JIS 光ファイバ配線試験法発行予定の解説 - JEITA附属書C OTDR、測定能力や測定上の注意附属書D 試験コード(マスター)の検査と試験方法

JISJIS 光イバ配線試験法光イバ配線試験法JIS JIS 光ファイバ配線試験法光ファイバ配線試験法((発行予定発行予定))の解説の解説((発行予定発行予定))の解説の解説

情報配線システム標準化専門委員会情報配線システム標準化専門委員会光情報配線システム標準化グループ

JIS原案作成グループ

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ＡｇｅｎｄａＡｇｅｎｄａ

JIS 光ファイバ配線試験法の概要１

LSPM 減衰量（損失）測定法２

減衰（損失）定法３

４

OTDR 減衰量（損失）測定法

その他の重要事項４

５実験デモ

その他の重要事項


JIS JIS 光ファイバ配線試験法光ファイバ配線試験法とはとは

JIS X 5150に規定される光ファイバ配線のチャネル及びパーマネントリ JIS X 5150に規定される光ファイバ配線のチャネル及びパーマネントリ

ンクに適用される。

JIS X 5150性能要件の適合を判定する試験方法と関連手順を規定する JIS X 5150性能要件の適合を判定する試験方法と関連手順を規定する。

– 光ファイバ配線の試験用機器、試験方法、試験結果の文書化ルール

減衰量測定試験方法には LSPM(光源パワメタ)法とOTDR法を規定– 減衰量測定試験方法には、LSPM(光源･パワーメータ)法とOTDR法を規定

LSPM法：3テストコード基準法(3ジャンパ法) 及び

1テストコード基準法(1ジャンパ法)

OTDR法：ランチコード、テールコード(長尺のダミーコード)を用いた測定法

– マルチモード光ファイバの新しい励振モード条件を規定

– コネクタ端面の清掃と目視検査について規定


チャネルとパーマネントリンクチャネルとパーマネントリンク

チャネル

伝送機器伝送機器

CP

機器コード

パッチコード

機器コード

パーマネントリンク

伝送機器伝送機器

CP

JIS X 5150(ISO 11801)

機器コード

パッチコード

機器コード


JIS X 5150(ISO 11801)

JIS JIS 光ファイバ配線試験法の概要光ファイバ配線試験法の概要((本文本文))

５項一般要求事項

作業安全、伝送機器の保護、

測定精度の確保、試験結果の取り扱い、

配線インタフェスの光コネクタの互換性配線インタフェースの光コネクタの互換性

6項試験法1 光源パワーメータ(LSPM) 法験装験験試験装置、試験手順、試験結果

7項試験法2 OTDR法

試験装置、試験手順、試験結果

8項光ファイバ長試験8項光ファイバ長試験

試験装置、試験手順、試験結果


JIS JIS 光ファイバ配線試験法の概要光ファイバ配線試験法の概要((附属書附属書))

