i

防 衛 庁 規 格

振幅変調送受信機試験方法

1. 適用範囲 ･････････････････････････････････････････････････････････ １

2. 引用規格 ･････････････････････････････････････････････････････････ １

3. 分 類 ･･････････････････････････････････････････････････････････ １

4. 用語の意味 ･･････････････････････････････････････････････････････････ １

5. 試験についての一般規定 ･･････････････････････････････････････････････････････････１

5.1 標準試験状態 ･････････････････････････････････････････････････････････ １

5.2 計器・測定器具 ･････････････････････････････････････････････････････････ １

5.3 電 源 ･････････････････････････････････････････････････････････ １

5.4 電圧・電流の値 ･････････････････････････････････････････････････････････ １

5.5 レベル基準 ･････････････････････････････････････････････････････････ １

5.6 試験周波数 ･････････････････････････････････････････････････････････ １

5.7 送信機の出力 ･････････････････････････････････････････････････････････ ２

5.8 送信機の変調入力 ･････････････････････････････････････････････････････････ ２

5.9 受信機の出力 ･････････････････････････････････････････････････････････ ２

5.10 受信機の入力 ･････････････････････････････････････････････････････････ ２

5.11 送受総合・送受切換時間試験････････････････････････････････････････････････････ ３

6. 試験方法（単一通信路用両側波帯振幅変調送受信機） ･････････････････････････････････ ４

6.1 送信機試験（Ａ１Ａ,Ａ２Ａ,Ａ３Ｅ）･････････････････････････････････････････････ ４

6.1.1 標準測定状態 ･････････････････････････････････････････････････････････ ４

6.1.2 一般電気的試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４

6.1.3 周波数範囲試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４

6.1.4 周波数試験 ･････････････････････････････････････････････････････････ ４

6.1.5 出力試験 ･････････････････････････････････････････････････････････ ５

6.1.6 寄生振動試験 ･････････････････････････････････････････････････････････ ６

6.1.7 占有周波数帯幅試験 ･････････････････････････････････････････････････････････ ７

6.1.8 不要波出力試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ７

6.1.9 変調諸特性試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ８

6.1.10 チャネル切換時間試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ １２

6.1.11 運用条件に対する試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ １２

6.2 受信機試験（Ａ１Ａ,Ａ２Ａ, Ａ３Ｅ） ･･･････････････････････････････････････････ １２

6.2.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ １２

6.2.2 一般電気的試験 ････････････････････････････････････････････････････････ １２

6.2.3 周波数範囲試験 ････････････････････････････････････････････････････････ １３

ＮＤＳ

Ｃ ０１１２Ｂ

制定 昭和60. 6. 6

改正 平成 13. 3.30

ii

6.2.4 感度試験 ････････････････････････････････････････････････････････ １３

6.2.5 自動利得制御試験 ･･････････････････････････････････････････････････････１４

6.2.6 選択度試験 ････････････････････････････････････････････････････････ １４

6.2.7 忠実度試験 ････････････････････････････････････････････････････････ １７

6.2.8 周波数試験 ････････････････････････････････････････････････････････ １９

6.2.9 音量調節器試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････ ２０

6.2.10 利得調節器試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････ ２０

6.2.11 スケルチ特性試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ２０

6.2.12 チャネル切換時間試験 ･････････････････････････････････････････････････････ ２０

6.2.13 中間周波出力特性試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ ２０

6.2.14 不要信号感度比試験 ････････････････････････････････････････････････････････２１

6.2.15 運用条件に対する試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ ２１

6.3 送受切換時間試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ２１

6.3.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ ２１

6.3.2 受信／送信切換時間試験･･････････････････････････････････････････････････････ ２２

6.3.3 送信／受信切換時間試験 ･････････････････････････････････････････････････････ ２２

7. 試験方法（単一通信路用単側波帯振幅変調送受信機） ･･･････････････････････････････ ２２

7.1 送信機試験（Ｊ３Ｅ,Ｈ３Ｅ）･･･････････････････････････････････････････････････ ２２

7.1.1 標準測定状態 ･･･････････････････････････････････････････････････････ ２２

7.1.2 一般電気的試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････ ２３

7.1.3 周波数範囲試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ２３

7.1.4 周波数試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ２３

7.1.5 出力試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ２４

7.1.6 寄生振動試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ２４

7.1.7 占有周波数帯幅試験 ････････････････････････････････････････････････････････２４

7.1.8 Ｊ３Ｅ搬送波出力試験･･･････････････････････････････････････････････････････ ２５

7.1.9 不要波出力試験 ･････････････････････････････････････････････････････････２５

7.1.10 変調諸特性試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ２７

7.1.11 チャネル切換時間試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････２９

7.1.12 運用条件に対する試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ ２９

7.2 受信機試験（Ｊ３Ｅ） ･･･････････････････････････････････････････････････････ ２９

7.2.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ ２９

7.2.2 一般電気的試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････ ２９

7.2.3 周波数範囲試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････ ３０

7.2.4 感度試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ３０

7.2.5 自動利得制御試験 ････････････････････････････････････････････････････････３０

7.2.6 選択度試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ３１

7.2.7 忠実度試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ３５

7.2.8 周波数試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ３６

7.2.9 音量調節器試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････ ３６

iii

7.2.10 利得調節器試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････ ３６

7.2.11 チャネル切換時間試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････３７

7.2.12 中間周波出力特性試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ ３７

7.2.13 不要信号感度比試験 ････････････････････････････････････････････････････････３７

7.2.14 運用条件に対する試験方法･･･････････････････････････････････････････････････ ３８

7.3 送受切換時間試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ３８

7.3.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ ３８

7.3.2 受信／送信切換時間試験･･････････････････････････････････････････････････････ ３８

7.3.3 送信／受信切換時間試験･･････････････････････････････････････････････････････ ３８

8. 試験方法（データ伝送用振幅変調送受信機）････････････････････････････････････････ ３９

8.1 送信機試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ３９

8.1.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ ３９

8.1.2 一般電気的試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ３９

8.1.3 周波数範囲試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ３９

8.1.4 周波数試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ３９

8.1.5 出力試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４０

8.1.6 寄生振動試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４０

8.1.7 占有周波数帯幅試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ ４１

8.1.8 不要波出力試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４１

8.1.9 低周波・中間周波入力特性試験････････････････････････････････････････････････ ４１

8.1.10 送信立上り・立下り時間試験･････････････････････････････････････････････････ ４４

8.1.11 運用条件に対する試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････４４

8.2 受信機試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４４

8.2.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ ４４

8.2.2 一般電気的試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４４

8.2.3 周波数範囲試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４５

8.2.4 感度試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４５

8.2.5 自動利得制御試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ ４５

8.2.6 選択度試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４５

8.2.7 低周波・中間周波出力特性試験････････････････････････････････････････････････ ４５

8.2.8 周波数試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４７

8.2.9 不要信号感度比試験 ････････････････････････････････････････････････････････４７

8.2.10 運用条件に対する試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････４８

8.3 送受総合試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４８

8.3.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ ４８

8.3.2 通信路伝送時間試験 ････････････････････････････････････････････････････････４８

8.3.3 誤り率試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４９

9. 試験方法（データ伝送用変復調機器）･･････････････････････････････････････････････４９

9.1 変調器試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ４９

9.1.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ ４９

iv

9.1.2 一般電気的試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ５０

9.1.3 周波数試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ５０

9.1.4 出力諸特性試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ５１

9.1.5 位相変調特性試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ ５２

9.1.6 周波数変調特性試験 ･････････････････････････････････････････････････････････５３

9.1.7 占有周波数帯幅試験 ････････････････････････････････････････････････････････５３

9.1.8 スプリアス出力試験 ･･････････････････････････････････････････････････････ ５３

9.1.9 インタフェース試験 ････････････････････････････････････････････････････････５３

9.1.10 運用条件に対する試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････５５

9.2 復調器試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ５５

9.2.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ ５５

9.2.2 一般電気的試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ５５

9.2.3 クロック周波数試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････５６

9.2.4 レベル試験 ･････････････････････････････････････････････････････････５６

9.2.5 搬送波同期特性試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････５６

9.2.6 クロック同期特性試験････････････････････････････････････････････････････････５７

9.2.7 ジッタ特性試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････ ５８

9.2.8 周波数変調信号復調特性試験 ･････････････････････････････････････････････････ ５８

9.2.9 誤り率試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ５９

9.2.10 インタフェース試験 ････････････････････････････････････････････････････････５９

9.2.11 信号検出特性・ヒステリシス幅試験 ･･････････････････････････････････････････ ６０

9.2.12 運用条件に対する試験 ･･･････････････････････････････････････････････････････６０

9.3 送受総合試験 ････････････････････････････････････････････････････････６０

9.3.1 標準測定状態 ････････････････････････････････････････････････････････ ６０

9.3.2 通信路伝送時間試験 ････････････････････････････････････････････････････････６０

9.3.3 バイアスひずみ調整範囲試験･･････････････････････････････････････････････････ ６０

9.3.4 データひずみ（電信ひずみ）試験･･････････････････････････････････････････････ ６１

9.3.5 誤り率試験 ････････････････････････････････････････････････････････ ６１

防 衛 庁 規 格

振幅変調送受信機試験方法

1. 適用範囲 この規格は，防衛庁において使用する振幅変調送受信機の電気的性能の試験方法について規定す

る。

2. 引用規格 この防衛庁規格に引用した規格は次のとおりとする。

NDS C 0110E 電子機器の運用条件に対する試験方法

3. 分類 この規格は，振幅変調送受信機を次のとおり分類する。

a) 単一通信路用両側波帯振幅変調送受信機

b) 単一通信路用単測波帯振幅変調送受信機

c) データ伝送用振幅変調送受信機

d) データ伝送用変復調機器

4. 用語の意味 この規格で用いる主な用語の意味は，次のとおりとする。

a) 供試機 試験に供する送信機，受信機，変調器，又は復調器をいう。

b) 試験回路 試験を行うために必要な測定器と供試機との相互接続関係を示す回路構成をいう。

c) 擬似負荷 空中線を接続した場合と等価な電力を消費させることができる負荷であり，試験に際しこれを使

用することによって，電波のふく射をほとんど生じないものをいう。

d) 擬似伝送路 送信機と受信機の間における規定の伝送損失を与える擬似負荷，結合器，減衰器等を組み合わ

せて構成させる伝送路をいう。

5. 試験についての一般規定

5.1 標準試験状態 標準試験状態は,特に指定のない限り常温常湿（温度 5～35℃，湿度 45～85％）とする。

5.2 計器・測定器具 試験に用いる計器及び測定器具類は，ＤＳＰ，ＩＳＯなどの計測器管理による所定の校正を

行ったものを使用する。

なお，試験に用いる計器及び測定器具類の精度は，機器の仕様書に示した許容差の範囲を確認できるものである

こと。

5.3 電源 試験に用いる電源は，次を標準とする。

5.3.1 波形 交流では高調波含有率5％以下，直流ではリップル含有率（実効値）0.1％以下とする。

5.3.2 電圧・周波数の変動率 試験中における電源の電圧及び周波数変動率は，2％以下とする。

5.3.3 最高電圧・最低電圧 電源電圧の変動の影響を試験するときの最高電圧は，規定値の＋10％，最低電圧

は規定値の－10％とする。ただし，乾電池の場合の最低電圧は規定値の－15％とする。

5.4 電圧・電流の値 電圧及び電流の値は，実効値で表す。

5.5 レベル基準 この試験方法では，原則として次の方法でレベルを表す。

a) 1μＶ基準（0ｄＢ）とした電圧レベル：ｄＢμＶ

b) 1ｍＷ基準（0ｄＢ）とした電力レベル：ｄＢｍ

5.6 試験周波数 試験周波数は，試験項目ごとに必要に応じて，次のいずれかを選択する。

a) 全周波数帯域の中央付近又は両端付近の1周波数

b) 全周波数帯域の中央付近及び両端付近の3周波数

ＮＤＳ

Ｃ ０１１２Ｂ

制定 昭和60. 6. 6

改正 平成 13. 3.30

2 C 0112B

c) 各周波数帯域ごとの中央付近又は両端付近の1周波数

d) 各周波数帯域ごとの両端付近の2周波数

e) 各周波数帯域ごとの中央付近及び両端付近の3周波数

f) 供試験の運用すべき周波数がすでに決定している場合にはそれらの周波数

5.7 送信機の出力

a) 出力は，供試機出力端子において擬似負荷に供給される電力で表す。

b) 擬似負荷は，50Ω若しくは75Ω（ＶＳＷＲ1.2以下）の不平衡負荷又は300Ω若しくは600Ωの無誘導抵抗負

荷を標準とし，その許容差は±5％とする。

c) 送信出力は，表１で表す。

表１ 送信出力

送信出力尖頭電力（マーク時の平均電力）

(a)変調用可聴周波数を電鍵操作する電波

通信時の平均電力

(b)変調波を電鍵操作する電波

尖頭電力（マーク時の平均電力）

無変調時の平均電力1500Hzの変調入力を送信の出力が飽和するまで加えた時の平無変調時の平均電力

電波の型式Ａ１Ａ

Ａ３Ｅ

Ｊ３Ｅ

Ｈ３Ｅ

Ａ２Ａ

5.8 送信機の変調入力

a) 変調入力レベルは，変調入力端子に加えられる電力又は電圧で表す。

b) 変調入力試験回路の出力インピーダンスは，600Ωを標準とする。

c) データ伝送用送受信機及び変復調機器の規定するインタフェースとする。

5.9 受信機の出力

a) 出力レベルは，供試機出力端子において負荷抵抗に供給される電力又は電圧で表す。

b) 負荷抵抗は，600Ωの無誘導抵抗負荷を標準とし，その許容差は±5％とする。

c) データ伝送用送受信機及び変復調機器の規定するインタフェースとする。

5.10 受信機の入力

a) 入力信号レベルは，次のいずれかの方法で表す。

1) 供試機を接続しない場合の，信号源の出力端子電圧で表す。

2) 信号源の出力電力（１）で表す。

注(１) 信号源の出力電力とは，信号源の整合負荷に供給できる電力をいう。

b) 信号源出力インピーダンスは，50Ω若しくは75Ω（ＶＳＷＲ1.2以下）か，又は300Ω若しくは600Ωを標準

とし，その許容差は±5％とする。

c) 信号発生器（以下ＳＧという。）と供試機の入力とを接続する場合，供試機の入力インピーダンスがＳＧの

内部抵抗に等しいときは直接に接続し，供試機の入力インピーダンスがＳＧの内部抵抗に等しくないときは，

ＳＧと供試機の入力との間に結合回路を挿入する。図１から図３に結合回路の一例を示す。

なお，結合回路の抵抗は，無誘導抵抗とする。

3 C 0112B

5.11 送受総合・送受切換時間試験 送受総合及び送受切換時間試験は，供試機（送信機）からの漏洩が測

定に影響する場合，供試機（送信機と受信機の間）を遮蔽して行う。

図１ Ｒａ＞Ｒ１の場合の結合回路例

図２ Ｒａ＜Ｒ１の場合の結合回路例

図３ ２信号法の試験の場合の結合回路例

4 C 0112B

6. 試験方法（単一通信路用両側波帯振幅変調送受信機）

6.1 送信機試験（Ａ１Ａ，Ａ２Ａ，Ａ３Ｅ）

6.1.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 負 荷 擬似負荷

c) 調節部分 最良状態に調節

d) 標準変調 Ａ３Ｅ：変調度 80％，変調周波数 1000Ｈｚ

Ａ１Ａ，Ａ２Ａ：通信速度20ボー

6.1.2 一般電気的試験

a) 絶縁抵抗試験 絶縁抵抗試験は，連続動作試験後に電源回路ときょう体間に規定する電圧を加え，絶縁抵

抗を測定する。ただし，絶縁抵抗試験を行うことが不適当な部品は取り外す。

b) 絶縁耐力試験 絶縁耐力試験は，連続動作試験後に電源回路ときょう体間に規定する電圧を規定の時間加え，

異常の有無を調べる。ただし，絶縁耐力試験を行うことが不適当な部品は取り外す。

c) 消費電力試験 消費電力試験は，供試機の電源入力回路に電圧計及び電流計又は電力計を接続して，試験

周波数で動作させた時の消費電力を測定する。なお，変調は無変調又は標準変調とする。

d) 連続動作試験 連続動作試験は，供試機を試験周波数で連続動作させ，次の項目について行う。

なお，変調は無変調又は標準変調とし，連続動作は1分間送信，1分間休止の繰り返しで少なくとも5時間

以上とする。

1) 電源変圧器，そく流線輪，その他規定する場所の温度を連続動作終了時に測定し，室温との差から温度上

昇を算出する。

2) 連続動作開始時，連続動作中及び連続動作終了時に 6.1.5を行う。

3) 連続動作中及び連続動作終了後に電気的および機械的な異常の有無を調べる。

6.1.3 周波数範囲試験 周波数範囲試験は，供試機を試験周波数で動作させ 6.1.5を行う。

6.1.4 周波数試験

a) 周波数確度試験 周波数確度試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 送信周波数を測定する方法 図４に示す試験回路で，供試機の規定予熱時間経過後，無変調で送信周波数

を測定し，次の式のいずれかによって周波数確度を算出する。

周波数確度 ＝ff?

×10６ （ｐｐｍ）

又は ＝ ⊿ｆ （Ｈｚ）

ここに ⊿ｆ ： 周波数偏差 （Ｈｚ）

周波数偏差＝測定周波数－試験周波数

ｆ ： 試験周波数 （Ｈｚ）

供 試 機 結合器 擬似負荷

周波数計

図４ 送信周波数測定回路

5 C 0112B

2) 局部発振周波数を測定する方法 図５に示す試験回路で，供試機の規定予熱時間経過後，試験周波数に対

する局部発振周波数を測定し，次の式によって周波数確度を算出する。

周波数確度 ＝ff?

×10６ （ｐｐｍ）

又は ＝ ⊿ｆ （Ｈｚ）

ここに ⊿ｆ ： 周波数偏差 （Ｈｚ）

周波数偏差＝測定周波数－周波数の公称値

ｆ ： 周波数の公称値 （Ｈｚ）

供 試 機 周波数計局部発振出力

図５ 局部発振周波数測定回路

3) 基準周波数を測定する方法 基準周波数で供試機の周波数確度が決定される場合，図６に示す試験回路で，

供試機の規定予熱時間経過後，試験周波数に対応する基準周波数を測定し，2)と同じ式によって周波数確

度を算出する。

供 試 機 周波数計基準周波数出力

図６ 基準周波数測定回路

b) 周波数安定度試験 周波数安定度試験は，供試機の電源を切り2時間以上放置後電源を投入し，規定する予

熱時間経過後a)を行い，次の式のいずれかによって周波数安定度を算出する。なお，測定は5，10，20，30，

45，60，75，90，105及び120分又は5分以下の間隔で2時間行う。ただし，試験中の周囲温度の変化は，±

2℃以内とすることが望ましい。

周波数安定度 ＝ （ｆmax －ｆ min）（Ｈｚ）

又は

周波数安定度 ＝ f

ff min-max × １０６ （ｐｐｍ）

ここに ｆmax ： 最高周波数 （Ｈｚ）

ｆmin ： 最低周波数 （Ｈｚ）

ｆ ： 試験周波数 （Ｈｚ）

6.1.5 出力試験 出力試験は，次のいずれかの方法で行う。

a) 電流計による方法 擬似負荷の抵抗に流れる電流を測定し，次の式によって出力を算出する。

出力＝Ｉ２Ｒ（Ｗ）

ここに Ｉ ： 電流（Ａ）

Ｒ ： 擬似負荷の抵抗値（Ω）

6 C 0112B

b) 電圧計による方法 擬似負荷の抵抗の端子電圧を測定し，次の式によって出力を算出する。

出力＝RE 2

（Ｗ）

ここに Ｅ ： 電圧（Ｖ）

Ｒ ： 擬似負荷の抵抗値（Ω）

c) 電力計による方法

1) 供試機出力端子と擬似負荷との間に通過型電力計をそう入して，出力を測定する。

図７ 出力測定回路（通過型電力計による測定）

2) 供試機出力端子と擬似負荷との間に結合器をそう入して，その結合器にスペクトラムアナライザ又は高周

波電圧計を接続して出力を測定する。

図８ 出力測定回路（スペクトラムアナライザ又は高周波電圧計による測定）

3) 供試機出力端子に終端型電力計を接続して出力を測定する。

図９ 出力測定回路（終端型電力計による測定）

d) 水冷負荷抵抗による方法 擬似負荷を水冷式とし一定流量で流れている冷却水の入口と出口で冷却水の温度

を測定し，次の式によって出力を算出する。

出力＝0.0698Ｑ⊿Ｔ （ｋＷ）

ここに Ｑ ： 冷却水流量（ｌ／ｍｉｎ）

⊿Ｔ ： 冷却水の温度差（℃）

冷却水の温度差＝出口の温度－入口の温度

6.1.6 寄生振動試験 寄生振動試験は，図１０に示す試験回路で行う。

a) Ａ１Ａ及びＡ２Ａ送信機の場合，供試機を通信速度 20 ボーに相当する短点符号で電鍵操作を行い，オシロ

スコープ又はスペクトラムアナライザで寄生振動の有無を調べる。

b) Ａ３Ｅ送信機の場合，供試機を約 200Ｈｚで変調し，変調度を 0 から最大変調度（２）まで変化させ，オシ

ロスコープ又はスペクトラムアナライザで寄生振動の有無を調べる。

注(２) 最大変調度とは，変調入力レベルを増加させても，もはや変調度が増加しない状態の変調度をいう。

供試機 擬似負荷 通過型電力計

供試機 擬似負荷 結合器

スペクトラムアナライザ

又は高周波電圧計

供試機 終端型電力計

7 C 0112B

図１０ 寄生振動試験回路

6.1.7 占有周波数帯幅試験 占有周波数帯幅試験は，図１１に示す試験回路で行う。

a) Ａ１Ａ及びＡ２Ａ送信機の場合，供試機を通信速度 20 ボーに相当する短点符号で電鍵操作を行い，占有周

波数帯幅測定器によって測定する。

b) Ａ３Ｅ送信機の場合，ＳＷ１を１に接続し，供試機に標準変調信号を加えレベル計の指示を読み取る。

次にＳＷ１を２に接続し，レベル計の指示が前と同じになるように可変減衰器を調節する。この状態で占有

周波数帯幅測定器によって測定する。

備考 占有周波数帯幅測定器としてスペクトラムアナライザ

を使用してもよい。

図１１ 占有周波数帯幅試験回路

6.1.8 不要波出力試験

a) スプリアス出力試験 スプリアス出力試験は，図１２に示す試験回路で行い，供試機を無変調送信とし不要

波出力と基本波出力のレベルを測定し，相対値（ｄＢ）を算出する。

測定結果には，必要に応じ不要波の周波数及び性質（高調波，低調波の次数，局部発振周波数，影像周波数，

寄生振動，相互変調積など）を付記する。

供 試 機 結合器 擬似負荷

電界強度測定器又はスペクトラムアナライザ

図１２ スプリアス出力試験回路

b) 送信機帯域外雑音試験 送信機帯域外雑音試験は，図1３に示す試験回路で行い，供試機を無変調送信と

し，スペクトラムアナライザによって送信搬送波レベルＣ（ｄＢ）及び試験周波数から指定された離隔周波

数において，規定された帯域幅Ｂｔ（Ｈｚ）に含まれる送信雑音レベルＮ′（ｄＢ）を測定し，送信搬送波

8 C 0112B

対雑音比 NC を次の式によって算出する。

送信搬送波対雑音比 ＝ Ｃ－（Ｎ′＋10 logABBt

＋Ｋ） （ｄＢ）

ここに Ａ ：スペクトラムアナライザの分解能を決定する中間周波フィルタは，ガウシアン形である

ために理想矩形波フイルタの帯域幅に換算するための係数で，1.2が一般的である。

Ｂ ：測定時に設定したスペクトラムアナライザの分解能帯域幅（電力半値幅）（Ｈｚ）。

Ｂｔ ：規定された送信雑音帯域幅（Ｈｚ）。

Ｋ ： 雑音のピークを，少なめに増幅する対数増幅器の特性を補正するための値で，2.5ｄＢ

が一般的である。

Ｎ ′：Ｂの約1/100の帯域幅をもつビデオフイルタを挿入した時，スペクトラムアナライザで

表示された送信雑音レベルのＢｔ内における雑音レベル（ｄＢ）。

供 試 機 結合器 擬似負荷

スペクトラムアナライザ （３）

注(３) スペクトラムアナライザのダイナミックレンジが不足する場合は，適当な帯域阻止フィルタを挿

入すること。この場合は，送信波と観測波との間の減衰量の差を送信搬送波対雑音比の式に加え

ること。

図１３ 送信機帯域外雑音試験回路

6.1.9 変調諸特性試験

a) 変調度試験 変調度試験は，次のいずれかの方法で供試機を 1000Ｈｚで変調し，入力レベルを変化させ，

変調入力レベルに対する送信出力の変調度測定を行う。

1) 変調度計又はオシロスコープによる方法 図１４に示す試験回路で変調度計で測定するか，又はオシロス

コープに現れる変調波形の最大値と最小値とを測定し，次の式によって変調度を算出する。

変調度 ＝ baba

??

