พอเหมาะกบเครองมอวเคราะหทดสอบ หากเปนชนงาน ขนาดใหญ เชน จาน ทอนเหลก จะใชเครองตดใหญ (Cutting Machine, Exotom-M, Struers) หากเปน ชนงานทมขนาดใหญไมมากนก อาจใชเครองตดเลก (Cutting Machine, Accutuom-5, Struers) อปกรณนสามารถตดได ทงวสดเซรามก พอลเมอร โลหะ กลมเหลก และไมใชกลมเหลก โดยจะเปลยนใบตดใหเหมาะสมกบวสด ไดแก ใบตดโลหะ และใบตดเพชร

ขนตอนท 2 ขนรปชนงาน เมอไดชนงานขนาดเหมาะสมกบการทดสอบแลว หากไมสามารถจบชนงานขดได หรอตองการขดอตโนมตจะนามาขนรปดวยเรซน อาจขนรปดวยการใชเครอง Mounting Machine Model Predopress, Struers (Hot Mount) หรอขนรปดวยเรซนแขงตว ณ อณหภมหอง (Cold Mount) การเลอกวธขนรปชนงานและชนดของเรซน ขนอย กบลกษณะของชนงาน ความพรนตว ความแขงแรง และอณหภมทเหมาะสมกบการใชงาน

ขนตอนท 3 การขดระนาบ ชนงานทอดขนรปแลว พนผวของชนงานกบเรซนอาจจะยงไมไดระนาบ จงตองนามาทาการขดเพอใหได ระนาบดวยเครองขด (Struers และ Buehler) แผนขดทนยมใชในขนตอนนคอ กระดาษทรายโดยใชขนาดหยาบจนมาถงขนาดละเอยด ในการขดผวนอาจใชเครองขดอตโนมตแบบตงโปรแกรมได จากนนจงนามาทดสอบวา ชนงานไดระนาบหรอไม โดยใชแสงโมโนโครมาตก


ขนตอนท 4 การขดผวมน หลงจากการขดใหไดระนาบแลว จงทาการขดผวใหขนมน ในขนตอนน จะนยมใช ผงขดเพชรในการขด โดยเรมตนทผงเพชรขนาด 6 ไมครอน จากนนจงลดขนาดลงมาท 3, 1 และ ¼ ไมครอน ตามลาดบ สาหรบวสดบางชนดอาจ ไมไดขดทกขนตอน และในบางกรณอาจใชผงขดอลมนา แทนการใชผงขดเพชร ตามความเหมาะสม โดยใชเครองขดเหมอนกบในขนตอนท 3 แตเปลยนจากกระดาษทรายมาเปนผาขดตามขนาดของผงขดเพชร

ขนตอนท 5 การตรวจสอบดวยกลอง จลทรรศนแบบแสง เมอไดเตรยมชนงานตามขนตอนทง 4 ขนตอนแลว จงนาชนงานมาตรวจสอบพนผวดวยกลองจลทรรศนแบบแสง หากพนผวยงมรองรอยจากการขด ตองนาไปขดผวมนจนกวาจะไมม รองรอยใด ๆ จงจะสามารถวเคราะหโครงสรางจลภาคได กลองจลทรรศนเปนอปกรณทใชสองดโครงสรางทางจลภาคของวสด ทงพนผวภายนอก ขนาดและรปรางของเกรน ลกษณะโครงสรางและการกระจายตวของเฟสกลอง

การใหบรการภาคเอกชน กลองจลทรรศนแบบแสงทมใหบรการ ประกอบดวยกลอง ZEISS แบบสเตอรโอ แบบสะทอน และแบบโพลาไรส และกลองแบบแสงสะทอนของ Olympus ซงม Image Analyser ไวสาหรบการคานวณหาปรมาณของเฟสตาง ๆ ทมองเหนผานกลองได การคานวณปรมาณของเฟสตาง ๆ ในเหลก ปญหาทางดานเซรามกส เชน รพรน ในเนอกระเบอง หรอ รอยบมในเนอวเทรยสไชนา สามารถใชกลองจลทรรศนแบบแสงในการคนพบสาเหตของปญหาไดอยางงายดาย นอกจากน ยงใชในการหาขนาดของความหนาของชนเคลอบของพลาสตกและโลหะไดโดยใชเวลาไมกนาท


ผง (Powder) หมายถง อนภาคของแขงทมขนาดตงแตเลกเทากบซบไมครอน หรอใหญขนอยในชวงเซนตเมตร ขนาดทหลากหลายของผงนส งผลให กระบวนการและสมบตตาง ๆ ของวสดผดแผกแตกตางกนไป ความเขาใจและความสามารถในการควบคมปจจยตาง ๆ ทเกยวกบผงอนภาค เชน ขนาด (Size) รปราง (Shape) พนทผว (Specific Surface Area) และประจบนผวอนภาค (Zeta Potential) มสวนสนบสนน ตอการพฒนาผลตภณฑและกระบวนการผลตวสด ใหมประสทธภาพ ไมวาจะเปนอตสาหกรรมเหมองแร โลหะ เซรามกส พอลเมอร ส การเคลอบทางไฟฟา การบาบดนาเสย อาหาร เภสชศาสตร กลศาสตรปฐพ และชวเวชศาสตร เปนตน หองปฏบตการวเคราะหลกษณะเฉพาะของผง (Powder Characterization Laboratory: PC) ซงเปนหนงในหนวยปฏบตการวจยเทคโนโลยการวเคราะหทดสอบวสด ภายใตการดาเนนการของ MTEC ไดพฒนาขดความสามารถทางเทคนคการวเคราะหลกษณะเฉพาะตาง ๆ ของผง เพอใหเกดความพรอมในการใหบรการวเคราะห ทดสอบ ควบคมคณภาพ และใหคาแนะนาแกลกคาไดอยางมมาตรฐานและรวดเรว

หองปฏบตการวเคราะหลกษณะเฉพาะของผง(Powder Characterization Laboratory: PC)

การใหบรการภาคเอกชนวเคราะหหาขนาดและการกระจายตวของอนภาคในระดบนาโนเมตร ชวงตงแต 0.6-6.000 นาโนเมตร โดยใชเทคนคการกระเจงของแสงแบบพลวต ดวยเครอง Zetasizer Nano ZS และในระดบไมครอน ชวงตงแต 0.02-2.000ไมโครเมตร โดยใชเทคนค การเลยวเบนของแสง ดวยเครอง Mastersizer-S และเครอง Mastersizer2000วเคราะหหาคาศกยซต าของอนภาคในระดบคอลลอยด โดยใชเทคนคอเลกโทรโฟรซส ดวยเครอง Zetasizer Nano ZSวเคราะหหาความหนดของอนภาคทอยในของเหลวในชวง 0.1-40,000 Pa.s สาหรบของเหลวทมปรมาตร 500 cm3 และ 0.25-500 Pa.s สาหรบของเหลวทมปรมาตร 8 cm3 โดยปรบอณหภมไดตงแต 25C ถง 80C ดวยเครอง Viscometer DV II+(Brookfield)วเคราะหหาพนทผวจาเพาะของวสดไดตาถง 0.05 ตารางเมตรตอกรม และความพรนตวของวสดทมขนาดของรพรนในระดบ Micropore (นอยกวา 2 นาโนเมตร) ถง ระดบ Mesopore (2-50 นาโนเมตร) โดยใชเทคนคการดดซบกาซ ดวยเครอง Autosorb-1 และ เครอง Autosorb-1Cวเคราะหหาความแนนปรากฏของวสดทงใน รปของแขง (ผงหรอชนงาน) และของเหลวซงมคาความแมนยาอยท ±0.02% โดยใชเทคนคการแทนท ดวยกาซ ดวยเครอง Ultrapycnometer1000


กลองจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนง (SEM) เปนเครองมอทใชกนอยางแพรหลายทงในการวจย พฒนา แกปญหา และการผลตของภาคอตสาหกรรม โดย MTEC มเครองมอ SEM จานวน 3 เครอง ไดแก

SEM (JEOL) JSM-5410 เปนกลองทใชแหลงกาเนดอเลกตรอนแบบเทอรมออนค (Thermionic Emission Electron Gun) สามารถใหกาลงแยกแยะเชงระยะทาง ไดประมาณ 3.5 nm ท 30 kV ซงสามารถถายภาพ ทกาลงขยายสงถง 20,000 เทา (20 kV) โดยมอปกรณตรวจวดอเลกตรอนแบบทตยภม (Secondary Electron) และยงตอกบอปกรณทใชวเคราะหธาตของบรษท Oxford รน INCA 300FE SEM (JEOL) JSM-6301F ซงเปนกลองทใช แหลงกาเนดอเลกตรอนแบบโคลดฟลดอมชชน (Cold Field Emission Electron Gun) สามารถใหกาลงแยกแยะเชงระยะทางไดประมาณ 1.5 nm ท 30 kV นอกจากนทศกยความเรงตา (1-3 kV) ยงใหภาพทมความคมชดมากกวาฟลาเมนท มอปกรณตรวจวดอเลกตรอนแบบทตยภม (Secondary Electron) อปกรณตรวจวดอเลกตรอนแบบกระเจงกลบ (Backscattered Electron) และยงตอกบอปกรณทใชวเคราะหธาตของบรษท Oxford รน INCA 350SEM (HITACHI) S-3400N Type II เปนกลอง ทใช แหลงกาเนดอเลกตรอนแบบเทอรมออนค (Thermionic Emission Electron Gun) ไดทงในสภาวะสญญากาศสงและตา โดยสามารถใหกาลงแยกแยะเชงระยะทางไดประมาณ 3 kV ซงสามารถถายภาพกาลงขยายสงถง 20,000 เทา (20 kV) ในสภาวะสญญากาศสง โดยมอปกรณตรวจรบอเลกตรอนแบบทตยภม (Secondary Electron) อปกรณตรวจรบอ เลกตรอนแบบกระเจงกลบ

หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนงและจลวเคราะห(Scanning Electron Microscopy and X-Ray: SEM)

(Backscattered Electron) อปกรณวเคราะหธาต และอปกรณวเคราะหเฟสโครงสรางของ บรษท EDAX รน Genesis และ TSL OIM Data Collection 5 ตามลาดบ