附属書 A～K

附属書 A マルチモード(GI)光ファイバの入射条件、

エンサークルドフラックス(EF)によるモード分布定義

附属書 B コネクタ端面検査の基準、傷の判定

附属書 C OTDR 測定能力や測定上の注意附属書 C OTDR、測定能力や測定上の注意

附属書 D 試験コード(マスター)の検査と試験方法

附属書 E 3テトド基準 1テトド基準それぞれの附属書 E 3テストコード基準、1テストコード基準それぞれの

場合のチャネル、パーマネントリンク減衰量

附属書 F 品質計画附属書 F 品質計画

附属書 G チャネル、パーマネントリンク最大許容損失の計算例


試験の適用試験の適用

本規格では基本試験と拡張試験の2種類が規定されており、通常のチャ

ネル、パーマネントリンクの適合試験は基本試験で行う。拡張試験は、トラネル、マネントリンクの適合試験は基本試験で行う。拡張試験は、トラ

ブルシューティングなどの目的で、配線内の個々の接続部やケーブルの損

失の詳細を視覚的に確認する場合に使用する。

基本試験（適合試験）

- LSPM法でのチャネル、パーマネントリンク減衰量試験

- OTDRまたは同様の機能をもつLSPMを用いた遅延時間/長さの測定OTDRまたは同様の機能をもつLSPMを用いた遅延時間/長さの測定

- ファイバ連続性の試験

- 極性試験

拡張試験

- OTDR法でのチャネル、パーマネントリンク減衰量試験

- OTDRを用いた伝搬遅延の測定と配線長の測定OTDRを用いた伝搬遅延の測定と配線長の測定

- OTDRを用いた個々のケーブル、コネクタ、接続点などの損失測定

- OTDRを用いたコネクタの反射減衰量

連続性試験


- ファイバ連続性の試験

- 極性試験

基本（適合）試験基本（適合）試験

試験項目基本試験拡張試験

減衰量（LSPM） ○

減衰量（OTDR） ○

反射減衰量（OTDR） ○反射減衰量（OTDR） ○

伝播遅延/光ファイバ長 ○ ○

連続性（断線） ○ ○

極性極性 ○ ○

個別ケーブル、コネクタ、 ○


接続点の損失

ISO/IEC14763ISO/IEC14763--33ののJISJIS化予定について化予定について

JIS原案(試案)作成完了( )

経済産業大臣への標準化申請実施中

日本工業標準調査会(JISC)に付議 2010年度末(予定) 日本工業標準調査会(JISC)に付議 2010年度末(予定)

JIS 制定 2011年度中(予定)

ISO/IEC 14763-3の今後の動向

Ed 2の策定準備中Ed 2の策定準備中

改定のポイントは

・曲げに強いMMF、POFの測定法の追加曲げに強いMMF、POFの測定法の追加

・測定精度の向上

・リファレンス(マスター)コネクタの規定見直し


AgendaAgenda



減衰（損失）定法３

４



５実験デモ



LSPMLSPM法の概要法の概要

光源（Light Source）とパワーメータ（Power Meter）を用いて光源（Light Source）とワメタ（Power Meter）を用いて

減衰量を測定する方法

基準値（リファレンスパワー）を測定する際に 3本のテストコー基準値（リファレンスパワー）を測定する際に、3本のテストコー

ドを使用して基準値を測定する、３テストコード基準法（いわゆ

る３ジャンパー法）を標準試験法とするる３ジャンパー法）を標準試験法とする。

特定の条件の下でパーマネントリンク減衰量を測定するときに

は１テストド基準法（いわゆる１ジンパ法）も適用できは、１テストコード基準法（いわゆる１ジャンパー法）も適用でき

る。


33テストコード基準法テストコード基準法((チャネル減衰量チャネル減衰量))

ランチコード校正用コードテイルコード

基準値測定

LS PMS D

アダプタアダプタ光源

パワーメータ

D

S：光源，D：検出器

P0 dBm

S：光源，D：検出器

チャネル測定

ランチコードテイルコード

被測定チャネル

校正用コード光源パワーメータ

S D PMLS

P1 dBm

ランチコード、テイルコードの間に基準となる校正用コードを接続して基準値を測定する。

校正用ドを被測定配線と置き換え減衰量を測定する（ ) 校正用コードを被測定配線と置き換え、減衰量を測定する。（P0-P1)dB(注：測定結果は別途計算する、最大許容損失と比較する。)

ランチコード、テイルコード、及び校正用コードの光コネクタはマスタ光コネクタであること


であること。

測定波長マルチモード 850nm、1300nmシングルモード 1310nm、1550nm

33テストコード基準法テストコード基準法((パーマネントリンク減衰量パーマネントリンク減衰量))

ランチコード校正用コードテイルコード

LS PM

基準値測定

S D

パマネントリンク測定S：光源，D：検出器

アダプタアダプタ

LS

光源パワーメータ

S D

P0 dBm

被測定パマネントリンク


パーマネントリンク測定

LS S PMD

被測定パーマネントリンク

パワーメータ校正用コード光源P1 dBm

ランチコード、テイルコードの間に基準となる校正用コードを接続して基準値を測定する。

校正用ドを被測定配線と置き換え減衰量を測定する ( ) 校正用コードを被測定配線と置き換え、減衰量を測定する。(P0-P1) dB(注：測定結果は別途計算する、最大許容損失と比較する。)

ランチコード、テイルコード、及び校正用コードの光コネクタはマスタ光コネクタであること


であること。


11テストコード基準法テストコード基準法（パーマネントリンク減衰量のみ）（パーマネントリンク減衰量のみ）

ランチコード

基準値測定

パーマネントリンク測定


P0 dBm

被測定パマネントリンク

ランチコード


パマネントリンク測定被測定パーマネントリンク

テイルコード

P1 dBm

ランチコードの出力を測定し、基準値とする。

ランチコードを被測定配線を接続し、さらに反対側にテイルコードを接続し、減衰量を測定する。（P0-P1)dB注測定結果は別途計算する最大許容損失と比較する(注：測定結果は別途計算する、最大許容損失と比較する。)