×100 （％）

ここに ａ ： 変調波形の最大値（図１５，１６のａ）

ｂ ： 変調波形の最小値（図１５，１６のｂ）

低周波発振器 結合器 擬似負荷

変調度計 又はオシロスコープ

可変減衰器 供試機

レベル計

X軸(4)

注(４) オシロスコープのＸ軸を使用すると図１６の波形になる。

図１４ 変調度試験回路

9 C 0112B

図１５ 変調度の測定法 図１６ 変調度の測定法（Ｘ軸使用）

2) スペクトラムアナライザによる方法 図１７に示す試験回路で，スペクトラムアナライザ（原則として直

線目盛を使用する。）に現れる搬送波に対する側波帯の振幅比を測定し，次の式によって変調度を算出す

る。

変調度 ＝ dc2 ×100 （％）

ここに ｃ ： 側波帯の振幅

ｄ ： 搬送波の振幅

低周波発振器 結合器 擬似負荷

スペクトラムアナライザ

可変減衰器 供試機

レベル計

図１７ 変調度試験回路

b) 搬送波レベル変動試験 搬送波レベル変動試験は，規定の変調度で次のいずれかの方法で行う。

1) 直線検波器による方法 図１８に示す試験回路で，無変調時と変調時に直線検波器の搬送波整流電流を測

定し，次の式によってレベル変動率を算出する。

レベル変動率 ＝ Ic

IcIm ? × 100（％）

ここに Ｉｍ ： 変調時の搬送波整流電流

Ｉｃ ： 無変調時の搬送波整流電流

低周波発振器 結合器 擬似負荷

直線検波器

可変減衰器 供試機

レベル計

図１８ 搬送波レベル変動試験回路（直線検波器による方法）

2) 狭帯域フィルタによる方法 図１９に示す試験回路で，狭帯域フィルタによって搬送波成分を取り出し，

10 C 0112B

無変調時と変調時の搬送波出力レベルをレベル計(2)で測定し，相対値（ｄＢ）として算出する。

低周波発振器 結合器 擬似負荷

オシロスコープ

可変減衰器 供試機

レベル計(1)

レベル計(2)狭帯域フィルタ周波数変換器

図１９ 搬送波レベル変動試験回路（狭帯域フィルタによる方法）

3) スペクトラムアナライザによる方法 図１７に示す試験回路で，無変調時と変調時の搬送波出力レベルを

スペクトラムアナライザで測定し，相対値（ｄＢ）として算出する。

c) 周波数特性試験 周波数特性試験は，原則として 50，100，200，300，500，700，1000，2000，3000，

5000，7000及び10000Ｈｚのうち，規定する周波数範囲内に含まれるもの及び規定する周波数範囲の両端

の周波数において，次のいずれかの方法で行う。

1) 変調度を一定にする方法 図１４に示す試験回路で，供試機の変調周波数を変化して変調度50％になる入

力レベルを測定し，1000Ｈｚ時の入力レベルと相対値（ｄＢ）を算出する。

2) 変調入力レベルを一定にする方法 図２０に示す試験回路で，供試験を 1000Ｈｚで変調して変調度 50％

になる入力レベル及び検波出力レベルを測定する。

次に，1000Ｈｚ時と同じ入力レベルで，変調周波数を変化した時の検波出力レベルを測定し，1000Ｈｚ

時の検波出力レベルとの相対値（ｄＢ）を算出する。

低周波発振器 結合器 擬似負荷可変減衰器 供試機

レベル計(1) レベル計(2)直線検波器

変調度計 又はオシロスコープ

図２０ 周波数特性試験回路

d) ひずみ率試験 ひずみ率試験は，図２１に示す試験回路で行い，供試機に規定の変調を加えひずみ率を測

定する。

図２１ ひずみ率試験回路

低周波発振器 結合器 供試機

直線検波器 又は

測定用受信機

擬似負荷

ひずみ率計

11 C 0112B

e) 雑音量試験 雑音量試験は，図２２に示す試験回路で行い，ＳＷを１に接続した時と，ＳＷを２に接続し標

準変調とした時の検波出力レベルを測定し，相対値（ｄＢ）を算出する。

注(５) Ｒは，規定する変調入力インピーダンスとする。

図２２ 雑音量試験回路

f) 通信速度試験 通信速度試験は，図２３に示す試験回路で行い，供試機を通信速度20ボーに相当する短点

符号で電鍵操作を行い，出力波形をオシロスコープで観測して短点の脱落の有無を確認する。

電鍵装置 結合器 擬似負荷供試機

オシロスコープ

図２３ 通信速度試験回路

g) 過変調耐力試験 過変調耐力試験は，図２４に示す試験回路で行い，供試機の変調入力端子に1000Ｈｚで

50％変調に相当する入力電圧の 4 倍を，約 1 秒間ずつ 10 回継続して加え異常の有無を確認する。

図２４ 過変調耐力試験回路

h) 側音出力試験 側音出力試験は，図２５に示す試験回路で行い，供試機に規定の変調を加え側音出力レベル

を測定する。

低周波発振器 擬似負荷供試機

レベル計

側音出力

図２５ 側音出力試験回路

低周波発振器

結合器 供試機

直線検波器 又は

測定用受信機

擬似負荷

レベル計

SW

Ｒ（５）

２

１

12 C 0112B

6.1.10 チャネル切換時間試験 チャネル切換時間試験は，図２６に示す試験回路で行い，供試機にチャネル切

換指令を与えてから，発振周波数の切換動作，バンド切換動作，及び電子的又は機械的同調動作が完了し，指定

したチャネルの電波が発射可能になるまでの時間を測定する。

時間の測定は，切換時間が比較的短い場合にはオシロスコープ又はこれと等価な測定器を用い，切換時間が比

較的長い場合にはストップウオッチを用いることができる。

擬似負荷供試機

オシロスコープ

動作完了信号チャネル切換信号

図２６ チャネル切換時間試験回路

6.1.11 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次によって6.1.4のa)及び6.1.5を行う。

a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧において試験を行う。

ただし，電源電圧を変化させてから 1 分間経過後 5 分間以内に測定する。

b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110（電子機器の運用条件に対する試験方法）の 3.6によって行う。

c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110の 3.7によって行う。

d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110の 3.1によって行う。

d) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110の 3.2によって行う。

6.2 受信機試験（Ａ１Ａ，Ａ２Ａ，Ａ３Ｅ）

6.2.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 自動利得制御回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

c) 出力制限回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

d) 雑音制限回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

e) スケルチ回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

f) 標準出力 出力周波数 1000Ｈｚで 17ｄＢｍ又は 0ｄＢｍ

g) 調節部分 最良状態に調節

h) 標準入力 Ａ２Ａ，Ａ３Ｅ：試験周波数において変調度30％，変調周波数1000Ｈｚの変調を行った信号。

Ａ１Ａ：試験周波数において無変調信号（ＮＯＮ）。

6.2.2 一般電気的試験

a) 絶縁抵抗試験 絶縁抵抗試験は，6.1.2の a)によって行う。

b) 絶縁耐力試験 絶縁耐力試験は，6.1.2の b)によって行う。

c) 消費電力試験 消費電力試験は，供試機の電源入力回路に電圧計及び電流計又は電力計を接続して，試験周

波数で動作させた時の消費電力を測定する。

なお，受信機の入力は無入力又は標準入力とする。

d) 連続動作試験 連続動作試験は，供試機を試験周波数で連続動作させ，次を行う。

なお，受信機の入力は無入力または標準入力とし，連続動作は少なくとも 5 時間以上とする。

1) 電源変圧器，そく流線輪，その他規定する場所の温度を連続動作終了時に測定し，室温との差から温度上

13 C 0112B

昇を算出する。

2) 連続動作開始時，連続動作中及び連続動作終了時に 6.2.4の a)を行う。

3) 連続動作中及び連続動作終了後に電気的及び機械的な異常の有無を調べる。

6.2.3 周波数範囲試験 周波数範囲試験は，供試機を試験周波数で動作させ6.2.4のa)又は6.2.4のc)を行う。

6.2.4 感度試験

a) 信号対雑音比試験 信号対雑音比試験は，図２７に示す試験回路で行う。

1) Ａ２Ａ及びＡ３Ｅ受信機の場合，ＳＧから規定するレベルの標準入力を加え，供試機出力を標準出力に調

節する。

次にＳＧの変調を切り，雑音出力レベルを測定し，標準出力レベルとの相対値（ｄＢ）を算出する。

2) Ａ１Ａ受信機の場合，ＳＧから無変調で規定するレベルを加え，供試機出力を標準出力に調節する。

次にＳＧの出力を切り，雑音出力レベルを測定し，標準出力レベルとの相対値（ｄＢ）を算出する。

S G 供試機 レベル計結合回路 整合回路

図２７ 信号対雑音比試験回路

b) 最大有効感度試験 最大有効感度試験は，図２７に示す試験回路で行う。

1) Ａ２Ａ及びＡ３Ｅ受信機の場合，ＳＧから標準入力を加え，レベルを調節しながら6.2.4 a)の1)の測定を

繰り返し，信号対雑音比が規定値になる入力信号レベルを求める。

2) Ａ１Ａ受信機の場合，ＳＧの出力を切り，雑音出力レベルが標準出力レベルより信号対雑音比の規定値だ

け低いレベルになるように，供試機出力を調節する。

次にＳＧから無変調で信号を加え，標準出力になる入力信号レベルを求める。

c) 雑音指数試験 雑音指数試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 雑音指数計による方法 図２８に示す試験回路で，雑音指数計の出力を切り，供試機の雑音出力レベルを

測定する。

中間周波出力を周波数変換し雑音指数計に入力する方法で，雑音指数を測定する。

なお，雑音指数計から信号を加え，測定した雑音出力レベルより3ｄＢ増加する時の，雑音指数計の指示

を測定しても良い。

図２８ 雑音指数試験回路（雑音指数計による方法）

2) ＳＧによる方法 図２９に示す試験回路で，供試機を6.2.4の b)の状態でＳＧの出力を切り，雑音出力レ

ベル（原則として中間周波出力レベル）を測定する。

次にＳＧから無変調で信号を加え，測定した雑音出力レベルより3ｄＢ増加する時の入力信号レベルを測

供試機

雑音指数計

14 C 0112B

定し，次の式によって雑音指数を算出する。

雑音指数 ＝ 10 ｌｏｇ 0

2

4KTBRE

（ｄＢ）

ここに Ｋ ： ボルツマン係数（1.38×10－２3）

Ｔ ： 絶対温度（°K）

Ｂ ： 供試機の3ｄＢ帯域幅（Ｈｚ）

Ｒ０： ＳＧの公称出力インピーダンス（Ω）

Ｅ ： ＳＧの出力電圧（Ｖ）

S G 供試機 負荷抵抗

高周波電圧計

結合回路中間周波出力

図２９ 雑音指数試験回路（ＳＧによる方法）

6.2.5 自動利得制御試験 自動利得制御試験は，図２７に示す試験回路で行い，ＳＧからレベル 30ｄＢμＶの

標準入力を加え，供試機出力を規定する出力（原則として標準出力）に調節する。

次にＳＧを規定する最低レベルから最高レベルまで変化し，規定の低周波出力端又は中間周波出力端の出力レベ

ルを測定し，レベル偏差（ｄＢ）を算出する。

なお，この試験は，自動利得制御回路を動作させて行う。

6.2.6 選択度試験

a) 1信号選択度試験 1 信号選択度試験は，図３０に示す試験回路で行う。

なお，中間周波出力のない機器の場合は，延長基板等を使用したテストポイントで測定しても良い。

1) 通過帯域幅試験 供試機を 6.2.4の b)の状態とし，無変調のＳＧの周波数を試験周波数付近で変化させ，

供試機の中間周波出力が最大となるレベルＥ１及びこの時のＳＧからの入力信号レベルＥ０を測定する。

次に入力信号レベルをＥ０より 6ｄＢ増加して，周波数を試験周波数の上下に変化させ，中間周波出力レ

ベルがＥ１となる周波数を測定し，この二つの周波数差（図３１の ｆ6－ｆ'6）を算出する。

もし，中間周波出力レベルがＥ１となる周波数が，三つ以上ある場合は試験周波数に近い側の二つの周波

数とする。

2) 減衰帯域幅試験 測定は，原則として1)と合わせて行い，ＳＧからの入力信号レベルをＥ０より66ｄＢ増

加して，周波数を試験周波数の上下に変化させ，中間周波出力レベルがＥ１となる周波数を測定し，この

二つの周波数差（図３１のｆ66－ｆ'66）を算出する。

もし，中間周波出力レベルがＥ１となる周波数が，三つ以上ある場合は試験周波数に遠い側の二つの周波

数とする。

3) 中間周波選択度試験 中間周波増幅部の前の周波数変換回路に，ＳＧを接続して1)，2)と同様に行う。

なお，中間周波数の公称値との周波数偏差を算出するときは，通過帯域幅試験での二つの周波数の平均値

と公称値との差で表す。

15 C 0112B

S G 供試機 レベル計結合回路 整合回路

周波数計 高周波電圧計又はスペクトラムアナライザ( 6)

負荷抵抗中間周波出力

注(６) 供試機の出力が，中間周波検波出力の場合は，

直流電圧計を接続する。

図３０ １信号選択度試験回路

図３１ 通過帯域幅及び減衰帯域幅の測定法

b) 実効選択度試験 実効選択度試験は，図３５に示す試験回路で行う。

1) 感度抑圧効果試験 ＳＧ２の出力を切り，ＳＧ１から標準入力で規定レベルを供試機に加え，出力を標準

出力に調節する。

次にＳＧ２を無変調とし，周波数を試験周波数から規定の周波数（原則として隣接チャネル間隔）だけ上

下に離調し，供試機出力レベルが標準出力レベルより3ｄＢ低下する時の，ＳＧ２による妨害信号入力レ

ベルを測定する。

離調周波数を，連続的に変化させ測定した場合の一例を図３２に示す。

図３２ 感度抑圧効果特性例

16 C 0112B

2) 混変調試験 ＳＧ２の出力を切り，ＳＧ１から標準入力で規定レベルを供試機に加え，出力を標準出力に

調節した後ＳＧ１の変調を切る。

次にＳＧ２を標準入力とし，周波数を試験周波数から規定の周波数（原則として隣接チャネル間隔）だけ

上下に離調し，ＳＧ２の出力を増加させ供試機出力レベルが標準出力レベルより 20ｄＢ低い値になる時

の，ＳＧ２による妨害信号入力レベルを測定する。

試験中にＳＧ２の変調を切り，ＳＧ１を再び変調して出力レベルが変化する場合，この変化を出力減衰度

として混変調特性とともに測定する。

離調周波数を，連続的に変化させて測定した場合の一例を図３３に示す。

図３３ 混変調特性例

3) 相互変調試験

3.1) 妨害信号周波数が，希望信号周波数対して，次の(a)～(c)の関係にある場合のうち，規定された場合に

ついて 3.2)，3.3)によって行う。

なお，二つの妨害信号の周波数をＦu 及びＦ'u とする。

(a) 二つの妨害信号周波数の和が希望信号周波数Ｆｄに等しい場合

すなわち， Ｆｄ ＝Ｆu ＋Ｆ'u

この場合妨害信号周波数は，希望信号周波数の 21 に近いが 2

1 に等しくない周波数とする。

(b) 二つの妨害信号周波数の差が希望信号周波数に等しい場合

すなわち， Ｆｄ ＝Ｆu －Ｆ'u

この場合周波数の低い方の妨害信号は，希望信号に近い周波数（例えば隣接チャネル周波数）とする。

(c) 二つの妨害信号周波数の差が希望信号周波数と一つの妨害信号周波数の差に等しく３次相互変調積を生

ずる関係にあたる場合

すなわち， Ｆｄ ＝２Ｆu －Ｆ'u

この場合希望信号に近い方の妨害信号は，希望信号に近い周波数（例えば隣接チャネル周波数）とする。

3.2) ＳＧ１から規定するレベル（原則として 20ｄＢμＶ又は 40ｄＢμＶ）の標準入力を加え供試機出力を

17 C 0112B

標準出力に調節する。

次にＳＧ１及びＳＧ２の一方のみを無変調とし，周波数をＦu 及びＦ'u にして出力を等しく保ちなが

ら増加し，供試機出力レベルが標準出力レベルより20ｄＢ低い値になる時の妨害信号入力レベルを測

定する。

二つの妨害信号の周波数関係が3.1)の（c）の場合は，希望信号に対して遠い方の妨害信号を変調しな

ければならない。

また，Ａ１Ａ受信機の場合は，妨害信号は無変調とする。

3.3) 測定結果は，希望信号の周波数と入力信号レベル，二つの妨害信号の周波数とその関係，妨害信号対希

望信号出力レベル比，自動利得制御回路の”入り”，”切り”の区別，希望信号と妨害信号の変調条件な

どの測定条件を併記する。

妨害周波数を，連続的に変化させ測定した場合の一例を図３４に示す。

図３４ 相互変調特性例

S G 1

供試機 レベル計２信号用結合回路

整合回路

S G 2

備考 測定値に，２信号用結合回路の損失を補正すること。

図３５ 実効選択度試験回路

6.2.7 忠実度試験

a) 周波数特性試験 周波数特性試験は，原則として 50，100，200，300，500，700，1000，2000，3000，

5000，7000及び10000Ｈｚのうち，規定する周波数範囲内に含まれるもの及び規定する周波数範囲の両端

の周波数で行う。

1) 総合周波数特性試験 図３６に示す試験回路で，ＳＧからレベル30ｄＢμＶの標準入力を加え，供試機出

力を標準出力に調節する。

次に変調度を一定に保ちながら，変調周波数を変化して出力レベルを測定し，標準出力との相対値（ｄＢ）

を算出する。

18 C 0112B

なお，この試験は自動利得制御回路を動作させて行う。

S G 供試機 レベル計結合回路 整合回路

低周波発振器

図３６ 総合周波数特性試験回路

2) 低周波特性試験 図３７に示す試験回路で，供試機の音量調節器を最大にし低周波増幅部の入力回路に

1000Ｈｚの入力信号を加え，標準出力になるように入力信号レベルを調節する。

次に入力信号レベルを一定に保ちながら，周波数を変化して出力レベルを測定し，標準出力との相対値（ｄ

Ｂ）を算出する。

低周波発振器供 試 機

（低周波増幅部）レベル計(2)可変減衰器 整合回路

レベル計(1)

図３７ 低周波特性試験回路

b) ひずみ及び雑音試験

1) ひずみ及び雑音試験 図３８に示す試験回路で，ＳＧからレベル30ｄＢμＶの標準入力を加え供試機出力

を標準出力に調節する。

次に，標準出力レベルに対する雑音及び高調波ひずみ出力レベルとの比? ?DNDNS

??? を，ひずみ率雑音レ

ベル計で測定する。

なお，この試験は自動利得制御回路を動作させて行う。

S G 供試機 ひずみ率雑音レベル計結合回路 整合回路

図３８ ひずみ及び雑音試験回路

2) 低周波増幅部ひずみ試験 図３９に示す試験回路で，供試機の音量調節器を最大にして低周波増幅部の入

力回路に 1000Ｈｚの入力信号を加え，標準出力になるように入力信号レベルを調節し，ひずみ率を測定

する。

供 試 機（低周波増幅部）

ひずみ率雑音レベル計低周波発振器 整合回路

図３９ 低周波増幅部ひずみ試験回路

19 C 0112B

6.2.8 周波数試験

a) 周波数確度試験 周波数確度試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 局部発振周波数を測定する方法 図４０に示す試験回路で，供試機の規定予熱時間経過後，試験周波数に

対応する局部発振周波数を測定し，次の式によって周波数確度を算出する。

周波数確度 ＝ ff?×10６ (ｐｐｍ)