ขอมลทไดจากกลอง SEM สามารถแสดงใหเหนลกษณะพนผวของวสด ขนาด และรปรางของอนภาคผง หรอตาแหนงทสนใจบนชนงาน และแสดงใหเหนลกษณะและการกระจายของเฟสในโครงสรางจลภาคหรอความผดปกตของอปกรณขนาดเลก ๆ เชน ชนสวนอเลกทรอนกส รวมไปถงลกษณะของชนงานทางดานชววทยา ฯลฯ นอกจากน ยงสามารถเชอมตอกบอปกรณวเคราะหธาตเชงพลงงาน (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer: EDS) ซงชวยในการศกษา ชนด ปรมาณ และการกระจายขององคประกอบธาตของวสดหรอสารมลทนได ซงขอมลทไดสามารถนาไปใชในการปรบปรง และพฒนางานวจย งานในกระบวนการผลต งานวเคราะหความเสยหาย ของวสด งานแกไขปญหาอตสาหกรรม และงานควบคมคณภาพของวสดไดเปนอยางด นอกจากน MTEC ยงม


โปรแกรมวเคราะหภาพ (Image Analyzer) รน Image-Pro Plus 5.0 ทมประสทธภาพสง สามารถวเคราะหภาพไดหลายชนดพรอมปรบแตงภาพเพอใหสามารถวเคราะหไดงายขน นอกจากน ยงใชรวมกบโปรแกรม Material-Pro 3.1.1 ซงเหมาะกบการวเคราะหขอมลเกยวของกบวสดชนดตาง ๆ จงชวยใหการวเคราะห เชน การวดขนาดอนภาค (ASTM E1382) การวดการกระจายตวของเกรน (ASTM E112) การหาปรมาณกราไฟตในเหลกหลอ (ASTM A247) การหาปรมาณรพรนในซเมนต (ASTEM B276) และ การวดความหนาของชนเคลอบ ทาไดอยางรวดเรวมากยงขน

การใหบรการภาคเอกชน ใหบรการศกษาโครงสรางพนผว โครงสรางจลภาคของแกรนของวสดตาง ๆ ไมวาจะเปนชนงาน โลหะ เซรามกส พอลเมอร ตวอยางทางชวภาพ และอน ๆ ทมสภาพแหงและปราศจากความชนใหบรการศกษาและวดขนาดอนภาคผงซงใชเปนวตถดบในการผลตหรอสารตงตนอน ๆ วดขนาดเกรนหรอความหนาของชนเคลอบตามมาตรฐานของหองปฏบตการใหบรการวเคราะหองคประกอบธาตของวสดดวยเทคนคจลวเคราะห (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy: EDS) ซงสามารถทาการวเคราะหองคประกอบธาตในเชงคณภาพ และปรมาณ (ขนกบชนดของวสดมาตรฐานทมใช) การทดสอบแบบแผนทธาต (X-Ray Mapping) การทดสอบแบบศกษาแนวโนมของธาต ณ ตาแหนงททสนใจ (X-Ray Line Scan) การทดสอบแบบแผนทเฟส (Phase Map) และการจาลองสเปกตรม (Spectrum Synthesis) ใหบรการวเคราะหการจาแนกโครงสรางผลกของโลหะ ดวยเทคนค Electron Backscatter Diffraction: EBSD ซงสามารถระบโครงสราง ชนดของผลก ทศทางการจดเรยงตวของผลก รวมทงลกษณะและขนาดของเกรนไดใหคาปรกษาเกยวกบเทคนคการเตรยมชนงานเพอศกษาดวยเทคนคจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนงและจลวเคราะหใหบรการถายทอดความร ฝกอบรมและบรการขอมล เอกสาร ทเกยวกบเทคนคจลทรรศนอเลกตรอนแบบสแกนนงและจลวเคราะห (SEM/EDS)


สเปกโตรสโคปแบบสนเปนเทคนคทสะดวก ไมยงยากซบซอน สาหรบการศกษาหมฟงกชนทมอยในโมเลกล ซงสมพนธกบโครงสรางทางเคมของสารหรอวสดทกาลงศกษาอย สเปกโตรสโคปแบบสน ประกอบดวย 2 เทคนค คอ อนฟราเรด และรามาน สเปกโตรสโคป เพอใชในงานวจยภายใน และใหบรการแกภาคเอกชนและภาครฐ กลมลกคาทใหบรการ ไดแก บรษทผผลตเมดพลาสตกและผลตภณฑพลาสตก บรษทผผลต/ใชสารเคม บรษทผผลตผลตภณฑยาง บรษทผผลตชนสวนอเลกทรอนกสและผประกอบเครองมออเลกทรอนกส

หองปฏบตการสเปกโตรสโคปแบบสน(Vibrational Spectroscopy Laboratory: VSP)

การวเคราะหระดบโมเลกลเพอระบชนดและองคประกอบหลก

เทคนค

เทคนค

การประยกตใชงาน

การประยกตใชงาน

รายละเอยดหลกการทางาน

รายละเอยดหลกการทางาน

ลกษณะตวอยาง

ลกษณะตวอยาง

ขอสงเกต/ขอจากด

ขอสงเกต/ขอจากด

InfraredSpectroscopy

(FT-IR)

Raman Spectroscopy(FT-Raman)

วเคราะหหาหมฟงกชนและโครงสรางทางเคมของสาร โดยสามารถวเคราะหไดท ง เชงคณภาพและเชงปรมาณ

วเคราะหหาหมฟงกชนและโครงสรางทางเคมของสาร โดยสามารถวเคราะหไดท ง เชงคณภาพและเชงปรมาณ

อาศยหลกการดดกลนคลนแสงใน ชวงอนฟาเรดททาใหเกดการสนของพนธะเคมภายในโมเลกล ซงคาความถตาง ๆ ของการสนในสเปกตรมนนสามารถใหขอมลเกยวกบโมเลกลของสารทแนนอนได

อาศยหลกการชนแบบไมยดหย น ระหวางโฟตอนกบโมเลกลของสาร จากนนพลงงานบางสวนจะถกถายเทไปยงโมเลกลทาใหเกดการสนของโมเลกลแลวเกดกระเจงออกไป

ของแขง ของเหลว

ของแขง ของเหลว

ไมสามารถทดสอบสารทมปรมาณนอยระดบ ppm ได และสามารถใชประโยชนในการตดตามกระบวนการผลต

ไมสามารถทดสอบสารทมปรมาณนอยระดบ ppm ได และสามารถใชประโยชนในการตดตามกระบวนการผลต

การวเคราะหตวอยางบรเวณพนผวและทมขนาดเลกระดบไมโครเมตร

InfraredMicroscopy

วเคราะหหาหม ฟ งกชนและโครงสรางทางเคมของสาร ทมขนาดเลกระดบไมโครเมตร

อาศยหลกการดดกลนคลนแสงใน ชวงอนฟาเรดททาใหเกดการสนของพนธะเคมภายในโมเลกล ซงคาความถตาง ๆ ของการสนในสเปกตรมนนสามารถใหขอมลเกยวกบโมเลกลของสารทแนนอนได

ของแขง ของเหลว มการเตรยมตวอยางของสารกอนการทดสอบ และม Spatial Resolution 15 ไมโครเมตร



เทคนค การประยกตใชงาน รายละเอยดหลกการทางาน ลกษณะตวอยาง ขอสงเกต/ขอจากด

Raman Microscopy

วเคราะหหาหม ฟงกชนและโครงสรางทางเคมของสาร ทมขนาดเลกระดบไมโครเมตร

อาศยหลกการชนแบบไมยดหย น ระหวางโฟตอนกบโมเลกลของสาร จากนนพลงงานบางสวนจะถกถายเทไปยงโมเลกลทาใหเกดการสนของโมเลกลแลวเกดกระเจงออกไป

ของแขง ของเหลว ไมตองมการเตรยมชนงานตวอยาง และม Special Resolution 6 ไมโครเมตร

เครองมอทใหบรการ

เครองมอ การประยกตใชงาน

FT-IR Spectrometer (Perkin Elmer System 2000)- Light source: middle infrared range (4000-400 cm-1)- Detector :TGS

FT-RAMAN Spectrometer (Perkin Elmer System 2000)- Laser source: Nd: YAG laser- Laser excitation wavelength: 1064 nm- Spectral range: 3600-200 cm-1

- Detector: inGaAs

Dispersive Raman Microscope (Bruker Optics Model Senterra)- Laser source: Diode laser และ Nd-YAG Exiation- Laser excitation wavelength: 785 nm และ 532 nm- Spectral range: 4500-80 cm-1

- Detector: TE-Cooled CCD

FT-IR Imaging Microscope (Perkin Elmer Spectrum Spotlight 300)- Light source: middle infrared range (4000-600 cm-1)- Detector: MCT(เทคนคทเคยเปดใหบรการมดงน transmittance, specular,reflectance,attenuatedtotalreflectance(ATR),Micro-ATRและdiffusereflectance)

- วเคราะหชนดของสารอนทรยและสารอนนทรยบางชนด- วเคราะหหมฟงกชนของสารอนทรย- วเคราะหองคประกอบหลกในการผสม- วเคราะหชนดของพอลเมอรและอลาสโตเมอร

- วเคราะหชนดของพลาสตกและยาง- วเคราะหหาองคประกอบทางเคมในเชงปรมาณ- ศกษาลกษณะการเกดปฏกรยาทางเคม Kinetic ของชนงาน

- ศกษาฟลมเพชรบนแผนซลกอน- ศกษาสงปนเปอนบนชนสวนอปกรณอเลกทรอนกส- วเคราะหความแตกตางของอญมณธรรมชาต และอญมณ

สงเคราะห- วเคราะหหาชนดและขนาดในแตละชนของแผนฟลมประกอบ

- วเคราะหชนดของสารอนทรยและสารอนนทรยบางชนด- วเคราะหหมฟงกชนของสารอนทรย- วเคราะหหาองคประกอบทางเคมบรเวณพนผวชนงาน- วเคราะหหาชนดและขนาดในแตละชนของแผนฟลมประกอบ- วเคราะหและศกษาลกษณะการเกดปฏกรยาทางเคม Kinetic ของ

ชนงาน- วเคราะหชนดของพอลเมอร พลาสตก เสนใย และเรซนสงเคราะห- ทดสอบชนดของสงปนเปอนหรอสารเตมแตงทมอยประมาณ 1%