ランチコード、テイルコードの光コネクタはマスタ光コネクタであること

適用はパーマネントリンク測定のみとする。


定


最大許容損失の計算最大許容損失の計算(3(3テストコード基準法テストコード基準法))

試験を行った配線が，チャネルかパーマネントリンクかにかかわらず，3テストコード基準法で試験

を行った場合には，次の式により最大許容損失値を計算する。

MMFの場合

最大許容損失＝（配線のケーブル損失規格）＋（配線内の接続部の損失規格の合計）＋0.4dB

SMFの場合

ブ損失規格び線内接続部損失規格は特指定な限りび従う


ケーブル損失規格及び配線内の接続部の損失規格は，特に指定のない限りJIS X 5150の9.4及び10.3に従う。

注記1 ここで，「配線内の接続部」には，配線両端のインタフェースの光コネクタは含まない。

注記2 ここで定める最大許容損失は，JIS X5150に規定するチャネル減衰量／挿入損失規格とは異なる。


MMF 850nmMMF 850nmの場合の最大許容損失は？の場合の最大許容損失は？((チャネルチャネル))

MMF 850nm の場合



被測定チャネル L (m)チャネル測定


D PM1 2 N-1 NA B

3.5 X L/1000 dB

S D PMLS

N個のコネクタとLmのケーブル0.3 dB 0.75 dB 0.75 dB 0.3 dB

表4 光コネクタの挿入損失より MMF SMF光コネクタ種類挿入損失

（ランダム接続）挿入損失

（対マスタ接続）挿入損失


（対マスタ接続）

個のネクタのケル

（ランダム接続）（対マスタ接続）（ランダム接続）（対マスタ接続）

IEC 60874-19-1 (SC/PC２心) 最大 0.75 dB 最大 0.3 dB －－

IEC 60874-14-2 (SC/PC単心) －－最大 0.75 dB 最大 0.5 dB

JIS X5150 表26より MMF (850nm) MMF (1300nm) SMF (1310nm) SMF (1550)

N個のコネクタ損失＋ L mケーブルの損失 + マスターコネクタと接続する両端のコネクタA, Bの損失


減衰量 (dB/km) 3.5 1.5 1.0 1.0


個クタ損失ケ損失タクタ接続する両端クタ , 損失

= 0.75 (dB) X N + 3.5 (dB) X L/1000 + 0.3 (dB) X 2 ??

最大許容損失算出のための補正最大許容損失算出のための補正

基準値測定

LS PMS D

P0 dBmLm１ Lm2

表3 マスタ光コネクタ仕様より

マルチモード光ファイバ

シングルモード光ファイバ


LS PMS D

P0にはマスタコネクタ接続損失より光ファイバ光ファイバ

マスタ光コネクタ相互の接続損失

≦ 0.10dB ≦ 0.20dB

P0にはマスタコネクタ接続損失

Lm1及びLm2が含まれる。

被測定チネルランチコードテイルコード

被測定チャネル

S D PMLS

最大許容損失= N個のコネクタ損失＋ケブルの損失 + マスタコネクタと接続する両端のコネクタA Bの損失

N個のコネクタ損失＋ Lmケーブルの損失 + マスターコネクタと接続する両端のコネクタA, Bの損失

= 0.75 (dB) X N + 3.5 (dB) X L/1000 + 0.3 (dB) X 2 ??

最大許容損失= N個のコネクタ損失＋ケーブルの損失 + マスターコネクタと接続する両端のコネクタA, Bの損失

- マスターコネクタ2個の損失

= 0.75dB x N + 3.5dB x L/1000 + 0.3 dB x 2 – (0.1 (dB) + 0.1(dB))


P0 –P1 ≤ 最大許容損失 : 0.75 x N + 3.5 x L/1000 + 0.4 (dB)

MM 850nm MM 850nm の場合の最大許容損失の計算例の場合の最大許容損失の計算例((パーマネントリンクパーマネントリンク))

基準値測定


LS PMS D

P0 dBmLm１ Lm2

表3 マスタ光コネクタ仕様より




≦ 0 10dB ≦ 0 20dB

光源パワメタ

接続損失≦ 0.10dB ≦ 0.20dB

被測定パーマネントリンク Lm3.5 X L/1000 dB


S D PMLS1 2 N-1 N

P1 dBm

A B

最大許容損失 = N個のコネクタ損失＋ケーブルの損失 + マスターコネクタと接続する両端のコネクタA, Bの損失- マスターコネクタ2個の損失

0.3 dB 0.3 dB0.75 dB

= 0.75 (dB) x N + 3.5 (dB) x L/1000 + 0.3 (dB) X 2 – (0.1 (dB)+ 0.1 (dB))