又は ＝ ⊿ｆ （Ｈｚ）

ここに ⊿ｆ ： 周波数偏差（Ｈｚ）

周波数偏差＝測定周波数－周波数の公称値

ｆ ： 周波数の公称値（Ｈｚ）

供試機 周波数計局部発振出力

図４０ 局部発振周波数測定回路

2) 中間周波数を測定する方法 図４１に示す試験回路で，ＳＧを試験周波数に合せ，供試機の規定予熱時間

経過後，試験周波数に対応する中間周波数を測定し，1)と同じ式によって周波数確度を算出する。

結合回路 周波数計S G 供試機中間周波出力

図４１ 中間周波数測定回路

3) 基準周波数を測定する方法 基準周波数で，供試機の周波数確度が決定される場合，図４２に示す試験回

路で供試機の規定予熱時間経過後，試験周波数に対応する基準周波数を測定し，1)と同じ式によって周波

数確度を算出する。

供試機 周波数計基準周波数出力

図４２ 基準周波数測定回路

b) 周波数安定度試験 周波数安定度試験は，供試機の電源を切り2時間以上放置後電源を投入し，規定する予

熱時間経過後 6.2.8の a)を行い，次の式のいずれかによって周波数確度を算出する。

なお，測定は5，10，20，30，45，60，75，90，105及び120分又は5分以下の間隔で2時間行う。ただ

し，試験中の周囲温度の変動範囲は±2℃以内とすることが望ましい。

周波数安定度＝（ｆmax －ｆmin ）（Ｈｚ）

又は

周波数安定度＝f

ff minmax? × 10６ （ｐｐｍ）

20 C 0112B

ここに ｆmax ： 最高周波数（Ｈｚ）

ｆmin ： 最低周波数（Ｈｚ）

ｆ ： 試験周波数（Ｈｚ）

6.2.9 音量調節器試験 音量調節器試験は，図２７に示す試験回路で行い，供試機の音量調節器を最大位置にし

標準出力になるようにＳＧの出力レベルを調節する。

次に，音量調節器の各位置で出力レベルを測定し，出力レベルの最大値との相対値（ｄＢ）を算出する。

6.2.10 利得調節器試験 利得調節器試験は，図２７に示す試験回路で行い，供試機の利得調節器を最大位置に

して標準出力になるようにＳＧの出力レベルを調節する。

次に，利得調節器の各位置で標準出力にする入力信号レベルを測定し，入力信号レベルの最小値との相対値（ｄ

Ｂ）を算出する。

6.2.11 スケルチ特性試験 スケルチ特性試験は，図２７に示す試験回路で行い，供試機のスケルチ調節器を最

大及び臨界点位置（７）にし，ＳＧから標準入力を加え，スケルチ回路が非動作となる最小のレベルを測定する。

注(７) 臨界点位置とは，無入力時にスケルチ回路が動作する最小位置をいう。

6.2.12 チャネル切換時間試験 チャネル切換時間試験は，図４３に示す試験回路で行い，ＳＧ１から試験周波

数１，ＳＧ２から試験周波数２でレベル30ｄＢμＶの標準入力を加え，おのおの供試機出力を標準出力に調節す

る。

次に，供試機のチャネルを，試験周波数１から試験周波数２へ切換えてから，供試機出力が標準出力の±2ｄＢ

以内に落ち着くまでに経過した時間を測定する。

時間の測定は，切換時間が比較的短い場合はオシロスコープ又はこれと等価な測定器を用い，切換時間が比較的

長い場合にはストップウオッチを用いることができる。

なお，この試験は自動利得制御回路を動作させて行う。

S G 1

供試機 レベル計結合回路 整合回路

S G 2オシロスコープ

チャネル切換信号

図４３ チャネル切換時間試験回路

6.2.13 中間周波出力特性試験

a) 出力レベル試験 出力レベル試験は，図２９に示す試験回路で行い，供試機の利得調節器を最大にし，ＳＧ

から無変調でレベル 30ｄＢμＶを加え中間周波出力レベルを測定する。

なお，この試験は自動利得制御回路を動作させて行う。

b) 周波数特性試験 周波数特性試験は，図２９に示す試験回路で行い，ＳＧから無変調でレベル30ｄＢμＶを

供試機に加え，利得調節器を中間周波出力レベルが飽和しない位置に調節し，規定の範囲で周波数を変化さ

せて中間周波出力レベルを測定し，レベルの変化（ｄＢ）を算出する。

21 C 0112B

6.2.14 不要信号感度比試験

a) 影像妨害比試験 影像妨害比試験は，図４４に示す試験回路で行い，供試機を6.2.4の b)の状態としたとき

のＳＧの出力をＥ0とし，ＳＧから影像周波数Ｆimを加え，供試機出力が標準出力となる入力信号レベルＥim

を測定し，ＥimとＥ0との相対値（ｄＢ）を算出する。

備考 影像周波数Ｆimは，供試機の局部発振周波数（第１局部発振周波数をＦl1，第2局部発振周波数を

Ｆl2，･･…･とする。）から中間周波数（第1中間周波数をＦi1,第2中間周波数をＦi2，･･……･とする。）

だけ異なる周波数すなわちＦl1±Ｆi1,Ｆl1±Ｆi2，････…･･，Ｆl1±（Ｆl2±Ｆi2），･･･…･･･，Ｆl2

±Ｆi2のうち試験周波数以外の周波数をいう。

S G 供試機 レベル計結合回路 整合回路

周波数計

図４４ 影像妨害比試験回路

b) 中間周波妨害比試験 中間周波妨害試験は，図４４に示す試験回路で行い，供試機を 6.2.4のb)の状態とし

たときのＳＧの出力をＥ０とし，ＳＧから中間周波数Ｆif（第1中間周波数をＦi1,第2中間周波数をＦi2,･…･･

とする。）を加え，供試機出力が標準出力となる入力信号レベルＥifとＥ０との相対値（ｄＢ）を算出する。

c) スプリアス妨害比試験 スプリアス妨害比試験は，図４４に示す試験回路で行い，供試機を6.2.4の b)の状

態としたときのＳＧの出力をＥ０とし，ＳＧからの入力信号レベルを増加（例えば，100ｄＢμＶ）し周波数

を変化させ，供試機出力に出力が現れる周波数及びこの周波数で供試機出力が標準出力となる入力信号レベ

ルＥＳを測定し，ＥＳとＥ０との相対値（ｄＢ）を算出する。

d) 局部発振器相互干渉試験 局部発振器相互干渉試験は，Ａ１Ａ受信機の場合図４４に示す試験回路で行い，

供試機の規定の周波数で受信状態とし，ＳＧの出力を切り，供試機出力の有無を調べる。もし供試機出力が

ある場合はその出力レベルＥｌを測定する。

次に，供試機の周波数を出力の発生しない周波数にわずかに変化させ，ＳＧから無変調信号を加え，Ｅｌと

同一レベルとなる入力信号レベルを測定する。

6.2.15 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次によって 6.2.4 の a)及び 6.2.8の a)

を行う。

a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧において試験を行う。ただし，電源電圧を

変化させてから 1 分間経過後 5 分間以内に測定する。

b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110の 3.6によって行う。

c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110の 3.7によって行う。

d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110の 3.1によって行う。

e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110の3.2によって行う。

6.3 送受切換時間試験

6.3.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 調節部分 最良状態に調節

22 C 0112B

c) 送信負荷 擬似負荷

d) 送信変調 音声又は電鍵

e) 受信標準出力 出力周波数 1000Ｈｚで 17ｄＢｍ又は 0ｄＢｍ

6.3.2 受信／送信切換時間試験 受信／送信切換時間試験は，図４５に示す試験回路で行い，供試機を試験周

波数で送信としてから，送信出力が定常出力の±2ｄＢ以内に落ち着くまでに経過した時間を測定する。

時間の測定は，切換時間が比較的短い場合はオシロスコープまたはこれと等価な測定器を用い，切換時間が比較

的長い場合はストップウオッチを用いることができる。

送受切換器　供 試 機（送受信機）

結合回路 擬似負荷

オシロスコープ

送信入信号（プレス入）

図４５ 受信／送信切換時間試験回路

6.3.3 送信／受信切換時間試験 送信／受信切換時間試験は，図４６に示す試験回路で行い，ＳＧからレベル

30ｄＢμＶの標準入力を加え，受信機出力を標準出力に調節する。次に，供試機を送信にした後，送信を”切り”

としてから受信出力が標準出力の±2ｄＢ以内に落ち着くまでに経過した時間を測定する。

時間の測定は，切換時間が比較的短い場合はオシロスコープ又はこれと等価な測定器を用い，切換時間が比較的

長い場合はストップウオッチを用いることができる。

なお，この試験は自動利得制御回路を動作させて行う。

S G 方向性結合器供 試 機

（送受信機）負荷抵抗

擬似負荷送信切信号（プレス断）

送受切換器 オシロスコープ

備考 この試験を行う時，ＳＧに送信電力が加わらないように注意すること。

図４６ 送信／受信切換時間試験回路

7. 試験方法（単一通信路用単側波帯振幅変調送受信機）

7.1 送信機試験（Ｊ３Ｅ，Ｈ３Ｅ）

7.1.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 負 荷 擬似負荷

c) 調節部分 最良状態に調節

d) 変調信号 標準変調信号又は定格入力レベル

23 C 0112B

備考1. 標準変調信号とは，Ｊ３Ｅの場合は送信出力の80％となるレベルの1500Ｈｚの正弦波をいい，

Ｈ３Ｅの場合は変調度が80％となるレベルの1000Ｈｚの正弦波をいう。

2. 定格入力レベルとは，供試機の運用状態における入力レベルとして定められているレベルをい

う。

7.１.2 一般電気的試験

a) 絶縁抵抗試験 絶縁抵抗試験は，6.1.2のa)によって行う。

b) 絶縁耐力試験 絶縁耐力試験は，6.1.2のb)によって行う。

c) 消費電力試験 消費電力試験は，6.1.2のc)によって行う。

d) 連続動作試験 連続動作試験は，6.1.2のd)によって行う。

７.1.3 周波数範囲試験 周波数範囲試験は，6.1.3によって行う。

７.1.4 周波数試験

a) 周波数確度試験 周波数確度試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 送信周波数を測定する方法

1.1) Ｊ３Ｅの場合 図４７に示す試験回路で，供試機の規定予熱時間経過後，変調入力として標準変調信号

を加えたときの送信周波数を測定し，次の式のいずれかによって周波数確度を算出する。

周波数確度＝ ff? ×10６ （ｐｐｍ）

又は ＝⊿ｆ （Ｈｚ）

ここに ⊿ｆ ： 周波数偏差（Ｈｚ）

周波数偏差＝測定周波数－試験周波数

ｆ ： 試験周波数（Ｈｚ）

変調入力信号は，出力周波数の測定確度に影響しない信号を使用するか，変調入力信号の周波数を適時

測定して送信周波数の測定値を補正する。

低周波発振器

供試機 結合器 擬似負荷

周波数計(1) 周波数計(2)

図４７ 送信周波数測定回路

1.2) Ｈ３Ｅの場合 6.1.4 a)の1)によって行う。

2) 局部発振周波数を測定する方法 6.1.4 a)の2)によって行う。

3) 基準周波数を測定する方法 6.1.4 a)の3)によって行う。

b) 周波数安定度試験 周波数安定度試験は，供試機の電源を切り2時間以上放置後電源を投入し，規定する予

熱時間経過後7.1.4のa)を行い，次の式のいずれかによって周波数安定度を算出する。

なお，測定は5，10，20，30，45，60，75，90，105及び120分又は5分以下の間隔で2時間行う。

ただし，試験中の周囲温度の変化は，±2℃以内とすることが望ましい。

周波数安定度＝（ｆmax－ｆmin） （Ｈｚ）

24 C 0112B

又は ＝f

minfmaxf ?×１０６ (ｐｐｍ）

ここに ｆmax ： 最高周波数（Ｈｚ）

ｆmin ： 最低周波数（Ｈｚ）

ｆ ： 試験周波数（Ｈｚ）

7.1.5 出力試験 出力試験は，6.1.5によって送信出力を測定する。

7.1.6 寄生振動試験 寄生振動試験は，図４８に示す試験回路で行い，供試機を1500Ｈｚで変調し，出力が飽

和するまで変調入力を徐々に増加させ，オシロスコープ又はスペクトラムアナライザによって寄生振動の有無を

調べる。

低周波発振器

供試機 擬似負荷可 変減衰器

結合器

オシロスコープ又はスペクトラムアナライザ

電力計

図４８ 寄生振動試験回路

7.1.7 占有周波数帯幅試験 占有周波数帯幅試験は，次のいずれかの方法で行う。

a) 定格入力レベルによる方法 図４９に示す試験回路で，定格入力レベルの擬似音声信号を加え，占有周波数

帯幅測定器によって占有周波数帯幅を測定する。

擬似音声発 生 器

供 試 機 結合器 擬似負荷

レベル計占有周波数帯幅測定器

図４９ 占有周波数帯幅試験回路（定格入力レベルによる方法）

b) 標準変調信号による方法 図５０に示す試験回路で，ＳＷを１に接続し，供試機に標準変調信号を加え，レ

ベル計の指示を読み取る。

次にＳＷを２に接続し，レベル計の指示が前と同じになるように可変減衰器を調節する。この状態で占有周

波数帯幅測定器によって占有周波数帯幅を測定する。

25 C 0112B

備考 占有周波数帯幅測定器としてスペクトラムアナライザを使用してもよい。

図５０ 占有周波数帯幅試験回路（標準変調信号による方法）

7.1.8 Ｊ３Ｅ搬送波出力試験 Ｊ３Ｅ搬送波出力試験は，図５１に示す試験回路で行い，供試機に原則として定

格入力レベルの1500Ｈｚを加えたときの搬送波出力レベルと希望側波帯出力レベルを測定し，相対値（ｄＢ）を

算出する。

低周波発振器

電力計可　変減衰器 擬似負荷

レベル計

結合器供試機

スペクトラムアナライザ

図５１ Ｊ３Ｅ搬送波出力試験回路

7.1.9 不要波出力試験

a) スプリアス出力試験 スプリアス出力試験は，図５２に示す試験回路で行う。Ｊ３Ｅの場合は，供試機に標

準変調信号又は定格入力レベルの1500Ｈｚを加え，Ｈ３Ｅの場合は，無変調状態で試験を行い，不要波出力

と基本波出力のレベルを測定し，相対値（ｄＢ）を算出する。

測定結果には，必要に応じて不要波の周波数及び性質（高調波，低調波の次数，局部発振周波数，影像周波

数，寄生振動，相互変調積など）を付記する。

図５２ スプリアス出力試験回路

b) 不要側波帯出力試験 不要側波帯出力試験は，図５１に示す試験回路で行い，供試機を標準変調信号で変調

し，不要側波帯出力レベルと希望側波帯出力レベルを測定し，相対値（ｄＢ）として算出する。

c) アウトオブバンド出力試験 アウトオブバンド出力試験は，図５３に示す試験回路で行う。

1) Ｊ３Ｅの場合 低周波発振器(1)（原則として700Ｈｚとする）及び低周波発振器(2)（原則として2500

26 C 0112B

Ｈｚとする）の出力を個別に加えたときの供試機の出力が，原則としてそれぞれ送信出力の 41 になるよう

に可変減衰器(1)及び(2)をそれぞれ調節する。

次に，低周波発振器(1)及び低周波発振器(2)を同時に加えたときの第3次混変調積のスペクトラム成分を

スペクトラムアナライザで測定し，基本成分と第3次混変調出力の相対値に6ｄＢを加え尖頭電力に対する

減衰量とする。

2) Ｈ３Ｅの場合 低周波発振器(1)（原則として700Ｈｚとする）及び低周波発振器(2)（原則として2500

Ｈｚとする）の出力を個別に加えたときの変調度が，50％になるように可変減衰器(1)及び可変減衰器(2)

をそれぞれ調節する。

次に，低周波発振器(1)及び低周波発振器(2)を同時に加えたときの第3次混変調積のスペクトラム成分を

スペクトラムアナライザで測定し，搬送波成分と第３次混変調出力の相対値に6ｄＢを加え，尖頭電力に

対する減衰量とする。

低周波発振器(1)

電力計整合回路 擬似負荷

レベル計

結合器

低周波発振器(2)

供試機

スペクトラムアナライザ

可 変減衰器(1)

可 変減衰器(2)

図５３ アウトオブバンド出力試験回路

d) 送信機帯域外雑音試験 送信機帯域外雑音試験は，図５４に示す試験回路で行う。Ｊ３Ｅの場合は，標準

変調信号を加え，Ｈ３Ｅの場合は，無変調とする。

スペクトラムアナライザによって，Ｊ３Ｅの送信信号レベルＳ（ｄＢ）又はＨ３Ｅの送信搬送波レベルＣ（ｄ

Ｂ）を測定する。

次に試験周波数から指定された離隔周波数において，指定された帯域幅Ｂｔ（Ｈｚ）に含まれる送信雑音レ

ベルＮ’（ｄＢ）を測定する。送信信号対雑音比NS 又は送信搬送波対雑音比 N

C は次の式によって算出する。

送信信号対雑音比 ＝ Ｓ－（Ｎ’＋10 ｌｏｇ ABBt

＋Ｋ） （ｄＢ）（Ｊ３Ｅの場合）

送信搬送波対雑音比＝Ｃ－（Ｎ’＋10 ｌｏｇ ABBt

＋Ｋ） （ｄＢ）（Ｈ３Ｅの場合）

ここに Ａ ：スペクトラムアナライザの分解能を決定する中間周波フィルタは，ガウシアン形である

ために理想矩形波フィルタの帯域幅に換算するための係数で，1.2が一般的である。

Ｂ ：測定時に設定したスペクトラムアナライザの分解能帯域幅（電力半値幅）（Ｈｚ）。

Ｂｔ：規定された送信雑音帯域幅（Ｈｚ）。

Ｋ ：雑音のピークを，少なめに増幅する対数増幅器の特性を補正するための値で，2.5ｄＢが

一般的である。

Ｎ’ ：Ｂの約1/100の帯域幅をもつビデオフィルタを挿入した時，スペクトラムアラナイザで表

示された送信雑音レベルのＢｔ内における雑音レベル（ｄＢ）。

27 C 0112B

低周波発振器

供試機 擬似負荷結合器

スペクトラムアナライザ(8)

電力計

注(８) スペクトラムアナライザのダイナミックレンジが不足する場合は，適当な帯域阻止フィルタを挿入

すること。この場合は，送信波と観測波との間の減衰量の差を送信信号対雑音比または送信搬送

波対雑音比の式に加えること。

図５４ 送信機帯域外雑音試験回路

7.1.10 変調諸特性試験

a) Ｈ３Ｅ変調度試験 Ｈ３Ｅ変調度試験は，供試器を1500Ｈｚで変調し，入力レベルを変化させ，次のいずれ

かの方法で変調入力レベルに対する送信出力の変調度を測定する。

1) 変調度計又はオシロスコープによる方法 6.1.9 a) の1)によって行う。

2) スペクトラムアナライザによる方法 図５５に示す試験回路で，スペクトラムアナライザ（原則として直

線目盛を使用する）に現れる搬送波に対する側波帯の振幅比を測定し，次の式によって変調度を算出する。

変調度＝ dc

×100 （％）

ここに ｃ ： 側波帯の振幅

ｄ ： 搬送波の振幅

低周波発振器

可 変減衰器

結合器供試機

スペクトラムアナライザ

擬似負荷

レベル計

図５５ Ｈ３Ｅ変調度試験回路

b) Ｈ３Ｅ搬送波レベル変動試験 Ｈ３Ｅ搬送波レベル変動試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 狭帯域フィルタによる方法 6.1.9 b) の2)によって行う。

2) スペクトラムアナライザによる方法 6.1.9 b) の3)によって行う。

c) Ｊ３Ｅ周波数特性試験 Ｊ３Ｅ周波数特定試験は，図５６に示す試験回路で行い，供試機を1500Ｈｚで変調

し，その出力が送信出力の 41 となるように可変減衰器を調節する。

次に，出力を一定に保ちながら，規定の周波数範囲内で周波数を変化したときの入力レベル偏差を測定する

（原則として変調周波数は，300，500，700，1000，2000，2700Ｈｚとする）。

28 C 0112B

低周波発振器

可 変減衰器

擬似負荷供試機 電力計

レベル計

図５６ Ｊ３Ｅ周波数特性試験回路

d) Ｊ３Ｅ第３次混変調試験 Ｊ３Ｅ第3次混変調試験は，図５３に示す試験回路で行い，低周波発振器(1)（原

則として1000Ｈｚ）及び低周波発振器(2)（原則として1575Ｈｚ）の出力を個別に加えたときの出力が，原

則として送信出力の 41 になるように可変減衰器(1)及び可変減衰器(2)をそれぞれ調節する。

次に，低周波発振器(1)及び低周波発振器(2)を同時に加え，スペクトラムアナライザで第3次混変調出力（原

則として425Ｈｚ）のレベルを測定し，基本成分との相対値（ｄＢ）を算出する。

e) ひずみ及び雑音試験

1) ひずみ率雑音レベル計による方法 図５７に示す試験回路で，供試器の変調周波数を原則として1000Ｈｚ

とし，Ｊ３Ｅの場合は送信出力の 41 ，Ｈ３Ｅの場合は変調度25％になる変調入力レベルで変調する。この

状態で，直線検波器の全出力に対する雑音及び高調波ひずみ出力との比? ?DNDNS

??? を，ひずみ率雑音レベ

ル計で測定する。

低周波発振器

供試機 擬似負荷可 変減衰器

結合器

ひずみ率雑音レベル計

電力計

直 線検波器

備考 直線検波器として，測定用受信機を使用してもよい。測定用受信機は，ひずみ及び雑音が機器の

規格又は仕様書に示した許容差範囲を，確認できるものでなければならない。

図５７ ひずみ及び雑音試験回路（ひずみ率雑音レベル計による方法）

2) スペクトラムアナライザによる方法 図５８に示す試験回路で，供試機の変調周波数を原則として1000

Ｈｚとし，Ｊ３Ｅの場合は送信出力の 41 ，Ｈ３Ｅの場合は25％変調になる変調入力レベルで変調し，スペ

クトラムアナライザによって変調側波帯の基本波A１のレベルに対する高調波成分の相対レベル：Ａ２,Ａ３

～Ａｎ（ｄＢ）及び送信帯域幅に含まれる雑音成分の相対レベルＮ’（ｄＢ）を測定し，次の式によってひ

ずみ及び雑音を算出する。

ひずみ及び雑音 ＝ 100101010 1010102 ???? NAA

n? （％）

雑音レベルＮ（ｄB）は，スペクトラムアナライザの分解能帯域幅をＢ, 送信帯域幅Ｂｔ内における雑音

29 C 0112B

レベル（ビデオフィルタの帯域幅を，分解能帯域幅の約 1001 に設定したときの雑音の表示レベル）が，

Ａ１に対しＮ’（ｄＢ）であるとすれば，近似的に次の式によって求める。

雑音レベル＝Ｎ’＋ 10 ｌｏｇ ABBt

+ Ｋ （ｄＢ）

ここに Ａ ：スペクトラムアナライザの分解能を決定する中間周波フィルタは，ガウシアン形であ

るために理想矩形波フィルタの帯域幅に換算するための係数で，1.2が一般的である。

Ｋ ：雑音のピークを少なめに増幅する対数増幅器の特性を補正するための値で，2.5ｄＢ

が一般的である。

低周波発振器

供試機 擬似負荷可 変 減

衰器結合回路 電力計

スペクトラムアナライザ

図５８ ひずみ及び雑音試験回路（スペクトラムアナライザによる方法）

f) 側音出力試験 側音出力試験は，6.1.9のh)によって行う。

7.1.11 チャネル切換時間試験 チャネル切換時間試験は，6.1.10によって行う。

7.1.12 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次によって7.1.4のa)及び7.1.5を行う。

a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧において試験を行う。ただし，電源電圧を

変化させてから1分間経過後5分間以内に測定する。

b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110の3.6によって行う。

c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110の3.7によって行う。

d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110の3.1によって行う。

e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110の3.2によって行う。

7.2 受信機試験（Ｊ３Ｅ）

7.2.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 自動利得制御回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

