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3V LVDSクワッド
CMOS差動ライン・レシーバ
ADN4668
Rev. 0
アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいは利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ・デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は、予告なく変更される場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。 ※日本語データシートは REVISION が古い場合があります。最新の内容については、英語版をご参照ください。 ©2008 Analog Devices, Inc. All rights reserved.
本 社/105-6891 東京都港区海岸 1-16-1 ニューピア竹芝サウスタワービル 電話 03(5402)8200
大阪営業所/532-0003 大阪府大阪市淀川区宮原 3-5-36 新大阪 MT ビル 2 号 電話 06(6350)6868
特長
レシーバ入力ピンに±15 kV の ESD 保護機能を内蔵
スイッチング・レート: 400 Mbps (200 MHz)
フロー・スルー・ピン配置により PCB レイアウトを簡素化
チャンネル間スキュー: 150 ps (typ)
差動スキュー: 100 ps (typ)
最大伝搬遅延: 2.7 ns
電源電圧: 3.3 V
パワーダウン時に高インピーダンス出力
低消費電力デザイン:静止時 3 mW (typ)
既存の 5 V LVDS ドライバと互換
310 mV (typ)の小振幅差動入力信号レベルを許容
オープン入力、短絡入力、終端入力のフェイルセーフをサポート
0 V~−100 mV のスレッショールド領域
TIA/EIA-644 LVDS 規格に準拠
工業用動作温度範囲: −40~+85
薄型 TSSOP パッケージを採用
アプリケーション 1 対1データ送信
マルチドロップ・バス
クロック分配回路
バックプレーン・レシーバ
機能ブロック図
R1
R2
R3
R4
RIN1+
VCC
GND
ADN4668
RIN1–
RIN2+
RIN2–
RIN3+
RIN3–
RIN4+
ROUT1
ROUT2
ROUT3
ROUT4RIN4–
EN
EN
07
23
7-0
01
図 1.
概要
ADN4668 は、クワッド・チャンネルの CMOS 低電圧差動シグ
ナリング(LVDS)ライン・レシーバであり、400 Mbps (200 MHz)
を超えるデータ・レートと超低消費電力を提供します。フロ
ー・スルー・ピン配置を採用しているため、PCB レイアウトお
よび入力信号と出力信号の分離が容易になります。
このデバイスは低電圧(310 mV typ)差動入力信号を入力して、シ
ングルエンドの 3 V TTL/CMOS ロジック・レベルへ変換します。
ADN4668 は 4 個のレシーバを制御するアクティブ・ハイとアク
ティブ・ローのイネーブル/ディスエーブル入力(EN とEN)を持
っています。これらの信号は、レシーバをディスエーブルし、
出力を高インピーダンス状態に切り替えます。
この高インピーダンス状態により、1 個または複数の ADN4668
の出力をマルチプレクスすることができるため、静止消費電力
を 3 mW (typ)まで削減することができます。
ADN4668 とこれと対になる LVDS ドライバの組み合わせは、高
速な 1 対 1 データ伝送に対する新しいソリューションを提供し、
ECL (emitter-coupled logic)または PECL (positive emitter-coupled
logic)に対する低消費電力の代替品を提供します。
ADN4668
Rev. 0 - 2/13 -
目次 特長 1
アプリケーション 1
機能ブロック図 1
概要 1
改訂履歴 2
仕様 3
AC 特性 4
テスト回路と波形 5
絶対最大定格 7
ESD の注意 7
ピン配置およびピン機能説明 8
代表的な性能特性 9
動作原理 12
イネーブル入力 12
アプリケーション情報 12
外形寸法 13
オーダー・ガイド 13
改訂履歴
3/08—Revision 0: Initial Version
ADN4668
Rev. 0 - 3/13 -
仕様 特に指定のない限り、VDD = 3.0 V~3.6 V、CL = 15 pF (GND に接続)、すべての仕様は TMIN~TMAXで規定。1、2
表 1.