最大許容損失


P0 - P1 ≤ 最大許容損失 : 0.75 X N + 3.5 X L/1000 +0.4

最大許容損失の計算最大許容損失の計算(1(1テストコード基準法テストコード基準法))

1テストコード基準法でパーマネントリンクの試験を行った場合には，

次の式により最大許容損失値を計算する次の式により最大許容損失値を計算する。

MMFの場合


SMFの場合


ブ損失規格び線内接続部損失規格は特指定な限りび従うケーブル損失規格及び配線内の接続部の損失規格は，特に指定のない限りJIS X 5150の9.4及び10.3に従う。

注記1 ここで，「配線内の接続部」には，配線両端のインタフェースの光コネクタは含まない。


MM 850nm MM 850nm の場合の最大許容損失の計算例の場合の最大許容損失の計算例((パーマネントリンクパーマネントリンク))

ランチコード

基準値測定


P0 dBm

P1 dBmランチコードテイルコード

被測定パーマネントリンク Lm

光源 1 2 N-1 NA B

3.5 X L/1000 dB

パワーメータ

S D PMLS

N個のコネクタとLmのケーブル

1 2 N 1 NA B

0.3 dB 0.3 dB0.75 dB 0.75 dB

表4 光コネクタの挿入損失より MMF SMF光コネクタ種類挿入損失


（対マスタ接続）挿入損失


（対マスタ接続）

個のネクタのケル




減衰量 (dB/km) 3.5 1.5 1.0 1.0

最大許容損失 = N個のコネクタ損失＋ケーブルの損失 + マスターコネクタと接続する両端のコネクタA, Bの損失

= 0 75 (dB) x N + 3 5 (dB) x L/1000 + 0 3 (dB) X 2


= 0.75 (dB) x N + 3.5 (dB) x L/1000 + 0.3 (dB) X 2

P0 - P1 ≤ 最大許容損失 : 0.75 X N + 3.5 X L/1000 +0.6




減衰（損失）測定法３

４



５実験デモ



OTDROTDR法の概要法の概要ランチコード被測定配線テイルコード

リンク長

損

リンク損失

失

(dB)

OTDRは非常に短いパルス光を入射、光ファイバで発生する後方散乱光と反射のパワー

を測定する。

距離

を測定する。

測定波長はLSPM法と同じ(MM：850、1300 SM：1310、1550)

チャネル、およびパーマネントリンクの正確な測定のために十分に長いランチコードとテイ

ルコード(いわゆるダミーコード）を使用する


ルコド(いわゆるダミコド）を使用する。

配線内のイベント（接続点など）の測定やケーブルの長手方向の損失の状態を見るのに

適している。

光ファイバの後方散乱とは光ファイバの後方散乱とは

光ファイバの断面クラッド

コア

コアを伝送する光散乱する光コアを伝送する光散乱する光

光ファイバのコアには、長手方向に屈折率の細かな変動(ゆらぎ)があり、

これによりコアを光が伝送すると、光が散乱する。光伝送、光散乱。

OTDRは、このわずかな散乱光の強さと、到達する時間を測定する。


複雑な配線の測定例複雑な配線の測定例(MM50/125)(MM50/125)

仮想チャネルランチコードテイルコード

OTDR100m 100m 100m 100m 100m 100m10m 10m


OTDROTDR法測定の注意点１法測定の注意点１

接続部では反射などの影響で測定のできないデッドゾンが発生する接続部では反射などの影響で測定のできないデッドゾーンが発生する。

そのため、接続点の距離が短い10m以下のパッチコード接続があるような

部分は事実上測定ができない場合がある。部分は事実上測定ができない場合がある。

デッドゾーンを回避するために、ランチコード、テイルコードは十分に長いも

のを使用する。

後方散乱光を測定しているため、後方散乱係数の異なっているような場

合(多くの場合は、MM50とMM62.5を誤って接続してしまったような場合)