c) 出力制限回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

d) 雑音制限回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

e) 標準出力 出力周波数1500Ｈｚで17ｄＢｍ又は0ｄＢｍ

f) 調節部分 最良状態に調節

7.2.2 一般電気的試験

a) 絶縁抵抗試験 絶縁抵抗試験は，6.1.2のa)によって行う。

b) 絶縁耐力試験 絶縁耐力試験は，6.1.2のb)によって行う。

c) 消費電力試験 消費電力試験は，6.1.2のc)によって行う。

d) 連続動作試験 連続動作試験は，供試機を試験周波数で連続動作させ，次によって行う。

30 C 0112B

なお，受信機の入力は無入力又は無変調信号とし，連続動作は少なくとも5時間以上とする。

1) 電源変圧器，そく流線輪，その他規定する場所の温度を連続動作終了時に測定し，室温との差から温度上

昇を算出する。

2) 連続動作開始時，連続動作中，連続動作終了時に7.2.4のa)を行う。

3) 連続動作中及び連続動作終了後に，電気的及び機械的な異常の有無を調べる。

7.2.3 周波数範囲試験 周波数範囲試験は，供試機を試験周波数で動作させ，7.2.4のa)又は6.2.4のc)を行う。

7.2.4 感度試験

a) 信号対雑音比試験 信号対雑音比試験は，図５９に示す試験回路で，次のいずれかによって行う。

1) 信号対雑音比試験 ＳＧから規定レベルの無変調信号を加え，供試機出力を標準出力に調節する。

次に，供試機をそのままの状態でＳＧの出力を切り，雑音出力レベルを測定し，標準出力レベルとの相対

値（ｄＢ）を算出する。

2) 信号対ひずみ雑音比試験 ＳＧから規定レベルの無変調信号を加え，供試機出力を標準出力に調節する。

次に，供試機をそのままの状態で，ひずみ率雑音レベル計によって信号成分（基本波）を除去し，ひずみ

を含む雑音のレベルを測定し，標準出力レベルとの相対値（ｄＢ）を算出する。

S G 結合回路 整合回路供試機ひずみ率雑音レベル計

周波数計

図５９ 信号対雑音比試験回路

b) 最大有効感度試験 最大有効感度試験は，図５９に示す試験回路で，次のいずれかによって行う。

1) 信号対雑音比による場合 ＳＧの出力を切った状態で，供試機の雑音出力レベルが，標準出力レベルより

規定の信号対雑音比だけ低いレベルになるように，供試機出力を調節する。次に，無変調信号を加え，供

試機出力が標準出力になる入力信号レベルを求める。

2) 信号対ひずみ雑音比による場合 ＳＧから，無変調信号を加えたときの供試機出力が標準に等しく，且つ

規定の信号対ひずみ雑音比が得られる入力信号レベルを求める。

c) 雑音指数試験 雑音指数試験は，6.2.4のc)によって行う。

7.2.5 自動利得制御試験

a) 出力特性試験 出力特性試験は，図６０に示す試験回路で行い，ＳＧから入力信号レベル30ｄＢμＶの無変

調信号を加え，供試機出力を規定の出力（原則として標準出力）に調節する。

次に，ＳＧを規定の最低入力信号レベルから最高入力信号レベルまで変化させ，供試機出力レベルを測定し，

レベル偏差（ｄＢ）を算出する。

なお，この試験は，自動利得制御回路を動作させて行う。

31 C 0112B

S G 結合回路 整合回路供試機 レベル計

図６０ 出力特性試験回路

b) 応答時間試験 応答時間試験は，図６１に示す試験回路で行い，減衰器の減衰量を原則として30ｄＢとし，

ＳＷを１に接続して，供試機全出力に対する雑音及び高調波ひずみ出力との比? ?DNDNS

??? が20ｄＢとなる入

力信号レベルを求める。次に，供試機の音量調節器を調節して，出力レベルを規定出力の－10ｄＢとし，Ｓ

Ｗを２に接続したときに，図６２に示すαが，オシロスコープの表示において±2ｄＢ以内に落ちつくまで

のアタック時間を測定する。

更に，ＳＷを１に接続し，同様にオシロスコープの表示からレリーズ時間を測定する。

なお，この試験は，自動利得制御回路を動作させて行う。

図６１ 応答時間試験回路

備考 出力が振動して，定常値の±2ｄＢと交差する時間が複数ある場合は，最後に±2ｄＢと交差する

時間を測定する。

図６２ 応答時間の測定法

7.2.6 選択度試験

a) 1信号選択度試験 1信号選択度は，図６３に示す試験回路で次によって行う。

32 C 0112B

1) 通過帯域幅試験 供試機を7.2.4. b)の1)の状態とし，ＳＧの周波数を試験周波数付近で変化させ，レベル

計の指示が最大となる点を求めた後，ＳＧの出力を調節してレベル計の指示を適当な値 Ｅ１とする。この

時のＳＧの出力をＥ０とする。

次に，ＳＧ の出力を6ｄＢ増加し，ＳＧ の周波数を試験周波数の上下に変化させ，レベル計の指示がＥ１

となる周波数を求め，この二つの周波数の差から通過帯域幅（図６４のｆ6 －ｆ’6 ）を算出する。もし，

レベル計の指示がＥｌとなる周波数が三つ以上ある場合は，試験周波数に近い側の二つの周波数とする。

S G 結合回路 整合回路供試機 レベル計

周波数計

図６３ １信号選択度試験回路

2) 減衰帯域幅試験 試験は，1)の試験と合わせて行い，原則としてＳＧの出力をＥ０＋26，Ｅ０＋46及びＥ０

＋66（ｄＢ）とし，各減衰点においてＳＧの周波数を試験周波数の上下に変化させ，1)で定めた出力Ｅ１

が得られる周波数を求め，この二つの周波数の差から各減衰点における減衰帯域幅（図６４のｆ26 －

ｆ’26 ，ｆ46 －ｆ’46 及びｆ66 －ｆ’66 ）を算出する。

もし，レベル計の指示がＥ１となる周波数が，規定の周波数範囲内で三つ以上ある場合は，試験周波数に

遠い側の二つの周波数とする。

図６４ 通過帯域幅及び減衰帯域幅の測定法

b) 実効選択度試験

1) 感度抑圧効果試験 図６５に示す試験回路で，ＳＧ２の出力を切り，ＳＧ１から無変調信号で規定レベル

を供試機に加え，出力を標準出力に調節する。

次にＳＧ２を無変調とし，周波数を試験周波数から規定の周波数（原則として隣接チャネル間隔）だけ上

下に離調し，供試機出力レベルが3ｄＢ低下する時のＳＧ２からの妨害信号入力レベルを測定する。離調

周波数を連続的に変化させ，測定した場合の一例を図６６に示す。

33 C 0112B

S G 1

供試機 レベル計２信号用結合回路

整合回路

S G 2

備考 測定値に，２信号用結合回路の損失を補正すること。

図６５ 感度抑圧効果試験回路

図６６ 感度抑圧効果特性例

2) 混変調試験 図６７に示す試験回路で，ＳＧ２の出力を切り，ＳＧ１から規定レベルの試験周波数におけ

る無変調信号を供試機に加え，標準出力が得られるように調節した後，ひずみ率雑音レベル計の帯域フィ

ルタによって1500Ｈｚの成分を除去する。

次に，ＳＧ２を試験周波数で1000Ｈｚ 30％変調とし，周波数を試験周波数から規定の周波数（原則と

して隣接チャネル間隔）だけ上下に離調し，ひずみ率雑音レベル計の指示が標準出力レベルより20ｄＢ低

い値になる時の，ＳＧ２からの妨害信号入力レベルを測定する。試験中ＳＧ２の変調を切り，出力レベル

が変化する場合，出力減衰度として，この変化を混変調特性とともに測定する。離調周波数を連続的に変

化させ，測定した場合の一例を図６８に示す。

S G 1

供試機ひずみ率雑音レベル計

２信号用結合回路

整合回路

S G 2

備考 規定値に，２信号用結合回路の損失を補正すること。

図６７ 混変調試験回路

34 C 0112B

図６８ 混変調特性例

3) 相互変調試験

3.1) 試験は図６５に示す試験回路で，妨害信号周波数が希望信号周波数に対して，次の(a)～(c)の関係にあ

る場合のうち，規定された場合について3.2)によって行う。

なお，二つの妨害信号の周波数をFu 及びF’u とする。

(a) 二つの妨害信号周波数の和が，希望信号周波数Ｆｄ に等しい場合

すなわち， Ｆｄ ＝Ｆu ＋Ｆ’u

この場合妨害信号周波数は，希望信号周波数の 21 に近いが 2

1 に等しくない周波数とする。

(b) 二つの妨害信号周波数の差が，希望信号周波数に等しい場合

すなわち， Ｆｄ ＝Ｆu －Ｆ’u

この場合周波数の低い方の妨害信号は，希望信号に近い周波数（例えば，隣接チャネル周波数）とする。

(c) 二つの妨害信号周波数の差が，希望信号周波数と一つの妨害信号周波数の差に等しく3次相互変調

積を生ずる関係にある場合

すなわち， Ｆd ＝２Ｆu －Ｆ’u

この場合希望信号に近い方の妨害信号は，希望信号に近い周波数（例えば，隣接チャネル周波数）とす

る。

3.2) ＳＧ１から規定レベル（原則として20ｄＢμＶ又は40ｄＢμＶ）の試験周波数における無変調信号を，

供試機に加え供試機出力を標準出力に調節する。

次に，ＳＧ１及びＳＧ２の周波数を，Ｆu 及びＦ’uにして出力を等しく保ちながら増加し，供試機出力

が標準レベルより20ｄＢ低い値になる時の妨害信号入力レベルを測定する。

妨害周波数を連続的に変化させ，測定した場合の一例を図６９に示す。

35 C 0112B

図６９ 相互変調特性例

7.2.7 忠実度試験

a) 周波数特性試験 周波数特性試験は，原則として300，500，700，1000，2000 及び2700 Ｈｚの周波数で

行う。

1) 総合周波数特性試験 図７０に示す試験回路でＳＧを試験周波数で無変調とし，入力信号レベル（原則と

して30ｄＢμＶ）を供試機に加え，供試機出力を標準出力に調節する。

次に入力信号レベルを，一定に保ちながらＳＧの周波数を規定の周波数範囲内で変化させ，供試機出力を

測定し，標準出力との相対値（ｄＢ）を算出する。

S G 供試機 レベル計結合回路 整合回路

周波数計

図７０ 総合周波数特性試験回路

2) 低周波特性試験 低周波特性試験は，6.2.7 a)の2)によって行う。

b) ひずみ及び雑音試験

1) ひずみ及び雑音試験 図５９に示す試験回路で，供試機出力が1000Ｈｚとなる周波数の入力信号（原則と

して30ｄＢμＶ）を加え，供試機出力を規定出力に調節する。

次に，規定出力レベルに対する雑音及び高調波ひずみ出力レベルとの比? ?DNDNS

??? を，ひずみ率雑音レ

ベル計で測定する。

なお，この試験は，自動利得制御回路を動作させて行う。

2) 低周波増幅部ひずみ試験 低周波増幅部ひずみ試験は，6.2.7 b)の2)によって行う。

c) 第3次混変調試験 第3次混変調試験は，図７１に示す試験回路で行い，ＳＧ１及びＳＧ２から無変調で規定

の入力レベルを個別に加え，ＳＧ１による出力（原則として1000Ｈｚ）とＳＧ２による出力（原則として

1575Ｈｚ）がそれぞれ規定の出力になるよう調節する。

次に，ＳＧ１及びＳＧ２を同時に加え，スペクトラムアナライザで第３次混変調出力（原則として425Ｈｚ）

36 C 0112B

レベルを測定し，基本成分との相対値（ｄＢ）を算出する。

なお，この試験は，自動利得制御回路を動作させて行う。

S G 1

供試機 レベル計２信号用結合回路

整合回路

S G 2

結合回路

周波数計

スペクトラムアナライザ

備考 測定値に，２信号用結合回路の損失を補正すること。

図７１ 第３次混変調試験回路

7.2.8 周波数試験

a) 周波数確度試験 周波数確度試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 局部発振周波数を測定する方法 6.2.8 a)の1)によって行う。

2) 中間周波数を測定する方法 6.2.8 a)の2)によって行う。

3) 基準周波数を測定する方法 6.2.8 a)の3)によって行う。

4) 低周波を測定する方法 図７２に示す試験回路で，ＳＧを試験周波数に合わせ，供試機規定の予熱時間経

過後，供試機出力の低周波の周波数を測定し，次の式によって周波数確度を算出する。

周波数確度＝ ff?×10６ （ｐｐｍ）

又は ＝ ⊿ｆ （Ｈｚ）

ここに ⊿ｆ ： 周波数偏差（Ｈｚ）

周波数偏差＝測定周波数－周波数の公称値

ｆ ： 周波数の公称値（Ｈｚ）

S G 供試機 レベル計結合回路 整合回路

周波数計(2)周波数計(1)

図７２ 周波数確度試験回路

b) 周波数安定度試験 周波数安定度試験は，6.2.8のb)によって行う。

7.2.9 音量調節器試験 音量調節器試験は，図６０に示す試験回路で行い，供試機の音量調節器を最大位置にし，

ＳＧから無変調の試験周波数を加え，供試機出力が標準出力になるようにＳＧの出力レベルを調節する。

次に，音量調節器の各位置で出力レベルを測定し，出力レベルの最大値との相対値（ｄＢ）を算出する。

7.2.10 利得調節器試験 利得調節器試験は，図６０に示す試験回路で行い，供試機の利得調節器を最大位置に

37 C 0112B

し，ＳＧから無変調の試験周波数を加え，供試機出力が標準出力になるようにＳＧの出力レベルを調節する。

次に利得調節器の各位置で，標準出力にする入力信号レベルを測定し，入力信号レベルの最小値との相対値（ｄ

Ｂ）を算出する。

7.2.11 チャネル切換時間試験 チャネル切換時間試験は，図７３に示す試験回路で行い，ＳＧ１から試験周波

数１，ＳＧ２から試験周波数２で入力信号レベル30ｄＢμＶの無変調信号を加え，おのおの供試機出力を標準出

力に調節する。

次に，供試機のチャネルを試験周波数１から試験周波数２へ切換えてから，供試機出力が標準出力の±2ｄＢ以

内に落ち着くまでに経過した時間を測定する。

時間の測定は，切換時間が比較的短い場合はオシロスコープ又はこれと等価な測定器を用い，切換時間が比較的

長い場合はストップウオッチを用いることができる。

なお，この試験は，自動利得制御回路を動作させて行う。

S G 1

供試機 レベル計結合回路 整合回路

S G 2

オ シ ロスコープ

チャネル切換信号

図７３ チャネル切換時間試験回路

7.2.12 中間周波出力特性試験

a) 出力レベル試験 出力レベル試験は，6.2.13のa)によって行う。

b) 周波数特性試験 出力レベル試験は，6.2.13のb)によって行う。

7.2.13 不要信号感度比試験

a) 影像妨害比試験 影像妨害比試験は，図７０に示す試験回路で行い，供試機を7.2.4 bの1)の状態としたとき

のＳＧの出力をＥ０とする。

次に，ＳＧから影像周波数Ｆimを加え，供試機出力が標準出力となるＳＧの出力Ｅimを測定し，ＥimとＥ０と

の相対値（ｄＢ）を算出する。

備考 影像周波数Ｆimは，供試機の局部発振周波数（第1局部発振周波数をＦl1,第2局部発振周波数を

Ｆl2 ,･･･とする）から中間周波数（第1局部発振周波数をＦl1,第2局部発振周波数をＦl2 ，･･･

とする）だけ異なる周波数，すなわちＦl1±Ｆi1, Ｆl1±Ｆi2,･･･, Ｆl1±（Ｆl2±Ｆi2）,･･･Ｆl2

±Ｆi2 のうち，試験波数以外の周波数をいう。

b) 中間周波妨害比試験 中間周波妨害比試験は，図７０に示す試験回路で行い，供試機7.2.4 b)の1)の状態と

したときのＳＧの出力をＥ０とする。

次に，ＳＧから中間周波数Ｆif（第1中間周波数をＦi1,第2中間周波数をＦi2,･･･とする）を加え，供試機出

力が標準出力となるＳＧの出力の出力Ｅif を測定し，ＥifとＥ０との相対値（ｄＢ）を算出する。

c) スプリアス妨害比試験 スプリアス妨害比試験は，図７０に示す試験回路で行い，供試機を7.2.4 b)の1)の

状態としたときのＳＧの出力をＥ０とする。

次に，ＳＧの出力を増加（例えば，100ｄＢμＶ）し，周波数を変化させ，供試機出力に出力が現れる周波

38 C 0112B

数及びこの周波数で供試機出力が標準出力となるＳＧの出力Ｅｓを測定し，ＥｓとＥ０間との相対値（ｄＢ）

を算出する。

d) 局部発振器相互干渉試験 局部発振器相互干渉試験は，図６３に示す試験回路で行い，供試機を規定の周波

数で受信状態とし，ＳＧの出力を切り，供試機出力の有無を調べる。もし，供試機出力がある場合はその出

力レベルＥ０を測定する。

次に，供試機の周波数を出力の発生しない周波数にわずかに変化させ，ＳＧから無変調信号を加え，Ｅ０と

同一レベルとなる入力信号レベルを求める。

7.2.14 運用条件に対する試験方法 運用条件に対する試験方法は，原則として次によって7.2.4のa)及び7.2.8

のa)を行う。

a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧において試験を行う。ただし，電源電圧を

変化させてから1分間経過後5分間以内に測定する。

b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110の3.6によって行う。

c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110の3.7によって行う。

d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110の3.1によって行う。

e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110の3.2によって行う。

7.3 送受切換時間試験

7.3.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 調節部分 最良状態に調節

c) 送信負荷 擬似負荷

d) 出 力 送信出力

e) 受信標準出力 出力周波数1500Ｈｚで17ｄＢｍ又は0ｄＢｍ

7.3.2 受信／送信切換時間試験 受信／送信切換時間試験は，図７４の試験回路で行い，送信（プレストーク方

式ではプレス入）してから，送信出力が定常出力の±2ｄＢ以内に落ち着くまでの，経過した時間を測定する。

時間の測定は，切換時間が比較的短い場合はオシロスコープ又はこれと等価な測定器を用い，切換時間が長い場

合はストップウオッチを用いることができる。

低周波発振器

擬似負荷供試機

（送受信機)結合回路

オ シ ロスコープ

送受切換器送信入信号(プレス入)

図７４ 受信／送信切換時間試験回路

7.3.3 送信／受信切換時間試験 送信／受信切換時間試験は，図７５の試験回路で行い，ＳＧから入力信号レベ

ル30ｄＢμＶの試験周波数における無変調信号を加え，受信機出力を標準出力に調節する。

次に，供試機を送信状態とした後，送信を切り（プレストーク方式ではプレス断）にしてから受信機出力が標準

出力の±2ｄＢ以内に落着くまでの経過した時間を測定する。

時間の測定は，切換時間が比較的短い場合にはオシロスコープ又はこれと等価な測定器を用い，切換時間が比較

39 C 0112B

的長い場合にはストップウオッチを用いることができる。

なお，この試験は自動利得制御回路を動作させて行う。

S G供 試 機

（送受信機）負荷抵抗

方 向 性結合回路

オシロスコープ擬似負荷 送受切換器送信切信号（プレス断）

備考 この試験を行う時，ＳＧに送信電力が加わらないように注意すること。

図７５ 送信／受信切換時間試験回路

8. 試験方法（データ伝送用振幅変調送受信機）

8.1 送信機試験

8.1.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 負 荷 擬似負荷

c) 調節部分 最良状態に調節

d) 標準符号 規定の速度の 511ビットＭ系列符号，マーク符号及びスペース符号を一定のパターンで繰返す

符号，又は印刷電信の場合は一定の文字の繰返し。

8.1.2 一般電気的試験

a) 絶縁抵抗試験 絶縁抵抗試験は，6.1.2の a)によって行う。

b) 絶縁耐力試験 絶縁耐力試験は，6.1.2の b)によって行う。

c) 消費電力試験 消費電力試験は，供試機の電源入力回路に電圧計及び電流計又は電力計を接続して，試験周

波数で動作させた時の消費電力を測定する。

なお，変調は無変調又は標準符号による変調とする。

d) 連続動作試験 連続動作試験は，供試機を試験周波数で連続動作させ，次によって行う。

なお，変調は無変調又は標準符号による変調とし，連続動作は1分間送信，1分間休止の繰り返しで少なくと

も5時間以上とする。

1) 電源変圧器，そく流線輪，その他規定する場所の温度を連続動作終了時に測定し，室温との差から温度上

昇を算出する。

2) 連続動作開始時，連続動作中及び連続動作終了時に 6.1.5を行う。

3) 連続動作中及び連続動作終了後に電気的及び機械的な異常の有無を調べる。

8.1.3 周波数範囲試験 周波数範囲試験は，供試機を試験周波数で動作させ 6.1.5を行う。

8.1.4 周波数試験

a) 周波数確度試験 周波数確度試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 送信周波数を測定する方法 図７６に示す試験回路で，供試機の規定予熱時間経過後，無変調（９）で送

信周波数を測定し，次の式によって周波数確度を算出する。

周波数確度 ＝ff?×10６ （ｐｐｍ）

又は＝⊿ｆ （Ｈｚ）

40 C 0112B

ここに ⊿ｆ ： 周波数偏差 （Ｈｚ）

周波数偏差＝測定周波数－試験周波数

ｆ ： 試験周波数 （Ｈｚ）

注(９) 無変調とは，変調入力を断にするなどの方法によって，被測定送信波が単一の線スペクトルで出

力されている状態をいう。

結 合 器 擬似負荷供 試 機

周波数計

図７６ 送信周波数測定回路

2) 局部発振周波数を測定する方法 6.1.4 a)の 2)によって行う。

3) 基準周波数を測定する方法 6.1.4 a)の 3)によって行う。

b) 周波数安定度試験 周波数安定度試験は，供試機の電源を切り2時間以上放置後電源を投入し，規定する予

熱時間経過後8.1.4のa)を行い，次の式のいずれかによって周波数安定度を算出する。

なお，測定は，5，10，20，30，45，60，75，90，105及び120分又は5分以下の間隔で2時間行う。ただし，

試験中の周囲温度の変化は，±2℃以内とすることが望ましい。

周波数安定度 ＝（ｆmax－ｆmin） （Ｈｚ）

又は ＝ f

ff minmax ? ×10６ （ｐｐｍ）

ここに ｆmax ： 最高周波数 （Ｈｚ）

ｆmin ： 最低周波数 （Ｈｚ）

ｆ ： 試験周波数 （Ｈｚ）

8.1.5 出力試験 出力試験は，6.1.5によって行う。

8.1.6 寄生振動試験 寄生振動試験は，図７７に示す試験回路で行い次を調べる。供試機が低周波入力端子を持

つ場合には，6.1.6または7.1.6によって行う。

符 号発生器

結合器 擬似負荷供試機

オシロスコープ又はスペクトラムアナライザ

図７７ 寄生振動試験回路

a) 標準符号を加えた状態で，オシロスコープ又はスペクトラムアナライザによって寄生振動の有無を調べる。

b) 無変調（９）の状態で，オシロスコープ又はスペクトラムアナライザによって寄生振動の有無を調べる。

41 C 0112B

8.1.7 占有周波数帯幅試験 占有周波数帯幅試験は，図７８に示す試験回路で行い，供試機を標準符号又は規定

の符号で変調し，占有周波数帯幅を測定する。

符 号発生器

結合器 擬似負荷供試機

占有周波数帯幅測定器

備考 占有周波数帯幅測定器として，スペクトラムアナライザを使用してもよい。

図７８ 占有周波数帯幅試験回路

8.1.8 不要波出力試験

a) スプリアス出力試験 スプリアス出力試験は，図７９に示す試験回路で行い，供試機に標準符号を加え，不

要波出力と基本波出力のレベルを測定し，相対値(ｄＢ)を算出する。

測定結果には，必要に応じて不要波の周波数及び性質（高調波，低調波の次数，局部発振周波数，影像周波

数，寄生振動，相互変調積など）を付記する。

符 号発生器

結合器 擬似負荷供試機

電界強度測定器又はスペクトラムアナライザ

図７９ スプリアス出力試験回路

b) 不要側波帯出力試験 不要側波帯出力試験は，図８０に示す試験回路で行い，供試機に標準符号を加え，不

要側波帯出力と希望側波帯出力のレベルを測定し，相対値（ｄＢ）を算出する。

符 号発生器 結合器 擬似負荷供試機

スペクトラムアナライザ

図８０ 不要側波帯出力試験回路

c) 送信機帯域外雑音試験 送信機帯域外雑音試験は，6.1.8の b)によって行う。

8.1.9 低周波・中間周波入力特性試験

a) 中間周波入力レベル試験 中間周波入力レベル試験は，図８１に示す試験回路で行い，ＳＧの出力周波数及

び出力レベルを，供試機の公称中間周波数及び規定の中間周波入力レベルに調節して供試機の中間周波入力

に加え，出力電力を測定する。必要な場合，入力レベルを変化させて入力出力特性を測定する。

42 C 0112B

S G 擬似負荷 電力計結合回路 供試機

図８１ 中間周波入力レベル試験回路

b) 中間周波入力周波数特性試験 中間周波入力周波数特性試験は，図８１に示す試験回路で行い，ＳＧの出力

を規定する入力レベルとし，周波数を変化させて出力電力の変化特性を測定する。

c) 遅延ひずみ試験 遅延ひずみ試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 低周波入力の場合 図８２に示す試験回路で行い，ＳＷを１に接続し，供試機を1500Ｈｚで変調して，供

