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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Tecnología de Materiales
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Técnicas decaracterización
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Energia en función de parametro de red
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Analisis superficial y de la fase gaseosa
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Reflectometría
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Elipsometría
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Raman
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Espectroscopia del infrarrojo lejano
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Rayos X
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Absorcion
fluorescenciafotoelectrones
Emision
Espectroscopicas Difractométricas
Tecnicas de rayos X
Rayos X
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Absorcion
fluorescenciafotoelectrones
Emision
Espectroscopicas Difractométricas
Tecnicas de rayos X
Rayos X
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Técnicas de absorción de Rayos X
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Técnicas de emisión de Rayos X
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Métodos generales de difracción de Rayos X
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Rayos XCapas delgadas
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Rayos XCapas delgadas
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Rayos XCapas delgadas
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Rayos XCapas delgadas
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Rayos XCapas delgadas
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Rayos XCapas delgadas
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Rayos XCapas delgadas
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Microscopia Electrónica
TransmisiónBarrido
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SEM
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SEM
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VICENTE MUÑOZ SANJOSÉ
Interacción de electrones con la materia
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Electrón 1 ----- Electrón retrodispersadoElectrón 2 ----- Electrón secundario
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Microscopio electrónico de barrido
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EDAX
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Perfiles de concentración
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Imagen de electrones retrodispersados
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Imagen de electrones secundarios
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TEM
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Column of a TEMThe cylindrical vessel at the top contains the electron gun (indicated by the green line). The specimen stageor goniometer is found halfway down the column (the red line). The location of the electron lenses is indicated by the blue lines on the left (we'll look at lenses in more detail further on). The vacuum system is found throughout the column
.
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•Bright field : the standard method of recording TEM images. •Diffraction : a difficult to understand but very useful method for getting information about crystals. •Dark field : a second often-used imaging method. •High-resolution TEM imaging : (too) simply stated, a way of 'seeing atoms'. •Analysis : providing the chemical composition of the material we are looking at.
Methods in TEM
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Bright fieldDark field
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Diffraction
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Ejemplo de microscopia TEM
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High-resolution TEM imaging
High-resolution image of silicon displaying dumbbells (pairs of silicon atom columns). The distance between the atom columns in a dumbbell is 0.14 nanometres. The real structure is drawn in colour (the green lines are used to highlight the arrangement and have no direct meaning).
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Analysis
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Twins and dislocations
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Microscopía de efecto tunel
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STM
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................................. Microscopía de fuerzas atómica
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rug = 0.35 nmparece que también hay unadirección marcada
los clusters son mucho más pequeños que en la muestra CTGA30a-b
escalón de ~5 Å
Microscopía de fuerzas atómica
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ZnO
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