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全新世代 元素分析儀超 !超 !超 !超省!超 !!適於個人實驗室使用!
免液氮，內建電池，帶到哪測到哪
日本製造品質保證
學術研究貴金屬回收
重金屬汙染分析礦石成分分析
RoHS檢測
全拓科技有限公司 Tel: 02-8227-3526 [email protected]: 02-8227-3527TRENDTOP SCIENTIFIC CORP .
• XY自動移動樣品載台，可由軟體選擇測量位置• 可設定範圍進行面積掃描，呈現元素分佈圖• 具X光穿透影像功能，可顯示樣品內部結構• 內建100X顯微光學攝影，可清楚觀察測量位置• 樣品室可抽真空，提升Na、Mg等輕元素檢測能力• 光學室可獨立抽真空，液體、粉體樣品亦可進行高 感度檢測• 採用高感度SDD偵測器，不需添加液態氮冷卻• 10μm超微X光束，可進行微區域及超小樣品分析• 大樣品室，最大可放置450 x 500 x 80mm樣品• 可進行面積定量、面積含量比對等
• XY自動移動樣品載台，可由軟體選擇測量位置• 可設定範圍進行面積掃描，呈現元素分佈圖• 具X光穿透影像功能，可顯示樣品內部結構• 內建100X顯微光學攝影，可清楚觀察測量位置• 光學室可獨立抽真空，液體、粉體樣品亦可進行高 感度檢測• 採用高感度SDD偵測器，不需添加液態氮冷卻• 10μm超微X光束，可進行微區域及超小樣品分析• 最大可放置300 x 250 x 40mm樣品
應用實例：LED元素分布掃描
光學影像 穿透影像 As元素分布 Ag元素分布 Ga元素分布 Au元素分布 元素重疊影像
應用實例：電路銅箔短路分析
Included Br in substrate
離子遷移造成短路
電路板上鍍錫銅箔由穿透影像可看到鍍錫具有錫洞
由元素分佈圖可看出銅離子遷移
顯微掃描機種
Tel: 02-8227-3526Fax: 02-8227-3527
全拓科技有限公司TRENDTOP SCIENTIFIC CORP .
殘餘成分自動偵測補償功能● 可自動判定有機物、化合物等殘餘成分進行補償，不須手
動設定補償即可大幅降低檢測複雜材料產生的誤差
3. 智慧檢測 多種自動補償、判定功能，準確度大增
全背景值扣除● 可對全圖譜進行背景曲線分析，降低背景干擾，提高元素
定量精確度
測量時間自動調整● 可設定需求的偵測極限，未達要求即可自動延長測量時間 傳統的XRF設備，在遇到樣品含有如碳、氫、等無
法檢測的成分時，會造成其他元素的測量誤差。MESA 50可自動比對樣品的原子數及X散射強度來判斷樣品是否含有檢測範圍外的元素，並可自動進行補償來修正這些殘餘成分造成的誤差。
4. 小而精 超越桌上型的精準 擁有攜帶型的輕便
A4尺寸大小● 僅A4尺寸，不占空間
超輕量設計● 僅12kg，內建鋰電池，方便
攜帶至其它地點進行檢測
極佳的安全性● 全機防輻射包覆，無手持機型之安全疑慮，
確保零輻射外洩
完美設計，無須外接多餘元件● 採用免液氮高感度偵測器，不需連接真空
幫浦及氦氣即可進行分析
● USB連接介面，筆電即可操作
完整成分分析功能● 可進行元素定性分析、FPM半定量分析、檢量線定量分析
，並可設定化合物、氧化態、殘餘物、稀釋倍數等補償參數
● 樣品室開啟自動停止測量
1. 快、準
2. 簡單易用
最新SDD偵測器! 更快! 更準!
兩年保固最新高感度SDD偵測器● 超高感度偵測器，短時間即可獲得高精度測量● 不需抽真空即可檢測Al, Si, P, S, Cl等輕元素
● 內建7mm、3mm、1.2mm三種光徑，可針對不同尺寸樣品提供最佳測量條件● 具四組濾波器，可提升元素檢測能力
採用SDD偵測器，感度大幅提升
智慧型操作介面 簡單無負擔
內建CCD鏡頭●
預設測量快速鍵，不需繁雜設定● 具18組快速測量巨集健，可預設常用之測量參數
，一鍵即可自動測量，不須重複設定。
50倍放大CCD影像，具測量面積標示，方便確認測量位置
● 具報告格式編輯功能，可自由設計報告列印格式
● 可自動提示儲存原始圖譜
測量快速鍵
● 最新DPP技術，可在短時間得到極佳的偵測極限
可編輯報告格式
SDD偵測器感度
PIN偵測器
● 原始圖譜可變更計算參數重新計算元素含量，設定錯誤之數據僅需重新計算，不需重新測量
另提供大尺寸機型
MESA 50 Type K
● 450 x 350 x 150 mm大型樣品室，可檢測大尺寸樣品
殘餘成分自動偵測補償功能● 可自動判定有機物、化合物等殘餘成分進行補償，不須手
動設定補償即可大幅降低檢測複雜材料產生的誤差
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法檢測的成分時，會造成其他元素的測量誤差。MESA 50可自動比對樣品的原子數及X散射強度來判斷樣品是否含有檢測範圍外的元素，並可自動進行補償來修正這些殘餘成分造成的誤差。
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幫浦及氦氣即可進行分析
● USB連接介面，筆電即可操作
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，並可設定化合物、氧化態、殘餘物、稀釋倍數等補償參數
● 樣品室開啟自動停止測量
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2. 簡單易用
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● 內建7mm、3mm、1.2mm三種光徑，可針對不同尺寸樣品提供最佳測量條件● 具四組濾波器，可提升元素檢測能力
採用SDD偵測器，感度大幅提升
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，一鍵即可自動測量，不須重複設定。
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● 具報告格式編輯功能，可自由設計報告列印格式
● 可自動提示儲存原始圖譜
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PIN偵測器
● 原始圖譜可變更計算參數重新計算元素含量，設定錯誤之數據僅需重新計算，不需重新測量
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MESA 50 Type K
● 450 x 350 x 150 mm大型樣品室，可檢測大尺寸樣品
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• XY自動移動樣品載台，可由軟體選擇測量位置• 可設定範圍進行面積掃描，呈現元素分佈圖• 具X光穿透影像功能，可顯示樣品內部結構• 內建100X顯微光學攝影，可清楚觀察測量位置• 光學室可獨立抽真空，液體、粉體樣品亦可進行高 感度檢測• 採用高感度SDD偵測器，不需添加液態氮冷卻• 10μm超微X光束，可進行微區域及超小樣品分析• 最大可放置300 x 250 x 40mm樣品
應用實例：LED元素分布掃描
光學影像 穿透影像 As元素分布 Ag元素分布 Ga元素分布 Au元素分布 元素重疊影像
應用實例：電路銅箔短路分析
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電路板上鍍錫銅箔由穿透影像可看到鍍錫具有錫洞
由元素分佈圖可看出銅離子遷移
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