試機出力が送信出力の 41 になるよう可変減衰器(1)を調節し，周波数変換器の出力周波数が1500Ｈｚにな

るように局部発振器の周波数を調節する。

次にＳＷを２に接続し，遅延ひずみ測定器（送信部）の発振周波数を1500Ｈｚとし，可変減衰器(2)を調

節して，供試機出力を送信出力の 41 にする。遅延ひずみ測定器（送信部）の発振周波数を変化させて，各

周波数における遅延時間を測定する。測定結果を図示した例を図８３に示す。

遅延ひずみは，規定の周波数範囲で最大の遅延時間Ｄmax及び最小の遅延時間Ｄminを求め，次の式によっ

て遅延ひずみを算出する。

遅延ひずみ＝（Ｄmax －Ｄmin） （ｍｓ）

図８２ 遅延ひずみ試験回路（低周波入力の場合）

図８３ 遅延時間特性例

43 C 0112B

2) 中間周波入力の場合 図８４に示す試験回路で行い，1500Ｈｚに対して周波数変換器(1)の出力が供試機

中間周波数になるよう，局部発振器(1)の周波数を調節する。ＳＷを１に接続して，低周波発振器の出力

を1500Ｈｚとし，周波数変換器(2)の出力周波数が1500Ｈｚになるよう，局部発振器(2)の周波数を調節

する。この状態で可変減衰器(1)を調節し，供試器出力を送信出力の 41 にする。

次にＳＷを２に接続して，遅延ひずみ測定器（送信部）の発振周波数を1500Ｈｚとし，可変減衰器(2)を

調節して，供試機出力を送信出力の 41 にする。

この状態で，1)と同様の方法によって遅延ひずみを求める。

図８４ 遅延ひずみ試験回路（中間周波入力の場合）

d) 第３次混変調試験 第 3 次混変調試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 低周波入力の場合 7.1.10の d)によって行う。

2) 中間周波入力の場合 図８５に示す試験回路で行い，ＳＧ１の周波数をＦ１,ＳＧ２の周波数をＦ２ とし，

ＳＧ１及びＳＧ２の出力をそれぞれ個別に，供試機の中間周波入力に加えたときの供試機出力が，原則と

して送信出力の 41 になるように可変減衰器(1)及び(2)をそれぞれ調節する。

次にＳＧ１及びＳＧ２の出力を同時に加え，スペクトラムアナライザで第3次混変調成分２Ｆ1 －Ｆ２ の

レベルを測定し，基本成分との相対値（ｄＢ）を算出する。

なお，Ｆ1とＦ２は第3次混変調成分（原則として２Ｆ1 －Ｆ２）が帯域内に入る中間周波数とする。

S G 1

供試機 擬似負荷２信号用結合回路

結合器

S G 2

（F1）

（F2）

可変減衰器(1)

可変減衰器(2)

電力計

スペクトラムアナライザ

周波数計

中間周波入力

図８５ 第３次混変調試験回路

44 C 0112B

8.1.10 送信立上り・立下り時間試験 送信立上り・立下り時間試験は，図８６に示す試験回路で行い，ＳＷを

投入してから送信出力が定常出力の±2ｄＢ以内に安定するまでに経過した時間（立上り時間），及びＳＷを切り

にしてから送信出力の振幅が定常出力の－20ｄＢ（0.1倍）になるまでに経過した時間（立下り時間）を測定す

る。

図８６ 送信立上り・立下り時間試験回路

8.1.11 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，次によって 8.1.4の a)及び 8.1.5を行う。

a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧で試験を行う。ただし，電源電圧を変化さ

せてから 1 分間経過後 5 分間以内に測定する。

b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110の 3.6によって行う。

c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110の 3.7によって行う。

d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110の 3.1によって行う。

e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110の 3.2によって行う。

8.2 受信機試験

8.2.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 自動利得制御回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

c) 出力制限回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

d) 雑音制限回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

e) スケルチ回路 非動作，ただし，入－切スイッチの無いものはそのままとする。

f) 調節部分 最良状態に調節

g) 標準符号 規定の速度の511ビットＭ系列符号，マーク符号及びスペース符号を一定のパターンで繰返す符

号，又は印刷電信の場合は一定の文字の繰返し。

h) 標準入力 標準符号で変調された試験周波数の信号で，入力レベルは30ｄＢμＶ。

備考 ＳＧは，供試機と同じ変調信号を発生できるもので，供試受信機に対応する送信機を使用しても

よい。

8.2.2 一般電気的試験

a) 絶縁抵抗試験 絶縁抵抗試験は，6.1.2の a)によって行う。

b) 絶縁耐力試験 絶縁耐力試験は，6.1.2の b)によって行う。

c) 消費電力試験 消費電力試験は，8.1.2の c)によって行う。

d) 連続動作試験 連続動作試験は，供試機を試験周波数で連続動作させ，次によって行う。なお，受信機の入

力は無入力又は標準入力とし，連続動作は少なくとも 5 時間以上とする。

45 C 0112B

1) 電源変圧器，そく流線輪，その他規定の場所の温度を連続動作終了時に測定し，室温との差から温度上昇

を算出する。

2) 連続動作開始時，連続動作中及び連続動作終了時に，6.2.4の c)または 8.2.4の b)を行う。

3) 連続動作中及び連続動作終了後に，電気的及び機械的な異常の有無を調べる。

8.2.3 周波数範囲試験 周波数範囲試験は，供試機を試験周波数で動作させ，8.2.4の b)を行う。

8.2.4 感度試験

a) 雑音指数試験 雑音指数試験は，6.2.4の c)によって行う。

b) 誤り率試験 誤り率試験は，図８７に示す試験回路で行い，ＳＧを標準符号で変調し，供試機の入力レベル

を規定の値にして誤り率を測定する。

符 号発生器

供試機誤り率測定器

S G 結合回路

図８７ 誤り率試験回路

8.2.5 自動利得制御試験

a) 出力特性試験 出力特性試験は，6.2.5によって行う。

b) 応答時間試験 応答時間試験は，図８８に示す試験回路で，自動利得制御回路を動作させて行う。減衰器の

減衰量を原則として 30ｄＢとし，ＳＷを１に接続し，供試機の入力レベルを規定の値にする。次にＳＷを

２に接続し，低周波又は中間周波出力のレベルが，定常値の±2ｄＢ以内に落ち着くまでの時間（アタック

時間）を測定する。更に，ＳＷを１に接続し，低周波又は中間周波出力のレベルが，定常値の±2ｄＢ以内

に落ち着くまでの時間（レリーズ時間）を測定する。

備考 出力が振動して，定常値の±2ｄＢと交差する時間が複数ある場合は，最後に±2ｄＢを切る時間

を測定する。

図８８ 応答時間試験回路

8.2.6 選択度試験

a) １信号選択度試験 １信号選択度試験は，6.2.6の a)又は 7.2.6の a)によって行う。

b) 実効選択度試験 実効選択度試験は，6.2.6の b)又は 7.2.6の b)によって行う。

8.2.7 低周波・中間周波出力特性試験

a) 中間周波出力レベル試験 中間周波出力レベル試験は，6.2.13の a)によって行う。

b) 中間周波周波数特性試験 中間周波周波数特性試験は，6.2.13の b)によって行う。

c) 遅延ひずみ試験 遅延ひずみ試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 低周波出力の場合 図８９に示す試験回路で，ＳＷを１に接続し低周波発振器を1500Ｈｚにする。供試機

入力が規定のレベルとなるよう可変減衰器(1)を調節し ，供試機の出力周波数が1500Ｈｚになるように

46 C 0112B

局部発振器の周波数を調節する。

次にＳＷを２に接続して，遅延ひずみ測定器（送信部）の発振周波数を1500Ｈｚとし，可変減衰器(2)を

調節して，供試機入力を同じ規定のレベルにする。遅延ひずみ測定器（送信部）の発振周波数を変化させ

て，各周波数における遅延時間を測定する。測定結果を図示した例を図９０に示す。

遅延ひずみは，規定の周波数範囲で最大の遅延時間Ｄmax及び最小の遅延時間Ｄminを求め，次の式によっ

て遅延ひずみを算出する。

遅延ひずみ＝（Ｄmax－Ｄmin） （ｍｓ）

図８９ 遅延ひずみ試験回路（低周波出力の場合）

図９０ 遅延時間特性例

2) 中間周波出力の場合 図９１に示す試験回路で，ＳＷ１を２に接続し，ＳＧから供試機中間周波出力周波

数と同じ周波数信号を出力し，周波数変換器(2)の出力が1500Ｈｚになるように局部発振器(2)の周波数

を調節する。次に，ＳＷ１を１に接続し，また，ＳＷ２を１に接続して，周波数変換器(2)の出力周波数

が1500Ｈｚになるように 局部発振器(1)の周波数を調節し，可変減衰器(1)によって供試機入力を規定の

レベルに調節する。

次にＳＷ２を２に接続し，遅延ひずみ測定器（送信部）の発振周波数を1500Ｈｚとし，可変減衰器(2)を

調節して，供試機入力を同じ規定のレベルにする。

次に，1)と同様の方法で遅延ひずみを求める。

47 C 0112B

図９１ 遅延ひずみ試験回路（中間周波出力の場合）

d) 第３次混変調試験 第 3 次混変調試験は，次にいずれかの方法で行う。

1) 低周波出力の場合 7.2.7の c)によって行う。

2) 中間周波出力の場合 図９２に示す試験回路で，ＳＧ１の周波数をＦ１，ＳＧ２の周波数をＦ２とし，ＳＧ

１及びＳＧ２の出力をそれぞれ個別に供試機に加えたとき，供試機中間周波出力が規定のレベルとなるよ

うにＳＧの各出力レベルを調節する。次にＳＧ１及びＳＧ２の出力を同時に加え，スペクトラムアナライ

ザで第3次混変調成分２Ｆ１－Ｆ２のレベルを測定し，基本成分との相対値（ｄＢ）を算出する。なお，

Ｆ１とＦ２は，第3次混変調成分２Ｆ１－Ｆ２が帯域内に入る周波数とする。

S G 1

供試機２信号用結合回路

結合回路

S G 2

（F1）

（F2）

スペクトラムアナライザ

レベル計

中間周波出力

周波数計

図９２ 第３次混変調試験回路

8.2.8 周波数試験

a) 周波数確度試験 周波数確度試験は，6.2.8の a)によって行う。

b) 周波数安定度試験 周波数安定度試験は，6.2.8の b)によって行う。

8.2.9 不要信号感度比試験

a) 影像妨害比試験 影像妨害比試験は，図９３に示す試験回路で行い，ＳＧの周波数を試験周波数とし，中間

周波出力（10）が規定のレベルＥ１になるＳＧの出力 E０を測定する。

次に，ＳＧの周波数を影像周波数Ｆimとして，中間周波出力がＥ１になるＳＧの出力Ｅimを測定し，Ｅimと

Ｅ０との相対値（ｄＢ）を算出する。

注(10) 中間周波数が複数ある場合は，最終段の中間周波出力とする。

48 C 0112B

S G 負荷抵抗

レベル計(2)

結合回路 供試機中間周波出力

レベル計(1)周波数計

備考 影像周波数は，6.2.14の a)備考による。

図９３ 影像妨害比試験回路

b) 中間周波妨害比試験 中間周波妨害比試験は，図９３に示す試験回路で行い，ＳＧの周波数を試験周波数と

し，中間周波出力（10）が規定のレベルＥ１になるＳＧの出力Ｅ0 を測定する。次に，ＳＧの周波数を中間周

波数Ｆin（第1中間周波をＦi1，第2中間周波をＦi2，・・・とする）とし，中間周波出力がＥ１になるＳＧの

出力Ｅinを測定し，ＥinとＥ０との（ｄＢ）を算出する。

c) スプリアス妨害比試験 スプリアス妨害比試験は，図９３に示す試験回路で行い，ＳＧの周波数を試験周

波数とし，中間周波出力（10）が規定のレベルＥ１になるＳＧの出力Ｅ０を測定する。次に，ＳＧの出力を増

加（例えば100～120ｄＢμＶ）して周波数を広範囲に変化し，中間周波出力に出力が現れる周波数を求め，

この周波数で中間周波出力レベルがＥ１になるＳＧの出力ＥＳを測定し，ＥＳとＥ０との相対値（ｄＢ）を算

出する。

8.2.10 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次により8.2.4のb)及び8.2.8の a)を行

う。

a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧で試験を行う。ただし，電源電圧を変化さ

せてから 1 分間経過後 5 分間以内に測定する。

b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110の 3.6によって行う。

c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110の 3.7によって行う。

d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110の 3.1によって行う。

e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110の 3.2によって行う。

8.3 送受総合試験

8.3.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 調節部分 最良状態に調節

c) 標準符号 規定の速度の511ビットＭ系列符号，マーク符号及びスペース符号を一定のパターンで繰返す符

号又は印刷電信の場合は一定の文字の繰返し。

8.3.2 通信路伝送時間試験 通信路伝送時間試験は，図９４に示す試験回路で行い，送信機に標準符号又は規定

の符号を加え，入力波形と出力波形の時間差を測定する。

49 C 0112B

符 号発生器

方向性結合器

擬似負荷供試機

（送信機）

供試機（受信機） オ シ ロ

スコープ

可変　減衰器

図９４ 通信路伝送時間試験回路

8.3.3 誤り率試験

a) 受信機内部雑音試験 受信機内部雑音試験は，図９５に示す試験回路で行い，送信機を標準符号で動作させ，

可変減衰器によって受信機の入力レベルを規定する値として，誤り率を測定する。

符 号発生器

方向性結合器

擬似負荷供試機

（送信機）

供試機（受信機）

可変　減衰器

誤り率測定器

図９５ 受信機内部雑音試験回路

b) 擬似伝送路試験 擬似伝送路試験は，図９６に示す試験回路で行い，受信機の平均入力レベルを規定のレベ

ルとし，擬似伝送路を規定のフェージングレートで動作させ，送信機に標準符号を加え，平均入力レベルに

対する誤り率を測定する。

符 号発生器

方向性結合器

擬 似負 荷

供試機(送信機)

減衰器擬 似伝送路

可 変減衰器

供試機(受信機)

誤り率測定器

図９６ 擬似伝送路試験回路

9. 試験方法（データ伝送用変復調機器）

9.1 変調器試験

9.1.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 負荷抵抗 低周波出力の場合は 300 又は 600Ωの無誘導抵抗負荷とし，その許容差は±5％とする。

c) 調節部分 最良状態に調節

d) 標準符号 規定の速度の 511ビットＭ系列符号，マーク符号及びスペース符号を一定のパターンで繰返す符

50 C 0112B

号又は印刷電信の場合は一定の文字の繰返し。

9.1.2 一般電気的試験

a) 絶縁抵抗試験 絶縁抵抗試験は，6.1.2の a)によって行う。

b) 絶縁耐力試験 絶縁耐力試験は，6.1.2の b)によって行う。

c) 消費電力試験 消費電力試験は，8.1.2の c)によって行う。

d) 連続動作試験 連続動作試験は，供試機を連続動作させ次によって行う。

なお，変調は無変調又は標準符号による変調とし，連続動作は少なくとも 5 時間以上とする。

1) 電源変圧器，そく流線輪その他規定する場所の温度を，連続動作終了時に測定し，室温との差から温度上

昇を算出する。

2) 連続動作開始時，連続動作中及び連続動作終了時に，9.1.4の a)を行う。

3) 連続動作中及び連続動作終了後に，電気的及び機械的な異常の有無を調べる。

9.1.3 周波数試験

a) 副搬送波周波数試験 副搬送波周波数試験は，次のいずれかの方法で行う。

1) 副搬送波周波数による方法 図９７に示す試験回路で，供試機を無変調とし出力周波数を測定する。ただ

し，被測定通信路以外の信号は切る。

結合器 負荷抵抗供試機

周波数計

図９７ 副搬送波周波数試験回路（副搬送波周波数による方法）

2) マーク周波数・スペース周波数による方法 図９７に示す試験回路で，供試機にマーク符号及びスペース

符号を加え，それぞれの出力周波数を測定する。ただし，被測定通信路以外の信号は切る。

3) 平均周波数による方法 図９８に示す試験回路で，符号発生器から1：1符号を加え，出力周波数を測定す

る。ただし，被測定通信路以外の信号は切る。

なお，被測定通信路以外の信号を切ることができない場合には，周波数計の代わりにスペクトラムアナラ

イザを使用し，その表示から周波数を求めてもよい。

結合器 負荷抵抗供試機

周波数計

符 号発生器

図９８ 副搬送波周波数試験回路（平均周波数による方法）

b) パイロット周波数試験 パイロット周波数試験は，図９７に示す試験回路で行い，パイロット以外の信号

を切り出力周波数を測定する。なお，パイロット以外の信号を切ることができない場合には，周波数計の代

わりにスペクトラムアナライザを使用し，その表示から周波数を求めてもよい。

51 C 0112B

c) クロック周波数試験 クロック周波数試験は図９９に示す試験回路で行い，伝送速度の基本となるクロック

の周波数を測定する。

周波数計供試機クロック出力

図９９ クロック周波数試験回路

9.1.4 出力諸特性試験

a) 出力レベル試験 出力レベル試験は，図１００に示す試験回路で行い，供試機を標準符号で変調し，出力レ

ベルを測定する。

負荷抵抗供試機

レベル計

符 号発生器

図１００ 出力レベル試験回路

b) パイロットレベル試験 パイロットレベル試験は，図１０１に示す試験回路で行い，供試機を無変調又は

標準符号で変調してパイロット信号の出力レベルを測定する。ただし，レベル計で測定する場合は，パイロ

ット信号以外の信号は切る。

負荷抵抗供試機

レベル計,選択レベル計又はスペクトラムアナライザ

符 号発生器

図１０１ パイロットレベル試験回路

c) 副搬送波間レベル差試験 副搬送波間レベル差試験は，図１０２に示す試験回路で行い，変調を切り，各副

搬送波間のレベル差（ｄＢ）を測定する。

負荷抵抗供試機

スペクトラムアナライザ又は選択レベル計

図１０２ 副搬送波間レベル差試験回路

52 C 0112B

d) 出力インピーダンス試験 出力インピーダンス試験は，図１０３に示す試験回路で行い ，供試機を標準符号

で変調し，ＳＷを１に接続した時の出力レベルＥ１（Ｖ）及びＳＷを２に接続した時の出力レベルＥ２（Ｖ）

を測定し，次の式によって出力インピーダンスを算出する。

出力インピーダンス ＝ ? ?

2

21

E

EER ? （Ω）

ここに Ｒ ： 抵抗器の抵抗値（Ω）

図１０３ 出力インピーダンス試験回路

e) 出力レベル可変範囲試験 出力レベル可変範囲試験は，図１００に示す試験回路で行い，供試機を標準符号

で変調し，供試機の出力レベル調整器を最大及び最小位置にしたときの出力レベルを測定し，その差（ｄＢ）

を算出する。

f) ひずみ率試験 ひずみ率試験は，図１０４に示す試験回路で行い，供試機を無変調とし，供試機出力を原

則として最大出力レベルに対して雑音及び高調波ひずみ出力レベルとの比? ?DNDNS

??? を測定する。ただし，被

測定通信路以外の信号は切る。

負荷抵抗供試機

ひずみ率雑音レベル計

図１０４ ひずみ率試験回路

9.1.5 位相変調特性試験

a) 位相誤差試験 位相誤差試験は，図１０５に示す試験回路で行い，供試機入力の符号を規定の組合せに設定

して，すべての出力の位相状態を順に発生させ，各位相状態の位相を測定し，互いにとなりあう位相状態の

信号間の位相差を算出し，360°/ｎに対する偏差を求める。ただし，ｎは変調相数とする。

53 C 0112B

符 号発生器

負荷抵抗供試機

位相計

レベル計 又はオシロスコープ

基準信号

図１０５ 位相誤差試験回路

b) 位相間レベル差試験 位相間レベル差試験は，図１０５に示す試験回路で行い，供試機入力の符号を規定の

組合せに設定して，すべての出力の位相状態を順に発生させ，各位相状態の出力レベルを測定し，その最大

値と最小値との差（ｄＢ）を算出する。

9.1.6 周波数変調特性試験

a) 偏移周波数試験 偏移周波数試験は，9.1.3 a)の2)によってマーク周波数及びスペース周波数を測定し，そ

の差によって偏移周波数を算出する。

b) マーク・スペース間レベル差試験 マーク・スペース間レベル差試験は，図１０２に示す試験回路で行い，

供試機にマーク符号及びスペース符号を入力したときの出力レベルを測定し，その差（ｄＢ）を算出する。

9.1.7 占有周波数帯幅試験 占有周波数帯幅試験は，8.1.7によって行う。

9.1.8 スプリアス出力試験 スプリアス出力試験は，8.1.8の a)によって行う。

9.1.9 インタフェース試験 インタフェース試験は，供試機の端末側のインタフェースに関する特性のうち，規

定された項目について行う。なお，9.1.9の c)，9.1.9の d)及び 9.1.9の e)は，供試機から端末機器に対して，

制御信号などを出力する機能を持つ場合に適用する。

a) 入力電圧・入力電流試験 入力電圧又は入力電流試験は，図１０６に示す試験回路で行い，直流電源（12）

の出力を変化させ，供試機出力の周波数がマークからスペース及びスペースからマークに変化するか，又は

規定の位相変化が生ずるときの入力電圧又は入力電流を測定する。

注(12) 直流電源は，供試機が入力電流で動作する場合は定電流式の電源を使用し，供試機が入力電圧で

動作する場合は定電圧式の電源を使用する。

直流電源 結合器 負荷抵抗電流計 供試機

周波数計

位相計基準位相信号

電圧計

図１０６ 入力電圧・入力電流試験回路

b) 入力抵抗試験 入力抵抗試験は，図１０７に示す試験回路で行い，供試機に規定する電圧を加えたときの入

力電流を測定し，次の式によって入力抵抗を算出する。

54 C 0112B

入力抵抗 ＝ IV

（Ω）

ここに Ｖ ： 規定電圧 （Ｖ）

Ｉ ： 入力電流 （Ａ）

直流電源 供試機電流計

電圧計

図１０７ 入力抵抗試験回路

c) 出力電圧・出力電流試験 出力電圧又は出力電流試験は，図１０８に示す試験回路で行い，供試機の制御信

号などの出力電圧又は出力電流を測定する。

電流計 抵抗器

供試機

電圧計

制御信号などの出力

備考 抵抗器は，端末装置の入力抵抗に等しい抵抗値とする。

図１０８ 出力電圧・出力電流試験回路

d) 出力抵抗試験 出力抵抗試験は，図１０９に示す試験回路で行い，供試機の制御信号などの出力について，

ＳＷを１に接続した時の出力電圧Ｅ１（Ｖ）及びＳＷを２に接続した時の出力電圧Ｅ２（Ｖ）を測定し，出力

抵抗を次の式によって算出する。

出力抵抗＝ ? ?