ในชนงาน และบางกรณมปรมาณนอยกวา 0.01%


การวเคราะหสมบตทางความรอนของวสด เปนกลมเทคนคทจาเปนสาหรบการวเคราะหลกษณะเฉพาะของวสดตาง ๆ เชน พอลเมอร สารอนทรยหรอสารอนนทรย เซรามกส โลหะ และวสดทวไปอน ๆ การวเคราะหสมบตทางความรอนเปนการวเคราะหการเปลยนแปลงสมบตทางกายภาพหรอทางเคมของวสดขนกบอณหภมและเวลา ผลการวเคราะหจะใหขอมลเกยวกบสมบตทางความรอน เสถยรภาพตอความรอน เสถยรภาพตอการเกดปฏกรยาออกซเดชน และลกษณะการผานกระบวนการทาง ความรอนของวสด โดยทาการศกษานาหนกทหายไปเมอมการเปลยนแปลงอณหภมความรอนทวสดดดหรอคายเมอเกดการเปลยนแปลงอณหภมหรอเวลา และการเปลยนแปลงขนาดของวสดชนงานภายใตการเปลยนแปลงอณหภม

หองปฏบตการวเคราะหสมบตทางความรอนของวสด(Thermal Analysis Laboratory: TA)

Differential Scanning Calorimeter (DSC) & Differential Thermal Analyzer (DTA) - Differential Scanning Calorimeter (DSC822e, Mettler Toledo) ชวงอณหภมททดสอบ -60C ถง 450C - Simultaneous Thermal Analyzer (STA449C Jupiter® , NETZSCH) ชวงอณหภมททดสอบ 30C ถง 1,400CThermogravimetric Analyzer (TGA) - Thermogravimetric Analyzer (TGA/SDTA851e, Mettler Toledo) ชวงอณหภมททดสอบ 25C ถง 1,100C - Simultaneous Thermal Analyzer (STA449C Jupiter®, NETZSCH) ชวงอณหภมททดสอบ 30C ถง 1,400CDynamic Mechanical Analyzer (DMA/SDTA861®, Mettler Toledo) ชวงอณหภมททดสอบ -150C ถง 500C Frequency range: 0.001 Hz ถง 1,000 Hz Force range: 0.005 N ถง 4,000 NThermomechanical Anayzer (TMA/SDTA841e, Mettler Toledo) ชวงอณหภมททดสอบ -150C ถง 500C Force range: 0 N ถง 1.0 NThermal Constant Analyzer (TPS2500, Hot Disk) อณหภมททดสอบ: อณหภมหอง Thermal conductivity range: 0.005 ถง 500 W/m.K Reproducibility: Thermal conductivity ±2%, Thermal diffusivity ±5%, Specific heat (per volume) ±7% ขนาดชนงานทตองเตรยม: เสนผานศนยกลาง 70 มม. ความหนา 5-40 มม.

เครองมอทใหบรการ



Differential Scanning Calorimeter (DSC) & Differential Thermal Analyzer (DTA)- วเคราะหอณหภมการหลอมเหลวของวสด (Melting Temperature, Tm)- วเคราะหปรมาณพลงงานทใชในการหลอมเหลว (Heat of Fusion, ^H)- วเคราะหปรมาณผลกของวสดพอลเมอร (% Crystallinity)- วเคราะหอณหภมเปลยนสภาวะคลายแกวของวสด (Glass Transition

Temperature, Tg)- วเคราะหอณหภมการเกดผลกของวสด (Crystallization Temperature, Tc)- วเคราะหคา Oxidative Induction Time ของวสด (Oxidative Induction Time, OIT)- วเคราะหคา Purity ของสาร- ศกษาการเกดปฏกรยาเชอมขวาง (Crosslink) ของวสดประเภทเทอรโมเซตตง- ศกษาและทานายกลไกการเกดปฏกรยาของวสดประเภทเทอรโมเซตตง

Thermogravimetric Analyzer (TGA)- วเคราะหปรมาณสารเตมแตงในพลาสตก หรอผลตภณฑพลาสตก- วเคราะหปรมาณนาหรอปรมาณตวทาละลายในส สารเคลอบ กาว หรอเซรามกส- วเคราะหปรมาณองคประกอบตาง ๆ ของผลตภณฑยาง เชน ปรมาณยาง สารเตม

อนทรย และสารเตมอนนทรยDynamic Mechanical Analyzer (DMA)

- วเคราะหคาโมดลสของวสด (Storage Modulus และ Loss Modulus)- วเคราะหอณหภมการเปลยนสภาวะจากคลายแกวเปนคลายยาง (Glass Transition

Temperature, Tg)Thermomechnical Analyzer (TMA)

- วเคราะหคาสมประสทธการขยายตว (Coefficient of Thermal Expansion, CTE)- วเคราะหอณหภมการเปลยนสภาวะคลายแกวเปนคลายยาง (Glass Transition

Temperature, Tg)- วเคราะหลกษณะการลอกตว ( Delamination)

Thermal Constant Analyzer (Hot Disk TCA)- วดคาการนาความรอน (Thermal Conductivity, W/m.K)- คาความจความรอน (Specific Heat, Per Volume)- คา Thermal Diffusivity (mm2/s)


หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน (Transmission Electron Microscopy: TEM) ใหบรการเทคนค เกยวกบจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชนและเทคนคอน ๆ ทเกยวของ เชน การเตรยมตวอยางและจลวเคราะห (Microanalysis) JEOL JEM-2010 ใชแหลงกาเนดอเลกตรอน (Electron Gun) แบบเทอรมออนก ชนด LaB6 ซงทางานในชวง 80 ถง 200 KeV และสามารถใชกาลงแยกแยะเชงระยะทางทดทสดไดประมาณ 0.23 นาโนเมตร โดยสามารถควบคมขนาดของลาอเลกตรอน ไดอยางแมนยา จงเหมาะแกงานจลวเคราะห Convergent Beam Diffraction (CBED), Nanobeam Diffraction และ Energy Disperse X-ray (EDX) Analysis

หองปฏบตการจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน(Transmission Electron Microscopy/ X-ray Microscopy Laboratory: TEM)

TEM LAB - ใหบรการเตรยมตวอยางชนงานดวยเครองตดอลตราโซนก, ดสคพนวเชอรม ดมเพลกรายนเดอร และ

เครองขดระบบลาไอออน- ใหบรการศกษาลกษณะสณฐาน โครงสรางจลภาค ตลอดจนโครงสรางผลกของชนงาน รวมถงวเคราะห

องคประกอบทางเคมของวสดดวยเทคนคจลวเคราะห (Energy Disperse X-ray Analysis: EDX)- ใหบรการถายภาพและวเคราะหผลดวยเทคนคจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน- ใหบรการใหคาปรกษาและบรการขอมลเกยวกบเทคนคจลทรรศนอเลกตรอนแบบทรานสมชชน

สวนประกอบพเศษของ JEOL JEM-2010- สามารถเลยงชนงานได 30 องศา ทงในแนวแกน x และแกน y- แทนยดชนงาน (Specimen Holder) ทงแบบเอยงแกนเดยวและสองแกน- Oxford Instruments Link Isis 300 X-ray Microanalysis System- ชด Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)



เทคนค เอกซเรยดฟแฟรกชน หรอเทคนค XRD เปนเทคนคทนารงส x มาใชวเคราะหสารประกอบทมอยในสารตวอยางและนามาใชศกษารายละเอยดเกยวกบโครงสรางผลกของสารตวอยาง เทคนค XRD อาศยหลกการของการยงรงส x ททราบความยาวคลน () ไปกระทบชนงานทาใหเกดการเลยวเบนของรงสทมมตาง ๆ กน โดยมหววดเปนตวรบขอมล เนองจากองศาในการเลยวเบนของรงส x จะขนอยกบองคประกอบและโครงสรางของสารทมอยในตวอยาง ขอมลทไดรบจงสามารถบงบอกชนดของสารประกอบทมอย ในสารตวอย างและสามารถนามาใช ศกษา รายละเอยดเกยวกบโครงสรางของผลกของสาร ตวอยางนน ๆ ได นอกจากนขอมลทไดยงสามารถนามาหาปรมาณของสารประกอบแตละชนดในสารตวอยาง ปรมาณความเปนผลก ขนาดของผลก ความสมบรณของผลก การจดเรยงตวของผลกและความเค นตกค างของสารประกอบใน สารตวอยาง อกทงความหนาของฟลมไดอกดวย เทคนคเอกซเรยฟลออเรสเซนส หรอ เทคนค XRF เปนเทคนคทใชในการหาชนดและปรมาณของธาตในสารตวอยางทงทเปนของแขง ของเหลวและสามารถแขวนได เทคนค XRF อาศยหลกการของการยงรงส x ทมพลงงานสงไปกระทบชนงานทาใหชนงานเกดการปลอยโฟตอนออกมา (Fluoresced) เนองจากโฟตอนทถกปลอยออกมาจากธาตตางชนดในชนงานจะมความยาวคลน (พลงงาน) เฉพาะสาหรบธาตนน ๆ จงทาใหสามารถบงชชนดของธาตทมอยในตวอยางได ทงนปรมาณโฟตอนเปลงออกมาขนอยกบปรมาณของธาตนนในสารตวอยาง ขอมลนจงสามารถนามาวเคราะหหาปรมาณของธาตและชนดได

หองปฏบตการเอกซเรยดฟแฟรกชนและเอกซเรยฟลออเรสเซนส(XRD/XRF X-ray Techniques Laboratory: XRAY)


วเคราะหชนดของสารประกอบในตวอยาง (ชน ผล ฟลมหนาและฟลมบาง)วเคราะหคาความเปนผลกสมพทธวเคราะหขนาดของผลกของสารประกอบวเคราะหการจดเรยงตวของผลกวเคราะหความเคนตกคางวเคราะหชนดและปรมาณของธาตในตวอยาง (O-U, 0.01-100 wt%)

- Semi-Quantitative (Standardless Method)- Quantitative Analysis ของ Refractory Ceramics (High Silica, High Alumina) และแรบางชนด