には正確な損失測定はできない。

後方散乱係数の差による測定誤差を小さくするために、両方向からの測

定が必要である定が必要である。


デッドゾーンとはデッドゾーンとは

接続部光ファイバ

反射

反射で見えなくなる

コネクタ接続点では、反射光によるピークが発生し、その近傍の細かい損

失情報が見えなくなる。この部分をデッドゾーンと呼ぶ。デッドゾーンの大

きさは、OTDRのパルス幅により異なる。


短いパッチコードを測定した例短いパッチコードを測定した例

10mのパッチコードで接続された区間を拡大したもの

反射によるデッドゾーンでパッチコードの部分は見えず、測定ができない状態


OTDROTDR法測定の注意点２法測定の注意点２

接続部では反射などの影響で測定のできないデッドゾンが発生する接続部では反射などの影響で測定のできないデッドゾーンが発生する。

そのため、接続点の距離が短い数十mのパッチコード接続があるような部

分は事実上測定ができない。分は事実上測定ができない。

デッドゾーンを回避するために、ランチコード、テイルコードは十分に長いも

のを使用する。

後方散乱光を測定しているため、後方散乱係数の異なっているような場

合(多くの場合は、MM50とMM62.5を誤って接続してしまったような場合)

には正確な損失測定はできない。

後方散乱係数の差による測定誤差を小さくするために、両方向からの測

定が推奨される定が推奨される。


66点法によるチャネル測定点法によるチャネル測定11（デッドゾーンの影響無（デッドゾーンの影響無))

OTDR被測定チャネルLC EC EC TC

(dB)

C1 C2

C3C4C5 A

C6L

L ( )C1 C2 C3 C4直線近似を定義するカソル L (m)C1,C2,C3,C4直線近似を定義するカーソル

C5,C6 機器コードの終端を定義するカーソル

A チャネルの減衰量（挿入損失）

L チャネル長


両方向からの減衰量測定を行いそれぞれの値をA1 及び A2 とすると

配線の損失全体 A = （A1+A2)/2 = チャネル減衰量

66点法によるチャネル測定点法によるチャネル測定22（デッドゾーンの影響あり（デッドゾーンの影響あり))


(dB)

C1 C2

C3C4

C5 A

C6L

C1 C2 C3 C4直線近似を定義するカソル L ( )C1,C2,C3,C4直線近似を定義するカーソル


A チャネルの減衰量（挿入損失）

L チャネル長

L (m)

両方向から減衰量測定を行それぞれ値を及びとすると


両方向からの減衰量測定を行いそれぞれの値を A1 及び A2 とすると

配線の損失全体 A = （A1+A2)/2 ≠ チャネル減衰量

チャネル測定チャネル測定22の場合の最大許容損失の場合の最大許容損失


(dB)

C1 C2

C3C5 A C3 C4

C6L

配線の損失全体 A = （A1+A2)/2＝チャネル減衰量＋両インタフェースのコネクタA,Bの損失

L (m)

MM(850 )の場合 A ≤ 0 75 N 3 5 L/1000 0 6 (dB)

光コネクタ種類 MMランダム接続 MM対マスタ接続 SMランダム接続 SM対マスタ接続




MM(850 nm)の場合： A ≤ 0.75 x N + 3.5 x L/1000 + 0.6 (dB)

SMの場合： A ≤ 0.75 x N + 1.0 x L/1000 + 1.0 (dB)

パーマネントリンク測定パーマネントリンク測定

OTDR被測定パーマネントリンク

LC TC

(dB)

C

(dB)

C1,C2,C3,C4直線近似を定義するカーソル


A パーマネントリンク減衰量（挿入損失）C1C2

C3 C4A

A ネントリンク減衰量（挿入損失）

L チャネル長

C3 C4

L

C5

C6

両方向からの減衰量測定を行いそれぞれの値をA1 及び A2 とすると

L (m)

配線の損失全体 A = （A1+A2)/2 ＝パーマネントリンク減衰量

MM (850nm)の場合： A ≤ 0.75 x N + 3.5 x L/1000 + 0.6 (dB)

SMの場合 A ≤ 0 75 N + 0 3 L/1000 + 1 0 (dB)


SMの場合 : A ≤ 0.75 x N + 0.3 x L/1000 + 1.0 (dB)





４その他の重要事項



５実験デモ


その他の事項その他の事項

テストコードに適用するリファレンス(マスタ)コネクタテストコードに適用するリファレンス(マスタ)コネクタの規定

マルチモードファイバ試験用光源の入射条件についての規定 EF（Encircled Flux)による定義が附属書ての規定，EF（Encircled Flux)による定義が附属書Aに記載