2

21

E

EER ?（Ω）

ここに Ｒ ： 抵抗器の抵抗値 （Ω）

図１０９ 出力抵抗試験回路

55 C 0112B

e) 立上り・立下り時間試験 立上り及び立下り時間試験は，図１１０に示す試験回路で行い，供試機の制御信

号などの出力について，図１１１に示すパルス波形の立上り時間（Ｔ１）及び立下り時間（Ｔ２）を測定する。

抵抗器

供試機

オシロスコープ

備考 抵抗器は，端末装置の入力抵抗に等しい抵抗値とする。

図１１０ 立上り・立下り時間試験回路

図１１１ 立上り・立下り時間の測定法

9.1.10 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次によって 9.1.4の a)を行う。

a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧で試験を行う。

ただし，電源電圧を変化させてから 1 分間経過後 5 分間以内に測定する。

b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110の 3.6によって行う。

c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110の 3.7によって行う。

d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110の 3.1によって行う。

e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110の 3.2によって行う。

9.2 復調器試験

9.2.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 調節部分 最良状態に調節

c) 標準符号 規定の速度の511ビットＭ系列符号，マーク符号及びスペース符号を一定のパターンで繰返す符

号又は印刷電信の場合は一定の文字の繰返し。

d) 標準入力 標準符号で変調された試験周波数の信号で，入力レベルは規定の入力レベル。

備考 信号源に使用するＳＧは，供試機に対応する変調信号を発生できるもので，供試復調器に対応す

る変調器を使用してもよい。

9.2.2 一般電気的試験

a) 絶縁抵抗試験 絶縁抵抗試験は，6.1.2の a)によって行う。

b) 絶縁耐力試験 絶縁耐力試験は，6.1.2の b)によって行う。

56 C 0112B

c) 消費電力試験 消費電力試験は，6.1.2の c)によって行う。

d) 連続動作試験 連続動作試験は，供試機を連続動作させ，次によって行う。

なお，復調器の入力は無入力又は標準入力とし，連続動作は少なくとも 5 時間以上とする。

1) 電源変圧器，そく流線輪，その他規定する場所の温度を連続動作終了時に測定し，室温との差から温度上

昇を算出する。

2) 連続動作開始時，連続動作中及び連続動作終了時に 9.2.9の a)を行う。

3) 連続動作中及び連続動作終了時に，電気的及び機械的な異常の有無を調べる。

9.2.3 クロック周波数試験 クロック周波数試験は，図１１２に示す試験回路で行い，伝送速度の基本となるク

ロック周波数を測定する。なお，クロック同期制御は”切り”とする。

供 試 機 周波数計クロック出力

図１１２ クロック周波数試験回路

9.2.4 レベル試験

a) 受信レベルダイヤ試験 受信レベルダイヤ試験は，図１１３に示す試験回路で行い，供試機に標準入力を

加え，規定する測定点でレベルを測定する。

S G 可変減衰器 供試機

レベル計

図１１３ 受信レベルダイヤ試験回路

b) 自動利得制御試験 自動利得制御試験は，図１１３に示す試験回路で行い，入力レベルを規定の範囲で変化

させたときの，規定する測定点の出力レベル偏差（ｄＢ）を測定する。

9.2.5 搬送波同期特性試験

a) 引込み範囲試験 引込み範囲試験は，図１１４に示す試験回路で行い，ＳＧを標準符号で変調し，ＳＧの周

波数を供試機の公称入力周波数ｆ０の上・下の周波数からｆ０に近づけ，オシロスコープの波形が静止したと

きの上側周波数ｆ１及び下側周波数ｆ２を測定し，次によって引込み範囲を算出する。

引込み範囲 ＋側 ：ｆ１－ｆ０

－側 ：ｆ０－ｆ２

57 C 0112B

S G

周波数計

供試機 オシロスコープ

符 号発生器

トリガ入力

検波出力

備考 供試機の検波出力が取り出せない場合は，9.2.9のb)の方法によって誤り率が規定の値以下とな

る周波数ｆ１,ｆ2を測定してもよい。

図１１４ 引込み範囲試験回路

b) 保持範囲試験 保持範囲試験は，図１１４に示す試験回路で行い，ＳＧを標準符号で変調し，ＳＧの周波数

を供試機の公称入力周波数ｆ０から上・下の周波数に変化させ，オシロスコープの波形が動き出したときの

上側周波数ｆ3及び下側周波数ｆ４を測定し，次によって保持範囲を算出する。

＋側 ：ｆ3 － ｆ０

－側 ：ｆ０ － ｆ４

備考 供試機の検波出力が取り出せない場合は，9.2.9 のb)の方法によって，誤り率が規定の値以上と

なる周波数ｆ3 ,ｆ４を測定してもよい。

9.2.6 クロック同期特性試験

a) 引込み範囲試験 引込み範囲試験は，図１１５に示す試験回路で行い，符号発生器の出力を標準符号とする。

次に，低周波発振器の周波数を供試機の公称クロック周波数ｆ０の上・下の周波数からｆ０に近づけ，オシロ

スコープの波形が静止したときの上側周波数ｆ１及び下側周波数ｆ2を測定し，次によって引込み範囲を算出

する。

引込み範囲 ＋側 ：ｆ１ － ｆ０

－側 ：ｆ０ － ｆ2

S G 供試機

オシロスコープ

低周波発振器

トリガ入力

符 号発生器

クロック同期回路出力周波数計

クロック周波数

図１１５ 引込み範囲試験回路

b) 保持範囲試験 保持範囲試験は，図１１５に示す試験回路で行い，符号発生器の出力を標準符号とする。次

に，低周波発振器の周波数を供試機の公称クロック周波数ｆ０から上・下の周波数に変化させて，オシロス

コープの波形が動き出したときの上側周波数ｆ3及び下側周波数ｆ４を測定し，次によって保持範囲を算出す

る。

保持範囲 ＋側 ： ｆ3 － ｆ０

－側 ： ｆ０ － ｆ４

58 C 0112B

c) 保持時間試験 保持時間試験は，図１１５に示す試験回路で行い，符号発生器の出力を標準符号とする。次

に，低周波発振器の周波数を供試機の公称クロック周波数として，オシロスコープの波形を静止させる。次

にＳＧの出力を切った時から，供試機のクロック同期回路出力が静止位置より規定のずれ（13）を生じるま

での時間を測定する。

注(13) クロック同期回路出力の静止位置からのずれは，静止状態でのクロック位置と，ずれを生じたと

きのクロックの位置との差を，クロックの 1 周期の時間に対する比で表わす。

9.2.7 ジッタ特性試験

a) 自局ジッタ特性試験 自局ジッタ特性試験は，図１１６に示す試験回路で行い，供試機を標準入力で動作さ

せ，ジッタ測定器によって測定するか，又はオシロスコープ波形の時間の変動幅によってジッタ（14）を測

定する。

注(14) ジッタは，クロックの 1 周期の時間に対する比（％）で表す。

b) ジッタ抑圧特性試験 ジッタ抑圧特性試験は，図１１６に示す試験回路で行い，符号発生器の出力を標準符

号又は規定の符号とし，ジッタ発生器からのクロックに規定のジッタ（14）を加えて，供試機出力のジッタ

を測定する。

S G 供試機 ジッタ測定器ジッタ発生器 符号発生器

クロック同期回路出力

又は出力符号

図１１６ 自局ジッタ特性試験回路

9.2.8 周波数変調信号復調特性試験

a) 弁別特性試験 弁別特性試験は，図１１７に示す試験回路で行い，供試機入力を規定のレベルとし，低周波

発振器（15）の周波数を規定の範囲に変化させて，周波数弁別器の出力電圧を測定する。

注(15) 低周波発振器は，供試機が中間周波入力の場合は，それに対応する周波数の発振器とする。

供試機

周波数計

低周波発振器 可変減衰器

弁別器出力

直流電圧計(16)　又は オシロ

スコープ

注(16) 直流電圧計は，周波数弁別器に影響を及ぼさぬようインピーダンスの高いものであること。

図１１７ 弁別特性試験回路

b) 判定スレッショルド試験 判定スレッショルド試験は，図１１８に示す試験回路で行い ，低周波発振器（15）

を規定のレベルとし，周波数を公称入力周波数の上下に変化させて，判定出力がマークからスペース及びスペ

ースからマークへ変化する入力周波数を測定する。

59 C 0112B

供試機

周波数計

低周波発振器 可変減衰器

判定出力

直流電圧計(16)　又は オシロ

スコープ

図１１８ 判定スレッショルド試験回路

9.2.9 誤り率試験

a) 雑音特性試験 雑音特性試験は，図１１９に示す試験回路で行い，雑音発生器の出力を切り，可変減衰器(1)

を調節して，供試機の入力を規定レベルＳとする。

次にＳＧの出力を切り，雑音発生器を動作させたときの供試機の入力レベルＮを可変減衰器(2)によって調

節し， NS を規定の値にする。

この状態で，ＳＧを標準符号で変調して動作させ，誤り率を測定する。

S G

レベル計

結合器 供試機符 号発生器

可 変減衰器(1)

誤り率測定器

帯域制限ろ波器

可 変減衰器(2)

雑 音発生器

備考 雑音発生器の出力は，供試機の受信帯域幅より広い広担なスペクトラムを持った白色ガウス雑音

とし，帯域制限ろ波器によって，ＳＧ出力と等価な帯域幅に制限する。

図１１９ 雑音特性試験回路

b) 入力周波数偏差特性試験 入力周波数偏差特性試験は，図１２０に示す試験回路で行い ，供試機の入力を規

定のレベルとし，ＳＧを供試機の公称入力周波数から規定の値だけずれた周波数にする。この状態で，ＳＧ

を標準符号で変調し，誤り率を測定する。

S G 供試機符 号発生器

可 変減衰器

誤り率測定器

図１２０ 入力周波数偏差特性試験回路

9.2.10 インタフェース試験

a) 出力電圧・出力電流試験 出力電圧又は出力電流試験は，9.1.9 の c)によって行う。

b) 出力抵抗試験 出力抵抗試験は，9.1.9 の d)によって行う。

c) 立上り・立下り時間試験 立上り及び立下り時間試験は，9.1.9の e)によって行う。

60 C 0112B

9.2.11 信号検出特性・ヒステリシス幅試験 信号検出特性及びヒステリシス幅試験は，図１２１に示す試

験回路で行い，ＳＧを標準符号で変調又は無変調とし，可変減衰器を調節して，供試機の入力レベルを変化させ，

信号断検出状態から信号検出状態へ変化する入力レベル及び信号検出状態から信号断検出状態へ変化する入力レ

ベルを測定する。ヒステリシス幅は，この二つのレベル差（ｄＢ）によって算出する。

S G

レベル計

供試機符 号発生器

可 変減衰器

電 圧 計 又はオシロスコープ

信号検出出力

図１２１ 信号検出特性・ヒステリシス幅試験回路

9.2.12 運用条件に対する試験 運用条件に対する試験は，原則として次によって 9.2.9 の a)を行う。

a) 電源電圧変動試験 電源電圧変動試験は，最高電圧及び最低電圧で試験を行う。ただし，電源電圧を変化さ

せてから 1 分間経過後 5 分間以内に測定する。

b) 温度試験 温度試験は，NDS C 0110の 3.6によって行う。

c) 湿度試験 湿度試験は，NDS C 0110の 3.7によって行う。

d) 振動試験 振動試験は，NDS C 0110の 3.1によって行う。

e) 衝撃試験 衝撃試験は，NDS C 0110の 3.2によって行う。

9.3 送受総合試験

9.3.1 標準測定状態 試験は，原則として次に示す標準測定状態で行う。

a) 電源電圧 規定値±2％

b) 調節部分 最良状態に調節

c) 標準符号 規定の速度511ビットＭ系列符号，マーク符号及びスペース符号を一定のパターンで繰返す符号，

又は印刷電信の場合は一定の文字の繰返し。

9.3.2 通信路伝送時間試験 通信路伝送時間試験は，図１２２に示す試験回路で行い，変調器に標準符号又は規

定の符号を加え，変調器入力波形と復調器の出力波形の時間差を測定する。

供試機（変調器）

供試機（復調器）

符 号発生器

減衰器オ シ ロスコープ

図１２２ 通信路伝送時間試験回路

9.3.3 バイアスひずみ調整範囲試験 バイアスひずみ調整範囲試験は，図１２３に示す試験回路で行い，変調器

に 1：1 符号を入力し，復調器のバイアスひずみ調整箇所を調節してバイアスひずみの調整範囲を測定する。

供試機(変調器)

供試機(復調器)

符 号発生器

減衰器データひずみ(電信ひずみ)　測定器

図１２３ バイアスひずみ調整範囲試験回路

61 C 0112B

9.3.4 データひずみ（電信ひずみ）試験

a) 受信レベル特性試験 受信レベル特性試験は，図１２３に示す試験回路で行い，変調器を標準符号で変調し，

復調器の入力レベルを規定の範囲に変化させたときのデータひずみ（％）を測定する。

b) 周波数偏差特性試験 周波数偏差特性試験は，図１２３に示す試験回路で行い，変調器を標準符号で変調し，

搬送波周波数に規定の周波数偏差を与えたときのデータひずみを測定する。

なお，変調器では搬送波周波数に偏差を与えられない場合は，変調器と復調器の間に，周波数シフト回路を

挿入して試験を行う。

c) 雑音特性試験 雑音特性試験は，図１２４に示す試験回路で行い，雑音発生器の出力を切り，減衰器(1)

を調節して，復調器の入力を規定のレベルＳとする。

次に変調器の出力を切り，雑音発生器を動作させたときの復調器入力レベルＮを，減衰器(2)によって調節

し NS を規定の値にする。

この状態で，変調器を標準符号で変調し，データひずみを測定する。

供試機(変調器)

供試機(復調器)

符 号発生器

減衰器(1)

データひずみ(電信ひずみ)

測定器結合器

減衰器(2)

帯域制限ろ波器

雑 音発生器

備考 雑音発生器の出力は，供試機の受信帯域幅より広い平担なスペクトラムを持った白色ガウス雑音

とし，帯域制限ろ波器によって変調器出力と等価な帯域幅に制限する。

図１２４ 雑音特性試験回路

9.3.5 誤り率試験

a) 受信レベル特性試験 受信レベル特性試験は，図１２５に示す試験回路で行い，変調器を標準符号で変調し，

復調器の入力レベルを規定の範囲に変化させ誤り率を測定する。

供試機(変調器)

供試機(復調器)

符 号発生器

可 変減衰器

誤り率測定器

図１２５ 受信レベル特性試験回路

b) 周波数偏差特性試験 周波数偏差特性試験は，図１２５に示す試験回路で行い，変調器を標準符号で変調し，

搬送波周波数に規定の偏差を与えたときの誤り率を測定する。

なお，変調器で搬送波周波数に偏差を与えられない場合は，変調器と復調器の間に周波数シフト回路を挿入

して試験を行う。

c) 雑音特性試験 雑音特性試験は，図１２６に示す試験回路で行い，雑音発生器の出力を切り，減衰器(1)を調

節して，復調器の入力を規定のレベルＳとする。次に変調器の出力を切り，雑音発生器を動作させたときの

62 C 0112B

復調器入力レベルＮを減衰器(2)によって調節し， NS を規定の値にする。この状態で変調器を標準符号で変

調し，誤り率を測定する。

供試機(変調器)

供試機(復調器)

符 号発生器

減衰器(1)

誤り率測定器

結合器

減衰器(2)

帯域制限ろ波器

雑 音発生器

備考 雑音発生器の出力は，供試機の受信帯域幅より広い平坦なスペクトラムを持った白色ガウス雑音

とし，帯域制限ろ波器によって変調器出力と等価な帯域幅に制限する。

図１２６ 雑音特性試験回路

d) 擬似伝送路試験 擬似伝送路試験は，図１２７に示す試験回路で行い，雑音発生器の出力を切り，可変減衰

器(1)を調節して復調器の平均入力レベルＳを規定の値とする。

次に変調器の出力を切り，雑音発生器を動作させたときの復調器入力レベルＮを可変減衰器(2)によって調

節し， NS を規定の値にする。この状態で疑似伝送路を規定のフェージングレートで動作させ，変調器に標

準符号を加え，平均入力 NS に対する誤り率を測定する。

供試機(変調器)

供試機(復調器)

符 号発生器

減衰器誤り率測定器

結合器可変減衰器(1)

帯域制限ろ波器

雑 音発生器

擬 似伝送路

可変減衰器(2)

備考 雑音発生器の出力は，供試機の受信帯域幅より広い平担なスペクトラムを持った白色ガウス雑音

とし，帯域制限ろ波器によって変調器出力と等価な帯域幅に制限する。

図１２７ 擬似伝送路試験回路

関連文書 この防衛庁規格に引用した次の文書は，最新版とする。

引用文書 NDS C 0011B 電磁干渉試験方法（6.3.3改）

NDS C 0110 電子機器の運用条件に対する試験方法

63 C 0112B

解1

Ｎ Ｄ Ｓ Ｃ ０ １ １ ２ Ｂ

振幅変調送受信機試験方法 解説

1. 作成の経緯

1.1 改正の趣旨 ＮＤＳ Ｃ ０１１２（振幅変調送受信機試験方法）のＢ版への改正は，初版（旧版）制定

以降の諸情勢の変化に対応し，規格内容の見直し等の改正を行うことを趣旨とするものである。

この規格の初版は，昭和 60 年に制定され，その後十数年にわたって装備品等の試験方法についての円滑な運

用に貢献してきた。この間には，この規格の直接の対象である無線通信機器・搬送通信機器の技術分野において

顕著な技術進歩が見られたほか，近年では周波数資源の有効利用及びデータ伝送への適合性から特にディジタル

変復調方式が注目され，移動通信の分野にも広く適用される状況となり，このため送受信機試験方法の標準化及

び品質信頼性の向上に資するを目的とするこの規格の重要度はますます高くなってきた。

対象機器側のこのような変化とともに，一方では測定器や測定技術分野における技術進歩も著しく，このため

測定方法の規定内容についてもこの技術進歩を踏まえた改正が必要となってきた。

1.2 初版制定時の趣旨等 この規格の初版制定に当たって，作成方針，考慮事項などについて述べた部分が初版

の参考の冒頭部分にあるので，これを再録する。

ＮＤＳ Ｃ ０１１２

振幅変調送受信機試験方法 参考

1. 作成方針など NDS C 0101（振幅変調送信機試験方法）及びNDS C 0102（振幅変調受信機試験方法）

は，昭和 45.2.21 改正（以下旧規格という。）して以来 10 年以上を経過した。この間，半導体・ＩＣ等電

子部品の製造技術及びディジタル技術を基礎にした電子機器の発展，測定技術の進歩などめざましいもの

があり，また，電波法（昭和 25 年法律第 131 号）の電波形式表示方法が大幅に改正されたため，旧規格

では実情に合致しなくなったこと，及び送信機試験方法，受信機試験方法がそれぞれ独立していた規格を，

一つのシステムとして運用した方が運用しやすいため，送受総合試験方法も含め統合するために規格改正

を行い，NDS C 0112（振幅変調送受信機試験方法）を制定した。

また，将来の技術進歩に対応するため，今回の改正では振幅変調技術を広義にとらえて，データ伝送用

機器も包含し，この規格で規定する対象機器を次の範囲に拡大した。

単一通信路用両側波帯振幅変調送受信機

単一通信路用単側波帯振幅変調送受信機

データ伝送用振幅変調送受信機

データ伝送用変復調機器

1.1 具体的方針 改正の具体的方針は，次のとおりである。

(1) 電波法の適用を受ける装置の試験方法を対象とし，周波数範囲は主としてＨＦ～ＵＨＦ帯とした。

(2) 規格の内容検討にあたり，電波法ＪＩＳ，ＥＩＡＪ（日本電子機械工業会）規格，ＭＩＬ規格，Ｉ

64 C 0112B

解2

ＥＣ（国際電気標準会議）規格，ＣＣＩＴＴ（国際電信電話諮問委員会）規格，ＣＣＩＲ（国際無

線通信諮問委員会）規格，ＣＥＰＴ（ヨーロッパ各国の仕様を統一するための委員会）規格，ＭＰ

Ｔ（英国郵政省）規格などの資料を参照した。

(3) 振幅変調方式に含まれるデータ伝送装置に対応するため，“データ伝送用振幅変調送受信機試験方

法”及び“データ伝送用変復調機器試験方法”を新設した。

(4) この規格を利用しやすくするため，対象機器を４種に分類して，分類ごとにそれぞれ独立した試験

方法を設けた。

(5) 規格の内容は，測定技術の進歩を勘案し，一般化してきている方式を採り入れるばかりでなく，原

理的測定方法などの説明も加え，教本的に使用できるようにした。

1.2 運用上の留意事項 運用上の留意事項は，次のとおりである。

(1) この規格は，一般的に行われているいくつかの試験を併記した形となっているので，仕様書などで

試験項目及び条件を規定するにあたっては，それぞれ機器の必要に応じた項目及び条件を取捨選択

る必要がある。

(2) この規格で用いた“規定する”又は“規定の”の意味は，“仕様書などで規定する”ことを示す。

(3) この規格で用いた“原則として”の意味は，“仕様書などで規定されていない場合の一般的に行われ

ている条件である”ことを示す。

2. 審議経過

2.1 全 般 この改正に関する審議は 2 回にわたって実施された。すなわち，平成 9年度の“調査委託”と

平成 11 年度の“規格原案作成委託”である。

この委託作業は，社団法人日本電子機械工業会（以下“ＥＩＡＪ”という。）において実施されたが，委託され

た内容は同様の試験方法に関する規格の合計4件が対象であり，振幅変調送受信機試験方法はその内の1件であ

る。以下に審議経過等につき述べる。

2.2 平成 9年度審議経過等

2.2.1 委員会の構成 調査委託『振幅変調送受信機（ＮＤＳ Ｃ ０１１２）試験方法外３件の見直し調査作

業』にもとづき，この作業を実施するためにＥＩＡＪ内に委員会（委員長：青木三郎・日本電気株式会社）

が組織された。この委員会は 4 つのワーキンググループ（ＷＧ）からなり，通信・電子の各会社から派遣

された委員18名から構成された。振幅変調送受信機試験方法の見直し作業は，この内の1つのＷＧが担当

した。委員会の構成担当分担等を次に示す。

委 員 会 第１ＷＧ ： 担当 ＮＤＳ Ｃ ０１０４ 周波数変調送受信機試験方法

委員長：青木三郎 （委員：５名）

（日本電気株式会社）

第２ＷＧ ： 担当 ＮＤＳ Ｃ ０１１２ 振幅変調送受信機試験方法

（委員：６名）

アンリツ株式会社

国際電気株式会社

株式会社 東芝

東洋通信機株式会社

日本無線株式会社

65 C 0112B

解3

第３ＷＧ ： 担当 ＮＤＳ Ｃ ０１１１Ｂ 音声増幅装置試験方法

（委員：３名）

第４ＷＧ ： 担当 ＮＤＳ ＸＣ ０１４１ 送・受話器試験方法

（委員：４名）

2.2.2 審議内容及び成果 平成9年度調査委託の要求内容の検討・審議のために，前記の委員会組織及び作

業分担により作業を実施し，調査報告書をとりまとめた。振幅変調送受信機試験方法に関する第２ＷＧの報告内

容の概要は次の通りである。

a) 現行規格の適用の状況

b) 電波法無線機器型式検定規則の試験方法の適用の可否

c) ＮＤＳとＪＩＳ規格ＥＩＡＪ規格ＭＩＬ規格との重複の調査

d) 新しい変調方式への対応

e) 自動計測の導入

2.3 平成１１年度審議経過等

2.3.1 委員会の構成 改正規格原案作成委託（振幅変調送受信機試験方法ほか3件の改正規格原案作成）にも

とづき，平成9年度の委員会の改編を実施した。この改編は，構成会社及び委員は原則として平成9年度のまま

とし，改正規格原案作成を目的として各ＷＧの機能・作業分担を明確にするものである。振幅変調送受信機試験

方法の改正規格原案作成についても，同様にこの内の1つのＷＧ（第2分科会）が担当した。委員会の構成担当

分担等を次に示す。

委 員 会 第１分科会： 担当 ＮＤＳ Ｃ ０１０４ 周波数変調送受信機試験方法

委員長：青木三郎 主査：堀 義和（富士通株式会社） 委員：４名

（日本電気株式会社）

第２分科会： 担当 ＮＤＳ Ｃ ０１１２ 振幅変調送受信機試験方法

幹 事 会 主査：佐野隆雄（日本無線株式会社） 委員：４名

幹事：（各分科会主査） アンリツ株式会社

国際電気株式会社

東洋通信機株式会社

日本無線株式会社

第３分科会： 担当 ＮＤＳ Ｃ ０１１１Ｂ 音声増幅装置試験方法

ＮＤＳ ＸＣ ０１４１ 送・受話器試験方法

主査：日比谷勇（ジェイ・アール・シー特機株式会社） 委員：４名

2.3.2 アンケート調査の実施 この規格の改正に当たり，アンケート調査が実施された。この調査は防衛庁各幕

及び装備品等の製造に関する会社などを対象にしたもので，振幅変調送受信機試験方法についての回答件数は防

衛庁 5 件会社 8 件であった。

この調査から得られた細部の改正要望事項については，委員会・第２分科会の中で分担して規格改正に反映で

きるような検討が実施された。

2.3.3 審議内容及び成果 平成１１年度改正規格原案作成委託の要求に従って，前記の委員会組織及び作業分担

66 C 0112B

解4

により作業を実施し，改正規格原案（解説を含む）を作成した。

3. 審議中特に問題となった事項

3.1 試験項目に関する事項

3.1.1 電磁干渉に関する試験項目 初版の電磁干渉に関する試験項目は，NDS C 0011（電磁干渉試験方法）に

記載されてある内容と重複することになるので，すべて削除することとした。

電磁干渉試験方法は，本規格の初版制定後に制定されたため，現在までいくつかの項目について重複部分があ

ったが，昨今の電磁干渉に関する規制の必要性の高さから一本化が有効であると判断した。

3.1.2 運用条件に対する試験項目 初版の運用条件に対する試験は，NDS C 0110（電子機器の運用条件に対す

る試験方法）を漠然と呼んでいるにすぎなかったので，全面的に見直し，電気的性能に関する項目に限って明確

に規定し，引用する項番を明記した。

3.2 測定器の表現方法 測定器名称の表現方法については各種の規格間で統一的な表現が必要と考え，ＪＩＳ

規格『JIS C 1002（電子測定器用語）及び JIS Z 8103（計測用語）』の表現要領を調査したが，本規格に使用す

る様な測定器についてまでは規定されていなかった。よって，初版の表現を基に，現時点での標準的な表現を財

団法人電気通信振興会発行の『無線機器測定方法の実際』に求め参考とした。

3.3 ＪＩＳ等国定規格改廃の反映 本規格が引用している規格等の改廃の有無を調査し，変更内容については反

映した。

・ 電気用図記号の変更 ＪＩＳ Ｃ ０３０１ から ＪＩＳ Ｃ ０１６７ に変更

・ 試験場所の標準状態 ＪＩＳ Ｚ ８７０３ の改正

・ 規格票の様式 ＪＩＳ Ｚ ８３０１ の改正

・ 新計量法 ＳＩ単位系の適用（ＪＩＳ Ｚ ８２０２，ＪＩＳ Ｚ ８２０３）

3.4 記述様式 本規格の記述様式は JIS Z 8301（規格票の様式）に従って書き改めた。

4. 改正箇所の内容説明 改正内容の説明を以下に示す。

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

1 適用範囲 1 ──

2 引用規格 ── ＪＩＳの項目に従い追加した。

3 分類 2 ──

4 用語の意味 3 ── a) 供試機 (1) ── b) 試験回路 (2) ── c) 擬似負荷 (3) ── d) 擬似伝送路 (4) 擬似伝送路の記述を理解し易い表現方法に改めた。 5 試験についての一般規定 4 ── 5.1 標準試験状態 4.1 標準試験状態は機器の個別仕様書で規定される場合が

