Национальная академия наук Украины Институт проблем...

Национальная академия наук Украины

Институт проблем регистрации информации(ИПРИ НАН Украины)

03113, Киев, ул. Н.Шпака, 2тел. (044) 456-83-89, факс (044) 241-7233

e-mail: ipri@ipri.kiev.ua

НОСИТЕЛИ ИНФОРМАЦИИ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННЫХ БИБЛИОТЕК

Петров Вячеслав Васильевич,директор Института проблем регистрации информации НАН Украины, член-корреспондент НАН Украины

Крючин Андрей Андреевич,заместитель директора Института проблем регистрации информации НАН Украины, член-корреспондент НАН Украины

Статистика отказа магнитных жестких дисков

Срок эксплуатации Процент отказа дисков

Кумулятивный (накопленный) процент отказа дисков

1-й год

2-й год

3-й год

4-й год

5-й год

1,7%

8%

8,6%

6%

7%

1,7%

9,7%

18,3%

24,3%

31,3%

Вероятность сохранения работоспособности без ремонта многодисковой системы

Срок эксплуатации 6 жестких дисков 12 жестких дисков

1-й год

2-й год

3-й год

4-й год

5-й год

90%

54%

30%

19%

11%

81%

29%

9%

4%

1%

Корепанов И. Как сохранить архив на десятилетия. – Режим доступу: http://www.osp.ru/lan/2008/03/4899898/

ІПРІ

а) запись с одной сторонни дорожки слежения,б) запись – с двух сторон. Шаг дорожек 1,6 мкм.

а) б)

Зона записи на оптическом WORM носителе

ІПРІ

Структура М-диска и представление информации на таком носителе

Основные технические характеристики компакт-дисков BD и UDO первого

поколения

Характеристики UDO BD

Емкость однослойного носителя, ГБ

Диаметр диска, мм

Длина волны лазерного излучения воспроизведения данных, нм

Шаг дорожек, мкм

Ширина питов, мкм

Минимальная длина питов, мкм

Числовая апертура фокусирующей системы

Толщина защитного слоя, мм

30

130

405

0,33

0,16

0,13

0,87

0,1

25

120

405

0,32

0,16

0,149

0,85

0,1

UDO носители различных поколений

UDO-1 UDO-2 UDO-3

Емкость 30 ГБ 60 ГБ 120 ГБСкорость передачи данных До 8 МБ/с До 12 МБ/с До 18 МБ/сЧисловая апертура 0,7 0,7 0,85Количество регистрирующих слоев

1 2 2

Кодировка 1,7 RLL 1.7 RLL MLСкорость вращения 2000 об/минСреднее время поиска 25 мсРазмер сектора 8 КБСкорость SCSI интерфейса 80 МБ/сВремя загрузки 5 сВремя выгрузки 3 сНаработка на отказ 750 000 дисков

ІПРІ

Срок хранения данных на носителях с разными материалами подложки

1 2

1

2

пл плT T

Tt

et

t – срок хранения данных на носителе,

Тпл – температура плавления материала подложки,

Т – температура хранения носителя.

Материал подложки

Температура плавления, К

Срок хранения данных относительно компакт-

дисков из поликарбоната

Срок хранения, лет

Поликарбонат 523 1 ~ 20

Натриевое стекло 923 е1,36=3,91 ~ 80

Ситалл 1696 е4,00=54,78 ~ 1100

Кварцевое стекло 1986 е4,99=146,94 ~ 2900

Сапфир 2318 е6,13=457,73 ~ 9000

ІПРІ

Схема процесса изготовления оптического носителя для долговременного хранения данных

1 – подложка

2 – слой позитивного фоторезиста

3 – сфокусированный луч

4 – окно в слое фоторезиста

5 – ионный пучок

6 – металлический отражающий слой

7 – слой защитного лака

Информационный рельеф на поверхности сапфирового оптического диска

• Для носителей информации, используемых в электронных библиотеках характерно постоянное повышение емкости и надежности хранения данных.

• Для электронных библиотек и электронных архивов разрабатываются и изготовляются специальные профессиональные носители, характеризующиеся повышенной надежностью хранения данных.

• Для изготовления профессиональных оптических дисков, предназначенных для длительного хранения информации, целесообразно использовать подложки, изготовленные из высокостабильных материалов. При изготовлении оптических носителей, запись данных на которые производится в формате BD носителей, могут применяться подложки из кремния и сапфира.

• Запись информации в виде микрорельефных структур на носители с подложками из высокостабильных материалов может производиться на станции лазерной записи дисков-оригиналов с последующим плазмохимическим травлением подложки.

• Повышению надежности хранения информации на оптических носителях, подложки которых выполнены из высокостабильных неорганических материалов, способствует применение отражающих покрытие из высокотемпературных оксидных материалов.

Выводы