Agilent TechnologiesUHS-II 物理層試験ソリューション

アジレント・テクノロジー株式会社アプリケーション・エンジニアリング部坂田 健

15min

UHS-II Test GuidelineTo support adoption & improve interoperability, SDAssociation developed “UHS-II Test guideline” along with “UHS-II Spec”.Dedicated verification tools, 3rd party test houses services are available.

Test Specification for:

Part 1 UHS-II AddendumVersion 1.01

Technical Committee SD Card Association

UHS-II SpecificationsPart 1

UHS-II PHY Test Guidelines

Version 1.00

Test Specification for:

Part 1 UHS-II AddendumVersion 1.01

Technical Committee SD Card Association

UHS-II SpecificationsPart 1

UHS-II Protocol Test Guidelines

Version 1.00

Agilent UHS-II物理層ソリューションが対応している測定方法“SDA PHY Test Guidelines”

Host Synchronous

PLL PLL

DESSER

SERDES

10b/8b

8b/1

0b

10b/

8b

8b/10bOSC

TX

TX

RX

RX

D0+

D0-

D1+

D1-

UHS-II CardUHS-II HostPH

Y/Lo

gic

Link

Laye

r

PHY/

Logi

c

Link

Laye

r

RCLK+

RCLK-

TX RX

Return Loss “Tx/Rxポート正しく終端されているか？”

Tx “信号品質 良いか？ Rx “ジッタ耐性 十分か？”

UHS-II Test Guideline 物理層測定・三分野

“Test Fixture” と測定器を使った“単体測定”

Host Test Fixture

D0+/-

D1+/-

RCLK

VDD1.8V/3.3V

Device Test Fixture

VDD1.8V/3.3VD1+/-

D0+/-

RCLK

RCLKD0 D1

PWR 3.3V1.8VGND

Model#:SKU: A9-UHS2-03SKU: A9-UHS2-01

Available from Astek or Bitifeyehttp://newweb.astekcorp.com/

PLL

SER

DES

10b/8b

8b/1

0b

OSC

TX

RX

HostPH

Y/Lo

gic

Link

Laye

r

TX

Loop Backed PRBS

CLK In

N4903B JBERTINOUT

N4880AClock Multiplier

CLK

Data Out

NO SSC

RCLK

TTC150ps PRBS with Jitter

測定フロー

1: DUTをLoop backに設定2: DUTへTest patterns入力3: DUT Tx Signal を計測器へ

Rx Test : JBERT Error DetectorTx Test : オシロとプローブ Return Loss: ネットアナ

“Loop Back Modeで測定を行う”Host接続例

UHS-II DC coupled, Diff 100ohm 終端

E2695A InfiniiMaxSMA Probe Head- InfiniiMax

+ -

InfiniiMax+ -

Ope

n+

Probe AMPProbe Head

-

InfiniiMax

+ -

Ope

n+

Probe AMPProbe Head

Differential

Single Ended &Common Mode

Tx測定 UHS-II 用の終端プローブ

Tx Rx

50Ω

50Ω

C

Test Equipment

100nFHigh Z

High Z

N6461A Agilent Infiniiumオシロ90000シリーズ用UHS-II Card&Host Tx 自動測定アプリケーション

DUT type選択Test項目選択

接続図による確認 RUN TEST

Pass/Fail & レポート自動生成

1001010……

N4903B JBERTJitter印可Bit Error Ratio試験機1000010……

TX

RX

Rxの物理性能評価とは？Jitterや低振幅など、シビアな信号でも受信できるか？

1001010……

Loop Backたたき直し

RJ+SJ+ISIRJ+SJ+ISI

Bit Error 検出

N5990A#120 Valiframe UHS-II Host/Device Rx 自動測定ソリューション

Test Automation

Connection diagram

Pre-Calibration at the Connector End

Jitter 周波数・振幅をスイープし境界測定

Tota

l Jitt

er （

UI）

Sinusoidal Jitter Frequency （Hz）

ジッタ・トレランスカーブ評価 自動測定

Device & Host Rxの性能 “評価”

なぜ Return Lossは重要なのか?

終端

LSI内部終端は理想的でなく信号は反射する。

ネットワークアナライザで何が見えるのか？

Impedance (ohm

)

Time(sec) = location

Reflection (dB)

Frequency (Hz)FFT

Agilent E5071C ENA Opt TDR / Return Loss 試験

インピーダンスとS-Para 一台で同時測定S-parameter Test with Pass/Fail LimitDiff TDR / Debug

Debug play zone

UHS-II Agilent 物理層測定ソリューション

ネットワークアナライザ

JBERT BER試験機

Device Tx試験Data信号品質

Host Tx試験RCLK信号品質Data信号品質

Device Rx試験Data受信耐性

Host Rx試験Data受信耐性RCLK受信耐性

オシロスコープ

Device Return Loss試験Txポート差動SparaRxポート差動Spara

Host Return Loss 試験Txポート差動SparaRxポート差動Spara

SDA UHS-II PHY Test Guidelineに沿った測定を提供

PLL PLL

DESSER

SERDES

10b/8b

8b/1

0b

10b/

8b

8b/10b

OSC

TX

TX

RX

RX

D0+

D0-

D1+

D1-

UHS-II CardUHS-II HostP

HY/

Logi

c

Link

Laye

r

PH

Y/Lo

gic

Link

Laye

r

RCLK+

RCLK-

TX RX

Return Loss E5071C ENA opt TDRネットワークアナライザ Z/Spara測定

Tx 90000AオシロUHS-II 信号品質自動測定

Rx N4903B JBERTUHS-II ジッタ耐性自動測定

UHS-II Agilent 物理層測定ソリューション