- สราง Standard Calibration Curve ของชด ตวอยางเฉพาะ

การวเคราะหดวยเทคนค XRD และ XRF อน ๆ


หองปฏบตการโครมาโทกราฟ(Chromatography Laboratory: GPC) นาหนกโมเลกลของพอลเมอรเปนสมบตทมความสาคญ สามารถใชบงบอก คณภาพของพอลเมอรทนามาเปนวตถดบ ทาใหสามารถควบคมหรอปรบปรงคณภาพของผลตภณฑใหเหมาะสมกบการใชงานและมสมบตไดมาตรฐานตรงตามความตองการ เทคนคในการหานาหนกโมเลกลทหองปฏบตการเปดใหบรการคอ Gel Permeation Chromatography (GPC) ซงเปนเทคนคทนยมใชกนอยาง แพรหลาย และมขอดคอนอกจากจะสามารถวเคราะหนาหนกโมเลกลไดแลว ยงสามารถใหขอมลทางดานการกระจายตวของนาหนกโมเลกลไดอกดวย ตวอยางงานทสามารถใหบรการวเคราะหทดสอบ ไดแก

พอลเมอรสงเคราะห ไดแก โพลสไตรน โพลไวนลคลอไรด โพลไวนลอะซเตท โพลเอสเตอร และอะครเรซน เปนตนพอลเมอรชวภาพ ไดแก ไคโตซาน แปง แซนแทนกม และมอลโตเดรกตรน เปนตน

การใหบรการภาคเอกชนวเคราะหจานวนหนวยของโมโนเมอรทซากนในสายโซโมเลกลวเคราะหนาหนกโมเลกลพอลเมอรและโอลโกเมอร (Oligomer: สารโมเลกลขนาดกลาง)ศกษาการเกดพอลเมอรไรเซชนศกษาการเสอมสลายของพอลเมอร



การศกษาโครงสรางทางเคมของสารประกอบอนทรยตาง ๆ รวมถงพอลเมอรการวเคราะหเปอรเซนต cis- หรอ trans- และการจดเรยงตวแบบ iso-, syndio- หรอ atactic ของพอลเมอรการตรวจสอบนาหนกโมเลกลของพอลเมอร ทมความยาวสายโซไมมากนกการวเคราะหหาเปอรเซนตการเชอมโยงของยางหรอพอลเมอรเชงตาขาย

NMR เปนเทคนคทใชในการศกษาโครงสรางทางเคมของโมเลกลทงในเชงคณภาพและเชงปรมาณ เครอง NMR ทใหบรการ ไดแก Bruker Biospin DPX-300 และ AV-500 ซงสามารถวเคราะหสารตวอยางทงในสภาพทเปนสารละลายหรอในสภาพของแขง

หองปฏบตการนวเคลยรแมกเนตกเรโซแนนซสเปกโตรสโคป(Nuclear Magnetic Resonance Laboratory: NMR)

3 ศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต National Nanotechnology Center (NANOTEC)

3


กลมวสดเคลอบนาโน ตวอยางเชน วสดเคลอบผวนาโน ลดความฝด กระจกไรคราบสกปรก และวสดเคลอบสงทอ กนนา และกนเปอน เปนตนกลมวสดดดซบ กรอง และตวเรงปฏกรยา ตวอยางเชน แผนกรองโมเลกล แผนพอลเมอรนาไฟฟา และตวเรงปฏกรยานาโนซโอไลต เปนตนกลมวสดประกอบแตง ตวอยางเชน วสดเสรมแรงดวยทอคารบอนนาโนและเสนลวดเซรามกสนาโน เปนตน

หองปฏบตการวเคราะหระดบนาโน

เครองมอและเทคนคทใหบรการ1. Atomic Force Microscope กล องจลทรรศนแรงอะตอม (Atomic Force Microscope) หรอ AFM เปนกลองจลทรรศนชนดหวอาน สองกราด (Scanning Probe Microscopes: SPMs) ชนดหนง AFM มหลกการทางานโดยการใชหวอานซงเปนเขมขนาดเลกประมาณ 10 นาโนเมตร เปนตววดแรงดงดดหรอแรงผลก ทเกดขนระหวางหวเขมกบพนผวทตองการวเคราะหเพอสรางเปนภาพ โดยเมอกดหวอานลงบนพนทจะตรวจวด จะเกดแรงทกระทาตอกน (Cantilever) ของหวอานจะทาใหหวอานเอยงดวยมมตาง ๆ กนตามสภาพความสงตาของพนผวซงจะสามารถตรวจวดไดจากมมสะทอนของลาแสงเลเซอรทยงลงไปยงกานของหวอาน จากนนคอมพวเตอรกจะแปลงสญญาณออกมาเปนภาพของพนผวทตองการตรวจสอบไดโดย AFM ความสามารถพเศษคอ สามารถใชไดกบพนผวทหลากหลายทงทเปนฉนวนและพนผวทนาไฟฟาได และมระดบความสงตา (Rounghness) ไมเกน 4 ไมโครเมตร และขนาดภาพสแกนใหญทสดไมเกน 100 ไมโครเมตร

การใหบรการภาคเอกชน 1. AFM (Atomic Force Microscope: Contact Mode) เปนโหมดสาหรบวดคณสมบตทางดานกายภาพ (Physical Property) โดยทหววดสมผสกบผวของตวอยางเหมาะกบลกษณะผวตวอยาง ทแขง เชน ฟลมบาง เปนตน สามารถวเคราะหคา Ra (Roughness), Friction Force, Particle & Grain Snalysis, Pitch & Height Measurement. 2. DFM (Dynamic Force Microscope: Non Contact Mode) เปนโหมดสาหรบวดคณสมบตทางดานภายภาพโดยทหววดจะไมสมผสกบผว ของตวอยาง เหมาะกบลกษณะผวตวอยางทออนนม เชน พอลเมอร เปนตน สามารถวเคราะหหาคา Ra (Rounghess), Phase Analysis, Particle & Grain Analysis, Pitch & Height Measurement.


3. VE-AFM / VE-DFM (Viscoelastic AFM / DFM) เปนโหมดสาหรบวดลกษณะความยดหยนของสารจาพวกพอลเมอร ทรวมกนอยหลาย ๆ ชนด ทาใหเหนลกษณะการกระจายตวกนของพอลเมอรได 4. MFM (Magnetic Force Microscope) เปนโหมดทใช ในการวดการกระจายตวของแรงแมเหลกบนพนผวได โดยใชหววด ท เคลอบสารโคบอลตซงมคณสมบตความเปนสารแมเหลก (Ferromagnetic) เหมาะสาหรบตวอยางพวก Magnetic Storage, Memory เปนตน 5. AFM, DFM in Vacuum And Control Temperature เครอง AFM ของศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต สามารถวดในสภาวะ สญญากาศได และสามารถทจะควบคมอณหภมทปอนใหกบผว ของตวอยางได สาหรบในสวนของการควบคมความเยนจะใชไนโตรเจนเหลวเพอใหความเยนกบผวของตวอยาง ซงทาใหสามารถเหนความเปลยนแปลงของสภาพพนผวไดขณะททาการวด 6. การประยกตใชงานของเครองมอ ไดแก

วเคราะหพนผวโลหะ เชน ผวของวสดพวกเหลก อะลมเนยม เพอดลกษณะพนผวและความขรขระวเคราะหพนผวของฟลมบาง เพอดความขรขระ และดการกระจายตวของสารเคลอบบนผวฟลมบางวเคราะหลกษณะพนผวของตวอยางทางดานชวภาพ เชน ลกษณะของตวอยางดเอนเอเมอมการนาสารพวกพอลเมอรเขาไปผสม หรอดลกษณะของเซลลแบคทเรย เปนตนวเคราะหความหนาของแผนฟลม หรอวเคราะหลกของรอยตาหนทเกดขนในกระบวนการผลต เชน ว เคราะห ความลกของสารเคลอบบนแว นตา วเคราะหความหนาของสารเคลอบฟลมในระดบนาโนเมตรของกระจกรถยนตว เคราะห ลกษณะของสนามแมเหลกบนแผ นฮารดดสก หรอเครองบนทกขอมลทใชแถบแมเหลกตาง ๆ วเคราะหดขนาดของอนภาคนาโนชนดตาง ๆ ทเคลอบเกาะบนผวของตวอยาง เชน วเคราะหขนาดของอนภาคไททาเนยมนาโนบนผวของกระจก ทสามารถทาความสะอาดตวเองได เปนตนวเคราะหดการกระจายตวของสารหลาย ๆ ชนด ทรวมตว หรอกระจายตวกนอยบนพนผวของตวอยาง เชน ฟลมพอลเมอรทประกอบไปดวยสารพอลเมอรหลาย ๆ ชนด จะทาใหสามารถเหนการรวมตว หรอการกระจายตวกนของสารได


2. Antimicrobial Test ผลตภณฑนาโนเทคโนโลย ในปจจบนเปนทสนใจของผบรโภคเปนอยางมากและมการพฒนาอยางรวดเรวเนองจากผลตภณฑนาโนเทคมคณสมบตพเศษทเพมขนเมอเทยบกบ ผลตภณฑชนดเดยวกน เชน สมบตปองกนรงสยว ปองกนการเปยกนา ปองกนการเปอนจากคราบสกปรกบางชนด และยบยงเชอแบคทเรย เปนตน คณสมบตการยบยงเชอแบคทเรยเปนคณสมบตพเศษอยางหนงทไดรบความสนใจจากผบรโภคเปนอยางมาก เหนไดจากการพฒนาผลตภณฑตาง ๆ โดยใชนาโนเทคโนโลย เพอใหผลตภณฑมคณสมบตดงกลาว เชน เครองนงหม ผลตภณฑจากผา ผลตภณฑพลาสตกและเซรามก เครองใชไฟฟา ตเยน เครองปรบอากาศ และผลตภณฑเครองหนง เปนตน การทดสอบฤทธการยบยงเชอแบคทเรยดวยวธมาตรฐาน AATCC 100, AATCC 147, JIS Z 2801, ASTM E2149-01 รายงานผลเปนรอยละของการลดจานวนแบคทเรย (% Microbial Reduction) สาหรบการทดสอบวธมาตรฐาน NCCLS Broth Microdilution MIC Method จะรายงานผลเปน Minimal Inhibitory Concentration (% MIC) และ Minimal Bactericidal Concentration (% MBC)

ตวอยางวสดทสามารถทาการทดสอบฤทธการยบยงเชอแบคทเรยได เชนตวอยางผาประเภทตาง ๆของแขงทไมดดซบนาของเหลว