多いので，機器の個別仕様書を優先した表現に改めた。 5.2 計器・測定器具 4.2 計器・測定器具の校正は品質管理要求の一環として考え

られるようになってきており実状に合わせた表現に改めた。

5.3 電源 4.3 ── 5.3.1 波形 (1) ── 5.3.2 電圧・周波数の変動率 (2) ── 5.3.3 最高電圧・最低電圧 (3) ──

67 C 0112B

解5

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

5.4 電圧・電流の値 4.4 ── ── パルス信号 4.5 パルス信号は使用しないため削除した。 5.5 レベル基準 4.6 ── 5.6 試験周波数 4.7 各試験項目における試験周波数の数は，異なった周波数

で試験することが有意義な範囲内で最小限に留めるべきである。単一通信路用両側帯波振幅変調送受信機の場合の一例を解説付表に示すが，設計又は運用条件によって異なるので注意する必要がある。 なお，全周波数帯域は送受信可能な周波数範囲，各周波数帯域は，高周波回路の分割されている周波数範囲とすることが望ましい。

5.7 送信機の出力 4.8 ── 5.8 送信機の変調入力 4.9 ── 5.9 受信機の出力 4.10 ── 5.10 受信機の入力 4.11 図１～３における回路記号（抵抗）の書式をＪＩＳの電

気用図記号にあわせた。 5.10 a) 1)と 2)は負荷開放電圧と有能電力の関係にあって，相互換算の際には 6ｄＢの補正を要する。

5.11 送受総合・送受切換時間試験

4.12 ──

6 試験方法（単一通信路用両

側波帯振幅変調送受信機） 5 ──

6.1 送信機試験（Ａ１Ａ，Ａ２

Ａ，Ａ３Ｅ） 5.1

──

6.1.1 標準測定状態 5.1.1 ──

a) 電源電圧 (1) ──

b) 負荷 (2) ── c) 調節部分 (3) ──

d) 標準変調 (4) ──

6.1.2 一般電気的試験 5.1.2 ── a) 絶縁抵抗試験 5.1.2.1 ──

b) 絶縁耐力試験 5.1.2.2 ──

c) 消費電力試験 5.1.2.3 ── d) 連続動作試験 5.1.2.4 ──

6.1.3 周波数範囲試験 5.1.3 ──

6.1.4 周波数試験 5.1.4 “周波数確度試験”と“周波数安定度試験”を実施する場合は，“周波数安定度試験”の最後に“周波数確度試験”を実施してもよい。“周波数安定度試験”は“連続動作試験”と同時に実施してもよい。

a) 周波数確度試験 5.1.4.1 1)項（送信周波数を測定する方法），2)項（局部発振周

波数を測定する方法）及び 3)項（基準周波数を測定す

る方法）において，周波数確度はｐｐｍ又はＨｚのいず

れかで算出するので「又は」を追加した。 b) 周波数安定度試験 5.1.4.2 周波数安定度はｐｐｍ又はＨｚのいずれかで算出する

ので「又は」を追加した。 6.1.5 出力試験 5.1.5 ──

68 C 0112B

解6

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

a) 電流計による方法 (1) ── b) 電圧計による方法 (2) ──

c) 電力計による方法 (3) 電力計による方法においては，使用する測定機器の相違

による 3 種類の試験方法を一つの文章で記述説明して

おり，わかりにくい部分があった。 このため，各試験方法別の項目を設け，試験方法毎に接

続系統を図示して説明するように変更した。また，終端

型電力計により直接測定することが可能な場合もある

ので，この方法を追加した。 d) 水冷負荷抵抗による方法 (4) 温度の測定個所を“冷却水の温度”と明記した。 6.1.6 寄生振動試験 5.1.6 ──

6.1.7 占有周波数帯幅試験 5.1.7 ──

6.1.8 不要波出力試験 5.1.8 ── a) スプリアス出力試験 5.1.8.1 ──

b) 送信機帯域外雑音試験 5.1.8.2 送信雑音レベルＮ’の測定にあたり，線スペクトルがある場合，その周波数は“スプリアス出力試験”の項目で測定し，送信雑音レベルには含めない。

6.1.9 変調諸特性試験 5.1.9 ──

a) 変調度試験 5.1.9.1 ──

b) 搬送波レベル変動試験 5.1.9.2 ── c) 周波数特性試験 5.1.9.3 ──

d) ひずみ率試験 5.1.9.4 試験回路の図中に示す「直線検波器」を「直線検波器又

は測定用受信機」に変更し，測定用受信機の使用が可能

なことに変更した。 e) 雑音量試験 5.1.9.5 試験回路の図中に示す「直線検波器」を「直線検波器又

は測定用受信機」に変更し，測定用受信機の使用が可能

なことに変更した。 f) 通信速度試験 5.1.9.6 ──

g) 過変調耐力試験 5.1.9.7 ──

h) 側音出力試験 5.1.9.8 ── 6.1.10 チャネル切換時間試験 5.1.10 測定点は機器によって多種多様なので機器の仕様書で

規定する必要がある。 ── 電磁干渉試験 5.1.11 電磁干渉に関する試験項目は，電磁干渉試験方法で実施

することとし，本規格からは削除した。 6.1.11 運用条件に対する試験 5.1.12 初版の本項目の最後に記載していた備考の内容は，NDS

C 0110 の各試験における方法の詳細が機器仕様書に記

載されるので，本試験方法で言及する必要はなく，削除

した。 a) 電源電圧変動試験 5.1.12.1 ── b) 温度試験 5.1.12.2 ──

c) 湿度試験 5.1.12.3 ── d) 振動試験 5.1.12.4 ──

e) 衝撃試験 5.1.12.5 ──

69 C 0112B

解7

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

6.2 受信機試験（Ａ１Ａ，Ａ２Ａ，Ａ３Ｅ）

5.2 ──

6.2.1 標準測定状態 5.2.1 ──

a) 電源電圧 (1) ── b) 自動利得制御回路 (2) ──

c) 出力制限回路 (3) ── d) 雑音制限回路 (4) ── e) スケルチ回路 (5) ──

f) 標準出力 (6) ── g) 調節部分 (7) ──

h) 標準入力 (8) ── 6.2.2 一般電気的試験 5.2.2 ── a) 絶縁抵抗試験 5.2.2.1 ──

b) 絶縁耐力試験 5.2.2.2 ── c) 消費電力試験 5.2.2.3 ──

d) 連続動作試験 5.2.2.4 誤記訂正。 6.2.3 周波数範囲試験 5.2.3 ──

6.2.4 感度試験 5.2.4 ── a) 信号対雑音比試験 5.2.4.1 ──

b) 最大有効感度試験 5.2.4.2 ── c) 雑音指数試験 5.2.4.3 インピーダンスの不整合が問題となる一般に低い周波

数帯（約 30ＭＨｚ以下）での適用は，測定誤差が大きくなるので注意を要する。 雑音指数計は，現在では入出力回路を有するものが一般的であるため，試験方法と試験回路を改めた。

6.2.5 自動利得制御試験 5.2.5 ── 6.2.6 選択度試験 5.2.6 ── a) １信号選択度試験 5.2.6.1 機器の小型化等で，測定用の中間周波出力を外部に出せ

ない機器を考慮し，延長基板等を使用する測定を容認することを明記した。 また，現在ではスペクトラムアナライザのマックスホールド機能を使用することで，選択度の周波数特性を容易に測定できるため，図３０の中の高周波電圧計と併記した。

b) 実効選択度試験 5.2.6.2 3)項（相互変調試験）において，相互変調試験は希望信号を受信している状態における，自動利得制御電圧に等しい直流電流を加えて行うことが望ましいが，このためにプリント回路のパターン又はフレーム配線を切る等の処置が必要な場合には，止むを得ない措置として，自動利得制御回路を，動作状態としたままで測定してもよいものとする。 初版では，妨害波による相互変調成分が希望信号周波数，中間周波数又は影像妨害信号周波数にあたる3つの場合を規定していた。相互変調ひずみを発生させる妨害信号レベルは，一般的に希望信号周波数に対する場合が

70 C 0112B

解8

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

最も小さいことから，希望信号周波数に対する場合のみを規定として残し，中間周波数及び影像妨害信号周波数に対する規定は削除した。

6.2.7 忠実度試験 5.2.7 ── a) 周波数特性試験 5.2.7.1 ── b) ひずみ及び雑音試験 5.2.7.2 ── 6.2.8 周波数試験 5.2.8 “周波数確度試験”と“周波数安定度試験”を実施する

場合は，“周波数安定度試験” の最後に“周波数確度試験”を実施してもよい。“周波数安定度試験”は“連続動作試験”と同時に実施してもよい。

a) 周波数確度試験 5.2.8.1 1)項（局部発振周波数を測定する方法）において，周波数確度はｐｐｍ又はＨｚのいずれかで算出するので「又は」を追加した。 また，誤記のため，“ｆ:”（周波数偏差の左位置）を削除した。

b) 周波数安定度試験 5.2.8.2 周波数安定度はｐｐｍ又はＨｚのいずれかで算出するので「又は」を追加した。

6.2.9 音量調整器試験 5.2.9 ── 6.2.10 利得調節器試験 5.2.10 ── 6.2.11 スケルチ特性試験 5.2.11 ── 6.2.12 チャネル切換時間試験 5.2.12 ── 6.2.13 中間周波出力特性試験 5.2.13 ── a) 出力レベル試験 5.2.13.1 ── b) 周波数特性試験 5.2.13.2 ── 6.2.14 不要信号感度比試験 5.2.14 ── a) 影像妨害比試験 5.2.14.1 ── b) 中間周波妨害比試験 5.2.14.2 ── c) スプリアス妨害比試験 5.2.14.3 ── d) 局部発振器相互干渉試験 5.2.14.4 ── ── 電磁干渉試験 5.2.15 電磁干渉に関する試験項目は，電磁干渉試験方法で実施

することとし，本規格からは削除した。 6.2.15 運用条件に対する試験 5.2.16 初版の本項目の最後に記載していた備考の内容は，NDS

C 0110 の各試験における方法の詳細が機器仕様書に記

載されるので，本試験方法で言及する必要はなく，削除

した。 a) 電源電圧変動試験 5.2.16.1 ── b) 温度試験 5.2.16.2 ── c) 湿度試験 5.2.16.3 ──

d) 振動試験 5.2.16.4 ──

e) 衝撃試験 5.2.16.5 ──

6.3 送受切換時間試験 5.2.16.6 ──

6.3.1 標準測定状態 5.3.1 ── a) 電源電圧 5.3.1.1 ── b) 調節部分 5.3.1.2 ── c) 送信負荷 5.3.1.3 ──

71 C 0112B

解9

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

d) 送信変調 5.3.1.4 ──

e) 受信標準出力 5.3.1.5 ──

6.3.2 受信／送信切換時間試験 5.3.2 ── 6.3.3 送信／受信切換時間試験 5.3.3 ── 7 試験方法（単一通信路用単

側波帯振幅変調送受信機） 6 ──

7.1 送信機試験（Ｊ３Ｅ，Ｈ３Ｅ）

6.1 ──

7.1.1 標準測定状態 6.1.1 ── a) 電源電圧 6.1.1.1 ── b) 負荷 6.1.1.2 ── c) 調節部分 6.1.1.3 ──

d) 変調信号 6.1.1.4 ──

7.1.2 一般電気的試験 6.1.2 ── a) 絶縁抵抗試験 6.1.2.1 ── b) 絶縁耐力試験 6.1.2.2 ── c) 消費電力試験 6.1.2.3 ──

d) 連続動作試験 6.1.2.4 ── 7.1.3 周波数範囲試験 6.1.3 ── 7.1.4 周波数試験 6.1.4 “周波数確度試験”と“周波数安定度試験”を実施する

場合は，“周波数安定度試験”の最後に“周波数確度試験”を実施してもよい。“周波数安定度試験”は“連続動作試験”と同時に実施してもよい。

a) 周波数確度試験 6.1.4.1 1.1)項（Ｊ３Ｅの場合）の送信周波数を測定する方法において，周波数確度はｐｐｍ又はＨｚのいずれかで算出するので「又は」を追加した。

b) 周波数安定度試験 6.1.4.2 周波数安定度はｐｐｍ又はＨｚのいずれかで算出するので「又は」を追加した。

7.1.5 出力試験 6.1.5 ── 7.1.6 寄生振動試験 6.1.6 ── 7.1.7 占有周波数帯幅試験 6.1.7 ── a) 定格入力レベルによる方法 6.1.7.1 ── b) 標準変調信号による方法 6.1.7.2 ──

7.1.8 J3E搬送波出力試験 6.1.8 ──

7.1.9 不要波出力試験 6.1.9 ── a) スプリアス出力試験 6.1.9.1 ── b) 不要側波帯出力試験 6.1.9.2 ── c) アウトオブバンド 6.1.9.3 ── d) 送信機帯域外雑音試験 6.1.9.4 送信雑音レベルＮ’の測定にあたり，線スペクトルがある

場合，その周波数は“スプリアス出力試験”の項目で測定し，送信雑音レベルには含めない。

7.1.10 変調諸特性試験 6.1.10 ── a) H3E変調度試験 6.1.10.1 ── b) H3E搬送波レベル変動試験 6.1.10.2 ──

72 C 0112B

解10

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

c) J3E周波数特性試験 6.1.10.3 ── d) J3E第３次混変調試験 6.1.10.4 ── e) ひずみ及び雑音試験 6.1.10.5 ── f) 側音出力試験 6.1.10.6 ── 7.1.11 チャネル切換時間試験 6.1.11 測定点は機器によって多種多様なので機器の仕様書で

規定する必要がある。 ── 電磁干渉試験 6.1.12 電磁干渉に関する試験項目は，電磁干渉試験方法で実施

することとし，本規格からは削除した。 7.1.12 運用条件に対する試験 6.1.13 初版の本項目の最後に記載していた備考の内容は，NDS

C 0110 の各試験における方法の詳細が機器仕様書に記

載されるので，本試験方法で言及する必要はなく，削除

した。 a) 電源電圧変動試験 6.1.13.1 ── b) 温度試験 6.1.13.2 ──

c) 湿度試験 6.1.13.3 ── d) 振動試験 6.1.13.4 ──

e) 衝撃試験 6.1.13.5 ── 7.2 受信機試験（Ｊ３Ｅ） 6.2 ── 7.2.1 標準測定状態 6.2.1 ── a) 電源電圧 6.2.1.1 ── b) 自動利得制御回路 6.2.1.2 ──

c) 出力制限回路 6.2.1.3 ── d) 雑音制限回路 6.2.1.4 ──

e) 標準出力 6.2.1.5 ── f) 調節部分 6.2.1.6 ──

7.2.2 一般電気的試験 6.2.2 ── a) 絶縁抵抗試験 6.2.2.1 ──

b) 絶縁耐力試験 6.2.2.2 ── c) 連続動作試験 6.2.2.3 ──

7.2.3 周波数範囲試験 6.2.3 ── 7.2.4 感度試験 6.2.4 ──

a) 信号対雑音比試験 6.2.4.1 ── b) 最大有効感度試験 6.2.4.2 ──

c) 雑音指数試験 6.2.4.3 ──

7.2.5 自動利得制御試験 6.2.5 ── a) 出力特性試験 6.2.5.1 ── b) 応答時間試験 6.2.5.2 ── 7.2.6 選択度試験 6.2.6 ── a) １信号選択試験 6.2.6.1 ──

73 C 0112B

解11

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

b) 実効選択度試験 6.2.6.2 3)項（相互変調試験）において，相互変調試験は希望信号を受信している状態における，自動利得制御電圧に等しい直流電流を加えて行うことが望ましいが，このためにプリント回路のパターン又はフレーム配線を切る等の処置が必要な場合には，止むを得ない措置として，

自動利得制御回路を，動作状態としたままで測定してもよいものとする。 初版では，妨害波による相互変調成分が希望信号周波数，中間周波数又は影像妨害信号周波数にあたる3つの場合を規定していた。相互変調ひずみを発生させる妨害信号レベルは，一般的に希望信号周波数に対する場合が最も小さいことから，希望信号周波数に対する場合のみを規定として残し，中間周波数及び影像妨害信号周波数に対する規定は削除した。

7.2.7 忠実度試験 6.2.7 ── a) 周波数特性試験 6.2.7.1 ── b) ひずみ及び雑音試験 6.2.7.2 ── c) 第３次混変調試験 6.2.7.3 ── 7.2.8 周波数試験 6.2.8 ── a) 周波数確度試験 6.2.8.1 4)項（低周波を測定する方法）において，周波数確度は

ｐｐｍ又はＨｚのいずれかで算出するので「又は」を追加した。

b) 周波数安定度試験 6.2.8.2 ── 7.2.9 音量調節器試験 6.2.9 ── 7.2.10 利得調節器試験 6.2.10 ── 7.2.11 チャネル切換時間試験 6.2.11 ── 7.2.12 中間周波出力特性試験 6.2.12 ── a) 出力レベル試験 6.2.12.1 ── b) 周波数特性試験 6.2.12.2 ──

7.2.13 不要信号感度比試験 6.2.13 ── a) 影像妨害比試験 6.2.13.1 ── b) 中間周波妨害比試験 6.2.13.2 ──

c) スプリアス妨害比試験 6.2.13.3 ── d) 局部発振器相互干渉試験 6.2.13.4 ──

── 電磁干渉試験 6.2.14 電磁干渉に関する試験項目は，電磁干渉試験方法で実施

することとし，本規格からは削除した。 7.2.14 運用条件に対する試験 6.2.15 初版の本項目の最後に記載していた備考の内容は，NDS

C 0110 の各試験における方法の詳細が機器仕様書に記

載されるので，本試験方法で言及する必要はなく，削除

した。 a) 電源電圧変動試験 6.2.15.1 ── b) 温度試験 6.2.15.2 ── c) 湿度試験 6.2.15.3 ── d) 振動試験 6.2.15.4 ── e) 衝撃試験 6.2.15.5 ──

74 C 0112B

解12

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

7.3 送受切換時間試験 6.3 ── 7.3.1 標準測定状態 6.3.1 ── a) 電源電圧 6.3.1.1 ──

b) 調節部分 6.3.1.2 ── c) 送信負荷 6.3.1.3 ──

d) 出力 6.3.1.4 ──

e) 受信標準出力 6.3.1.5 ── 7.3.2 受信／送信切換時間試験 6.3.2 ── 7.3.3 送信／受信切換時間試験 6.3.3 ── 8 試験方法（データ伝送用振

幅変調送受信機） 7

──

8.1 送信機試験 7.1 ── 8.1.1 標準測定状態 7.1.1 ── a) 電源電圧 7.1.1.1 ──

b) 負荷 7.1.1.2 ── c) 調節部分 7.1.1.3 ──

d) 標準符号 7.1.1.4 標準符号として一定のパターンで繰返すマーク及びスペース符号又は文字を使う場合は，符号又は文字の繰り返しパターンを機器の個別仕様書で明記する必要がある。

8.1.2 一般電気的試験 7.1.2 ── a) 絶縁抵抗試験 7.1.2.1 ── b) 絶縁耐力試験 7.1.2.2 ──

c) 消費電力試験 7.1.2.3 ── d) 連続動作試験 7.1.2.4 ──

8.1.3 周波数範囲試験 7.1.3 ── 8.1.4 周波数試験 7.1.4 “周波数確度試験”と“周波数安定度試験”を実施する

場合は，“周波数安定度試験”の最後に“周波数確度試験”を実施してもよい。“周波数安定度試験”は“連続動作試験”と同時に実施してもよい。

a) 周波数確度試験 7.1.4.1 1) 項（送信周波数を測定する方法）において，ＰＳＫでは無変調とすることによって中心周波数を測定できるが，ＦＳＫではマーク周波数又はスペース周波数を測定することになるので注意を要する。 周波数確度はｐｐｍ又はＨｚのいずれかで算出するので「又は」を追加した。

b) 周波数安定度試験 7.1.4.2 周波数安定度はｐｐｍ又はＨｚのいずれかで算出するので「又は」を追加した。

8.1.5 出力試験 7.1.5 ── 8.1.6 寄生振動試験 7.1.6 ── 8.1.7 占有周波数帯幅試験 7.1.7 ── 8.1.8 不要波出力試験 7.1.8 ── a) スプリアス出力試験 7.1.8.1 ── b) 不要側波帯出力試験 7.1.8.2 不要側波帯出力試験はＪ３Ｅの送信機をデータ伝送に

