2
Тест к лекции №5. Принципы работы и устройство сканирующего туннельного микроскопа. 1. Какой вид имеет зависимость туннельного тока от расстояния между кончиком иглы и образцом? Линейный Экспоненциальный Параболический Гиперболический 2. Какой физический эффект лежит в основе работы сканера, осуществляющего перемещения образца относительно иглы с ангстремной точностью? Прямой пьезоэлектрический эффект Обратный пьезоэлектрический эффект Электрострикция Магнитострикция 3. В чем заключается явление крипа для сканера туннельного микроскопа? Неоднозначность зависимости изменения размеров сканера от направления изменения электрического поля При больших управляющих напряжениях зависимость изменения размеров сканера от приложенного напряжения перестает быть линейной Сканер реагирует на изменение напряжения с запаздыванием, что приводит к искажению деталей поверхности Сканер скрипит при перемещении образца относительно иглы 4. Какова типичная амплитуда тепловых колебаний атомов в кристаллических решетках при комнатной температуре? 0.002 — 0.015 Å 0.02 — 0.15 Å 0.002 — 0.015 нм 0.02 — 0.15 нм 5. Какой шум доминирует при нормальных условиях работы сканирующего туннельного микроскопа? Черный шум Дробовой шум Белый шум Фликкер-шум 6. Появление каких артефактов на СТМ-изображениях связано с формой иглы? Возникновение пилообразного вида строк сканирования Удвоение деталей изображения Возникновение автогенерации на границах частиц Различие в высоте максимумов, соответствующих атомам в разных позициях решетки 7. Появление каких артефактов на СТМ-изображениях связано с неправильной работой

Test 5

Embed Size (px)

Citation preview

Page 1: Test 5

Тест к лекции №5. Принципы работы и устройство сканирующего туннельного микроскопа.

1. Какой вид имеет зависимость туннельного тока от расстояния между кончиком иглы и образцом?

ЛинейныйЭкспоненциальныйПараболическийГиперболический

2. Какой физический эффект лежит в основе работы сканера, осуществляющего перемещения образца относительно иглы с ангстремной точностью?

Прямой пьезоэлектрический эффектОбратный пьезоэлектрический эффектЭлектрострикцияМагнитострикция

3. В чем заключается явление крипа для сканера туннельного микроскопа?

Неоднозначность зависимости изменения размеров сканера от направления изменения электрического поляПри больших управляющих напряжениях зависимость изменения размеров сканера от приложенного напряжения перестает быть линейнойСканер реагирует на изменение напряжения с запаздыванием, что приводит к искажению деталей поверхностиСканер скрипит при перемещении образца относительно иглы

4. Какова типичная амплитуда тепловых колебаний атомов в кристаллических решетках при комнатной температуре?

0.002 — 0.015 Å0.02 — 0.15 Å0.002 — 0.015 нм0.02 — 0.15 нм

5. Какой шум доминирует при нормальных условиях работы сканирующего туннельного микроскопа?

Черный шумДробовой шумБелый шумФликкер-шум

6. Появление каких артефактов на СТМ-изображениях связано с формой иглы?

Возникновение пилообразного вида строк сканированияУдвоение деталей изображенияВозникновение автогенерации на границах частицРазличие в высоте максимумов, соответствующих атомам в разных позициях решетки

7. Появление каких артефактов на СТМ-изображениях связано с неправильной работой

Page 2: Test 5

обратной связи?

Уширение частиц на изображенияхУдвоение деталей изображенияВозникновение автогенерации на границах частицРазличие в высоте максимумов, соответствующих атомам в разных позициях решетки

8. Какой из перечисленных подходов не позволит наблюдать поверхность диэлектрика с помощью СТМ?

Напыление металлических и углеродных пленокИспользование тонкой водяной пленки на образцеПрименение больших туннельных напряженийСканирование без обратной связи в режиме постоянной высоты.

9. Каково характерное сопротивление туннельного перехода?

1 ТΩ1 ГΩ1 МΩ1 КΩ

10. Что определяет высоту туннельного барьера в СТМ?

Плотность состояний вблизи уровня Ферми в материале иглы и поверхностиНастройка звеньев обратной связиРабота выхода материала иглы и поверхностиШирина вакуумного зазора между зондом и образцом