การใหบรการภาคเอกชนการทดสอบเชงคณภาพ AATCC 147-1999การทดสอบเชงปรมาณ AATCC 100-1999, JIS Z 2801 : 2000, ASTM E2149 – 01, CCLS Broth Microdilution MIC Method

เครองมออตโนมตของหองปฏบตการทดสอบแบคทเรยAuto Spiral PlateAutomate Colony CounterWrist-action ShakerMicroplate Reader


การเคลอนทของอนภาคตลอดเวลาแบบ บราวนเนยน (Brownian) นสงผลกระทบตอความเขมของ แสงทกระเจงจากอนภาค อนภาคขนาดใหญซงมคาสมประสทธการแพรเลอนตาแหนง (Translation Diffusion Coefficient) ตา จะเคลอนทชากวาอนภาค

3. Dynamic Light Scattering (DLS) Dynamic Light Scattering (DLS) เปนเทคนควดการกระเพอมของความเขมแสง หรอเรยกวา Photo Correlation Spectroscopy (PCS) ซงเปนเทคนคทใชวดขนาดของสารตวอยางในระดบนาโนเมตรไดตงแต 0.005 – 5 ไมโครเมตรสาหรบอนภาคทมขนาดเลกกวา 5 ไมโครเมตรจะเกดการแพรกระจายอยางไรทศทาง (Randomly Diffuse) ไปทวตวกลาง ในขณะเดยวกนอนภาคสามารถกอใหเกดการกระเจงของแสงไดเชนกน ความถของการกระเพอมขน - ลง สามารถตรวจจบ โดยใชหลอดทวพลงแสง (Photomultiplier) ในขณะทขนาดของอนภาคสามารถคานวณไดจากความถโดยใชสมการสโตกสและไอสไตน (Stokes - Einstein Equation) ดวยการหาคาสมประสทธการแพรเลอนตาแหนง (Translational Diffusion Coefficeient: DT) ของอนภาค ซงสมพนธกบขนาดของอนภาค (เสนผานศนยกลางเทากบ a)

ขนาดเลก หรออาจกลาวไดวา อนภาคขนาดใหญเคลอนทชาทาใหเกดความถในการกระเพอมขน - ลง ของแสงทกระเจงตา และอนภาคขนาดเลกเคลอนท ไดเรวมความถในการกระเพอมของแสงทกระเจงสงกวา ดงนนอตราการเปลยนแปลงของแสงทกระเจงจะชากวาสญญาณทไดจากการวดความเขมแสงในชวงระยะเวลาสน ๆ ของอนภาคขนาดเลก และความถในการ กระเพอมขน - ลงของความเขมแสงนจะถกสงไปยง Correlator เพอสารตวอยางตองผานการเตรยมเพอใหไดความเขมขนทเจอจางอยางเหมาะสม นอกจากนนเทคนคนยงตองการความละเอยดสง เนองจากการปองกนการรบกวนจากการกระเจงของอนภาคฝนหรอสงสกปรก

การใหบรการภาคเอกชนการวเคราะหขนาดอนภาคการวเคราะหคาศกยซตา (Zeta Potential)การวเคราะหความเสถยรของอมลชนการวเคราะหความเสถยรของสตรการเตรยมตวอยางการวเคราะหประสทธภาพของพกเมนตการวเคราะหสงปนเปอนการวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชเครองมอ ไดแก สารแขวนลอย ตวอยางพอลเมอร การเตรยมตวอยางยาและเครองสาอาง การเตรยมอมลชน สและพกเมนต นาหมกและสารปรบแตง การบาบดนาเสย


ตวอยางของการวเคราะหตวอยางชนงานดวยเครอง Zetasizer

การกระจายตวของขนาดอนภาคการวเคราะหนาหนกโมเลกลการวเคราะหคาศกยซตาการทดสอบประจของอนภาคในของเหลวดวยเทคนค Electrophoretic Mobility


4. Differential Scanning Calorimetry (DSC) DSC เปนเทคนคทใชวเคราะหทดสอบวสดโดยการวดคาพลงงานความรอนและอณหภมของสารตวอยางเปรยบเทยบ กบสารมาตรฐานเมอมการเปลยนแปลงทางกายภาพ หรอการเปลยนแปลงทางเคม เชน การหลอมเหลว การเปลยนสถานะ การเปลยนรปผลก การเกดปฏกรยาเคม เปนตน โดยพนท ใตกราฟทเกดขนจะมความสมพนธโดยตรงกบการเปลยนแปลง ความรอนของตวอยาง ในการวเคราะหตวอยาง ตวอยางจะถกวางบนจานอะลมเนยมทอยภายในเตา ทควบคมอณหภม โดยภายในเตาจะมสารอางองซงเปนจานอะลมเนยมเปลา เพอใชเปนตวเปรยบเทยบกบตวอยางภายใตสภาวะเดยวกน


วเคราะหจดหลอมเหลว (Melting Points)วเคราะหความรอนจาเพาะ (Specific Heat)วเคราะหคาพลศาสตร (Kinetics)วเคราะหความบรสทธของวสด (Purity of Materials)วเคราะหความเสถยรตออณหภม (Thermal Stability)วเคราะหการเปลยนสถานะ (Phase Transition)วเคราะหสภาพเปนผลก (Crystallinity)วเคราะหสารทมหลายโครงสราง (Desorption/Adsortion)การดด หรอคายพลงงาน (Desorption/Adsortion)การระเหย (Vaporization)การวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชงานเครองมอ ไดแก ตวอยางพอลเมอร ยา และเครองสาอางตวอยางทางเคม ส และพกเมนต ตวอยางทางปโตรเคม และสารอนทรยตาง ๆ สวนประกอบในอาหาร

5. Fluorescence Spectroscopy ฟลออเรสเซนสสเปคโตรสโคป (Fluorescence Spectroscopy) เปนเทคนคทใชวเคราะหคณสมบตของสารโดยการอาศยการดดกลนรงสยวทสงผลใหโมเลกลถกกระตนและมการสนภายในโมเลกลจากระดบขนพลงงานสถานะพน (Ground State) ไปสระดบขนพลงงานทสงขน (Excited State) เรยกวาการดดพลงงาน (Excite Energy)โมเลกลทมการ

เคลอนทไปอยในระดบของชนพลงงานทสงจะไมมความเสถยร จงมการปลดปลอยพลงงานและตกลงมาในชนระดบพลงงานทตากวา พลงงานทโมเลกลปลดปลอยจากระดบชนพลงงานกระตนชนทหนง สระดบชนพลงงานสถานะพนทจะทาใหเกดการคายโฟตอน (Emission of Photon) ทาใหเกดสเปกตรมในชวงฟลออเรสเซนส ณ คาพลงงานทกระตนทจาเพาะของสารแตละชนด


วเคราะหตวอยางในรปของเหลวและของแขงไดวเคราะหหาคา Excitation, Emission, คาคงทของ Wavelength Synchronous และ การสแกนหา คาคงทของพลงงาน Synchronous Spectralสามารถวเคราะหไดในหมวดฟลออเรสเซนส (Fluorescence) ฟอสโฟเรสเซนส (Phosphorescence) ไบโอลมเนสเซนส (Bio - Luminescence) และเคมลมเนสเซนส (Chemi – Luminescence)สามารถสแกนคา Excitation และ Emission ในรป 3 มตไดสามารถสแกนคา Synchronous และ Kinetic ในรป 3 มตไดการวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชงานเครองมอ ไดแก การศกษาทางพษวทยา การศกษาทางการแพทย การศกษาปฏกรยาระหวางเอนไซมกบสารตงตน วตามนและสารอาหาร สารอนทรย พลาสตก ยางสงเคราะหและยางธรรมชาต จอภาพ


เครองชงละเอยดทมความไวตอการเปลยนแปลงสง โดยททงหมดจะอยในเตาทสามารถควบคมอณหภมและบรรยากาศได บรรยากาศภายในอาจจะเปนแกสเฉอย เชน ไนโตรเจน หรอแกสทมความวองไว เชน อากาศ หรอ ออกซเจน โดยนาหนกของตวอยางทเปลยนแปลงจะเกดขนทอณหภมเฉพาะของสารแตละชนด โดยนาหนกทหายไปนนเกดมาจากการระเหย การยอยสลาย หรอการเกดปฏกรยาตาง ๆ


องคประกอบของสาร (Composition)เสถยรภาพทางความรอน (Thermal Stabillity/Decomposition)ปรมาณสารสมพนธทเกดปฏกรยา (Stochiometry of Reaction)จลพลศาสตรของการเกดปฏกรยา (Kinetics of Reactions)กระบวนการดด/คายพลงงาน (Desorpton/Adsorption Processes)การระเหย (Evaporation)การวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชเครองมอ ไดแก ตวอยางพอลเมอร ตวอยางทางเคม สและพกเมนต ตวอยางทางปโตรเคม และสารอนทรยตาง ๆ สวนประกอบในอาหาร

6. Thermogravimetric Analysis (TGA) TGA เปนเทคนคทใชวเคราะหความเสถยรของวสดโดยเฉพาะพอลเมอรเมอไดรบความรอน โดยการวดนาหนกของวสดทเปลยนแปลงในแตละชวงอณหภมดวยเครองชงทมความไวสง เทคนคนเหมาะสาหรบการวเคราะหการเปลยนแปลงสภาพวสดทเกยวของกบการดดซบแกสหรอระเหยของนา การตกผลก (Crystallization) อนเนองมาจากการเปลยนเฟส การแตกตวของวสด (Decomposition) ศกษาการเกดปฏกรยา ออกซเดชนและรดกชน หรอ ปรมาณสารสมพนธ (Stoichiometry) ในการวเคราะหตวอยาง ตวอยางจะถกวางบนจานขนาดเลก ซงเชอมตอกบ



