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FT-IR測定において、再石灰化サンプルの吸収

強度を測定した結果、表層からの深さ約 50μm

付近で一旦極大を示し、その後吸収強度が減少

し、再び深さ 100μm付近でプラトーになる IR

の吸収強度パターンを示していた（図 2赤）。

同一薄切片の TMR測定の結果、表層下脱灰病

変のミネラル量のプロファイル（図 3）は IR吸

収強度パターンとよく相関していた。

また、各波長の特異的吸収官能基は、1558、

1460cm-1付近はCO3吸収、1085cm-1付近はPO4

吸収、875cm-1付近は HPO4吸収であることか

ら、ミネラル量の少ないところ（深さ 70μm付

近）では、CO3や HPO4の相対濃度が高いとい

うことが示唆された（図 2 青）。これに対し、

PO4に関しては、深さ方向の依存性があまり認

められず、PO4の濃度はあまり変化がなかった。

図３ ミネラル分布

考察

XRD実験においては、フッ化ナトリウム存在下

で再石灰化したエナメル質において、一部置換

したフッ素化 HAPの a軸格子定数を示さなか

った。このことは、エナメル質がフッ素化アパ

タイトにまったく変化していないということを

示しているのではなく、今回の再石灰化条件で

は a軸格子定数に変化を示すほどフッ素が多く

取り込まれなかったと理解するのが良いと思わ

れる。表層下脱灰の深さ方向への検索に関して

も、a 軸格子定数に変化を示すような結晶状態

のものはなかったと考えられる。

FT-IR実験においては、ミネラル量の少ないと

ころでは、CO3や HPO4の相対濃度が高いとい

うことが示唆された。しかしながら、表層から

の吸収強度パターンが図 2のパターンを示すこ

となく、表層から 50μm以上付近までほとんど

検出できる量の反射光を得ることができず、そ

の後、吸収がゆっくり単純増加するというパタ

ーンの再石灰化サンプルも存在した。ビームが

サンプルに当たっているにもかかわらず、反射

光がほとんど得られないのは、サンプル調製の

際、エナメル質表面に対して精密に垂直に切断

されていない可能性が考えられる。光学的にサ

ンプル表層を確認できても、エッジ効果により

反射面が検出器正面に向いていない場合、極度

に反射光が減少し、得られなかったのかもしれ

ない。このような、不適切なサンプルが存在し

たため、今回、有効なサンプル数を確保するこ

とができず、再現性には乏しいことは否めない。

しかしながら、数少ない有効なサンプルでは、

CO3や HPO4の相対濃度に関して、データが得

られた。表層下脱灰病変の病巣中心では、それ

ら相対濃度が高いことが、どのような意味を持

っているのか、構造的にどうなっているのか、

再現性はどの程度であるのかなど、今後、更に

検討していかなければならない。

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