Parameter Min Typ Max Unit Conditions/Comments
LVDS INPUTS (RINx+, RINx−)
Differential Input High Threshold, VTH at RINx+, RINx−3 −35 0 mV VCM = 1.2 V, 0.05 V, 2.95 V
Differential Input Low Threshold, VTL at RINx+, RINx− −100 −35 mV VCM = 1.2 V, 0.05 V, 2.95 V
Common-Mode Voltage Range, VCMR at RINx+, RINx−4 0.1 2.3 V VID = 200 mV p-p
Input Current, IIN at RINx+, RINx− −10 ±5 +10 μA VIN = 2.8 V, VCC = 3.6 V or 0 V
−10 ±1 +10 μA VIN = 0 V, VCC = 3.6 V or 0 V
−20 ±1 +20 μA VIN = 3.6 V, VCC = 0 V
Input High Voltage, VIH 2.0 VCC V
Input Low Voltage, VIL GND 0.8 V
Input Current, II −10 ±5 +10 μA VIN = 0 V or VCC, other input = VCC or GND
Input Clamp Voltage, VCL −1.5 −0.8 V ICL = −18 mA
OUTPUTS (ROUTx)
Output High Voltage, VOH 2.7 3.3 V IOH = −0.4 mA, VID = 200 mV
2.7 3.3 V IOH = −0.4 mA, input terminated
2.7 3.3 V IOH = −0.4 mA, input shorted
Output Low Voltage, VOL 0.05 0.25 V IOL = 2 mA, VID = −200 mV
Output Short-Circuit Current, IOS5 −15 −47 −100 V Enabled, VOUT = 0 V
Output Off State Current, IOZ −10 ±1 +10 μA Disabled, VOUT = 0 V or VCC
POWER SUPPLY
No Load Supply, Current Receivers Enabled, ICC 12 15 mA EN = VCC, inputs open
No Load Supply, Current Receivers Disabled, ICCZ 1 5 mA EN = GND, inputs open
ESD PROTECTION
RINx+, RINx− Pins ±15 kV Human body model
All Pins Except RINx+, RINx− ±3.5 kV Human body model
1 デバイス・ピンに流入する電流を正としています。デバイス・ピンから流出する電流を負としています。特に注記がない限り、すべての電圧は GNDを基準にします。
2 すべての typ 値は、VCC = 3.3 V、TA = 25における値です。 3 VCCは、RINx+ と RINx−の電圧より常に高い値です。RINx−と RINx+ の電圧範囲は−0.2 V~VCC − VID/2 です。ただし、AC 仕様を満たすためにコモン電圧範囲は 0.1 V
~2.3 V になります。 4 高い VIDに対して VCMR は小さくされます。たとえば、VID = 400 mV の場合 VCMR は 0.2 V~2.2 V。0 V~2.4 V の全同相モード範囲で入力短絡でのフェイルセー
フ状態はサポートされていませんが、外部からの同相モード電圧がない場合の入力短絡についてはサポートされています。同相モード電圧を VCC/2 に設定すると、最
大 VCC − 0 V までの VID を RINx+/RINx−入力に加えることができます。VID を 200 mVから 400 mVに上げると、伝搬遅延と差動パルス・スキューが減少します。ス
キュー仕様は、同相モード範囲で 200 mV ≤ VID ≤ 800 mV に対して適用されます。 5 出力短絡電流(IOS)は大きさだけを規定するため、マイナス符号は向きのみを示します。同時に 1個の出力のみを短絡させて、最大ジャンクション温度仕様を超えない
ように注意する必要があります。
ADN4668
Rev. 0 - 4/13 -
AC 特性
特に指定のない限り、VDD = 3.0 V~3.6 V、CL = 15 (GND に接続)、すべての仕様は TMIN~TMAXで規定。1、2、3、4
表 2.