使用する場合に適用する。

75 C 0112B

解13

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

c) 送信機帯域外雑音試験 7.1.8.3 ── 8.1.9 低周波・中間周波入力特性

試験 7.1.9 ──

a) 中間周波入力レベル試験 7.1.9.1 ── b) 中間周波入力周波数特性試

験 7.1.9.2 ──

c) 遅延ひずみ試験 7.1.9.3 ──

d) 第３次混変調試験 7.1.9.4 2)項（中間周波入力の場合）の第3次混変調試験において，第3次混変調成分は２Ｆ2－Ｆ1も存在するため，２Ｆ１－Ｆ２の前に「原則として」を追記した。

8.1.10 送信立上り・立下り時間試験

7.1.10 ──

── 電磁干渉試験 7.1.11 電磁干渉に関する試験項目は，電磁干渉試験方法で実施

することとし，本規格からは削除した。 8.1.11 運用条件に対する試験 7.1.12 初版の本項目の最後に記載していた備考の内容は，NDS

C 0110 の各試験における方法の詳細が機器仕様書に記

載されるので，本試験方法で言及する必要はなく，削除

した。 a) 電源電圧変動試験 7.1.12.1 ──

b) 温度試験 7.1.12.2 ── c) 湿度試験 7.1.12.3 ──

d) 振動試験 7.1.12.4 ──

e) 衝撃試験 7.1.12.5 ──

8.2 受信機試験 7.2 ── 8.2.1 標準測定状態 7.2.1 ── a) 電源電圧 7.2.1.1 ──

b) 自動利得制御回路 7.2.1.2 ── c) 出力制限回路 7.2.1.3 ── d) 雑音制限回路 7.2.1.4 ──

e) スケルチ回路 7.2.1.5 ── f) 調節部分 7.2.1.6 ──

g) 標準符号 7.2.1.7 標準符号として一定のパターンで繰返すマーク及びスペース符号又は文字を使う場合は，符号又は文字の繰り返しパターンを機器の個別仕様書で明記する必要がある。

h) 標準入力 7.2.1.8 ── 8.2.2 一般電気的試験 7.2.2 ── a) 絶縁抵抗試験 7.2.2.1 ── b) 絶縁耐力試験 7.2.2.2 ──

c) 消費電力試験 7.2.2.3 ── d) 連続動作試験 7.2.2.4 ──

8.2.3 周波数範囲試験 7.2.3 ──

76 C 0112B

解14

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

8.2.4 感度試験 7.2.4 低周波出力を持つ受信機では6.2.4又は7.2.4によって行ってもよい。

a) 雑音指数試験 7.2.4.1 ── b) 誤り率試験 7.2.4.2 誤り率試験では，ＳＧの変調ひずみ等が感度に影響する

ので，あらかじめＳＧの特性を十分調べておく必要がある。 誤り率は，規定の搬送波レベル対雑音レベル比（Ｃ／Ｎ）に対するビット誤り率又はキャラクタ誤り率（誤字率）で規定される。データ伝送においては，ビット誤り率で表すのが一般的であるが，用途によってはキャラクタ誤り率で表す方が適当な場合もあるので，仕様書ではどちらかを規定する必要がある。 誤り率は次の方法で算出する。 (1) ビット誤り率は総計測ビット数に対する総誤りビ

ット数の比 (2) キャラクタ誤り率は総計測キャラクタ数に対する

総誤りキャラクタ数の比 なお，誤り率測定器には，入力符号と正しい符号とを照合して誤り数を計数する機能を持つものが一般的に使われるが，印刷電信の場合は印字出力又はさん孔テープ出力を目視によって計数してもよい。

8.2.5 自動利得制御試験 7.2.5 ── a) 出力特性試験 7.2.5.1 ── b) 応答時間試験 7.2.5.2 ──

8.2.6 選択度試験 7.2.6 ──

a) １信号選択度試験 7.2.6.1 ──

b) 実効選択度試験 7.2.6.2 試験方法として 7.2.6の b)を追加した。 8.2.7 低周波・中間周波出力特性

試験

7.2.7 ──

a) 中間周波出力レベル試験 7.2.7.1 ──

b) 中間周波周波数特性試験 7.2.7.2 ── c) 遅延ひずみ試験 7.2.7.3 2)項（中間周波出力の場合）の遅延ひずみ試験において，

初版の記述では，局部発振器(1)及び(2)の調節の内容が理解しにくいため，図９１の試験回路においてSW1及びSGを追加（既存のSWをSW2に変更）して，局部発振器(1)及び(2)の調節方法に疑義を生じない記述に変更した。

d) 第３次混変調試験 7.2.7.4 ──

8.2.8 周波数試験 7.2.8 ── a) 周波数確度試験 7.2.8.1 ──

b) 周波数安定度試験 7.2.8.2 ──

8.2.9 不要信号感度比試験 7.2.9 低周波出力を持つ受信機では6.2.14又は7.2.13によって行ってもよい。

a) 影像妨害比試験 7.2.9.1 ──

b) 中間周波妨害比試験 7.2.9.2 ── c) スプリアス妨害比試験 7.2.9.3 ──

77 C 0112B

解15

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

── 電磁干渉試験 7.2.10 電磁干渉に関する試験項目は，電磁干渉試験方法で実施

することとし，本規格からは削除した。 8.2.10 運用条件に対する試験 7.2.11 初版の本項目の最後に記載していた備考の内容は，NDS

C 0110 の各試験における方法の詳細が機器仕様書に記

載されるので，本試験方法で言及する必要はなく，削除

した。 a) 電源電圧変動試験 7.2.11.1 ── b) 温度試験 7.2.11.2 ── c) 湿度試験 7.2.11.3 ── d) 振動試験 7.2.11.4 ──

e) 衝撃試験 7.2.11.5 ──

8.3 送受総合試験 7.3 この試験は送信機又は受信機の試験に適用することができる。

8.3.1 標準測定状態 7.3.1 ── a) 電源電圧 7.3.1.1 ── b) 調節部分 7.3.1.2 ── c) 標準符号 7.3.1.3 標準符号として一定のパターンで繰返すマーク及びス

ペース符号又は文字を使う場合は，符号又は文字の繰り返しパターンを機器の個別仕様書で明記する必要がある。

8.3.2 通信路伝送時間試験 7.3.2 送信機及び受信機への入力符号は遅延時間が明確にわかるような符号とする必要がある。

8.3.3 誤り率試験 7.3.3 誤り率試験では，ＳＧの変調ひずみ等が感度に影響するので，あらかじめＳＧの特性を十分調べておく必要がある。 誤り率は，規定の搬送波レベル対雑音レベル比（Ｃ／Ｎ）に対するビット誤り率又はキャラクタ誤り率（誤字率）で規定される。データ伝送においては，ビット誤り率で表すのが一般的であるが，用途によってはキャラクタ誤り率で表す方が適当な場合もあるので，仕様書ではどちらかを規定する必要がある。 誤り率は次の方法で算出する。 (1) ビット誤り率は総計測ビット数に対する総誤りビ

ット数の比 (2) キャラクタ誤り率は総計測キャラクタ数に対する

総誤りキャラクタ数の比 なお，誤り率測定器には，入力符号と正しい符号とを照合して誤り数を計数する機能を持つものが一般的に使われるが，印刷電信の場合は印字出力又はさん孔テープ出力を目視によって計数してもよい。

a) 受信機内部雑音試験 7.3.3.1 送受総合での感度試験であるので，送信機出力を受信機の感度レベルまで減衰させる必要があり，送信機と受信機の間の遮蔽に注意を要する。

78 C 0112B

解16

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

b) 擬似伝送路試験 7.3.3.2 擬似伝送路はレイリー分布を発生するもので，特性はフェージングレートで規定される。受信機の入力レベルの表し方は平均値又は 50％中央値が一般的である。

9 試験方法 （データ伝送用変復調器）

8 近年の変復調器はディジタル処理及び集積化が進んでおり，内部のレベル及び周波数などの測定や信号の一部を断にして測定することが困難になり，入力対出力で測定できる項目以外の試験はできないことが多い。このような場合は総合的な性能によって供試機の良否を判断する必要がある。

9.1 変調器試験 8.1 ── 9.1.1 標準測定状態 8.1.1 ── a) 電源電圧 8.1.1.1 ── b) 負荷抵抗 8.1.1.2 ──

c) 調節部分 8.1.1.3 ── d) 標準符号 8.1.1.4 標準符号として一定のパターンで繰返すマーク及びス

ペース符号又は文字を使う場合は，符号又は文字の繰り返しパターンを機器の個別仕様書で明記する必要がある。

9.1.2 一般電気的試験 8.1.2 ── a) 絶縁抵抗試験 8.1.2.1 ──

b) 絶縁耐力試験 8.1.2.2 ── c) 消費電力試験 8.1.2.3 ──

d) 連続動作試験 8.1.2.4 ──

9.1.3 8.1.3 ── a) 副搬送波周波数試験 8.1.3.1 “副搬送波周波数による方法”はＰＳＫ又は振幅変調方

式の変調器に，“マ一ク周波数・スペース周波数による方法”及び“平均周波数による方法”はＦＳＫの変調器 に適用する。 “平均周波数による方法”では, 変調によって位相の不連続及び振幅の大幅な変動が生じないことが必要であり，周波数計の計測時間（ゲート時間）は，信号エレメント長の偶数倍とすることが望ましい。計測時間が信号エレメント長の偶数倍でない場合，次の誤差が生じる. 信号エレメント長 最大誤差＝±偏移周波数×─────────（Ｈｚ） 計測時間 FDM-PSK 及び FDM-FSK の変調器で周波数を周波数計で測定するには，被測定通信路以外の信号を切る必要があるが，切ることができない場合のやむを得ない処置としてスペクトラムアナライザによる方法をあげている。スペクトラムアナライザで周波数を測定するには，SGを信号に重畳又は置換してスペクトラムァナライザで同じ周波数表示になる SG の周波数を測定する。

79 C 0112B

解17

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

b) パイロット周波数試験 8.1.3.2 FDM-PSK 及び FDM-FSK の変調器で周波数を周波数計で測定するには，被測定通信路以外の信号を切る必要があるが，切ることができない場合のやむを得ない処置としてスペクトラムアナライザによる方法をあげている。スペクトラムアナライザで周波数を測定するには，SGを信号に重畳又は置換してスペクトラムァナライザで同じ周波数表示になる SG の周波数を測定する。

c) クロック周波数試験 8.1.3.3 ── 9.1.4 出力諸特性試験 8.1.4 ── a) 出力レベル試験 8.1.4.1 ── b) パイロットレベル試験 8.1.4.2 ──

c) 副搬送波間レベル差試験 8.1.4.3 ── d) 出力インピーダンス試験 8.1.4.4 抵抗器Ｒは供試機の出力インピーダンスと同じ値から2

倍の間で選ぶのが適当である。 e) 出力レベル可変範囲試験 8.1.4.5 ── f) ひずみ率試験 8.1.4.6 ── 9.1.5 位相変調特性試験 8.1.5 この試験はＰＳＫの変調特性の試験に適用する。 a) 位相誤差試験 8.1.5.1 ──

b) 位相間レベル差試験 8.1.5.2 ──

9.1.6 周波数変調特性試験 8.1.6 この試験はＦＳＫの変調特性の試験に適用する。 a) 偏移周波数試験 8.1.6.1 ── b) マーク・スペース間レベル

差試験 8.1.6.2 ──

9.1.7 占有周波数帯幅試験 8.1.7 ── 9.1.8 スプリアス出力試験 8.1.8 ── a) 入力電圧・入力電流試験 8.1.9.1 ── b) 入力抵抗試験 8.1.9.2 ── c) 出力電圧・出力電流試験 8.1.9.3 ── d) 出力抵抗試験 8.1.9.4 抵抗器Ｒは供試機の出力インピーダンスと同じ値から2

倍の間で選ぶのが適当である。 e) 立上り・立下り時間試験 8.1.9.5 ── ── 電磁干渉試験 8.1.10 電磁干渉に関する試験項目は，電磁干渉試験方法で実施

することとし，本規格からは削除した。 9.1.10 運用条件に対する試験 8.1.11 初版の本項目の最後に記載していた備考の内容は，NDS

C 0110 の各試験における方法の詳細が機器仕様書に記

載されるので，本試験方法で言及する必要はなく，削除

した。 a) 電源電圧変動試験 8.1.11.1 ── b) 温度試験 8.1.11.2 ──

c) 湿度試験 8.1.11.3 ── d) 振動試験 8.1.11.4 ──

e) 衝撃試験 8.1.11.5 ── 9.2 復調器試験 8.2 ── 9.2.1 標準測定状態 8.2.1 ── a) 電源電圧 8.2.1.1 ──

80 C 0112B

解18

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

b) 調節部分 8.2.1.2 ── c) 標準符号 8.2.1.3 標準符号として一定のパターンで繰返すマーク及びス

ペース符号又は文字を使う場合は，符号又は文字の繰り返しパターンを機器の個別仕様書で明記する必要がある。

d) 標準入力 8.2.1.4 ──

9.2.2 一般電気的試験 8.2.2 ── a) 絶縁抵抗試験 8.2.2.1 ── b) 絶縁耐力試験 8.2.2.2 ──

c) 消費電力試験 8.2.2.3 ── d) 連続動作試験 8.2.2.4 ──

9.2.3 クロック周波数試験 8.2.3 ── 9.2.4 レベル試験 8.2.4 ── a) 受信レベルダイヤ試験 8.2.4.1 ──

b) 自動利得制御試験 8.2.4.2 ──

9.2.5 搬送波同期特性試験 8.2.5 搬送波同期特性は，供試機の位相検波出力の波形によって測定するのが通常であるが，検波出力が取り出せない場合は誤り率で測定してよい。同期した状態での誤り率は理想的にに0になり，同期していない状態でのビット誤り率はほぼ0.5になるものが多いが，誤り率で測定する場合には引込み範囲と保持範囲が同意義となる場合があるので注意を要する。

a) 引込み範囲試験 8.2.5.1 ── b) 保持範囲試験 8.2.5.2 ──

9.2.6 クロック同期特性試験 8.2.6 ── a) 引込み範囲試験 8.2.6.1 引き込み範囲 －側：“f1-f2”は“f0-f2”に訂正。

b) 保持範囲試験 8.2.6.2 ──

c) 保持時間試験 8.2.6.3 ──

9.2.7 ジッタ特性試験 8.2.7 ── a) 自局ジッタ特性試験 8.2.7.1 ── b) ジッタ抑圧特性試験 8.2.7.2 ──

9.2.8 周波数変調信号復調特性試験

8.2.8 FSKの復調特性の試験において，“弁別特性試験”は周波数弁別回路を持った復調器の試験に適用し, “判定スレッショルド試験”は周波数弁別回路以外の方法で復調する復調器の試験に適用するのが適当である。

a) 弁別特性試験 8.2.8.1 ──

b) 判定スレッショルド試験 8.2.8.2 ──

9.2.9 誤り率試験 8.2.9 誤り率試験では，ＳＧの変調ひずみ等が感度に影響するので，あらかじめＳＧの特性を十分調べておく必要がある。 誤り率は，規定の搬送波レベル対雑音レベル比（Ｃ／Ｎ）に対するビット誤り率又はキャラクタ誤り率（誤字率）で規定される。データ伝送においては，ビット誤り率で表すのが一般的であるが，用途によってはキャラクタ誤

81 C 0112B

解19

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

り率で表す方が適当な場合もあるので，仕様書ではどちらかを規定する必要がある。 誤り率は次の方法で算出する。 (1) ビット誤り率は総計測ビット数に対する総誤りビ

ット数の比 (2) キャラクタ誤り率は総計測キャラクタ数に対する

総誤りキャラクタ数の比 なお，誤り率測定器には，入力符号と正しい符号とを照合して誤り数を計数する機能を持つものが一般的に使われるが，印刷電信の場合は印字出力又はさん孔テープ出力を目視によって計数してもよい。

a) 雑音特性試験 8.2.9.1 雑音発生器の出力は供試機の受信帯域幅より広い帯域で平坦なスペクトラムを持った白色ガウス雑音とし，雑音の帯域幅を帯域制限ろ波器で帯域制限して供試機に人力する必要がある。 なお，信号対雑音比の表わし方として，1ビット当たりの信号エネルギー対Ｈｚ当たりの雑音電力の比（Ｅｂ／Ｎ0）で表わす方法も使われる.

b) 入力周波数偏差特性試験 8.2.9.2 この試験は，副搬送波周波数，自動周波数制御，搬送波同期特性などの良否を総合的に判定する試験として使用できる。

9.2.10 インタフェース試験 8.2.10 ── a) 出力電圧・出力電流試験 8.2.10.

1 ──

b) 出力抵抗試験 8.2.10.2

──

c) 立上り・立下り時間試験 8.2.10.3

──

9.2.11 信号検出特性・ヒステリシス幅試験

8.2.11 ──

── 電磁干渉試験 8.2.12 電磁干渉に関する試験項目は，電磁干渉試験方法で実施

することとし，本規格からは削除した。 9.2.12 運用条件に対する試験 8.2.13 初版の本項目の最後に記載していた備考の内容は，NDS

C 0110 の各試験における方法の詳細が機器仕様書に記

載されるので，本試験方法で言及する必要はなく，削除

した。 a) 電源電圧変動試験 8.2.13.1 ── b) 温度試験 8.2.13.2 ── c) 湿度試験 8.2.13.3 ──

d) 振動試験 8.2.13.4 ──

e) 衝撃試験 8.2.13.5 ── 9.3 変復調器送受総合試験 8.3 この試験は変調器のいずれか一方を標準機として変調

器又は復調器の試験に適用することもできる。 9.3.1 標準測定状態 8.3.1 ── a) 電源電圧 8.3.1.1 ── b) 調節部分 8.3.1.2 ──

82 C 0112B

解20

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

c) 標準符号 8.3.1.3 標準符号として一定のパターンで繰返すマーク及びスペース符号又は文字を使う場合は，符号又は文字の繰り返しパターンを機器の個別仕様書で明記する必要がある。

9.3.2 通信路伝送時間試験 8.3.2 ── 9.3.3 バイアスひずみ調整範囲試

験 8.3.3 バイアスひずみはマーク及びスペース信号の時間長が

単位長から一定時間だけ変化して受信されるひずみをいう。

9.3.4 データひずみ（電信ひずみ）試験

8.3.4 データひずみは送信した2値信号と受信した2値信号の信号変換点の相対的な変化の度合をいう。したがって，データひずみには前記バイアスひずみが含まれる。 データひずみ測定器の代表的なものを次に示す。 (1) マーク信号とスペース信号の時間差を電圧又はメ ータで表示するもの。回路例を解説図１に示す。

両振れ直流メータ

基準レベル化リミッタ

低 域ろ波器受信信号

解説図１ データひずみ測定回路例

(2) 微分回路とオシロスコープを組み合わせたもの。 回路例を解説図２に示す。

微分回路 オシロスコープ受信信号

解説図２ データひずみ測定回路例 (3) 変換点の時間間隔を計測し，単位時間の整数倍の 時間との差を数字表示管に表示するもの。

a) 受信レベル特性試験 8.3.4.1 ──

b) 周波数偏差特性試験 8.3.4.2 変調器で周波数偏差を与えられない場合に使用する周波数シフト回路は，解説図３に示す回路で⊿Fを規定の偏差として実現できる。局部発振器の周波数Fは周波数変換によって復調器への影響をさけるため，復調器の周波数よりも十分高い周波数にする必要がある。

周 波 数変 換 器

周 波 数変 換 器

帯 域ろ波器変調器 復調器

局 部 発 振器 （Ｆ）

局部発振器（Ｆ＋ΔＦ）

解説図３ 周波数シフト回路例

c) 雑音特性試験 8.3.4.3 ── 9.3.5 誤り率試験 8.3.5 ── a) 受信レベル特性試験 8.3.5.1 ──

83 C 0112B

解21

項目番号 項目 現行規格 項目番号

説 明

b) 周波数偏差特性試験 8.3.5.2 変調器で周波数偏差を与えられない場合に使用する周波数シフト回路は，解説図４に示す回路で⊿Fを規定の偏差として実現できる。局部発振器の周波数Fは周波数変換によって復調器への影響をさけるため，復調器の周波数よりも十分高い周波数にする必要がある。

周 波 数変 換 器

周 波 数変 換 器

帯 域ろ波器変調器 復調器

局 部 発 振器 （Ｆ）

局部発振器（Ｆ＋ΔＦ）

解説図４ 周波数シフト回路例

c) 雑音特性試験 8.3.5.3 ── d) 擬似伝送路試験 8.3.5.4 擬似伝送路はレイリー分布を発生するもので，特性はフ

ェージングレートで規定される。受信機の入力レベルの表し方は平均値又は 50％中央値が一般的である。

84 C 0112B

解22

解説付表 試験項目 試験周波数

6.1 送信機試験（Ａ１Ａ，Ａ２Ａ，Ａ３Ｅ） ――――― 6.1.2 一般電気的試験 ――――― a) 消費電力試験 a) b) 連続動作試験 a) 6.1.3 周波数範囲試験 b)又は d) 6.1.4 周波数試験 ―――――

a) 周波数確度試験 c) （周波数確度が最大となる周波数が望ましい）

b) 周波数安定度試験 a) 6.1.5 出力試験 c) 6.1.6 寄生振動試験 a)又は c) 6.1.7 占有周波数帯幅試験 a)又は c) 6.1.8 不要波出力試験 ――――― a) スプリアス出力試験 a)又は c) b) 送信機帯域外雑音試験 a)又は f) 6.1.9 変調諸特性試験 ――――― a) 変調度試験 a)又は b) b) 搬送波レベル変動試験 b) c) 周波数特性試験 a) d) ひずみ率試験 b) e) 雑音量試験 b) f) 通信速度試験 a)又は c) g) 過変調耐力試験 a) h) 側音出力試験 a) 6.1.10 チャネル切換時間試験 a)（切換時間が最長となる周波数が望ましい） ――――― ―――――

6.1.11 運用条件に対する試験 a) 6.2 受信機試験（Ａ１Ａ，Ａ２Ａ，Ａ３Ｅ） ――――― 6.2.2 一般電気的試験 ――――― c) 消費電力試験 a) d) 連続動作試験 a) 6.2.3 周波数範囲試験 b)又は d) 6.2.4 感度試験 ――――― a) 信号対雑音試験 e) b) 最大有効感度試験 e) c) 雑音指数試験 b) 6.2.5 自動利得制御試験 a) 6.2.6 選択度試験 ――――― a) １信号選択度試験 a) b) 実効選択度試験 b)又は c) （感度抑圧効果試験，混変調試験はｂ，

相互変調試験はｃ） 6.2.7 忠実度試験 ――――― a) 周波数特性試験 a) b) ひずみ及び雑音試験 c) 6.2.8 周波数試験 ―――――

a) 周波数確度試験 c) （周波数確度が最大となる周波数が望ましい） b) 周波数安定度試験 a)

85 C 0112B

解23

解説付表 試験項目 試験周波数

6.2.9 音量調節器試験 a) 6.2.10 利得調節器試験 a) 6.2.11 スケルチ特性試験 a) 6.2.12 チャネル切換時間試験 a)（切換時間が最長となる周波数が望ましい） 6.2.13 中間周波出力特性試験 a) 6.2.14 不要信号感度比試験 ――――― a) 影像妨害比試験 c) b) 中間周波妨害比試験 a) c) スプリアス妨害比試験 a) d) 局部発振器相互干渉試験 a)

――――― ――――― 6.2.15 運用条件に対する試験 a) 6.3 送受切換時間試験 ――――― 6.3.2 受信／送信切換時間試験 a)（切換時間が最長となる周波数が望ましい） 6.3.3 送信／受信切換時間試験 a)（切換時間が最長となる周波数が望ましい）

備考 1. 試験周波数欄の a)からf)は 5.7 の試験周波数による。

2. 供試機の運用すべき周波数がすでに決定されている場合には， それらの周波数の中から表中の周波数を選択する

.