7. UV/VIS Spectroscopy UV/VIS Spectrophotometer เปนเครองมอทใชในการตรวจวดปรมาณแสงและคา Intensity ในชวงรงสยวและชวงแสงขาวททะลผานหรอถกดดกลนโดยตวอยางทวางอยในเครองมอ โดยทความยาวคลนแสงจะมความสมพนธกบปรมาณและชนดของสารทอยในตวอยางซงสวนใหญจะเปน สารอนทรย สารประกอบเชงซอน และสารอนนทรยทสามารถดดกลนแสงในชวงความยาวคลนเหลานไดคณสมบต ในการดดกลนแสงของสารเมอโมเลกลของตวอยางถกฉาย ดวยแสงในชวงรงสยวหรอแสงขาวทมพลงงานเหมาะสมจะทาใหอเลกตรอนภายในอะตอมเกดการดดกลนแสงแลวเปลยนสถานะไปอยในชนระดบพลงงานสงกวาเมอทาการวดปรมาณของแสงทผาน หรอสะทอนมาจากตวอยางเทยบกบแสงจากแหลงกาเนดทความยาวคลนคาตาง ๆ ตามกฎของ Beer - Lambert คาการดดกลนแสง (Absorbance) ของสารจะแปรผนกบจานวนโมเลกล ทมการดดกลนแสง ดงนนจงสามารถใชเทคนคนในการระบชนดและปรมาณของสารตาง ๆ ทมอยใน ตวอยางได

การดดกลนของแสง (Absorptance)รอยละของการทะลผานของแสง (%Transmittance)รอยละของการสะทอนของแสง (%Reflectance)รอยละของสมประสทธการสงผานของแสง (Diffuse %T)รอยละของสมประสทธการสะทอนของแสง (Diffuse %R)รอยละของ Variable Angle (%T)รอยละของคาสะทอนแสงของสเปกควลาร (Specular %R)รอยละของการสะทอนแสงรวม (Total %R)การวเคราะหอน ๆ โดยการประยกตใชงานเครองมอ ไดแก

1. การวดการดดกลนและการทะลผานของคลนแสง เชน ชนตวอยางกระจก แกว แวนตากนแดด คอนแทคเลนส กระจกเคลอบดวยฟลมบาง หมกพมพ เครองสาอาง ตวอยางทางดานชวภาพ เปนตน

2. การหาคาสะทอนของแสงในชนตวอยางฟลมและการเคลอบบนพนผว ผงโลหะ ผงออกไซดของโลหะ ผงสพลาสตก และเซรามก เปนตน

4ศนยพนธวศวกรรมและเทคโนโลยชวภาพแหงชาต National Center for Genetic Engineering and Biotechnology (BIOTEC)

4


ลำดบท ลำดบท

บรการเครองมอวทยาศาสตร

เครองมอ เครองมอ

Autoclave (Volume 50L)




Balance (Precision)

Balance (Analytical)

Block Heater

Refrigerated Centrifuge

Speed Vacuum Microcentrifuge

Ultracentrifuge

Cooling Incubator

Freeze Dryer

Gas Chromatography (GC-FID)

Gel Documentation and Densitometer

High Performance Liquid

Chromatography (HPLC Manual)

High Performance Liquid

Chromatography (HPLC Automatic)

Hot Air Oven

Ice Maker Machine

PCR

Real Time PCR

Shaker

Incubator Shaker

Spectrofluorometer

UV-VIS Seectrophotometer

(GBC, Analytik)

Spectrophotometer

Thermomixer

Water Purfication System

27.1 Deionzed Water (NanoPure)

27.2 Distilled Water

27.3 Reverse Osmosis Water

Walk - in Incubator

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

26

27

28


ลำดบท

ลำดบท

ลำดบทรำยกำรตรวจวเครำะหทใหบรกำร

รำยละเอยด

รำยกำรตรวจวเครำะหทใหบรกำร

1

2

3

4

5

6

1

2

7

8

9

10

11

โดยมรายการเอนไซมทเปดใหบรการตรวจวเคราะหมากกวา10รายการไดแกCellulase,Xylanase,Amylase, Protease, Beta-Glucanase, Phytase, Invertase, Beta-Glucosidase, Pectinase, Lipase โดยกลมลกคาเปาหมายไดแกอตสาหกรรมอาหารอตสาหกรรมอาหารสตวอตสาหกรรมฟอกยอมเปนตน

บรการตรวจวเคราะหเอนไซม



Cellulase

Xylanase

Amylase

Protease

Beta-Glucanase

Phytase

Invertase

Beta-Glucosidase

Pectinase

Lipase

Mananase

โดยการตรวจสอบสารออกฤทธตอเชอกอโรคในคนและพชตาง ๆ และความเปนพษตอเซลลสตวไดแกCytotoxicityTestsAgainstCancerousCellLines,CytotoxicityTestsAgainstNormalCellLines, Anti-HumanInfectiousPathongens,Anti-PlantDiseasePathogensเปนตน

บรการตรวจสอบหาสารออกฤทธทางชวภาพ

CytotoxicityTestsAgainstCancerousCellLines

การทดสอบฤทธตานมะเรง(Human,OralCavity,Carcinoma)

1.1ทดสอบสารPositiveหรอNegative

1.2ทดสอบหาคาIC50

การทดสอบฤทธตานมะเรงMCF-7(Human,Breast,Adenocarlinoma)

รายละเอยด




ลำดบท รำยละเอยด

การทดสอบฤทธตานมะเรงNCI-H187(Human,SmallCellLung,Carcinoma)



HL-60 (Human, Leukemia)

4.1 Non-Cytotoxic

4.2 Cytotoxic

HepG2(Human,Liver,Hepatocarcinoma)(ทดสอบหาคาIC50)

Caco-2(Human,Colon,Adenocarcinoma)(ทดสอบหาคาIC50)

B16-F10(Mouse,Skin,Melanoma)(ทดสอบหาคาIC50)

CytotoxicityTestsAgainstNormalCellLines

การทดสอบความเปนพษตอเซลลVero(AfricanGreenMonkey,Kidney,Fibroblast)



HEp-2(Human,Larynx,Epithelial)(ทดสอบหาคาIC50)

L929(Mouse,Subcutaneous,ConnectiveTissue)(ทดสอบหาคาIC50)

3T3(Mouse,Embryonic,Fibroblast)(ทดสอบหาคาIC50)

IEC6(Rat,SmallIntestine,Epithelial)(ทดสอบหาคาIC50)

BHK(21)C(13)(BabyHamster,Kidey,Fibroblast)(ทดสอบหาคาIC50)

CytotyoxicityTestsAgainstInsectCellLines

Sf9(SpodoptheraFrugiperda,PupalOvarianTissue)(ทดสอบหาคาIC50)

C6/36(AedesAlbopictus,MosquitoLarvae)(ทดสอบหาคาIC50)

Anti-HumanInfectiousPathogens

การทดสอบฤทธตานเชอมาลาเรยAnti-Malaria(PlasmodiumFalciparum)(ทดสอบหาคาIC50)

การทดสอบฤทธตานเชอวณโรคAnti-TB(MycobacteriumTuberculosis)

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16

17



การทดสอบฤทธตานไวรสเรมชนดทปากAnti-VirusHSV-1(HerpesSimplexVirusType1)

18.1ทดสอบหาสารPositiveหรอNegative


การทดสอบฤทธตานเชอยนสAnti-Fungal(CandidaAlbicans)



การทดสอบฤทธตานเชอแบคทเรยAnti-Bacteria(BacillusCereus)



Anti-PlantDiseasePathogens

การทดสอบฤทธตานเชอรากอโรคไหมในขาวAnti-BlastDisease(MagnaporthaGrisea)



การทดสอบฤทธตานเชอรากอโรคเมลดดางในขาวAnti-DirtyPanicleDisease(CurvaulrisLunata)



การทดสอบNeuraminidaseInhibition(H5N1)



คาบรการการทดสอบการปนเปอนไมโคพลาสมา

คาบรการทดสอบฤทธทางชวภาพ

อนๆ

บรการทดสอบSelectiveCOX–1Inhibition

18

19

20

21

22

23

24

25

26


บรการวเคราะหสารสกดสาร ดวยเครองมอแมสสเปกโทรมเตอร(MassSpectrometer)เครองนวเคลยรแมกเนตกเรโซแนนซ(Nuclear Magnetic Resonance: NMR) เครองอนฟาเรดสเปกโทรโฟโทมเตอร (InfraredSpectrophotometer:IR)และเครองสกดสารโดยใชคารบอนไดออกไซดแบบเหนอจดวกฤต(SupecriticalFluid Extraction: SFE)

บรการโมโนโคลนอลแอนตบอด ไดแกการเพมปรมาณโมโนโคลนอลแอนตบอดและทาแอนตบอดใหบรสทธตลอดจนจาหนายแอนตบอดตอไวรสและแบคทเรยกอโรคซงทางไบโอเทคไดวจยและพฒนาขนใหแกบรษทและหนวยงานตางๆ เชนPotyvirus,Tospoviruses,Whitefly-TransmittedGeminivirus,AcidovoraxAvenaeSubsp.Citrulli,ListeriaและProgesteroneเปนตน

ลำดบท ลำดบท

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11


รำยละเอยด รำยละเอยด

MAb Production - Company

MAb production - Government

Potyvirus

Tospoviruses

Whitefly - Transmitted Geminivirus

Acidovorax Avenae Subsp. Citrulli

Listeria

Progesterone

Mouse Monoclonal Antibody

Rabit Polyclonal Antibody

บรการแอนตบอดและชดตรวจ

(Aac-1CG Strip Test)

บรการดานจลนทรย ไดแกการเกบรกษาสายพนธจลนทรยและวสดชวภาพระดบโมเลกลเพอใชในการวจยและพฒนาในดานตาง ๆ ทงทางดานเกษตรการแพทยและอาหาร โดยรายละเอยดงานบรการไดแก บรการรบฝากจลนทรยโดยการรบฝากแบบเผยแพรและเพอการยนขอจดสทธบตรบรการสายพนธจลนทรยเพอการศกษาและวจยทงในประเทศและตางประเทศบรการจาแนกจลนทรยไดแก แบคทเรยและยสตโดยใชเทคนคทางโมเลกลตลอดจนบรการฝกอบรมวธการเกบจลนทรย/การบรหารจดการศนยจลนทรย/วธจาแนกแบคทเรยยสตและรา