Parameter5 Min Typ Max Unit Conditions/Comments6
Differential Propagation Delay, High-to-Low, tPHLD 1.2 2.0 2.7 ns CL = 15 pF,7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3
Differential Propagation Delay, Low-to-High, tPLHD 1.2 1.9 2.7 ns CL = 15 pF, 7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3
Differential Pulse Skew |tPHLD − tPLHD|, tSKD18 0 0.1 0.4 ns CL = 15 pF, 7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3
Differential Channel-to-Channel Skew,
Same Device, tSKD23
0 0.15 0.5 ns CL = 15 pF,7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3
Differential Part-to-Part Skew, tSKD34 1.0 ns CL = 15 pF,7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3
Differential Part-to-Part Skew, tSKD49 1.5 ns CL = 15 pF, 7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3
Rise Time, tTLH 0.5 1.0 ns CL = 15 pF,7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3
Fall Time, tTHL 0.35 1.0 ns CL = 15 pF, 7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3
Disable Time, High-to-Z, tPHZ 8 14 ns RL = 2 kΩ, CL = 15 pF, 7 see Figure 4 and Figure 5
Disable Time, Low-to-Z, tPLZ 8 14 ns RL = 2 kΩ, CL = 15 pF,7 see Figure 4 and Figure 5
Enable Time, Z-to-High, tPZH 9 14 ns RL = 2 kΩ, CL = 15 pF, 7 see Figure 4 and Figure 5
Enable Time, Z-to-Low, tPZL 9 14 ns RL = 2 kΩ, CL = 15 pF, 7 see Figure 4 and Figure 5
Maximum Operating Frequency, fMAX10 200 250 MHz All channels switching
1 すべての typ 値は、VCC = 3.3 V、TA = 25における値です。 2 特に指定のない限り、すべてのテストに対するジェネレータ波形は f = 1 MHz、ZO = 50 Ω、RINx+/RINx−の tRと tF (0%~100%) は 3 ns 以下とします。 3 チャンネル間スキュー tSKD2は、入力で任意のイベントがある場合の、同一チップ上の 1 つのチャンネルの伝搬遅延と他のチャンネルの伝搬遅延との間の差として定
義されます。 4 デバイス間スキューtSKD3は、デバイス間で任意のイベントが発生したときの差動チャンネル間スキューです。この仕様は、各デバイスが同じ VCCと動作温度範囲内相
互差 5°C 以内に適用されます。 5 AC パラメータは、デザインおよびキャラクタライゼーションにより保証。 6 デバイス・ピンに流入する電流を正としています。デバイス・ピンから流出する電流を負としています。特に注記がない限り、すべての電圧は GNDを基準にします。 7 CL はプローブと治具の容量を含みます。 8 tSKD1 は、同じチャンネルの正のエッジと負のエッジとの間の差動伝搬遅延の大きさの差です。 9 デバイス間スキューtSKD4は、デバイス間で任意のイベントが発生したときの差動チャンネル間スキューです。この仕様は、推奨動作温度範囲と推奨電圧範囲を超えた
デバイス、および製造プロセス分布間に適用されます。tSKD4は|Max − Min|差動伝搬遅延として定義されます。 10 fMAXジェネレータ入力条件: f = 200 MHz、tR = tF < 1 ns (0%~100%)、50%デューティ・サイクル、差動(1.05 V~1.35 Vp-p)。出力基準: 60%/40%デューティ・サイクル、
VOL (maximum = 0.4 V)、VOH (minimum = 2.7 V)、負荷 = 15 pF (漂遊とプローブ)。
ADN4668
Rev. 0 - 5/13 -
テスト回路と波形
SIGNALGENERATOR
RECEIVERIS ENABLED
RINx+
RINx–
CL
CL = LOAD AND TEST JIG CAPACITANCE
VCC
ROUTx
50Ω 50Ω
07
23
7-0
02
図 2.レシーバの伝搬遅延と変化時間のテスト回路
80%80%
20%
1.5V
20%
1.5V
tPLHD tPHLD
RINx–
RINx+
0V (DIFFERENTIAL)
tTLH tTHL
VOH
VOL
1.2V
1.3V
1.1V
ROUTx
VID = 200mV
07
23
7-0
03
図 3.レシーバの伝搬遅延と変化時間の波形
図 4.レシーバのイネーブル/ディスエーブル遅延のテスト回路
ADN4668
Rev. 0 - 6/13 -
3V
0V
3V
0V
tPLZ
tPHZ tPZH
tPZL
VOH
GND
VOL
VCC
EN WITH EN = GNDOR OPEN CIRCUIT
EN WITH EN = VCC
50%
50%
ROUTx WITH VID = –100mV
ROUTx WITH VID = +100mV
0.5V
1.5V
1.5V
0.5V
07
23
7-0
05
1.5V
1.5V
図 5.レシーバ・イネーブル/ディスエーブルの遅延波形
ADN4668
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絶対最大定格 特に指定のない限り、TA = 25。
表 3.