コネクタ端面をクリーニングすること及び端面の状態の規定の規定


リファレンスコネクタの規定リファレンスコネクタの規定

円筒形フェルールを用いた光コネクタ(1) 角形フェルールを用いた光コネクタ(2)

マルチモドシングルモドマルチモドシングルモドマルチモード光ファイバ




コア偏心量＜ 1μm ＜ 0.3μm －－

コア位置ずれ量－－＜ 1μm ＜ 0.3μm

出射角 ≦ 0.2° ≦ 0.2° ≦ 0.2° ≦ 0.2°

径精度フェルール外径精度 ±0.5μm ±0.5μm －－


≦ 0.10dB ≦ 0.20dB ≦ 0.10dB ≦ 0.20dB

注1 例：LCコネクタ（JIS C 61754-20，光ファイバコネクタかん合標準 - 第20部：LCコネクタ類（案）），MUコネクタ（JIS C 5983，F14形光ファイバコネクタ）などがある。注2 例：MPOコネクタ（JIS C 5982，F13多心光ファイバコネクタ），MT-RJコネクタ（JIS C 5988，F19形光ファイバコネクタ）などがある


コネクタ）などがある。

MMFMMFの入射条件の入射条件((エンサークルドフラックスエンサークルドフラックス/EF)/EF)

強度

EFの定義

1

強度

I(ｘ) EF (r)

Y軸

x0

コアの半径

r R

X軸

r

dxxxI )(

R

dxxxIr 0

)(

)()EF(


dxxxI0

)(

MMFMMFの入射条件の入射条件((エンサークルドフラックスエンサークルドフラックス))

r

R

dxxxI

dxxxIr 0

)(

)()EF(

dxxxI0

)(

50/125 GIのEFの例


50/125 GIのEFの例

MMFMMFの入射条件の入射条件((エンサークルドフラックスエンサークルドフラックス))

光学中心からの半径µm

ターゲット光学中心からの半径µm

ターゲット

MM 50 (850 nm) MM 50 (1300 nm)

µm

10 0.3350

15 0.6550

µm

10 0.3366

15 0.6567

20 0.9193

22 0.9751

20 0.9186

22 0.9728

光学中心からの半径ターゲット光学中心からの半径ターゲット

MM 62.5 (850 nm) MM 62.5 (1300 nm)光学中心からの半径

µmタゲット

10 0.2109

15 0 4390

光学中心からの半径µm

タゲット

10 0.2119

15 0 440915 0.4390

20 0.6923

26 0.9350

15 0. 4409

20 0.6945

26 0.9357


28 0.9783 28 0.9782

光コネクタ端面の傷について光コネクタ端面の傷について(1)(1)

コネクタ端面接着剤(ファイバを接着している場合)

コア

内部クラッド領域外部クラッド領域

クラッド光ファイバ設計

μmコア径μm

内部クラッド径μm

外部クラッド径μm

SM 8～10 58 125

50/125 50 88 125

62.5/125 62.5 94 125

MMF（倍率100倍以上） SMF（倍率200倍以上）

10（スクラッチの長さ2 0μm～5 0μm） 2（スクラッチの長さ3 0μm以下）

コア部の欠陥

許容されるスクラッチの数

10（スクラッチの長さ2.0μm 5.0μm） 2（スクラッチの長さ3.0μm以下）

0（スクラッチの長さ5.0μmを超えるもの） 0（スクラッチの長さ3.0μmを超えるもの）

10（ピットの大きさ2.0μm～5.0μm） 2（ピットの大きさ3.0μm以下）


許容されるピット／チップ数

0（ピットの大きさ5.0μmを超えるもの） 0（ピットの大きさ3.0μmを超えるもの）

光コネクタ端面の傷について光コネクタ端面の傷について(2)(2)

合格不合格

•コア領域及び内部クラッド領域には，欠陥（ファイバ内のひび又はクラック）がないこと。

•外部クラッド領域は，クラッド外周の25%を超えるような欠陥（ファイバ内のひび又は

クラック）がないこと









５実験デモ


ありがとうございました

引き続き光ファイバ損失測定実験デモを行います


Documents

JIS 光ファイバ配線試験法 発行予定 の 解説 - JEITA附属書C OTDR、 測定能力 や 測定上 の 注意 附属書D 試験コード(マスター)の検査と試験方法

JIS 光ファイバ配線試験法発行予定の解説 - JEITA附属書C OTDR、測定能力や測定上の注意附属書D 試験コード(マスター)の検査と試験方法