รำยละเอยดกำรใหบรกำร

ลำดบท

ลำดบท



1

2

3

4

5

6

7

1

2

รำยละเอยดบรกำรดำนจลนทรย

บรการรบฝากจลนทรย/Deposit

บรการสายพนธจลนทรย/BCCStrains

บรการเกบรกษาจลนทรย/CulturePreservation

บรการจาแนกจลนทรย/Identification

4.1จาแนกยสตD1/D2Domainof26SrDNAsequenceanalysis

4.2จาแนกแบคทเรยPartial16SrDNAsequenceanalysis

4.3จาแนกแบคทเรยFulllength16SrDNAsequenceanalysis

แยกเชอใหบรสทธกรณสายพนธทไดรบเพอจาแนกมการปนเปอน

วเคราะหความสมพนธทางววฒนาการ

นบจานวนจลนทรยจากตวอยาง

บรการดานเชอรา ไดแกบรการหาลกษณะทางสณฐานวทยาบรการหาลกษณะทางอณวทยาบรการคดแยกและบรการทดสอบการเจรญเชอรา

บรกำรหำลกษณะทำงสณฐำนวทยำ

จาแนกจลนทรยตอสายพนธ

1.1หาลาดบอนกรมวธานระดบสกลตอสายพนธ

1.2หาลาดบอนกรมวธานระดบสปชสตอสายพนธ

บรกำรหำลกษณะทำงอณวทยำ

การเตรยมสายพนธกรรม



3

4

5

6

7

8

9

10

11

2.1หาลาดบนวคลโอไอทดบรเวณITS1-5.8S–ITS2

2.2หาลาดบนวคลโอไอทดบรเวณSSUrDNAและBLASTsearch

2.3หาลาดบนวคลโอไอทดบรเวณLSUrDNAและBLASTsearch

วเคราะหความสมพนธทางววฒนาการของเชอราเปรยบเทยบสายพนธอางอง

บรการตรวจวเคราะหปรมาณเชอรา

บรการวเคราะหทางเคมของผลตภณฑจากเชอราดวยเทคนคHPLC

บรการจดจาแนกเชอราระดบสกล

บรการจดจาแนกเชอราระดบสปชส

จดจาแนกเชอรา

บรการสกดสารพนธกรรม

บรการคดแยกตวอยางเชอรา

บรการทดสอบการเจรญของเชอรา

บรการเลยงเชอจลนทรย ใหบรการพฒนาเทคนคการเลยงเชอจลนทรยในอาหารเหลวและอาหารแขงในระดบขวดทดลองและในระดบถงหมกขนาด5–20ลตร

รำยละเอยดกำรใหบรกำร


1

2

3

4

5

6

7

บรการในการเลยงจลนทรยบนเครองเขยาทไมมเครองทาความเยน

บรการในการเลยงจลนทรยบนเครองเขยาทมบรการในการเลยงจลนทรยเครองทาความเยน

บรการในการเลยงจลนทรยในถงหมก

เกบตวอยางโดยใชเครองปนสาหรบMicrocentrifugeTube

เกบตวอยางโดยใชเครองปนแบบตงโตะ

เกบตวอยางโดยใชเครองปนแบบตงพน50-500mL,CEPAL/h

บรการเตรยมหองตวอยางโดยวธFreezeDry



8

9

10

11

เกบตวอยางในตทาความเยน-20องศาเซลเซยส

เกบตวอยางในตทาความเยน-80องศาเซลเซยส

ฝกอบรมในการใชถงหมก

คาบรการในการเลยงจลนทรยPmRab7

บรการตรวจวเคราะหคณภาพแปงและผลตภณฑมนสาปะหลง ทงการตรวจสอบคณภาพทางเคม คณภาพทางกายภาพคณภาพทางชวภาพ และการตรวจสอบ ทางชวเคม

รำยละเอยดกำรตรวจวเครำะหคณภำพแปงและผลตภณฑมนสำปะหลง

ลำดบท กำรวเครำะห วธกำรกำรวเครำะห

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

ปรมาณความชน(MoistureContent)

%เชอแปง(%Starch)

ปรมาณแปง(%Starch)

ปรมาณโปรตน(Protein)

ปรมาณไขมน(Fat)

ปรมาณเถา(Ash)

ปรมาณเสนใย(Fiber)

ปรมาณไซยาไนด(Cyanide)

ปรมาณซลเฟอรไดออกไซด(Sulfurdioxide,SO2)

กาลงการพองตวและการละลาย

สมมลเดกซโตรส(DextroseEquivalent)

พเอช(PH)

ความขาวของแปง

AOAC (1990)

มอก.274-2521

Glucoamylase method AACC (1990)

AOAC (1990)

AOAC (1990)

AOAC (1990)

AOAC (1990)

AOAC (1990)

มอก.268-2521

pH meter (Horiba F23)



ขนาดและการกระจายตวของเมดแปง

ปรมาณอะมโลสดวยHPSEC

ปรมาณอะมโลสดวยไอโอดน

ปรมาณอะมโลสดวยConA

ปรมาณอะมโลส(AmperometricTitration)

ปรมาณแปงในนาตาล(%Starch)

Oligosaccharide by HPLC for Suger

ปรมาณเถาซลเฟต

ดนทราย/เถาทไมละลายในกรด

GUMในผลตภณฑนาตาล

Neutral Detergent Fiber (NDF)

Acid Detergent Fiber (ADF)

Acid Detergent Fiber (ADF)+Lignin

ปรมาณเยอ(Pulp)

ความเหนยวดวยเครอง RVA (Rapid ViscoAnalyser)

ความเหนยวดวยเครองBrabender

DSC (Differential Scanning Calorimeter) +

Retrogradation

% Gelatinization by DSC

Laboratory Manual for South Africa Sugar Factories, 1985

AOAC (1995)

AOAC (1990)

ดวยวธการตกตะกอนดวยเอทานอลและเผาหาเถา

AOAC (1990)

AOAC (1990)

AOAC (1990)

มอก.274-2521

แปง3กรม(ความชน14%)นา25กรม.Profile : Std1 (Newport Scientific Method, 1997)

ShueyW.C. and K.H. Tipples. TheAmylographhandbook,1980(แปง6%(w/w)ปรบนา500กรม.)

เครองPERKINELMERDSC7วธของKim

(1995)

เครองPERKINELMERDSC7วธของKim

(1995)

14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

26

27

28

29

30

31



%GelatinizationดวยDSC(panใหญ+Retro)

%GelatinizationดวยDSC(panใหญ)

Water Activity (aw)

การเตรยมตวอยาง

การยอยสลายทางชวภาพ

ฟอสฟอรส

ความละเอยด(150ไมโครเมตร,แปง100g)

ความเหนยวดวยเครองBrookfield

Total plate count

E. coli

Yeast and Mold

Salmonella sp.

Coliform

Operator’s Manual Aqua Lab

ดดแปลงจากมอก.274-2521

เครองBrookfieldRheometer

Compendium of Methods for the

Microbiological Examination of Foods

American Public Health Association

(HPHA). 2 nd, 1984




(HPHA). 2 nd, 1984




(HPHA). 2 nd, 1984




(HPHA). 2 nd, 1984




(HPHA). 2 nd, 1984

32

33

34

35

36

37

38

39

40

41

42

43

44



Hardness

การวเคราะหนาตาลดวยเครองHPLC(DP1-7)

การวเคราะหนาตาลดวยเครองHPLC(Oligosaccharide)

วเคราะหคณภาพมนเสน/มนอดเมด(กรมการคา

ตางประเทศ)

ตรวจวเคราะหแปงมน(กรมการคาตางประเทศ)

DS Acetyl Content

ความหนดRheometer

DS Carbonyl Content

Thermophelic Bacteria

AmyloseContent (ถาสงตวอยางเดยวคดเพม

100บาท)

องคประกอบนาตาล(Oligosaccharide)

Typical Carbohydrate Profile Dextrose /

Maltose / Maltotriose / Higher Sugars

ปรมาณเดกซแทรนในนาตาล

ปรมาณเถาโดยการวดคาConductivity

ปรมาณหมAcetate

ความขาวของแปง(Whiteness)

ขนาดและการกระจายตวของขนาดเมดแปง

(Size Distribution)

มอก.638-2529

Ion Chromatography

ChromatographyหาปรมาณDP1(Dextrose),

DP2 (Maltose), DP3 (Maltotriose)

ICUMSA, (1994)

เครองConductivityMeter

JECFA (1997)

เครองKettC-100-3

เครองImageAnalyser

45

46

47

48

49

50

51

52

53

54

55

56

57

58

59

60

61


บรการตรวจวเคราะหไวรสโรคกง ใหบรการแบบครบวงจรครอบคลมการตรวจไวรสในกงตลอดจนการแกปญหาสขภาพกงชวเคมหองปฏบตการตรวจวเคราะหแบบครบวงจรมประสบการณในการตรวจไวรสในกงตลอดจนการแกปญหาสขภาพกงในอตสาหกรรมมากกวา 10 ป ดวยผลงานวจยและพฒนาทเปนอกหนงงานหลก ทาให หองปฏบตการและเทคนคPCRของBIOTECมมาตรฐานสงสดสาหรบอตสาหกรรมกงไทยทางหนวยมการเปดใหบรการดงตอไปน

WSSV Nested PCR

TSV RT Nested PCR

MBV Nested PCR

LANV RT-Nested PCR

IMNV RT-Nested PCR

Total Bacteria Count

IHHNV Nested PCR

YHV RT- Nested PCR

HPV Nested PCR

MRNV RT- Nested PCR

KHVNestedPCR

Total Vibrio Count

บรการตรวจวเคราะหทางเคม สงแวดลอม และอาหาร ใหบรการตรวจสอบคณภาพผลตภณฑ พารามเตอรในการควบคมคณภาพทางสงแวดลอม การวเคราะหคณภาพนาเสยและการวเคราะหคณภาพในอตสาหกรรมอาหาร

5ศนยเทคโนโลยอเลกทรอนกสและคอมพวเตอรแหงชาต National Electronics and Computer Technology Center (NECTEC)

5


ศนยเทคโนโลยไมโครอเลกทรอนกส(Thai Microelectronics Center: TMEC) TMEC ใหความสาคญกบการวจยและพฒนา Silicon-Based Sensor ควบคไปกบการพฒนาเทคโนโลยการผลตวงจรรวม สาหรบการพฒนา Smart Sensor ซงจะสามารถนาไปประยกตใชในการผลตผลตภณฑตาง ๆ เชน เครองใชไฟฟา อปกรณโทรคมนาคม เครองมอวดตาง ๆ รวมทงในอปกรณ/ชนสวนอเลกทรอนกสสาหรบรถยนต เปนตน ในปจจบนมหนวยวจยและพฒนาในสงกด 2 หนวยคอ ฝายวจยและพฒนาเทคโนโลยไมโครอเลกทรอนกส และงานออกแบบวงจรรวม