Parameter Rating
VCC to GND −0.3 V to +4 V
Input Voltage (RINx+, RINx−) to GND −0.3 V to VCC + 0.3 V
Enable Input Voltage (EN, EN) to GND −0.3 V to VCC + 0.3 V
Output Voltage (ROUTx) to GND −0.3 V to VCC + 0.3 V
Operating Temperature Range
Industrial −40°C to +85°C
Storage Temperature Range −65°C to +150°C
Junction Temperature (TJ MAX) 150°C
Power Dissipation (TJ MAX − TA)/θJA
TSSOP Package
θJA Thermal Impedance 150.4°C/W
Reflow Soldering Peak Temperature
Pb-Free 260°C ± 5°C
上記の絶対最大定格を超えるストレスを加えるとデバイスに恒
久的な損傷を与えることがあります。この規定はストレス定格
の規定のみを目的とするものであり、この仕様の動作の節に記
載する規定値以上でのデバイス動作を定めたものではありませ
ん。デバイスを長時間絶対最大定格状態に置くとデバイスの信
頼性に影響を与えます。
ESD の注意
ESD(静電放電)の影響を受けやすいデバイスで
す。電荷を帯びたデバイスや回路ボードは、検知
されないまま放電することがあります。本製品は
当社独自の特許技術である ESD 保護回路を内蔵
してはいますが、デバイスが高エネルギーの静電
放電を被った場合、損傷を生じる可能性がありま
す。したがって、性能劣化や機能低下を防止する
ため、ESD に対する適切な予防措置を講じるこ
とをお勧めします。
ADN4668
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ピン配置およびピン機能説明
1
2
3
4
5
6
7
8
RIN1+
RIN2+
RIN2–
RIN4+
RIN3+
RIN3–
RIN1–
RIN4–
16
15
14
13
12
11
10
9
ROUT1
ROUT2
VCC
ROUT4
EN
ROUT3
GND
EN
ADN4668TOP VIEW
(Not to Scale)
07
23
7-0
06
図 6.ピン配置
表 4.ピン機能の説明
ピン番号 記号 説明
1 RIN1− レシーバ・チャンネル 1 の反転入力。この入力が RIN1+より負側にある場合、ROUT1はハイ・レベル。この入力が RIN1+
より正側にある場合、ROUT1はロー・レベル。
2 RIN1+ レシーバ・チャンネル 1 の非反転入力。この入力が RIN1-より正側にある場合、ROUT1はハイ・レベル。この入力が RIN1-
より負側にある場合、ROUT1はロー・レベル。
3 RIN2+ レシーバ・チャンネル 2 の非反転入力。この入力が RIN2-より正側にある場合、ROUT2はハイ・レベル。この入力が RIN2-
より負側にある場合、ROUT2はロー・レベル。
4 RIN2− レシーバ・チャンネル 2 の反転入力。この入力が RIN2+より負側にある場合、ROUT2はハイ・レベル。この入力が RIN2+
より正側にある場合、ROUT2はロー・レベル。
5 RIN3− レシーバ・チャンネル 3 の反転入力。この入力が RIN3+より負側にある場合、ROUT3はハイ・レベル。この入力が RIN3+
より正側にある場合、ROUT3はロー・レベル。
6 RIN3+ レシーバ・チャンネル 3 の非反転入力。この入力が RIN3-より正側にある場合、ROUT3はハイ・レベル。この入力が RIN3-
より負側にある場合、ROUT3はロー・レベル。
7 RIN4+ レシーバ・チャンネル 4 の非反転入力。この入力が RIN4-より正側にある場合、ROUT4はハイ・レベル。この入力が RIN4-
より負側にある場合、ROUT4はロー・レベル。
8 RIN4− レシーバ・チャンネル 4 の反転入力。この入力が RIN4+より負側にある場合、ROUT4はハイ・レベル。この入力が RIN4+
より正側にある場合、ROUT4はロー・レベル。
9 EN プルダウン付きのアクティブ・ロー・イネーブルおよびパワーダウン入力(3 V TTL/CMOS)。EN をハイ・レベルに維
持すると、ENがロー・レベルまたは断線のときに各レシーバ出力をイネーブルし、ENがハイ・レベルのときに、各レ
シーバ出力を高インピーダンス状態にして、デバイスをパワーダウンさせます。
10 ROUT4 レシーバ・チャンネル 4 の出力(3 V TTL/CMOS)。RIN4+と RIN4−との間の差動入力電圧が正のとき、この出力はハイ・レ
ベルになります。差動入力電圧が負のとき、この出力はロー・レベルになります。
11 ROUT3 レシーバ・チャンネル 3 の出力(3 V TTL/CMOS)。RIN3+と RIN3−との間の差動入力電圧が正のとき、この出力はハイ・レ
ベルになります。差動入力電圧が負のとき、この出力はロー・レベルになります。
12 GND デバイス上の全回路に対するグランド基準電圧ポイント。
13 VCC 電源入力。これらのデバイスは 3~3.6 V の電源で動作することができます。
14 ROUT2 レシーバ・チャンネル 2 の出力(3 V TTL/CMOS)。RIN2+と RIN2−との間の差動入力電圧が正のとき、この出力はハイ・レ
ベルになります。差動入力電圧が負のとき、この出力はロー・レベルになります。
15 ROUT1 レシーバ・チャンネル 1 の出力(3 V TTL/CMOS)。RIN1+と RIN1−との間の差動入力電圧が正のとき、この出力はハイ・レ
ベルになります。差動入力電圧が負のとき、この出力はロー・レベルになります。
16 EN アクティブ・ハイのイネーブルおよびパワーダウン入力(3 V TTL/CMOS)。ENをハイ・レベルに維持するか断線する
と、EN がハイ・レベルのときに各レシーバ出力をイネーブルし、EN がロー・レベルのときに、各レシーバ出力を高
インピーダンス状態にして、デバイスをパワーダウンさせます。
ADN4668
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代表的な性能特性
3.6
3.5
3.4
3.3
3.2
3.1
3.0
2.9
3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6
OU
TP
UT
HIG
H V
OL
TA
GE
, V
OH
(V)
POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)
ILOAD = –400µA
TA = 25°C
VID = 200mV
07
23
7-0
07
図 7.出力高電圧 VOH対電源電圧 VCC
33.60
33.55
33.50
33.45
33.40
33.35
33.30
33.25
3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6
OU
TP
UT
LO
W V
OL
TA
GE
, V
OL (
mV
)
POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)
ILOAD = 2µA
TA = 25°C
VID = –200mV
07
23
7-0
08
図 8.出力ロー・レベル電圧 VOL対電源電圧 VCC
–35
–37
–39
–41
–43
–45
–47
–49
–51
–53
–55
3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6
OU
TP
UT
SH
OR
T-C
IRC
UIT
CU
RR
EN
T,
I OS (
mA
)
POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V) 07
23
7-0
09
VOUT = 0V
TA = 25°C
図 9.出力短絡電流 IOS対電源電圧 VCC
–0.06
–0.07
–0.08
–0.09
–0.10
–0.11
–0.12
–0.13
–0.14
–0.15
3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6
OU
TP
UT
TR
IST
AT
E C
UR
RE
NT
, I O
S (
nA
)
POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V) 07
23
7-0
10
VOUT = 0V
TA = 25°C
図 10.出力スリーステート電流 IOS対電源電圧 VCC
図 11.スレッショールド電圧 VTH対電源電圧(VCC)
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
010k 100k 1M 10M 100M 1G
PO
WE
R S
UP
PL
Y C
UR
RE
NT
, I C
C (
mA
)
BIT RATE (bps) 07
23
7-0
12
ALL CHANNELS SWITCHING
ONE CHANNEL SWITCHING
図 12.電源電流 ICC対ビット・レート
0
–5
–10
–15
–20
–25
–30
–35
–40
–45
–50
3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6
THRESHOLD VOLTAGE, V
TH (mV)
POWER SUPP L Y VO LT AGE, V CC (V) 07237-0
1 1
V OUT = 0V T A = 25°C
ADN4668
Rev. 0 - 10/13 -
93.5
93.0
92.5
92.0
91.5
91.0
90.5