การวเคราะหหาจดบกพรองบนวงจรรวมมการบรการหาจดบกพรองทอาจเกดขนบนวงจรรวม หลงการบรรจเปนผลตภณฑแลว ซงจะตองมกระบวนการเปดบรรจภณฑ (De-Capsulation) การวเคราะหทงทางไฟฟา และการวเคราะหในระดบจลภาค เพอตรวจหารองรอยความเสยหาย หรอความผดปกตตาง ๆ ทอาจเกดจากกระบวนการผลต การเกบรกษา หรอ กระบวนการบรรจการวเคราะหองคประกอบของวสดปนเปอนบนชนงานในกระบวนการผลตตาง ๆ ทจะตองควบคมความสะอาดของชนงาน จาเปนตองมการวเคราะหเพอตรวจสอบชนดของวสดปนเปอนเพอใชในการหาทมาของแหลงปนเปอน หรอการตรวจสอบขอบกพรองในกระบวนการผลต แตเครองมอวเคราะหเหลานมกมราคาแพง และจาเปนตองใชบคลากรทมความรและทกษะในการ ปฏบตการศนยเทคโนโลยไมโครอเลกทรอนกส จงเปดใหบรการวเคราะหวสด ปนเปอนดวยเทคนคสเปกโตรสโคป (Spectroscopy) เชน Auger Electron Spectroscopy, Energy Dispersive X Ray Spectroscopy เปนตน นอกจากนเทคนคดงกลาวยงสามารถใหบรการวเคราะหองคประกอบของวสดทปลกสรางขน เชน โลหะผสม การเคลอบผวตาง ๆ เปนตน



การใหบรการตรวจวเคราะหคณสมบตทางไฟฟาของแผนวงจรรวมใหบรการวเคราะหคณสมบตทางไฟฟาดวยเครองมอ Probe Station ในระดบ Wafer Scale Circuit ประกอบกบชดเครองมอวเคราะหทางไฟฟา ซงจะสามารถคานวณคาคณสมบต พนฐานของอปกรณในวงจรรวมและรายงานผลแบบอตโนมต ขอมลคณสมบตทางไฟฟานจะถกนาไปใชในการปรบปรงการออกแบบวงจรรวม เพอพฒนาการผลต หรอการพฒนาสมรรถนะของวงจรรวมตอไป

สงอานวยความสะดวกหองสะอาด คลาส 100 และ คลาส 10,000 ขนาด 1,000 ตารางเมตรพรอมพนทสนบสนนสายการผลตเทคโนโลยซมอส โดยใชแผนซลกอนขนาดเสนผานศนยกลาง 6 นวซอฟตแวรสาหรบการออกแบบวงจรรวม ซงไดแก EDA Tools, Cadence IC Design Environment, Tanner EDA Tools และ Xilinx ISE Foundationซอฟตแวรสาหรบการจาลองกระบวนการผลตและอปกรณอเลกทรอนกส: TSUPREM และ MEDICIการผลตกระจกตนแบบลวดลายวงจรรวม/ไมโครเซนเซอรเครองมอสาหรบการวดและวเคราะหพารามเตอรทางไฟฟา


กลไกการสนบสนนและบรการภาคเอกชนสานกงานพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยแหงชาต (สวทช.)National Science and Technology Development Agency (NSTDA)

สานกงานพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยแหงชาต (สวทช.) เปนองคกรทหมนเรยนร ม งเสรมสรางความสามารถทางวทยาศาสตรและเทคโนโลย ของประเทศ ในสาขาทมความสาคญยงยวดตอการพฒนาเศรษฐกจและสงคม ไดดาเนนงานผานการทางานรวมกนของศนยวจยแหงชาต 4 ศนย ไดแก

ศนยพนธวศวกรรมและเทคโนโลยชวภาพแหงชาต (BIOTEC) มงพฒนางานดานเทคโนโลยชวภาพศนยเทคโนโลยโลหะและวสดแหงชาต (MTEC) ม งพฒนางานดานเทคโนโลยทเกยวของกบวสดตาง ๆศนยเทคโนโลยอเลกทรอนกสและคอมพวเตอรแหงชาต (NECTEC) มงพฒนางานดานอเลกทรอนกสและเทคโนโลยคอมพวเตอรศนยนาโนเทคโนโลยแหงชาต (NANOTEC) มงพฒนางานดานนาโนเทคโนโลย

สวทช. ยงใหการสนบสนนและบรการตาง ๆ สาหรบภาคเอกชน ไดแก1. เงนกดอกเบยตา ใหแกเอกชนในภาคอตสาหกรรมการผลต เพอการคนควา วจยและพฒนา หรอเพอใชเทคโนโลยในการพฒนาผลตภณฑและกระบวนการผลตตามความตองการของบรษท

1.1 วงเงนก ใหกสงสด 30 ลานบาท และไมเกน 75% ของงบประมาณโครงการ

1.2 ระยะเวลาเงนก ไมเกน 7 ป นบตงแตวนทไดรบเงนกงวดแรก1.3 ระยะเวลาปลอดหน (เงนก) ไมเกน 2 ป (ขนอยกบดลพนจของสถาบน

การเงนทเขารวม)2. ยกเวนภาษเงนไดนตบคคล เจาของโครงการจะไดรบการยกเวนภาษเงนไดนตบคคลสาหรบเงนไดของบรษทหรอหางหนสวนนตบคคลเปนจานวนรอยละ 100 ของรายจายทไดจายไปเปนคาจางเพอทาการวจยและพฒนาเทคโนโลย หรออกความหมายหนงคอ สามารถหกคาใชจายสาหรบการวจยและพฒนาเทคโนโลย ไดเปนสองเทาของคาใชจายจรง3. บมเพาะธรกจเทคโนโลย เปนพเลยงใหกบผประกอบการเทคโนโลยใหม โดยการใหคาปรกษาและฝกอบรมทางธรกจ ตลอดจนเชอมโยงใหเขาถงทรพยากรทจาเปนเพอใหสามารถเรมตนธรกจและนาธรกจใหอยรอดได4. รวมลงทน เพอสงเสรมใหภาคเอกชนมการลงทนในกจการทจะชวยเพมพน ขดความสามารถในการพฒนา วทยาศาสตรและเทคโนโลยของประเทศ โดยจะสนบสนนดานเงนทน


5. สทธประโยชนเพมเตมจาก BOI ผประกอบการทสนใจสามารถสนบสนนเงนเขากองทนเพอการพฒนาวทยาศาสตรและเทคโนโลยของ สวทช. นาไปขอรบสทธและประโยชน เพมเตมสาหรบการลงทนจาก BOI ไดงาย สะดวก และรวดเรว6. บรการทปรกษาและสรรหาผเชยวชาญดานการผลต เพอวนจฉยปญหาทางเทคนคและแนวทางพฒนาธรกจ โดยทปรกษาเทคโนโลย (ITA) และผเชยวชาญเฉพาะทาง โดยใหการสนบสนนดานการเงน ดงน

1. สนบสนนคาตอบแทนผเชยวชาญ 100% เพอวนจฉยปญหาทางเทคนค และแนวทางพฒนาธรกจ

2. สนบสนนคาใชจายในการดาเนนโครงการสงสด 50% ของงบประมาณโครงการ ภายในวงเงน 50,000 บาท ในหมวดคาตอบแทนผเชยวชาญ (รวมคาเดนทางและทพก) คาวเคราะหและทดสอบ คาวสด และครภณฑ ในการทาเครองตนแบบ ฯลฯ

3. สนบสนนแตละบรษทไดถง 2 โครงการตอป7. บรการทปรกษาดานทรพยสนทางปญญา จดทาสญญาเกยวกบการขออนญาต นาสทธเทคโนโลยของ สวทช. และเครอขาย ไปใชประโยชนเชงพาณชย ใหคาปรกษา ดานทรพยสนทางปญญา รบดาเนนการเกยวกบการขอจดสทธบตร เครองหมายการคา และจดแจงลขสทธดวยคาบรการทเหมาะสม8. NSTDA Academy ใหบรการฝกอบรม ใหคาปรกษาทางวชาการและเทคนค ออกแบบ และพฒนาหลกสตรสาหรบพฒนาบคลากรสาขาวชาชพเทคโนโลยขนสง ครอบคลมดานวทยาศาสตรและเทคโนโลยในสาขาท สวทช. มความเชยวชาญ เพอยกระดบขดความสามารถดานวทยาศาสตรและเทคโนโลยของบคลากรในภาคการผลตและบรการของไทย9. โครงสรางพนฐาน

อทยานวทยาศาสตรประเทศไทย นคมวจยแหงแรกพรอมดวยโครงสรางพนฐาน ทางวทยาศาสตรและเทคโนโลย ซงรวมถงพนทเชาคณภาพสง สงอานวย ความสะดวกและบรการทตอบสนองตอความตองการ ของธรกจเทคโนโลยอยางครบวงจรเขตอตสาหกรรมซอฟตแวรประเทศไทย แหลงรวมการสรางคลสเตอรสาหรบอตสาหกรรมซอฟตแวร บรการใหเชาพนทสานกงานสนบสนนการถายทอดเทคโนโลย สงเสรมการปรบปรงกระบวนการซอฟตแวร สรางความรวมมอและขยายชองทางการตลาด กระตนใหเกดการใชเทคโนโลยสารสนเทศในการเพมขดความสามารถการแขงขนในภาคอตสาหกรรมตาง ๆศนยประชมอทยานวทยาศาสตรประเทศไทย เปนศนยประชมทนสมย พนทกวา 2,000 ตารางเมตร สามารถรองรบการจดประชมและแสดงนทรรศการไดอยางครบวงจร

สำนกงนพฒนวทยศสตรและเทคโนโลยแหงชต111 อทยานวทยาศาสตรประเทศไทย ถนนพหลโยธน ตำาบลคลองหนง อำาเภอคลองหลวง จงหวดปทมธาน 12120

โทรศพท 0-2564-7000 โทรสาร 0-2564-7003 www.nstda.or.th

Education

NSTDA Testing Service Catalogue