90.0–40 –15 10 35 60 85
07
23
7-0
22P
OW
ER
SU
PP
LY
CU
RR
EN
T,
I CC
(m
A)
AMBIENT TEMPERATURE, TA (°C)
VCC = 3.3V
VID = 200mV
FREQ = 200MHz
ALL CHANNELS
SWITCHING
図 13.電源電流 ICC対周囲温度(TA)
2.35
2.30
2.25
2.20
2.15
2.10
2.05
2.00–40 –15 10 35 8560
07
23
7-0
14
AMBIENT TEMPERATURE, TA (°C)
DIF
FE
RE
NT
IAL
PR
OP
AG
AT
ION
DE
LA
Y,
t PL
HD
,t P
HL
D (
ns)
tPHLD
tPLHD
VCC = 3.3V
VID = 200mV
FREQ = 200MHz
CL = 15pF
図 14.差動伝搬遅延 tPLHD、tPHLD対周囲温度 TA
4.0
3.5
3.0
2.5
2.0
1.50 0.5 1.0 1.5 3.02.0 2.5
07
23
7-0
15
COMMON-MODE VOLTAGE, VCM (V)
DIF
FE
RE
NT
IAL
PR
OP
AG
AT
ION
DE
LA
Y,
t PL
HD
,t P
HL
D (
ns)
TA = 25°C
FREQ = 200MHz
VID = 200mV
CL = 15pF
tPHLD
tPLHD
図 15.差動伝搬遅延 tPLHD、tPHLD対同相モード電圧 VCM
2.40
2.35
2.30
2.25
2.20
2.15
2.10
2.05
2.00
1.953.0 3.1 3.2 3.3 3.63.4 3.5
07
23
7-0
16
POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)
DIF
FE
RE
NT
IAL
PR
OP
AG
AT
ION
DE
LA
Y,
t PL
HD
,t P
HL
D (
ns)
tPHLD
tPLHD
TA = 25°C
VID = 200mV
FREQ = 200MHz
CL = 15pF
図 16.差動伝搬遅延 tPLHD、tPHLD対電源電圧 VCC
8
7
6
5
4
3
2
1
00 500 1000 1500 30002000 2500
07
23
7-0
17
DIFFERENTIAL INPUT VOLTAGE, VID (mV)
DIF
FE
RE
NT
IAL
PR
OP
AG
AT
ION
DE
LA
Y,
t PL
HD
,t P
HL
D (
ns)
TA = 25°C
FREQ = 200MHz
VCM = 1.2V
CL = 15pF
tPHLD
tPLHD
図 17.差動伝搬遅延 tPLHD、tPHLD対差動入力電圧 VID
200
150
100
50
0
–50
–100
–150
–2003.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6
07
23
7-0
18
DIF
FE
RE
NT
IAL
SK
EW
,t S
KD
(p
s)
POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)
TA = 25°CVID = 200mVFREQ = 200MHzCL = 15pF
図 18.差動スキューtSKD対電源電圧 VCC
ADN4668
Rev. 0 - 11/13 -
80
60
40
20
0
–20
–40
–60
–80–40 –15 10 35 60 85
07
23
7-0
19
DIF
FE
RE
NT
IAL
SK
EW
,t S
KD
(p
s)
AMBIENT TEMPERATURE, TA (°C)
VCC = 3.3VVID = 200mVFREQ = 200MHzCL = 15pF
図 19.差動スキューtSKD対周囲温度 TA
550
540
530
520
510
500
490
480
470
4603.0 3.1 3.2 3.3 3.63.4 3.5
07
23
7-0
20
POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)
TR
AN
SIT
ION
TIM
E,t T
LH
,t T
HL (
ps)
TA = 25°C
VID = 200mV
FREQ = 25MHz
CL = 15pF
tTHL
tTLH
図 20.変化時間 tTLH、tTHL対電源電圧 VCC
560
550
540
530
520
510
500
490
480
470
460
450–40 –15 10 35 60 80
07
23
7-0
21
AMBIENT TEMPERATURE, TA (°C)
TR
AN
SIT
ION
TIM
E,t T
LH
,t T
HL (
ps)
tTHL
tTLH
VCC = 3.3V
VID = 200mV
FREQ = 25MHz
CL = 15pF
図 21.変化時間 tTLH、tTHL対周囲温度 TA
ADN4668
Rev. 0 - 12/13 -
動作原理 ADN4668 は、低電圧差動シグナリング用の 4 チャンネル・ライ
ン・レシーバです。このデバイスは低電圧(310 mV typ)差動入力
信号を入力して、シングルエンドの 3 V TTL/CMOSロジックへ変
換します。
ツイストペア・ケーブルのような伝送媒体を介して受信した差
動電流入力信号が、終端抵抗 RTの両端に電圧を発生させます。
この抵抗は、媒体の特性インピーダンス(一般に約 100 Ω)にマ
ッチングさせるように選択されます。レシーバは差動電圧を検
出して、これをシングルエンド・ロジック信号に戻します。
非反転レシーバ入力 RINx+が反転入力 RINx−に対して正のとき(電
流は RT を通り RINx+から RINx−へ流れます)、ROUTxがハイ・レベル
になります。非反転レシーバ入力 RIN+が反転入力 RINx−に対して
負のとき(電流は RT を通り RINx−から RINx+へ流れます)、ROUTx は
ロー・レベルになります。
ADN4667 をドライバとして使うと、受信差動電流は±2.5 mA~
±4.5 mA (typ 値は±3.1 mA)の範囲となり、100 Ω終端抵抗の両
端に±250 mV~±450 mV の範囲を発生します。受信電圧は 1.2
V のレシーバ・オフセットを中心とする電圧になります。言い
換えると、非反転レシーバ入力のロジック 1 は (1.2 V +
[310 mV/2]) = 1.355 V (typ)で、反転レシーバ入力のロジック 1 は
(1.2 V − [310 mV/2]) = 1.045 V (typ)です。ロジック 0 に対しては、
反転と非反転の入力電圧は逆になります。差動電圧は極性が逆
になるので、RT両端のピーク to ピーク電圧振幅は差動電圧の 2
倍になることに注意してください。
電流モード・シグナリングは、RS-422 ドライバのような電圧モ
ード・シグナリングより優れた利点を提供します。
動作電流はスイッチング周波数が高くなっても一定ですが、電
圧モード・ドライバでは多くの場合動作電流は指数的に増加し
ます。これは、内部ゲートがハイ・レベルとロー・レベルとの
間でスイッチするときに発生するオーバーラップによるもので、
このオーバーラップにより電流が VCC からグラウンドへ流れま
す。電流モード・デバイスでは 2 つの出力間で一定電流を切替
えるだけなので、大きなオーバーラップ電流は発生しません。
同じことが ECL (emitter-coupled logic)と PECL (positive emitter-
coupled logic)に対してもいえますが、ECL と PECL では大きな
静止電流が流れます。
イネーブル入力
ADN4668 は、アクティブ・ハイとアクティブ・ローのイネーブ
ル入力を持っており、ディスエーブル状態ですべてのロジック
出力を高インピーダンスにして、デバイス消費電流を 9 mA
(typ)から 1 mA (typ)へ削減します。イネーブル入力の真理値表
については表 5 を参照してください。
表 5.イネーブル入力の真理値表
EN EN RINx+ RINx− ROUTx
High Low or Open 1.045 V 1.355 V 0
High Low or Open 1.355 V 1.045 V 1
Any other combination of
EN and EN
X X High-Z
アプリケーション情報
図 22 に、ADN4667をドライバとして、ADN4668をレシーバとし
てそれぞれ使った場合の、1 対1データ伝送の一般的なアプリケ
ーションを示します。
図 22.代表的なアプリケーション回路
ADN4668
Rev. 0 - 13/13 -
外形寸法
16 9
81
PIN 1
SEATINGPLANE
8°
0°
4.50
4.40
4.30
6.40BSC
5.10
5.00
4.90
0.65BSC
0.15
0.05
1.20MAX
0.20
0.09 0.75
0.60
0.450.30
0.19
COPLANARITY0.10
COMPLIANT TO JEDEC STANDARDS MO-153-AB
図 23. 16 ピン薄型シュリンク・スモール・アウトライン・パッケージ[TSSOP]
(RU-16)
寸法: mm
オーダー・ガイド
Model Temperature Range Package Description Package Option
ADN4668ARUZ1 −40°C to +85°C 16-Lead Thin Shrink Small Outline Package [TSSOP] RU-16
ADN4668ARUZ-REEL71 −40°C to +85°C 16-Lead Thin Shrink Small Outline Package [TSSOP] RU-16
1 Z = RoHS準拠製品
D07237
-0-3
/08
(0)-
J